Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras Das Hauptpatent Nr.403.475 betrifft eine Be- lichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegel reflexkameras, die dadurch gekennzeichnet ist, dass durch integrierende Teilmessung die Belichtungsmes sung durch Ausspiegelung von Sucherstrahlen auf lichtempfindliche Empfänger erfolgt.
Der lichtempfindliche Empfänger, vorzugsweise ein Photowiderstand, ist gemäss der Ausführung im Hauptpatent mindestens an einer der Seitenflächen einer Platte, zu der sich die Prismen zusammensetzen, mit oder ohne Luftabstand angeordnet. Soll diese Platte zur Erzielung einer geringen Bauhöhe der Kamera flach gehalten werden, so kann der Keilwin kel a der Prismen gerade so klein gewählt werden, dass der Messstrahl nach Reflexion an der teilver- spiegelten Hypotenusenfläche an seiner Eintrittsflä- ehe noch totalreflektiert wird.
Dann tritt jedoch an der Seitenfläche der Platte, der der Photowiderstand zugeordnet ist, nochmals Totalreflexion ein, sodass der Photowiderstand zur Vermeidung von Lichtver lusten angekittet werden muss. Der Photowiderstand kann dann nur zusammen mit dem Messprisma, ver bunden mit hohem Aufwand, ausgewechselt werden.
Aufgabe der Erfindung ist, die Totalreflexion von Messstrahlen an der dem Photowiderstand zugeord neten Seitenfläche der Platte zu verhindern, ohne den Photowiderstand anzukitten.
Erfindungsgemäss ist diese Aufgabe dadurch ge löst, dass die Seitenfläche (n) der Platte, die einem Photowiderstand mit Luftabstand zugeordnet ist (sind), als Rasterfläche (n) mit prismatischen Erhe bungen ausgebildet ist (sind). Daraus ergibt sich der Vorteil, dass keine das Messergebnis beeinflussenden Lichtverluste durch Totalreflexion eintreten, aber gleichzeitig der Photowiderstand unabhängig vom Suchersystem ausgewechselt werden kann.
Anhand von Ausführungsbeispielen ist der Erfin dungsgegenstand näher dargestellt. Dabei ist auf alle Einzelheiten verzichtet worden, die mit dem Gegen stand der Erfindung nicht unmittelbar in Zusammen hang stehen.
Es zeigen: Fig. 1 :die Anordnung einer aus mehreren Spie gelprismen bestehenden Platte innerhalb des Sucher strahlenganges; Fig. 2 die Anordnung einer aus zwei Spiegelpris men zusammengesetzten Platte innerhalb des Sucher strahlenganges.
Der Strahlengang einer an sich bekannten Spie gelreflexsuchereinrichtung verläuft vom Aufnahme objektiv 1 über den Reflexspiegel 2 und die Bild feldlinsen 3 und 4 zum Pentadachkantprisma 5 und durch das Okular 6 in den Augenpunkt 7. Weiter be findet sich im Strahlengang zwischen Bildfeldlinse 4 und Pentadachkantprisma 5 eine aus Spiegelprismen 8, 9 und 10 zusammengesetzte planparallele Platte 11 mit einer Grundfläche 14. Die Höhe der Platte 11 wird bestimmt durch den Keilwinkel a der Spiegel prismen 8 und 10. Die Seitenflächen 15 und 16 der Platte 11 sind als Rasterflächen mit prismatischen Erhebungen 17 ausgebildet. Den Seitenflächen 15 und 16 sind Photowiderstände 12 und 13 mit Luftab stand zugeordnet.
Die Kittstellen der Spiegelprismen 8, 9 und 10 sind mit einem teildurchlässigen Belag versehen.
Die Wirkungsweise der Einrichtung gemäss Fig. 1 ist so, dass ein Teil der in die planparallele Platte 11 eintretenden Sucherstrahlen an den teilverspiegelten Hypotenusenflächen der Spiegelprismen 8 und 10 reflektiert wird. Infolge des gewählten Keilwinkels a werden diese Strahlen innerhalb der Platte 11 an der Grundfläche 14 totalreflektiert und zu den Seitenflä chen 15 und 16 gelenkt.
Infolge der prismatischen Struktur dieser Seitenflächen 15 und 16 findet keine Totalreflexion statt und alle auftreffenden Strahlen werden den Photowiderständen 12 und 13 zur Licht messung zugeleitet.
In dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 ist eine keilförmige Platte 18 zwischen Bildfeldlinse 4 und Pentadachkantprisma 5 angeordnet, die aus zwei keilförmigen Prismen 19 und 20 besteht, deren ver kittete Hypotenusenflächen 21 und 22 unter einem Keilwinkel ansteigen und halbdurchlässig verspiegelt sind.
Die keilförmige Platte 18 weist Seitenflächen 23 und 24 und eine Grundfläche 25 auf, wobei die dem Okular 6 zugewendete Seitenfläche 24 als Rasterflä che mit prismatischen Erhebungen 17 ausgebildet ist. Dieser Fläche 24 ist ein Photowiderstand 12 mit Luft abstand zugeordnet.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird ein Teil der in das Prisma 19 eintretenden Sucherstrahlen an den Hypotenusenflächen 21 und 22 abgelenkt, wobei der Keilwinkel a so bemessen ist, dass die gespiegelten Sucherstrahlen an der Grundfläche 25 totalreflektiert werden.
