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JP2002038091A - シリカ系被膜及びそのシリカ系被膜を有する半導体装置 - Google Patents

シリカ系被膜及びそのシリカ系被膜を有する半導体装置

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Publication number
JP2002038091A
JP2002038091A JP2000228072A JP2000228072A JP2002038091A JP 2002038091 A JP2002038091 A JP 2002038091A JP 2000228072 A JP2000228072 A JP 2000228072A JP 2000228072 A JP2000228072 A JP 2000228072A JP 2002038091 A JP2002038091 A JP 2002038091A
Authority
JP
Japan
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silica
based coating
film
coating film
unsaturated bond
Prior art date
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Pending
Application number
JP2000228072A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruaki Sakurai
治彰 桜井
Koichi Abe
浩一 阿部
Nobuko Terada
信子 寺田
Shigeru Nobe
茂 野部
Kazuhiro Enomoto
和宏 榎本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP2000228072A priority Critical patent/JP2002038091A/ja
Publication of JP2002038091A publication Critical patent/JP2002038091A/ja
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  • Paints Or Removers (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 接着性(特にCMP工程における接着性)に
優れたシリカ系被膜及び信号遅延が少ない高品位で、高
信頼性の半導体装置を提供する。 【解決手段】 不飽和結合を有する置換基と不飽和結合
を有さない置換基とを持つポリシロキサン及び有機溶媒
を含んでなるシリカ系被膜形成用塗布液を塗布、乾燥し
てなる、表面の臨界表面張力が29×10-3N/m以上で
あるシリカ系被膜並びにこのシリカ系被膜を多層配線の
層間絶縁膜として用いた半導体装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリカ系被膜その
シリカ系被膜を有する半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIの高速化による配線の微細化に伴
い、配線間容量の増大による信号遅延時間の増大が問題
となってきている。従来から、比誘電率4.2程度のC
VD法によるSiO2膜が層間シリカ系被膜として用い
られてきたが、デバイスの配線間容量を低減し、LSI
の動作速度を向上するため、より低誘電率な膜が求めら
れている。
【0003】現在実用化されている低誘電率膜として
は、比誘電率3.5程度のCVD法で形成されるSiO
F膜が挙げられる。比誘電率3.5未満のシリカ系被膜
としては、有機SOG(Spin On Glass)、有機ポリマ
ー等が盛んに検討されている。
【0004】LSIの多層配線化に伴い、グローバル平
坦化のためCMP(Chemical Mechanical Polishing)
が必須となってきている。このCMPプロセスに対応す
べく、シリカ系被膜には低誘電率特性、機械強度と隣接
膜との密着性が重要な特性として求められる。比誘電率
3.5未満の低誘電率膜として種々検討されている有機
SOG、有機ポリマーはCVD法により形成されるSi
2膜、SiOF膜に比べ、比誘電率は低いが、隣接膜
との密着性が低く、この密着性不足はCMP工程におい
てシリカ系被膜と上層膜の間での剥離を引き起こすとい
う問題がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】請求項1記載の発明
は、接着性(特にCMP工程における接着性)に優れた
シリカ系被膜を提供するものである。請求項2記載の発
