[go: up one dir, main page]

TWI761495B - 使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體 - Google Patents

使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體 Download PDF

Info

Publication number
TWI761495B
TWI761495B TW107113547A TW107113547A TWI761495B TW I761495 B TWI761495 B TW I761495B TW 107113547 A TW107113547 A TW 107113547A TW 107113547 A TW107113547 A TW 107113547A TW I761495 B TWI761495 B TW I761495B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
user
api
test
specific
server
Prior art date
Application number
TW107113547A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201843589A (zh
Inventor
羅特姆 納鴻
帕德瑪賈 納魯里
Original Assignee
日商愛德萬測試股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商愛德萬測試股份有限公司 filed Critical 日商愛德萬測試股份有限公司
Publication of TW201843589A publication Critical patent/TW201843589A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI761495B publication Critical patent/TWI761495B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02—Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0208—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterized by the configuration of the monitoring system
    • G05B23/0213—Modular or universal configuration of the monitoring system, e.g. monitoring system having modules that may be combined to build monitoring program; monitoring system that can be applied to legacy systems; adaptable monitoring system; using different communication protocols
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318314—Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56016—Apparatus features
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/20—Pc systems
    • G05B2219/24—Pc safety
    • G05B2219/24065—Real time diagnostics
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C2029/5602—Interface to device under test

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Stored Programmes (AREA)

Abstract

揭露一種用於進行一自動化測試的系統。該方法包含編程一應用程式介面(API)以控制在一測試器上的一預設生產流程，其中，該該生產流程包含與連接至該測試器的待測裝置(DUT)上將執行的測試相關聯的複數個測試序列。該方法進一步包含將該API組配為可修改該預設生產流程以根據一特定使用者API客製化該等複數個測試程序，其中，該特定使用者API包含根據一使用者的測試需要而對該生產流程的一修改。最後，該方法包含將該特定使用者API與該API整合以將該API針對該使用者客製化。

