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WO2016163275A1 - 拡散素子、拡散素子用金型及び拡散素子の製造方法 - Google Patents

拡散素子、拡散素子用金型及び拡散素子の製造方法 Download PDF

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WO2016163275A1
WO2016163275A1 PCT/JP2016/060106 JP2016060106W WO2016163275A1 WO 2016163275 A1 WO2016163275 A1 WO 2016163275A1 JP 2016060106 W JP2016060106 W JP 2016060106W WO 2016163275 A1 WO2016163275 A1 WO 2016163275A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
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section
max
concavo
axis
convex structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2016/060106
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English (en)
French (fr)
Inventor
山本　和也
真木夫 西牧
大介 関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nalux Co Ltd
Original Assignee
Nalux Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nalux Co Ltd filed Critical Nalux Co Ltd
Priority to JP2017510942A priority Critical patent/JP6684994B2/ja
Publication of WO2016163275A1 publication Critical patent/WO2016163275A1/ja
Priority to US15/723,570 priority patent/US10393927B2/en
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Ceased legal-status Critical Current

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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0268—Diffusing elements; Afocal elements characterized by the fabrication or manufacturing method
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
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    • B29C33/42—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor characterised by the shape of the moulding surface, e.g. ribs or grooves
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • F21V5/002—Refractors for light sources using microoptical elements for redirecting or diffusing light
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B29C33/42—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor characterised by the shape of the moulding surface, e.g. ribs or grooves
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    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V3/00—Globes; Bowls; Cover glasses
    • F21V3/04—Globes; Bowls; Cover glasses characterised by materials, surface treatments or coatings
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    • G—PHYSICS
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    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0205—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
    • G02B5/021—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures
    • G02B5/0221—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures the surface having an irregular structure

Definitions

  • the present invention relates to a diffusion element (diffuser), a diffusion element mold, and a method for manufacturing the diffusion element.
  • Diffusion elements for realizing smooth radiant intensity distribution and irradiance distribution are used in a wide range of applications such as general lighting such as room lights, light sources for industrial light sensors, and screens for image display.
  • Gaussian diffusing element As a diffusing element for realizing a smooth radiant intensity distribution and irradiance distribution, a Gaussian diffusing element that refracts incident light and realizes a radiant intensity of Gaussian distribution is well known.
  • a Gaussian diffuser has a continuous rough surface with a completely random height distribution.
  • Gaussian diffusion elements can be obtained, for example, by making a rough surface by sanding a base material such as glass as a mold, by transferring irregularities on a plastic material, or by interfering with light from a coherent light source.
  • speckle a random light amount distribution
  • Patent Document 1 a material in which irregularities are transferred onto a plastic material.
  • a diffusion element using a microlens array has been developed instead of a Gaussian diffusion element.
  • a diffusing element using a microlens array can control the radiation intensity distribution by adjusting the shape of the microlens. Moreover, a high transmittance can be obtained as compared with a diffusion element using a rough surface.
  • a diffusing element using a microlens array has the following drawbacks. First, as a result of interference of the wavefronts of the light from the respective microlenses, diffracted waves are generated due to the periodic structure of the array, and unevenness in the radiation intensity distribution and irradiance distribution is likely to occur. Second, when the radius of curvature of the microlens is small, unevenness is likely to occur in the radiation intensity distribution and the irradiance distribution due to diffraction generated in the opening of the microlens itself.
  • Patent Document 2 describes a focusing plate for focusing a camera that suppresses unevenness of diffused luminance due to diffraction derived from the periodic structure of the microlens array by giving the microlens array randomness.
  • Patent Document 3 describes a microlens array diffusing element that suppresses diffraction unevenness derived from the opening of the microlens by providing randomness in the arrangement of microlenses.
  • the technical problem of the present invention is that the radiant intensity distribution is easy to control, the radiant intensity distribution and the irradiance distribution are less likely to be uneven, and a diffusion element that is easy to manufacture, a mold for such a diffusing element, And a method of manufacturing such a diffusion element.
  • the diffusing element according to the first aspect of the present invention is a diffusing element having a concavo-convex structure on a plane, wherein one point on the plane is the origin, the normal of the plane is the z axis, and the plane is within the plane.
  • the x axis is divided into a plurality of sections, nx is a positive integer for identifying the section, the length of the section nx in the x axis direction is Snx, and the maximum value of Snx is Sx ⁇
  • the minimum value of max and Snx as Sx-min
  • 2 ⁇ Sx-max / Sx-min Snx varies randomly between Sx-min and Sx-max
  • the concavo-convex structure is configured such that each of the adjacent sections forms a recess and a protrusion, and the concavo-convex structure in the section nx
  • the difference between the maximum and minimum z-coordinates of dznx, the ratio of dznx and Snx is Anx
  • the maximum value of Anx is Ax-max
  • the minimum value of Anx is Ax-min.
  • the length in the x-axis direction of the section nx is Snx
  • the maximum value of Snx is Sx-max
  • the minimum value of Snx is Sx-min, 2 ⁇ Sx-max / Sx-min
  • Snx varies randomly between Sx-min and Sx-max. Therefore, the diffusing element hardly causes unevenness in the radiation intensity distribution and irradiance distribution in the x-axis direction.
  • the concavo-convex structure of the diffusion element of this aspect is configured such that each of the adjacent sections forms a concave portion and a convex portion, and the difference between the maximum value and the minimum value of the z coordinate of the concavo-convex structure in the section nx is expressed as dznx.
  • the ratio of dznx and Snx is Anx
  • the maximum value of Anx is Ax-max
  • the minimum value of Anx is Ax-min
  • each section of the function of x can be approximated by a smooth function.
  • each section of the function of x can be approximated by a quadratic function.
  • the diffusing element according to the third embodiment of the present aspect defines a y-axis orthogonal to the x-axis in the plane, and is configured so that the shape of the xz section of the concavo-convex structure is the same regardless of the y-coordinate. Yes.
  • the diffusing element defines a y-axis orthogonal to the x-axis in the plane, divides the y-axis into a plurality of sections in the yz cross section, and my is a positive identifying the section.
  • An integer the length of the section my in the y-axis direction is Smy, the maximum value of Smy is Sy-max, and the minimum value of Smy is Sy-min.
  • the length of the section my in the y-axis direction is Smy
  • the maximum value of Smy is Sy-max
  • the minimum value of Smy is Sy-min. 2 ⁇ Sy-max / Sy-min Since Smy varies randomly between Sy-min and Sy-max, unevenness is unlikely to occur in the radiation intensity distribution and irradiance distribution in the y-axis direction.
  • the concavo-convex structure of the diffusing element of the present embodiment is configured such that each of the adjacent sections forms a concave portion and a convex portion, and the difference between the maximum value and the minimum value of the z coordinate of the concavo-convex structure in the section my is calculated.
  • the ratio of dzmy, dzmy and Smy is Amy
  • the maximum value of Amy is Ay-max
  • the minimum value of Amy is Ay-min
  • the method for manufacturing a diffusion element according to the second aspect of the present invention is a method for manufacturing a diffusion element having a concavo-convex structure, wherein one point on the plane of the substrate is the origin, the normal of the plane is the z axis, An x-axis is defined in the plane, the x-axis is divided into a plurality of sections in the xz cross section, nx ′ is a positive integer for identifying the section, and the length of the section nx ′ in the x-axis direction is Snx ′, The maximum value of Snx 'is Sx'-max and the minimum value of Snx' is Sx'-min.
  • the length in the x-axis direction is Snx
  • the difference between the maximum and minimum z-coordinates of the concavo-convex structure in the section nx is dznx
  • the ratio between dznx and Snx is Anx
  • the maximum value of Anx is Ax-max
  • Anx The minimum value is Ax-min, Ax-max / Ax-min ⁇ 1.3
  • the length in the x-axis direction of the section nx ′ of the temporary uneven structure is Snx ′
  • the maximum value of Snx ′ is Sx′-max
  • the minimum value of Snx ′ is Sx′ ⁇ As min 2 ⁇ Sx'-max / Sx '-min
  • the section nx ′ is determined so that Snx ′ randomly varies between Sx′-min and Sx′-max, and the section of the final concavo-convex structure is almost the same as the section of the temporary concavo-convex structure. is there. Therefore, the manufactured diffusion element is less likely to cause unevenness in the radiation intensity distribution and irradiance distribution in the x-axis direction.
  • the difference between the maximum value and the minimum value of the z coordinate of the concavo-convex structure at nx is dznx
  • the ratio between dznx and Snx is Anx
  • the maximum value of Anx is Ax-max
  • the minimum value of Anx is Ax-min.
  • the shape of the xz section is the coordinate of y
  • the temporary concavo-convex structure is formed so as to be the same regardless of the case.
  • the y axis perpendicular to the x axis is defined in the plane, and the y axis Is divided into multiple intervals, my 'is a positive integer that identifies the interval, the length of the interval my' in the y-axis direction is Smy ', the maximum value of Smy' is Sy'-max, the minimum of Smy ' The value is Sy'-min, 2 ⁇ Sy'-max / Sy '-min
  • Smy ′ further includes a step of defining a section my ′ so as to vary randomly between Sy ′ ⁇ min and Sy′-max, and in the step of forming the temporary concavo-convex structure, the x axis and the y axis Forming a temporary concavo-convex structure on the substrate so that each of adjacent sections of the plurality of sections forms a concave
  • the length in the y-axis direction of the section my ′ of the temporary concavo-convex structure is Smy ′
  • the maximum value of Smy ′ is Sy′-max
  • the minimum value of Smy ′ is Sy ′.
