[go: up one dir, main page]

WO2016208116A1 - 二次電池の製造方法 - Google Patents

二次電池の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2016208116A1
WO2016208116A1 PCT/JP2016/002410 JP2016002410W WO2016208116A1 WO 2016208116 A1 WO2016208116 A1 WO 2016208116A1 JP 2016002410 W JP2016002410 W JP 2016002410W WO 2016208116 A1 WO2016208116 A1 WO 2016208116A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
coating
irradiation
drying
coating film
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2016/002410
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
友和 齋藤
晴匡 出羽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to CA2984098A priority Critical patent/CA2984098C/en
Priority to KR1020187002441A priority patent/KR102125311B1/ko
Priority to US15/737,731 priority patent/US10367140B2/en
Priority to EP16813892.3A priority patent/EP3316324A4/en
Priority to CN201680037148.XA priority patent/CN107735877B/zh
Publication of WO2016208116A1 publication Critical patent/WO2016208116A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • H10N99/05Devices based on quantum mechanical effects, e.g. quantum interference devices or metal single-electron transistors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/36Successively applying liquids or other fluent materials, e.g. without intermediate treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/02Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by baking
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/02Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by baking
    • B05D3/0254After-treatment
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • B05D3/061Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation using U.V.
    • B05D3/065After-treatment
    • B05D3/067Curing or cross-linking the coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M14/00Electrochemical current or voltage generators not provided for in groups H01M6/00 - H01M12/00; Manufacture thereof
    • H01M14/005Photoelectrochemical storage cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04Processes of manufacture in general
    • H01M4/0402Methods of deposition of the material
    • H01M4/0404Methods of deposition of the material by coating on electrode collectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04Processes of manufacture in general
    • H01M4/0471Processes of manufacture in general involving thermal treatment, e.g. firing, sintering, backing particulate active material, thermal decomposition, pyrolysis
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/06Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation
    • B05D3/061Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to radiation using U.V.
    • B05D3/065After-treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • H10D62/117Shapes of semiconductor bodies
    • H10D62/118Nanostructure semiconductor bodies
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a secondary battery.
  • Patent Document 1 A battery (hereinafter referred to as a quantum battery) using a photoexcited structure change of a metal oxide by ultraviolet irradiation has been developed by the applicant of the present application (Patent Document 1).
  • the secondary battery disclosed in Patent Document 1 is safe in that it is an all-solid-state type and does not use a chemical reaction in the charge / discharge process, and is a technology that surpasses lithium ion batteries in terms of output density and power density. Expected.
  • the secondary battery of Patent Document 1 has a structure in which a first electrode, an n-type metal oxide semiconductor layer, a charging layer, a p-type metal oxide semiconductor layer, and a second electrode are stacked on a substrate. .
  • a charging layer is formed by a coating pyrolysis method. Specifically, the charge layer is formed by performing the coating process, the drying process, the baking process, and the ultraviolet irradiation process in this order.
  • the charging capacity can be increased by increasing the volume of the charging layer. For this reason, it is desired to increase the thickness of the charging layer. However, if the charging layer is thick, it becomes difficult to form the charging layer uniformly. If the charge layer becomes non-uniform, sufficient battery performance may not be obtained. Furthermore, in order to increase productivity, it is desired to shorten the process time in each step or reduce the number of steps.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a secondary battery manufacturing method capable of manufacturing a high-performance secondary battery with high productivity.
  • a method for manufacturing a secondary battery according to one embodiment of the present invention includes a charge that captures electrons by forming an energy level in a band gap by changing a photoexcitation structure of an n-type metal oxide semiconductor covered with an insulating material.
  • a method of manufacturing a secondary battery having a layer, in order to form a coating film containing a component that becomes the charge layer, a coating step of coating a coating solution, and a drying of the coating solution coated in the coating step A drying process for forming a coating film after drying, an irradiation process for forming a coating film after UV irradiation by irradiating the coating film after drying through the drying process, the coating process, the drying process, And repeating the irradiation step a plurality of times to form a plurality of post-UV irradiation coating films, baking the plurality of post-UV irradiation coating films, and forming a plurality of post-baking coating films; With something That. Thereby, a high performance secondary
  • the post-UV irradiation coating film may not be baked while the plurality of layers of the post-UV irradiation coating film are applied. Thereby, shortening of manufacturing time and reduction of equipment use time are possible, and productivity can be further improved.
  • the firing temperature in the firing step may be higher than the drying temperature in the drying step. Therefore, in the drying process, it is not necessary to raise the temperature to an extent that affects the battery performance, and high battery performance can be maintained.
  • a charged layer may be formed by irradiating the post-baked coating film of the plurality of layers with ultraviolet rays. Thereby, the charge layer which can be charged with energy can be formed.
  • FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional structure of a quantum battery 10 according to the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the structure of the charging layer 18 in FIG. 1 in detail.
  • FIG. 3 is a flowchart for explaining the steps of the method for manufacturing the charge layer 18.
  • FIG. 4 is a table showing an example of specific firing time.
  • the present invention relates to a method of manufacturing a battery (hereinafter referred to as a quantum battery in this specification) based on a new charging principle that employs a photoexcitation structure change technology for a charging layer.
  • a quantum battery is a secondary battery that can be charged and discharged.
  • Photoexcitation structure change is a phenomenon in which the interatomic distance of a substance excited by light irradiation changes.
  • an n-type metal oxide semiconductor that is an amorphous metal oxide such as tin oxide has a property of causing a photoexcitation structure change. Due to the photoexcited structure change phenomenon, a new energy level is formed in the band gap of the n-type metal oxide semiconductor.
  • FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional structure of a quantum battery according to the present invention.
  • a quantum cell 10 includes a first electrode 14, an n-type metal oxide semiconductor layer 16, a charge layer 18 that charges energy, a p-type metal oxide semiconductor layer 20, and a second electrode 22 on a substrate 12.
  • a stacked structure in which the layers are stacked in this order.
  • the substrate 12 may be an insulating material or a conductive material.
  • a glass substrate, a polymer film resin sheet, a metal foil sheet, or the like can be used as the material of the substrate 12.
  • the first electrode 14 and the second electrode 22 only need to include a conductive layer.