Description

使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體
相關申請案
本申請案係關於在________所提申之標題為「支援使用不同應用程式之多使用者的測試系統」的美國專利申請案________號，發明人指定為洛探 奈涵(Rotem Nahum)、瑞貝卡 拓依(Rebecca Toy)，帕碼賈 那路里(Padmaja Nalluri)，和黎恩 陳(Leon Chen)作為發明人，並且具有代理人案號ATSY-0052-01.01US。為了所有目的，該申請的全部內容通過引用併入本文。
本揭露係大致關於自動化測試設備之領域，更精確地，係關於控制此等設備的技術。
自動化測試設備(ATE)可以是能夠在一半導體晶圓或晶粒、一積體電路(IC)、一電路板或諸如一固態硬碟的一封裝裝置上進行一測試的任何測試總成。ATE總成可被使用來執行自動化測試，其快速地進行量測 且產生接著可被分析的測試結果。一ATE總成可為來自與一量測儀耦接之一計算機系統的任何物，到一複雜自動化測試總成，其可包括一客戶、專用計算機控制系統與許多不同測試儀器，該等測試遺棄可自動地測試電子部件及/或半導體晶圓測試，諸如系統單晶片(SOC)測試或積體電路測試。ATE系統減少了花費在測試裝置上的時間已確保裝置功能如設計一般，且作為診斷工具來在給定裝置觸及顧客以前，判定在給定裝置內不良組件的存在。
當典型的ATE系統測試一裝置(通常稱為待測裝置或DUT)時，ATE系統將施加刺激(例如，電氣信號)於裝置並檢查裝置的響應(例如，電流和電壓)。通常，如果裝置在預先建立的容忍值內成功提供某些預期響應，則測試的最終結果為「通過」，或者如果裝置未在預先建立的容忍值內提供預期響應，則「失敗」。更複雜的ATE系統能夠評估一故障裝置，以判定可能故障的一個或多個原因。
對一ATE系統來說，通常包括指導ATE系統操作的計算機。典型地，計算機運行一個或多個專用軟體程式以提供(甲)一測試開發環境以及(乙)一裝置測試環境。在該測試開發環境中，使用者通常會創造一測試程式，例如，可控制ATE系統的各種部分之一或多個檔案的基於軟體的結構。在該裝置測試環境中，使用者通常會提供ATE系統一個或多個用於測試的裝置，並指導ATE系統根據測試程式對每個裝置測試。使用者可以藉由簡單地將 額外裝置提供給ATE系統而測試額外裝置，並且指導ATE系統根據測試程式測試額外裝置。據此，ATE系統使得使用者能夠基於測試程式以一致且自動化的方式測試多個裝置。
在一典型的習知測試環境中，測試環境可包含一應用程式介面(API)其控制該測試器的許多高階功能與特徵。該API與一控制伺服器介接以指引該測試平台的高階功能與特徵。使用這樣的一API之一典型的問題是，為了要針對一給定應用程式或一給定客戶客製化測試系統，必須手動地改變或重新設計(reprogrammd)API。這可能是個涉及到高度訓練且專業人士之困難、冗長、昂貴、複雜且容易出錯的程序。提供一較簡易、較快速、較自動化且精簡的方式來針對一特定顧客的需求客製化該API的功能與特徵且將會是有利的。
因此，存在可簡單地適用於測試系統的不同顧客之測試研發環境的一需求。此外，需要的是可以容易地客製化以符合ATE系統不同顧客之需求的測試研發環境。使用所描述系統之有益的態樣而沒有它們各自的限制，本發明的實施例提供了解決這些問題的新穎解決方案。
在此揭露之本發明利用了複數個基元(或測試切片)以及相關聯的DUT介面板(DIB)來測試DUT。各個基元都是模組化的，代表著它可以獨立於其他基元操作。因此，設置在一機架中的複數個基元也可以在不同的 測試計劃下運行。基元與一控制伺服器通訊以獲得指令、控制、管理等。控制伺服器能夠為其支援的各種基元主持(host)多個應用程式或測試計劃。該基元可以經由一標準IP網路與伺服器通訊。各種計算機系統，其可以為在遠端，可以經由標準IP網路連接件取用伺服器。
因此，在此測試平台下，由於：1)基元模組化；和2)標準IP網路的使用，對於將要在給定的測試計劃下根據一個使用者而測試複數個DUT的複數個基元為可能的，同時由第二使用者指導之在同一機架的第二複數個基元正在進行完全不同的應用程式，依此類推。因此，排除了先前技術中與閒置測試電路相關聯的問題。
一種應用程式介面(API)控制測試系統的高階功能與特徵且透過伺服器與該等基元通訊。稱為顧客整合製造程序(CIM)的該API控制該測試系統的許多高階功能與特徵，對於1)使用哪個測試計畫2)使用者介面看起來的樣子且經由使用者站操作該測試器的方式，3)當新的DUT被插入以用於測試並控制後續程序的處理4)測試的測試結果被聚集且儲存的方式等等。
根據本發明的一些態樣，使用者可儲存使用者碼且使用與該測試系統相關聯的一程式庫(library)內的API。使用者碼可基於由CIM研發者所提供的資訊與語法而為顧客研發且接著被載入程式庫。CIM接著整合使用者碼與使用者API以致使整合CIM自動地變成對一特定顧客的需求客製化且根據使用者程式庫的內容採用特定功能 與特徵。以此方式，本發明的實施例有效地對客製化CIM提供一自動化機制，其避免了CIM要針對各個顧客的需求手動地重新寫入並且重新設計的需求。這增加了研發一新CIM的周轉時間且亦減少因CIM修改造成之軟體成本與錯誤。
在一實施例中，呈現一種使用自動化測試設備(ATE)進行測試的方法。該方法包含編程一應用程式介面(API)以控制在一測試器上的一預設生產流程，其中，該生產流程包含複數個測試序列，該等測試序列與在和該測試器連接之待測裝置(DUT)上運行的測試相關聯。該方法進一步包含將該API組配為可調整該預設生產流程以根據一特定使用者API客製化該等複數個測試序列，其中該特定使用者API包含根據一使用者的測試需求而對該生產流程的一修改。最後，該方法包含將該特定使用者API與該API整合以針對該使用者客製化該API。
在另一實施例中，揭露具有電腦可讀程式碼在內實施的一非暫時性計算機可讀媒體用來致使一計算系統進行使用自動化測試裝備(ATE)之方法。該方法包含將一應用程式介面(API)編程以控制在一測試器上的一預設生產流程，其中該生產流程包含複數個測試序列，該等複數個測試序列與連接至該測試器的待測裝置(DUT)上執行的測試相關聯。該方法進一步包含將該API組配為可修改該預設生產流程，以根據一特定使用者API客製化該等複數個測試序列，其中，該特定使用者API包含根據 一使用者的測試需求而對生產流程的一修改。最後，該方法包含將該特定使用者API與該API整合以針對該使用者客製化該API。
在一不同實施例中，揭露使用自動化測試設備(ATE)而用來進行測試的系統。該系統包含通訊式耦接至複數個基元的一伺服器，其中，該等複數個基元各包含複數個DUT。該系統亦包含一第一計算裝置與一第二計算裝置，該第一計算裝置運行一圖形使用者介面(GUI)，其中，該計算裝置係通訊式耦接於該伺服器，並且其中，該圖形化使用者介面允許一使用者取用該等複數個基元，該第二計算裝置通訊式耦接於該伺服器及該第一計算裝置。該第二計算裝置係組配為可：(甲)編程一應用程式介面(API)以控制一預設生產流程，其中，該生產流程包含複數個測試序列，該等複數個測試序列與執行測試連接至該伺服器之該等DUT相關聯；(乙)組配該API以修改預設生產流程以根據一特定使用者API客製化該等複數個測試序列；以及(丙)將該特定使用者API與該API整合以針對該使用者客製化該API。
以下詳細說明連同附加圖式將提供對本發明的性質和優點的更好理解。
10、20:使用者站/計算機
20、520:製造工具
30、141、145、430、473、530:伺服器
50a、50b、420:DUT
60、469、569:CIM
70:控制模組
80:顧客資料庫
90:使用者程式庫
100、110、300:系統
112:通訊基礎架構
114:處理器
116:記憶體
118:記憶體控制器
120:輸入/輸出(I/O)控制器
122:通訊介面
124:顯示裝置
126:顯示器轉接器
128:輸入裝置
130:輸入介面
132:主要儲存裝置
133:備份儲存裝置
134:儲存介面
140:資料庫
150:網路
151、152、153:客戶端系統
160、170、190:裝置
195:智能儲存陣列
380:負載板
400:DIB
40a、40b、410、491:基元
420:GUI
450:外殼
470、472:DLL
572~574、581~587:序列
602~607、622、623、702、704、706:狀態
700:流程圖
本發明的實施例以範例而非限制方式例示說明，在附加圖式中的圖類似的標號指涉類似元件。
圖1A為一計算機系統，本發明的自動化測試 系統的實施例可根據本發明之一實施例在該計算機系統上實施；圖1B為根據本發明之一實施例的一網路架構的方塊圖，其中客戶端系統與伺服器可與一網路耦接；圖2A例示說明根據本發明之一實施例之與一DUT介面板(DIB)介接的一基元；圖2B例示說明包含維持在機架內複數個基元的一工作胞元；圖3為例示說明根據本發明的實施例之CIM於其中操作之範例系統環境的一方塊圖；圖4例示說明根據本發明的實施例之CIM於其中操作之的一範例測試環境的另一高階架構概述；圖5例示說明針對一顧客的一範例工作順序序列，其已根據本發明的實施例修改一CIM的預設生產流程；圖6例示說明一個範例狀態圖，其例示說明一顧客可根據本發明的實施例修改一CIM的預設生產流程的方式；圖7例示說明根據本發明的實施例之用來修改一應用程式介面(API)的一範例計算機實施程序的流程圖，該API用來控制一測試器。
在圖式中，具有相同代號的元件具有相同或類似功能。
現在將詳細參考本揭露的各種實施例，其範例在附圖中例示說明。雖然結合此等實施例進行描述，可理解的是，它們並非意欲將本揭露限制於這些實施例。相反地，本揭露旨在涵蓋可包括落入如所附加請求項中所定義之本揭露的精神和範圍內的替代、修改和等效物。此外，在本揭露以下詳細說明中，提出了許多特定細節以提供對本揭露的透徹理解。然而，可理解的是，本揭露可以在沒有這些特定細節的情況下實施。在其他情況下，為了不要不必要地模糊本揭露的各種態樣，不詳細描述眾所周知的方法、過程、組件和電路。