  • Smy ′ As -min 2 ⁇ Sy'-max / Sy '-min Smy 'defines an interval my' so that it randomly varies between Sy'-min and Sy'-max, and the final uneven structure interval is almost the same as the temporary uneven structure interval. is there. Accordingly, the manufactured diffusion element is less likely to cause unevenness in the radiation intensity distribution and irradiance distribution in the y-axis direction.
  • the section in the y-axis direction of each of the concave and convex portions of the concavo-convex structure after forming the resin film is the section my
  • the length in the y-axis direction of the section my is Smy
  • the difference between the maximum value and the minimum value of the z coordinate of the uneven structure in the section my is dzmy
  • the ratio between dzmy and Smy is Amy
  • the maximum value of Amy is Ay-max
  • the minimum value of Amy is Ay-min
  • a diffusion element mold according to a third aspect of the present invention is a diffusion element mold provided with a concavo-convex structure on a plane, wherein one point on the plane is the origin and the normal of the plane is the z-axis.
  • the x axis is defined in the plane, the x axis is divided into a plurality of sections in the xz cross section, nx is a positive integer for identifying the section, and the length of the section nx in the x axis direction is Snx, Snx Sx-max is the maximum value and Sx-min is the minimum value of Snx.
  • the diffusion element according to the first aspect can be manufactured by using the diffusion element mold according to this aspect.
  • FIG. 1 It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of injecting the light beam of incoherent parallel light into the diffusion element of the simulation comparative example. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light beam of coherent parallel light inject into the diffusion element of a simulation comparative example. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light beam of coherent parallel light inject into the diffusion element of a simulation comparative example. It is a figure which shows xz cross-sectional shape of the diffusion element of the simulation Example 1.
  • FIG. FIG. 1 shows the irradiance in the evaluation surface at the time of injecting the light beam of incoherent parallel light into the diffusion element of the simulation comparative example. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light beam of coherent parallel light inject into the diffusion element of a simulation comparative example. It is a figure which shows xz cross-
  • FIG. 3 is a diagram showing irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. 3 is a diagram showing irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusing element of the simulation example 1. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light flux of coherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 1.
  • FIG. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light flux of coherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 1.
  • FIG. It is a figure which shows xz cross-sectional shape of the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. 2 It is a figure which shows yz cross-sectional shape of the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light beam of incoherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light beam of incoherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light flux of coherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. 17A It is a figure which shows the irradiance in the evaluation surface at the time of making the light flux of coherent parallel light inject into the diffusion element of the simulation Example 2.
  • FIG. 17A It is a flowchart which shows an example of the manufacturing method of the diffusion element by this invention. It is a figure for demonstrating an example of the manufacturing method of the diffusion element by this invention. It is a flowchart which shows the other example of the manufacturing method of the diffusion element by this invention. It is a figure which shows the relationship between the depth of a temporary uneven structure, and the depth of the final convex structure. It is a figure which shows the cross-sectional shape of the final uneven structure in the point which measured the depth of the final uneven structure of FIG. 17A.
  • FIG. 1 is a view for explaining a diffusing element of the present invention.
  • the diffusion element of the present invention has a concavo-convex structure formed on a plane.
  • An x axis is defined on the plane and a z axis perpendicular to the plane is defined.
  • the coordinate in the z-axis direction on the surface of the concavo-convex structure is represented by f (x).
  • FIG. 1 is a diagram showing an xz cross section of a diffusing element. In FIG. 1, the light beam travels in the z-axis direction from the diffusing element to the air.
  • the angle (acute angle) formed by the light beam and the normal line of the boundary surface is represented by ⁇ .
  • the angle ⁇ is called a tangent angle.
  • the angle (acute angle) formed between the light beam after refraction at the boundary surface and the normal line of the boundary surface is represented by ⁇ ′.
  • the angle ⁇ formed by the refracted light beam and the z-axis can be expressed by the following equation according to Snell's law.
  • n 1 represents the refractive index of the material of the diffusing element. If ⁇ is sufficiently small, the following equation holds.
  • the angle ⁇ is called a diffusion angle.
  • the refraction angle ⁇ is an angle (acute angle) that the light beam after passing through the boundary surface is in the direction perpendicular to the x axis, that is, the plane, so that if the refraction angle ⁇ is constant with respect to x, The passed light travels in a direction determined by the refraction angle ⁇ .
  • the following equation is established from FIG. Therefore, in order to keep the refraction angle ⁇ constant with respect to x, the following equation must be established.
  • the x-axis is divided into sections corresponding to the concave and convex portions of the concavo-convex structure, and f (x) is expressed by a quadratic function section function as follows.
  • the interval function fn (x) is defined as follows.
  • n is a positive integer that identifies a section
  • N is the total number of sections.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an xz cross section of the diffusing element expressed by the interval function fn (x).
  • the width of the interval function fn (x) is an s n, the height, It is. Therefore, the aspect ratio of the section, which is the ratio of the height and width of the section, is And is constant without depending on n.
  • the diffusion angle ⁇ can be expressed by the following equation.
  • equation is materialized.
  • the tangent angle ⁇ and the diffusion angle ⁇ are To define positive and negative values. Therefore, the diffusion angle ⁇ of the interval function fn (x) is in the following range. For this reason, the light distribution of the section function fn (x) is substantially uniform in the above angle range with respect to an arbitrary section n. Therefore, the light distribution of the entire f (x) is also It becomes almost uniform in the angle range.
  • width s n of the section n is constant, variation in illuminance due to diffraction, that is, uneven diffraction occurs due to periodicity. To reduce such diffraction unevenness, it is necessary to fluctuated width s n of the interval n.
  • the maximum value of the width s n of the interval n is s max and the minimum value is s min
  • fluctuated width s n in the range of minimum and maximum values meet, it is possible to reduce the diffraction unevenness due periodicity of the concavo-convex structure.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of the diffusing element of the present invention.
  • a y-axis orthogonal to the x-axis is provided on the plane.
  • the xz cross section of the diffusing element shown in FIG. 3 is the same as that shown in FIG. Further, the shape of the xz cross section of the diffusing element does not change depending on the y coordinate, and is the same for any y coordinate.
  • the diffusion element shown in FIG. 3 has a one-dimensional uneven structure.
  • FIG. 4 is a diagram showing another example of the diffusing element of the present invention.
  • a y-axis orthogonal to the x-axis is provided on the plane.
  • the xz cross section of the diffusing element shown in FIG. 4 is the same as that shown in FIG.
  • the yz section of the diffusing element shown in FIG. 4 is the same as that shown in FIG.
  • the diffusing element shown in FIG. 4 has a two-dimensional uneven structure.
  • the diffusion elements of the following simulation example and simulation comparison example show the xz cross section shown in FIG. 2, and their shapes can be expressed by the formulas (1) and (2).
  • the diffusing element includes a first plane and a second plane that are parallel to each other, and a concavo-convex structure having a shape that can be expressed by the formulas (1) and (2) is formed on the first plane.
  • the material of the diffusion element is acrylic and the refractive index is 1.494.
  • a parallel light beam is incident on the second plane of the diffusing element of the simulation example and the simulation comparison example perpendicularly to the second plane.
  • the parallel light flux is diffused by the concavo-convex structure formed on the first plane.
  • a plane for evaluating irradiance is arranged parallel to the first plane and the second plane at a predetermined distance from the diffusing element in the z-axis direction.
  • a surface for evaluating the irradiance is referred to as an evaluation surface.
  • the wavelength of the incident light is 550 nm, the output is 1 watt, and the beam diameter is 0.8 mm.
  • the distance from the first surface of the diffusing element to the evaluation surface is 200 mm.
  • the diffusion element of the simulation comparative example has a one-dimensional uneven structure as shown in FIG. That is, the shape of the xz cross section of the diffusing element is expressed by the equations (1) and (2), does not change with the y coordinate, and is the same for any y coordinate.
  • FIG. 5 is a diagram showing an xz cross-sectional shape of the diffusion element of the simulation comparative example.
  • the horizontal axis in FIG. 5 represents the x coordinate, and the vertical axis in FIG. 5 represents the coordinate.
  • FIG. 6A is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusion element of the simulation comparative example.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 6B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusing element of the simulation comparative example.
  • the horizontal axis in FIG. 6B represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 6B represents the irradiance.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element
  • 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter.
  • the angle range of the diffusion angle in the xz cross section of the simulation comparative example is ⁇ 10.5 degrees. Therefore, the width in the x-axis direction of the irradiation region on the evaluation surface is calculated as follows. The above numerical values substantially coincide with the width in the x-axis direction of the irradiation region in FIG. 6B.
  • the incident light beam is diffused into a light beam having a substantially uniform irradiance in a line shape by the diffusion element of the simulation comparative example.
  • FIG. 7A is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of coherent parallel light is incident on the diffusion element of the simulation comparative example.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 7B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a coherent beam of parallel light is incident on the diffusion element of the simulation comparative example.
  • the horizontal axis of FIG. 7B represents the x coordinate
  • the vertical axis of FIG. 7B represents the relative intensity of irradiance.
  • the relative intensity was determined so that the peak value of irradiance was 1.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element, and 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter.
  • diffraction occurs due to the periodic uneven structure of the diffusing element of the simulation comparative example, and a peak of the radiation intensity and a region where the radiation intensity is 0 are generated on the evaluation surface.
  • Simulation Example 1 The diffusion element of the simulation example 1 has a one-dimensional uneven structure shown in FIG. That is, the shape of the xz cross section of the diffusing element is expressed by the equations (1) and (2), does not change with the y coordinate, and is the same for any y coordinate.