  • a metal electrode such as titanium (Ti) can be used as the first electrode.
  • a metal electrode such as chromium (Cr) or copper (Cu) can be used as the second electrode.
  • other metal electrodes include a silver (Ag) alloy film containing aluminum (Al).
  • the forming method include vapor phase film forming methods such as sputtering, ion plating, electron beam evaporation, vacuum evaporation, and chemical vapor deposition.
  • the metal electrode can be formed by an electrolytic plating method, an electroless plating method, or the like.
  • copper, copper alloy, nickel, aluminum, silver, gold, zinc, tin or the like can be used as a metal used for plating.
  • titanium dioxide (TiO 2 ), tin oxide (SnO 2 ), zinc oxide (ZnO), or the like can be used as a material of the n-type metal oxide semiconductor layer 16.
  • n-type metal oxide semiconductor As the material of the charge layer 18, a fine-particle n-type metal oxide semiconductor can be used.
  • the n-type metal oxide semiconductor changes its photoexcitation structure by irradiation with ultraviolet rays, and becomes a layer having a charging function.
  • the n-type metal oxide semiconductor is covered with a silicone insulating film.
  • titanium dioxide, tin oxide, and zinc oxide are suitable. It is possible to use a material combining any two of titanium dioxide, tin oxide, and zinc oxide, or a material combining three.
  • the charging layer 18 is formed of a plurality of coating films 18a to 18c (that is, the charging layer 18 has a laminated structure of a plurality of coating films 18a to 18c).
  • the charging layer 18 is formed by three coating films 18a to 18c is shown, but a stacked structure in which two or four or more coating films are stacked may be used.
  • the p-type metal oxide semiconductor layer 20 formed on the charging layer 18 is provided to prevent electrons from being injected into the charging layer 18 from the upper second electrode 22.
  • a material of the p-type metal oxide semiconductor layer 20 nickel oxide (NiO), copper aluminum oxide (CuAlO 2 ), or the like can be used.
  • the order of stacking on the substrate 12 in this embodiment may be reversed. That is, a laminated structure in which the first electrode 14 is the uppermost layer and the second electrode 22 is the lowermost layer may be used. Next, an example of actual trial production is shown.
  • the substrate 12 was formed using glass.
  • a titanium conductive film is formed on the glass substrate 12 as the first electrode 14, and an n-type metal oxide semiconductor layer 16 is formed on the first electrode 14 by sputtering using titanium dioxide (TiO 2 ). did.
  • the p-type metal oxide semiconductor layer 20 was formed by sputtering nickel oxide, and the second electrode 22 was formed by a chromium conductive film.
  • the charge layer 18 captures electrons by forming an energy level in the band gap by changing the photoexcitation structure of an n-type metal oxide semiconductor covered with an insulating material.
  • the structure of the charge layer 18 will be described in detail below.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining the structure of the charging layer 18 in FIG. 1 in detail.
  • the charging layer 18 uses silicone as the insulating coating 28 and titanium dioxide as the n-type metal oxide semiconductor 26, and has a structure filled with titanium dioxide covered with silicone.
  • the charge layer 18 has a function of storing energy by irradiating titanium dioxide with ultraviolet rays and changing the photoexcitation structure.
  • the material of the n-type metal oxide semiconductor 26 used for the charging layer 18 is titanium dioxide, tin oxide, or zinc oxide, which is generated by decomposing a metal aliphatic acid salt in the manufacturing process. For this reason, as a metal aliphatic acid salt, what can be decomposed
  • aliphatic acid for example, aliphatic monocarboxylic acid, aliphatic polycarboxylic acid such as aliphatic dicarboxylic acid, aliphatic tricarboxylic acid, and aliphatic tetracarboxylic acid can be used.
  • examples of the saturated aliphatic monocarboxylic acid include formic acid, acetic acid, propionic acid, caproic acid, enanthic acid, caprylic acid, pelargonic acid, capric acid, stearic acid and the like.
  • unsaturated aliphatic monocarboxylic acid highly unsaturated monocarboxylic acids such as acrylic acid, butenoic acid, crotonic acid, isocrotonic acid, linolenic acid, and oleic acid can be used.
  • aliphatic acid salts are easily decomposed or burned by heating, have high solvent solubility, have a dense film after decomposition or combustion, are easy to handle, are inexpensive, and are easy to synthesize salts with metals. For this reason, a salt of an aliphatic acid and a metal is preferred.
  • the insulating coating 28 may be mineral oil, magnesium oxide (MgO), silicon dioxide (SiO 2 ) or the like as an inorganic insulator, and the insulating resin may be polyethylene, polypropylene, polystyrene, polybutadiene, polyvinyl chloride.
  • Thermosetting resins such as thermoplastic resins such as polymethyl methacrylate, polyamide, polycarbonate, polyimide, and cellulose acetate, phenol resins, amino resins, unsaturated polyester resins, allyl resins, alkyd resins, epoxy resins, and polyurethanes may be used.
  • FIG. 3 is a flowchart for explaining the steps of the method for manufacturing the charge layer 18.
  • a substrate in which the first electrode 14 and the n-type metal oxide semiconductor layer 16 are formed on the substrate 12 is prepared.
  • the first electrode 14 and the n-type metal oxide semiconductor layer 16 can be formed by a sputtering method or the like as described above.
  • a coating liquid is apply
  • fatty acid titanium and silicone oil are mixed in a solvent and stirred to prepare a coating solution. The coating solution only needs to contain a component that becomes a charge layer.
  • the coating liquid is spin-coated on the layer containing titanium dioxide by a spinner while rotating the prepared substrate.
  • a thin layer (coating film 18a) of 0.3 to 1 ⁇ m is formed by the rotation of the substrate. Specifically, this layer is considered to have a structure in which a metal layer of titanium dioxide coated with silicone is embedded in the silicone layer, and there is no void.
  • the coating film is formed on the n-type metal oxide semiconductor layer 16 not only by the spin coating method but also by a dip coating method, a die coating method, a slit coating method, a gravure coating method, a spray coating method, a curtain coating method, or the like. Also good.
  • the surface treatment may be performed on the n-type metal oxide semiconductor layer 16 by ultraviolet irradiation or the like before the coating step S1.
  • the coating solution applied to the substrate 12 is dried (drying step: S2).
  • drying step S2 the solvent in the coating solution is volatilized, and the coating film 18a is obtained by temporarily hardening the fluid coating solution. Therefore, the substrate 12 can be easily handled.
  • the substrate 12 is placed on a hot plate and heated at a predetermined temperature for a predetermined time to volatilize the solvent in the coating film.
  • the drying step S2 may be performed at a temperature and a time at which the coating film 18a can be temporarily hardened in order to facilitate handling.
  • the drying method is not limited to a hot plate, and heat drying using far infrared rays, reduced pressure drying by vacuum treatment, and drying by hot air circulation can be used.
  • the drying step S2 is performed to remove the solvent. Therefore, the drying temperature is preferably 200 ° C. or lower. After the drying step S2, the coating film 18a is dry, but not completely hardened. The coating film 18a that has been temporarily hardened in the drying step S2 is used as a coating film after drying.
  • the coating film 18a (the coating film after drying) that has undergone the drying step S2 is irradiated with ultraviolet rays (hereinafter referred to as UV light) (UV irradiation step: S3).
  • UV light ultraviolet rays
  • the surface of the coating film 18a can be cured.
  • the coating film 18a is irradiated with UV light for a time of about 1 to 5 minutes. By doing so, the surface of the coating film 18a can be cured.
  • the coating film 18a whose surface is cured by the UV irradiation step S3 is defined as a coating film after UV irradiation.
