DE10136305A1 - Oberflächenwellenbauelement - Google Patents
OberflächenwellenbauelementInfo
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 title claims abstract description 35
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims abstract description 32
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000011514 reflex Effects 0.000 description 3
- 101100400378 Mus musculus Marveld2 gene Proteins 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000000342 Monte Carlo simulation Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 235000021395 porridge Nutrition 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/64—Filters using surface acoustic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/125—Driving means, e.g. electrodes, coils
- H03H9/145—Driving means, e.g. electrodes, coils for networks using surface acoustic waves
- H03H9/14502—Surface acoustic wave [SAW] transducers for a particular purpose
- H03H9/14505—Unidirectional SAW transducers
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Abstract
Ein Oberflächenwellenbauelement umfaßt eine asymmetrische Doppelelektrode, die eine Fehlanpassung zwischen reflektierten Wellen verhindert und Oberflächenwellen auf Streifen ausbreitet, und die in der Lage ist, eine hervorragende Unidirektionalität zu realisieren. Dieses Oberflächenwellenbauelement umfaßt die asymmetrische Doppelelektrode, bei der ein Halbwellenlängenabschnitt einen ersten und zweiten Streifen mit zueinander unterschiedlicher Breite umfaßt. Die Halbwellenlänge ist angeordnet, um einen Basisabschnitt zu definieren. Das Oberflächenwellenbauelement umfaß zumindest zwei dieser Basisabschnitte, die auf einem piezoelektrischen Substrag angeordnet sind. Der Absolutwert des Vektorwinkels der Reflexionsmitte liegt innerhalb etwa 45 +- 10 DEG oder innerhalb etwa 135 +- 10 DEG , wenn die Mitte des Basisabschnitts die Referenzposition ist. Alternativ ist der Absolutwert der Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte und der Reflexionsmitte innhalb etwa 45 +- 10 DEG oder etwa 135 +- 10 DEG .
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Oberflächen
wellenbauelement für die Verwendung bei beispielsweise ei
nem Resonator oder einem Filter, und insbesondere auf ein
Oberflächenwellenbauelement mit einer asymmetrischen Dop
pelelektrode, die als ein Ein-Richtungs-Interdigitalwandler
oder ein Reflektor des Dispersionsreflexionstyps verwendet
wirkt.
Ein Oberflächenwellenbauelement, wie z. B. ein Oberflächen
wellenfilter, wird bei Mobilkommunikationsausrüstungen oder
Rundfunkausrüstungen oder anderen solchen Vorrichtungen
viel verwendet. Insbesondere weil das Oberflächenwellenbau
element kompakt, leicht, einstellungsfrei und leicht herzu
stellen ist, ist das Oberflächenwellenbauelement für eine
elektronische Komponente für die Verwendung bei tragbaren
Kommunikationsausrüstungen geeignet.
Das Oberflächenwellenbauelement wird auf der Basis seiner
Struktur grob in ein Transversal-Typ-Filter und ein Resona
tor-Typ-Filter unterteilt. Im allgemeinen weist das Trans
versal-Typ-Filter die folgenden Vorteile auf: (1) eine
kleine Gruppenverzögerungsabweichung, (2) eine hervorragen
de Phasenlinearität und (3) einen hohen Grad an Flexibili
tät in der Paßbandgestaltung auf der Basis der Wichtung.
Das Transversal-Typ-Filter hat jedoch den Nachteil, daß es
einen hohen Einfügungsverlust aufweist.
Ein Interdigitalwandler (hierin nachfolgend als ein "IDT"
bezeichnet), der in einem Oberflächenwellenbauelement ver
wendet wird, überträgt und empfängt Oberflächenwellenbau
elemente bezüglich beider Seiten eines IDT, d. h. der IDT
überträgt und empfängt Oberflächenwellen bilateral auf
gleiche Weise. Bei einem Transversal-Typ-Filter beispiels
weise, bei dem zwei IDT durch einen vorbestimmten Abstand
voneinander beabstandet sind, wird eine Hälfte der Oberflä
chenwellen, die von einem IDT übertragen wird, durch den
anderen IDT empfangen, aber die Oberflächenwellen, die von
dem einen IDT zu der gegenüberliegenden Seite des anderen
IDT übertragen werden, werden ein Verlust. Dieser Verlust
wird als "Zwei-Wege-Verlust" bezeichnet, und ist zu einem
großen Faktor beim Erhöhen des Einfügungsverlusts eines
Transversal-Typ-Filters geworden.
Um den oben beschriebenen Zwei-Wege-Verlust zu reduzieren,
wurden verschiedene Typen von Ein-Richtungs-IDT vorgeschla
gen. Bei solchen Ein-Richtungs-IDT werden Oberflächen
schallwellen an nur einer Seite derselben übertragen und
empfangen. Außerdem wurden Niedrigverlust-Transversal-Typ-
Filter entwickelt, die diese Ein-Richtungs-IDT verwenden.
Beispielsweise haben Hanma u. a. in "A TRIPLE TRANSIT SUP
PRESSION TECHNIQUE", 1976, IEEE, Ultrasonics Symposium Pro
ceedings, Seite 328-331, eine asymmetrische Doppelelek
trode vorgeschlagen. Fig. 14 ist eine schematische Teil
schnittdraufsicht, die die asymmetrische Doppelelektrode,
die in diesem Stand der Technik offenbart ist, zeigt.
Bei einer asymmetrischen Doppelelektrode 101 sind Halbwel
lenlängen Z, die aus zwei Streifen 102 und 103 bestehen,
die zueinander unterschiedliche Breiten aufweisen, sind
wiederholt mehrmals entlang der Ausbreitungsrichtung von
Oberflächenwellen angeordnet. Eine solche Elektrode, die
durch Halbwellenlängenabschnitte Z definiert ist, die aus
zwei Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten be
stehen, wird als eine "unsymmetrische Doppelelektrode" oder
"asymmetrische Doppelelektrode" bezeichnet.
Die Breite eines Halbwellenlängenabschnitts ist auf 0,5 λ
eingestellt. Die Breite eines Streifens 102 mit einer rela
tiv schmalen Breite ist auf λ/16 eingestellt. Die Breite
eines Streifens 103 mit einer relativ breiten Breite ist
auf 3 λ/16 eingestellt. Die Breite eines Zwischenraums zwi
schen den Streifen 102 und 103 ist auf 2 λ/16 eingestellt.
Die Breite eines äußeren Zwischenraums des Streifens 102 in
dem Halbwellenlängenabschnitt ist auf λ/16 eingestellt. Die
Breite des äußeren Zwischenraums des Streifens 103 in der
Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwellen in dem Halbwel
lenbereich ist auf λ/16 eingestellt.
Zwischen benachbarten Basisabschnitten sind die elektri
schen Polaritäten einander entgegengesetzt.
Bei der oben beschriebenen asymmetrischen Doppelelektrode
kann eine Reflexion pro Basisabschnitt durch einen resul
tierenden Vektor ausgedrückt werden, der durch synthesemä
ßiges Zusammenfügen von reflektierten Wellen von den in
Fig. 15 gezeigten Kanten X1 bis X4 der Streifen 102 und 103
erzeugt wird. Fig. 16 zeigt die Reflexionsvektoren an den
Kanten X1 bis X4, wenn die Referenzposition auf die Mitte
eines Basisabschnittes eingestellt ist, und den daraus re
sultierenden Vektor. Wie aus Fig. 16 ersichtlich, ist der
resultierende Vektor V bei einem Winkel von 67,5° positio
niert, und die Reflexionsmitte ist bei einem Winkel von
67,5°/2 = 33,75° positioniert.
Außerdem sind bei dieser asymmetrischen Doppelelektrode die
Außenkante X1 des Streifens 102 und die Außenkante X4 des
Streifens 103 bezüglich der Mitte des Halbwellenabschnitts
bilateral symmetrisch angeordnet. Daher sind die Abstände
zwischen der Mitte eines Basisabschnitts und den Außenkan
ten der nächstliegenden Streifen in den benachbarten Basis
abschnitten ebenfalls gleich zueinander. Bei der asymmetri
schen Doppelelektrode ist daher eine Erregungsmitte an der
Mitte des Grundabschnitts Z positioniert, mit einer Phasen
differenz von 33,75°, die zwischen einer Erregungsmitte und
der Reflexionsmitte erzeugt wird. Somit wirkt die asymme
trische Doppelelektrode als eine Ein-Richtungs-Elektrode.
