WO2008120469A1 - 炭化珪素半導体素子の製造方法 - Google Patents
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Abstract
第1および第2の主面を有する炭化珪素基板1の前記第1の主面上に形成された炭化珪素層2の少なくとも一部に不純物イオン3を注入し、不純物ドープ領域を形成する工程(A)と、前記炭化珪素層2の少なくとも上面2a、および、前記炭化珪素基板1の少なくとも第2の主面12aに耐熱性を有するキャップ層6を形成する工程(B)と、前記炭化珪素層2を所定の温度で加熱し、活性化アニール処理を行う工程(C)とを包含する炭化珪素半導体素子の製造方法。
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