  • equation (2) The parameters of equation (2) are as follows.
  • A 0.974 (um) 5.0 (um) ⁇ s n ⁇ 15.0 (um) s n has a different value for each section n, and its distribution is a uniform distribution from 5 ⁇ m to 15 ⁇ m.
  • a pseudo-random number sequence prepared in a programming language was used to generate a uniform distribution. In the present embodiment, the following relationship is established, where the upper and lower limits of s n are s max and s min .
  • FIG. 8 is a diagram showing an xz cross-sectional shape of the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. The horizontal axis in FIG. 8 represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 8 represents the z coordinate.
  • FIG. 9A is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when an incoherent parallel light beam is incident on the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. The unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 9B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. 6B represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 9B represents the irradiance.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element, and 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter.
  • the angle range of the diffusion angle in the xz cross section of the simulation example 1 is ⁇ 10.5 degrees. Therefore, the width in the x-axis direction of the irradiation region on the evaluation surface is calculated as follows. The above numerical values substantially coincide with the width in the x-axis direction of the irradiation region in FIG. 9B.
  • the incident light beam is diffused into a light beam having a substantially uniform irradiance on the evaluation surface by the diffusion element of the simulation example 1.
  • FIG. 10A is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a coherent parallel light beam is incident on the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. The unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 10B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a coherent parallel light beam is incident on the diffusing element of the simulation example 1.
  • FIG. The horizontal axis of FIG. 10B represents the x coordinate
  • the vertical axis of FIG. 10B represents the relative intensity of irradiance. The relative intensity was determined so that the peak value of irradiance was 1.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element, and 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter.
  • the irradiance distribution on the evaluation surface by the diffusing element of the simulation example 1 has a smaller variation than the simulation comparative example shown in FIGS. 7A and 7B.
  • the diffusion element of the simulation example 2 has a two-dimensional uneven structure shown in FIG. That is, the shape of the xz cross section of the diffusing element is expressed by the equations (1) and (2), and the function g (y) representing the shape of the yz cross section of the diffusing element has the y axis on the concave and convex portions of the concavo-convex structure.
  • the function g (y) representing the shape of the yz cross section of the diffusing element has the y axis on the concave and convex portions of the concavo-convex structure.
  • m is a positive integer that identifies the section
  • tm is the length of the section m
  • M is the total number of sections.
  • the parameters of the diffusion element formulas (2) and (5) are as follows.
  • A 2.0 (um)
  • B 2.0 (um) 12.5 (um) ⁇ s n ⁇ 37.5 (um) 12.5 (um) ⁇ t m ⁇ 37.5 (um)
  • s n has a different value for each section n, and its distribution is a uniform distribution from 12.5 ⁇ m to 37.5 ⁇ m.
  • t m has a different value for each section m, and its distribution is a uniform distribution from 12.5 ⁇ m to 37.5 ⁇ m.
  • the pseudo-random number sequence prepared in the programming language was used for the generation of the uniform part.
  • the following relationship is established, where the upper and lower limits of s n are s max and s min .
  • the following relationship is established, where the upper and lower limits of tn are tmax and tmin .
  • FIG. 11A is a diagram showing an xz cross-sectional shape of the diffusing element of the simulation example 2.
  • FIG. The horizontal axis in FIG. 11A represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 11A represents the z coordinate.
  • FIG. 11B is a diagram showing a yz cross-sectional shape of the diffusing element of the simulation example 2.
  • the horizontal axis in FIG. 11B represents the y coordinate, and the vertical axis in FIG. 11B represents the z coordinate.
  • FIG. 12A is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusing element of the simulation example 2.
  • FIG. The unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 12B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a light beam of incoherent parallel light is incident on the diffusion element of the simulation example 2.
  • FIG. The horizontal axis in FIG. 12B represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 12B represents the irradiance.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element, and 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the irradiance in FIG. 12B is a value at a position corresponding to a position where the y coordinate of the y axis of the diffusing element is zero.
  • the unit of irradiance is watts / square centimeter.
  • the angle range of the diffusion angle in the xz cross section of the simulation example 2 is ⁇ 8.76 degrees. Therefore, the width in the x-axis direction of the irradiation region on the evaluation surface is calculated as follows. The above numerical values substantially coincide with the width in the x-axis direction of the irradiation region in FIG. 12B.
  • the incident light beam is diffused into a substantially uniform irradiance light beam on the evaluation surface by the diffusing element of the simulation example 2.
  • FIG. 13A is a diagram illustrating the irradiance in the x-axis direction on the evaluation surface when a coherent parallel light beam is incident on the diffusing element of the simulation example 2.
  • FIG. The unit of irradiance is watts / square centimeter and is expressed in concentration.
  • FIG. 13B is a diagram showing the irradiance on the evaluation surface when a coherent parallel light beam is incident on the diffusing element of the simulation example 2.
  • FIG. The horizontal axis of FIG. 13B represents the x coordinate
  • the vertical axis of FIG. 13B represents the relative intensity of irradiance.
  • the relative intensity was determined so that the peak value of irradiance was 1.
  • the x-axis is the x-axis of the diffusing element, and 0 of the x coordinate corresponds to the center position in the x-axis direction of the concavo-convex structure of the diffusing element.
  • the relative intensity in FIG. 13B is a value at a position corresponding to a position where the y-coordinate of the y-axis of the diffusing element is zero.
  • the irradiance distribution on the evaluation surface by the diffusing element of the simulation example 2 has a smaller variation than the simulation comparative example shown in FIG. 7B.
  • the diffusion element in which the length sn of the section n and the length t m of the section m are dispersed in the expressions (2) and (5) makes the light flux of the coherent parallel light more uniform. It was verified that it diffused into
  • FIG. 14 is a flowchart showing an example of a method for manufacturing a diffusion element according to the present invention.
  • FIG. 15 is a diagram for explaining an example of a method for manufacturing a diffusion element according to the present invention.
  • n ′ is a positive integer that identifies the interval. Moreover, it is defined as follows 'width s n' of interval n.
  • the maximum value of the width s n ′ of the interval n ′ is s max ′ and the minimum value is s min ′
  • the width s n ′ is varied within the range of the minimum value and the maximum value satisfying the above. Specifically, the uniform distribution may be generated using a pseudo-random number sequence prepared in a programming language.
  • a y-axis orthogonal to the x-axis is defined on the substrate surface, and a section m ′ is defined as the following range.
  • m ′ is a positive integer that identifies the interval. Moreover, it is defined as follows 'width t m' of segment m.
  • the maximum value of the width t m ′ of the section m ′ is t max ′ and the minimum value is t min ′
  • the width t m ′ is varied within the range of the minimum value and the maximum value satisfying the above.
  • the uniform distribution may be generated using a pseudo-random number sequence prepared in a programming language.
  • step S1020 of FIG. 14 a resist pattern is formed so that the resist remains in every other section on the substrate surface.
  • FIG. 15A is a diagram showing the substrate before the resist is applied.
  • FIG. 15B shows the substrate and the resist after the resist pattern is formed.
  • step S1030 of FIG. 14 etching is performed to a predetermined depth so that each of the adjacent sections forms a concave portion and a convex portion.
  • the uneven structure of the substrate thus formed is also referred to as a temporary uneven structure.
  • FIG. 15C is a diagram showing a temporary concavo-convex structure of the substrate after etching.
  • step S1040 of FIG. 14 a resin is coated on the surface of the temporary concavo-convex structure by spin coating to form a concavo-convex structure made of resin.
  • the concavo-convex structure made of the resin thus formed is also referred to as a final concavo-convex structure.
  • FIG. 15D is a diagram showing a final uneven structure after the resin is coated on the temporary uneven structure of the substrate.
  • a resin is coated on the surface of the temporary concavo-convex structure by spin coating, the shape of the final concavo-convex structure becomes a smooth curved shape due to the fluidity of the resin.
  • the shape of the final concavo-convex structure is determined by the width and depth of the temporary concavo-convex structure section, the properties of the resin to be coated, and the film thickness.
  • the properties of the resin are mainly flowability and viscosity.
  • the film thickness of the resin can be determined by the rotation speed of the spinner. The relationship between the width and depth of the section of the temporary concavo-convex structure and the film thickness of the resin and the shape of the final concavo-convex structure will be described in detail later.
  • FIG. 16 is a flowchart showing another example of the manufacturing method of the diffusing element according to the present invention.
  • a mold having a concavo-convex structure is manufactured from an concavo-convex structure made of resin by electroforming.
  • FIG. 15 (e) is a view showing a mold having an uneven structure manufactured by electroforming.
  • step S2060 of FIG. 16 a diffusion element is mass-produced using a mold.
  • the relationship between the shape of the final concavo-convex structure, the width and depth of the temporary concavo-convex structure section, and the resin film thickness will be described.
  • a so-called binary lattice having a constant section length was used as a temporary uneven structure, and the resin was coated on the binary lattice by spin coating.
  • the length of a certain section is called a pitch.
  • the material of the temporary concavo-convex structure is silicon
  • the resin coated by spin coating is a photoresist (trade name (AZ1500)).
  • the rotation speed of the spinner is 1000 rpm.
  • FIG. 17A is a diagram showing the relationship between the temporary concavo-convex structure, that is, the depth of the binary lattice, and the final concavo-convex structure, that is, the depth of the lattice after the resin coating.
  • the horizontal axis of FIG. 17A represents the depth of the temporary uneven structure
  • the vertical axis of FIG. 17A represents the depth of the final uneven structure.