Die nachstehende Tabelle 1 zeigt den Inter-Modus-
Kopplungskoeffizient κ12/k0, die Phasendifferenz zwischen
der Erregungsmitte ψ und der Reflexionsmitte ϕ, wenn eine
asymmetrische Doppelelektrode aus einem Aluminiumfilm mit
einer 3%-Film-Dicke auf einem ST-Schnitt-
Kristallquarzsubstrat gebildet ist, als ein Beispiel für
die oben beschriebenen asymmetrischen Doppelelektrode.
Hier ist k0 eine Wellenanzahl von Oberflächenwellen, die
sich durch einen IDT ausbreiten. Das Verhältnis κ12/k0 und
die Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte ψ und der
Reflexionsmitte ϕ können von der Resonanzfrequenz erhalten
werden, die durch das Finite-Elemente-Verfahren bestimmt
werden, unter Verwendung der Technik von Obuchi u. a.
("Evaluation of Excitation Characteristics of Surface Acou
stic Wave Interdigital Electrode Based on Mode Coupling
Theory", Institute of Electronics, Information and Communi
cation Engineers of Japan, Technical Report MW90-62). Au
ßerdem wird die Reflexionsmitte ϕ durch die Phasendifferenz
zwischen der Erregungsmitte ψ und der Reflexionsmitte ϕ be
stimmt, und die Erregungsmitte, die von der Grundwellenkom
ponente erhalten wird, die durch eine Fourier-
Transformation der elektrischen Ladungsdichteverteilung auf
der Elektrode, die durch das Finite-Elemente-Verfahren er
halten wird, erlangt wird.
Die ungeprüfte japanische Patentanmeldung Nr. 61-6917 of
fenbart eine Elektrode, die Unidirektionalität bzw. Gerich
tetheit durch Anordnen von zwei Streifen mit unterschiedli
chen Breiten in einem Halbwellenlängenabschnitt implemen
tiert hat, wie in dem Fall der oben beschriebenen asymme
trischen Doppelelektrode. Die Elektrode, die in dieser un
geprüften japanischen Patentanmeldung Nr. 61-6917 offenbart
ist, soll außerdem aufgrund der Asymmetrie der beiden
Streifen derselben als Ein-Richtungs-Elektrode wirken. Bei
dem Verfahren, das in der ungeprüften japanischen Patentan
meldung Nr. 61-6917 offenbart ist, ist jedoch keine Ein
richtung zum Steuern der Reflexionsmitte und des Reflexi
onsausmaßes bzw. Reflexionsgrads offenbart. Außerdem sind
keine ausführbare Reflexionsmitte und ausführbares Reflexi
onsausmaß beschrieben.
Der Artikel "Direct Numeral Analysis SAW Mode Coupling
Equation and Applications Thereof", 27th EM symposium pre
print, S. 109-116, Takeuchi u. a., beschreibt das Prinzip
eines Ein-Richtungs-IDT, der eine flache Richtfähigkeit
über ein Breitband in der Struktur liefert, bei der positi
ve und negative Reflexionselemente gestreut in einem Ein-
Richtungs-IDT angeordnet sind. Hierin ist jedoch keine Ein
richtung zum Bilden eines zuverlässigen, hochwertigen, Ein-
Richtungs-IDT beschrieben.
Allgemein, wenn bewirkt wird, daß Oberflächenwellen auf ei
nen IDT auftreffen, der nur aus Doppelstreifen ohne Refle
xion besteht, wird Reflexion durch Neuerregung bewirkt. Als
Folge treten im Fall eines herkömmlichen Transversal-Typ-
Filters sogenannte "Dreifach-Durchgang-Echo"-Wellen oder
TTE-Wellen auf und bewirken Welligkeiten oder andere unge
wünschte Wellencharakteristika, die die Filtercharakteri
stika nachteilig beeinflussen. Die oben beschriebene Lite
ratur von Hanma u. a. offenbart ein Verfahren zum Aufheben
von Reflexion aufgrund von Neuerregung durch akustisch re
flektierte Wellen einer asymmetrischen Doppelelektrode.
Dieses Verfahren verursacht jedoch das Problem, daß durch
akustische Reflexion neue Welligkeiten bewirkt werden, wenn
die akustische Reflexion größer ist als die Reflexion, die
durch die Neuerregung bewirkt wird. Daher unterliegt ein
solches Verfahren zum Aufheben der Reflexion durch Neuerre
gung der Beschränkung durch piezoelektrisches Substratmate
rial oder Elektrodenmaterial, da die Reflexionsvektorlänge,
die das akustische Reflexionsausmaß darstellt, in einer
asymmetrischen Doppelelektrode festgelegt ist.
Andererseits offenbart der Artikel "About One Weighting Me
thod For SAW Reflector", 1999, General Convention of Insti
tute of Electronics, Information and Communication Engi
neers of Japan, S. 279, Tajima u. a., ein Verfahren zum
Durchführen von Wichtung hinsichtlich des Reflexionskoeffi
zienten eines Reflektors. Dieses Verfahren verwendet eine
Vielzahl von Streifen mit zueinander unterschiedlichen
Breiten und verwendet die Veränderung des Reflexionskoeffi
zienten eines Streifens auf der Basis der Streifenbreite.
Wenn die Streifenbreite geändert wird, ändert sich jedoch
auch die Schallgeschwindigkeit. Wenn versucht wird, Wich
tung auf der Basis der Streifenbreite durchzuführen, wird
folglich ein Testverfahren und eine Testvorrichtung benö
tigt, um eine korrekte Schallgeschwindigkeit zu finden, und
um den Anordnungsabstand des Streifens gemäß dieser korri
gierten Schallgeschwindigkeit zu ändern. Dies verursacht
das Problem, daß die Entwicklung einen äußerst hohen Grad
an Technik erfordert.
Wie oben beschrieben, wurden verschiedene IDT oder Resona
toren vorgeschlagen, die durch Asymmetrie von zwei Streifen
jeweils als eine Ein-Richtungs-Elektrode wirken, aber her
kömmliche asymmetrische Doppelelektroden haben bisher keine
ausreichende Unidirektionalität erreicht. Außerdem sind die
Reflexionsmitte und das Reflexionsausmaß der herkömmlichen
asymmetrischen Doppelelektroden sehr schwierig zu steuern.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Oberflä
chenwellenbauelement zu schaffen, das verbesserte Charakte
ristika aufweist.
Diese Aufgabe wird durch ein Oberflächenwellenbauelement
gemäß Anspruch 1, 6 und 11 gelöst.
Um die oben beschriebenen Probleme zu lösen, schaffen be
vorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
ein Oberflächenwellenbauelement, das eine asymmetrische
Doppelelektrode verwendet und eine höherwertige Unidirek
tionalität der Oberflächenwellenausbreitung erreicht, wäh
rend das Reflexionsausmaß pro Basisabschnitt effektiv und
leicht gesteuert wird.
Gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegen
den Erfindung umfaßt ein Oberflächenwellenbauelement ein
piezoelektrisches Substrat und zumindest zwei Basisab
schnitte, die eine asymmetrische Doppelelektrode umfassen,
bei der ein Halbwellenlängenabschnitt einen ersten und
zweiten Streifen mit zueinander unterschiedlicher Breite
umfaßt, wobei die zumindest zwei Basisabschnitte entlang
der Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwellen angeordnet
sind. Bei diesem Oberflächenwellenbauelement liegt der Ab
solutwert des Vektorwinkels der Reflexionsmitte, der von
dem resultierenden Vektor erhalten wird, der durch synthe
semäßiges Zusammenfügen des Reflexionsvektors an den Kanten
des ersten und des zweiten Streifens erzeugt wird, vorzugs
weise innerhalb etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10°, wenn die
Mitte von jedem der zumindest zwei Basisabschnitte die Re
ferenzposition ist.
Gemäß einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung umfaßt ein Oberflächenwellenbauele
ment ein piezoelektrisches Substrat und zumindest zwei Ba
sisabschnitte, die eine asymmetrische Doppelelektrode um
fassen, bei der ein Halbwellenlängenabschnitt einen ersten
und einen zweiten Streifen unterschiedlicher Breite umfaßt,
wobei die zumindest zwei Basisabschnitte entlang der
Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwellen angeordnet sind.
