JPH113875A - 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置 - Google Patents
電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置Info
- Publication number
- JPH113875A JPH113875A JP9155117A JP15511797A JPH113875A JP H113875 A JPH113875 A JP H113875A JP 9155117 A JP9155117 A JP 9155117A JP 15511797 A JP15511797 A JP 15511797A JP H113875 A JPH113875 A JP H113875A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dicing tape
- chips
- heating means
- die bonding
- separated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H10W72/071—
-
- H10P72/7402—
-
- H10P72/0442—
-
- H10P72/7404—
-
- H10P72/7416—
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10S156/934—Apparatus having delaminating means adapted for delaminating a specified article
- Y10S156/941—Means for delaminating semiconductive product
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/11—Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/11—Methods of delaminating, per se; i.e., separating at bonding face
- Y10T156/1126—Using direct fluid current against work during delaminating
- Y10T156/1132—Using vacuum directly against work during delaminating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/19—Delaminating means
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49815—Disassembling
- Y10T29/49819—Disassembling with conveying of work or disassembled work part
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49815—Disassembling
- Y10T29/49821—Disassembling by altering or destroying work part or connector
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49815—Disassembling
- Y10T29/49822—Disassembling by applying force
Landscapes
- Dicing (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
ィングすることができる電子部品のダイボンディング方
法およびこれに使用されるダイボンディング装置を提供
する。 【解決手段】 少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着
剤層から構成されるダイシングテープ20に粘着剤層を
介して貼着されたウェハをダイシング工程で多数のチッ
プ16に切断分離した後、これら多数のチップを保持し
ているダイシングテープ17を加熱手段を備えたテーブ
ル上に載置するとともに、このダイシングテープを構成
している収縮性フィルムを加熱手段3、7で収縮させ
て、チップと接着剤層との接着面積および接着力を小さ
くし、その後、上方に配置された吸着コレット19で所
定間隔置きに配列されたチップ16を一つずつ吸着分離
するようにした。
Description
ディング方法およびそれに使用されるダイボンディング
装置に関し、さらに詳しくは半導体チップ等の小型電子
部品の製造工程において、ダイシングテープ上のチップ
を取り外すに際し、従来から行われていた、ピンによる
突き上げをを行うことなく、チップを一つずつ吸着分離
することを可能にした電子部品のダイボンディング方法
およびそれに使用されるダイボンディング装置に関す
る。
半導体ウェハ40は、図9および図10に示したように
大径の円盤状に製造され、その半導体ウェハ40は、粘
着シート41を介してリングフレーム42に貼着された
後、ダイシングカッター43にて賽の目状に多数のチッ
プ44に切断分離(ダイシング)され、この状態で次の
工程である洗浄、乾燥、ダイボンディングなどの各工程
に移される。また、ダイシング工程が終了したら、粘着
シート41は適宜な手段で外方向に引き延ばされ、これ
により隣接しあうチップ44のチップ間隔が拡げられて
いる。
に切断分離するダイシング工程から乾燥工程まではチッ
プ44に対して充分な接着力を有しており、図11に示
すように粘着シート41からピックアップする際にはチ
ップ44に粘着剤が付着していない程度の接着力を有し
ているものが望まれている。
特開昭60−196,956号公報および特開昭60−
223,139号公報等に種々提案されており、また近
年になっては、ピックアップ時の粘着力を弱めるために
UV硬化型粘着剤を使用した粘着シートも提案されてい
る。
シート41を用いた場合には、チップ間隔を拡張するに
あたり、各チップ44間の離間距離が一定にすることが
困難でバラツキが発生し、その結果、各工程で処理する
場合に不具合が生じていた。また、ピックアップ時の接
着力(垂直剥離力)を完全に消失させることは実質的に
不可能であり、ピックアップ時の垂直剥離力を低減する
としても、100〜300g/10mm2程度が限界で
あった。このため、ピックアップするダイボンディング
工程では、粘着シート41の裏面から突き上げピン45
により、強制的に突き上げなければならず、その結果、
チップ44を破損したり、突き上げピン45に付着する
粘着剤等がチップ44の背面に移行するなどの不具合が
生じていた。
ートの場合にも、突き上げピン45を使用しないで全て
のチップ44を剥離できるまでには至っていない。そこ
で、今日では、本願出願人等によって、UV硬化型粘着
剤を使用した粘着シートに代えて熱収縮性のいわゆるシ
ュリンクフィルムを用いることにより、チップとシート
との接着面積を少なくするとともに、接着力をより小さ
くする技術も提案されている。
題点を解決するものであり、従来のエキスパンド法とは
全く異なる機構でチップ間隔を拡げることができるシュ
リンクフィルムを用いてチップに傷を付けることなく効
果的にボンディングすることができる電子部品のボンデ
ィング方法およびこれに使用されるボンディング装置を
提供することにある。
の本発明は、少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着剤
層から構成されるダイシングテープに前記粘着剤層を介
して貼着されたウェハをダイシング工程で多数のチップ
に切断分離した後、これら多数のチップを保持している
ダイシングテープを加熱手段を備えたテーブル上に載置
するとともに、このダイシングテープを構成している前
記収縮性フィルムを前記加熱手段で収縮させて前記チッ
プと前記接着剤層との接着面積および接着力を小さく
し、その後、上方に配置された吸着コレットで所定間隔
置きに配列されたチップを一つずつ吸着分離するように
したことを特徴としている。
のエキスパンド工程を行なわなくても、多数のチップを
略一定の間隔毎に配列することができる。ここで、前記
少なくとも一層の収縮性フィルムを収縮させるに際し、
第1段階として多数のチップが貼着されていない前記ダ
イシングテープの外周領域のみを加熱して第1の収縮部
を形成するとともに、この第1の収縮部を形成した後、
第2段階としてチップが貼着されている前記ダイシング
テープの内部領域を加熱して第2の収縮部を形成し、こ
の第2の収縮部を形成する工程で前記隣接しあう多数の
チップを各々所定間隔置きに配列するようにし、その
後、上方に配置された吸着コレットで切断分離された多
数のチップを一つずつ吸着分離することが好ましい。
ダイシングテープが撓んだりすることを防止することも
できる。また、前記加熱手段は、前記ダイシングテープ
の下面全体に配置することもでき、あるいは前記ダイシ
ングテープの下面に部分的に配置することもできる。こ
のように部分的に配置する場合には、前記吸着コレット
と同期して水平方向に移動することが好ましい。
能に配置することもできる。さらに、前記多数のチップ
が保持されたダイシングテープをリングフレームを介し