  • the UV irradiation step S3 After the UV irradiation step S3, it is determined whether or not stacking of a predetermined number of coating films (coating films after UV irradiation) has been completed (S4).
  • the predetermined number of layers has not been stacked (S4: NO)
  • the process returns to the coating step S1. That is, when a predetermined number of coating films are not formed, the coating films are stacked.
  • the second-layer coating film 18b is formed on the first-layer coating film 18a.
  • the coating step S1, the drying step S2, and the irradiation step S3 are performed.
  • the coating step S1, the drying step S2, and the UV irradiation step S3 are set as one set, and this set is repeatedly performed to form a predetermined number of coating films (post-UV irradiation coating films).
  • three coating films 18a to 18c are laminated.
  • firing step S5
  • coating process S1, drying process S2, and UV irradiation process S3 may be repeatedly performed on the same conditions, respectively, and may be performed on different conditions.
  • the coating films 18a to 18c (coating films after UV irradiation) are baked.
  • the structure of the bonded state in the coating films 18a to 18c can be changed.
  • the substrate 12 is placed in a heat treatment furnace, and heat treatment is performed in the atmosphere at 380 ° C. to 400 ° C. for 5 to 30 minutes. By performing heat treatment at 500 ° C. or lower, fatty acid molecular bonds can be cut.
  • the heat treatment in the firing step S5 is not limited to the atmospheric heat treatment, and may be vacuum heating or heating in a gas atmosphere.
  • the firing temperature in the firing step S5 is higher than the drying temperature in the drying step S2. That is, in the baking step S5, the substrate 12 is set to a temperature higher than the drying temperature in the drying step S2.
  • the coating films 18a to 18c baked in the baking step S5 are used as coating films after baking.
  • next step S6 for example, the coating films 18a to 18c (post-baking coating films) are irradiated with ultraviolet rays.
  • This ultraviolet irradiation changes the interatomic distance of titanium dioxide in the coating films 18a to 18c (post-baking coating films) to cause a photoexcited structure change phenomenon.
  • a new energy level is formed in the band gap of titanium dioxide. Energy can be charged by capturing electrons at this new energy level.
  • ultraviolet rays are irradiated at an illuminance of 20 to 50 mW / cm 2 for about 2 to 4 hours. After the baking, the UV irradiation is repeated until the molecular structure of the coating films 18a to 18c changes and a chargeable layer is obtained. By doing in this way, the charge layer 18 is formed.
  • the ultraviolet light source is not limited to a low-pressure mercury lamp, and a high-pressure mercury lamp or a xenon lamp can be used.
  • the P-type metal oxide semiconductor layer 20 and the second electrode 22 can be formed on the charging layer 18.
  • the ultraviolet light source preferably emits light having a wavelength of 405 nm or less.
  • the irradiation amount of ultraviolet rays in the next step S6 is higher than the irradiation amount in the UV irradiation step S3.
  • the P-type metal oxide semiconductor layer 20 and the second electrode 22 are formed as described above. In this way, the quantum battery 10 is completed.
  • the coating step S1, the drying step S2, and the UV irradiation step S3 are set as one set, and this set is repeated, and a predetermined number of post-UV irradiation coating films are stacked. Therefore, the charging layer 18 can be thickened and the charging capacity can be improved.
  • the coating process S1 is performed after the UV irradiation process S3 is performed on the surface of the coating film after drying. That is, the upper coating film is formed on the lower UV-irradiated coating film that has been UV-cured (dried) in the UV irradiation step S3. Thereby, peeling of the lower layer coating film with respect to the upper layer coating film and dissolution of the lower layer coating film when forming the upper layer coating film can be reduced. Therefore, film unevenness between the upper and lower coating films can be prevented. Therefore, the coating films 18a to 18c after UV irradiation can be uniformly laminated, and the high-performance quantum battery 10 can be manufactured.
  • the UV irradiation step S3 is performed for each lamination so that the surfaces of the coating films 18a to 18c after drying are UV cured.
  • the drying step S2 which is the previous step of the UV irradiation step S3
  • the drying temperature is lower than the firing temperature, it is not necessary to raise the temperature in the drying step S2 to a temperature that affects the battery performance, and high battery performance can be maintained.
  • the coating film can be prevented from being heated to the baking temperature a plurality of times. Thereby, deterioration of the battery performance of the quantum battery 10 can be prevented.
  • the plurality of layers of the post-UV irradiation coating films 18a to 18c are collectively baked.
  • manufacturing time can be shortened.
  • one baking step S5 is 4 hours and three layers are stacked. Assuming that baking is performed for 4 hours every three coating steps S1, the total time of the baking step S5 is 12 hours (4 hours ⁇ 3).
  • the baking process S5 is performed in a lump, so the time of the baking process S5 is 4 hours. Therefore, in this embodiment, the firing time can be shortened by 8 hours.
  • the time of the UV irradiation step S3 is 1 to 5 minutes, which is sufficiently shorter than that of the baking step S5. Thereby, the high-performance quantum battery 10 can be manufactured with high productivity.
  • baking process S5 in multiple times. For example, after forming the first and second UV-applied coating films, the first baking step S5 is performed, and after forming the third and fourth UV-applied coating films, the second layer You may make it perform baking process S5. Also in this case, it is preferable to perform the coating step S1, the drying step S2, and the UV irradiation step S3 to form the coating film after UV irradiation of each layer.
  • FIG. 4 is a table showing an example of specific firing time.
  • coating several times is each shown.
  • the total baking time is 8.5 hours.
  • the baking time is 4.5 hours.
  • the baking time is 17 hours in the production method 1. That is, since firing is performed a total of four times, it is twice the firing time (8.5 hours) of the two layers of production method 1.
  • the baking is performed twice. Therefore, the firing time is twice the firing time (4.5 hours) of the two layers of production method 2, that is, 9 hours.
  • the total baking time is 13 hours.
  • the baking time is 5 hours.
  • the baking time is 26 hours in the production method 1. That is, since firing is performed a total of 6 times, the firing time (three hours) of the three layers of production method 1 is doubled. On the other hand, in the manufacturing method 2, since the coating film of three layers after UV irradiation is collectively baked, the baking is performed twice. Therefore, the firing time is twice the firing time (5 hours) of the three layers of production method 2, that is, 10 hours.
  • the plurality of post-UV irradiation coating films are baked in a lump to shorten the manufacturing time. Therefore, according to the manufacturing method 2, productivity can be improved.
  • the charging layer 18 is not limited to two or three layers, and may have four or more layers.
  • the above production method 2 can be applied when a plurality of coating films, that is, two or more layers are laminated. Since the baking process S5 of 3 to 4 hours, which is performed every time the coating films are stacked, can be omitted, it is possible to reduce the manufacturing time and the equipment use time. Further, in the production method 2, since a plurality of coating films after UV irradiation are baked at a time, the number of steps can be reduced. Therefore, in the manufacturing method 2, productivity can be improved and it can contribute to the cost reduction of a quantum battery.
  • this invention includes the appropriate deformation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Hybrid Cells (AREA)