Bei diesem Oberflächenwellenbauelement liegt der Absolut
wert der Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte und
der Reflexionsmitte der asymmetrischen Doppelelektrode vor
zugsweise innerhalb etwa 45 ± 10° oder 135 ± 10°.
Gemäß noch einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfaßt ein Oberflächenwellenbau
element ein piezoelektrisches Substrat und zumindest zwei
Basisabschnitte, die eine asymmetrische Doppelelektrode um
fassen, bei der ein Halbwellenlängenabschnitt einen ersten
und zweiten Streifen mit zueinander unterschiedlicher Brei
te umfaßt, wobei die zumindest zwei Basisabschnitte entlang
der Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwellen angeordnet
sind. Wenn bei diesem Oberflächenwellenbauelement die Kan
tenpositionen des ersten und des zweiten Streifens X1 bis
X4 sind, von denen jeder ein Wert ist, der unter Verwendung
der Schallgeschwindigkeitsdifferenz zwischen einer freien
Oberfläche und einer metallischen Oberfläche korrigiert
wurde, und wenn die resultierende Vektorlänge von normier
ten reflektierten Wellen von Streifenkanten |Γ| ist und die
Mittelposition des Basisabschnitts 0(λ) ist, und X1 ≅ -X4,
ist jede der Positionen von X2 und X3 ein Wert, der im we
sentlichen die folgenden Gleichungen (1) und (2) erfüllt.
X2[λ] = A × X1[λ]2
+ B × X1[λ] + C ± 0,1[λ] . . . (1)
X3[λ] = D × X1[λ]2
+ E × X1[λ] + F ± 0,05[λ] . . . (2)
A = -34,546 × |Γ|6
+ 176,36 × |Γ|5
- 354,19 × |Γ|4
+ 354,94 × |Γ|3
- 160,44 × |Γ|2
+ 10,095 × |Γ| - 1,7558
B = -15,464 × |Γ|6 + 77,741 × |Γ|5 - 153,44 × |Γ|4 + 147,20 ×
|Γ|3 - 68,363 × |Γ|2 + 6,3925 × |Γ| - 1,7498
C = -1,772 × |Γ|6 + 8,7879 × |Γ|5 - 17,07 × |Γ|4 + 16,092 × |Γ|3
- 7,4655 × |Γ|2 + 0,8379 × |Γ| - 0,3318
D = 12,064 × |Γ|6 - 45,501 × |Γ|5 + 57,344 × |Γ|4 - 22,683 × |Γ|3
+ 12,933 × |Γ|2 - 15,938 × |Γ| - 0,1815
E = 7,2106 × |Γ|6 - 30,023 × |Γ|5 + 45,792 × |Γ|4 - 29,784 × |Γ|3
+ 13,125 × |Γ|2 - 6,3973 × |Γ| + 1,0203
F = 1,0138 × |Γ|6 - 4,4422 × |Γ|5 + 7,3402 × |Γ|4 - 5,474 × |Γ|3
+ 2,3366 × |Γ|2 - 0,7540 × |Γ| + 0,2637
Bei dem Oberflächenwellenbauelement gemäß einem weiteren
bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
ist es vorteilhaft, wenn das Reflexionsausmaß der Oberflä
chenwellen an den Kantenpositionen X1 bis X4 der oben be
schriebenen Streifen im wesentlichen gleich zueinander
sind.
Außerdem kann bei dem Oberflächenwellenbauelement gemäß an
deren bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden
Erfindung die oben beschriebene asymmetrische Doppelelek
trode ein Interdigitalwandler oder statt dessen ein Reflek
tor sein.
Ferner wird gemäß einem weiteren bevorzugten Ausführungs
beispiel der vorliegenden Erfindung vorzugsweise Quarzkri
stall als das oben beschriebene piezoelektrische Substrat
verwendet. Alternativ kann jedoch bei anderen bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung das piezo
elektrische Substrat aus einem anderen piezoelektrischen
Einkristall, wie z. B. LiTaO3 bestehen, oder einer piezo
elektrischen Keramik, wie z. B. Keramik auf der Basis von
Blei-Titanat-Zirconat. Außerdem kann ein piezoelektrisches
Substrat verwendet werden, das durch Bilden eines piezo
elektrischen Dünnfilms, wie z. B. einem ZnO-Dünnfilm, auf
einem isolierenden Substrat, wie z. B. einem piezoelektri
schen Substrat oder Aluminiumoxidsubstrat, gebildet ist.
Die obigen und anderen Elemente, Charakteristika, Merkmale
und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der fol
genden detaillierten Beschreibung offensichtlich werden.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeich
nungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1A eine Draufsicht einer asymmetrischen Doppelelek
trode gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
Fig. 1B eine Teilschnittansicht einer asymmetrischen Dop
pelelektrode gemäß einem bevorzugten Ausführungs
beispiel der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ein Diagramm, das die Kantenpositionsabhängigkeit
der Erregungsmitte der asymmetrischen Doppelelek
trode bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 3 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 0,20 λ ist;
Fig. 4 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 0,50 λ ist;
Fig. 5 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 1,00 λ ist;
Fig. 6 ein Diagram, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 1,25 λ ist;
Fig. 7 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 1,50 λ ist;
Fig. 8 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der Kan
tenposition X1 = -X4 und jeder der Kantenpositio
nen X2 und X3 zeigt, wenn eine resultierende Vek
torlänge Γ 1,70 λ ist;
Fig. 9 ein Diagramm, das die Änderung der Reflexionsmit
te ϕ zeigt, wenn sich die Kantenposition X2, die
durch die Gleichung (1) erhalten wird, bei bevor
zugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Er
findung ändert;
Fig. 10 ein Diagramm, das die Änderungen der Reflexions
mitte ϕ zeigt, wenn sich die Kantenposition X3
bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorlie
genden Erfindung ändert;
Fig. 11 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur zeigt zum Auswerten der Richtfähigkeit
eines IDT gemäß einem weiteren bevorzugten Aus
führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
Fig. 12 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen der An
zahl von Basisabschnitten und der Richtfähigkeit
zeigt, wobei diese Beziehung bei einem weiteren
bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung erhalten wird, und die Beziehung zwi
schen der Anzahl von Basisabschnitten und Richt
fähigkeit, wenn eine herkömmliche asymmetrische
Doppelelektrode verwendet wird, die zu Ver
gleichszwecken vorbereitet wird;
Fig. 13 eine erläuternde Draufsicht der Elektrodenstruk
tur eines IDT mit einem Reflektor gemäß noch ei
nem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 14 eine schematische Teilschnittdraufsicht, die eine
herkömmliche asymmetrische Doppelelektrode zeigt;
Fig. 15 eine Teilschnittansicht zum Erklären der Kanten
positionen der Streifen in der in Fig. 14 gezeig
ten asymmetrischen Doppelelektrode; und
Fig. 16 ein Diagramm, das die Beziehung zwischen den Re
flexionsvektoren bei den Kanten X1 bis X4, die in
Fig. 15 gezeigt sind, und dem resultierenden Vek
tor V derselben zeigt.
Um die Unidirektionalität bei der Verwendung einer asymme
trischen Doppelelektrode zu realisieren, haben die Erfinder
der vorliegenden Anmeldung ausführliche Forschungen ange
stellt und haben herausgefunden, daß, wenn das Reflexions
ausmaß der Oberflächenwellen pro Basisabschnitt klein ist,
die Frequenzunidirektionalitätscharakteristika der Ein-
Richtungs-Elektrode durch Bilden von Reflexionselementen
unter Verwendung einer Ein-Richtungs-Elektrode, wobei die
Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte und der Refle
xionsmitte etwa +45° (-135°) oder etwa -45° (+135°) be
trägt, und durch Anordnen dieser positiven und negativen
Reflexionselemente und dabei Betrachten derselben als posi
tive bzw. negative Impulse geschätzt werden können. Ferner
haben die Erfinder herausgefunden, daß es aufgrund der Pha
senfehlanpassung von Oberflächenwellen schwierig wird, die
positiven und negativen Elemente als einfache positive bzw.
negative Impulse zu betrachten, wenn die Phasendifferenz
zwischen der Erregungsmitte und der Reflexionsmitte stark
von etwa ± 45° (± 135°) bei den positiven und negativen
Elementen abweicht.