明は、請求項1記載の発明の効果を奏し、より接着性に
優れたシリカ系被膜を提供するものである。請求項3記
載の発明は、請求項1又は2記載の発明の効果を奏し、
さらに低比誘電率に優れたシリカ系被膜を提供するもの
である。請求項4記載の発明は、信号遅延が少ない高品
位で、高信頼性の半導体装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、不飽和結合を
有する置換基と不飽和結合を有さない置換基とを持つポ
リシロキサン及び有機溶媒を含んでなるシリカ系被膜形
成用塗布液を塗布、乾燥してなる、表面の臨界表面張力
が29×10-3N/m以上であるシリカ系被膜に関する。
また、本発明は、不飽和結合を有する置換基がビニル基
である前記のシリカ系被膜に関する。また、本発明は、
比誘電率が3.0以下である前記のシリカ系被膜に関す
る。また、本発明は、前記のシリカ系被膜を多層配線の
層間絶縁膜として用いた半導体装置に関する。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明のシリカ系被膜は、不飽和
結合を有する置換基と不飽和結合を有さない置換基を持
つポリシロキサン及び有機溶媒を含んでなるシリカ系被
膜形成用塗布液を塗布、乾燥して形成され、表面の臨界
表面張力が29×10-3N/m以上であることを必須とす
る。
【0008】本発明における不飽和結合を有する置換基
と不飽和結合を有さない置換基を持つポリシロキサン及
び有機溶媒を含んでなるシリカ系被膜形成用塗布液とし
ては、アルコキシシランの加水分解縮合組成物を用いる
ことができる。
【0009】上記不飽和結合を有する置換基としては、
例えば、ビニル基、アリル基、シクロヘキセニル基、メ
タクリロキシ基、メタクリロキシプロピル基等のアルケ
ニル基類、エチニル基、5−ヘキセニル基等のアルキニ
ル基類、フェニル基、トリル基等のアリール基類、3−
アクリロキシプロピル基、メタクリロキシプロピル基、
アセテート基等のカルボニルを含む置換基類等が挙げら
れる。接着性、低比誘電率等の点から、なかでも、アル
ケニル基類が好ましく、そのなかでもビニル基及びアリ
ル基がより好ましく、ビニル基が特に好ましい。これら
は、単独で又は2種以上が組み合わさって存在できる。
【0010】上記不飽和結合を有さない置換基として
は、例えば、炭素数1〜18のアルキル基や炭素数1〜
18のアリール基が挙げられる。上記アルキル基として
は、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、オクタ
デシル基等が挙げられる。上記アリール基としては、例
えば、フェニル基、トリル基、ナフチル基等が挙げられ
る。接着性、低比誘電率等の点から、なかでも、メチル
基及びフェニル基が好ましく、メチル基がより好まし
い。これらは、単独で又は2種以上が組み合わさって存
在できる。
【0011】アルコキシシランの加水分解縮合組成物
は、例えば、不飽和結合を有する置換基を持つアルコキ
シシラン類と不飽和結合を有さない置換基を持つアルコ
キシシラン類とを、必要により使用する有機有機溶媒及
び必要により使用する触媒の存在下に水を添加して加水
分解縮合反応させる公知の方法によって製造できる。こ
の場合、必要に応じて加熱を行ってもよい。
【0012】上記不飽和結合を有する置換基を持つアル
コキシシラン類としては、例えば、ビニルトリメトキシ
シラン、ビニルトリエトキシシラン、アリルトリメトキ
シシラン、アリルトリエトキシシラン等が挙げられる。
これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用さ
れる。
【0013】上記不飽和結合を有さない置換基を持つア
ルコキシシラン類としては、例えば、メチルトリメトキ
シシラン、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリメ
トキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、テトラメ
トキシシラン、テトラエトキシシラン等が挙げられる。
これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用さ
れる。
【0014】上記触媒としては塩酸、硝酸、硫酸等の無
機酸、ギ酸、シュウ酸、酢酸、マレイン酸等の有機酸な
どが挙げられる。
【0015】上記有機溶媒としては、例えば、メタノー
ル、エタノール、プロパノール、ブタノール等のアルコ
ール系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、
酢酸ブチル等の酢酸エステル系溶媒、エチレングリコー
ルモノメチルアセテート、エチレングリコールジアセテ
ート等のグリコールアセテート系溶媒、N−メチル−2
