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DE1226855B - Verfahren zum stromlosen Vergolden der aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung bestehenden Elektroden einer Halbleiter-anordnung - Google Patents

Verfahren zum stromlosen Vergolden der aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung bestehenden Elektroden einer Halbleiter-anordnung

Info

Publication number
DE1226855B
DE1226855B DEJ20088A DEJ0020088A DE1226855B DE 1226855 B DE1226855 B DE 1226855B DE J20088 A DEJ20088 A DE J20088A DE J0020088 A DEJ0020088 A DE J0020088A DE 1226855 B DE1226855 B DE 1226855B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
aluminum
gold
solution
semiconductor arrangement
immersed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ20088A
Other languages
English (en)
Inventor
Tmothy Mocanu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Micronas GmbH
Original Assignee
Deutsche ITT Industries GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Deutsche ITT Industries GmbH filed Critical Deutsche ITT Industries GmbH
Publication of DE1226855B publication Critical patent/DE1226855B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/42Coating with noble metals
    • H10P14/46

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. CL:
Nummer: Aktenzeichen: Anmeldetag:
Auslegetag:
C 23 c
Deutsche Kl.: 48 b-3/00
J 20088 VI b/48 b
15. Juni 1961
13. Oktober 1966
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum stromlosen Vergolden, insbesondere zum gezielten Abscheiden von Gold auf Legierungskontakten von Silicium-Halbleiteranordnungen durch stromloses Vergolden.
Die Erfindung wird im folgenden für die spezielle Anwendung bei Silicium-Dioden beschrieben, die Aluminiumlegierungen als Kontakte besitzen. Als Aluminiumlegierung sollen im folgenden sowohl im wesentlichen reines Aluminium als auch Aluminiumlegierungen verstanden werden, die während des Legierens von gleichrichtenden pn-Übergängen entstehen oder als Legierungsmaterial verwendet werden.
Im Hinblick auf die Tatsache, daß Aluminium und Legierungen mit hohem Aluminiumgehalt auf ihrer Oberfläche eine Oxydschicht aufweisen, stößt das Anbringen von Zuleitungsdrähten auf die Legierungskontakte aus Aluminium bei Siliciumdioden auf Schwierigkeiten, da sowohl Schweißungen als auch Lötungen durch die Anwesenheit der Oxydschicht erschwert werden. Die vorliegende Erfindung beabsichtigt mit einer Methode, nach der Aluminiumelektroden selektiv mit Gold versehen werden, die Herstellung von elektrischen Kontakten mit diesen Elektroden zu erleichtern.
Die Erfindung betrifft daher ein Verfahren zum stromlosen Vergolden der aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung bestehenden Elektroden einer Halbleiteranordnung, insbesondere einer Silicium-Halbleiteranordnung, für die Herstellung von elektrischen Kontakten, das sich erfindungsgemäß dadurch auszeichnet, daß die Halbleiteranordnung in eine heiße Alkalihydroxydlösung einer solchen Konzentration getaucht wird, daß nur das Elektrodenmaterial angegriffen wird, anschließend die Lösung bei eingetauchter Halbleiteranordnung fortlaufend mit heißem Wasser unter Ablaufenlassen verdünnt wird, bis sie aus klarem Wasser besteht, sodann dem Wasser mit der darin eingetauchten Anordnung unter Aufrechterhaltung einer Temperatur von etwa 80° C eine Lösung eines Gold-Amino-Komplexes zum Vergolden zugefügt und der pH-Wert des Vergoldungsbades mittels einer Ammoniumhydroxydlösung auf einen Wert zwischen 7 und 8 eingestellt und gehalten wird.
Die weitere Ausbildung und die Vorteile der Erfindung werden in der folgenden Beschreibung an Hand der die Aufeinanderfolge der einzelnen Verfahrensschritte wiedergebenden Zeichnung dargestellt.
Der erste Verfahrensschritt nach der Erfindung Verfahren zum stromlosen Vergolden der aus
Aluminium oder einer Aluminiumlegierung
bestehenden Elektroden einer Halbleiteranordnung
Anmelder:
Deutsche ITT Industries
Gesellschaft mit beschränkter Haftung,
Freiburg (Breisgau), Hans-Bunte-Str. 19
Als Erfinder benannt:
Tmothy Mocanu, Quincy, Mass. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 24. Juni 1960 (38 631)
