DE1205505B - Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium - Google Patents
Verfahren zum Herstellen von reinstem SiliciumInfo
- Publication number
- DE1205505B DE1205505B DES57084A DES0057084A DE1205505B DE 1205505 B DE1205505 B DE 1205505B DE S57084 A DES57084 A DE S57084A DE S0057084 A DES0057084 A DE S0057084A DE 1205505 B DE1205505 B DE 1205505B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- silicon
- reaction
- vessel
- reaction gas
- cleaning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 112
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims description 112
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 97
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 82
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 51
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 42
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 33
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 33
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 29
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 29
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 21
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 20
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- -1 silicon halide Chemical class 0.000 claims description 12
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 claims description 11
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 6
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 6
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N silicon tetrachloride Chemical class Cl[Si](Cl)(Cl)Cl FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007323 disproportionation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004857 zone melting Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 239000008214 highly purified water Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 231100000572 poisoning Toxicity 0.000 description 1
- 230000000607 poisoning effect Effects 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000037452 priming Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/04—Hydrides of silicon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/02—Silicon
- C01B33/021—Preparation
- C01B33/027—Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
- C01B33/035—Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B33/00—Silicon; Compounds thereof
- C01B33/08—Compounds containing halogen
- C01B33/107—Halogenated silanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1906—Control of temperature characterised by the use of electric means using an analogue comparing device
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/27—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing element responsive to radiation
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
Description
Zusatz zum Patent: 1102117
Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft, Berlin und München, München 2,Wittelsbacherplatz 2
Als Erfinder benannt: Dr. Theodor Rummel, Wilhelm Langhammer, München
Mit dem in dem Patent 1102117 behandelten Verfahren,
Silicium aus einer gasförmigen Siliciumver- Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium
bindung durch eine thermische Reaktion zu gewinnen und auf einem aus Silicium hoher Reinheit bestehenden
Trägerkörper niederzuschlagen, sind der 5
Halbleitertechnik Mittel zur Hand gegeben, elementares Silicium mit relativ großer Reinheit darzustellen. Es hat sich jedoch in der Praxis gezeigt, daß
das auf diese Weise hergestellte Silicium trotz
sorgfältiger Reinigung der gasförmigen Silicium- ίο
Verbindung und der etwa verwendeten Hilfsgase
sowie der Reaktionsanordnung nicht immer den
Forderungen an höchster Reinheit genügt, die an sich
zu erwarten sind. Der Grund hierfür liegt darin, daß
die bekannten chemischen Reinigungsverfahren nicht 15
in der Lage sind, die letzten Reste an Verunreinigungen aus den Siliciumverbindungen abzutrennen
und daß außerdem, vor allem bei Verwendung von
Siliciumhalogeniden als Ausgangsstoffen, die Gefahr
einer gewissen Dissoziierung besteht, wobei insbe- 20
Halbleitertechnik Mittel zur Hand gegeben, elementares Silicium mit relativ großer Reinheit darzustellen. Es hat sich jedoch in der Praxis gezeigt, daß
das auf diese Weise hergestellte Silicium trotz
sorgfältiger Reinigung der gasförmigen Silicium- ίο
Verbindung und der etwa verwendeten Hilfsgase
sowie der Reaktionsanordnung nicht immer den
Forderungen an höchster Reinheit genügt, die an sich
zu erwarten sind. Der Grund hierfür liegt darin, daß
die bekannten chemischen Reinigungsverfahren nicht 15