ピロリドン等のアミド系溶媒、グリコールエーテル系溶
媒、γ−ブチロラクトン等のラクトン系溶媒などが挙げ
られ、これらは、単独で又は2種類以上を組み合わせて
使用される。
【0016】加水分解縮合反応により生成するポリシロ
キサンは、後述する熱分解性ポリマーとの相溶性、有機
溶媒への溶解性、機械特性、成形性等の点から、重量平
均分子量(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー
(GPC)により測定し、標準ポリスチレンの検量線を
使用して換算した値)が、500〜20,000である
ことが好ましく、1,000〜10,000であること
がより好ましい。
【0017】また、合成されたポリシロキサンを含む加
水分解縮合組成物は、必要に応じて系内に存在する水を
蒸留などにより除去し、さらに触媒をイオン交換樹脂な
どで除去してもよい。
【0018】本発明のシリカ系被膜は、例えば、シリカ
系被膜形成用塗布液(加水分解縮合組成物)を、浸漬
法、スプレー法、スクリーン印刷法、回転塗布法等によ
って、シリコンウエハー、金属基板、セラミック基板等
の基材上に塗布し、60〜600℃、10秒〜2時間程
度、空気中あるいはチッ素等の不活性ガス中で加熱乾燥
して、有機溶媒を除去することにより形成することがで
きる。
【0019】シリカ系被膜の膜厚には特に制限はない
が、クラック耐性等の点から、0.01〜10μmであ
ることが好ましく、0.05〜5μmであることがより
好ましく、0.1〜3μmであることが特に好ましい。
【0020】本発明におけるシリカ系被膜の表面の臨界
表面張力は、CMP工程においてシリカ系被膜とその上
に形成された膜との良好な接着性を発現する点から、2
9×10-3N/m以上であることが必要である。なお、臨
界表面張力が、60×10-3N/mを超えると誘電率の上
昇、脱離ガス成分の増加等による膜物性の低下等が起こ
る傾向がある。
【0021】シリカ系被膜の表面の臨界表面張力を29
×10-3N/m以上とすることは、例えば、使用するアル
コキシシラン類の種類と量を調整することにより行うこ
とができる。
【0022】本発明における臨界表面張力は、数種類の
異なった表面張力を持つ液体を固体表面上に滴下し、液
滴の接触角(θ)を測定し、液体の表面張力(横軸)と
cosθ値(縦軸)をプロットしたのち、表面張力とcosθ
値から直線の式を求め、この直線をcosθ=1(θ=
0)へ外挿したときの値である。
【0023】臨界表面張力は、固体表面のぬれ特性を示
す尺度であり、固体表面が完全にぬれるときの特性値で
あると定義される。臨界表面張力が大きい固体表面は多
くの液体にぬれやすく、小さい固体表面では多くの液体
にぬれにくいことをあらわすとされている(「接着ハン
ドブック」日本接着協会編、第2版、P20-P49)。
【0024】ここで、接触角は、市販の接触角測定機と
呼ばれる装置で容易に測定することができる。また、臨
界表面張力は、液体の表面張力とcosθ値をプロット
し、最小二乗法によって直線の傾きと切片を求めたの
ち、cosθ=1となるよう下記の式から算出することが
できる。
【0025】
【数1】X=(Y−b)/a[dyn/cm=10-3N/m] Y:cosθ=1 X:表面張力値[dyn/cm] a:直線の傾き b:直線の切片
【0026】上記数種類の異なった表面張力を持つ液体
としては、例えば、水、グリセリン、ホルムアミド、エ
チレングリコール、プロピレングリコール、イソプロピ
ルアルコール等の水素結合液体、n−へキサン、n−デ
カン等の炭化水素液体等などを使用することができる。
【0027】本発明におけるシリカ系被膜は、半導体装
置、マルチチップモジュール多層配線板等の電子部品に
おける層間絶縁膜として好適であり、半導体装置におい
ては、表面保護膜、バッファーコート膜、層間絶縁膜等
として使用することができる。
【0028】
【実施例】以下、実施例により本発明を説明する。な
お、以下において、Viはビニル基(CH2=CH−)
を表す。
【0029】実施例1 CH3Si(OCH2CH3)3 89gとViSi(OCH2
CH3)3 90gをプロピレングリコールモノプロピル
エーテル200gに溶解し、これに水54gと硝酸0.
1gの混合液を1時間で滴下した後、さらに室温で24
時間反応させ、シリカ系被膜形成用塗布液(加水分解縮
合組成物)とした。
【0030】この塗布液をスピナーを用いて2000mi
n-1で6インチシリコンウエハー上に塗布した後、15
0℃さらに250℃に制御されたホットプレートで各1
分間乾燥し、ついで電気炉で400℃窒素中1時間焼成
したところ、無色透明でクラックのない被膜が得られ
た。この被膜の膜厚を測定したところ0.50μmであ
った。
【0031】この被膜上にアルミニウム被膜0.1μm
をスパッタ法で形成し、試料の誘電率をLFインピーダ
ンスメータを用いて周波数1MHzで測定したところ3.