besteht darin, daß die fertiggestellte Diodenanordnung oder ein entsprechender anderer Gegenstand in ein Bad getaucht wird, das im wesentlichen aus einer 2normalen Lösung von Natrium- oder Kaliumhydroxyd besteht. Die Temperatur der Lösung wird zweckmäßig auf etwa 80° C gehalten. Das Tauchen wird etwa 3 bis 4 Minuten oder über eine sonstige geeignete Zeit durchgeführt, während der die Oxydschicht von der Oberfläche der Aluminiumelektrode der Diode entfernt wird, ohne daß dabei der gleichrichtende Übergang oder die Oberflächeneigenschaften des Siliciumplättchens nachteilig beeinflußt werden.
Am Ende der Tauchzeit wird das Bad aus Alkalihydroxyd fortlaufend kontinuierlich mit heißem, vorzugsweise kochendem Wasser verdünnt, ohne dabei die Diode aus dem Bad zu entfernen. Die Verdünnung wird so lange fortgesetzt, bis das Bad weitestgehend frei von Hydroxyd ist und im wesentlichen aus Wasser besteht. Dabei wird die Temperatur des Bades vorzugsweise auf etwa 80° C gehalten.
Durch das Wasserbad, das durch die laufende Verdünnung erhalten worden ist, wird die Diode gespült, ohne sie dabei der Luft auszusetzen.
Dem Wasserbad wird eine geeignete Lösung aus einem Gold-Amino-Komplex zugegeben. Ferner wird eine ausreichende Menge von Ammoniumhydroxyd periodisch zugefügt, und zwar so viel, wie notwendig ist, um den pH-Wert der Lösung zwischen 7 und 8 einzustellen und zu halten, da das Ammoniumhydroxyd verdampft. Wie in den vorhergehenden
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Verfahrensschritten wird die Temperatur der Lösung bei etwa 80° C innerhalb einer Grenze von" "±5° C gehalten. Die Menge der zugefügten Gold-Amino-Lösung zum Vergolden ist selbstverständlich abhängig vom Volumen des Iteinigungsbades und der für das Vergolden benötigten Konzentration.
Beispiel,.
Die Dioden werden zunächst in 50 ecm einer 2normalen Natriumhydroxydlösung (4 g 'Natriumhydroxyd auf 50 cm3 H2O) bei einer Temperatur von etwa 80° C getaucht. Nach 4 Minuten werden die Dioden, ohne der Atmosphäre ausgesetzt zu werden, gespült durch fortlaufendes Verdünnen des Bades mit kochendem Wasser, nach deren Ablauf das 50-cm.3-Volumen des Bades im wesentlichen aus reinem Wasser besteht.
Dieser Menge Wasser werden 5cm3 eines GoId-Amino-Komplexes zugegeben. Wenn es notwendig ist, wird Wärme zugeführt, um die Lösung auf 80 + 50C zu halten. Nach etwa einer Minute werden der Lösung 2 cm3 einer 28 %igen Ammonium-.hydroxydlösung zugefügt, um diese alkalisch auf einem pH-Wert zwischen 7 und 8 zu halten. Wegen des Austritts von Ammoniakdampf (NH3) werden nach 3 Minuten weitere 3 cm3 einer 28 °/bigen Ammoniumhydroxydlösung zugefügt, um den gewünschten pH-Wert zu halten. -Die- Vergoldung wird für weitere 3 Minuten fortgesetzt, nach denen'die Dioden entfernt, gereinigt und getrocknet werden. -
Als Ergebnis dieser Behandlung weisen die Dioden eine glatte, glänzende, zusammenhängende Goldplattierung auf den Aluminiumelektroden* auf ohne nachweisbare Vergoldung der Siliciumoberfläche. Es konnte keine Vergoldung Oder Beeinträchtigung der gleichrichtenden Übergänge noch sonstige nachteilige Erscheinungen auf den Halbleiterplättchen nachgewiesen werden. - ■ ' '
Es sei darauf hingewiesen, daß es wichtig ist, extreme Abweichungen über +1O0G von der vorgesehenen Temperatur von- 80° C zu vermeiden. Grundsätzlich wäre eine etwas -niedrigere Temperatur für das Hydroxydbad zulässig. Um jedoch die Einstellung der für das Plattierungsbad mehr oder weniger kritischen Temperatür von 80 + 50C zu beschleunigen bzw. zu erleichtern, ist es zweckmäßig, die Verdünnung des Hydroxydbades mit kochendem öder nahezu kochendem- Wasser vorzunehmen, so daß das erhaltene - Reinigungsbad eine Temperatur von nahezu 100° C aufweist. Dadurch ist es möglich, die Vergoldungslösung und das Ammoniumhydroxyd bei Zimmertemperatur hinzuzufügen, ohne daß-dabei die-Temperatur des Bades wesentlich unter 80° C absinkt. Die Zuführung von Wärme über eine äußere Wärmequelle kann dann verringert, oder gänzlich vermieden werden.
Die verschiedenen festgesetzten Zeiten sind nicht kritisch, obwohl die für die Vergoldung festgesetzte Zeit unter Umständen zu einer unerwünschten Vergoldung des gleichrichtenden Überganges führt, wenn sie übermäßig verlängert wird.
Im wesentlichen besteht die Erfindung darin, daß die Oxydschicht von der Oberfläche des Aluminiums bzw. der Aluminiumlegierung entfernt wird und daß die Oberfläche bis zum Aufbringen der Goldschicht oxydfrei gehalten wird, ohne dabei' die Diode nachteilig zu beeinflussen. ■ ■ : ■ ''

