Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Spiegelreflexkameras Die Erfindung betrifft eine Belichtungsmessein- richtung in photographischen oder kinematographi schen Spiegelreflexkameras mit einem hinter minde stens einer teilverspiegelten Umlenkfläche des Refle- xionsprismas angeordneten lichtempfindlichen Emp fänger.
Es ist bereits bekannt, dass sich der lichtempfind liche Empfänger hinter einer oder mehreren teil- verspiegelten Umlenkflächen eines Reflexionsprismas, vorzugsweise eines Pentaprismas, befindet. Eine der artige Einrichtung hat jedoch den Nachteil, dass auf diese teilverspiegelte Umlenkfläche und damit auf den lichtempfindlichen Empfänger nicht nur Sucher strahlen, sondern auch durch das Okular eintretende Falschlichtstrahlen gelangen, die das Messergebnis verfälschen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Belichtungs messeinrichtung zu schaffen, bei der hinter der teil verspiegelten Umlenkfläche des Reflexionsprismas ausschliesslich das. ausgespiegelte Sucherlicht gemes sen wird.
Erfindungsgemäss ist diese Aufgabe dadurch gelöst, dass der die an ,der teilverspiegelten Um- lenkflache austretenden Sucherstrahlen aufnehmende lichtempfindliche Empfänger geneigt zur Umlenk- fläche angeordnet ist, während im Bereich der durch das, Okular eindringenden,
an der Umlenk- fläche ausgespiegelten Falschlichtstrahlen ein Ab sorptionsblech vorgesehen ist.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist an- hand einer Zeichnung näher dargestellt. Die Abbil dung zeigt ein im Gehäuse einer Spiegelreflexkamera angeordnetes Porro-Prismensystem mit Belichtungs- messeinrichtung.
Im Gehäuse 1 einer Spiegelreflexkamera mit den Bedienungselementen 2, 3 und 4 befindet sich ein Aufnahmeobjektiv 5 und ein um 45 zum Aufnah- mestrahlengang geneigter Reflexspiegel 6, der die auftreffenden Lichtstrahlen zu einer Bildfeldiinse 7 lenkt.
Über der Bildfeldiinse 7 ist ein Porro-Prismen- system angeordnet, das aus den rechtwinkligen Pris men 8 und 9 besteht, wobei die Kathetenfläche 10 des Prismas 9 an einen Teil der Hypotenusenfläche 11 des Prismas 8 anliegt. Hinter der Hypotenusenflä- ehe des Prismas 9 befindet sich ein Okular 12. Das Prisma 8 besitzt Umlenkflächen 13 und 14, wobei die Umlenkfläche 13 teilverspiegelt ist.
Ausserhalb der Umlenkfläche 13 im Gehäuse 1 befindet sich ein Photowiderstand 15, der geneigt zur Umlenkfläche 13, in Richtung der ausgespiegelten Sucherstrahlen angeordnet ist. Ebenfalls geneigt zur Umlenkfläche 13 aber in Richtung der durch das Okular 12 einge tretenen, an der Umlenkfläche 13 ausgespiegelten Falschlichstrahlen, befindet sich ein Absorptions blech 16.
Die Wirkungsweise der Einrichtung ist folgende: Die auf den Reflexspiegel 6 treffenden Lichstrahlen werden zur Bildfeldlinse 7 abgelenkt und treten in das Prisma 8 des Porro-Prismensystems ein.
Wäh rend der Hauptteil der Strahlen an den Umlenkflä- chen 13 und 14 reflektiert, in das Prisma 9 und über dessen Hypotenusenfläche zum Okular 12 gelenkt wird, wird ein Teil der Strahlen an der teilverspiegel ten Umlenkfläche 13 ausgespiegelt und trifft auf den geneigt zur Umlenkfläche 13 angeordneten Photowi derstand 15.
Treten jedoch durch das Okular 12 Falschlichtstrahlen in das Porro-Prismensystem ein, die ebenfalls zu einem Teil an der teilverspiegelten Umlenkfläche 13 ausgespiegelt werden, so geschieht das unter einem solchen Winkel; dass die Falschlicht strahlen alle vom Absorptionsblech 16 aufgenommen werden und das Messergebnis nicht verfälschen.
Exposure measuring device in photographic or cinematographic single-lens reflex cameras The invention relates to an exposure measuring device in photographic or cinematographic single-lens reflex cameras with a light-sensitive receiver arranged behind at least one partially mirrored deflecting surface of the reflection prism.
It is already known that the light-sensitive receiver is located behind one or more partially mirrored deflection surfaces of a reflection prism, preferably a pentaprism. A device of this type has the disadvantage, however, that not only see viewers radiate onto this partially mirrored deflecting surface and thus onto the light-sensitive receiver, but also stray light rays entering through the eyepiece that falsify the measurement result.
The object of the invention is to create an exposure measuring device in which only the reflected light from the viewfinder is measured behind the partially mirrored deflecting surface of the reflection prism.
According to the invention, this object is achieved in that the light-sensitive receiver receiving the viewfinder beams exiting at the partially mirrored deflecting surface is arranged inclined to the deflecting surface, while in the area of the
an absorption plate is provided on the deflecting surface reflected out false light rays.
An exemplary embodiment of the invention is shown in more detail using a drawing. The illustration shows a Porro prism system with an exposure metering device arranged in the housing of a reflex camera.
In the housing 1 of a reflex camera with the operating elements 2, 3 and 4 there is a recording lens 5 and a reflex mirror 6 which is inclined at 45 to the recording beam path and which directs the incident light rays to an image field lens 7.
A Porro prism system is arranged above the image field lens 7 and consists of the right-angled prisms 8 and 9, the cathetus surface 10 of the prism 9 resting against part of the hypotenuse surface 11 of the prism 8. An eyepiece 12 is located behind the hypotenuse surface of the prism 9. The prism 8 has deflection surfaces 13 and 14, the deflection surface 13 being partially mirrored.
Outside the deflecting surface 13 in the housing 1 there is a photoresistor 15 which is inclined to the deflecting surface 13 in the direction of the reflected viewfinder beams. An absorption plate 16 is also inclined to the deflecting surface 13 but in the direction of the false light rays which have entered through the eyepiece 12 and which are reflected out at the deflecting surface 13.
The mode of operation of the device is as follows: The light rays striking the reflective mirror 6 are deflected to the image field lens 7 and enter the prism 8 of the Porro prism system.
While the main part of the rays is reflected on the deflecting surfaces 13 and 14, is directed into the prism 9 and via its hypotenuse surface to the eyepiece 12, some of the rays are reflected on the partially mirrored deflecting surface 13 and hit the inclined to the deflecting surface 13 arranged photoresist 15.
However, if stray light rays enter the Porro prism system through the eyepiece 12, which rays are also partially reflected on the partially mirrored deflecting surface 13, this happens at such an angle; that the false light rays are all absorbed by the absorption plate 16 and do not falsify the measurement result.