Abstract

本発明にかかること二次電池の製造方法は、絶縁性物質で覆われたn型金属酸化物半導体を光励起構造変化させることによりバンドギャップ中にエネルギー順位を形成して電子を捕獲する充電層を有する二次電池の製造方法であって、充電層(18)となる成分が含まれる塗布膜を形成するため、塗布液を塗布する塗布工程(S1)と、塗布工程(S1)で塗布された塗布液を乾燥させて、乾燥後塗布膜を形成する乾燥工程(S2)と、乾燥工程(S2)を経た乾燥後塗布膜に紫外線を照射して、UV照射後塗布膜を形成するUV照射工程(S3)と、塗布工程(S1)、乾燥工程(S2)、及び照射工程(S3)を1セットとして、複数セット繰り返して、UV照射後塗布膜を複数層形成した後に、複数層のUV照射後塗布膜を焼成する焼成工程(S5)と、を備えたものである。

Description

二次電池の製造方法
 本発明は、二次電池の製造方法に関する。
 紫外線照射による金属酸化物の光励起構造変化を利用した電池(以下、量子電池という)が、本出願の出願人により開発されている(特許文献1)。特許文献1に開示された二次電池は、全固体型でかつ充放電過程に化学反応を用いていない点で安全であり、また出力密度・電力密度の点でリチウムイオン電池を凌駕する技術として期待されている。特許文献1の二次電池は、基板上に、第1電極、n型金属酸化物半導体層、充電層、p型金属酸化物半導体層、及び第2電極が積層された構造を有している。
 特許文献1では、塗布熱分解法により充電層を形成している。具体的には、塗布工程、乾燥工程、焼成工程、紫外線照射工程の順で実施することで、充電層が形成される。
国際公開第2012/046325号
 このような電池では、充電層の体積を大きくすることで、充電容量を増加させることができると考えられる。このため、充電層の厚さをより厚くすることが望まれる。しかしながら、充電層を厚くすると充電層を均一に形成することが困難になってしまう。充電層が不均一になってしまうと、十分な電池性能を得ることができない恐れがある。さらには、生産性を高くするためには、各工程でのプロセス時間を短縮したり、工程数を減らしたりすることが望まれる。
 本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、高性能の二次電池を高い生産性で製造することができる二次電池の製造方法を提供することを目的とする。
 本発明の一態様に係る二次電池の製造方法は、絶縁性物質で覆われたn型金属酸化物半導体を光励起構造変化させることによりバンドギャップ中にエネルギー順位を形成して電子を捕獲する充電層を有する二次電池の製造方法であって、前記充電層となる成分が含まれる塗布膜を形成するため、塗布液を塗布する塗布工程と、前記塗布工程で塗布された塗布液を乾燥させて、乾燥後塗布膜を形成する乾燥工程と、前記乾燥工程を経た前記乾燥後塗布膜に紫外線を照射して、UV照射後塗布膜を形成する照射工程と、前記塗布工程、前記乾燥工程、及び前記照射工程を複数回繰り返して、各UV照射後塗布膜を複数層形成した後に、前記複数層の前記UV照射後塗布膜を焼成し、複数層の焼成後塗布膜を形成する焼成工程と、を備えたものである。これにより、高性能の二次電池を高い生産性で製造することができる。
 上記の製造方法において、前記複数層の前記UV照射後塗布膜を塗布する間に前記UV照射後塗布膜を焼成しないようにしてもよい。これにより、製造時間の短縮、及び設備使用時間の削減が可能となり、より生産性を向上することができる。
 上記の製造方法において、前記焼成工程での焼成温度が、前記乾燥工程での乾燥温度よりも高くなっていてもよい。これにより、乾燥工程において、電池性能に影響を及ぼす程度の温度まで上げる必要がなくなり、高い電池性能を維持することができる。
 上記の製造方法において、前記複数層の前記焼成後塗布膜に紫外線を照射して、充電層を形成してもよい。これにより、エネルギーの充電が可能な充電層を形成することができる。
 本発明によれば、高性能の二次電池を高い生産性で製造することができる二次電池の製造方法を提供することができる。
図1は、本発明による量子電池10の断面構造を示す図である。 図2は、図1における充電層18の構造を詳細に説明する図である。 図3は、充電層18の製造方法の工程を説明するフローチャートである。 図4は、具体的な焼成時間の一例を示す表である。
 以下、本発明の実施形態の一例について図面を参照して説明する。以下の説明は、本発明の好適な実施形態を示すものであって、本発明の範囲が以下の実施形態に限定されるものではない。
 本発明は、充電層に光励起構造変化技術を採用した新たな充電原理に基づく電池(以下、本明細書においては、量子電池とする)の製造方法に関するものである。量子電池は、充放電が可能な二次電池である。
 光励起構造変化とは、光の照射により励起された物質の原子間距離が変化する現象である。例えば、酸化スズ等非晶質の金属酸化物であるn型金属酸化物半導体が光励起構造変化を生ずる性質を有している。光励起構造変化現象により、n型金属酸化物半導体のバンドギャップ内に新たなエネルギー準位が形成される。
(電池の構造)
 図1は、本発明による量子電池の断面構造を示す図である。図1において、量子電池10は、基板12上に、第1電極14、n型金属酸化物半導体層16、エネルギーを充電する充電層18、p型金属酸化物半導体層20、及び第2電極22がこの順序で積層された積層構造を有している。
 基板12は、絶縁性の物質でも導電性の物質でもよい。例えば、基板12の材料としては、ガラス基板や高分子フィルムの樹脂シート、あるいは金属箔シート等を使用することが可能である。
 第1電極14と第2電極22には、導電層が含まれていればよい。例えば、第1電極としては、チタン(Ti)等の金属電極を用いることができる。また、第2電極としては、クロム(Cr)又は銅(Cu)等の金属電極を用いることができる。他の金属電極として、アルミニウム(Al)を含む銀(Ag)合金膜等がある。その形成方法としては、スパッタリング、イオンプレーティング、電子ビーム蒸着、真空蒸着、化学蒸着等の気相成膜法を挙げることができる。また、金属電極は電解メッキ法、無電解メッキ法等により形成することができる。メッキに使用される金属としては、一般に銅、銅合金、ニッケル、アルミ、銀、金、亜鉛又はスズ等を使用することが可能である。
 n型金属酸化物半導体層16の材料としては、二酸化チタン(TiO)、酸化スズ(SnO)又は酸化亜鉛(ZnO)等を使用することが可能である。
 充電層18の材料としては、微粒子のn型金属酸化物半導体を使用することが可能である。n型金属酸化物半導体は、紫外線照射により光励起構造変化して、充電機能を備えた層となる。n型金属酸化物半導体は、シリコーンの絶縁性被膜で覆われている。充電層18で使用可能なn型金属酸化物半導体材料としては、二酸化チタン、酸化スズ、酸化亜鉛が好適である。二酸化チタン、酸化スズ、及び酸化亜鉛のうちいずれか2つを組み合わせた材料、あるいは3つを組み合わせた材料を使用することが可能である。
 さらに、本実施形態では充電層18が複数の塗布膜18a~18cにより形成されている(つまり、充電層18が複数の塗布膜18a~18cの積層構造となっている)。ここでは、充電層18が3層の塗布膜18a~18cにより形成されている例を示しているが、2層又は4層以上の塗布膜が積層された積層構造であってもよい。
 充電層18上に形成したp型金属酸化物半導体層20は、上部の第2電極22からの充電層18に電子が注入されるのを防止するために設けられている。p型金属酸化物半導体層20の材料としては、酸化ニッケル(NiO)、及び銅アルミ酸化物(CuAlO)等を使用することが可能である。