in der Lage sind, die letzten Reste an Verunreinigungen aus den Siliciumverbindungen abzutrennen
und daß außerdem, vor allem bei Verwendung von
Siliciumhalogeniden als Ausgangsstoffen, die Gefahr
einer gewissen Dissoziierung besteht, wobei insbe- 20
sondere, wenn die Verbindungen nach Reinigung 2
nicht sofort verbraucht werden, aus den Vorrats-
gefäßen Verunreinigungen herausgelöst werden und Herstellen von reinstem Silicium, bei dem eine SiIiso
in die Halbleiterverbindungen gelangen und diese ciumverbindungen in Gasform thermisch unter BiI-erneut
verunreinigen können. Unter anderem wurde 25 dung von freiem Silicium zersetzt und das aus der
auch die Anwesenheit eines bisher nicht identifizier- Gasphase anfallende Silicium auf einem erhitzten
ten Donators festgestellt, der selbst durch sorgfäl- Siliciumträgerkörper abgeschieden wird, bei welchem
tigste chemische Reinigung der Siliciumausgangsver- ein langgestreckter draht- oder fadenförmiger Trägerbindungen
nicht beseitigt werden konnte und dessen körper aus Silicium mit einem Reinheitsgrad, der
Beseitigung aus dem Silicium durch ein an das Her- 30 mindestens dem Reinheitsgrad des zu gewinnenden
stellungsverfahren anschließendes Reinigungsverfah- Siliciums entspricht, verwendet wird, bei dem ferner
ren durch Zonenschmelzen infolge eines ungünstigen der Trägerkörper zunächst vorgewärmt und anschlie-Verteilungskoeffizienten,
ähnlich wie der von Bor, ßend zur Durchführung des Abscheidevorganges
sehr schwierig ist. durch direkten Stromdurchgang weitererhitzt und auf
Die Erfindung befaßt sich mit der Aufgabe, dafür 35 Reaktionstemperatur gehalten wird, nach Patent
zu sorgen, daß diese unkontrollierbaren Verunreini- 1102117. Gemäß der Erfindung wird dabei das
gungen, insbesondere auch der unbekannte Donator, vorgereinigte Reaktionsgas vor dem Eintritt in das
aus den Ausgangsverbindungen entfernt werden, und eigentliche, zur Gewinnung des Siliciums dienende
daß nach den obengenannten Verfahren ein den Reaktionsgefäß in einem diesem Reaktionsgefäß vorhöchsten
Ansprüchen an Reinheit gerecht werdendes 40 geschalteten Reinigungsgefäß über erhitztes Silicium,
Silicium erhalten wird. Sie befaßt sich außerdem mit dessen Temperatur unterhalb der Oberflächentempeder
Aufgabe, dieses Reinigungsverfahren mit gering- ratur des Trägerkörpers im Reaktionsgefäß liegt, gesten
Siliciumverlusten des Reaktionsgases zu ver- leitet. Es empfiehlt sich, wenn die Temperatur des
binden. Es gelingt nach dem Verfahren gemäß der Siliciums im Reinigungsgefäß unterhalb von 1100° C,
Erfindung ohne Schwierigkeiten ein hochreines SiIi- 45 vorzugsweise unterhalb von 1000° C, gehalten wird,
cium mit einem spezifischen Widerstand von etwa Die der Erfindung zugrunde liegenden Unter-
1000 Ohm·cm zu erhalten, während ohne Anwen- suchungen haben gezeigt, daß bei Verwendung einer
dung des erfindungsgemäßen Verfahrens — trotz Siliciumverbindung mit bekanntem Gehalt an defisorgfältiger
Reinigung der Siliciumausgangsverbin- nierten Verunreinigungen das Verhältnis der an
düngen — die erhaltenen Werte in den meisten Fäl- 50 einem heißen Siliciumkörper abgeschiedenen Verlen
weit darunter liegen. unreinigung zu dem gleichzeitig abgeschiedenen
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Silicium sich zu Gunsten der Verunreinigungen ver-
3 4
schiebt, wenn die Temperatur des heißen Silicium- den Reaktionsgas das reine Hilfsgas entsprechend
körpers unterhalb des für die technische Herstellung zugemischt wird. Bei Verwendung von mit Wasserdes
Siliciums aus dem Reaktionsgas eingestellten stoff gemischten Siliciumhalogenid, beispielsweise
Wertes liegt, so daß die aus dem Reaktionsgefäß von SiHCl3 oder SiCl4, als Reaktionsgas bedeutet
ausströmenden Gase einen geringeren Gehalt an 5 dies, daß das Molverhältnis zwischen Siliciumhalo-Verunreinigungen
aufweisen als das eintretende genid und Wasserstoff im Reinigungsgefäß größer als
Reaktionsgas, so daß mit anderen Worten ein Reini- das optimale Verhältnis, also z. B. bei SiHCl3 größer
gungseffekt auf das Reaktionsgas ausgeübt wird. Da- als 0,06, vorzugsweise gleich 0,04 oder 0,03 gewählt
bei ergab sich, daß das Maximum dieses Reinigungs- wird und beim Übertritt des Reaktionsgases vom
effektes ganz erheblich unterhalb dieser Temperatur io Reinigungsgefäß in das eigentliche Reaktionsgefäß
lag. Während man z. B. bei der Herstellung von gereinigter Wasserstoff zur Herstellung des zur SiIi-Silicium
aus mit Wasserstoff vermischten Silicium- ciumabscheidung erforderlichen optimalen Molverhalogenid
die Arbeitstemperatur in der Regel nicht hältnisses, z. B. von 0,06 bei SiCl4 oder SiHCl3, zuunter
1000° C, im allgemeinen sogar oberhalb gemischt wird.