以下詳細說明的一些部分以過程、邏輯塊、處理以及其他符號表示來呈現，符號表示為在一計算機記憶體內的資料位元的操作。此等描述和表示是資料處理領域的技術人員為了將其工作的本質最有效地傳達給本領域其他技術人員的手段。在本申請案中，一過程、邏輯塊、程序或類似者被認為是可導致所需結果的一自我一致序列的步驟或指令。該等步驟是利用物理量的物理操縱的步驟。通常，雖然並非必要，此等量採取能夠在計算機系統中儲存、傳輸、組合、比較和以其他方式操縱的電氣或磁信號的形式。已經證明了主要是為了共同使用的原因，有時將這些信號稱為交易、位元、值、元素、符號、字符、樣本、像素等是方便的。
然而，應該記住的是，所有此等和類似的術語都與恰當的物理量相關聯，並且僅是應用於此等量的方 便標籤。除非特別聲明，否則從以下討論中顯而易見的是，應理解在本揭露中各處利用用語諸如「組配」、「編程」、「整合」、「提供」、「執行」或類似者等是指涉一計算機系統或類似電子計算裝置或處理器(例如，圖1A的系統110)的動作和程序(例如，圖7的流程圖700)。計算機系統或類似的電子計算裝置操縱並轉換在計算機系統記憶體、暫存器或其他此等訊息儲存器、傳輸或顯示裝置內以物理量(電子)表示的資料。
在此描述的實施例可以在存在於一些計算機可讀儲存媒體的形式上由一個或多個計算機或其他設備執行的計算機可執行指令的一般上下文中討論，計算機可讀儲存媒體諸如程式模組。以範例而非限制，計算機可讀儲存媒體可以包含非暫時性計算機可讀儲存媒體和通訊媒體、非暫時性計算機可讀媒體包括除了暫時傳播信號之外的所有計算機可讀媒體。通常，程式模組包括可進行特定任務或實施特定抽象資料類型的常式、程式、物件、組件、資料結構等。程式模組的功能可以根據需求在各種實施例中組合或分配。
計算機儲存媒體包括用於儲存諸如計算機可讀指令、資料結構、程式模組或其他資料之訊息的以任何方法或技術實施的依電性和非依電性、可移除和不可移除媒體。計算機儲存媒體包括但不限於隨機存取記憶體(RAM)、僅讀記憶體(ROM)電可抹除可編程ROM(EEPROM)、快閃記憶體或其他記憶體技術、光碟ROM (CD-ROM)、數位多功能碟(DVD)或其他光儲存器、磁帶盒、磁帶、磁碟儲存器或其他磁性儲存設備，或可使用來儲存所需資訊並可被取用以擷取該資訊的任何其他媒體。
通訊媒體可以實施計算機可執行指令、資料結構和程式模組，並且包括任何資訊傳遞媒體。作為範例而非限制，通訊媒體包括諸如一有線網路或直接有線連接件之類的有線媒體，且有線媒體諸如聲學、射頻(RF)、紅外線以及其他無線媒體之類。上述任何組合也可以被包括在計算機可讀媒體的範圍內。
圖1A為一測試控制系統110的一範例之方塊圖，該系統可操作來被根據本發明的實施例之一應用程式介面(API)所控制，該API係客製化來服務一客戶測試需求。例如，該API控制系統110可被客製化為在未於預設API中讀取之測試期間可從一待測裝置(DUT)讀取特定資料。測試控制系統110廣泛地表示任何單一或多個處理器計算裝置或可以執行計算機可讀指令的系統。控制系統110的範例包括但不限定於工作站、膝上型計算機、客戶端端子、伺服器、分散式計算系統、手持裝置或任何其他計算系統或裝置。在其最基本的組態中，控制系統110可包括至少一處理器114與一系統記憶體116。
處理器114一般代表任何類型或型態之可以處理資料或解譯且執行指令的處理單元。在特定實施例中，處理器114可接收來自一軟體應用程式或模組的指 令。此等指令可致使處理器114進行在此所描述及/或例示之一或多個範例實施例的功能。
系統記憶體116一般代表任何類型或型態之可以儲存資料及/或其他計算機可讀指令的的揮發性或非揮發性儲存裝置或媒體。系統記憶體116的範例包括但不限定於RAM、ROM、快閃記憶體或任何其他合適的記憶體裝置。雖然並非需要，在特定實施例中，控制系統110可包括一揮發性記憶體單元(諸如，例如，系統記憶體116)與一非揮發性儲存裝置(諸如，例如，主要儲存裝置132)。
測試控制系統110除了處理器114與系統記憶體116之外，亦可包括一或多個組件或元件。例如，在圖2A的實施例中，控制系統110包括一記憶體控制器118、一輸入/輸出(I/O)控制器120及一通訊介面122，各者可經由一通訊基礎架構112互連。通訊基礎架構112一般代表可以促進在一計算裝置的一或多個組件之間通訊的任何類型或型態的基礎架構。通訊基礎架構112的範例包括但不限定於一通訊匯流排(諸如，一工業標準架構(ISA))、周邊組件互連(PCI)、快速PCI(PCIe)或類似匯流排)以及一網路。
記憶體控制器118一般代表可以處理記憶體或資料或控制在控制系統110的一或多個組件之間通訊的任何類型或型式的裝置。例如，記憶體控制器118可經由通訊基礎架構112控制在處理器114、系統記憶體116與I/O控制器120之間的通訊。
I/O控制器120一般代表可以協調及/或控制一計算裝置的輸入與輸出功能的任何類型或形式的模組。例如I/O控制器120可控制或促進控制系統110的一或多個元件資間的資料轉移，諸如處理器114、系統記憶體116、通訊介面122、顯示器轉接器126、輸入介面130與儲存介面134。
通訊介面122廣泛地可以促進在範例控制系統110與一或多個附加裝置之間的通訊的代表任何類型或型態的通訊裝置或轉接器。例如通訊介面122可促進在控制系統110與包括附加控制系統之一私人或公用網路之間的通訊。通訊介面122的範例包括但不限定於一有線網路介面(諸如一網路介面卡)、一無線網路介面(諸如一無線網路介面卡)、一數據機與任何其他合適的介面。在一實施例中，通訊介面122經由至諸如網際網路的一網路的一直接鏈路而提供直接連接給一遠端伺服器。通訊界122亦可透過任何其他合適的連接而非直接地提供此等連接。
通訊介面122亦可代表一主機轉接器，其係組配為可促進經由一外部匯流排或通訊頻道而在控制系統110與一或多個附加網路或儲存裝置之間的通訊。主機轉接器的範例包括但不限定於小型計算機系統介面(SCSI)主機轉接器、通用序列匯流排(USB)主機轉接器、IEEE(電子電機工程協會)1394主機轉接器、序列先進技術附加(SATA)與外部SATA(eSATA)主機轉接器、先進技術附件(ATA)與平行ATA(PATA)主機轉接器、光 纖通道介面轉接器、乙太網轉接器或類似者。通訊介面122亦可允許控制系統110參與分散式或遠端計算。例如，通訊介面122可接收來自一遠端裝置的指令或發送指令至一遠端裝置以執行。
如圖1A所例示者，控制系統110亦可包括經由一顯示器轉接器126而與通訊基礎架構112耦接的至少一顯示裝置124。顯示裝置124一般代表可以視覺地顯示由顯示器轉接器126所轉發之資訊的任何種類或型態的裝置。類似地，顯示器轉接器126一般代表組配為可轉發用於在顯示裝置124上顯示的圖像、文字與其他資料任何種類或型態的裝置。
如圖1A中所例示者，控制系統110亦可包括經由一輸入介面130而與通訊基礎架構112耦接的至少一輸入裝置128。輸入裝置128一般代表可以提供不管是計算機或人類產生之輸入至控制系統110的任何種類或型態的輸入裝置。輸入裝置128的範例包括但不限定於一鍵盤、一指向裝置、一語音識別裝置或任何其他輸入裝置。
如圖1A中所例示者，控制系統110亦可包括經由一儲存介面134而與通訊基礎架構112耦接的一主要儲存裝置132與一備份儲存裝置133。儲存裝置132、133一般代表可以儲存資料及/或其他計算機可讀指令的任何種類或型態的儲存裝置或媒體。例如，儲存裝置132與133可為磁碟驅動機(例如，亦稱為硬碟)、軟碟驅動機、磁帶驅動機、光碟驅動機、快閃驅動機或類似者。儲存介面 134一般代表用於將資料在儲存裝置132與133與控制系統110的其他組件之間轉移的任何種類或型態的介面或裝置。
在一個範例中，資料庫140可儲存在主要儲存裝置132中。資料庫140可代表一單一資料庫或計算裝置的一部分或者其可代表多個資料庫或計算裝置。例如，資料庫140可代表(可被儲存在)控制系統110的一部分及/或在圖2(以下)中的範例網路架構200中的部分。可替代地，資料庫140亦可代表(可被儲存在)可以被一計算裝置取用的一或多個實體分離的裝置，計算裝置諸如控制系統110及/或網路架構200的部分。
繼續參照圖1A，儲存裝置132與133可組配為可讀取來自一可移除儲存單元及/或寫入至可移除儲存單元，該可移除儲存單元組配為可儲存計算機軟體、資料或其他計算機可讀資訊。合適的可移除儲存裝置的範例包括但不限定於一軟碟、磁帶、光碟、快閃記憶體裝置或類似者。儲存裝置132與133亦可包括其他類似的結構或裝置以允許計算機軟體、資料或其他計算機可讀指令被載入控制系統110。例如，儲存裝置132與133可組配為可讀取與寫入軟體、資料或其他計算機可讀資訊。儲存裝置132與133亦可為控制系統110的一部分或可為透過其他介面系統所取用之分離的裝置。
許多其他裝置或子系統可連接到控制系統110。相反地，圖1A中所例示的所有組件和設備不需要存 在以實施在此描述的實施例。以上提及的設備和子系統也可以以不同於圖1A中所顯示的方式互連。控制系統110亦可使用任何數量的軟體、韌體及/或硬體組態。例如，在此揭露的範例實施例可以編碼為在計算機可讀媒體上的計算機程式(亦稱為計算機軟體、軟體應用程式、計算機可讀指令或計算機控制邏輯)。
包含計算機程式的計算機可讀媒體可以被載入到控制系統110中。儲存在計算機可讀媒體上的計算機程式的全部或一部分接著可以被儲存在系統記憶體116及/或儲存裝置132和133的各個部分中。當由處理器114執行時，載入到控制系統110中的計算機程式可以使處理器114進行及/或成為用於進行在此描述及/或例示的範例實施例的功能的構件。附加地或可替代地，在此描述及/或例示的範例實施例可以用韌體及/或硬體來實施。