 なお、本実施形態における基板12上の積層順は、反対でもよい。すなわち、第1電極14を最上層、第2電極22を最下層にした積層構造であってもよい。次に実際に試作した例を示す。
(試作例)
 基板12はガラスを用いて形成した。このガラスの基板12上に、第1電極14として、チタンの導電膜を、さらに第1電極14上にn型金属酸化物半導体層16を二酸化チタン(TiO)を使用してスパッタリング法で形成した。p型金属酸化物半導体層20は酸化ニッケルをスパッタリングにより形成し、第2電極22は、クロムの導電膜により形成した。
(充電層18の構造)
 充電層18は、絶縁性物質で覆われたn型金属酸化物半導体を光励起構造変化させることによりバンドギャップ中にエネルギー順位を形成して電子を捕獲する。充電層18の構造ついて以下に詳細を説明する。
 図2は、図1における充電層18の構造を詳細に説明する図である。充電層18は、絶縁性被膜28としてシリコーンを、n型金属酸化物半導体26として二酸化チタンを使用しており、シリコーンで覆われた二酸化チタンが充填された構造となっている。充電層18は、二酸化チタンが紫外線照射されて光励起構造変化により、エネルギーを蓄えることができる機能を有している。
 充電層18に使用されるn型金属酸化物半導体26の材料としては、二酸化チタン、酸化スズ、または酸化亜鉛であり、金属の脂肪族酸塩を製造工程で分解して生成される。このため、金属の脂肪族酸塩としては、酸化性雰囲気下で紫外線を照射すること、又は焼成することにより分解又は燃焼し、金属酸化物に変化しうるものが使用される。脂肪族酸としては、例えば、脂肪族モノカルボン酸や、脂肪族ジカルボン酸、脂肪族トリカルボン酸、脂肪族テトラカルボン酸等の脂肪族ポリカルボン酸が使用可能である。
 より具体的には、飽和脂肪族モノカルボン酸として、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、カプロン酸、エナント酸、カプリル酸、ペラルゴン酸、カプリン酸、ステアリン酸等が挙げられる。不飽和脂肪族モノカルボン酸としては、アクリル酸、ブテン酸、クロトン酸、イソクロトン酸、リノレン酸、オレイン酸等の高度不飽和モノカルボン酸が使用可能である。
 また、脂肪族酸塩は、加熱により分解又は燃焼しやすく、溶剤溶解性が高く、分解又は燃焼後の膜が緻密であり、取り扱い易く安価であり、金属との塩の合成が容易である等の理由から、脂肪族酸と金属との塩が好ましい。
 絶縁性被膜28には、シリコーンの他、無機絶縁物として鉱油、酸化マグネシウム(MgO)、二酸化ケイ素(SiO)等でもよく、絶縁性樹脂としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリブタジエン、ポリ塩化ビニル、ポリメチルメタクリレート、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリイミド、酢酸セルロースなどの熱可塑性樹脂、フェノール樹脂、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アリル樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタンなどの熱硬化性樹脂でもよい。
(充電層18の製造方法)
 図3は、充電層18の製造方法の工程を説明するフローチャートである。
 まず、基板12上に第1電極14とn型金属酸化物半導体層16を形成した基板を用意する。なお、第1電極14とn型金属酸化物半導体層16は、上記したように、スパッタリング法等により形成することができる。そして、n型金属酸化物半導体層16の上に、塗布液を塗布する(塗布工程:S1)。すなわち、充電層18となる成分が含まれる塗布膜18aを形成するため、塗布液を塗布する。具体的には、脂肪酸チタンとシリコーンオイルを溶媒に混合して攪拌し、塗布液を作製する。塗布液には、充電層となる成分が含まれていればよい。次に、用意した基板を回転させながらスピナーにより、塗布液を二酸化チタンを含む層上にスピンコートする。基板の回転により、0.3~1μmの薄い層(塗布膜18a)が形成される。この層は、具体的にはシリコーンが被膜された二酸化チタンの金属塩がシリコーン層中に埋められている構造と考えられ、空隙部は存在しない。なお、スピンコート法に限らず、ディップコート法、ダイコート法、スリットコート法、グラビアコート法、スプレーコート法、カーテンコート法などによって、n型金属酸化物半導体層16上に塗布膜を形成してもよい。なお、塗布工程S1の前に、紫外線照射などによって、n型金属酸化物半導体層16に対して表面処理を行ってもよい。
 塗布工程S1の後、基板12に塗布された塗布液を乾燥させる(乾燥工程:S2)。乾燥工程S2により塗布液が乾燥することで、塗布液中の溶媒が揮発して、流動的な塗布液が仮固めされた塗布膜18aとなる。よって、基板12のハンドリングを容易に行うことができる。例えば、基板12をホットプレート上に配置して、所定の温度で、所定時間加熱して、塗布膜中の溶媒を揮発させる。乾燥工程S2は、ハンドリングを容易にするため、塗布膜18aが仮固めできる温度、及び時間で実施すればよい。乾燥方法としては、ホットプレートに限らず、遠赤外線を用いた加熱乾燥や、真空処理による減圧乾燥、熱風循環による乾燥を用いることができる。乾燥工程S2は、溶媒を飛ばすために行われる。よって、乾燥温度は、200℃以下とすることが好ましい。乾燥工程S2の後、塗布膜18aは乾いているが、完全には固まっていない状態となっている。乾燥工程S2によって仮固めされた状態の塗布膜18aを乾燥後塗布膜とする。
 乾燥工程S2を経た塗布膜18a(乾燥後塗布膜)に紫外線(以下、UV光)を照射する(UV照射工程:S3)。UV光を照射することで、塗布膜18aの表面を硬化させることができる。例えば、UV照射工程S3では、1~5分程度の時間、塗布膜18aにUV光を照射している。こうすることで、塗布膜18aの表面を硬化することができる。UV照射工程S3によって表面が硬化した状態の塗布膜18aをUV照射後塗布膜とする。
 UV照射工程S3の後、所定の層数の塗布膜(UV照射後塗布膜)の積層が終了しているか否かを判定する(S4)。所定の層数の積層が終了していない場合(S4:NO)、塗布工程S1に戻る。すなわち、所定の層数の塗布膜が形成されていない場合、塗布膜を積層する。ここでは、1層目の塗布膜18aの上に、2層目の塗布膜18bが形成される。上記と同様に、塗布工程S1、乾燥工程S2、及び照射工程S3を行う。塗布工程S1、乾燥工程S2、及び、UV照射工程S3を1セットとして、このセットを複数セット繰り返し行って、所定の層数の塗布膜(UV照射後塗布膜)を形成する。ここでは、3層の塗布膜18a~18cが積層される。
 所定の層数の積層が終了した場合(S4:YES)、次の焼成工程(焼成工程:S5)に移る。なお、塗布工程S1,乾燥工程S2,及びUV照射工程S3は、それぞれ同じ条件で繰り返し行われていてよいし、異なる条件で行われていてもよい。
 焼成工程S5では、塗布膜18a~18c(UV照射後塗布膜)を焼成する。焼成工程S5において基板12の温度を上げることで、塗布膜18a~18c中の結合状態の構造を変化させることができる。例えば、基板12を熱処理炉に配置して、大気中にて380℃~400℃、5~30分間、熱処理を行う。500℃以下で熱処理することで、脂肪酸の分子結合を切ることができる。なお、焼成工程S5での熱処理は、大気加熱処理に限らず、真空加熱やガス雰囲気中での加熱などであってもよい。焼成工程S5の焼成温度は、乾燥工程S2の乾燥温度よりも高温となる。すなわち、焼成工程S5では、基板12を乾燥工程S2中の乾燥温度よりも高温にする。焼成工程S5によって焼成された塗布膜18a~18cを焼成後塗布膜とする。