Die an der Spitze des Prismas 19 eintreten den Sucherstrahlen gelangen je zweimal an die halb- verspiegelten Hypotenusenflächen 21 und 22 und die Grundfläche 25, während die im mittleren Teil des Prismas 19 eintretenden Strahlen teilweise auf die Grundfläche 25 zurückgespiegelt werden, um von da nach Totalreflexion direkt auf die Seitenfläche 24 mit prismatischer Struktur und auf den Photowiderstand 12 zu treffen.
Da der Photowiderstand 12 nur an der dem Oku lar 6 zugewendeten Seite der Platte 18 angeordnet ist, kann Falschlicht, das durch das Okular 6 eindringt, nicht zum Photowiderstand 12 gelangen, da es bereits an der Seitenfläche 23 der keilförmigen Platte 18, die mattschwarz lackiert ist, absorbiert wird. Paraxiale Strahlen, die durch das Okular 6 eindringen, werden an der Grundfläche 25, die noch besonders entspie gelt sein kann, auf natürliche Weise reflektiert.
Exposure measuring device in photographic or cinematographic devices, in particular reflex cameras The main patent No. 403.475 relates to a light measuring device in photographic or cinematographic devices, in particular mirror reflex cameras, which is characterized in that the exposure measurement is carried out by reflecting viewfinder beams onto light-sensitive receivers.
The light-sensitive receiver, preferably a photoresistor, is arranged according to the embodiment in the main patent at least on one of the side surfaces of a plate to which the prisms are assembled, with or without an air gap. If this plate is to be kept flat in order to achieve a low overall height of the camera, the wedge angle a of the prisms can be selected to be just so small that the measuring beam after reflection on the partially mirrored hypotenuse surface is completely reflected on its entry surface.
Then, however, total reflection occurs again on the side surface of the plate to which the photoresistor is assigned, so that the photoresistor must be cemented to avoid losses of light. The photoresistor can then only be exchanged together with the measuring prism, which is very costly.
The object of the invention is to prevent total reflection of measuring beams on the side surface of the plate assigned to the photoresistor without cementing the photoresistor.
According to the invention, this object is achieved in that the side surface (s) of the plate, which is (are) assigned to a photoresistor with an air gap, is (are) designed as a grid surface (s) with prismatic elevations. This has the advantage that there is no loss of light due to total reflection that would affect the measurement result, but at the same time the photoresistor can be replaced independently of the viewfinder system.
The subject of the invention is illustrated in more detail using exemplary embodiments. All details have been omitted that are not directly related to the subject matter of the invention.
1 shows the arrangement of a plate consisting of several mirror prisms within the viewfinder beam path; Fig. 2 shows the arrangement of a plate composed of two Spiegelpris men within the viewfinder beam path.
The beam path of a known mirror reflex viewfinder runs from the recording lens 1 via the reflex mirror 2 and the image field lenses 3 and 4 to the pentagonal prism 5 and through the eyepiece 6 into the eye point 7. Next be found in the beam path between the image field lens 4 and the pentagonal prism 5 Plane-parallel plate 11 composed of mirror prisms 8, 9 and 10 with a base 14. The height of the plate 11 is determined by the wedge angle α of the mirror prisms 8 and 10. The side surfaces 15 and 16 of the plate 11 are designed as grid surfaces with prismatic elevations 17 . The side surfaces 15 and 16 are photoresistors 12 and 13 with Luftab assigned.
The cemented points of the mirror prisms 8, 9 and 10 are provided with a partially permeable coating.
The mode of operation of the device according to FIG. 1 is such that part of the viewfinder rays entering the plane-parallel plate 11 is reflected on the partially mirrored hypotenuse surfaces of the mirror prisms 8 and 10. As a result of the selected wedge angle α, these rays are totally reflected within the plate 11 on the base 14 and directed to the Seitenflä surfaces 15 and 16.
As a result of the prismatic structure of these side surfaces 15 and 16, there is no total reflection and all incident rays are fed to the photoresistors 12 and 13 for light measurement.
In the embodiment of Fig. 2, a wedge-shaped plate 18 is arranged between the image field lens 4 and pentatachometer prism 5, which consists of two wedge-shaped prisms 19 and 20, the ver cemented hypotenuse surfaces 21 and 22 rise at a wedge angle and are semi-transparent mirrored.
The wedge-shaped plate 18 has side surfaces 23 and 24 and a base surface 25, the side surface 24 facing the eyepiece 6 being designed as a raster surface with prismatic elevations 17. This surface 24 is assigned a photoresistor 12 with air gap.
In this exemplary embodiment, some of the viewfinder beams entering prism 19 are deflected at hypotenuse surfaces 21 and 22, the wedge angle a being dimensioned such that the mirrored viewfinder beams are totally reflected on base surface 25.
The viewfinder rays entering at the tip of the prism 19 reach the semi-mirrored hypotenuse surfaces 21 and 22 and the base surface 25 twice each, while the rays entering the middle part of the prism 19 are partially reflected back onto the base surface 25, from there to total reflection to hit the side surface 24 with prismatic structure and the photoresistor 12 directly.
Since the photoresistor 12 is only arranged on the side of the plate 18 facing the eyepiece 6, stray light that penetrates through the eyepiece 6 cannot reach the photoresistor 12, since it is already painted on the side surface 23 of the wedge-shaped plate 18, which is matt black is absorbed. Paraxial rays that penetrate through the eyepiece 6 are reflected in a natural way on the base 25, which can still be particularly anti-reflective.