てテーブル上に載置するともに、その下方に前記加熱手
段を配設し、該加熱手段により前記チップを加熱した
後、該加熱手段を前記ダイシングテープの下面から離反
させ、つづいて上方に配置された吸着コレットで切断分
離されたチップを一つずつ吸着分離することが好まし
い。
グテープをテーブル上に容易に搬送することができると
ともに、チップを一つづつ吸着分離することができる。
また、前記多数のチップが保持されたダイシングテープ
は、リングフレーム上に貼着されており、このリングフ
レームには、所定間隔離して少なくとも2つの位置決め
用の切欠部が形成され、一方、前記テーブル上には、こ
れらの切欠部に対応するピンが所定間隔離して突設され
ており、前記リングフレームの切欠部が前記テーブル上
のピンに合致されて前記テーブル上で位置決めされるこ
とが好ましい。これにより、テーブル上でのチップの位
置合わせが容易となる。
は、少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着剤層とから
構成されるダイシングテープにダイシングされた多数の
チップを保持させるとともに、この多数のチップを保持
したダイシングテープをリングフレームに貼着し、この
リングフレームには、所定間隔離間して少なくとも2箇
所の切欠部が形成されており、一方、加熱手段を備えた
テーブル上には、所定間隔離間して少なくとも2本の位
置決めピンが突設されており、該ピンにリングフレーム
の切欠部を合致させて前記テーブル上における前記リン
グフレームの姿勢を適正位置に真空吸着パッド、マグネ
ット等で固定した後、リングフレームの上方部に上下動
可能にコレットを対向配置し、前記加熱手段で前記ダイ
シングテープを加熱した後に前記吸着コレットで所定間
隔置きに配列された多数のチップを一つずつ吸着分離す
るようにしたことを特徴としている。
用いないで、チップを容易にピックアップすることが可
能となる。
イボンディング方法およびそれに使用されるダイボンデ
ィング装置の実施の形態(実施例)について、添付図面
に基づいて説明する。
第1の実施例の断面図、図2は、図1のダイボンディン
グ装置の上面図、図3は、図1のダイボンディング装置
の部分斜視図である。
ンディング装置を示している。ダイボンディング装置1
は、載置台を構成する環状の固定テーブル2を備えてお
り、このテーブル2の内周側には、第1の加熱手段を構
成する環状の外周側ヒータテーブル3が固定テーブル2
に固定されている。
は、2箇所に下方に延設されたガイド部材4が設けられ
ており、このガイド部材4が、架台または床Aに固定さ
れた架台フレーム5に設けられたガイドレール6上を上
下に摺動するように構成されている。従って、この構成
によって、図示しない駆動モータまたはシリンダ機構の
作動によって、ガイド部材4がガイドレール6上を上下
に摺動して、固定テーブル2が外周側ヒータテーブル3
とともに、上下動可能になっている。
ーブル2の下端外周側に2箇所設けたが、固定テーブル
を偏りなく上下動させるためには、3箇所以上設けるの
が好ましい。また、ガイド部材4がガイドレール6上を
摺動する機構としては、ガイド部材4内にボールブッシ
ュを設けるなどの周知の方法が採用可能であり、特に限
定されるものではない。
は、外周側ヒータテーブル3の内周側に形成される空隙
4’内に上下動可能な第2の加熱手段を構成する円盤形
状の内周側ヒータテーブル7が配設されている。すなわ
ち、内周側ヒータテーブル7の下端の外周側には、少な
くとも2箇所にボールブッシュ10が固定され、ボール
ブッシュ10内に架台または床Aに固定されたシャフト
11が上下に摺動可能に装着されている。また、内周側
ヒータテーブル7の下端中心部には、架台または床Aに
固定されたシリンダ機構8のピストン9の上端が固定さ
れており、シリンダ機構8の作動によって、内周側ヒー
タテーブル7が上下動可能になっている。
周側ヒータテーブル7は、その加熱手段として、シーズ
ヒータがテーブル内に配設された構造、ラバーヒータと
するなど周知の加熱手段が採用可能であり、特に限定さ
れるものではない。また、これらの外周側ヒータテーブ
ル3および内周側ヒータテーブル7の下面には、熱を遮
断するためにポリエーテルエーテルケトンなどの断熱材
3a、7aが貼着されている。
定間隔離間して2本の位置決めピン12、12が突設さ
れており、固定テーブル2の上面2aに略環状のリング
フレーム13に所定位置に形成された位置決め用の切欠
部14’、14’を、固定テーブル2の置決めピン1
2、12に合致させることによって、リングフレーム1
3を固定テーブル2の上面2aに載置した際に、所定の
位置に位置合決めされるように構成されている。その
後、真空吸着パッド、マグネット等で固定する。
テープ20上にその粘着剤層22を介して円盤状のウェ
ハ14が中央部分に貼着されたダイシングテープ17の
外周に粘着剤層22を介して貼着されている。なお、こ
のウェハ14は、すでに前行程であるウェハダイシング
工程で多数のチップ16に賽の目状に切断分離されてい
る。従って、これら多数のチップ16を保持しているダ
イシングテープ17がリングフレーム13に貼着されて
いることになる。
イシングテープ17が貼着されたリングフレーム13を
固定テーブル2の上面2aの所定の位置に載置した際
に、外周側ヒータテーブル3が、ダイシングテープ17
のチップ16が貼着されていない部分18aの下方に、
内周側ヒータテーブル7のがダイシングテープ17のチ
ップ16が貼着された部分18bの下方に位置するよう
に構成されている。
は、ダイシングテープ17のチップ16を吸着分離する
ために、上下左右に位置移動自在な吸引コレット19が
配置されており、バキュームポンプ(図示せず)の作用
によって、ダイシングテープ17上のチップ16をチッ
プ毎に吸着分離するようになっている。なお、吸引コレ
ットは、その内部がテーパ形状19aとなっており、こ
れによって、チップ16の外周側と接触するのみで、チ
ップ16の表面とは接触せず、チップの損傷などが防止
されるようになっている。また、この吸引コレット19
としては、パッド付き吸引コレットなどが採用可能であ
り、特に限定されるものではない。
プ20としては、図4に示したように、収縮性フィルム
21とその上面に設けられた粘着剤層22と、収縮性フ
ィルム21の下面に接着剤層23を介して貼着された非
収縮性フィルム24から構成されるダイシングテープ2
0を用いるのが好ましい。なお、非収縮性フィルム24
を設けず、収縮性フィルム単層からなるものでもよい
が、好ましくは複層からなるプラスチックフィルムの基
材である。すなわち、1種または2種以上の収縮性フィ
ルムを組み合わせたものであってもよく、また収縮性フ
ィルムと非収縮性フィルムとを組み合わせたものであっ
てもよい。
れるものではないが、たとえばゴム系、アクリル系、シ
リコーン系、ポリビニルエーテル等の粘着剤放射線硬化
型や加熱発泡型の粘着剤も用いることができ、紫外線硬
化型粘着剤が好ましく用いられる。収縮性フィルム21
としては、熱収縮率が30〜80%の紫外線透過性ポリ
エチレンテレフタレートフィルムが特に好ましく用いら
れる。
収縮性フィルム24とを接合する機能を有し、従来より
汎用の接着剤が用いられ、アクリル系、ゴム系、シリコ
ーン系などの粘着剤、ポリエステル系、ポリアミド系、
エチレン共重合体系、エポキシ系、ウレタン系等の熱可
塑性または熱硬化性の接着剤が用いられ、特に好ましく
はアクリル系粘着剤が用いられる。
はされないが、耐水性および耐熱性にすぐれているもの
が適しており、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレン
フィルム、ポリブテンフィルム、ポリメチルペンテンフ
ィルム等のポリオレフィンフィルム;ポリ塩化ビニルフ
ィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブ
チレンテレフタレートフィルム、ポリブタジエンフィル
ム、ポリウレタンフィルム、エチレン酢ビフィルムなど
が用いられる。また重合体構成単位としてカルボキシル
基を有する化合物を含む重合体フィルムあるいはこれと
汎用重合体フィルムとの積層体を用いることもできる。
特に、紫外線透過性のポリエチレンやポリエチレンテレ
フタレートが特に好ましく用いられる。
は、リングフレーム13ごとロボットアームに把持され
て、ングフレーム13に所定位置に形成された位置決め
用の切欠部14’、14’を、固定テーブル2の置決め
ピン12、12に合致させることによって、リングフレ
ーム13を固定テーブル2の上面2aに載置される。こ
の際、内周側ヒータテーブル7はシリンダ機構8によっ
て、上方位置に位置するようになっている。
せて、ダイシングテープ17のチップ16が貼着されて
いない部分18aのみを80〜150℃で加熱すること
によって収縮させる。これは、すべて同時に加熱すると
テープにたるみが生じて好ましくなく、チップ16の間
隔が一様でなくなり、吸引コレット19での吸引が困難
となるためである。
て、ダイシングテープ17のチップ16が貼着された部
分18bのみを80〜150℃加熱して、収縮フィルム
21の収縮を行う。
と、この上に形成されている粘着剤層22もフィルム2
1の収縮に同伴して変形するため、チップ16と粘着剤
層22との接着面積が減少する(図6)。この結果、チ
ップ16と粘着剤層22との接着力(垂直剥離力)が低
減し、従来のように突き上げピンを用いることなく、吸