  • the film thickness of the coated resin is 3.2 micrometers.
  • the solid line in FIG. 17A represents the relationship between the depth of the temporary concavo-convex structure when the pitch is 28.15 micrometers and the depth of the final convex structure
  • the dotted line in FIG. 17A is the case where the pitch is 56.3 micrometers.
  • the depth of the final uneven structure increases in proportion to the depth of the temporary uneven structure regardless of the pitch. If the depth of the temporary concavo-convex structure is the same, the depth of the final concavo-convex structure increases according to the pitch.
  • FIG. 17B is a diagram showing a cross-sectional shape of the final concavo-convex structure at the point where the depth of the final concavo-convex structure in FIG. 17A was measured.
  • This cross-sectional shape corresponds to, for example, the xz cross-sectional shape shown in FIG.
  • Each cross-sectional shape of FIG. 17B is a smooth curved line, and each of the concave section and the convex section can be approximated by a quadratic function.
  • the length of the section of the temporary concavo-convex structure, that is, the pitch, and the length of the section of the final concavo-convex structure, that is, the pitch are the same.
  • FIG. 18 is a diagram showing the relationship between the length of the section of the temporary uneven structure, that is, the pitch of the binary lattice and the aspect ratio of the final uneven structure.
  • the aspect ratio of the final concavo-convex structure is the ratio of the depth and pitch of the final concavo-convex structure.
  • the data used in FIG. 18 is the same as the data used in FIG. 17A.
  • the film thickness of the coated resin is 3.2 micrometers. When the binary grating depth is 2.5 micrometers, the maximum and minimum aspect ratios are 0.022 and 0.019, and the ratio between the maximum and minimum values is 1.16. .
  • the maximum and minimum values of the aspect ratio are 0.017 and 0.015, and the ratio between the maximum and minimum values is 1.13.
  • the maximum and minimum aspect ratios are 0.01 and 0.01, and the ratio between the maximum and minimum values is 1.0.
  • the binary grating depth is 1.0 micrometer
  • the maximum and minimum aspect ratios are 0.005 and 0.003
  • the ratio between the maximum and minimum values is 1.67.
  • the ratio between the maximum value and the minimum value of the aspect ratio is less than 1.2.
  • FIG. 19 is a diagram showing the relationship between the length of the section of the temporary concavo-convex structure, that is, the pitch of the binary lattice and the aspect ratio of the final concavo-convex structure.
  • the film thickness of the coated resin is 1.38 micrometers.
  • the maximum and minimum aspect ratios are 0.033 and 0.028, and the ratio between the maximum and minimum values is 1.18. .
  • the binary grating depth is 0.95 micrometers
  • the maximum and minimum aspect ratios are 0.022 and 0.019, and the ratio between the maximum and minimum values is 1.16.
  • the ratio between the maximum value and the minimum value of the aspect ratio is smaller than 1.2.
  • the cross-sectional shape corresponding to the xz cross-sectional shape is a smooth curved shape, and each of the concave and convex sections can be approximated by a quadratic function.
  • the final relief structure is obtained.
  • the ratio of the maximum value and the minimum value of the aspect ratio of the final concavo-convex structure is smaller than 1.2 regardless of the length and depth of the temporary concavo-convex structure section.
  • the aspect ratio of the final concavo-convex structure is substantially constant means that the depth of the final concavo-convex structure is substantially proportional to the pitch of the temporary concavo-convex structure. Therefore, the aspect ratio of the section of the final concavo-convex structure is also substantially constant.
  • the x-axis is determined on the glass substrate, and the section n ′ in the x-axis direction is determined.
  • the section in the y-axis direction was not determined.
  • the refractive index of the glass used for the glass substrate is 1.457 for a wavelength of 0.66 micrometers.
  • a temporary concavo-convex structure After forming a resist pattern on the substrate surface in accordance with steps S1020 and S1030 in FIG. 14, an etching process with a depth of 3.1 micrometers was performed to form a temporary concavo-convex structure.
  • the surface of the temporary concavo-convex structure was coated with OEBR1000 (trade name), which is an acrylic resin, by spin coating to form a final concavo-convex structure.
  • the rotation speed of the spinner is 1000 rpm.
  • the resin film thickness is 3.823 micrometers.
  • the refractive index of the resin is 1.474 for a wavelength of 0.66 micrometers. In this way, a one-dimensional diffusion element as shown in FIG. 3 was manufactured.
  • the ratio between the resin film thickness and the depth of the temporary concavo-convex structure is in the range of 0.5 to 5.
  • the ratio between the depth of the temporary concavo-convex structure and the width s n ′ of the section n ′ is in the range of 0.01 to 5.
  • the depth of the temporary concavo-convex structure is 100 micrometers or less due to the limitation of spin coating.
  • FIG. 20A is a diagram showing an xz cross section of the temporary uneven structure of the diffusion element of the example.
  • the horizontal axis in FIG. 20A represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 20A represents the z coordinate.
  • the z coordinate 0 is determined to be the average value of the z coordinates of the concavo-convex structure.
  • FIG. 20B is a diagram illustrating an xz cross section of the final uneven structure of the diffusion element of the example.
  • the horizontal axis in FIG. 20B represents the x coordinate
  • the vertical axis in FIG. 20B represents the z coordinate.
  • the z coordinate 0 is determined to be the average value of the z coordinates of the concavo-convex structure.
  • the xz cross-sectional shape is a smooth curve
  • each of the concave and convex sections can be approximated by a quadratic function
  • the aspect ratio of each of the concave and convex sections is 0. .104 to 0.121, and the ratio between the maximum value and the minimum value of the aspect ratio of the section is smaller than 1.2.
  • FIG. 21 is a diagram showing the diffusion characteristics of the diffusion element of the example.
  • the horizontal axis in FIG. 21 represents the radiation angle
  • the vertical axis in FIG. 21 represents the relative radiation intensity.
  • the radiation angle corresponds to the diffusion angle described in FIG.
  • the value (%) of the relative radiation intensity is a value with the radiation intensity of incident light as 100%.
  • the broken line in FIG. 21 shows the case where a laser beam of parallel light having a wavelength of 0.66 micrometers is incident perpendicularly to the surface of the glass substrate having a temporary concavo-convex structure before coating with the resin, which is not concavo-convex structure. Indicates diffusion.
  • the distribution of relative radiant intensity by the diffusing element of the example is more uniform than the distribution of relative radiant intensity by the glass substrate having a temporary concavo-convex structure.
  • the depth of the temporary concavo-convex structure is constant at 3.1 micrometers, and the width s n ′ of the section n ′ is uniformly distributed between 5 micrometers and 15 micrometers.
  • the aspect ratio of the section is also uniformly distributed in the same manner as the width s n ′ of the section n ′.
  • the ratio between the maximum value and the minimum value of the aspect ratio of the section of the final concavo-convex structure is smaller than 1.2 as described above.
  • the main reason why the distribution of relative radiant intensity by the diffusing element of the embodiment is more uniform than the distribution of relative radiant intensity by the glass substrate having a temporary concavo-convex structure is the final concavo-convex This is because the aspect ratio of the section of the structure is almost constant.
  • the ratio between the maximum value and the minimum value of the aspect ratio for each section of the final uneven structure is smaller than 1.3.