1100° C wählt, wurde das Maximum des Reinigungs- 15 In Fig. 1 ist eine Anordnung zur Durchführung
effektes weit unterhalb von 1000° C beobachtet, des Verfahrens gemäß der Erfindung beispielsweise
während bei hohen Temperaturen oberhalb von und schematisch dargestellt. In das Reaktions-
1000° C kein oder nur ein ganz geringfügiger Reini- gefäß R, beispielsweise aus Quarz oder Kupfer, ist
gungseffekt feststellbar war. ein draht- oder stabförmiger, langgestreckter Träger-
Die Erfindung macht sich diese Beobachtungen 20 körper 1 aus reinem Silicium zwischen zwei gegebezunutze,
indem sie vorschlägt, zur Reinigung der nenfalls gegen das Reaktionsgefäß isolierten Elekgasförmigen
Siliciumverbindung und gegebenenfalls troden 2 und 3 ausgespannt. Im Reinigungsgefäß Rn
weiterer in dem Reaktionsgas anwesender Hilfsgase das aus den gleichen Stoffen bestehen kann, befindet
das Reaktionsgas vor dem Eintritt in das eigentliche, sich ebenfalls ein stabförmiger Körper aus Silicium 8
zur Durchführung der Siliciumabscheidung dienende 25 zwischen zwei Elektroden 9 und 10. Das in Vor-Reaktionsgefäß
in einem diesem Reaktionsgefäß vor- reinigungsprozessen möglichst hochgereinigte Reakgeschalteten
Reinigungsgefäß über heißes Silicium, tionsgas, beispielsweise ein Gemisch aus SiCl4 und
dessen Temperatur unterhalb der Oberflächentempe- H2, betritt das Reinigungsgefäß Rr durch die Düse
ratur des Trägerkörpers im eigentlichen Reaktions- 13, strömt an dem etwa 600° C heißen stabförmigen
gefäß liegt, zu leiten. Heißes Silicium im Sinne der 30 Körper 8 entlang, wobei die Verunreinigungen und
Erfindung bedeutet dabei, daß dessen Temperatur etwas Silicium auf diesem Träger abgeschieden wermindestens
400° C betragen soll, da unterhalb dieser den, und verläßt das Reinigungsgefäß Rr über die
Temperatur die Abscheidung an Verunreinigungen Öffnung 14. Beim Überströmen in das Reaktionsund
an Silicium so langsam erfolgt, daß sie bedeu- gefäß R wird dem Reaktionsgas, das nach der Lehre
tungslos wird. 35 der Erfindung im Reinigungsgefäß Rr eine die SiIi-
AIs Silicium liefernde gasförmige Ausgangsverbin- ciumabscheidung weitgehend unterdrückende Zusamdungen
können sowohl Siliciumwasserstoffe als auch mensetzung aus Siliciumverbindung und Wasserstoff
Siliciumhalogenide, insbesondere Siliciumchloride, enthält, über die Zuleitung 15 hochgereinigter Was-Verwendung
finden. Infolge des niedrigen Siede- serstoff zugemischt und auf diese Weise das für die
Punktes dieser Verbindungen lassen sie sich beispiels- 40 Reaktion im Reaktionsgefäß R erwünschte optimale
weise durch Destillation, die unter Zugabe von die Molverhältnis, z. B. von 0,06 bei Verwendung von
Verunreinigungen (insbesondere die Verunreinigun- SiHCl3, hergestellt. Nach dem Eintritt in das Reakgen,
die durch ein Zonenschmelzverfahren sich nur tionsgefäßi? strömt das Reaktionsgas am Träger 1
schwer aus dem Silicium entfernen lassen, wie Bor) unter Abscheidung von Silicium vorbei und verläßt
unter Bildung schwer flüchtiger Stoffe bindender 45 das Reaktionsgefäß R an der Stelle 7. Die Tempe-Zusätze
zum Destillat erfolgt, so hoch reinigen, daß ratur des Trägers 1 liegt oberhalb von 1000° C und
in ihnen die Verunreinigungen chemisch nicht mehr wird durch einen den Träger unmittelbar nach Vornachweisbar
sind. Diese hochgereinigten Siliciumver- wärmung durchfließenden Strom, der von einer
bindungen werden dann dem Verfahren gemäß der Stromquelle 4 geliefert wird, erzeugt. Der variable
Erfindung unterworfen. Bei Verwendung von mit 50 Vorschaltwiderstand 5, der bei Wechselstrombeheigereinigtem
Wasserstoff als Hilfsgas vermischtem, zung auch als regelbare Selbstinduktion ausgebildet
möglichst reinem Siliciumhalogenid, beispielsweise sein kann, dient dabei zur Strombegrenzung und
SiCl4 oder SiHCl3 als Reaktionsgas, soll dabei die -regelung. Die Erhitzung des Siliciumkörpers 8 im
Temperatur des heißen Siliciums im Reinigungsgefäß Reinigungsgefäß Rr erfolgt in gleicher Weise mitauf
einen zwischen 400 bis 900° C liegenden Tem- 55 tels einer Stromquelle 11 und des Vorschaltwiderperaturwert
eingestellt werden und die Silicium- Standes 12.
abscheidung im eigentlichen Reaktionsgefäß auf einen Die Wirksamkeit der Erfindung läßt sich am einüber
1000° C heißen, vorzugsweise zwischen 1000 fachsten an Hand eines Zahlenbeispiels darlegen,
bis 1380° C erhitzten Siliciumträgerkörper erfolgen. Hochgereinigtes Siliciumhalogenid mit Wasserstoff
Ferner hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn 60 als Reaktionsgas wurde unmittelbar der Reaktionsdie
Zusammensetzung des Reaktionsgases, d. h. das anordnung R zugeführt. Das erhaltene Silicium wies
Molverhältnis Siliciumverbindung zum Hilfsgas, im einen spezifischen Widerstand von 50 bis 60 Ω ■ cm
Reinigungsgefäß so gewählt wird, daß eine nennens- bei η-Leitung auf, während nach Auswechslung des
werte Siliciumabscheidung nicht erfolgt und zur Her- Trägers, der genau denselben spezifischen Widersteilung
der bei der im Reaktionsgefäß stattfindenden 65 stand besaß, wie der beim Vorversuch verwendete,
Siliciumabscheidung benötigten Zusammensetzung, und Anwendung der Maßnahme gemäß der Erfininsbesondere
optimalen Zusammensetzung des Reak- dung der spezifische Widerstand des erhaltenen
tionsgases dem aus dem Reinigungsgefäß kommen- Siliciums auf 200 Ω · cm und höher stieg.