引コレット19のみで、容易にチップ16をピックアッ
プできるようになる。
粘着剤からなるものを用いた場合には、上記の収縮の前
または後に、紫外線照射を行い、粘着剤層を硬化させ、
粘着力を低減しておくことが特に好ましい。粘着層を硬
化させることにより、垂直剥離力をさらに低減させるこ
とができ、チップ16のピックアップが容易になるとと
もに、チップの破損をも防止することができる。
る加熱にて、収縮フィルム21の収縮を行った後、内周
側ヒータテーブル7をシリンダ機構8によって、下方位
置に下降させる。これは、すべてのチップ16を移載す
るまでに、内周側ヒータテーブル7上にダイシングテー
プ17が位置すると、余熱によってダイシングテープ1
7にたるみが生じ、また、チップ16の性能に影響を与
えるためである。
の位置をセンサーなどで検出して、左右に移動して位置
決めして下降させることによって、チップ16が個々に
吸引されて、移載されていく。この際、従来のように突
き上げピンを使用しなくてすむので、チップの損傷や、
チップ下面への粘着剤の付着が防止できる。なお、吸引
コレット19による吸引の際に、駆動モータまたはシリ
ンダ機構の作動によって、ガイド部材4をガイドレール
6上を上下に摺動させて、固定テーブル2を外周側ヒー
タテーブル3とともに、上下させることによって、吸引
コレット19による吸引しやすくするのが好ましい。
ル3を固定テーブル2に固定したが、固定テーブル2を
外周側ヒータテーブル3とは別個に上下動可能な構成と
して、外周側ヒータテーブル3による加熱後に、固定テ
ーブル2を上昇させて、ダイシングテープ17より離脱
させるようにするのが、テープのたるみを生じないため
には好ましい。
を、チップ16の位置をカメラ等のセンサーなどで検出
して、左右に移動して位置決めして下降させて、チップ
16を個々に吸引するようにしたが、吸引コレット19
を静止させて、固定テーブル2側を左右上下に移動して
吸引するようにしてもよい。
第2の実施例の断面図である。この実施例のダイボンデ
ィング装置は、外周側ヒータテーブル3を省略して、内
周側ヒータテーブル7のみとして、固定テーブル2を内
周側ヒータテーブル7の外周まで延設した点が第1の実
施例と相違し、その他の構成は、基本的には、第1の実
施例と同様であり、同じ構成部材には、同じ参照番号を
付して、その説明を省略する。
も、固定テーブル2の下端外周側には、2箇所に下方に
延設されたガイド部材4が設けられ、ガイドレール6上
を上下に摺動するように構成されて、固定テーブル2が
上下動可能であり、また、内周側ヒータテーブル7の下
端中心部に、シリンダ機構8のピストン9の上端が固定
されており、シリンダ機構8の作動によって、内周側ヒ
ータテーブル7が上下動可能になっている。
一度に内周側ヒータテーブル7によって、ダイシングテ
ープ17を加熱して収縮させるので、第1の実施例に比
較すれば、収縮後において若干チップの配列の均一性が
劣るが使用可能である。
例において、内周側ヒータテーブル7全体を加熱するよ
うにしたが、内周側ヒータテーブル7を選択的に部分的
に加熱することによって、ダイシングテープ17を加熱
して収縮させて、チップ16を部分的にダイシングテー
プ20より剥離しやすくして、吸着コレット19にて吸
着することも可能である。
第3の実施例の断面図である。この実施例のダイボンデ
ィング装置では、外周側ヒータテーブル3を省略して、
固定テーブル2のみとするとともに、内周側ヒータテー
ブル7を、チップ16の一つの寸法の大きさとほぼ同じ
小型のヒータテーブル7’としてあり、このヒータテー
ブル7’が左右上下動可能となっている。これにより、
ヒータテーブル7’によって加熱して収縮させて剥離す
べきチップ16の位置に、このヒータテーブル7’と同
期して吸着コレット19がその上方に移動して、吸着コ
レット19によって、剥離しやすくなったチップ16を
個々に吸着することができるようになっている。
分的にダイシングテープ17を加熱して収縮させて、チ
ップ16をを剥離しやすくして、個々にチップ16を吸
着コレット19にて吸着できるので、全体を収縮した場
合に比較して、配置の乱れに起因するチップの吸引ミス
が低減することになる。
の実施例と同様であり、同じ構成部材には、同じ参照番
号を付して、その説明を省略する。また、このヒータテ
ーブル7’は、本実施例では、一つのチップ16とほぼ
同じ大きさとしたが、2個以上のチップに対応する寸法
として、一度に複数個のチップ16に対応する部位のダ
イシングテープ17を加熱して収縮させて、チップ16
をを剥離しやすくすることも勿論可能である。
法およびこれに使用されるダイボンディング装置によれ
ば、少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着剤層から構
成されるダイシングテープを用いて、これにウェハを貼
着してダイシングして多数のチップに切断分離した多層
フィル体を、加熱手段を備えたテーブル上に載置し、加
熱手段で収縮させチップと接着剤層との接着面積および
接着力を小さくし、その後、上方に配置された吸着コレ
ットで所定間隔置きに配列されたチップを一つずつ吸着
分離するように構成したので、下記のような特有で顕著
な作用効果を奏する極めて優れた発明である。
る機構で、チップ間隔を一定に拡げる(配置する)こと
ができ、しかもチップに対する接着面積および接着力が
低減されるので、確実に個々のチップを吸引分離でき、
ピックアップ時にチップを損傷したり、チップ下面に粘
着剤が付着して汚染して性能を阻害することがなく、効
果的にボンディングすることができる。
る必要がなく、吸着コレットのみで個々のチップに吸着
分離できるので、突き上げピンによるチップの損傷が発
生せず、デバイスの信頼性を向上することが可能であ
る。しかも、突き上げピンの交換、補修が不要であり、
作業効率が大幅に向上する。
しないので、ダイシングテープの下方にテーブルなどの
支持体を備えることができるので、ウェハの口径が大型
化してもテープの弛みが発生せず、均一な間隔を維持す
ることが可能である。
貼着されていない部分を加熱収縮した後に、チップが貼
着された部分を収縮させるようにしたものでは、エキス
パンドするにあたり、ダイシングテープが撓んだりする
ことなく、均一な距離離間して配列できるので、吸引コ
レットによって正確にチップ毎にピックアップすること
ができる。
の実施例の断面図である。
である。
視図である。
分拡大断面図である。
式的な断面図である。
ングテープを熱収縮した際の模式的な断面図である。
の実施例の断面図である。
の実施例の断面図である。
状態を示す斜視図である。
する状態を示す断面図である。
クアップする状態を説明する概略図である。
法およびこれに使用されるダイボンディング装置によれ
ば、少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着剤層から構
成されるダイシングテープを用いて、これにウェハを貼
着してダイシングして多数のチップに切断分離したダイ
シングテープを、加熱手段を備えたテーブル上に載置
し、加熱手段で収縮させチップと接着剤層との接着面積
および接着力を小さくし、その後、上方に配置された吸
着コレットで所定間隔置きに配列されたチップを一つず
つ吸着分離するように構成したので、下記のような特有
で顕著な作用効果を奏する極めて優れた発明である。
Claims (14)
- 【請求項1】 少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着
剤層から構成されるダイシングテープに前記粘着剤層を
介して貼着されたウェハをダイシング工程で多数のチッ
プに切断分離した後、これら多数のチップを保持してい
るダイシングテープを加熱手段を備えたテーブル上に載
置するとともに、このダイシングテープを構成している
前記収縮性フィルムを前記加熱手段で収縮させて前記チ
ップと前記接着剤層との接着面積および接着力を小さく
し、その後、上方に配置された吸着コレットで所定間隔
置きに配列されたチップを一つずつ吸着分離するように
したことを特徴とする電子部品のダイボンディング方
法。 - 【請求項2】 前記少なくとも一層の収縮性フィルムを
収縮させるに際し、第1段階として多数のチップが貼着
されていない前記ダイシングテープの外周領域のみを加
熱して第1の収縮部を形成するとともに、この第1の収
縮部を形成した後、第2段階としてチップが貼着されて
いる前記ダイシングテープの内部領域を加熱して第2の
収縮部を形成し、この第2の収縮部を形成する工程で前
記隣接しあう多数のチップを各々所定間隔置きに配列す
るようにし、その後、上方に配置された吸着コレットで
切断分離された多数のチップを一つずつ吸着分離するよ
うにしたことを特徴とする請求項1に記載の電子部品の
ダイボンディング方法。 - 【請求項3】 前記加熱手段は、前記ダイシングテープ
の下面全体に配置されていることを特徴とする請求項1
または2に記載の電子部品のダイボンディング方法。 - 【請求項4】 前記加熱手段は、前記ダイシングテープ
の下面に水平方向に移動可能に配置されており、前記吸
着コレットと同期して水平方向に移動して小領域を選択
的に加熱することを特徴とする請求項1に記載の電子部
品のダイボンディング方法。 - 【請求項5】 前記加熱手段は、上下方向に移動可能に
配置されていることを特徴とする請求項3から4のいず
れかに記載の電子部品のダイボンディング方法。 - 【請求項6】 前記多数のチップが保持されたダイシン