Darüber hinaus haben die Erfinder entdeckt, daß es, wenn
ein Wichtungsverfahren bei einem Ein-Richtungs-IDT, der ei
ne asymmetrische Doppelelektrode verwendet, verwendet wird,
möglich ist, eine Wichtung bezüglich Reflexionskoeffizien
ten durchzuführen, wenn positive und negative Reflexions
elemente, bei denen die Reflexionsmitten an Winkeln von et
wa +45° (-135°) oder -45° (+135°) bezüglich der Mitten
eines Halbwellenlängenabschnitts angeordnet sind, gebildet
sind und als ein Reflektor verwendet werden. Beim Versuch,
eine Wichtung bezüglich der Streifenbreite durchzuführen,
ist es notwendig, den Elektrodenabstand zu ändern. Dieses
Wichtungsverfahren durch Reflexionskoeffizienten ermöglicht
es jedoch, daß ein Reflektor leicht hergestellt werden
kann, da die Schallgeschwindigkeiten der positiven und ne
gativen Elemente zueinander identisch sind.
Nachfolgend werden die Prinzipien von verschiedenen bevor
zugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung mit
Bezugnahme auf die Zeichnungen näher beschrieben.
Eine in den Fig. 1A und 1B gezeigte asymmetrische Doppel
elektrode 1 wird als Beispiel verwendet. Bei dieser asymme
trischen Doppelelektrode 1 sind Basisabschnitte Z, von den
jeder aus den Streifen 2 und 3 mit zueinander unterschied
licher Breite besteht, wiederholt in der Ausbreitungsrich
tung der Oberflächenwellen angeordnet. Nun läßt man einen
Basisabschnitt an den Positionen von -0,25 λ bis +0,25 λ
angeordnet sein. λ bezeichnet hier die Wellenlänge einer
Oberflächenwelle.
Wenn man die Positionen der Kanten des ersten und zweiten
Streifens 2 und 3 innerhalb dieses Basisabschnitts angeord
net sein läßt, wobei diese Halbwellenabschnitte X1' bis X4'
sei, und die Schallgeschwindigkeit der Oberflächenwellen,
die sich durch eine freie Oberfläche ausbreiten, sei Vf,
und die Schallgeschwindigkeit von Oberflächenwellen, die
sich durch eine Metalloberfläche ausbreiten, sei Vm, werden
die Kantenpositionen X1 bis X4, die auf der Basis der
Schallgeschwindigkeiten der freien Oberfläche und der Me
talloberfläche korrigiert werden, durch die folgende Glei
chung ausgedrückt:
X1 bis X4 = (Vf
Lm
+ Vm
Lf
)/(Vf
Lm0
+ Vm
Lf0
) . . . (3)
Bei der obigen Gleichung (3) bezeichnet Lm die Summe des
Abstands auf der Metalloberfläche von der Mitte des Halb
wellenabschnitts, d. h. 0 λ bis X1 bis X4 in der Ausbrei
tungsrichtung der Oberflächenwellen, und Lf bezeichnet die
Summe des Abstands auf der freien Oberfläche von der Mitte
des Halbwellenlängenabschnitts λ0 bis X1 bis X4. Lm0 be
zeichnet die Summe des Abstands der Metalloberfläche in dem
gesamten Halbwellenlängenabschnitt, und Lf0 bezeichnet die
Summe des Abstands der freien Oberfläche in dem gesamten
Halbwellenlängenabschnitt.
Nachfolgend wird die Reflexion bei einer einzelnen Elektro
de, bei der nur ein einzelner Streifen innerhalb des Halb
wellenlängenabschnitts angeordnet ist, erörtert. Man nehme
an, daß der einzelne Streifen so angeordnet ist, daß die
Mitte desselben an der Referenzposition 0 λ des Halbwellen
längenabschnitts Z positioniert ist. Wenn man den Reflexi
onsvektor an der einen Kantenposition -Xs des einzelnen
Streifens Γs1 sein läßt, und den Reflexionsvektor an der
anderen Kantenposition +Xs desselben Γs2, wird der resul
tierende Reflexionsvektor Γs an der Referenzposition durch
die nachfolgende Gleichung (4) ausgedrückt. Hier bezeichnet
j in der Gleichung (4) eine imaginäre Zahleinheit, und k
bezeichnet die Wellenanzahl.
Γs = Γs1 × e-2.j.k.(-Xs)
+ Γs2 × e-2.j.k.Xs
. . . (4)
Die Länge |Γs| des oben beschriebenen resultierenden Vektors
Γs bezeichnet das Reflexionsausmaß eines einzelnen Strei
fens.
Wenn hier eine Normierung, wie z. B. |Γs1| = |Γs2| = 1,
durchgeführt wird, kann man Γs1 = -Γs2 = -1 ausdrücken,
unter der Bedingung, daß die akustische Impedanz auf einer
freien Oberfläche größer ist als die auf einer Metallober
fläche. Wenn daher die Reflexionsmitte ϕs als die Mitte des
einzelnen Streifens definiert wird, kann die Reflexionsmit
te ϕs durch die folgende Gleichung (5), unter Verwendung
des Winkels ∠ Γ des resultierenden Reflexionsvektors Γ be
stimmt werden.
ϕs = -0,5 × ∠ (j × Γs) . . . (5)
Nachfolgend wird eine asymmetrische Doppelelektrode erör
tert, bei der zwei Streifen mit zueinander unterschiedli
chen Breiten in dem Halbwellenlängenabschnitt angeordnet
sind, wie in dem Fall des einzelnen Streifens. Wenn man die
Reflexionsvektoren von akustischen Oberflächenwellen an den
Kantenpositionen X1 bis X4 in den Fig. 1A und 1B Γ1 bis Γ4
sein läßt, wird der resultierende Reflexionsvektor Γ an der
Referenzposition 0 λ durch die nachfolgende Gleichung (6)
ausgedrückt.
Γ = Γ1 × e-2.j.k.X1
+ Γ2 × e-2.j.k.X2
+ Γ3 × e-2.j.k.X3
+ Γ4 × e-2.j.k.X4
. . . (6)
Die Länge |Γ| des oben beschriebenen resultierenden Vektors
Γ bezeichnet das Reflexionsausmaß einer Ein-Richtungs-
Elektrode. Die Reflexionsmitte der Ein-Richtungs-Elektrode
ist auf die gleiche Weise definiert wie bei dem einzelnen
Streifen und wird durch die nachfolgende Gleichung (7) aus
gedrückt.
ϕ = -0,5 × ∠ (j × Γ) . . . (7)
In dem Fall, in dem bei der asymmetrischen Doppelelektrode
ein Ein-Richtungs-IDT so aufgebaut ist, daß die elektri
schen Polaritäten von benachbarten Basisabschnitten abwech
selnd invertiert sind, ist, wenn die Breite des Zwischen
streifenraums zwischen einem Basisabschnitt und dem benach
barten Basisabschnitt auf einer Seite in der Ausbreitungs
richtung der Oberflächenwellen und die Breite des Zwischen
streifenraums zwischen dem Basisabschnitt und dem benach
barten Basisabschnitt auf der anderen Seite in der Ausbrei
tungsrichtung der Oberflächenwellen gleich zueinander sind,
und gleichzeitig, wenn diese Zwischenräume zwischen den
Streifen bezüglich der Mitte des mittleren Basisabschnitts
symmetrisch angeordnet sind, ist die Erregungsmitte der
asymmetrischen Doppelelektrode an dem wesentlich mittleren
Abschnitt des Halbwellenlängenabschnitts positioniert.
Fig. 2 ist ein Diagramm, das die Kantenpositionsabhängig
keit der Erregungsmitte bei der oben beschriebenen asymme
trischen Doppelelektrode zeigt. Hierin wird eine asymmetri
sche Doppelelektrode, die aus einem Aluminiumfilm mit einer
Dicke von beispielsweise von etwa 0,02 λ gebildet ist, auf
einem ST-Schnitt-Quarzsubstrat angeordnet. In dieser Figur
ist die Kantenpositionsabhängigkeit der Erregungsmitte ge
zeigt, die von der Grundwellenkomponente erhalten wird, die
durch Durchführen einer Fourier-Transformation bei der
elektrischen Ladedichteverteilung auf der Elektrode erhal
ten wird, und die durch das Finite-Elemente-Verfahren er
halten wird, wenn X1 = -X4 = -0,1875 λ und X3 - X2 = 0,125 λ,
und wenn X2 als ein Parameter verwendet wird.