gemäß der Erfindung erhitzt. Dies geschieht in dem in F i g. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel mittels
einer um das Quarzrohr R1. gewickelten Heizspirale
22 im Innern eines beispielsweise mit Schamotte aus-5 gekleideten Ofens 21. Infolge der großen Oberfläche
dieser Raschigringe ist es nicht notwendig, dieselben beim Einleiten des Reaktionsgases zunächst besonders
stark zu erhitzen, um die Bildung einer Siliciumschicht auf den einzelnen Raschigringen zu beschleu-
Da das im Reinigungsgefäß R sich befindliche heiße Silicium als Speicher für die aus dem Reaktionsgas
entnommenen Verunreinigungen dient, ist ein Reinheitsgrad nicht kritisch. Damit es aber diese Speicherwirkung
ausüben kann, darf es nicht allzu stark erhitzt werden, da sonst die Verunreinigungen wieder
abdampfen und zu neuer Verunreingung des Reaktionsgases führen. Wenn die oben angegebenen Temperaturen
eingehalten werden, ist diese Gefahr nicht
gegeben, solange nicht die Konzentration an abge- io nigen, sondern es kann sofort die zur Durchführung
schiedenen Verunreinigungen in dem im Reinigungs- der Reinigung beabsichtigte niedrigere Temperatur
gefäß Rr befindlichen Silicium zu groß werden. Der eingestellt werden, da bereits die bei dieser niedrigen
Siliciumkörper 8 muß also, falls sich durch Ab- Temperatur aus dem Reaktionsgas auf den Raschigsinken
des spezifischen Widerstandes des im Reak- ringen abgeschiedenen, an sich kaum nennenswerten
tionsgefäß R erzeugten Siliciums ein Nachlassen der 15 Siliciummengen ausreichen, um bereits nach sehr
Reinigungswirkung bemerkbar macht, ausgewech- kurzer Zeit einen ausreichenden Reinigungseffekt auf
seit werden. Im allgemeinen kann bei Verwendung das Reaktionsgas auszuüben,
sehr hoch gereinigter Reaktionsgase der gleiche Rei- Es ist bereits oben die Maßnahme beschrieben
nigungskörper 8, falls er primär in hoher Reinheit worden, dem aus dem Reinigungsgefäß Rr ausströvorlag,
bis zu 10 000 Betriebsstunden verwendet 20 menden Reaktionsgas vor dem Eintritt in das eigentwerden,
so daß das Auswechseln meistens nicht in- liehe Reaktionsgefäß R hochreinen Wasserstoff zufolge
Vergiftung durch die aufgenommenen Verun- zumischen. Dieselbe Maßnahme gestattet bei Verreinigungen,
sondern eher infolge des zu starken Wendung von Siliciumhalogeniden eine erhöhte AusWachstums
durch Siliciumabscheidung, die trotz nutzung der aus dem Reaktionsgefäß R ausströmenweitgehender
Unterdrückung im Reinigungsgefäß in 25 den Reaktionsgase, die dann in einem dem Reakganz
geringem Maße eintritt, erforderlich wird. Ge- tionsgefäß nachgeschalteten weiteren Reaktionsgefäß,
gebenenfalls empfiehlt es sich, das im Reinigungs- gegebenenfalls auch in mehreren solchen Reaktionsgefäß Rr befindliche, mit Verunreinigungen ange- gefäßen, weiter ausgenutzt werden können und ein
reicherte Silicium durch Ausglühen im Vakuum für Silicium zu gewinnen gestatten, dessen Reinheitsdie
Aufnahme weiterer Verunreinigungen zu regene- 30 grad dem im ersten Reaktionsgefäß erhaltenen SiIirieren.
cium trotz der Anreicherung des Reaktionsgases mit
In dem in F i g. 1 dargestellten Ausführungsbei- den bei der Reaktion im vorgeschalteten Reaktionsspiel liegt das im Reinigungsgefäß R1. anwesende gefäß gebildeten Stoffen äquivalent ist. Demgemäß
heiße Silicium in Gestalt eines durch Stromdurch- besteht eine weitere Ausbildung der vorliegenden
gang erhitzten stabförmigen Körpers 8 aus Silicium 35 Erfindung aus einem Verfahren zum Herstellen hochvor.