グテープをリングフレームを介してテーブル上に載置す
るともに、その下方に前記加熱手段を配設し、該加熱手
段により前記チップを加熱した後、該加熱手段を前記ダ
イシングテープの下面から離反させ、つづいて上方に配
置された吸着コレットで切断分離されたチップを一つず
つ吸着分離するようにしたことを特徴とする請求項1か
ら5のいずれかに記載の電子部品のダイボンディング方
法。 - 【請求項7】 前記多数のチップが保持されたダイシン
グテープは、リングフレーム上に貼着されており、この
リングフレームには、所定間隔離して少なくとも2つの
位置決め用の切欠部が形成され、一方、前記テーブル上
には、これらの切欠部に対応するピンが所定間隔離して
突設されており、前記リングフレームの切欠部が前記テ
ーブル上のピンに合致されて前記テーブル上で位置決め
されるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の電
子部品のダイボンディング方法。 - 【請求項8】 少なくとも一層の収縮性フィルムと粘着
剤層とから構成されるダイシングテープにダイシングさ
れた多数のチップを保持させるとともに、この多数のチ
ップを保持したダイシングテープをリングフレームに貼
着し、このリングフレームを、加熱手段を備えたテーブ
ル上に配置するとともに、リングフレームの上方部に上
下動可能にコレットを対向配置し、前記加熱手段で前記
ダイシングテープを加熱した後に前記吸着コレットで所
定間隔置きに配列された多数のチップを一つずつ吸着分
離するようにしたことを特徴とする電子部品のダイボン
ディング装置。 - 【請求項9】 前記リングフレームには、所定間隔離間
して少なくとも2箇所の切欠部が形成されており、一
方、加熱手段を備えたテーブル上には、所定間隔離間し
て少なくとも2本の位置決めピンが突設されており、該
ピンにリングフレームの切欠部を合致させて前記テーブ
ル上における前記リングフレームの姿勢を適正位置に合
わせて配置するように構成したことを特徴とする請求項
8に記載の電子部品のダイボンディング装置。 - 【請求項10】 前記加熱手段が、前記少なくとも一層
の収縮性フィルムを収縮させるに際し、第1段階として
多数のチップが貼着されていない前記ダイシングテープ
の外周領域のみを加熱する第1の加熱手段と、第2段階
としてチップが貼着されている前記ダイシングテープの
内部領域を加熱する第2の加熱手段とから構成されてい
ることを特徴とする請求項8または9に記載の電子部品
のダイボンディング装置。 - 【請求項11】 前記加熱手段は、前記ダイシングテー
プの下面全体に配置されていることを特徴とする請求項
8から10のいずれかに記載の電子部品のダイボンディ
ング装置。 - 【請求項12】 前記加熱手段は、前記ダイシングテー
プの下面に水平方向に移動可能に配置されており、前記
吸着コレットと同期して水平方向に移動して小領域を選
択的に加熱することを特徴とする請求項9に記載の電子
部品のダイボンディング装置。 - 【請求項13】 前記加熱手段は、上下方向に移動可能
に配置されていることを特徴とする請求項9から12の
いずれかに記載の電子部品のダイボンディング装置。 - 【請求項14】 前記多数のチップが保持されたダイシ
ングテープをリングフレームを介してテーブル上に載置
するともに、その下方に前記加熱手段を配設し、該加熱
手段により前記チップを加熱した後、該加熱手段を前記
ダイシングテープの下面から離反させ、つづいて上方に
配置された吸着コレットで切断分離されたチップを一つ
ずつ吸着分離するようにしたことを特徴とする請求項8
から12のいずれかに記載の電子部品のダイボンディン
グ装置。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15511797A JP3955659B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置 |
| TW087108684A TW521313B (en) | 1997-06-12 | 1998-06-03 | Method of die bonding electronic component and die bonding apparatus therefor |
| SG1998001391A SG71802A1 (en) | 1997-06-12 | 1998-06-10 | Method of die bonding electronic component and die bonding apparatus therefor |
| EP98304634A EP0884766B1 (en) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | Method and apparatus for dicing a wafer and separating chips |
| KR1019980021621A KR100587719B1 (ko) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | 전자부품들을다이본딩하기위한방법및그를위한다이본딩장치 |
| US09/095,739 US6176966B1 (en) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | Method of die bonding electronic component and die bonding apparatus thereof |
| DE69836398T DE69836398T2 (de) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | Verfahren und Vorrichtung zum Zerteilen eines Wafers und zum Trennen von Bauelementen |
| CNB981147704A CN1146032C (zh) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | 电子元件的小片接合方法及其小片接合装置 |
| MYPI98002611A MY120043A (en) | 1997-06-12 | 1998-06-11 | Method of die bonding electronic component and die bonding apparatus therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15511797A JP3955659B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH113875A true JPH113875A (ja) | 1999-01-06 |
| JP3955659B2 JP3955659B2 (ja) | 2007-08-08 |
Family
ID=15598958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15511797A Expired - Lifetime JP3955659B2 (ja) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6176966B1 (ja) |
| EP (1) | EP0884766B1 (ja) |
| JP (1) | JP3955659B2 (ja) |
| KR (1) | KR100587719B1 (ja) |
| CN (1) | CN1146032C (ja) |
| DE (1) | DE69836398T2 (ja) |
| MY (1) | MY120043A (ja) |
| SG (1) | SG71802A1 (ja) |
| TW (1) | TW521313B (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001060565A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Lintec Corp | 光照射装置及びこれを用いたピックアップ装置 |
| JP2002270542A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-20 | Shinkawa Ltd | ダイのピックアップ方法及びピックアップ装置 |
| JP2002334853A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 |
| JP2002334852A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 |
| KR100705166B1 (ko) * | 1999-09-06 | 2007-04-09 | 린텍 가부시키가이샤 | 양면 점착시트에 고정된 물품의 박리방법 및 박리장치 |
| JP2008258639A (ja) * | 2008-05-02 | 2008-10-23 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハー切断片のピックアップ回収方法 |