 なお、焼成工程S5の後、次工程に移行する(次工程:S6)。次工程S6では、例えば、塗布膜18a~18c(焼成後塗布膜)に紫外線を照射する。この紫外線照射により、塗布膜18a~18c(焼成後塗布膜)の二酸化チタンの原子間距離を変化させて光励起構造変化現象を生起させる。この結果、二酸化チタンのバンドギャップ内に新たなエネルギー準位が形成される。この新たなエネルギー準位に電子が捕獲されることによりエネルギーの充電が可能となる。
 例えば、低圧水銀ランプを用いて、紫外線を照度20~50mW/cmで2~4時間程度照射する。焼成後塗布膜18a~18cの分子構造に変化が生じ、充電できる層となるまで、紫外線照射を繰り返し行う。このようにすることで、充電層18が形成される。
なお、紫外線光源としては、低圧水銀ランプに限らず、高圧水銀ランプ、キセノンランプを用いることができる。
 充電層18上にP型金属酸化物半導体層20や第2電極22などを形成することができる。紫外線光源は、波長405nm以下の光を出射するものであることが好ましい。次工程S6での紫外線の照射量は、UV照射工程S3での照射量よりも高くなっている。
 充電層18が形成された後、上記したように、P型金属酸化物半導体層20、第2電極22を形成する。このようにして、量子電池10が完成する。
(効果)
 本実施形態にかかる製造方法では、塗布工程S1、乾燥工程S2、及びUV照射工程S3を1セットとして、このセットを繰り返し行い、所定の層数のUV照射後塗布膜を積層する。したがって、充電層18を厚くすることができ、充電容量を向上することができる。
 さらに、塗布膜を繰り返し積層する際において、本実施形態では、乾燥後塗布膜の表面にUV照射工程S3を行った後、塗布工程S1を行っている。すなわち、UV照射工程S3によりUV硬化(乾燥)された下層のUV照射後塗布膜の上から、上層の塗布膜が成膜される。これにより、上層の塗布膜を成膜する際の、上層の塗布膜に対する下層の塗布膜の剥離、下層の塗布膜の溶解を低減させることができる。よって、上下の塗布膜の膜ムラを防ぐことができる。したがって、均一にUV照射後塗布膜18a~18cを積層することができ、高性能の量子電池10を製造することができる。
 また、積層毎にUV照射工程S3を行うことにより、乾燥後塗布膜18a~18cの表面をUV硬化している。UV照射工程S3の前工程である乾燥工程S2で、塗布膜18a~18cの表面を完全に乾燥させる必要がなくなる。よって、乾燥工程S2での温度を電池性能に影響を及ぼす程度の温度まで上げる必要がなくなり、高い電池性能を維持することができる。さらに、乾燥温度は焼成温度よりも低いため、乾燥工程S2での温度を電池性能に影響を及ぼす程度の温度まで上げる必要がなくなり、高い電池性能を維持することができる。例えば、本実施形態にかかる製造方法では、塗布膜中の結合状態の構造を変化させる焼成温度まで、基板12を繰り返し昇温する必要がなくなる。よって、本実施形態にかかる製造方法では、塗布膜が複数回焼成温度まで加熱されるのを防ぐことができる。これにより、量子電池10の電池性能の劣化を防ぐことができる。
 また、本実施形態では、複数層のUV照射後塗布膜18a~18cを形成した後で、複数層のUV照射後塗布膜18a~18cを一括で焼成している。このようにすることで、製造時間を短縮することができる。例えば、1回の焼成工程S5が4時間であり、3層積層すると仮定する。3回の塗布工程S1の都度、4時間の焼成を行うとすると、焼成工程S5の合計時間は12時間(4時間×3)となる。本実施形態では、3回の塗布工程S1を実施した後、一括で焼成工程S5を実施しているため、焼成工程S5の時間は4時間となる。よって、本実施形態では、焼成時間を8時間短縮することができる。また、UV照射工程S3の時間は1~5分であり、焼成工程S5と比較して十分に短い。これにより、高性能の量子電池10を高い生産性で製造することができる。
 もちろん、焼成工程S5を複数回行ってもよい。例えば、1層目と2層目のUV照射後塗布膜を形成した後、第1の焼成工程S5を行い、3層目と4層目のUV照射後塗布膜を形成した後、第2の焼成工程S5を行うようにしてもよい。この場合も、各層のUV照射後塗布膜の形成には、塗布工程S1、乾燥工程S2、及びUV照射工程S3を行うことが好ましい。
 図4は、具体的な焼成時間の一例を示す表である。図4では、塗布工程S1毎に焼成を行った製法1と、塗布を複数回行った後、一括して焼成を行った製法2の焼成時間がそれぞれ示されている。
 2層の塗布膜を形成した場合において、塗布工程S1毎に焼成を行う製法1では、焼成時間の合計時間は8.5時間となる。一方、2層のUV照射後塗布膜を形成した場合において、一括して焼成を行う製法2では、焼成時間は4.5時間となる。
 2層の塗布膜の形成を2セット繰り返す場合(2層×2)、製法1では焼成時間は、17時間となる。すなわち、合計4回焼成を行うため、製法1の2層の焼成時間(8.5時間)の2倍となる。一方、製法2では、2層のUV照射後塗布膜を一括焼成しているため、2回の焼成を行うこととなる。よって、焼成時間は、製法2の2層の焼成時間(4.5時間)の2倍、すなわち9時間となる。
 3層の塗布膜を形成した場合において、塗布工程S1毎に焼成を行う製法1では、焼成時間の合計時間は13時間となる。一方、3層のUV照射後塗布膜を形成した場合において、一括して焼成を行う製法2では、焼成時間は5時間となる。3層を一括して焼成する場合、充電層18の厚さが厚くなるため、2層の場合よりも、焼成時間が長くなる。
 3層の塗布膜の形成を2セット繰り返す場合(3層×2)、製法1では焼成時間は、26時間となる。すなわち、合計6回焼成を行うため、製法1の3層の焼成時間(13時間)の2倍となる。一方、製法2では、3層のUV照射後塗布膜を一括焼成しているため、2回の焼成を行うこととなる。よって、焼成時間は、製法2の3層の焼成時間(5時間)の2倍、すなわち10時間となる。
 製法2のように、複数のUV照射後塗布膜を形成した後、一括して複数のUV照射後塗布膜を焼成することで、製造時間を短縮することができる。よって、製法2によると生産性を向上させることができる。
 もちろん、充電層18は、2層又は3層に限られるものではなく、4層以上有していてもよい。塗布膜を複数層、すなわち2層以上積層する場合に、上記の製法2は、適用可能である。塗布膜の積層毎に行われていた3~4時間の焼成工程S5を省略することができるため、製造時間の短縮、及び設備使用時間の削減が可能となる。また、製法2では、一括して複数のUV照射後塗布膜を焼成するため、工程数の削減も可能となる。よって、製法2では、生産性を向上することができ、量子電池の低コスト化に資することができる。
 以上、本発明の実施形態の一例を説明したが、本発明はその目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に、上記の実施形態による限定は受けない。
 この出願は、2015年6月25日に出願された日本出願特願2015-127653を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
 10 量子電池
 12 基板
 14 第1電極
 16 n型金属酸化物半導体層
 18 充電層
 18a~18c 乾燥後塗布膜、UV照射後塗布膜、焼成後塗布膜
 20 P型金属酸化物半導体層
 22 第2電極