圖1B是一網路架構100的一範例的一方塊圖，其中客戶端系統151、152和153以及伺服器141和145可以與一網路150耦接。客戶端系統151、152和153一般代表任何類型或計算裝置或系統的形式，諸如圖1A的測試控制系統110。
類似地，伺服器141和145通常表示被組配為可提供各種資料庫服務及/或運行某些軟體應用程式的計算裝置或系統，諸如應用程式伺服器或資料庫伺服器。網路150通常表示任何電信或計算機網路，包括例如，內部網路、廣域網路(WAN)、區域網路(LAN)、個人區 域網路(PAN)或網際網路。
參照圖1B的控制系統100，諸如通訊介面122之類的通訊介面可以使用來提供在各個客戶端系統151、152和153與網路150之間的連接性。客戶端系統151、152和153可以能夠使用，例如Web瀏覽器或其他客戶端軟體存取伺服器141或145上的資訊。此等軟體可允許客戶端系統151、152和153存取由伺服器140、伺服器145、儲存裝置160(1)-(L)、儲存裝置170(1)-(N)、儲存裝置190(1)-(M)或智能儲存陣列195上所持有的資料。雖然圖1B描述了使用一網路(諸如網際網路)來交換資料，但是在此描述的實施例不限於網際網路或任何特定的基於網路的環境。
在一個實施例中，在此揭露的一或多個範例實施例的全部或一部分被編碼為計算機程式，並被載入且由伺服器141、伺服器145、儲存裝置160(1)-(L)、儲存裝置170(1)-(N)、儲存裝置190(1)-(M)、智能儲存陣列195或其任何組合來執行。在此揭露的一或多個範例實施例的全部或一部分亦可以被編碼為計算機程式、儲存在伺服器141中、由伺服器145運行並且透過過網路150被分佈到客戶端系統151、152和153。
利用軟體應用程式介面(API)之自動化測試特徵使用者控制技術
在一傳統測試環境中，測試研發環境可包含一應用程式介面(API)，其控制該測試器的許多高階功 能與特徵。該API與一控制伺服器介接以指引該測試平台的高階功能與特徵。使用此等一API之一典型的問題是，為了要針對一給定應用程式或一給定客戶客製化測試系統，API必須手動地改變或重新設計(reprogrammd)。這可能是個涉及到高度訓練且專業人士之困難、冗長、昂貴、複雜且容易出錯的程序。
本發明的實施例有利地提供一較簡易、較快速、較自動化且精簡的方式來針對一特定顧客的需求客製化該API的功能與特徵。
在一實施例中，該測試研發還包括與複數個基元耦接的一控制伺服器。該等基元包括對複數個DUT應用一測試計畫所需的該測試器電路。由一給定基元所測試的該等DUT係使用一DIB與該基元耦接，該DIB包含該等DUT。該API與該控制伺服器介接以指引該測試平台的高階功能與特徵，其包括，除了其他功能之外，接收從該測試器輸出的測試結果並將資料儲存一現場控制模組中，其可以將資料存檔(archive)在顧客資料庫中以供將來參考。
在一實施例中，本發明包含一可客製化API，例如，該客製化整合製造程序(CIM)其係以此種方式研發以提供預設功能但亦接受儲存在一特殊使用者程式庫(library)內的使用者碼與使用者API。該使用者碼與使用者API以此種方式寫入使得他們可以自動地在該CIM中整合且因而改變該CIM的操作及功能與特徵以客製化該CIM成為一顧客的特定製造程序、GUI顯示需求、 以及DUT。由於該CIM是以此種方式研發而將由顧客所供應的使用者碼與使用者API自動地改變，該CIM較容易客製化、修改、較不容易出錯且可以更少的時間及成本客製化。這增加了對客戶的測試流通量且同時減少了測試軟體成本。
圖2A例示了根據本發明之一實施例的與DUT介面板(DIB)400介接的基元410。顯示在圖2A中的基元是一種離散測試模組，其可被插入於測試頭且包含測試電路的，其根據一測試計劃對DUT進行測試。基元包括外殼450，在該外殼450內容納所有各種電子設備，例如，站點模組、電源供應器等。DIB 400可以含有使用針對DUT 420尺寸化的客製之連接件的複數個DUT 420。該DIB 400亦可以包括一外殼470。DIB 400透過類似於圖3中所示的負載板380的一負載板(未顯示)與該基元410的通用背板(未顯示)介接。基元410含有用於在DUT 420上進行測試計劃的測試電路。基元410可獨立於任何其它基元運作並連接到一控制伺服器。
圖2B例示出維持在機架中包含複數個基元491的工作胞元。本發明的實施例利用複數個基元(類似於圖2A中所顯示的基元)和相關聯的DIB來測試DUT。各個基元都是模組化的，代表著它能夠獨立於其他基元進行操作。因此，設置在機架中的複數個基元(如圖2B所示)可以各自在不同的測試計劃下操作。基元與一控制伺服器通訊以獲得指令、控制、管理等。控制伺服器能夠對其支 援的各種基元主持(host)多個應用程式或測試計劃。該基元可以經由一標準IP網路與伺服器通訊。可以遠端定位的各種計算機系統，可以經由通過標準IP網路連接件取用伺服器。
因此，在此測試平台下，由於：1)基元模組化；和2)標準IP網路連接件的使用，複數個基元可以根據一個使用者在給定測試計劃下測試複數個DUT，同時同一機架的第二複數個基元正在進行由第二使用者指導之完全不同的應用程式(或不同的測試計劃)等等。例如，在包含6個基元的測試頭中，可能有2個基元專用於工程部門以除錯(debugging)SATA類型的裝置，同時4個基元可專用於製造部門對SSD驅動器的容量測試。
圖3為一方塊圖，例示說明一範例系統環境，根據本發明的實施例之CIM於其中操作。系統300包括一控制伺服器30，其係與複數個使用者站10與20耦接。該等使用者站係經由標準IP通訊網路而與控制伺服器30連接。在此範例中，一使用者站10為進行工程測試的一工程工具，且該使用者站20為控制DUT測試的一製造工具。使用者站10透過伺服器30控制基元40a且基元40a係顯示為在DUT 50a上運行測試計畫TP1。使用者站20透過伺服器30控制基元40b且基元40b係顯示為在DUT 50b上運行測試計畫TP2。
該等兩個基元40a與40b可被定位在一單一機架內(如圖2B中所示)。基元40a顯示了使用測試計劃 「TP1」來測試複數個DUT 50a(經由DIB)。基元40b顯示了使用一分離(separate)的應用程式，被稱為測試計畫「TP2」來測試複數個DUT 50b(經由DIB)。透過兩個不同的標準IP網路連接件上，一第一使用者計算機10和一第二使用者計算機20兩者都連接到控制伺服器30。
例如，如圖3中所示，第一使用者計算機可以專用於客戶的工程部門，而第二使用者計算機可專用於製造部門。在一範例中，此等使用者計算機可以遠離彼此並且可以遠離伺服器30。可以理解的是，可以有更多的基元可以與伺服器30通訊，且僅顯示出兩個用於例示說明。更進一步地，其他測試裝備諸如條碼掃描機亦可與伺服器30連接且可使用製造工具20與CIM 60而被取用。
在圖3所顯示的範例中，第二使用者計算機20經由過基元40b的執行而控制在複數個DUT 50b上的製造測試計劃。此製造測試計劃可以被載入到控制伺服器30，然後被下載到基元40b以在DUT 50b上執行。測試結果可以相反的方向傳遞。在此範例中，在DUT 50b的批量(volume)製造測試期間，使用者計算機20可受控於生產專家。
以此方式，本發明的實施例可以使用相同的測試器來支援完全不同的功能。例如，在製造測試期間，測試人員可以使用測試器內的基元的子集運行固定的工作流程。舉例來說，一製造工作流程可以包括將SSD驅動器標示條碼、測試它們、並將它們標記為「通過」或「失敗」。 同時，工程團隊的成員可以進行完全不同的功能，諸如使用在測試頭內不同的基元集合來除錯(debug)SATA驅動器的失敗結果。
與上述測試一致的是，該第一使用者計算機10可以經由基元40a來控制用於應用至複數個DUT 50a的工程測試計劃。工程測試計劃可以是正在開發之尚未最終確定的一測試計劃。可替代地，工程測試計劃可以僅是使用不同通訊協定之用於測試不同DUT的不同類型的製造測試計劃，例如，DUT類型x與DUT類型y。此工程測試計劃可以被載入控制伺服器30，接著被下載到基元40a以在DUT 50a上執行。測試結果可以相反的方向傳達。在這個範例中，使用者計算機10可以受控於一測試工程師，該測試工程師開發目前處於原型以供將來使用的測試計劃。
在一實施例中，在一個實施例中，使用者計算機10和20可以是運行測試軟體的系統控制器，例如Advantest SLATETM or Advantest StylusTM。在不同的實施例中，使用者計算機10和20可以是透過通訊網路，例如，IP網路至伺服器30而連接的使用者終端，其中，伺服器30為運行該測試軟體，例如，Advantest StylusTM的一系統控制器。
在一個實施例中，伺服器30為一控制器，其監視針對所有連接之基元的測試並且為使用者提供GUI。在其他實施例中，使用者透過如圖3顯示的IP連接件來連接到伺服器，其中，連接到伺服器的各個使用者計算機對 一相關使用者提供分離的GUI以控制相關聯的一組基元。
在一個實施例中，伺服器30可執行在使用者之間分配資源的分配方案。例如，伺服器可以取決於使用者的應用程式而分配基元予使用者。在一個實施例中，伺服器可動態地分配並管理用於不同目的之不同的基元給不同的使用者。伺服器還允許各個使用者計算機與連接到伺服器30的各種基元(及與其相關聯的DUT)之間的雙向通訊。伺服器亦可管理在各種連接的基元上執行的同步工作流程(workflow)並追蹤在連接的基元及/或測試切片上的各種工作流程。
重要的是，CIM 60控制了系統100的高階功能與特徵。例如，CIM 60控制測試計畫載入到伺服器30。該CIM60在測試期間可暫存，當一新DUT插入至一基元內時且可基於與該DUT相關聯的識別資訊而識別該DUT。該CIM 60例如，從該伺服器30接收關於載入一新DUT的資訊，該伺服器從一連接基元接收資訊。該CIM提供了各種DUT參數給使用者站及/或該控制伺服器30。這使得該CIM可選擇地提供特殊DUT測試參數給該控制伺服器30。