| US7641760B2 (en) | 2004-12-09 | 2010-01-05 | Nitto Denko Corporation | Method of thermal adherend release and apparatus for thermal adherend release |
| JP2012182313A (ja) * | 2011-03-01 | 2012-09-20 | Lintec Corp | チップ状部品のピックアップ方法 |
| CN104517801A (zh) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 株式会社泰塞克 | 分离装置和捡取系统 |
Families Citing this family (81)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6448153B2 (en) | 1996-10-29 | 2002-09-10 | Tru-Si Technologies, Inc. | Thinning and dicing of semiconductor wafers using dry etch, and obtaining semiconductor chips with rounded bottom edges and corners |
| US6498074B2 (en) | 1996-10-29 | 2002-12-24 | Tru-Si Technologies, Inc. | Thinning and dicing of semiconductor wafers using dry etch, and obtaining semiconductor chips with rounded bottom edges and corners |
| JP3537447B2 (ja) * | 1996-10-29 | 2004-06-14 | トル‐シ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 集積回路及びその製造方法 |
| US6882030B2 (en) * | 1996-10-29 | 2005-04-19 | Tru-Si Technologies, Inc. | Integrated circuit structures with a conductor formed in a through hole in a semiconductor substrate and protruding from a surface of the substrate |
| US6312800B1 (en) * | 1997-02-10 | 2001-11-06 | Lintec Corporation | Pressure sensitive adhesive sheet for producing a chip |
| JP2000038556A (ja) * | 1998-07-22 | 2000-02-08 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハ保持保護用ホットメルトシート及びその貼り付け方法 |
| EP0979852B1 (en) * | 1998-08-10 | 2004-01-28 | LINTEC Corporation | A dicing tape and a method of dicing a semiconductor wafer |
| JP3784202B2 (ja) * | 1998-08-26 | 2006-06-07 | リンテック株式会社 | 両面粘着シートおよびその使用方法 |
| US7105226B2 (en) * | 1998-08-26 | 2006-09-12 | Lintec Corporation | Pressure sensitive adhesive double coated sheet and method of use thereof |
| JP3661444B2 (ja) * | 1998-10-28 | 2005-06-15 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置、半導体ウエハ、半導体モジュールおよび半導体装置の製造方法 |
| JP4275254B2 (ja) * | 1999-06-17 | 2009-06-10 | リンテック株式会社 | 両面粘着シートに固定された物品の剥離方法および剥離装置 |
| WO2001056063A2 (en) * | 2000-01-26 | 2001-08-02 | Tru-Si Technologies, Inc. | Thinning and dicing of semiconductor wafers using dry etch, and obtaining semiconductor chips with rounded bottom edges and corners |
| JP4392732B2 (ja) * | 2000-02-07 | 2010-01-06 | リンテック株式会社 | 半導体チップの製造方法 |
| JP3641217B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2005-04-20 | Tdk株式会社 | チップ状電子部品における端部電極形成方法及び装置 |
| EP1156521A3 (en) * | 2000-04-24 | 2007-05-23 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | Low cost electroless plating process for single chips and wafer parts and products obtained thereof |
| US6383833B1 (en) * | 2000-05-23 | 2002-05-07 | Silverbrook Research Pty Ltd. | Method of fabricating devices incorporating microelectromechanical systems using at least one UV curable tape |
| WO2001089987A1 (en) * | 2000-05-23 | 2001-11-29 | Silverbrook Research Pty Ltd | Method of fabricating devices incorporating microelectromechanical systems using at least one uv curable tape |
| KR100773170B1 (ko) * | 2000-09-12 | 2007-11-02 | 언액시스 인터내셔널 트레이딩 엘티디 | 반도체 칩을 장착하는 방법 및 장치 |
| JP2002164414A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Shinkawa Ltd | 半導体ペレット処理方法及び装置 |
| US6572944B1 (en) * | 2001-01-16 | 2003-06-03 | Amkor Technology, Inc. | Structure for fabricating a special-purpose die using a polymerizable tape |
| US6610167B1 (en) | 2001-01-16 | 2003-08-26 | Amkor Technology, Inc. | Method for fabricating a special-purpose die using a polymerizable tape |
| DE10108369A1 (de) * | 2001-02-21 | 2002-08-29 | B L E Lab Equipment Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Ablösen eines Halbleiterwafers von einem Träger |
| US6717254B2 (en) | 2001-02-22 | 2004-04-06 | Tru-Si Technologies, Inc. | Devices having substrates with opening passing through the substrates and conductors in the openings, and methods of manufacture |
| JP2002322436A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Nitto Denko Corp | 被着物の加熱剥離方法及び被着物加熱剥離装置 |
| US20030042615A1 (en) | 2001-08-30 | 2003-03-06 | Tongbi Jiang | Stacked microelectronic devices and methods of fabricating same |
| US6787916B2 (en) | 2001-09-13 | 2004-09-07 | Tru-Si Technologies, Inc. | Structures having a substrate with a cavity and having an integrated circuit bonded to a contact pad located in the cavity |