Claims (1)

  1. Patentanspruch: '" "
    Verfahren zum stromlosen -Vergolden der aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung be-' stehenden: Elektroden einer Halbleiteranordnung, insbesondere einer Silicium-Halbleit&ränöfdnurig", für- die Herstellung von-elektrischen1 -Kontakten, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiteranordnung in eine heiße Alkalihydroxydlösung einer solchen Konzentration getaucht wird, daß nur das Elektrodenmaterial angegriffen wird, anschließend^ die Lösung bei eingetauchter Halbleiteranordnung -fortlaufend -mit heißem Wasser unter Ablaufenlassen verdünnt wird; bis sie -aus -klarem Wasser besteht, sodann dem Wasser mit der darin eingetauchten Anordnung "unter Aufreehtefhaltung" einer Temperatur von etwa 80° C eine Lösung eines Gold-Amino-Kom-■plexes zum Vergolden zugefügt und der pH-Wert des Vergoldungsbades mittels einer 'Ammonium-■hydroxydlösung'auf einen Wert zwischen' 7 und 8 eingestellt und gehalten wird.
    In Betracht gezogene Druckschriften:
    Deutsche Patentschriften Nr. 813 472, 932 858;
    deutsche Auslegeschrift Nr. 1000 533;
    Ff annhauser, »Galvanotechnik«, 1950, Bd. I, S. 912. ■"■■■"■"■ :■■■■■
    609 670/333 10.66 © Bundesdruckerei Berlin
DEJ20088A 1960-06-24 1961-06-15 Verfahren zum stromlosen Vergolden der aus Aluminium oder einer Aluminiumlegierung bestehenden Elektroden einer Halbleiter-anordnung Pending DE1226855B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US38631A US3099576A (en) 1960-06-24 1960-06-24 Selective gold plating of semiconductor contacts

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ID=21901008

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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3219482A (en) * 1962-06-25 1965-11-23 Union Carbide Corp Method of gas plating adherent coatings on silicon
US4005472A (en) * 1975-05-19 1977-01-25 National Semiconductor Corporation Method for gold plating of metallic layers on semiconductive devices
US4062104A (en) * 1975-09-05 1977-12-13 Walter Norman Carlsen Disposable clinical thermometer probe
US4866505A (en) * 1986-03-19 1989-09-12 Analog Devices, Inc. Aluminum-backed wafer and chip

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE813472C (de) * 1948-09-17 1951-09-13 Max Dr Schenk Vorbehandlung von Aluminium vor dem Aufbringen von Deckschichten
DE932858C (de) * 1953-01-13 1955-09-12 Telefunken Gmbh Verfahren zur Behandlung von Elektroden oder Elektrodenwerktoffen fuer elektrische Entladungsroehren zwecks Verleihung eines hohen Waermeabstrahlungsvermoegens unter Verwendung eines mit Aluminium ueberzogenen Ausgangsmaterials, das mit dem Aluminiumueberzug bei Erhitzung intermetallische Verbindungen eingeht
DE1000533B (de) * 1954-10-22 1957-01-10 Siemens Ag Verfahren zur Kontaktierung eines Halbleiterkoerpers

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2733167A (en) * 1956-01-31 Method of adhering gold to a non-
DE1067131B (de) * 1954-09-15 1959-10-15 Siemens &. Halske Aktiengesell schatt Berlin und München Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung mit einer zwischen einer Metallschicht und der Oberflache des Halbleiterkristalls erzeugten Randschicht
US2872346A (en) * 1956-05-21 1959-02-03 Miller Adolph Metal plating bath

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE813472C (de) * 1948-09-17 1951-09-13 Max Dr Schenk Vorbehandlung von Aluminium vor dem Aufbringen von Deckschichten
DE932858C (de) * 1953-01-13 1955-09-12 Telefunken Gmbh Verfahren zur Behandlung von Elektroden oder Elektrodenwerktoffen fuer elektrische Entladungsroehren zwecks Verleihung eines hohen Waermeabstrahlungsvermoegens unter Verwendung eines mit Aluminium ueberzogenen Ausgangsmaterials, das mit dem Aluminiumueberzug bei Erhitzung intermetallische Verbindungen eingeht
DE1000533B (de) * 1954-10-22 1957-01-10 Siemens Ag Verfahren zur Kontaktierung eines Halbleiterkoerpers

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