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Abstract

　放射強度分布の制御がしやすく、放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しにくく、製造が容易な拡散素子を提供する。平面上に凹凸構造を備えた拡散素子であって、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、ｎｘを、区間を識別する正の整数とし、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、　2< Sx-max/ Sx-min であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、　Ax-max/Ax-min < 1.3 である。

Description

拡散素子、拡散素子用金型及び拡散素子の製造方法
　本発明は、拡散素子（ディフューザー）、拡散素子用金型及び拡散素子の製造方法に関する。
　滑らかな放射強度分布や放射照度分布を実現するための拡散素子は、室内灯などの一般照明、工業用光センサの光源、及び画像表示用のスクリーンなど幅広い用途に使用されている。
　滑らかな放射強度分布や放射照度分布を実現するための拡散素子として、入射した光線を屈折させてガウス分布の放射強度を実現するガウス拡散素子が良く知られている。ガウス拡散素子は完全にランダムな高さ分布を備えた連続な粗面を備える。ガウス拡散素子としては、たとえば、ガラスなどの母材を砂掛けにより粗面としたものを金型として、プラスチック材料の上に凹凸を転写したものや、コヒーレント光源からの光を干渉させることで得られるスペックルと呼ばれるランダムな光量分布を露光して形成した形状を備えた母材を金型として、プラスチック材料の上に凹凸を転写したもの（たとえば、特許文献１）などが知られている。これらのガウス拡散素子は、自然で滑らかな放射強度分布や放射照度分布を実現するが、設計の自由度が小さい。また、拡散の角度を広げようとすると透過率が低下する。
　より高い透過率やガウス分布から外れた放射強度分布が要求される用途に対して、ガウス拡散素子の代わりに、マイクロレンズアレイを使用した拡散素子が開発されている。マイクロレンズアレイを使用した拡散素子はマイクロレンズの形状を調整することで放射強度分布を制御することができる。また、粗面を利用した拡散素子と比較して高い透過率を得ることができる。他方、マイクロレンズアレイを使用した拡散素子には以下の欠点がある。第一に、それぞれのマイクロレンズからの光の波面が干渉した結果、その配列の周期構造による回折波が生じ、放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しやすい。第二に、マイクロレンズの曲率半径が小さくなると、マイクロレンズの開口自体で発生する回折により放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しやすい。
　そこで、マイクロレンズの配列、面形状や開口の形状をランダムに変化させることで、干渉や回折によるムラを低減させた拡散素子が提案されている。たとえば、特許文献２には、マイクロレンズの配列にランダム性を持たせることで、マイクロレンズアレイの周期構造由来の回折による拡散輝度のムラを抑制する、カメラのピント合わせ用の焦点板が記載されている。また、特許文献３にはマイクロレンズの配列にランダム性を備えさせることで、マイクロレンズの開口由来の回折ムラを抑制するマイクロレンズアレイ拡散素子が記載されている。
　しかしながら、マイクロレンズアレイを使用した拡散素子の製造においては、マイクロレンズの金型を機械加工やレーザ加工で作成するので、製造コストが高いという問題点がある。また、加工上の制約で拡散素子の大面積化が難しいという問題点がある。
　このように、放射強度分布の制御がしやすく、放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しにくく、製造が容易な拡散素子は開発されていない。
　そこで、放射強度分布の制御がしやすく、放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しにくく、製造が容易な拡散素子に対するニーズがある。
US6462888B2 JPS63-221329 WO2015/182619A1
　したがって、本発明の技術的課題は、放射強度分布の制御がしやすく、放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しにくく、製造が容易な拡散素子、そのような拡散素子用の金型、及びそのような拡散素子の製造方法を提供することである。
　本発明の第１の態様による拡散素子は、平面上に凹凸構造を備えた拡散素子であって、該平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、ｎｘを、区間を識別する正の整数とし、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、
　2< Sx-max/ Sx-min
であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
　Ax-max/Ax-min < 1.3
であるように構成されている。
　本態様の拡散素子においては、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、
　2< Sx-max/ Sx-min
であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらついている。したがって、拡散素子は、ｘ軸方向の放射強度分布や放射照度分布にムラを発生させにくい。
　また、本態様の拡散素子の凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
　Ax-max/Ax-min < 1.3
であるように構成されているので、ｘ軸方向の放射強度分布の制御がしやすい。
　本態様の第１の実施形態の拡散素子においては、該凹凸構造のｚ座標をｘの関数として表した場合に、該ｘの関数の各区間が滑らかな関数で近似できる。
　本態様の第２の実施形態の拡散素子においては、該ｘの関数の各区間が２次関数で近似できる。
　本態様の第３の実施形態の拡散素子は、該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、該凹凸構造のｘｚ断面の形状がｙの座標にかかわらず同じであるように構成されている。
　本態様の第４の実施形態の拡散素子は、該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、yｚ断面において、ｙ軸を複数の区間に分割し、ｍｙを、区間を識別する正の整数とし、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、Smyの最大値をSy-max、Smyの最小値をSy-minとして、
　2< Sy-max/ Sy-min
であり、SmyはSy-minとSy-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間myにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
　Ay-max/Ay-min < 1.3
であるように構成されている。
　本実施形態の拡散素子においては、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、Smyの最大値をSy-max、Smyの最小値をSy-minとして、
　2< Sy-max/ Sy-min
であり、SmyはSy-minとSy-maxとの間でランダムにばらついているので、ｙ軸方向の放射強度分布や放射照度分布にムラが発生しにくい。
　また、本実施形態の拡散素子の凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間myにおける凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
　Ay-max/Ay-min < 1.3
であるように構成されているので、ｙ軸方向の放射強度分布の制御がしやすい。
　本発明の第２の態様による拡散素子の製造方法は、凹凸構造を備えた拡散素子の製造方法であって、基板の平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、nx’を、区間を識別する正の整数とし、区間nx’のｘ軸方向の長さをSnx’、Snx’の最大値をSx’-max、Snx’の最小値をSx’-minとして、
　2< Sx’-max/ Sx’ -min
であり、Snx’はSx’-minとSx’-maxとの間でランダムにばらつくように区間nx’を定めるステップと、
　エッチングプロセスによって、ｘ軸の該複数の区間のうち隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように該基板上に仮の凹凸構造を形成するステップと、
　スピンコーティングによって、該仮の凹凸構造上に樹脂膜を形成するステップであって、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｘ軸方向の区間を区間nx、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
　Ax-max/Ax-min < 1.3
であるように樹脂膜を形成するステップと、を含む。
　本態様の拡散素子の製造方法においては、仮の凹凸構造の区間nx’のｘ軸方向の長さをSnx’、Snx’の最大値をSx’-max、Snx’の最小値をSx’-minとして、
　2< Sx’-max/ Sx’ -min
であり、Snx’はSx’-minとSx’-maxとの間でランダムにばらつくように区間nx’を定めており、最終の凹凸構造の区間は、仮の凹凸構造の区間とほぼ同一である。したがって、製造された拡散素子は、ｘ軸方向の放射強度分布や放射照度分布にムラを発生させにくい。
　本態様の拡散素子の製造方法においては、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｘ軸方向の区間を区間nx、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
　Ax-max/Ax-min < 1.3
であるように樹脂膜を形成するので、製造される拡散素子のｘ軸方向の放射強度分布の制御がしやすい。
　本態様の第１の実施形態の拡散素子の製造方法においては、該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、該仮の凹凸構造を形成するステップにおいて、ｘｚ断面の形状がｙの座標にかかわらず同じであるように該仮の凹凸構造を形成する。
　本態様の第２の実施形態の拡散素子の製造方法においては、該仮の凹凸構造を形成するステップの前に、該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、ｙｚ断面において、ｙ軸を複数の区間に分割し、my’ を、区間を識別する正の整数とし、区間my’のｙ軸方向の長さをSmy’、Smy’の最大値をSy’-max、Smy’の最小値をSy’-minとして、
　2< Sy’-max/ Sy’ -min
であり、Smy’はSy’ -minとSy’-maxとの間でランダムにばらつくように区間my’を定めるステップをさらに含み、該仮の凹凸構造を形成するステップにおいて、ｘ軸及びｙ軸の該複数の区間のうち隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように該基板上に仮の凹凸構造を形成し、該仮の凹凸構造上に樹脂膜を形成するステップにおいて、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｙ軸方向の区間を区間my、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、区間myにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
　Ay-max/Ay-min < 1.3
であるように樹脂膜を形成する。
　本実施形態の拡散素子の製造方法においては、仮の凹凸構造の区間my’のｙ軸方向の長さをSmy’、Smy’の最大値をSy’-max、Smy’の最小値をSy’-minとして、
　2< Sy’-max/ Sy’ -min
であり、Smy’はSy’ -minとSy’-maxとの間でランダムにばらつくように区間my’を定めており、最終の凹凸構造の区間は、仮の凹凸構造の区間とほぼ同一である。したがって、製造される拡散素子は、ｙ軸方向の放射強度分布や放射照度分布にムラを発生させにくい。