Claims (4)

  1.  絶縁性物質で覆われたn型金属酸化物半導体を光励起構造変化させることによりバンドギャップ中にエネルギー順位を形成して電子を捕獲する充電層を有する二次電池の製造方法であって、
     前記充電層となる成分が含まれる塗布膜を形成するため、塗布液を塗布する塗布工程と、
     前記塗布工程で塗布された前記塗布液を乾燥させて、乾燥後塗布膜を形成する乾燥工程と、
     前記乾燥後塗布膜に紫外線を照射して、UV照射後塗布膜を形成する照射工程と、
     前記塗布工程、前記乾燥工程、及び前記照射工程を1セットとして、複数セット繰り返して、前記UV照射後塗布膜を複数層形成した後に、前記複数層の前記UV照射後塗布膜を焼成して、複数層の焼成後塗布膜を形成する焼成工程と、を備えた二次電池の製造方法。
  2.  前記複数層の前記UV照射後塗布膜を形成する間に各UV照射後塗布膜を焼成しない請求項1に記載の二次電池の製造方法。
  3.  前記焼成工程での焼成温度が、前記乾燥工程での乾燥温度よりも高くなっている請求項1又は2に記載の二次電池の製造方法。
  4.  前記複数層の前記焼成後塗布膜に紫外線を照射して、前記充電層を形成する請求項1乃至3の何れか1項に記載の二次電池の製造方法。
PCT/JP2016/002410 2015-06-25 2016-05-17 二次電池の製造方法 Ceased WO2016208116A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CA2984098A CA2984098C (en) 2015-06-25 2016-05-17 Method for manufacturing secondary cell
KR1020187002441A KR102125311B1 (ko) 2015-06-25 2016-05-17 이차 셀 제조 방법
US15/737,731 US10367140B2 (en) 2015-06-25 2016-05-17 Method for manufacturing secondary cell
EP16813892.3A EP3316324A4 (en) 2015-06-25 2016-05-17 PROCESS FOR PRODUCING SECONDARY BATTERIES
CN201680037148.XA CN107735877B (zh) 2015-06-25 2016-05-17 制造二次电池的方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015127653A JP6572015B2 (ja) 2015-06-25 2015-06-25 二次電池の製造方法
JP2015-127653 2015-06-25

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2016208116A1 true WO2016208116A1 (ja) 2016-12-29

Family

ID=57585326

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2016/002410 Ceased WO2016208116A1 (ja) 2015-06-25 2016-05-17 二次電池の製造方法

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10367140B2 (ja)
EP (1) EP3316324A4 (ja)
JP (1) JP6572015B2 (ja)
KR (1) KR102125311B1 (ja)
CN (1) CN107735877B (ja)
CA (1) CA2984098C (ja)
TW (1) TWI603491B (ja)
WO (1) WO2016208116A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018168495A1 (ja) * 2017-03-16 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 二次電池
WO2018168493A1 (ja) * 2017-03-15 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイス
WO2018168494A1 (ja) * 2017-03-15 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイスおよび固体電解質層の製造方法
JP2019150800A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 盛敏 小野 電子移動装置
US11245113B2 (en) * 2016-08-31 2022-02-08 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Secondary battery

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018197999A (ja) * 2017-05-24 2018-12-13 株式会社日本マイクロニクス 情報収集器、情報収集システム、及び情報収集方法
TWI667805B (zh) * 2017-10-13 2019-08-01 行政院原子能委員會核能研究所 降低金屬氧化物半導體之阻值的方法及其量子電池的製法
RU2692373C1 (ru) * 2018-08-03 2019-06-24 Акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (АО "Российские космические системы") Способ получения диэлектрического слоя на основе полимерного покрытия в изделиях микроэлектроники