| JP3745260B2 (ja) * | 2001-10-02 | 2006-02-15 | ローム株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP3892703B2 (ja) * | 2001-10-19 | 2007-03-14 | 富士通株式会社 | 半導体基板用治具及びこれを用いた半導体装置の製造方法 |
| US6896760B1 (en) * | 2002-01-16 | 2005-05-24 | Micron Technology, Inc. | Fabrication of stacked microelectronic devices |
| JP2003218063A (ja) * | 2002-01-24 | 2003-07-31 | Canon Inc | ウエハ貼着用粘着シート及び該シートを利用する加工方法 |
| JP3978345B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2007-09-19 | 日本碍子株式会社 | 切断加工部品保持構造の形成方法および切断加工部品の製造方法 |
| US6800018B2 (en) * | 2002-02-12 | 2004-10-05 | Saint-Gobain Abrasives Technology Company | Cutting device for separating individual laminated chip assemblies from a strip thereof, method of separation and a method of making the cutting device |
| JP2004083633A (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-18 | Nihon Micro Coating Co Ltd | 研磨パッド及び研磨テープ用接着テープ |
| JP4107417B2 (ja) | 2002-10-15 | 2008-06-25 | 日東電工株式会社 | チップ状ワークの固定方法 |
| JP2004146727A (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ウェーハの搬送方法 |
| KR101151023B1 (ko) * | 2002-10-28 | 2012-05-30 | 가부시키가이샤 토쿄 세이미쯔 | 익스팬드방법 및 익스팬드장치 |
| JP4283596B2 (ja) | 2003-05-29 | 2009-06-24 | 日東電工株式会社 | チップ状ワークの固定方法 |
| JP4574251B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2010-11-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP4592270B2 (ja) * | 2003-10-06 | 2010-12-01 | 日東電工株式会社 | 半導体ウエハの支持材からの剥離方法およびこれを用いた装置 |
| JP4275522B2 (ja) | 2003-12-26 | 2009-06-10 | 日東電工株式会社 | ダイシング・ダイボンドフィルム |
| JP4443962B2 (ja) | 2004-03-17 | 2010-03-31 | 日東電工株式会社 | ダイシング・ダイボンドフィルム |
| JP4716668B2 (ja) * | 2004-04-21 | 2011-07-06 | 日東電工株式会社 | 被着物の加熱剥離方法及び被着物加熱剥離装置 |
| US7135385B1 (en) | 2004-04-23 | 2006-11-14 | National Semiconductor Corporation | Semiconductor devices having a back surface protective coating |
| US7015064B1 (en) | 2004-04-23 | 2006-03-21 | National Semiconductor Corporation | Marking wafers using pigmentation in a mounting tape |
| US7101620B1 (en) | 2004-09-07 | 2006-09-05 | National Semiconductor Corporation | Thermal release wafer mount tape with B-stage adhesive |
| JP4616719B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2011-01-19 | 富士通株式会社 | Icチップ実装方法 |
| JP4750492B2 (ja) * | 2005-07-20 | 2011-08-17 | 富士通株式会社 | Icチップ実装方法 |
| TW200717519A (en) * | 2005-10-28 | 2007-05-01 | Univ Nat Chiao Tung | Asynchronous first-in-first-out cell |
| JP4769560B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2011-09-07 | 株式会社ディスコ | ウエーハの分割方法 |
| KR20070120319A (ko) * | 2006-06-19 | 2007-12-24 | 삼성전자주식회사 | 한 쌍의 이젝터들을 구비하는 반도체 칩의 탈착 장치 및이를 이용한 반도체 칩의 탈착 방법 |
| JP4376250B2 (ja) | 2006-06-21 | 2009-12-02 | テイコクテーピングシステム株式会社 | 多層構造体の形成方法 |
| US20070297885A1 (en) * | 2006-06-27 | 2007-12-27 | Jean Michel Processe | Product designed to be used with handling system |
| US8030138B1 (en) | 2006-07-10 | 2011-10-04 | National Semiconductor Corporation | Methods and systems of packaging integrated circuits |
| KR100817254B1 (ko) | 2007-03-27 | 2008-03-27 | 한국뉴매틱(주) | 내장 진공펌프를 갖는 레벨 보정기 |
| CN106564668A (zh) | 2007-04-05 | 2017-04-19 | 艾利丹尼森公司 | 压敏收缩标签 |
| US20110198024A1 (en) * | 2007-04-05 | 2011-08-18 | Avery Dennison Corporation | Systems and Processes for Applying Heat Transfer Labels |
| US8282754B2 (en) * | 2007-04-05 | 2012-10-09 | Avery Dennison Corporation | Pressure sensitive shrink label |
| WO2008152701A1 (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-18 | Fujitsu Limited | キャリアテープから電子部品を取り出す方法 |
| US7749809B2 (en) * | 2007-12-17 | 2010-07-06 | National Semiconductor Corporation | Methods and systems for packaging integrated circuits |
| US8048781B2 (en) * | 2008-01-24 | 2011-11-01 | National Semiconductor Corporation | Methods and systems for packaging integrated circuits |
| DE102008018536B4 (de) | 2008-04-12 | 2020-08-13 | Erich Thallner | Vorrichtung und Verfahren zum Aufbringen und/oder Ablösen eines Wafers auf einen/von einem Träger |
| US20100015329A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | National Semiconductor Corporation | Methods and systems for packaging integrated circuits with thin metal contacts |