Es kann bestätigt werden, daß selbst an einer Position, an
der der Grad der Asymmetrie der asymmetrischen Doppelelek
trode sehr hoch ist, das heißt bei X2 = 0,172 λ, der Vektor
winkel der Erregungsmitte bei etwa +4,6° positioniert ist,
das heißt im wesentlichen in dem Mittelabschnitt. Die
Streifenbreite und die Zwischenraumbreite eines IDT, der
ein Oberflächenwellenbauelement bildet, ist durch den elek
trischen Widerstandswert eines Streifens und/oder den
Strukturierungsprozeß eingeschränkt.
Die Kantenpositionen X und X3 können bezüglich des |Γ| und
der Kantenposition X1 eindeutig bestimmt werden, indem man
X2 - X1 < 0,02 λ, X3 - X2 < 0,02 λ, X4 - X3 < 0,02 λ und X4 =
-1 sein läßt, wobei angenommen wird, daß die Vektorlängen
von Γ1 bis Γ4 gleich zueinander sind, und indem eine Nor
mierung durchgeführt wird, so daß Γ1 = Γ4 = -1, Γ2 = Γ3 =
+1, und wenn die Bedingungen derart durch das Monte-Carlo-
Verfahren vorgefunden werden, daß die Gleichungen (6) und
(7) ϕ = 45° erfüllen. Die Näherungsgleichungen, die X2 und
X3 ausdrücken, sind durch die folgenden Ausdrücke (8) und
(9) gegeben, unter Verwendung von |Γ| und X1 als unabhängige
Variablen.
X2[λ] ≅ A × X1[λ]2
+ B × X1[λ] + C . . . (8)
X3[λ] ≅ D × X1[λ]2
+ E × X1[λ] + F . . . (9)
In den Gleichungen (8) und (9) werden A bis F durch die
folgenden Gleichungen erhalten.
A = -34,546 × |Γ|6
+ 176,36 × |Γ|5
- 354,19 × |Γ|4
+ 354,94 ×
|Γ|3
- 160,44 × |Γ|2
+ 10,095 × |Γ| - 1,7558
B = -15,464 × |Γ|6 + 77,741 × |Γ|5 - 153,44 × |Γ|4 + 147,20 × |Γ|3
- 68,363 × |Γ|2 + 6,3925 × |Γ| - 1,7498
C = -1,772 × |Γ|6 + 8,7879 × |Γ|5 - 17,07 × |Γ|4 + 16,092 × |Γ|3
- 7,4655 × |Γ|2 + 0,8379 × |Γ| - 0,3318
D = 12,064 × |Γ|6 - 45,501 × |Γ|5 + 57,344 × |Γ|4 - 22,683 × |Γ|3
+ 12,933 × |Γ|2 - 15,938 × |Γ| - 0,1815
E = 7,2106 × |Γ|6 - 30,023 × |Γ|5 + 45,792 × |Γ|4 - 29,784 × |Γ|3
+ 13,125 × |Γ|2 - 6,3973 × |Γ| + 1,0203
F = 1,0138 × |Γ|6 - 4,4422 × |Γ|5 + 7,3402 × |Γ|4 - 5,474 × |Γ|3
+ 2,3366 × |Γ|2 - 0,7540 × |Γ| + 0,2637
Von den obigen Ergebnissen ist ersichtlich, daß eine asym
metrische Doppelelektrode, die einem gewünschten Reflexi
onsausmaß entspricht und die Reflexionsmitte bei einem Win
kel von etwa 45° aufweist, erhalten werden kann. Wie weiter
ersichtlich ist, ist bei einer asymmetrischen Doppelelek
trode, die gemäß den oben beschriebenen Gleichungen kon
struiert ist, die Erregungsmitte an der Mitte des Halbwel
lenlängenabschnitts positioniert. Wenn diese asymmetrische
Doppelelektrode als eine Ein-Richtungs-Elektrode verwendet
wird, ist die Phasendifferenz zwischen der Erregungs- und
Reflexionsmitte im wesentlichen 45°, was es dieser asymme
trischen Doppelelektrode ermöglicht, als eine Ein-
Richtungs-Elektrode mit sehr hochwertigen Charakteristika
zu wirken.
Als Beispiele zeigen die Fig. 3 bis 8 die Ergebnisse von X2
und X3, die durch die Gleichungen (8) und (9) erhalten wur
den, für |Γ| = 0,20 λ, 0,50 λ, 1,00 λ, 1,25 λ, 1,50 λ und 1,70 λ.
In der Zwischenzeit wurde bei der obigen Beschreibung der
Reflexionskoeffizient auf der Basis der Annahme, daß die
akustische Impedanz auf einer freien Oberfläche größer ist
als auf einer metallischen Oberfläche, behandelt. Umge
kehrt, unter der Bedingung, daß die akustische Impedanz auf
einer freien Oberfläche kleiner ist als auf einer metalli
schen Oberfläche, wird nur das Vorzeichen von |Γ| umgekehrt,
oder in anderen Worten, ϕ wird um 90° verschoben.
Wie oben beschrieben, kann die Phasendifferenz zwischen der
Erregungsmitte und der Reflexionsmitte durch Auswählen der
Kantenpositionen X2 und X3, daß die Gleichungen (8) und (9)
erfüllt sind, im wesentlichen 45° werden. Als Folge kann
eine hervorragende Ein-Richtungs-Elektrode erreicht werden.
Die Erfinder haben jedoch bestätigt, daß diese Doppelelek
trode eine außergewöhnliche Unidirektionalität aufweist,
falls X2 und X3 nicht nur an den Positionen positioniert
sind, die die Gleichungen (8) und (9) erfüllen, sondern
auch an den Positionen innerhalb eines Bereichs von den Po
sitionen, die die Gleichungen (8) und (9) erfüllen. Diese
Tatsache wird mit Bezugnahme auf die Fig. 9 und 10 be
schrieben.
Fig. 9 und 10 sind Diagramme, die jeweils die Änderungen
der Reflexionsmitte innerhalb des Bereichs von -0,1 λ bis
+0,1 λ zeigen, wenn X2 und X3 jeweils durch Einsetzen von |Γ|
= 1,5 und X1 = -0,2188 λ in die Gleichungen (8) und (9) er
halten werden.
Wie oben beschrieben, ist es wünschenswert, daß die Refle
xionsmitte bei einem Winkel von etwa 45° positioniert ist,
oder die Phasendifferenz zwischen der Reflexionsmitte und
der Erregungsmitte etwa 45° beträgt, aber die Erfinder ha
ben bestätigt, daß der Bereich innerhalb 45 + 10° es ermög
lichen würde, daß die Phasenfehlanpassung im Vergleich zu
der oben beschriebenen herkömmlichen asymmetrischen Doppel
elektrode stark verbessert wird. Aus den Fig. 9 und 10 ist
ersichtlich, daß der Bereich, bei dem die Position der Re
flexionsmitte in einem Winkel von etwa 45 + 10° liegt, dem
Bereich von etwa ±0,10 λ bezüglich des Werts, der durch die
Gleichung (8) für die Position von X2 erhalten wurde, ent
spricht und dem Bereich von etwa ±0,05 λ bezüglich des
Werts, der durch die Gleichung (9) für die Position X3 er
halten wurde, entspricht.
Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Er
findung liegen die Positionen von X2 und X3 daher vorzugs
weise innerhalb des Bereichs, der in den oben beschriebenen
Gleichungen (1) und (2) gezeigt ist. Es ist ersichtlich,
daß als Folge dieser einmaligen Anordnung eine hervorragen
de Unidirektionalität realisiert werden kann.
Ein Oberflächenwellenbauelement, das eine asymmetrische
Doppelelektrode gemäß den bevorzugten Ausführungsbeispielen
der vorliegenden Erfindung verwendet, wurde wie in Fig. 1
dargestellt aufgebaut. Ein IDT wurde durch Bilden eines
Aluminiumfilms mit einer Dicke von beispielsweise etwa 0,02 λ
auf einem ST-Schnitt-Quarzsubstrat und nachfolgender
Durchführung einer Strukturierung aufgebaut.