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010029751A1 (ja) * 2008-09-12 2010-03-18 株式会社アルバック 太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP2011023200A (ja) * 2009-07-15 2011-02-03 Dainippon Printing Co Ltd 電解質形成用塗工液、及びそれを用いた色素増感型太陽電池
WO2012046325A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 グエラテクノロジー株式会社 二次電池
JP2016028408A (ja) * 2014-03-24 2016-02-25 パナソニックIpマネジメント株式会社 蓄電素子及び蓄電素子の製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030152813A1 (en) * 1992-10-23 2003-08-14 Symetrix Corporation Lanthanide series layered superlattice materials for integrated circuit appalications
US6133050A (en) * 1992-10-23 2000-10-17 Symetrix Corporation UV radiation process for making electronic devices having low-leakage-current and low-polarization fatigue
US5955754A (en) * 1992-10-23 1999-09-21 Symetrix Corporation Integrated circuits having mixed layered superlattice materials and precursor solutions for use in a process of making the same
KR101042959B1 (ko) * 2004-06-03 2011-06-20 삼성에스디아이 주식회사 태양전지 및 그 제조방법
WO2008081944A1 (ja) 2006-12-28 2008-07-10 Gs Yuasa Corporation 非水電解質二次電池用正極材料、それを備えた非水電解質二次電池、及びその製造法
EP2845882A3 (en) * 2008-10-29 2015-11-18 Fujifilm Corporation Dye, Photoelectric Conversion Element and Photoelectrochemical Cell
WO2012046326A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 グエラテクノロジー株式会社 太陽電池
US9859596B2 (en) * 2011-10-30 2018-01-02 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Repeatedly chargeable and dischargeable quantum battery
WO2013153603A1 (ja) * 2012-04-09 2013-10-17 株式会社日本マイクロニクス 二次電池
CN105474421A (zh) * 2013-05-06 2016-04-06 阿文戈亚研究公司 高性能的钙钛矿敏化的介观太阳能电池
JP2014229387A (ja) 2013-05-20 2014-12-08 日東電工株式会社 集電体およびバイポーラ電池
JP2016127166A (ja) * 2015-01-05 2016-07-11 パナソニックIpマネジメント株式会社 蓄電素子およびその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010029751A1 (ja) * 2008-09-12 2010-03-18 株式会社アルバック 太陽電池及び太陽電池の製造方法
JP2011023200A (ja) * 2009-07-15 2011-02-03 Dainippon Printing Co Ltd 電解質形成用塗工液、及びそれを用いた色素増感型太陽電池
WO2012046325A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 グエラテクノロジー株式会社 二次電池
JP2016028408A (ja) * 2014-03-24 2016-02-25 パナソニックIpマネジメント株式会社 蓄電素子及び蓄電素子の製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3316324A4 *

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11245113B2 (en) * 2016-08-31 2022-02-08 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Secondary battery
CN110419088A (zh) * 2017-03-15 2019-11-05 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 蓄电设备和固体电解质层的制造方法
WO2018168493A1 (ja) * 2017-03-15 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイス
WO2018168494A1 (ja) * 2017-03-15 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイスおよび固体電解質層の製造方法
JP2018152532A (ja) * 2017-03-15 2018-09-27 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイスおよび固体電解質層の製造方法
JP2018152311A (ja) * 2017-03-15 2018-09-27 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイス
JP7075717B2 (ja) 2017-03-15 2022-05-26 株式会社日本マイクロニクス 蓄電デバイス
TWI650893B (zh) * 2017-03-15 2019-02-11 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 蓄電裝置
TWI661596B (zh) * 2017-03-15 2019-06-01 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 蓄電裝置及固體電解質層的製造方法
KR102280735B1 (ko) 2017-03-15 2021-07-23 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 축전 디바이스
EP3598466A4 (en) * 2017-03-15 2021-01-13 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics ELECTRICITY STORAGE DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING A SOLID ELECTROLYTE LAYER
KR20190119627A (ko) * 2017-03-15 2019-10-22 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 축전 디바이스
JP2018156778A (ja) * 2017-03-16 2018-10-04 株式会社日本マイクロニクス 二次電池
EP3598562A4 (en) * 2017-03-16 2020-12-16 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics SECONDARY BATTERY
TWI665817B (zh) * 2017-03-16 2019-07-11 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics 二次電池
JP7023049B2 (ja) 2017-03-16 2022-02-21 株式会社日本マイクロニクス 二次電池
WO2018168495A1 (ja) * 2017-03-16 2018-09-20 株式会社日本マイクロニクス 二次電池
WO2019172296A1 (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 盛敏 小野 電子移動装置
JP2019150800A (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 盛敏 小野 電子移動装置
JP7130202B2 (ja) 2018-03-06 2022-09-05 盛敏 小野 電子移動装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3316324A1 (en) 2018-05-02
JP2017011210A (ja) 2017-01-12
KR20180022864A (ko) 2018-03-06
EP3316324A4 (en) 2019-02-27
CN107735877B (zh) 2020-03-10
JP6572015B2 (ja) 2019-09-04
CA2984098A1 (en) 2016-12-29
US20180182959A1 (en) 2018-06-28
KR102125311B1 (ko) 2020-06-22
CN107735877A (zh) 2018-02-23
TW201711215A (zh) 2017-03-16
CA2984098C (en) 2019-09-03
TWI603491B (zh) 2017-10-21
US10367140B2 (en) 2019-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6572015B2 (ja) 二次電池の製造方法
EP3539166B1 (en) Quantum dots light emitting diode and fabricating method thereof, display panel and display apparatus
CN100347333C (zh) 金属氧化物薄膜及其制造方法
JP5481900B2 (ja) 固体二次電池、固体二次電池の製造方法
CN104953180A (zh) 蓄电元件以及蓄电元件的制造方法
WO2020220523A1 (zh) 有机发光二极管显示装置及其制作方法
CN109256475A (zh) 一种基于紫外热退火工艺的钙钛矿发光二极管及制备方法
JP2002093475A (ja) 色素増感型太陽電池セルおよびそれを用いた色素増感型太陽電池モジュール、およびそれらの製造方法
JP5083409B2 (ja) 積層セラミック電子部品の製造方法
CN104952962A (zh) 蓄电元件以及蓄电元件的制造方法
TWI603492B (zh) 氧化物半導體二次電池及其製造方法
JP2016127166A (ja) 蓄電素子およびその製造方法
CN1191597C (zh) 电子元件的制造方法和薄膜的制造装置
WO2015118693A1 (ja) 薄膜高分子積層フィルムコンデンサの製造方法及び薄膜高分子積層フィルムコンデンサ
CN110473966A (zh) 光电转换元件的制造方法
WO2005074068A1 (ja) 色素増感型太陽電池用積層フィルム ならびに色素増感型太陽電池用電極およびその製造方法
JP2019519919A (ja) 透明相関金属電極を形成するための方法
JP2009178983A (ja) 酸化物半導体薄膜を積層した板状粒子及びその製造方法並びにそれを用いた色素増感太陽電池
JP2009295448A (ja) 光電変換素子、光電変換素子の製造方法および電子機器
TW200541392A (en) Method for manufacturing organic el panel
TWI710157B (zh) 蓄電裝置
CN114864831A (zh) 光电薄膜、微流体芯片和光电薄膜的制备方法
JP2018174261A (ja) 光電変換素子の電極製造方法
JPWO1991017572A1 (ja) 太陽電池
JP2016216804A (ja) 積層体及びその製造方法並びにdcスパッタリング用ターゲット

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 16813892

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2984098

Country of ref document: CA

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 15737731

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20187002441

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2016813892

Country of ref document: EP