0であった。
【0032】次に、このシリカ系被膜の臨界表面張力を
算出した。臨界表面張力は、シリカ系被膜上に、水、グ
リセリン、ホルムアミド、エチレングリコール及びプロ
ピレングリコールの液滴をのせてそれぞれの接触角を測
定し、cosθを計算したのち、液体の表面張力とcosθを
プロットした最小二乗法のよる直線の式からcosθ=1
に外挿して求めた。
【0033】また、上記シリカ系被膜上にプラズマ雰囲
気下でSiO2膜を形成し、碁盤目テープ剥離試験(J
IS K5400に準拠)によってシリカ系被膜と上層
のSiO2膜との間の接着性を評価した。これらの結果
を表1に示した。
【0034】比較例1 CH3Si(OCH2CH3)3 142gとViSi(OC
2CH3)3 38gをプロピレングリコールモノプロピ
ルエーテル200gに溶解し、これに水54gと硝酸
0.1gの混合液を1時間で滴下した後、さらに室温で
24時間反応させ、シリカ系被膜形成用塗布液とした。
【0035】以下は実施例1と同様にして膜厚0.50
μmの無色透明でクラックのない被膜を得、実施例1と
同様にして各特性を評価し、結果を表1に示した。
【0036】比較例2 CH3Si(OCH2CH3)3 178gをプロピレングリ
コールモノプロピルエーテル400gに溶解し、これに
水50gと硝酸0.1gの混合液を1時間で滴下した
後、さらに室温で24時間反応させ、これをシリカ系被
膜形成用塗布液とした。
【0037】以下は実施例1と同様にして膜厚0.50
μmの無色透明でクラックのない被膜を得、実施例1と
同様にして各特性を評価し、結果を表1に示した。
【0038】
【表1】
【0039】《碁盤目テープ試験評価基準》 ◎全て剥離なし ○碁盤目100個のうち剥離個数は10個以内 △碁盤目100個のうち剥離個数は10個〜49個以内 ×碁盤目100個のうち剥離個数が50個以上
【0040】
【発明の効果】請求項1記載のシリカ系被膜は、接着性
(特にCMP工程における接着性)に優れたものであ
る。請求項2記載のシリカ系被膜は、請求項1記載のシ
リカ系被膜の効果を奏し、より接着性に優れたものであ
る。請求項3記載のシリカ系被膜は、請求項1又は2記
載のシリカ系被膜の効果を奏し、さらに低比誘電率に優
れたものである。請求項4記載の半導体装置は、信号遅
延が少ない高品位で、高信頼性のものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/768 H01L 21/90 Q (72)発明者 野部 茂 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎事業所内 (72)発明者 榎本 和宏 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎事業所内 Fターム(参考) 4J038 DL031 DL111 DL121 KA06 MA14 NA11 NA17 NA21 PB09 PB11 PC02 PC03 PC08 5F033 HH08 QQ48 RR04 RR25 SS15 SS22 XX12 XX24 5F058 AA08 AB10 AC03 AF04 AF06 AG01 AH02

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 不飽和結合を有する置換基と不飽和結合
    を有さない置換基とを持つポリシロキサン及び有機溶媒
    を含んでなるシリカ系被膜形成用塗布液を塗布、乾燥し
    てなる、表面の臨界表面張力が29×10-3N/m以上で
    あるシリカ系被膜。
  2. 【請求項2】 不飽和結合を有する置換基がビニル基で
    ある請求項1記載のシリカ系被膜。
  3. 【請求項3】 比誘電率が3.0以下である請求項1又
    は2記載のシリカ系被膜。
  4. 【請求項4】 請求項1、2又は3記載のシリカ系被膜
    を多層配線の層間絶縁膜として用いた半導体装置。
JP2000228072A 2000-07-28 2000-07-28 シリカ系被膜及びそのシリカ系被膜を有する半導体装置 Pending JP2002038091A (ja)

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