該CIM亦可提供客製化GUI顯示資訊給製造工具20。該CIM可啟始測試計畫執行且亦接收來自在各種DUT上測試計畫之執行的結果。該CIM可對測試結果進行分級和記錄(binning and logging)功能。該CIM可使測試結果資料與相關DUT相關聯，且將此資訊報告給一顧客或特定程序現場控制模組70，其可將該資料以每個DUT為 基礎，存檔至一資料庫，例如一顧客資料庫80以用於之後參考。該CIM亦控制是否要將測試資訊編碼以及將會針對一特定顧客的測試而使用之編碼的類型。該CIM亦控制在與該站相關聯的一測試期間顯示在該使用者站10與20的該圖形化使用者介面。
在一實施例中，該CIM為可在伺服器30上運行的一API。在另一實施例中，該CIM可在一不同控制器(或計算機)上運行。
簡短來說，該CIM 60可控制該測試系統100的許多高階功能與特徵，相對於1)使用哪個測試計畫，2)使用者介面如何經由該使用者站察看與操作該測試器，3)當新的DUT被插入以用於測試並控制後續程序的處理，4)如何收集並儲存測試的測試結果等等。為了要與基元或DUT通訊，CIM須要通過伺服器30。例如，為了要運行一測試或讀取一DUT狀態，該CIM將要使用伺服器30做為中介(intermediary)。
根據本發明的態樣，使用者可在與系統100相關聯的程式庫90內儲存使用者碼且使用API。使用者碼可為基於由CIM研發者所提供的資訊和語法而客製化研發，例如Advantest公司且接著載入程式庫90。該CIM 60接著將使用者碼與使用者API整合以致使其自動地變成對一特定顧客的需求客製化且根據使用者程式庫90的內容採用特殊功能與特徵。以此方式，本發明有效地提供一種用來將該CIM 60客製化的自動化機制，其免除了對CIM 60針對各顧客的需求而手動地重寫與重新設計的需求。這增加了研發一新CIM的周轉時間且亦減少因CIM修改造成之軟體成本與錯誤。
本發明的實施例之優點為包括一較精簡、自動化且更簡單的機制來將一CIM客製化為一特定顧客的測試需求與所需特徵。這導致較快的測試流通量以及降低對於DUT的大量測試之成本與複雜度。其它的優點包括不需要高度訓練的專業人士與設計師來客製化一CIM。
在傳統的測試系統中，控制測試器之許多高階功能與特徵的API需要針對各顧客的需求，如以上所述，手動地重寫與重新設計。該API，例如，本發明之實施例的CIM，藉由針對各顧客提供一標準化生產流程而免於此，該顧客可接著以無論是微小或重大的方式來客製化以符合他們自己的需求。例如，在生產流程中對許多參數大部分的顧客有類似的需求，例如，測試程式如何載入以及在哪載入，測試程式在哪開始、在發生錯誤時輸出警告的類型、顯示給使用者要在哪插入DUT的指示燈種類等等。然而，某些顧客可能會想要對生產流程的預設行為作出微小或重大的改變。
本發明的實施例藉由提供可客製化的標準化界面(例如，CIM)來滿足大多數顧客的類似程序需要，以滿足各個顧客需求。這取代了針對各個顧客基於他們的需求研發特殊API的辛勞而艱苦的程序。它允許各個使用者擁有預設生產流程的專屬(proprietary)組態，而無需 花費資源來研發專屬生產流程的新API或代碼。
該CIM對所有顧客提供預設行為，但有利地亦接受使用者碼與使用者API，其被儲存在一特殊使用者程式庫內。換句話說，預設生產流程取用他自己預先編程使用者程式庫的集合。然而，CIM的預設生產流程可由個別使用者客製化以取用特殊使用者提供之程式庫，其可將生產流程不同於預設行為地組態。因此，該CIM提供一框架，其允許使用者作一些常規客製化，且亦允許完整的使用者定義功能。
由CIM所提供的預設框架包含一預設生產流程，其可為對所有顧客的應用程式。然而，有特殊需要的任何顧客可客製化該預設生產流程以對他們自己的生產流程添加、編輯或刪除步驟。
如以上所提及者，使用者碼與使用者API以此種方式被寫入以致使他們可自動地與該CIM整合且因而改變該CIM的操作及功能與特徵以將該CIM客製化成一顧客的特定製造程序，GUI顯示需求以及DUT。因為該CIM係以此種方式研發為自動化地由顧客所提供之使用者碼與使用者API改變，該CIM較容易客製化、在修改上較不容易出錯且可以更少的時間與成本來客製化。
例如，在使用者站20(其係生產工具)的一顧客可能會使用該API(例如，CIM)以組配在他們的生產流程中進行測試的方式。在該CIM中的該預設生產流程可組配為當該使用者插入一DUT進入一基元時在測試系 統上顯示一紅LED。若一顧客希望客製化該CIM以將他改變為一閃燈，該顧客可簡單地以可改變CIM以顯示閃燈的一API或使用者碼客製化該CIM。這對一個新顧客來說教容易將他們的生產流程與預設CIM整合。據此，本發明的實施例有利地繞過新顧客需要研發他們自己的用代碼和API來處理他們的生產流程之艱苦過程。
在一範例中，一顧客可能會需要控制在基元40a或40b中風扇的行為。當該伺服器30開始，該等風扇一般會被設定成一預設速度與預設溫度控制。本發明的實施例允許使用者改變預設風扇速度為一不同的速度與溫度控制常式，其可為該生產流程的預設行為的一部份。使用者可，例如，能夠使用在該生產工具20(使用SLATETM介面，其將會在以下更詳細討論)上的該GUI改變風扇速度。該使用者可以客製化該CIM且整合新風扇速度與溫度控制至一客製化CIM。例如，一使用者可以使風扇速度取決於一事件，例如，當測試開始時風扇速度會轉為高且當測試結束時風扇速度會轉為低。
在另一範例中，一個新顧客可能會想使用該預設生產流程，其為該CIM的一部份，然而，他們對於他們不想要在預設CIM層級暴露的保密資料可能需要採用一些安全措施。如上所述，CIM亦控制是否要將測試資訊加密以及用於特定顧客測試的加密類型。新顧客可能能夠自定義CIM以使用一特定於顧客之特定類型的加密。換句話說，新顧客可能能夠改變CIM的預設行為以取用特定使 用者程式庫(儲存在程式庫90中)，其以特定顧客的加密方案取代預設加密行為。因此，本發明的實施例允許顧客客製化CIM，以致使他們的測試資料維持使用一特定使用者加密技術加密。
在一不同範例中，一個新的顧客可能會想要改變預設資訊，預設資訊係於設置期間在製造工具20與基元40b之間交換者。例如，一顧客可能會需要於設置期間之一些關於基元40b的附加資訊，其並非原始生產流程的一部份。本發明的實施例有利地允許顧客以使用者特定程式庫(儲存在程式庫90內)改變該預設生產流程以從基元40b獲得附加資訊。該CIM60將使用者碼與儲存在程式庫90內之該使用者API整合，因此其自動化地變成對一特定顧客的需求客製化且根據使用者程式庫90的內容採用特定功能與特徵。
如以上所提及者，該CIM亦可將測試結果資料與相關DUT相關聯，並且將此資訊報告給一顧客或特定程序現場控制模組70，其可將資料以每個DUT為基礎，存檔至一顧客資料庫80以用於之後參考。以範例的方式，該顧客亦可具有專屬資訊或程序，其為現場控制模組70的一部份。該顧客可能會想要改變該預設生產流程以從正在被測試的DUT獲得更多資訊。該顧客可能會想使用該生產工具20(其允許對CIM程式庫60的存取)來修改該預設生產流程以更密切管理在DUT 50b與現場控制模組70之間的資料交換。更進一步地，該顧客可以管理個別DUT程序， 因而允許該顧客更透過各個DUT之測試與處理來控制。例如，該顧客可修改CIM以在該DUT上運行一特定測試程式且在該測試程式內，他們可能會想要在該DUT上執行一個特定測試流程，且提供測試結果回傳給該現場控制模組70。對該該預設生產流程的該顧客修改亦可包含基於該測試序列的結果做出決定。該CIM亦允許顧客編程做出決定的步驟進入該預設生產流程。
該CIM亦允許當新的DUT被插入以用於測試及任何後續處理之發生程序進行更多控制。此外，CIM可允許修改收集和儲存測試之測試結果的方式。顧客亦可選擇將此資料加密以保護該專屬資訊，該專屬資訊為現場控制模組70的一部分。
該製造工具20將一般包含預設服務提供者軟體，例如用於MPT3000HVM產品之SLATETM介面(Advantest SLATETM軟體封裝的一部份)，其係針對在一大量生產環境中非同步單一DUT測試進行最佳化。該生產工具20將亦包含由顧客組配並且是顧客專屬的輔助顧客特定API或流程。該CIM提供了在服務提供者軟體與亦在生產工具20上運行的橋樑，該服務提供者軟體包含該預設生產流程與特定顧客API。換句話說，CIM允許軟體運行預設生產流程以與在製造工具20上的特定顧客客製化整合。
該CIM亦可對該生產工具20客製化GUI顯示資訊。換句話說，顧客可客製化該CIM已改變預設服務 提供者的GUI的方式，例如SLATETM介面軟體出現的樣子。顧客可能能夠使用他們特定的生產流程以及針對顧客為特定的使用者的任何相關訊息或順序來客製化GUI。換句話說，CIM允許經由使用者站20對使用者介面看起來和操作測試器的方式修改。做為CIM允許特定使用者客製化與該該預設服務提供者軟體整合的結果，GUI的客製化再次成為可能。
圖4例示說明一範例測試環境的另一高階架構概要，根據本發明的實施例之該CIM在該環境中操作。
如圖4所示，使用者與測試器軟體，例如SLATETM，的GUI 420互動。例如，圖3的該生產工具20可運行有GUI420的測試器軟體。該生產工具20使用測試器軟體，例如SLATETM，以對該顧客提供客製化，且亦可透過伺服器430(對應於圖3的伺服器30)取用基礎測試資源與程序。該使用者可輸入命令(command)至暫存器、運行或停止來自該GUI 420的CIM 469。如以上所述，CIM 469可使用工作流程指令對GUI420提供客製化GUI顯示資訊。
更進一步地，使用該GUI的該生產工具20可發送UI命令至該伺服器430。該生產工具20可取用基礎測試器資源，例如基元以及使用伺服器430的程序。