　本実施形態の拡散素子の製造方法においては、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｙ軸方向の区間を区間my、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、区間myにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
　Ay-max/Ay-min < 1.3
であるように樹脂膜を形成するので、製造される拡散素子のｙ軸方向の放射強度分布の制御がしやすい。
　本発明の第３の態様による拡散素子用金型は、平面上に凹凸構造を備えた拡散素子用金型であって、該平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、ｎｘを、区間を識別する正の整数とし、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、
　2< Sx-max/ Sx-min
であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
　Ax-max/Ax-min < 1.3
であるように構成されている。
　本態様の拡散素子用金型により、上記の第１の態様の拡散素子を製造することができる。
本発明の拡散素子を説明するための図である。 区間関数ｆｎ（ｘ）で表現された拡散素子のｘｚ断面を示す図である。 本発明の拡散素子の一例を示す図である。 本発明の拡散素子の他の例を示す図である。 シミュレーション比較例の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。 シミュレーション比較例の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション比較例の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション比較例の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション比較例の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例１の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。 、シミュレーション実施例１の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 、シミュレーション実施例１の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例１の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例１の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子のｙｚ断面形状を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 シミュレーション実施例２の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。 本発明による拡散素子の製造方法の一例を示す流れ図である。 本発明による拡散素子の製造方法の一例を説明するための図である。 本発明による拡散素子の製造方法の他の例を示す流れ図である。 仮の凹凸構造の深さと最終の凸構造の深さとの関係を示す図である。 図１７Ａの最終の凹凸構造の深さを測定した点における、最終の凹凸構造の断面形状を示す図である。 仮の凹凸構造の区間の長さ、すなわちバイナリー格子のピッチと最終の凹凸構造のアスペクト比との関係を示す図である。 仮の凹凸構造の区間の長さ、すなわちバイナリー格子のピッチと最終の凹凸構造のアスペクト比との関係を示す図である。 実施例の拡散素子の仮の凹凸構造のｘｚ断面を示す図である。 実施例の拡散素子の最終の凹凸構造のｘｚ断面を示す図である。 実施例の拡散素子の拡散特性を示す図である。
　図１は、本発明の拡散素子を説明するための図である。本発明の拡散素子は、平面上に凹凸構造を形成したものである。平面上にｘ軸を定め、平面に垂直なｚ軸を定める。凹凸構造の表面のｚ軸方向の座標をｆ（ｘ）で表す。図１は、拡散素子のｘｚ断面を示す図である。図１において、光線は、拡散素子から空気へｚ軸方向に進行する。光線が拡散素子と空気との境界面に到達する点において、光線と境界面の法線とがなす角度（鋭角）をθで表す。角度θを接線角と呼称する。境界面において屈折後の光線と境界面の法線とがなす角度（鋭角）をθ’で表す。屈折後の光線がｚ軸となす角度φは、スネルの法則によって、以下の式で表せる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 ここで、ｎ１は、拡散素子の材料の屈折率を表す。θが十分に小さければ、以下の式が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 角度φを拡散角と呼称する。
　屈折角φは、境界面を通過した後の光線がｘ軸、すなわち平面と垂直な方向となす角度（鋭角）であるので、ｘに対して、屈折角φを一定とすれば、拡散素子を通過した光は屈折角φで定まる方向へ進行する。他方、図１から以下の式が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 したがって、ｘに対して、屈折角φを一定とするには以下の式が成立する必要がある。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　ここで、ｘ軸を凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれに対応する区間に分割し、ｆ（ｘ）を以下のように二次関数の区間関数で表現する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
 ここで、区間関数ｆｎ（ｘ）を以下のように定義する。ただし、ｎは区間を識別する正の整数であり、Ｎは区間の総数である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
　図２は、区間関数ｆｎ（ｘ）で表現された拡散素子のｘｚ断面を示す図である。ここで、区間関数ｆｎ（ｘ）の幅は、ｓｎであり、高さは、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 である。したがって、区間の高さと幅との比である区間のアスペクト比は、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 となり、ｎに依存せずに一定となる。
　また、任意の区間ｎに対して以下の式が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 他方、図１において、すでに説明したように、拡散角φは以下の式で表せる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 また、以下の式が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
 ここで、接線角θ及び拡散角φは、
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
 にしたがって正負の値をとるように定義する。したがって、区間関数ｆｎ（ｘ）の拡散角φは以下の範囲となる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013
 このため、区間関数ｆｎ（ｘ）の配光分布は、任意の区間ｎに対して上記の角度範囲でおおむね一様となる。したがって、ｆ（ｘ）全体の配光分布も
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014
 の角度範囲でおおむね一様となる。
　区間ｎの幅ｓｎが一定であると、周期性から回折による照度のばらつき、すなわち回折ムラが生じる。このような回折ムラを低減するには、区間ｎの幅ｓｎをばらつかせる必要がある。区間ｎの幅ｓｎの最大値をｓｍａｘ、最小値をｓｍｉｎとしたとき
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000015
 を満たす最小値及び最大値の範囲内で幅ｓｎをばらつかせることにより、凹凸構造の周期性による回折ムラを低減することができる。
　図３は、本発明の拡散素子の一例を示す図である。平面上にｘ軸と直交するｙ軸を設ける。図３に示した拡散素子のｘｚ断面は、図２に示したものと同様である。また、拡散素子のｘｚ断面の形状は、ｙ座標によって変化せず、任意のｙ座標に対して同一である。このように、図３に示した拡散素子は、一次元の凹凸構造を備えている。
　図４は、本発明の拡散素子の他の例を示す図である。平面上にｘ軸と直交するｙ軸を設ける。図４に示した拡散素子のｘｚ断面は、図２に示したものと同様である。また、図４に示した拡散素子のｙｚ断面も、図２に示したものと同様である。このように、図４に示した拡散素子は、二次元の凹凸構造を備えている。
　ここで、シミュレーションによって拡散素子の性能を検証する。以下のシミュレーション例及びシミュレーション比較例の拡散素子は、図２に示すｘｚ断面を示し、その形状は式（１）及び式（２）で表せる。拡散素子は、互いに平行な第１の平面及び第２の平面を備え、第１の平面に式（１）及び式（２）で表せる形状の凹凸構造が形成されている。また、拡散素子の材料はアクリルであり、屈折率は、１．４９４である。
　シミュレーション例及びシミュレーション比較例の拡散素子の第２の平面から、第２の平面に垂直に平行光の光束を入射させる。平行光の光束は第１の平面に形成された凹凸構造によって拡散される。拡散素子からｚ軸方向に所定の距離をおいて第１の面及び第２の面に平行に、放射照度（irradiance）を評価するための面を配置する。この放射照度を評価するための面を評価面と呼称する。入射させる光の波長は５５０ｎｍ、出力は１ワット、光束径は０．８ｍｍである。また、拡散素子の第１の面から評価面までの距離は２００ｍｍである。
シミュレーション比較例
　シミュレーション比較例の拡散素子は、図３に示すように一次元の凹凸構造を備えている。すなわち、拡散素子のｘｚ断面の形状は、式（１）及び式（２）によって表され、ｙ座標によって変化せず、任意のｙ座標に対して同一である。
　式（２）のパラメータは以下の通りである。
Ａ＝０．９７４（ｕｍ）
ｓｎ＝１０．０（ｕｍ）
ｓｎは、すべての区間ｎについて同一である。
　図５は、シミュレーション比較例の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。図５の横軸はｘ座標を表し、図５の縦軸は座標を表す。
　図６Ａは、シミュレーション比較例の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図６Ｂは、シミュレーション比較例の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図６Ｂの横軸はｘ座標を表し、図６Ｂの縦軸は放射照度を表す。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータである。
　シミュレーション比較例のｘｚ断面における拡散角の角度範囲は、式（３）によると、±１０．５度である。したがって、評価面における照射領域のｘ軸方向の幅は以下のように計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000016
 上記の数値は、図６Ｂの照射領域のｘ軸方向の幅とほぼ一致する。
　図６Ａ及び図６Ｂによれば、シミュレーション比較例の拡散素子によって、入射光束は、ライン状でほぼ一様な放射照度の光束に拡散されている。
　図７Ａは、シミュレーション比較例の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図７Ｂは、シミュレーション比較例の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図７Ｂの横軸はｘ座標を表し、図７Ｂの縦軸は放射照度の相対強度を表す。相対強度は、放射照度のピーク値が１となるように定めた。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータである。
　図７Ａ及び図７Ｂによれば、シミュレーション比較例の拡散素子の周期的な凹凸構造によって、回折が生じ、評価面において、放射強度のピーク及び放射強度が０となる領域が生じている。
シミュレーション実施例１