Statt dessen kann ein beliebig anders gestalteter, reinen Siliciums für Halbleiteranordnungen durch
fester erhitzter Siliciumkörper verwendet werden. So eine unter Bildung von freiem Silicium erfolgende
kann das im Reinigungsgefäß befindliche, zur Reini- thermische oder elektrothermische Reaktion einer
gung des Reaktionsgases dienende Silicium gegebe- möglichst reinen Siliciumhalogenidverbindung, insnenfalls
durch thermische oder elektrothermische 40 besondere mit hochreinem Wasserstoff, unter Ab-Abscheidung
von Silicium aus einer gasförmigen scheidung des aus reinem Silicium bestehenden
Siliciumverbindung, vorzugsweise aus dem zur Her- Trägerkörpers, der in einem von den Reaktionsgasen
stellung des Siliciums dienenden Reaktionsgas, auf durchströmten Reaktionsgefäß angeordnet wird oder
einem oder mehreren primären Körpern, aus bei den durch eine in diesem Reaktionsgefäß stattfindende
zur Anwendung gelangenden Temperaturen nicht 45 Gasentladung, wobei gemäß der weiteren Erfindung
verdampfenden Stoffen, die auf diese Weise mit einer die Reaktionsgase nach dem Verlassen des zur
Schicht aus Silicium überzogen werden, hergestellt Siliciumabscheidung dienenden Reaktionsgefäßes
werden, wobei der als Kern des zur Reinigung die- mindestens noch durch ein weiteres Reaktionsgefäß
nenden Siliciumkörpers verwendete primäre Körper geleitet werden, in welchem das in den Abgasen des
auf eine zur Abscheidung nennenswerter Silicium- 50 ersten Reaktionsgefäßes noch chemisch gebundene
mengen geeignete, entsprechend hohe Temperatur Silicium entweder auf einem erhitzten Trägerkörper
erhitzt wird. Wenn dann der so erhaltene Silicium- aus reinem Silicium oder durch eine Gasentladung
körper zur Reinigung des Reaktionsgases verwendet abgeschieden wird und daß dabei den das voranwird,
ist seine Temperatur den oben angegebenen gehende Reaktionsgefäß verlassenden Reaktions-Regeln
entsprechend, niedriger einzustellen. Der pri- 55 gasen vor dem Eintritt in das nachgeschaltete Reakmäre
Körper kann beispielsweise aus Wo, Ta, Al2O3, tionsgefäß hochgereinigter Wasserstoff zugemischt
SiO2, Porzellan oder auch aus Silicium bestehen. wird.
In F i g. 2 ist eine andere nach dem Verfahren ge- Untersuchungen haben gezeigt, daß die Ausbeute
maß der Erfindung zur Reinigung der Reaktionsgase durch diese Wasserstoffzumischung erheblich gedienende
Anordnung dargestellt, die durch das 60 steigert werden kann, und daß der Reinheitsgrad des
eigentliche, zur Siliciumabscheidung dienende Reak- im nachgeschalteten Reaktionsgefäß erhaltenen SiIi-
tionsgefäß R, etwa in der in F i g. 1 dargestellten
Form, zu ergänzen ist. Das Reinigungsgefäß Rr besteht in diesem Falle einfach aus einem Quarzrohr,
Form, zu ergänzen ist. Das Reinigungsgefäß Rr besteht in diesem Falle einfach aus einem Quarzrohr,
ciums nicht unter dem des im vorangegangenen Reaktionsgefäß erhaltenen Siliciums liegt. Durch die
Maßnahme, dem Reaktionsgas vor dem Eintritt in
das mit sogenannten Raschigringen angefüllt ist. 65 das nachgeschaltete Reaktionsgefäß neuen hoch-
Diese Raschigringe können z. B. aus Siliciumdioxyd gereinigten Wasserstoff zuzumischen, konnte die
bestehen und werden beim Durchleiten des zu reini- Ausbeute um 40 °/o und darüber gesteigert
genden Reaktionsgases entsprechend der Vorschrift werden.
Die genaue Ursache dieser die Ausbeute im nachgeschalteten Reaktionsgefäß erhöhenden Wirkung
des zugemischten Wasserstoffs konnte noch nicht ermittelt werden. Dient als Ausgangsverbindung
SiHCl3, so werden wahrscheinlich nicht alle an der im ersten Reaktionsgefäß stattfindenden Umsetzung
beteiligten SiHCl3-Moleküle im Sinne einer vollständigen Reduktion zu freiem Si und HCl umgesetzt,
sondern es findet gleichzeitig bei einer An-
Rr befindlichen Siliciums nach den oben angegebenen
Regeln entsprechend niedrig gehalten wurde, fand ein nennenswerter Verbrauch von SiHCl3 im
gungsgefäß Rr verzichtet werden, da vorhandene
Verunreinigungen auf die Ausbeute keinen merkbaren Einfluß ausüben.