一顧客可修改顯示在圖4的CIM為顧客CIM動態鏈接程式庫(DLL)470。顧客產生碼或API可為基於由該CIM研發者所提供的資訊與語法而顧客研發且接著 被載入程式庫90(如圖3可見)。該CIM 469接著整合使用者碼與使用者API以致使其自動化地變成對一特定顧客的需求客製化且根據使用者程式庫90的內容採用特定功能與特徵。顧客修改產生了驗證DLL 472，其係由產品伺服器473所驗證。在一實施例中，程式庫90對應於DLL 472。
如以上所述，該CIM 469控制測試計畫至伺服器430的載入。該CIM 469可暫存，在測試期間，當一個新DUT被插入一基元時且可基於與該DUT相關聯的識別資訊而識別該DUT。該CIM 469例如，從該伺服器430接收關於載入一新DUT的資訊，該伺服器從一連接基元接收資訊。該CIM提供了各種DUT參數給使用者站及/或該控制伺服器430。這使得該CIM可選擇地提供特殊DUT測試參數給該控制伺服器430。該CIM亦發送命令至該伺服器30以選擇一特定基元或者運行一特定DUT。在一DUT上的測試流程可從GUI 420開始或從CIM 469開始，但總是使用伺服器430進行至基元的資訊流程之編譯。
顧客可對該預設生產流程進行修改以使用特定顧客碼客製化任何此等特徵且使用顧客CIM DLL 470將其整合至CIM 469。當伺服器430提供一些功能以存取並利用測試器資源時，例如基元，該CIM允許發生客製化，其可以不同的方式使用該伺服器430的預設功能或者附加或者代替該預設生產流程而執行不同測試流程。
圖5例示說明針對一顧客的一範例工作順序 序列，其已修改根據本發明的實施例之一CIM的預設生產流程。圖5的該工作順序序列例示說明一顧客可對一CIM 569進行來符合他們的獨特測試序列之需求的一些範例修改。例如，顧客可以一按鈕修改在製造工具520的GUI(包含SLATETM軟體)，該按鈕開始由序列「開始工作順序」580之一特定工作順序。當顧客藉由按壓在GUI中恰當的按鈕而啟始一特定工作順序，該CIM收到警示，其接著對顧客介面(例如，圖3中之現場控制模組70)報告工作順序的開始。這在圖5中顯示為「初始化」序列581。
在圖5的範例中，顧客可修改該CIM以掃描在生產現場上包含DUT之每個進貨箱之序列號碼與條碼資料。這可以警告顧客關於工作流程式否與一單一或數個條碼號碼相關聯。在此範例中的條碼掃描器可與伺服器530連接。經修改之CIM與該伺服器530通訊以獲得在序列582期間的條碼資料且接著在序列583期間，該CIM可進一步被修改以將該條碼資料報告回傳給該GUI。
類似地，序列584為由顧客所作之修改以設定工作順序資訊。該顧客可被藉由修改在序列583與584之間的GUI而允許輸入關於工作順序的一些資訊。該工作順序資訊係在該序列584期間被設定且驗證。該CIM接著在序列585期間得到用於驗證工作順序的測試計畫資料。(此外，在序列585，若使用者選擇使用一溫度控制(ThermalControl)DLL，使用者亦可指定一溫度演算法與溫度設定點。該CIM可使顧客輸入測試計畫，例如，透 過現場控制模組70(如圖3中所示)。在序列586期間，工作順序被設定且報告給GUI。待測該DUT係在序列587由CIM所驗證且會在該DUT上運行之測試流程名係從該現場控制模組70所獲得。
類似地，顯示在圖5的各序列為由一顧客對一CIM之該預設生產流程所創造之一修改的一範例。例如，序列572包含該CIM 469與該伺服器430通訊以設定該測試計畫資料、序列573包含該CIM 469與該伺服器430通訊以建立與該DUT的連接以及序列574包含該CIM 469將該事件報告給GUI。
圖6例示說明一個範例狀態圖，其例示說明一顧客可修改根據本發明的實施例之一CIM的預設生產流程的方式。圖6例示說明針對一顧客的一預設生產流程，其中該顧客允許在某些狀態中對該生產流程進行某些客製化。例如，如以下將更詳細討論者，狀態622(客製化工作順序)與狀態623(客製化DUT)提供給顧客整合點，在此對CIM的修改可使由該預設CIM供給之該標準生產流程客製化。換句話說，狀態622與623為對顧客進入生產流程且基於他們特定需求將其客製化的入口點狀態。
據此，在任何其他狀態所作出之任何顧客修改將會需要經過狀態622或623。例如，在狀態603，若使用者想修改與下載該測試計畫相關的一些過程，客製化整合程序將該使用者連結回狀態622。類似地，若該使用者想修改與選擇一測試地點相關之狀態的一些程序(例如， 選擇一基元)，該使用者將需要連結回到狀態623。
在工作順序準備好且處理後，沒有與工作順序相關的更多事件，而是CIM開始處理與一特定DUT相關的事件。據此，狀態622處理與工作順序處理的任何修改且狀態623處理與DUT處理的任何修改。狀態622與623為對一顧客修改該CIM之整合的主要點(major point)，在此處分別執行工作順序處理與DUT處理。然而，其他狀態亦提供攔截點(interception point)，其允許使用者回到客製化整合狀態(例如，622與623)以進行額外的組配。
在狀態601，資料被掃描以用於工作順序，例如，DUT的條碼、序列號等等，且工作程序準備好。(狀態601可粗略地對應於圖5中的序列580至584。)例如，工作順序可包含掃描及測試與SATA硬碟的儲存區(bucket)相關聯的部件號碼。掃描資料被傳遞到下個狀態，客製化工作序列622。如以上所述，狀態622(客製化工作序列)允許由顧客對工作順序處理相關的修改。載客製化之後，於狀態602，基元包含使待測DUT被選擇(或載入)。在此時，若一顧客需要對基元設置作出一些修改，CIM允許顧客在一攔截點返回狀態622以進行此客製化。
在狀態603，在狀態622期間由使用者指示的該測試程式被下載至該基元。類似於狀態602，顧客亦被提供一攔截點，在此以作出任何修改。在狀態604，該DUT條碼被掃描且該使用者藉由回到狀態622而有可作出客製化至此程序的選擇。在該工作順序設定與處理的各階段， 該使用者可藉由回到狀態622作出客製化。
在DUT條碼被掃描後，一旦該工作順序被處理，接著個別DUT測試客製化在狀態604後開始。若該DUT條碼在狀態604成功地被掃描，生產流程進行到狀態623，否則若掃描到一不正確的裝置或掃描失敗，循環回到狀態604。例如，使用者可掃描可能不是初始工作順序的一部分的裝置，並且可能已錯誤地被放置在應當作為工作順序之一部分待測試的裝置的托盤中。換句話說，裝置可能具有與在狀態601期間掃描的儲存區(bucket)部件號碼不相關的序列號碼。在這種情況下，將在GUI上向使用者顯示錯誤訊息並且生產流程將是回到狀態604。
在狀態623，使用者可使客製化與該DUT處理相關聯。在狀態605，測試地點的選擇，例如，發生基元選擇。測試地點選擇可提供顧客將測試地點選擇客製化的機會，例如，顧客可能會想在測試器準備好要載入DUT時顯示一特定顏色的燈。再次，為了進行客製化，狀態605提供回到狀態623的攔截點。
在狀態606，該DUT被偵測。該顧客可能會需要作出與該DUT偵測相關的客製化，例如，顧客可能會想要一GUI訊息來警告使用者已經偵測到DUT了。再次，為了進行客製化，狀態606提供回到狀態623的一攔截點。一旦偵測到該DUT，該DUT資料被傳送至該伺服器430與該GUI 420且在GUI之該地點顯示根據DUT資料而改變。最後，在狀態607，該DUT可被測試。
圖7例示說明一範例計算機實施程序的一流程圖，該程序用於修改用來控制根據本發明之實施例之一測試器的一應用程式介面。
在步驟702，一應用程式介面，例如該CIM被編程以在一測試器上執行一工作流程。簡單來說，該CIM 60可控制該測試系統100的許多高階功能與特徵，對於1)要使用哪個測試計畫，2)使用者介面看起來如何且如何經由該使用者站台操作該測試器)，3)當新的DUT被插入以用於測試且控制後續程序時的處理，4)如何收集與儲存測試的測試結果，等等。
如較早所述，該CIM 60控制該系統300的許多高階功能與特徵。例如，在一實施例中，該CIM 60控制測試計畫載入伺服器30。在另一實施例中，該CIM 60可感測，在測試期間，何時有一個新的DUT插入一基元且基於與該DUT相關聯的識別資訊辨認該DUT。在又一實施例中，該CIM提供各種DUT參數給該使用者站台及/或該控制伺服器30。這使得CIM可選擇性地提供特殊DUT測試參數給該控制伺服器30。
在一實施例中，該CIM亦可提供客製化GUI顯示資訊給該製造工具20。此外，在一實施例中，該CIM可啟始測試計畫執行且易接收在各種DUT上執行測試計畫的結果。額外地，在一實施例中，該CIM可對測試結果進行分級和記錄(binning and logging)功能。在一不同實施例中，該CIM可使測試結果資料與相關DUT相關聯， 且將此資訊報告給一顧客或特定程序現場控制模組70，其可將該資料以每個DUT為基礎，存檔至一顧客資料庫80以用於之後參考。
在步驟704，該CIM可組配來修改該生產流程以執行一特定使用者程序。根據本發明的態樣，使用者可在與系統100相關聯的程式庫90內儲存使用者碼且使用API。使用者碼可為基於由CIM研發者所提供的資訊和語法而客製化研發且接著載入程式庫90。
最後，在步驟706，該修改係與CIM整合以提供對特定使用者客製化的一API。該CIM 60整合使用者碼與使用者API以致使其自動地變成對一特定顧客的需求客製化且根據使用者程式庫90的內容採用特殊功能與特徵。以此方式，本發明的實施例有效地提供一種用來將該CIM 60客製化的自動化機制，其免除了對CIM 60針對各顧客的需求而手動地重寫與重新設計的需求。
為了解釋的目的，以上的描述已參照具體實施例描述。然而，以上的例示性討論並非意欲窮舉或限制本發明於所揭露的具體形式。基於上述教示，許多修改和變化是可能的。為了最好地解釋本發明的原理及其實際應用，選擇並描述實施例，因而使得習於此技藝者能夠最佳地利用本發明，且有各種修改的各種實施例可適合於預期的特定用途。
700:流程圖
702、704、706:狀態