　シミュレーション実施例１の拡散素子は、図３に示す一次元の凹凸構造を備えている。すなわち、拡散素子のｘｚ断面の形状は、式（１）及び式（２）によって表され、ｙ座標によって変化せず、任意のｙ座標に対して同一である。
　式（２）のパラメータは以下の通りである。
Ａ＝０．９７４（ｕｍ）
５.０（ｕｍ）＜ｓｎ＜１５．０（ｕｍ）
ｓｎは、区間ｎ毎に異なる値を持ち、その分布は５ｕｍから１５ｕｍまでの一様分布である。一様分布の生成にはプログラミング言語に用意された疑似乱数列を用いた。本実施例において、ｓｎの上限及び下限をｓｍａｘ及びｓｍｉｎとして、以下の関係が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000017
　図８は、シミュレーション実施例１の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。図８の横軸はｘ座標を表し、図８の縦軸はｚ座標を表す。
　図９Ａは、シミュレーション実施例１の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図９Ｂは、シミュレーション実施例１の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図６Ｂの横軸はｘ座標を表し、図９Ｂの縦軸は放射照度を表す。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータである。
　シミュレーション実施例１のｘｚ断面における拡散角の角度範囲は、式（３）によると、±１０．５度である。したがって、評価面における照射領域のｘ軸方向の幅は以下のように計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000018
 上記の数値は、図９Ｂの照射領域のｘ軸方向の幅とほぼ一致する。
　図９Ａ及び図９Ｂによれば、シミュレーション実施例１の拡散素子によって、入射光束は、評価面上において、ライン状でほぼ一様な放射照度の光束に拡散されている。
　図１０Ａは、シミュレーション実施例１の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図１０Ｂは、シミュレーション実施例１の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図１０Ｂの横軸はｘ座標を表し、図１０Ｂの縦軸は放射照度の相対強度を表す。相対強度は、放射照度のピーク値が１となるように定めた。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータである。
　図１０Ａ及び図１０Ｂによれば、シミュレーション実施例１の拡散素子による評価面上の放射照度の分布は、図７Ａ及び図７Ｂに示すシミュレーション比較例の場合よりもばらつきが減少している。
シミュレーション実施例２
　シミュレーション実施例２の拡散素子は、図４に示す二次元の凹凸構造を備えている。すなわち、拡散素子のｘｚ断面の形状は、式（１）及び式（２）によって表され、拡散素子のｙｚ断面の形状を表す関数ｇ（ｙ）は、ｙ軸を凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれに対応する区間に分割し、以下のように二次関数の区間関数で表現される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000019
 ただし、ｍは区間を識別する正の整数、ｔｍは区間ｍの長さ、Ｍは区間の総数である。
　拡散素子の式（２）及び式（５）のパラメータは以下の通りである。
Ａ＝２．０（ｕｍ）
Ｂ＝２．０（ｕｍ）
１２．５（ｕｍ）＜ｓｎ＜３７．５（ｕｍ）
１２．５（ｕｍ）＜ｔｍ＜３７．５（ｕｍ）
ｓｎは、区間ｎ毎に異なる値を持ち、その分布は１２．５ｕｍから３７．５ｕｍまでの一様分布である。また、ｔｍは、区間ｍ毎に異なる値を持ち、その分布は１２．５ｕｍから３７．５ｕｍまでの一様分布である。一様分の生成にはプログラミング言語に用意された疑似乱数列を用いた。本実施例において、ｓｎの上限及び下限をｓｍａｘ及びｓｍｉｎとして、以下の関係が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000020
 また、ｔｎの上限及び下限をｔｍａｘ及びｔｍｉｎとして、以下の関係が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000021
　図１１Ａは、シミュレーション実施例２の拡散素子のｘｚ断面形状を示す図である。図１１Ａの横軸はｘ座標を表し、図１１Ａの縦軸はｚ座標を表す。
　図１１Ｂは、シミュレーション実施例２の拡散素子のｙｚ断面形状を示す図である。図１１Ｂの横軸はｙ座標を表し、図１１Ｂの縦軸はｚ座標を表す。
　図１２Ａは、シミュレーション実施例２の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図１２Ｂは、シミュレーション実施例２の拡散素子にインコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図１２Ｂの横軸はｘ座標を表し、図１２Ｂの縦軸は放射照度を表す。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。図１２Ｂの放射照度は、拡散素子のｙ軸のｙ座標が０の位置に相当する位置の値である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータである。
　シミュレーション実施例２のｘｚ断面における拡散角の角度範囲は、式（３）によると、±８．７６度である。したがって、評価面における照射領域のｘ軸方向の幅は以下のように計算される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000022
 上記の数値は、図１２Ｂの照射領域のｘ軸方向の幅とほぼ一致する。
　図１２Ａ及び図１２Ｂによれば、シミュレーション実施例２の拡散素子によって、入射光束は、評価面上において、ほぼ一様な放射照度の光束に拡散されている。
　図１３Ａは、シミュレーション実施例２の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面におけるｘ軸方向の放射照度を示す図である。放射照度の単位は、ワット／平方センチメータであり、濃度で表現されている。
　図１３Ｂは、シミュレーション実施例２の拡散素子にコヒーレントな平行光の光束を入射させた場合の評価面における放射照度を示す図である。図１３Ｂの横軸はｘ座標を表し、図１３Ｂの縦軸は放射照度の相対強度を表す。相対強度は、放射照度のピーク値が１となるように定めた。ｘ軸は、拡散素子のｘ軸であり、ｘ座標の０は、拡散素子の凹凸構造のｘ軸方向の中心位置に相当する。図１３Ｂの相対強度は、拡散素子のｙ軸のｙ座標が０の位置に相当する位置の値である。
　図１３Ｂによれば、シミュレーション実施例２の拡散素子による評価面上の放射照度の分布は、図７Ｂに示すシミュレーション比較例の場合よりもばらつきが減少している。
　上記のシミュレーションによって、式（２）及び式（５）において、区間ｎの長さｓｎ及び区間ｍの長さｔｍをばらつかせた拡散素子は、コヒーレントな平行光の光束をより一様に拡散させることが検証された。
拡散素子の製造方法
　本発明による拡散素子の製造方法について説明する。
　図１４は、本発明による拡散素子の製造方法の一例を示す流れ図である。
　図１５は、本発明による拡散素子の製造方法の一例を説明するための図である。
　図１４のステップＳ１０１０において、基板面上に区間を定める。基板面上にｘ軸を定め、区間ｎ’を以下の範囲とする。ｎ’は区間を識別する正の整数である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000023
 また、区間ｎ’の幅ｓｎ’を以下のように定義する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000024
 区間ｎ’の幅ｓｎ’の最大値をｓｍａｘ’、最小値をｓｍｉｎ’としたとき
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000025
 を満たす最小値及び最大値の範囲内で幅ｓｎ’をばらつかせる。具体的に、プログラミング言語に用意された疑似乱数列を用いて一様分布を生成してもよい。
　基板面上にｘ軸と直交するｙ軸を定め、区間ｍ’を以下の範囲とする。ｍ’は区間を識別する正の整数である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000026
 また、区間ｍ’の幅ｔｍ’を以下のように定義する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000027
 区間ｍ’の幅ｔｍ’の最大値をｔｍａｘ’、最小値をｔｍｉｎ’としたとき
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000028
 を満たす最小値及び最大値の範囲内で幅ｔｍ’をばらつかせる。具体的に、プログラミング言語に用意された疑似乱数列を用いて一様分布を生成してもよい。
　なお、図３に示す１次元の凹凸構造を製造する場合には、ｙ軸方向の区間は定めない。
　図１４のステップＳ１０２０において、基板面上の一つ置きの区間にレジストが残るようにレジストパターンを形成する。
　図１５（ａ）は、レジストを塗布する前の基板を示す図である。
　図１５（ｂ）は、レジストパターンを形成した後の基板及びレジストを示す図である。
　図１４のステップＳ１０３０において、隣接する区間のそれぞれが凹部及び凸部を形成するように所定の深さのエッチングを行う。このように形成した基板の凹凸構造を仮の凹凸構造とも呼称する。
　図１５（ｃ）は、エッチングを行った後の基板の仮の凹凸構造を示す図である。
　図１４のステップＳ１０４０において、仮の凹凸構造の表面にスピンコーティングによって樹脂をコーティングし樹脂による凹凸構造を形成する。このように形成した樹脂による凹凸構造を最終の凹凸構造とも呼称する。
　図１５（ｄ）は、基板の仮の凹凸構造に樹脂をコーティングした後の最終の凹凸構造を示す図である。仮の凹凸構造の表面にスピンコーティングによって樹脂をコーティングすると、樹脂の有する流動性により最終の凹凸構造の形状は、滑らかな曲線状となる。最終の凹凸構造の形状は、仮の凹凸構造の区間の幅、深さ、コーティングする樹脂の性質及び膜厚によって定まる。樹脂の性質は、主に流動性及び粘度である。また、樹脂の膜厚は、スピナーの回転数により決めることができる。仮の凹凸構造の区間の幅、深さ、及び樹脂の膜厚と最終の凹凸構造の形状との関係は後で詳細に説明する。
　図１６は、本発明による拡散素子の製造方法の他の例を示す流れ図である。
　図１６のステップＳ２０１０からステップＳ２０４０は、図１４のステップＳ１０１０からステップＳ１０４０と同じである。
　図１６のステップＳ２０５０において、樹脂による凹凸構造から電鋳によって凹凸構造を備えた金型を製造する。
　図１５（ｅ）は、電鋳によって製造した凹凸構造を備えた金型を示す図である。
　図１６のステップＳ２０６０において、金型を使用して拡散素子を量産する。
　つぎに、最終の凹凸構造の形状と、仮の凹凸構造の区間の幅、深さ、及び樹脂の膜厚との関係について説明する。ここでは、区間の長さが一定の、いわゆるバイナリー格子を仮の凹凸構造として、バイナリー格子上にスピンコーティングによって樹脂をコーティングした。一定の区間の長さをピッチと呼称する。仮の凹凸構造の材料は、シリコンであり、スピンコーティングによってコーティングされる樹脂は、フォトレジスト（商品名（AZ1500））である。スピナーの回転数は、１０００ｒｐｍである。
　図１７Ａは、仮の凹凸構造、すなわちバイナリー格子の深さと最終の凹凸構造、すなわち樹脂コート後の格子の深さとの関係を示す図である。図１７Ａの横軸は仮の凹凸構造の深さを表し、図１７Ａの縦軸は最終の凹凸構造の深さを表す。コーティングされた樹脂の膜厚は、３．２マイクロメータである。図１７Ａの実線は、ピッチが２８．１５マイクロメータの場合の仮の凹凸構造の深さと最終の凸構造の深さとの関係を表し、図１７Ａの点線は、ピッチが５６．３マイクロメータの場合の仮の凹凸構造の深さと最終の凹凸構造の深さとの関係を表す。図１７Ａによれば、ピッチにかかわらず、最終の凹凸構造の深さは、仮の凹凸構造の深さに比例して増加する。また、仮の凹凸構造の深さが同じであれば、最終の凹凸構造の深さは、ピッチにしたがって増加する。
　図１７Ｂは、図１７Ａの最終の凹凸構造の深さを測定した点における、最終の凹凸構造の断面形状を示す図である。この断面形状は、たとえば、図５に示したｘｚ断面形状に相当するものである。図１７Ｂのいずれの断面形状も滑らかな曲線状であり、凹の区間及び凸の区間のそれぞれは２次関数で近似できる。また、図１７Ｂによれば、仮の凹凸構造の区間の長さ、すなわちピッチと最終の凹凸構造の区間の長さ、すなわちピッチとは同じである。