Häufig sind auch die Abgase des nachgeschalteten Reaktionsgefäßes R' noch verhältnismäßig reich an
unausgenutzten Siliciumverbindungen. Dann läßt sich das beschriebene Verfahren mit Vorteil so lange
wiederholen, bis der Gehalt des Reaktionsgases an
Reinigungsgefäß nicht statt. Nach dem Verlasssen 5 des Reinigungsgefäßes Rr gelangt das Reaktionsgas,
gegebenenfalls unter Beimischung von Wasserstoff, in das erste Reaktionsgefäß R. Obgleich diesem Verfahren
in dem vorgeschalteten Reaktionsgefäß R der Wasserstoff stark überwiegt, konnte die Siliciumaus-
zahl dieser Moleküle eine Disproportionierung zu io beute in einem dem Reaktionsgefäß R nachgeschal-Si,
SiCl4 und 2HCl statt. Das so entstandene SiCl4 teten Reaktionsgefäß R' durch Hinzumischen von
findet in den Reaktionsgasen nicht mehr genügend reinstem Wasserstoff zu den Abgasen des ersten
Wasserstoff vor, um restlos zu freiem Silicium um- Reaktionsgefäßes bis über 40% erhöht werden. Falls
gesetzt zu werden. Auch bei Verwendung anderer es erwünscht sein sollte, die Reinheit des erhaltenen
wasserstoffhaltiger Siliciumchloride als Ausgangsver- 15 Siliciums nicht extrem hoch zu treiben, kann auf das
bindung findet wahrscheinlich neben einer vollstän- dem ersten Reaktionsgefäß R vorgeschaltete Reinidigen
Reduktion eine solche Disproportionierung
unter Bildung von SiCl4 oder von höheren Siliciumchloriden statt. Dient SiCl4 als Ausgangsmaterial, so
dürfte der hohe, zu einer solchen Reaktion erforder- 20
liehe Wasserstoffverbrauch und die Verdünnung
durch das bei der Reaktion reichlich gebildete HCl
zu einer Verlangsamung der Siliciumabscheidung
führen, die dann durch die Zumischung neuen Wasserstoffes wieder beschleunigt wird. Jedenfalls wird 35 gebundenem Silicium erschöpft ist. Zu diesem Zweck — wie auch im einzelnen die Verhältnisse bei den werden die Abgase des zweiten Reaktionsgefäßes R' verschiedenen Siliciumhalogeniden liegen mögen — in ein drittes mit einem zur Siliciumabscheidung diedurch den neu zugemischten Wasserstoff das nenden, erhitzten Träger beschicktes Reaktionsgefäß chemische Gleichgewicht in den durch die Reaktion R" geleitet, wobei dem Reaktionsgas vor dem Einim ersten Reaktionsgefäß teilweise verbrauchten 30 tritt in das dritte Gefäß R" wiederum neuer Wasser-Reaktionsgasen zu Gunsten einer erhöhten Silicium- stoff hinzugemischt wird.
unter Bildung von SiCl4 oder von höheren Siliciumchloriden statt. Dient SiCl4 als Ausgangsmaterial, so
dürfte der hohe, zu einer solchen Reaktion erforder- 20
liehe Wasserstoffverbrauch und die Verdünnung
durch das bei der Reaktion reichlich gebildete HCl
zu einer Verlangsamung der Siliciumabscheidung
führen, die dann durch die Zumischung neuen Wasserstoffes wieder beschleunigt wird. Jedenfalls wird 35 gebundenem Silicium erschöpft ist. Zu diesem Zweck — wie auch im einzelnen die Verhältnisse bei den werden die Abgase des zweiten Reaktionsgefäßes R' verschiedenen Siliciumhalogeniden liegen mögen — in ein drittes mit einem zur Siliciumabscheidung diedurch den neu zugemischten Wasserstoff das nenden, erhitzten Träger beschicktes Reaktionsgefäß chemische Gleichgewicht in den durch die Reaktion R" geleitet, wobei dem Reaktionsgas vor dem Einim ersten Reaktionsgefäß teilweise verbrauchten 30 tritt in das dritte Gefäß R" wiederum neuer Wasser-Reaktionsgasen zu Gunsten einer erhöhten Silicium- stoff hinzugemischt wird.
abscheidung verschoben, die dann im nachgeschal- In F i g. 3 ist eine aus zwei Reaktionsgefäßen beteten
Reaktionsgefäß ausgenützt wird. stehende Kaskade zur Durchführung dieses Verfah-
Die erzielbare Erhöhung der Ausbeute im zweiten rens hergestellt, wobei der Übersichtlichkeit halber
Reaktionsgefäß in Abhängigkeit von der Menge des 35 das der weiteren Reinigung der Reaktionsgase dieneu
zugemischten Wasserstoffs besitzt offenbar ein nende Reinigungsgefäß Rr weggelassen wurde. Dabei
Optimum, da durch zu reichliche Wasserstoffzugabe wird hochgereinigtes Wasserstoffgas mit einer Strödie
in dem in das nachgeschaltete Reaktionsgefäß mungsgeschwindigkeit von 1,5 bis 2 l/mm durch ein
eingeleiteten, Reaktionsgas noch enthaltenen Silicium- auf etwa 6 bis 8° C temperiertes flüssiges, chemisch
Verbindungen zu stark verdünnt werden und dadurch 40 hochgereinigtes SiHCl3 enthaltendes Verdampfungsdie
dort abgeschiedene Menge an freiem Silicium gefäß V (Eintritt des Wasserstoffs an der Stelle E)
sich wieder verringert. Die Menge der optimalen und anschließend durch zwei hintereinandergeschal-Wasserstoffzugabe
zwischen den beiden Reaktions- tete, etwa 3 1 fassende, je einen 30 cm langen, düngefäßen
hängt von einer Reihe von Umständen ab, nen, durch Elektroden 33, 34 bzw. 35, 36 gehalterz.