Der IDT, der eine asymmetrische Doppelelektrode definiert,
wurde gemäß den Kantenpositionen X2 und X3 aufgebaut, die
durch Einsetzen der Werte von |Γ| und X1, die nachfolgend in
Tabelle 2 gezeigt sind, in die Gleichungen (8) und (9) be
stimmt wurden. Tabelle 2 zeigt die Inter-Modus-
Kopplungskoeffizienten κ12/k0 und die Reflexionsmitten ϕ in
diesem Fall.
Da bei der in Fig. 2 gezeigten asymmetrischen Doppelelek
trode, die auf der Basis der Gleichungen (8) und (9) aufge
baut ist, der Winkel der Reflexionsmitte nahe bei 45°
liegt, ist die Phasenfehlanpassung der reflektierten Wellen
bezüglich der ausgebreiteten Wellen wesentlich geringer als
die der herkömmlichen asymmetrischen Doppelelektrode. Daher
ermöglicht es die Verwendung der asymmetrischen Doppelelek
trode, die auf der Basis der Gleichungen (8) und (9) aufge
baut ist, ein Oberflächenwellenbauelement zu erreichen, das
erheblich bessere Leistung zeigt als herkömmliche Oberflä
chenwellenbauelemente und insbesondere wirkungsvoll ist,
wenn die Streifenreflexion positiv verwendet wird.
Nachfolgend werden spezifische experimentelle Beispiele der
Richtfähigkeit beschrieben, wenn ein IDT, der eine asymme
trische Doppelelektrode enthält, gemäß einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung auf einem
ST-Schnitt-Quarzsubstrat vorgesehen ist.
Wie in Fig. 11 gezeigt, wurden IDT 11, IDT 12 und IDT 13
unter Verwendung eines Aluminiumsfilms mit einer Dicke von
beispielsweise etwa 0,02 λ auf einem ST-Schnitt-
Quarzsubstrat (nicht gezeigt) gebildet. Der mittlere IDT 11
ist aus einer asymmetrischen Doppelelektrode gemäß bevor
zugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung
aufgebaut und der IDT 12 und der IDT 13, die auf gegenüber
liegenden Seiten des IDT 11 angeordnet sind, sind gewöhnli
che IDTs des Doppelelektrodentyps.
Wenn die Kantenabschnitte des ersten und des zweiten Strei
fens 2 und 3 mit zueinander unterschiedlichen Breiten asym
metrisch gemacht werden, weicht die Erregungsmitte bei dem
IDT 11, der aus einer asymmetrischen Doppelelektrode aufge
baut ist, von der Mitte des Halbwellenlängenabschnitts ab,
so daß die Phasendifferenz zwischen dem Erregungs- und der
Reflexionsmitte ebenfalls um etwa 45° abweicht. Daher wur
den die Kantenpositionen X2 und X3, die erhalten wurden
durch Einsetzen von |Γ| = 1,5 und X1 = -0,2188 λ in die Glei
chungen (8) und (9), um etwa 0,05 λ eingestellt und korri
giert, so daß die Phasendifferenz zwischen der Erregungs-
und der Reflexionsmitte etwa 45° erreicht.
Wenn X1 = -0,2188 λ, X2 = -0,1185 λ, X3 = +0,0050 λ und X4 =
+0,2188 λ wurde die Phasendifferenz zwischen der Erregungs
mitte und der Reflexionsmitte als Folge etwa 41°.
Fig. 12 zeigt den Vergleich zwischen der Richtfähigkeit des
IDT 11, der die in Fig. 11 gezeigte Elektrodenstruktur ver
wendet, und der die asymmetrische Doppelelektrode mit dem
oben beschriebenen Aufbau umfaßt, und der Richtfähigkeit,
wenn statt des IDT 11 die herkömmliche asymmetrische Dop
pelelektrode angeordnet ist. Die durchgezogene Linie in der
Figur zeigt das Ergebnis von IDT 11 und die gestrichelte
Linie zeigt das des herkömmlichen Beispiels. Hinsichtlich
der Richtfähigkeit wird eine Eingangsspannung an den IDT 11
angelegt, dann wurde das Ausgangssignal desselben, das
durch IDT 12 und IDT 13 empfangen wurde, gesucht und die
Richtfähigkeit wurde aus dem Wert dieses Ausgangssignals
(dB) ausgewertet.
Für einen IDT, der eine asymmetrische Doppelelektrode
verwendet, die zum Vergleich vorbereitet wurde, wurde die
Filmdicke der Elektrode vorzugsweise auf etwa 0,02 λ einge
stellt und die Kantenpositionen wurden vorzugsweise so ein
gestellt, daß sie X1 = -0,1875 λ, X2 = -0,1250 λ, X3 = 0 λ und
X4 = +0,1875 λ sind. Die Kreuzungsbreite eines Elektroden
fingers wurde bei jedem der bevorzugten Ausführungsbeispie
le und dem herkömmlichen Beispiel vorzugsweise auf etwa 20 λ
eingestellt.
Für den IDT 12 und den IDT 13 auf den gegenüberliegenden
Seiten des IDT 11 wurde die Kreuzungsbreite eines Elektro
denfingers vorzugsweise auf etwa 20 λ eingestellt, und die
Kantenpositionen wurden vorzugsweise so eingestellt, daß
sie X1 = -0,1875 λ, X2 = -0,0625 λ, X3 = +0,0625 λ und X4 =
+0,1875 λ sind.
Aus Fig. 12 ist ersichtlich, daß die asymmetrische Doppel
elektrode bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel eine
bessere Unidirektionalität aufweist als die herkömmliche
asymmetrische Doppelelektrode. Außerdem haben die Erfinder
bestätigt, daß die Phasendifferenz zwischen der Erregungs
mitte und der Reflexionsmitte korrigiert werden kann, so
daß sie 45° erreicht, durch Einstellen der Kantenpositionen
X2 und X3, die durch die Gleichungen (8) und (9) erreicht
werden, um etwa ±0,1 λ, oder durch Einstellen von X4, so daß
es leicht von -X1 abweicht.
Fig. 13 ist eine Draufsicht, die die Elektrodenstruktur ei
nes IDT mit einem Reflektor 21 gemäß noch einem weiteren
bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
zeigt. Hierin ist der Reflektor 21, der gemäß diesem bevor
zugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung auf
gebaut ist, vorzugsweise innerhalb des IDT 22 angeordnet.
In diesem Fall ist es durch Durchführen von Wichtung bezüg
lich des Reflexionskoeffizienten des Reflektors 21 möglich,
die Frequenzcharakteristika des gesamten IDT 22 mit dem Re
flektor 21 zu steuern.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die oben beschrie
benen Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern kann auf un
terschiedliche Weise modifiziert werden. Beispielsweise
wurde bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen er
kannt, daß eine bessere Richtfähigkeit als bei den herkömm
lichen Beispielen erreicht wird. Abhängig von der Verwen
dung kann es jedoch einen Fall geben, bei dem es wichtiger
ist, daß die Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte
und der Reflexionsmitte nahe bei 45° liegt, oder daß die
Reflexionsmitte bezüglich der Mitte des Halbwellenlängenab
schnitts 45° ist, wenn X1 = -X4, als eine bessere Richtfä
higkeit zu erreichen. Obwohl es wünschenswert ist, daß die
Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte und der Refle
xionsmitte etwa 45° beträgt, kann es einen Fall geben bei
dem, wenn die Reflexion durch einen Streifen positiv ver
wendet wird, wenn derselbe beispielsweise als ein Reflektor
verwendet wird, dem Merkmal der Vorzug gegeben wird, daß
die Reflexionsmitte bei einem Winkel von 45° positioniert
ist, vor dem Merkmal, daß die Erregungsmitte an der Mitte
des Halbwellenlängenabschnitts positioniert ist, selbst
wenn die Erregungsmitte davon abweicht. Insbesondere wenn
ein Streifen als ein Reflektor verwendet wird, kann nur die
Reflexionsmitte bedacht werden.