| JP2010186971A (ja) * | 2009-02-13 | 2010-08-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP5412214B2 (ja) * | 2009-08-31 | 2014-02-12 | 日東電工株式会社 | 保護テープ剥離方法およびその装置 |
| CN102148178A (zh) * | 2009-12-16 | 2011-08-10 | 第一毛织株式会社 | 电路小片粘性膜、卷筒、安装设备和电子产品 |
| CA2788252C (en) | 2010-01-28 | 2017-03-14 | Avery Dennison Corporation | Label applicator belt system |
| JP5123357B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2013-01-23 | 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ | ダイボンダ及びピックアップ装置 |
| JP5907959B2 (ja) * | 2011-05-20 | 2016-04-26 | オリンパス株式会社 | 基板シートの製造方法 |
| KR101314398B1 (ko) * | 2011-09-23 | 2013-10-04 | 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 | 웨이퍼 가공용 테이프 |
| JP5472275B2 (ja) * | 2011-12-14 | 2014-04-16 | 株式会社村田製作所 | エキスパンド装置及び部品の製造方法 |
| US9196535B2 (en) * | 2013-06-18 | 2015-11-24 | Infineon Technologies Ag | Method and apparatus for separating semiconductor devices from a wafer |
| CN103676282A (zh) * | 2013-12-23 | 2014-03-26 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 触摸屏和显示屏分离装置及分离方法 |
| CN105324022A (zh) * | 2015-09-21 | 2016-02-10 | 厦门三安光电有限公司 | 一种芯粒抓取装置及其抓取方法 |
| JP6582975B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2019-10-02 | 富士通株式会社 | 半導体実装装置、半導体実装装置のヘッド及び積層チップの製造方法 |
| TWI567011B (zh) * | 2016-06-15 | 2017-01-21 | 萬潤科技股份有限公司 | Method and device for conveying the components of the bonding process |
| KR102523850B1 (ko) * | 2016-07-11 | 2023-04-21 | 주식회사 미코세라믹스 | 척 구조물 및 척 구조물을 갖는 칩 분리 장치 |
| CN107072045A (zh) * | 2016-11-30 | 2017-08-18 | 合肥瑞硕科技有限公司 | 一种电路板专用吸取装置 |
| KR102617347B1 (ko) * | 2018-10-04 | 2023-12-26 | 삼성전자주식회사 | 다이 이젝터 및 상기 다이 이젝터를 포함하는 다이 공급 장치 |
| SG10201912782SA (en) * | 2019-12-20 | 2021-07-29 | Rokko Systems Pte Ltd | Post-processing system and method |
| TWI784622B (zh) * | 2020-08-12 | 2022-11-21 | 日商捷進科技有限公司 | 黏晶裝置及半導體裝置的製造方法 |
| CN115719717A (zh) * | 2021-08-26 | 2023-02-28 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 一种芯片转移装置、方法和显示面板 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171137A (ja) * | 1984-01-30 | 1984-09-27 | Hitachi Ltd | ペレット取り外し方法 |
| US5714029A (en) | 1984-03-12 | 1998-02-03 | Nitto Electric Industrial Co., Ltd. | Process for working a semiconductor wafer |
| JPH0616524B2 (ja) * | 1984-03-12 | 1994-03-02 | 日東電工株式会社 | 半導体ウエハ固定用接着薄板 |
| JP2521459B2 (ja) * | 1987-02-23 | 1996-08-07 | 日東電工株式会社 | 半導体チツプの製造方法 |
| JPH01220454A (ja) * | 1988-02-27 | 1989-09-04 | Nitto Denko Corp | フレームアライメント装置 |
| US4921564A (en) * | 1988-05-23 | 1990-05-01 | Semiconductor Equipment Corp. | Method and apparatus for removing circuit chips from wafer handling tape |
| JPH0715087B2 (ja) * | 1988-07-21 | 1995-02-22 | リンテック株式会社 | 粘接着テープおよびその使用方法 |
| JP2866453B2 (ja) * | 1990-07-04 | 1999-03-08 | ローム株式会社 | エキスパンドテープ及びチップ部品の実装方法 |
| JP3073239B2 (ja) * | 1990-12-28 | 2000-08-07 | リンテック株式会社 | ウェハ貼着用粘着シート |
| GB2263195B (en) * | 1992-01-08 | 1996-03-20 | Murata Manufacturing Co | Component supply method |
| JP2994510B2 (ja) * | 1992-02-10 | 1999-12-27 | ローム株式会社 | 半導体装置およびその製法 |
| EP0571649A1 (en) | 1992-05-26 | 1993-12-01 | Nitto Denko Corporation | Dicing-die bonding film and use thereof in a process for producing chips |
| DE4230784A1 (de) * | 1992-09-15 | 1994-03-17 | Beiersdorf Ag | Durch Strahlung partiell entklebendes Selbstklebeband (Dicing Tape) |
| US5466325A (en) * | 1993-06-02 | 1995-11-14 | Nitto Denko Corporation | Resist removing method, and curable pressure-sensitive adhesive, adhesive sheets and apparatus used for the method |
| JP3438369B2 (ja) * | 1995-01-17 | 2003-08-18 | ソニー株式会社 | 部材の製造方法 |
| JP3496347B2 (ja) * | 1995-07-13 | 2004-02-09 | 株式会社デンソー | 半導体装置及びその製造方法 |
| JPH0964148A (ja) * | 1995-08-18 | 1997-03-07 | Shinkawa Ltd | ウェーハリングの供給・返送装置 |
| JPH0963966A (ja) * | 1995-08-24 | 1997-03-07 | Toshiba Microelectron Corp | 気相成長装置 |
| US5827394A (en) * | 1996-07-15 | 1998-10-27 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Step and repeat exposure method for loosening integrated circuit dice from a radiation sensitive adhesive tape backing |
-
1997
- 1997-06-12 JP JP15511797A patent/JP3955659B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-06-03 TW TW087108684A patent/TW521313B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-06-10 SG SG1998001391A patent/SG71802A1/en unknown