Claims (13)

  1. 一種使用自動化測試設備(ATE)以進行測試的方法，該方法包含：編程一應用程式介面(API)以控制在一測試器上的一預設生產流程，其中，該預設生產流程包含複數個測試序列，該等測試序列與連接至該測試器的待測裝置(DUT)上執行的測試相關聯；根據一特定使用者API組配該API以修改該預設生產流程，來將該等複數個測試序列客製化，其中，該特定使用者API包含根據一使用者的測試需要而對該預設生產流程的一修改，其中，包含特定使用者計算機碼之該特定使用者API係可操作來被儲存在一使用者程式庫內，該使用者程式庫係與該API通訊式耦接，並且其中，對該預設生產流程的修改包含在特定於該使用者的測試期間從該等DUT收集額外的測試資料；以及將該特定使用者API與該API整合來將該API客製化，以用於特定於該使用者之一測試程序，其中，該整合包含將定義在該使用者程式庫內用於該特定使用者API之特徵併入至該API，且使用該特定使用者計算機碼來改變該API，其中，該等複數個測試序列係可操作來根據該特定使用者API以使用與在該等DUT上測試之執行相關的一特定使用者加密方案來將資訊加密而被客製化。
  2. 如請求項1的方法，其中，該API係與一伺 服器及執行一圖形使用者介面的一計算裝置通訊式耦接，並且透過該伺服器與該圖形使用者介面來控制該預設生產流程。
  3. 如請求項1的方法，其中，該額外的測試資料在一使用者指定現場控制模組處被報告給該使用者，其中，該現場控制模組包含在一使用者之生產現場的一伺服器，其中，該現場控制模組係與可操作來將額外資料存檔的一資料庫通訊式耦接。
  4. 如請求項3的方法，其中，該現場控制模組包含與該使用者和在該等DUT上執行的測試相關的專屬(proprietary)資訊。
  5. 如請求項1的方法，其中，該等複數個測試序列係可操作來根據該特定使用者API而被客製化以進行選自於由下列各者組成之群組的動作：載入一測試計畫至一伺服器、基於與該DUT相關聯的識別資訊辨別插入一基元的一DUT、提供DUT參數予使用者站及該伺服器、提供客製化GUI顯示予一使用者、初始化測試計畫之執行、接收在一DUT上該測試計畫之執行的結果以及進行測試結果之分級和記錄(binning and logging)。
  6. 一種非暫時性計算機可讀媒體，其具有實施於其內之計算機可讀程式碼，可致使一計算機系統進行一種使用自動化測試裝備(ATE)以進行測試的方法，該方法包含：編程一應用程式介面(API)以控制在一測試器上的一 預設生產流程，其中，該預設生產流程包含複數個測試序列，該等測試序列與連接至該測試器的待測裝置(DUT)上執行的測試相關聯；根據一特定使用者API組配該API以修改該預設生產流程，來將該等複數個測試序列客製化，其中，該特定使用者API包含根據一使用者的測試需要而對該預設生產流程的一修改，其中，包含特定使用者計算機碼之該特定使用者API係可操作來被儲存在一使用者程式庫內，該使用者程式庫係與該API通訊式耦接，並且其中，對該預設生產流程的修改包含在特定於該使用者的測試期間從該等DUT收集額外的測試資料；以及將該特定使用者API與該API整合來將該API客製化，以用於特定於該使用者之一測試程序，其中，該整合包含將定義在該使用者程式庫內用於該特定使用者API之特徵併入至該API，且使用該特定使用者計算機碼來改變該API，其中，該等複數個測試序列係可操作來根據該特定使用者API以使用與在該等DUT上測試之執行相關的一特定使用者加密方案來將資訊加密而被客製化。
  7. 如請求項6的計算機可讀媒體，其中，該API係與一伺服器及執行一圖形使用者介面的一計算裝置通訊式耦接，並且透過該伺服器與該圖形使用者介面來控制該預設生產流程。
  8. 如請求項6的計算機可讀媒體，其中，該 額外的測試資料在一使用者指定現場控制模組處被報告給該使用者，其中，該現場控制模組包含在一使用者之生產現場的一伺服器，其中，該現場控制模組係與可操作來將額外資料存檔的一資料庫通訊式耦接。
  9. 如請求項8的計算機可讀媒體，其中，該現場控制模組包含專屬(proprietary)使用者相關資訊。
  10. 如請求項6的計算機可讀媒體，其中，該等複數個測試序列係可操作來根據該特定使用者API而被客製化以進行選自於由下列各者組成之群組的動作：載入一測試計畫至一伺服器、基於與該DUT相關聯的識別資訊辨別插入一基元的一DUT、提供DUT參數予使用者站及該伺服器、提供客製化GUI顯示予一使用者、初始化測試計畫之執行、接收在一DUT上該測試計畫之執行的結果以及進行測試結果之分級和記錄(binning and logging)。
  11. 一種使用自動化測試設備(ATE)以進行測試的系統，該系統包含：與複數個基元通訊式耦接的一伺服器，其中，該等複數個基元之各者包含複數個DUT；運行一第一圖形使用者介面(GUI)的一第一計算裝置，其中，該計算裝置係與該伺服器通訊式耦接，並且其中，該圖形使用者介面允許一使用者取用該等複數個基元；與該伺服器及該第一計算裝置通訊式耦接的一第二計算裝置，並且其中，該第二計算裝置係組配為可：編程一應用程式介面(API)以控制一預設生產流 程，其中，該預設生產流程包含複數個測試序列，該等測試序列與連接至該伺服器的該等DUT執行的測試相關聯；根據一特定使用者API組配該API以修改該預設生產流程，來將該等複數個測試序列客製化，其中，該特定使用者API包含根據一使用者的測試需要而對該預設生產流程的一修改，其中，包含特定使用者計算機碼之該特定使用者API係可操作來被儲存在一使用者程式庫內，該使用者程式庫係與該第二計算裝置通訊式耦接，並且其中，對該預設生產流程的修改包含在特定於該使用者的測試期間從該等DUT收集額外的測試資料；以及將該特定使用者API與該API整合來將該API客製化，以用於特定於該使用者之一測試程序，其中，為了整合該特定使用者API，該第二計算裝置進一步被組配以將定義在該使用者程式庫內用於該特定使用者API之特徵併入至該API，且使用該特定使用者計算機碼來改變該API，其中，該等複數個測試序列係可操作來根據該特定使用者API以使用與在該等DUT上測試之執行相關的一特定使用者加密方案來將資訊加密而被客製化。
  12. 如請求項11的系統，該使用者使用該GUI以組配該API而修改該預設生產流程。
  13. 如請求項11的系統，其中，該額外的測試 資料在一使用者指定現場控制模組處被報告給該使用者，其中，該現場控制模組包含在一使用者之生產現場的一伺服器，其中，該現場控制模組係與可操作來將額外資料存檔的一資料庫通訊式耦接。
TW107113547A 2017-04-28 2018-04-20 使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體 TWI761495B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/582,285 US10592370B2 (en) 2017-04-28 2017-04-28 User control of automated test features with software application programming interface (API)
US15/582,285 2017-04-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201843589A TW201843589A (zh) 2018-12-16
TWI761495B true TWI761495B (zh) 2022-04-21