Wie aus dem Vorhergehenden offensichtlich ist, liegt bei
dem Oberflächenwellenbauelement, das eine asymmetrische
Doppelelektrode gemäß verschiedenen bevorzugten Ausfüh
rungsbeispielen der vorliegenden Erfindung verwendet, der
Absolutwert des Vektorwinkels von der Reflexionsmitte, der
von dem resultierenden Vektor erhalten wird, der durch syn
thesemäßiges Zusammenfügen der Reflexionsvektoren an den
Kanten X1 bis X4 des ersten und des zweiten Streifens ge
bildet wird, wenn die Mitte des oben beschriebenen Basisab
schnitts als Referenzposition eingestellt ist, vorzugsweise
innerhalb 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10°. Dadurch ist die
Phasenfehlanpassung der Oberflächenwellen minimiert, und
die Unidirektionalität der oben beschriebenen asymmetri
schen Doppelelektrode ist stark verbessert.
Wenn gleichartig dazu bei verschiedenen bevorzugten Ausfüh
rungsbeispielen der vorliegenden Erfindung der Absolutwert
der Phasendifferenz zwischen der Erregungsmitte und der Re
flexionsmitte der asymmetrischen Doppelelektrode innerhalb
etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt, ist die Phasen
fehlanpassung der Oberflächenwellen minimiert und eine her
vorragende Unidirektionalität kann realisiert werden.
Wenn bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden
Erfindung bei den Kantenpositionen X1 bis X4 des ersten und
des zweiten Streifens, die Basisabschnitte bilden und zu
einander unterschiedliche Breiten aufweisen, die Mittelpo
sition des Basisabschnitts 0(λ) ist, und X1 ≅ -X4, falls
die Positionen von X2 und X3 die Gleichungen (1) und (2)
erfüllen, ist sichergestellt, daß der Absolutwert des Vek
torwinkels der Reflexionsmitte innerhalb etwa 45 ± 10° oder
etwa 135 ± 10° liegt, wenn die Mitte des Basisabschnitts
die Referenzposition ist, oder daß der Absolutwert der Pha
sendifferenz zwischen der Erregungsmitte und der Reflexi
onsmitte innerhalb etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt.
Es ist daher gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung möglich, leicht und zuverlässig eine
asymmetrische Doppelelektrode zu schaffen, die die Phasen
fehlanpassung von Oberflächenwellen verhindert, und die ei
ne hervorragende Unidirektionalität aufweist.
Wenn die Reflexionsausmaße von Oberflächenwellen an den
Kantenposition X1 bis X4 im wesentlichen gleich zueinander
sind, ist die Phasenfehlanpassung zwischen reflektierten
Oberflächenwellen und ausgebreiteten Oberflächenwellen sehr
effektiv reduziert.
Wenn ein IDT aufgebaut ist, um gemäß verschiedenen bevor
zugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung die
asymmetrische Doppelelektrode zu umfassen, ist die Phasen
fehlanpassung zwischen reflektierten Oberflächenwellen und
ausgebreiteten Oberflächenwellen verhindert, wodurch ermög
licht wird, daß ein IDT eine hervorragende Unidirektionall
tät liefert, und ermöglicht wird, daß beispielsweise ein
Niedrigverlust-Oberflächenwellenbauelement des Transversal
typs geschaffen wird.
Wenn die asymmetrische Doppelelektrode gemäß bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung als ein
Reflektor verwendet wird, ist es möglich, ein Oberflächen
wellenbauelement zu schaffen, das in der Lage ist, die Fre
quenzcharakteristika des Gesamtreflexionskoeffizienten von
Reflektoren zu steuern, da Wichtung bezüglich des Reflexi
onskoeffizienten leicht durchgeführt werden kann.
Claims (15)
1. Oberflächenwellenbauelement, das folgende Merkmale aufweist:
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
wobei ein Absolutwert eines Vektorwinkels einer Refle xionsmitte, der aus einem resultierenden Vektor erhal ten wird, der durch synthesemäßiges Zusammenfügen von Reflexionsvektoren an Kanten des ersten (2) und zwei ten (3) Streifens erzeugt wird, innerhalb eines Be reichs von Winkeln von etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt, wenn eine Mitte eines der zumindest zwei Basisabschnitte eine Referenzposition für den Bereich von Winkeln ist.
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
wobei ein Absolutwert eines Vektorwinkels einer Refle xionsmitte, der aus einem resultierenden Vektor erhal ten wird, der durch synthesemäßiges Zusammenfügen von Reflexionsvektoren an Kanten des ersten (2) und zwei ten (3) Streifens erzeugt wird, innerhalb eines Be reichs von Winkeln von etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt, wenn eine Mitte eines der zumindest zwei Basisabschnitte eine Referenzposition für den Bereich von Winkeln ist.
2. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 1, bei dem
Reflexionsausmaße von Oberflächenwellen an Kantenposi
tionen der Streifen (2, 3) im wesentlichen gleich zu
einander sind.
3. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 1 oder 2,
bei dem die asymmetrische Doppelelektrode (1) ein In
terdigitalwandler (IDT) ist.
4. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 1 bis 3,
bei dem die asymmetrische Doppelelektrode (1) ein Re
flektor (21) ist.
5. Oberflächenwellenbauelement gemäß einem der Ansprüche
1 bis 4, bei dem das piezoelektrische Substrat aus ei
nem Quarzkristallmaterial besteht.
6. Oberflächenwellenbauelement, das folgende Merkmale
aufweist:
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
bei dem ein Absolutwert einer Phasendifferenz zwischen einer Erregungsmitte und einer Reflexionsmitte der asymmetrischen Doppelelektrode (1) innerhalb etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt.
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
bei dem ein Absolutwert einer Phasendifferenz zwischen einer Erregungsmitte und einer Reflexionsmitte der asymmetrischen Doppelelektrode (1) innerhalb etwa 45 ± 10° oder etwa 135 ± 10° liegt.
7. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 6, bei dem
Reflexionsausmaße von Oberflächenwellen an Kantenposi
tionen der Streifen (2, 3) im wesentlichen gleich zu
einander sind.
8. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 6 oder 7,
bei dem die asymmetrische Doppelelektrode (1) ein In
terdigitalwandler (IDT) ist.
9. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 6, bei dem
die asymmetrische Doppelelektrode (1) ein Reflektor
(21) ist.
10. Oberflächenwellenbauelement gemäß einem der Ansprüche
6 bis 9, bei dem das piezoelektrische Substrat aus ei
nem Quarzkristallmaterial besteht.
11. Oberflächenwellenbauelement, das folgende Merkmale
aufweist:
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
wobei, wenn die Kantenpositionen des ersten und zwei ten Streifens X1, X2, X3 und X4 sind, von denen jede ein Wert ist, der unter Verwendung einer Schall geschwindigkeitdifferenz zwischen einer freien Ober fläche und einer metallischen Oberfläche korrigiert ist, und wenn eine resultierende Vektorlänge von nor mierten reflektierten Wellen von den Kantenpositionen |Γ| ist, und eine Mittelposition von einem der zumin dest zwei Basisabschnitte 0(λ) ist, und X1 ≅ -X4, jede der Positionen von X2 und X3 im wesentlichen gleich zu einem Wert ist, der die folgenden Gleichungen (1) und (2) erfüllt:
X2[λ] = A × X1[λ]2 + B × X1[λ] + C ± 0,1[λ] . . . (1)
X3[λ] = D × X1[λ]2 + E × X1[λ] + F ± 0,05[λ] . . . (2)
wobei bei den Gleichungen (1) und (2) A bis F durch die folgenden Gleichungen ausgedrückt sind:
A = -34,546 × |Γ|6 + 176,36 × |Γ|5 - 354,19 × |Γ|4 + 354,94 × |Γ|3 - 160,44 × |Γ|2 + 10,095 × |Γ| - 1,7558
B = -15,464 × |Γ|6 + 77,741 × |Γ|5 - 153,44 × |Γ|4 + 147,20 × |Γ|3 - 68,363 × |Γ|2 + 6,3925 × |Γ| - 1,7498
C = -1,772 × |Γ|6 + 8,7879 × |Γ|5 - 17,07 × |Γ|4 + 16,092 × |Γ|3 - 7,4655 × |Γ|2 + 0,8379 × |Γ| - 0,3318
D = 12,064 × |Γ|6 - 45,501 × |Γ|5 + 57,344 × |Γ|4 - 22,683 × |Γ|3 + 12,933 × |Γ|2 - 15,938 × |Γ| - 0,1815
E = 7,2106 × |Γ|6 - 30,023 × |Γ|5 + 45,792 × |Γ|4 - 29,784 × |Γ|3 + 13,125 × |Γ|2 - 6,3973 × |Γ| + 1,0203
F = 1,0138 × |Γ|6 - 4,4422 × |Γ|5 + 7,3402 × |Γ|4 - 5,474 × |Γ|3 + 2,3366 × |Γ|2 - 0,7540 × |Γ| + 0,2637.