- 1998-06-11 MY MYPI98002611A patent/MY120043A/en unknown
- 1998-06-11 KR KR1019980021621A patent/KR100587719B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-11 EP EP98304634A patent/EP0884766B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-11 US US09/095,739 patent/US6176966B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-11 CN CNB981147704A patent/CN1146032C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-11 DE DE69836398T patent/DE69836398T2/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001060565A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Lintec Corp | 光照射装置及びこれを用いたピックアップ装置 |
| KR100705166B1 (ko) * | 1999-09-06 | 2007-04-09 | 린텍 가부시키가이샤 | 양면 점착시트에 고정된 물품의 박리방법 및 박리장치 |
| JP2002270542A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-20 | Shinkawa Ltd | ダイのピックアップ方法及びピックアップ装置 |
| JP2002334853A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 |
| JP2002334852A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物の分割処理方法および分割処理方法に用いるチップ間隔拡張装置 |
| US7641760B2 (en) | 2004-12-09 | 2010-01-05 | Nitto Denko Corporation | Method of thermal adherend release and apparatus for thermal adherend release |
| JP2008258639A (ja) * | 2008-05-02 | 2008-10-23 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハー切断片のピックアップ回収方法 |
| JP2012182313A (ja) * | 2011-03-01 | 2012-09-20 | Lintec Corp | チップ状部品のピックアップ方法 |
| CN104517801A (zh) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 株式会社泰塞克 | 分离装置和捡取系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0884766A3 (en) | 2000-09-20 |
| EP0884766B1 (en) | 2006-11-15 |
| KR100587719B1 (ko) | 2006-10-31 |
| KR19990006863A (ko) | 1999-01-25 |
| DE69836398T2 (de) | 2007-03-15 |
| EP0884766A2 (en) | 1998-12-16 |
| DE69836398D1 (de) | 2006-12-28 |
| TW521313B (en) | 2003-02-21 |
| CN1206329A (zh) | 1999-01-27 |
| JP3955659B2 (ja) | 2007-08-08 |
| US6176966B1 (en) | 2001-01-23 |
| SG71802A1 (en) | 2000-04-18 |
| CN1146032C (zh) | 2004-04-14 |
| MY120043A (en) | 2005-08-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH113875A (ja) | 電子部品のダイボンディング方法およびそれに使用されるダイボンディング装置 | |
| JP3737118B2 (ja) | 半導体ウエハの保護粘着テープの剥離方法およびその装置 | |
| US7465142B2 (en) | Method and apparatus for picking up a semiconductor chip, method and apparatus for removing a semiconductor chip from a dicing tape, and a method of forming a perforated dicing tape | |
| JP4482243B2 (ja) | ダイのピックアップ方法及びピックアップ装置 | |
| JP5253996B2 (ja) | ワーク分割方法およびテープ拡張装置 | |
| JP2002280330A (ja) | チップ状部品のピックアップ方法 | |
| JP2009158879A (ja) | 基板への接着シートの貼付け装置 | |
| JP2009158879A5 (ja) | ||
| JP2003338474A (ja) | 脆質部材の加工方法 | |
| JP2004193241A (ja) | 半導体ウエーハの分割方法 | |
| JPH07283174A (ja) | ダイシング装置 | |
| JP3618080B2 (ja) | ダイボンディングシート貼着装置およびダイボンディングシートの貼着方法 | |
| JP5646395B2 (ja) | ウェーハ保持ジグ | |
| JPH08288318A (ja) | ピックアップ方法および装置 | |
| JP2002353296A (ja) | ウェハの保護テープ剥離装置およびウェハのマウント装置 | |
| JPH10233373A (ja) | チップ体の製造方法および該製造方法に用いられる粘着シート | |
| JP2012182313A (ja) | チップ状部品のピックアップ方法 | |
| TW200952091A (en) | Method of picking-up device having adhesive film mounted thereon | |
| JP3618389B2 (ja) | 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置 | |
| JP7131175B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP2003324080A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP7134563B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
| JPH0621219A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP7134562B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
| JP7134564B2 (ja) | ウェーハの加工方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040305 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061129 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070125 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070424 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070507 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110511 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120511 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130511 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140511 Year of fee payment: 7 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |