CH427493A - Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras - Google Patents

Description

      Belichtungsmesseinrichtung    in photographischen oder     kinematographischen    Geräten,  insbesondere     Spiegelreflexkameras       Das Hauptpatent     Nr.403.475    betrifft eine     Be-          lichtungsmesseinrichtung    in photographischen oder  kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegel  reflexkameras, die dadurch gekennzeichnet ist, dass  durch integrierende Teilmessung die Belichtungsmes  sung durch     Ausspiegelung    von Sucherstrahlen auf  lichtempfindliche Empfänger erfolgt.  



  Der lichtempfindliche Empfänger, vorzugsweise  ein Photowiderstand, ist gemäss der Ausführung im  Hauptpatent mindestens an einer der Seitenflächen  einer Platte, zu der sich die Prismen zusammensetzen,  mit oder ohne Luftabstand angeordnet. Soll diese  Platte zur Erzielung einer geringen Bauhöhe der  Kamera flach gehalten werden, so kann der Keilwin  kel a der Prismen gerade so klein gewählt werden,  dass der Messstrahl nach Reflexion an der     teilver-          spiegelten        Hypotenusenfläche    an seiner     Eintrittsflä-          ehe    noch totalreflektiert wird.

   Dann tritt jedoch an  der Seitenfläche der Platte, der der Photowiderstand  zugeordnet ist, nochmals     Totalreflexion        ein,    sodass  der Photowiderstand zur Vermeidung von Lichtver  lusten     angekittet    werden muss. Der Photowiderstand  kann dann nur zusammen mit dem Messprisma, ver  bunden mit hohem Aufwand, ausgewechselt werden.  



  Aufgabe der     Erfindung    ist, die     Totalreflexion    von  Messstrahlen an der dem Photowiderstand zugeord  neten Seitenfläche der Platte zu verhindern, ohne den  Photowiderstand     anzukitten.     



  Erfindungsgemäss ist diese Aufgabe dadurch ge  löst, dass die Seitenfläche (n) der Platte, die einem  Photowiderstand mit Luftabstand zugeordnet ist  (sind), als Rasterfläche (n) mit prismatischen Erhe  bungen ausgebildet ist (sind). Daraus ergibt sich der       Vorteil,    dass keine das Messergebnis     beeinflussenden     Lichtverluste durch Totalreflexion eintreten, aber    gleichzeitig der Photowiderstand unabhängig vom  Suchersystem ausgewechselt werden kann.  



  Anhand von Ausführungsbeispielen ist der Erfin  dungsgegenstand näher dargestellt. Dabei ist auf alle  Einzelheiten verzichtet worden, die mit dem Gegen  stand der Erfindung nicht unmittelbar in Zusammen  hang stehen.  



  Es zeigen:       Fig.    1 :die Anordnung einer aus mehreren Spie  gelprismen bestehenden Platte innerhalb des Sucher  strahlenganges;       Fig.    2 die Anordnung einer aus zwei Spiegelpris  men zusammengesetzten Platte innerhalb des Sucher  strahlenganges.  



  Der Strahlengang einer an sich bekannten Spie  gelreflexsuchereinrichtung verläuft vom Aufnahme  objektiv 1 über den Reflexspiegel 2 und die Bild  feldlinsen 3 und 4 zum     Pentadachkantprisma    5 und  durch das Okular 6 in den Augenpunkt 7. Weiter be  findet sich im Strahlengang zwischen     Bildfeldlinse    4  und     Pentadachkantprisma    5 eine aus Spiegelprismen  8, 9 und 10 zusammengesetzte planparallele Platte 11  mit einer Grundfläche 14. Die Höhe der Platte 11  wird bestimmt durch den Keilwinkel a der Spiegel  prismen 8 und 10. Die Seitenflächen 15 und 16 der  Platte 11 sind als Rasterflächen mit prismatischen  Erhebungen 17 ausgebildet. Den Seitenflächen 15  und 16 sind Photowiderstände 12 und 13 mit Luftab  stand zugeordnet.

   Die Kittstellen der Spiegelprismen  8, 9 und 10 sind mit einem teildurchlässigen Belag  versehen.  



  Die Wirkungsweise der Einrichtung gemäss     Fig.    1  ist so, dass ein Teil der in die planparallele Platte 11       eintretenden    Sucherstrahlen an den     teilverspiegelten          Hypotenusenflächen    der Spiegelprismen 8 und 10  reflektiert wird. Infolge des gewählten Keilwinkels a      werden diese     Strahlen        innerhalb    der Platte 11 an der       Grundfläche    14 totalreflektiert und zu den Seitenflä  chen 15 und 16 gelenkt.

   Infolge der prismatischen  Struktur dieser Seitenflächen 15 und 16 findet keine  Totalreflexion statt und     alle        auftreffenden        Strahlen     werden den Photowiderständen 12 und 13 zur Licht  messung     zugeleitet.     



  In dem     Ausführungsbeispiel    nach     Fig.    2     ist    eine  keilförmige Platte 18     zwischen        Bildfeldlinse    4 und       Pentadachkantprisma    5 angeordnet, die aus     zwei          keilförmigen    Prismen 19 und 20 besteht, deren ver  kittete     Hypotenusenflächen    21 und 22 unter einem       Keilwinkel    ansteigen und halbdurchlässig verspiegelt  sind.

   Die keilförmige Platte 18 weist Seitenflächen 23  und 24 und eine     Grundfläche    25 auf, wobei die dem  Okular 6 zugewendete Seitenfläche 24 als Rasterflä  che mit prismatischen Erhebungen 17 ausgebildet ist.  Dieser Fläche 24 ist ein Photowiderstand 12 mit Luft  abstand zugeordnet.  



  Bei diesem     Ausführungsbeispiel    wird ein Teil der       in    das Prisma 19 eintretenden Sucherstrahlen an den       Hypotenusenflächen    21 und 22 abgelenkt, wobei der  Keilwinkel a so bemessen ist, dass die gespiegelten  Sucherstrahlen an der Grundfläche 25     totalreflektiert     werden.

   Die an der Spitze des Prismas 19 eintreten  den Sucherstrahlen gelangen je zweimal an die     halb-          verspiegelten        Hypotenusenflächen    21 und 22 und die  Grundfläche 25, während die im mittleren Teil des       Prismas    19 eintretenden Strahlen teilweise auf die    Grundfläche 25 zurückgespiegelt werden, um von da  nach     Totalreflexion    direkt auf die     Seitenfläche    24 mit  prismatischer Struktur und auf den Photowiderstand  12     zu    treffen.  



  Da der Photowiderstand 12 nur an der dem Oku  lar 6 zugewendeten Seite der Platte 18 angeordnet ist,  kann Falschlicht, das durch das Okular 6     eindringt,          nicht    zum Photowiderstand 12 gelangen, da es bereits  an der     Seitenfläche    23 der     keilförmigen    Platte 18, die  mattschwarz lackiert ist, absorbiert wird.     Paraxiale     Strahlen, die durch das Okular 6 eindringen, werden  an der Grundfläche 25, die noch besonders entspie  gelt sein kann, auf natürliche Weise reflektiert.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH Belichtungsmesseinrichtung in photographischen oder kinematographischen Geräten, insbesondere Spiegelreflexkameras, nach dem Patentanspruch des Hauptpatentes, bei welchen Geräten die Belichtungs messung innerhalb des Sucherstrahlenganges mittels mehrerer Prismen erfolgt, deren teildurchlässige Hypotenusenflächen die Messstrahlen zu mindestens einem lichtempfindlichen Empfänger lenken und die sich zu einer Platte zusammensetzen, dadurch ge kennzeichnet, dass die Seitenflächen (15, 16, 23, 24) der Platte (11, 18), .die einem Photowiderstand (12, 13) mit Luftabstand zugeordnet ist (sind), als Raster fläche (n)

   mit prismatischen Erhebungen (17) ausge bildet ist (sind).