　図１８は、仮の凹凸構造の区間の長さ、すなわちバイナリー格子のピッチと最終の凹凸構造のアスペクト比との関係を示す図である。最終の凹凸構造のアスペクト比とは、最終の凹凸構造の深さとピッチとの比である。図１８で使用したデータは図１７Ａで使用したデータと同じである。コーティングされた樹脂の膜厚は、３．２マイクロメータである。バイナリー格子の深さが２．５マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．０２２及び０．０１９であり、最大値と最小値との比は、１．１６である。バイナリー格子の深さが２．０マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．０１７及び０．０１５であり、最大値と最小値との比は、１．１３である。バイナリー格子の深さが１．５マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．０１及び０．０１であり、最大値と最小値との比は、１．０である。バイナリー格子の深さが１．０マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．００５及び０．００３であり、最大値と最小値との比は、１．６７である。このように、バイナリー格子の深さが１．５、２．０及び２．５マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値と最小値との比は、１．２より小さい。
　図１９は、仮の凹凸構造の区間の長さ、すなわちバイナリー格子のピッチと最終の凹凸構造のアスペクト比との関係を示す図である。コーティングされた樹脂の膜厚は、１．３８マイクロメータである。バイナリー格子の深さが１．４マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．０３３及び０．０２８であり、最大値と最小値との比は、１．１８である。バイナリー格子の深さが０．９５マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値及び最小値は、０．０２２及び０．０１９であり、最大値と最小値との比は、１．１６である。このように、バイナリー格子の深さが０．０９５及び１．４マイクロメータの場合に、アスペクト比の最大値と最小値との比は、１．２より小さい。
　このように、バイナリー格子上にスピンコーティングによって樹脂をコーティングすることによって、ｘｚ断面形状に相当する断面形状が滑らかな曲線状であり、凹の区間及び凸の区間のそれぞれは２次関数で近似できる最終の凹凸構造が得られる。また、仮の凹凸構造の区間の長さ及び深さにかかわらず、最終の凹凸構造のアスペクト比の最大値と最小値との比は１．２より小さい。このように、最終の凹凸構造のアスペクト比がほぼ一定であることは、最終の凹凸構造の深さが、仮の凹凸構造のピッチにほぼ比例することを意味する。したがって、最終の凹凸構造の区間のアスペクト比もほぼ一定となる。
実施例
　最初に実施例の拡散素子の製造方法を説明する。図１４のステップＳ１０１０にしたがって、ガラス基板上にｘ軸を定め、ｘ軸方向の区間ｎ’を定める。区間ｎ’の幅ｓｎ’の最大値をｓｍａｘ’＝１５（マイクロメータ）、最小値をｓｍｉｎ’＝５（マイクロメータ）とし、幅ｓｎ’を最大値と最小値との間で一様に分布させた。ｙ軸方向の区間は定めなかった。ガラス基板に使用したガラスの屈折率は、０．６６マイクロメータの波長に対して１．４５７である。図１４のステップＳ１０２０及びＳ１０３０にしたがって、基板面上にレジストパターンを形成した後、深さ３．１マイクロメータのエッチング加工を行って、仮の凹凸構造を形成した。図１４のステップＳ１０４０にしたがって、仮の凹凸構造の表面に、アクリル樹脂であるOEBR1000（商品名）をスピンコーティングによってコーティングして最終の凹凸構造を形成した。スピナーの回転数は、１０００ｒｐｍである。樹脂膜厚は、３．８２３マイクロメータである。樹脂の屈折率は、０．６６マイクロメータの波長に対して１．４７４である。このようにして、図３に示すような１次元の拡散素子を製造した。
　一般的に、樹脂膜厚と仮の凹凸構造の深さとの比は、０．５から５の範囲である。また、仮の凹凸構造の深さと区間ｎ’の幅ｓｎ’との比は、０．０１から５の範囲である。仮の凹凸構造の深さは、スピンコーティングの制約から１００マイクロメータ以下である。
　図２０Ａは、実施例の拡散素子の仮の凹凸構造のｘｚ断面を示す図である。図２０Ａの横軸はｘ座標を表し、図２０Ａの縦軸はｚ座標を表す。ｚ座標の０は、凹凸構造のｚ座標の平均値となるように定める。
　図２０Ｂは、実施例の拡散素子の最終の凹凸構造のｘｚ断面を示す図である。図２０Ｂの横軸はｘ座標を表し、図２０Ｂの縦軸はｚ座標を表す。ｚ座標の０は、凹凸構造のｚ座標の平均値となるように定める。図２０Ｂによれば、ｘｚ断面形状は滑らかな曲線状であり、凹の区間及び凸の区間のそれぞれは２次関数で近似でき、凹の区間及び凸の区間のそれぞれの区間のアスペクト比は０．１０４から０．１２１の範囲であり、区間のアスペクト比の最大値と最小値との比は、１．２よりも小さい。
　図２１は、実施例の拡散素子の拡散特性を示す図である。図２１の横軸は放射角度を表し、図２１の縦軸は相対放射強度を表す。放射角度は、図１で説明した拡散角に相当する。相対放射強度の値（％）は、入射光の放射強度を１００％とした値である。図２１の破線は、樹脂をコーティングする前の仮の凹凸構造を備えたガラス基板の凹凸構造を備えていない面に垂直に波長０．６６マイクロメータの平行光のレーザ光束を入射させた場合の拡散を示す。図２１の実線は、最終の凹凸構造を備えた実施例の拡散素子の凹凸構造を備えていない面に垂直に波長０．６６マイクロメータの平行光のレーザ光束を入射させた場合の拡散を示す。実施例の拡散素子による相対放射強度の分布は、仮の凹凸構造を備えたガラス基板による相対放射強度の分布と比較して、より一様となっている。
　仮の凹凸構造の深さは、３．１マイクロメータで一定であり、区間ｎ’の幅ｓｎ’は、５マイクロメータと１５マイクロメータの間で一様に分布し、仮の凹凸構造の区間のアスペクト比も区間ｎ’の幅ｓｎ’と同様に一様に分布している。これに対して、最終の凹凸構造の区間のアスペクト比の最大値と最小値との比は、上述のように１．２よりも小さい。したがって、実施例の拡散素子による相対放射強度の分布が、仮の凹凸構造を備えたガラス基板による相対放射強度の分布と比較して、より一様となっている主要な理由は、最終の凹凸構造の区間のアスペクト比がほぼ一定となっているためと考えられる。
　一般的に、最終の凹凸構造の区間ごとのアスペクト比の最大値と最小値との比は、１．３より小さいのが好ましい。

Claims (9)

  1. 　平面上に凹凸構造を備えた拡散素子であって、
    　該平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、ｎｘを、区間を識別する正の整数とし、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、
    　2< Sx-max/ Sx-min
    であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
    　Ax-max/Ax-min < 1.3
    であるように構成された拡散素子。
  2. 　該凹凸構造のｚ座標をｘの関数として表した場合に、該ｘの関数の各区間が滑らかな関数で近似できる請求項１に記載の拡散素子。
  3. 　該ｘの関数の各区間が２次関数で近似できる請求項２に記載の拡散素子。
  4. 　該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、該凹凸構造のｘｚ断面の形状がｙの座標にかかわらず同じであるように構成された請求項１から３のいずれかに記載の拡散素子。
  5. 　該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、yｚ断面において、ｙ軸を複数の区間に分割し、ｍｙを、区間を識別する正の整数とし、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、Smyの最大値をSy-max、Smyの最小値をSy-minとして、
    　2< Sy-max/ Sy-min
    であり、SmyはSy-minとSy-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように構成されており、区間myにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
    　Ay-max/Ay-min < 1.3
    であるように構成された請求項１から３のいずれかに記載の拡散素子。
  6. 　凹凸構造を備えた拡散素子の製造方法であって、
    　基板の平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、nx’を、区間を識別する正の整数とし、区間nx’のｘ軸方向の長さをSnx’、Snx’の最大値をSx’-max、Snx’の最小値をSx’-minとして、
    　2< Sx’-max/ Sx’ -min
    であり、Snx’はSx’-minとSx’-maxとの間でランダムにばらつくように区間nx’を定めるステップと、
    　エッチングプロセスによって、ｘ軸の該複数の区間のうち隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように該基板上に仮の凹凸構造を形成するステップと、
    　スピンコーティングによって、該仮の凹凸構造上に樹脂膜を形成するステップであって、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｘ軸方向の区間を区間nx、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
    　Ax-max/Ax-min < 1.3
    であるように樹脂膜を形成するステップと、を含む拡散素子の製造方法。
  7. 　該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、
    　該仮の凹凸構造を形成するステップにおいて、ｘｚ断面の形状がｙの座標にかかわらず同じであるように該仮の凹凸構造を形成する請求項６に記載の拡散素子の製造方法。
  8. 　該仮の凹凸構造を形成するステップの前に、
    　該平面内にｘ軸と直交するｙ軸を定め、ｙｚ断面において、ｙ軸を複数の区間に分割し、my’ を、区間を識別する正の整数とし、区間my’のｙ軸方向の長さをSmy’、Smy’の最大値をSy’-max、Smy’の最小値をSy’-minとして、
    　2< Sy’-max/ Sy’ -min
    であり、Smy’はSy’ -minとSy’-maxとの間でランダムにばらつくように区間my’を定めるステップをさらに含み、
    　該仮の凹凸構造を形成するステップにおいて、ｘ軸及びｙ軸の該複数の区間のうち隣接する区間のそれぞれが凹部と凸部をなすように該基板上に仮の凹凸構造を形成し、
    　該仮の凹凸構造上に樹脂膜を形成するステップにおいて、樹脂膜を形成した後の凹凸構造の凹部及び凸部のそれぞれのｙ軸方向の区間を区間my、区間myのｙ軸方向の長さをSmy、区間myにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdzmy、dzmyとSmyとの比をAmy、Amyの最大値をAy-max、Amyの最小値をAy-minとして、
    　Ay-max/Ay-min < 1.3
    であるように樹脂膜を形成する請求項６に記載の拡散素子の製造方法。
  9. 　平面上に凹凸構造を備えた拡散素子用金型であって、
    　該平面上の１点を原点として、該平面の法線をｚ軸とし、該平面内にｘ軸を定め、ｘｚ断面において、ｘ軸を複数の区間に分割し、ｎｘを、区間を識別する正の整数とし、区間nxのｘ軸方向の長さをSnx、Snxの最大値をSx-max、Snxの最小値をSx-minとして、
    　2< Sx-max/ Sx-min
    であり、SnxはSx-minとSx-maxとの間でランダムにばらつき、該凹凸構造は、隣接する区間が凹部と凸部をなすように構成されており、区間nxにおける該凹凸構造のｚ座標の最大値と最小値との差をdznx、dznxとSnxとの比をAnx、Anxの最大値をAx-max、Anxの最小値をAx-minとして、
    　Ax-max/Ax-min < 1.3
    であるように構成された拡散素子用金型。
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