B. von der Wahl der gasförmigen Siliciumaus- 45 ten, einkristallinen, durch Stromdurchgang erhitzten
gangsverbindung, der Temperatur und Größe der Siliciumdraht 31, 32 als Träger enthaltende Reak-Träger
oder der Temperatur der Gasentladung, der tionsgef äße R und R' geleitet und dem Reaktionsgas
Größe der Reaktionsgefäße, des Mengenverhältnisses vor dem Einströmen in das zweite Reaktionsgefäß
des beim Eintreten in das erste Reaktionsgefäß in — beispielsweise an der Stelle 38 des Verbindungsder
Zeiteinheit zur Verfügung stehenden Wasser- 50 rohres 37 zwischen den beiden Reaktionsgefäßen R
Stoffs zu der Siliciumverbindung, so daß die Menge und R' — hochreiner Wasserstoff mit einer Gedes
zur optimalen Abscheidung erforderlichen, vor schwindigkeit von 0,71/sec zugemischt. Die Träger
dem Eintritt in das zweite Reaktionsgefäß hinzu- werden beispielsweise auf 1100 bis 11500C erhitzt,
zumischenden Wasserstoffs von Fall zu Fall empirisch Bei Zumischung von Wasserstoff zwischen den beiermittelt
werden muß. Dabei hat sich gezeigt, daß 55 den Reaktionsgefäßen R und R' wurde mit der bedie
Ausbeute in dem nachgeschalteten Reaktions- schriebenen Anordnung im zweiten Reaktionsgefäß
gefäß durch den sekundär hinzuzugebenden Wasser- R' eine Ausbeute von 0,8 bis 1,2 g/cm2 · h erreicht,
stoff auch bei reichlich bemessener primärer Wasser- die durch die Wasserstoffzufuhr schlagartig auf 1,7
stoffzugabe nach überraschend groß ist. bis 2 g erhöht werden konnte. Die Ausbeute im
Bei der Erprobung der Erfindung wurde folgender 60 ersten Reaktionsgefäß betrug unverändert 3,5 g · cm2.
Weg beschriften: Hochgereinigter Wasserstoff wurde Bei Anwendung eines Vorreinigungsgefäßes Rn das
durch auf verhältnismäßig niedriger Temperatur
(z. B. 6 bis 8° C) gehaltenes, chemisch hochgereinigtes, flüssiges SiHCl3 oder den über dieser Flüssigkeit
erzeugten Dampf geleitet und transportierte ent- 65 sprechend der gewählten Strömungsgeschwindigkeit
eine bestimmte Menge des SiHCl3 in das Reinigungsgefäß Rn Da die Temperatur des im Reinigungsgefäß
(z. B. 6 bis 8° C) gehaltenes, chemisch hochgereinigtes, flüssiges SiHCl3 oder den über dieser Flüssigkeit
erzeugten Dampf geleitet und transportierte ent- 65 sprechend der gewählten Strömungsgeschwindigkeit
eine bestimmte Menge des SiHCl3 in das Reinigungsgefäß Rn Da die Temperatur des im Reinigungsgefäß
dem ersten Reaktionsgefäß R vorgeschaltet wird, erniedrigen sich die Ausbeuten in beiden Reaktionsgefäßen geringfügig.
Claims (6)
1. Verfahren zur Herstellung von reinstem Silicium, bei dem eine Siliciumverbindung in Gas-
form thermisch unter Bildung von freiem Silicium zersetzt und das aus der Gasphase anfallende
Silicium auf einen erhitzten Siliciumträgerkörper abgeschieden wird, bei welchem ein langgestreckter
draht- oder fadenförmiger Trägerkörper aus Silicium mit einem Reinheitsgrad, der
mindestens dem Reinheitsgrad des zu gewinnenden Siliciums entspricht, verwendet wird, bei dem
ferner der Trägerkörper zunächst vorgewärmt und anschließend zur Durchführung des Abscheidevorganges
durch direkten Stromdurchgang weitererhitzt und auf Reaktionstemperatur gehalten
wird, nach Patent 1102117, dadurch
gekennzeichnet, daß das vorgereinigte Reaktionsgas vor dem Eintritt in das eigentliche,
zur Gewinnung des Siliciums dienende Reaktionsgefäß (R) in einem Reaktionsgefäß vorgeschalteten
Reinigungsgefäß (Rr) über erhitztes Silicium, dessen Temperatur unterhalb der Oberflächentemperatur
des Trägerkörpers im Reaktionsgefäß liegt, geleitet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung von mit gereinigtem
Wasserstoff als Hilfsgas vermischtem, möglichst reinem Siliciumhalogenid, beispielsweise
SiCl4 oder SiHCl3, als Reaktionsgas die
Temperatur des heißen Siliciums im Reinigungsgefäß (Rr) auf einen zwischen 400 und 9000C
liegenden Temperaturwert eingestellt wird und die Siliciumabscheidung im eigentlichen Reaktionsgefäß
(R) auf einen über 10000C heißen, vorzugsweise zwischen 1000 und 1380° C erhitzten
Trägerkörper aus Silicium erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammensetzung des
Reaktionsgases, d. h. das Molverhältnis Siliciumverbindung zum Hilfsgas, im Reinigungsgefäß
(Rr) so gewählt wird, daß eine nennenswerte Siliciumabscheidung nicht erfolgt und zur Herstellung
der bei der im eigentlichen Reaktionsgefäß (R) stattfindenden Siliciumabscheidung benötigten
Zusammensetzung des Reaktionsgases dem aus dem Reinigungsgefäß (Rr) kommenden
Reaktionsgas das reine Hilfsgas entsprechend zugemischt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung
von mit Wasserstoff gemischtem Siliciumhalogenid als Reaktionsgas das Molverhältnis
von Siliciumhalogenid zu Wasserstoff im Reinigungsgefäß (Rr) kleiner als dem optimalen Abscheidungsverhältnis
entsprechend, z. B. bei SiHCl3 kleiner als 0,06, vorzugsweise gleich 0,04
oder niedriger, gewählt wird und beim Übertritt des Reaktionsgases vom Reinigungsgefäß in das
eigentliche Reaktionsgefäß (R) gereinigter Wasserstoff zur Herstellung des zur Siliciumabscheidung
erforderlichen optimalen Molverhältnisses, z. B. von 0,06, zugemischt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das im Reinigungsgefäß
(Rr) befindliche, zur Reinigung des Reaktionsgases dienende Silicium durch thermische
oder elektrothermische Abscheidung von Silicium aus einer gasförmigen Siliciumverbindung,
beispielsweise aus dem Reaktionsgas selbst, auf einem oder mehreren Trägerkörpern, die bei
der Temperatur im Reinigungsgefäß (Rr) nicht verdampfen,
z. B. auf Raschigringen, hergestellt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das im Reinigungsgefäß
CR,.) befindliche, mit aus dem Reaktionsgas stammenden Verunreinigungen angereicherte
Silicium erforderlichenfalls durch Ausglühen im Vakuum für die Aufnahme weiterer
Verunreinigungen regeneriert wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
509 739/365 11.65 © Bundesdruckerei Berlin
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DES57084A DE1205505B (de) | 1958-02-25 | 1958-02-25 | Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DES57084A DE1205505B (de) | 1958-02-25 | 1958-02-25 | Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium |
| DES58726A DE1202769B (de) | 1958-06-26 | 1958-06-26 | Verfahren zum Herstellen von hochreinem Silicium |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1205505B true DE1205505B (de) | 1965-11-25 |
Family
ID=25995491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DES57084A Pending DE1205505B (de) | 1958-02-25 | 1958-02-25 | Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE1205505B (de) |
-
1958
- 1958-02-25 DE DES57084A patent/DE1205505B/de active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE1177119B (de) | Verfahren zur Herstellung von Reinstsilicium | |
| DE2248285C3 (de) | Verfahren zur Anreicherung und Reinigung von Äthylenoxid aus einem Reaktionsgemisch, das durch Umsetzung von Äthylen mit molekularem Sauerstoff hergestellt worden ist | |
| DE1187098B (de) | Verfahren zum Herstellen von Koerpern aus hochgereinigtem Halbleitermaterial | |
| EP0117986B1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Konzentrieren und Reinigen von organische Verunreinigungen enthaltender Schwefelsäure | |
| DE1205505B (de) | Verfahren zum Herstellen von reinstem Silicium | |
| DE2918066A1 (de) | Verfahren zur siliciumherstellung durch gasphasenabscheidung unter wiederverwendung der restgase | |
| DE69100862T2 (de) | Die Verwendung eines amorphen Legierungskatalysators zur Zersetzung von Chlorfluorkohlenstoffen. | |
| DE270757C (de) | ||
| DE1028543B (de) | Verfahren zum Reinigen von mit Wasser Gel bildenden Halogeniden, insbesondere des Germaniums oder Siliciums, vorzugsweise fuer die Herstellung von Halbleiterstoffen | |
| DE759365C (de) | Herstellung konzentrierter Salpetersaeure aus Stickoxyden, Sauerstoff bzw. solchen enthaltenden Gasen und Wasser | |
| DE1719469A1 (de) | Kristallzuechtungsverfahren | |
| DE1177624B (de) | Verfahren zur Reinigung von Helium | |
| EP0022473A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Regenerieren von Schwefelsäure | |
| DE1222481B (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinem Silicium | |
| DE1058030B (de) | Verfahren zur Herstellung von Hydrazin | |
| DE1202771B (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinem einkristallinem Silicium | |
| DE1187803B (de) | Verfahren zum Reinigen von Germanium | |
| DE1918810C3 (de) | Verfahren zum Eindiffundieren von Dotierungssubstanz in die Oberfläche von Halbleiterkörpern | |
| DE1113312B (de) | Verfahren zum Reinigen von Arsen | |
| CH498654A (de) | Verfahren zum Herstellen fadenförmiger Einkristalle und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
| DE1274569B (de) | Verfahren zur Herstellung von Phthalsaeureanhydrid | |
| DE2709755C3 (de) | Verfahren zum Trennen von Isotopen durch Diffusion | |
| DE1107651B (de) | Verfahren zur Reinigung von Phosphor oder Arsen | |
| DE1544285C3 (de) | Verfahren zum Herstellen hochreiner Halbleiterstoffe vom A hoch III B hoch V-Typ. Ausscheidung aus: 1220390 | |
| DE1229304B (de) | Verfahren zum Herstellen von hochreinem Indium |