ein piezoelektrisches Substrat; und
zumindest zwei Basisabschnitte (Z), die auf dem piezo elektrischen Substrat angeordnet sind, wobei jeder der zumindest zwei Basisabschnitte eine asymmetrische Dop pelelektrode (1) umfaßt, die einen Halbwellenlängenab schnitt definiert und einen ersten (2) und zweiten (3) Streifen mit zueinander unterschiedlichen Breiten um faßt;
wobei, wenn die Kantenpositionen des ersten und zwei ten Streifens X1, X2, X3 und X4 sind, von denen jede ein Wert ist, der unter Verwendung einer Schall geschwindigkeitdifferenz zwischen einer freien Ober fläche und einer metallischen Oberfläche korrigiert ist, und wenn eine resultierende Vektorlänge von nor mierten reflektierten Wellen von den Kantenpositionen |Γ| ist, und eine Mittelposition von einem der zumin dest zwei Basisabschnitte 0(λ) ist, und X1 ≅ -X4, jede der Positionen von X2 und X3 im wesentlichen gleich zu einem Wert ist, der die folgenden Gleichungen (1) und (2) erfüllt:
X2[λ] = A × X1[λ]2 + B × X1[λ] + C ± 0,1[λ] . . . (1)
X3[λ] = D × X1[λ]2 + E × X1[λ] + F ± 0,05[λ] . . . (2)
wobei bei den Gleichungen (1) und (2) A bis F durch die folgenden Gleichungen ausgedrückt sind:
A = -34,546 × |Γ|6 + 176,36 × |Γ|5 - 354,19 × |Γ|4 + 354,94 × |Γ|3 - 160,44 × |Γ|2 + 10,095 × |Γ| - 1,7558
B = -15,464 × |Γ|6 + 77,741 × |Γ|5 - 153,44 × |Γ|4 + 147,20 × |Γ|3 - 68,363 × |Γ|2 + 6,3925 × |Γ| - 1,7498
C = -1,772 × |Γ|6 + 8,7879 × |Γ|5 - 17,07 × |Γ|4 + 16,092 × |Γ|3 - 7,4655 × |Γ|2 + 0,8379 × |Γ| - 0,3318
D = 12,064 × |Γ|6 - 45,501 × |Γ|5 + 57,344 × |Γ|4 - 22,683 × |Γ|3 + 12,933 × |Γ|2 - 15,938 × |Γ| - 0,1815
E = 7,2106 × |Γ|6 - 30,023 × |Γ|5 + 45,792 × |Γ|4 - 29,784 × |Γ|3 + 13,125 × |Γ|2 - 6,3973 × |Γ| + 1,0203
F = 1,0138 × |Γ|6 - 4,4422 × |Γ|5 + 7,3402 × |Γ|4 - 5,474 × |Γ|3 + 2,3366 × |Γ|2 - 0,7540 × |Γ| + 0,2637.
12. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 11, bei dem
die Reflexionsausmaße von Oberflächenwellen an den
Kantenpositionen X1, X2, X3 und X4 der Streifen im we
sentlichen gleich zueinander sind.
13. Oberflächenwellenbauelement gemäß Anspruch 11 oder 12,
bei dem die asymmetrische Doppelelektrode (1) ein In
terdigitalwandler (IDT) ist.
14. Oberflächenwellenbauelement gemäß einem der Ansprüche
11 bis 13, bei dem die asymmetrische Doppelelektrode
(1) ein Reflektor (21) ist.
15. Oberflächenwellenbauelement gemäß einem der Ansprüche
11 bis 14, bei dem das piezoelektrische Substrat aus
einem Quarzkristallmaterial besteht.
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000-226073 | 2000-07-26 | ||
| JP2000226073 | 2000-07-26 | ||
| JP2000242884A JP3414373B2 (ja) | 2000-07-26 | 2000-08-10 | 弾性表面波装置 |
| JP2000-242884 | 2000-08-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10136305A1 true DE10136305A1 (de) | 2002-02-28 |
| DE10136305B4 DE10136305B4 (de) | 2008-12-04 |
Family
ID=26596749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10136305A Expired - Fee Related DE10136305B4 (de) | 2000-07-26 | 2001-07-26 | Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelementes |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US6841918B2 (de) |
| JP (1) | JP3414373B2 (de) |
| KR (1) | KR100397743B1 (de) |
| CN (1) | CN1162963C (de) |
| DE (1) | DE10136305B4 (de) |
| GB (1) | GB2368987A (de) |
| SG (1) | SG109454A1 (de) |
| TW (1) | TW511334B (de) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3414373B2 (ja) * | 2000-07-26 | 2003-06-09 | 株式会社村田製作所 | 弾性表面波装置 |
| US20090051244A1 (en) * | 2005-06-30 | 2009-02-26 | Takuya Owaki | Surface Acoustic Wave (SAW) Device |
| DE102005045638B4 (de) * | 2005-09-23 | 2017-02-02 | Epcos Ag | Mit Oberflächenwellen arbeitender Wandler |
| US7576471B1 (en) | 2007-09-28 | 2009-08-18 | Triquint Semiconductor, Inc. | SAW filter operable in a piston mode |
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| US12065236B2 (en) * | 2020-01-23 | 2024-08-20 | Enterprise Science Fund, Llc | Systems and methods for active control of surface drag using intermittent or variable actuation |
| US11905983B2 (en) | 2020-01-23 | 2024-02-20 | Deep Science, Llc | Systems and methods for active control of surface drag using electrodes |
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Family Cites Families (37)
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| JPS5610724A (en) | 1979-07-09 | 1981-02-03 | Toshiba Corp | Elastic surface wave transducer |
| JPS5884517A (ja) | 1981-11-16 | 1983-05-20 | Toshiba Corp | 弾性表面波トランスジユ−サ |
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| JP2001267879A (ja) | 2000-03-15 | 2001-09-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 弾性表面波フィルタ |
| JP3436246B2 (ja) | 2000-05-17 | 2003-08-11 | 松下電器産業株式会社 | 弾性表面波フィルタ及びこれを用いた通信機器 |
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| JP2002330048A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 弾性表面波フィルタ及びこれを用いた通信機器 |
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| DE60231585D1 (de) * | 2001-10-16 | 2009-04-30 | Panasonic Corp | Interdigitalwandler, akustisches Oberflächenwellenfilter und Funkkommunikationsvorrichtung |
-
2000
- 2000-08-10 JP JP2000242884A patent/JP3414373B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-06-22 SG SG200103826A patent/SG109454A1/en unknown
- 2001-06-22 US US09/887,173 patent/US6841918B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-22 TW TW090115230A patent/TW511334B/zh active
- 2001-07-12 GB GB0117038A patent/GB2368987A/en not_active Withdrawn
- 2001-07-25 KR KR10-2001-0044901A patent/KR100397743B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-26 DE DE10136305A patent/DE10136305B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-26 CN CNB011243805A patent/CN1162963C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-11-18 US US10/993,299 patent/US20050088057A1/en not_active Abandoned
- 2004-11-18 US US10/993,298 patent/US6960866B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2368987A (en) | 2002-05-15 |
| GB0117038D0 (en) | 2001-09-05 |
| KR20020010511A (ko) | 2002-02-04 |
| DE10136305B4 (de) | 2008-12-04 |
| US6841918B2 (en) | 2005-01-11 |
| CN1162963C (zh) | 2004-08-18 |
| US6960866B2 (en) | 2005-11-01 |
| US20020033650A1 (en) | 2002-03-21 |
| US20050088058A1 (en) | 2005-04-28 |
| KR100397743B1 (ko) | 2003-09-13 |
| TW511334B (en) | 2002-11-21 |
| CN1338821A (zh) | 2002-03-06 |
| JP3414373B2 (ja) | 2003-06-09 |
| JP2002111429A (ja) | 2002-04-12 |
| SG109454A1 (en) | 2005-03-30 |
| US20050088057A1 (en) | 2005-04-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
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