Family

ID=63917218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107113547A TWI761495B (zh) 2017-04-28 2018-04-20 使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10592370B2 (zh)
JP (1) JP6761441B2 (zh)
KR (1) KR102430283B1 (zh)
CN (1) CN108845557B (zh)
TW (1) TWI761495B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI848329B (zh) * 2022-06-29 2024-07-11 大陸商南京鼎華智能系統有限公司 製造軟體塑模系統及其方法
TWI900102B (zh) * 2023-07-31 2025-10-01 旺矽科技股份有限公司 基於節點流程的自動化設備客製化功能開發系統、運作方法、檢測系統與非暫態電腦可讀取儲存媒體

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12487286B2 (en) 2018-05-16 2025-12-02 Advantest Corporation Diagnostic tool for traffic capture with known signature database
KR102856263B1 (ko) * 2020-02-25 2025-09-05 에스케이하이닉스 주식회사 테스트 시스템 및 그의 구동 방법
TWI773140B (zh) * 2020-03-05 2022-08-01 日商愛德萬測試股份有限公司 用於流量捕獲及除錯工具之圖形使用者介面
US12475024B2 (en) 2020-04-21 2025-11-18 UiPath, Inc. Test automation for robotic process automation
US11797432B2 (en) 2020-04-21 2023-10-24 UiPath, Inc. Test automation for robotic process automation
CN111694733A (zh) * 2020-05-22 2020-09-22 五八有限公司 一种软件开发工具包sdk的api测试方法以及测试装置
CN112819605A (zh) * 2021-01-29 2021-05-18 山东浪潮通软信息科技有限公司 资金结算业务测试方法、装置及计算机可读介质
CN114911653B (zh) * 2021-02-09 2025-11-04 浙江宇视科技有限公司 一种接口检测方法、装置、电子设备、系统及介质
CN112925509A (zh) * 2021-02-25 2021-06-08 苏州艾方芯动自动化设备有限公司 集成电路测试分选机的通用型硬件相关程序库的架构系统
US20230027880A1 (en) * 2021-07-22 2023-01-26 Infor (Us), Llc Techniques for automated testing of application programming interfaces
CN115113981B (zh) * 2022-07-11 2025-12-16 苏州忆联信息系统有限公司 启动多个仿真环境验证dut的方法及相关设备
CN116913361B (zh) * 2023-06-08 2024-05-07 深圳市晶存科技有限公司 硬盘自动测试方法、系统及介质
TWI885795B (zh) * 2024-03-12 2025-06-01 廣達電腦股份有限公司 自動化測試系統
WO2025196789A1 (en) * 2024-03-21 2025-09-25 Jio Platforms Limited System and method for performing a plurality of tests on a set top box (stb) device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050235263A1 (en) * 2004-04-19 2005-10-20 Bundy Laura M Apparatus, system and/or method for combining multiple tests to a single test in a multiple independent port test environment
US20140236524A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a fpga block
US20140258778A1 (en) * 2013-03-07 2014-09-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Automated test equipment and control method thereof
TW201514518A (zh) * 2013-08-09 2015-04-16 Advantest Singapore Pte Ltd 自動化測試設備、用以提供指令序列之指令提供器、用以提供信號至受測裝置之方法、用以提供指令序列之方法、及測試系統

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5910895A (en) * 1997-06-13 1999-06-08 Teradyne, Inc. Low cost, easy to use automatic test system software
US6681351B1 (en) * 1999-10-12 2004-01-20 Teradyne, Inc. Easy to program automatic test equipment
CA2321346A1 (en) * 2000-09-28 2002-03-28 Stephen K. Sunter Method, system and program product for testing and/or diagnosing circuits using embedded test controller access data
TWI344595B (en) * 2003-02-14 2011-07-01 Advantest Corp Method and structure to develop a test program for semiconductor integrated circuits
US7519827B2 (en) * 2004-04-06 2009-04-14 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Provisioning and use of security tokens to enable automated test equipment
US7197416B2 (en) * 2004-05-22 2007-03-27 Advantest America R&D Center, Inc. Supporting calibration and diagnostics in an open architecture test system
US7210087B2 (en) * 2004-05-22 2007-04-24 Advantest America R&D Center, Inc. Method and system for simulating a modular test system
US7852094B2 (en) 2006-12-06 2010-12-14 Formfactor, Inc. Sharing resources in a system for testing semiconductor devices
US7640132B2 (en) * 2007-04-23 2009-12-29 Advantest Corporation Recording medium and test apparatus
JP2008299397A (ja) * 2007-05-29 2008-12-11 Yokogawa Electric Corp テストプログラム開発装置
US20090164931A1 (en) * 2007-12-19 2009-06-25 Formfactor, Inc. Method and Apparatus for Managing Test Result Data Generated by a Semiconductor Test System
CN101247292B (zh) * 2008-02-22 2011-08-10 中兴通讯股份有限公司 基于通用测试仪表应用编程接口的测试设备及测试方法
US20090224793A1 (en) * 2008-03-07 2009-09-10 Formfactor, Inc. Method And Apparatus For Designing A Custom Test System
US8078424B2 (en) 2008-09-29 2011-12-13 Advantest Corporation Test apparatus
US8533545B2 (en) * 2009-03-04 2013-09-10 Alcatel Lucent Method and apparatus for system testing using multiple instruction types
US10118200B2 (en) * 2009-07-06 2018-11-06 Optimal Plus Ltd System and method for binning at final test
US9164859B2 (en) * 2009-09-25 2015-10-20 Qualcomm Incorporated Computing device for enabling concurrent testing
US8127187B2 (en) 2009-09-30 2012-02-28 Integrated Device Technology, Inc. Method and apparatus of ATE IC scan test using FPGA-based system
US20110288808A1 (en) * 2010-05-20 2011-11-24 International Business Machines Corporation Optimal test flow scheduling within automated test equipment for minimized mean time to detect failure
US9514016B2 (en) 2011-02-01 2016-12-06 Echostar Technologies L.L.C. Apparatus systems and methods for facilitating testing of a plurality of electronic devices
US9203617B2 (en) * 2011-08-17 2015-12-01 Vixs Systems, Inc. Secure provisioning of integrated circuits at various states of deployment, methods thereof
CN102306122A (zh) * 2011-09-14 2012-01-04 北京星网锐捷网络技术有限公司 自动化测试方法及设备
CN102590730A (zh) * 2012-01-16 2012-07-18 中冶南方（武汉）自动化有限公司 模块化开放性pcba功能测试平台、测试系统及方法
US9069719B2 (en) * 2012-02-11 2015-06-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and system for providing a smart memory architecture
US10371744B2 (en) * 2012-04-11 2019-08-06 Advantest Corporation Method and apparatus for an efficient framework for testcell development
JP5816144B2 (ja) * 2012-08-30 2015-11-18 株式会社アドバンテスト テストプログラムおよび試験システム
CN102929595A (zh) * 2012-09-20 2013-02-13 腾讯科技（深圳）有限公司 一种实现动作指令的方法及装置
US9053238B2 (en) * 2013-01-25 2015-06-09 International Business Machines Corporation Tool-independent automated testing of software
US9952276B2 (en) * 2013-02-21 2018-04-24 Advantest Corporation Tester with mixed protocol engine in a FPGA block
US20140236527A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Cloud based infrastructure for supporting protocol reconfigurations in protocol independent device testing systems
US20140237292A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Gui implementations on central controller computer system for supporting protocol independent device testing
US9810729B2 (en) * 2013-02-28 2017-11-07 Advantest Corporation Tester with acceleration for packet building within a FPGA block
US10156611B2 (en) * 2013-09-12 2018-12-18 Teradyne, Inc. Executing code on a test instrument in response to an event
JP6581097B2 (ja) * 2014-01-10 2019-09-25 チャンベッラ・リミテッド 自動デバイスプログラム生成のための方法および装置
CN105092992B (zh) * 2014-04-15 2020-01-07 爱德万测试公司 用于在ate上进行向量控制的测试的方法和设备
DE102017117322A1 (de) * 2017-07-31 2019-01-31 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes mittels computergestütztem Entwurf von Testszenarien

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050235263A1 (en) * 2004-04-19 2005-10-20 Bundy Laura M Apparatus, system and/or method for combining multiple tests to a single test in a multiple independent port test environment
US20140236524A1 (en) * 2013-02-21 2014-08-21 Advantest Corporation Tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a fpga block
US20140258778A1 (en) * 2013-03-07 2014-09-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Automated test equipment and control method thereof
TW201514518A (zh) * 2013-08-09 2015-04-16 Advantest Singapore Pte Ltd 自動化測試設備、用以提供指令序列之指令提供器、用以提供信號至受測裝置之方法、用以提供指令序列之方法、及測試系統

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI848329B (zh) * 2022-06-29 2024-07-11 大陸商南京鼎華智能系統有限公司 製造軟體塑模系統及其方法
TWI900102B (zh) * 2023-07-31 2025-10-01 旺矽科技股份有限公司 基於節點流程的自動化設備客製化功能開發系統、運作方法、檢測系統與非暫態電腦可讀取儲存媒體

Also Published As

Publication number Publication date
TW201843589A (zh) 2018-12-16
CN108845557A (zh) 2018-11-20
JP2018189641A (ja) 2018-11-29
US10592370B2 (en) 2020-03-17
US20180314613A1 (en) 2018-11-01
KR102430283B1 (ko) 2022-08-05
KR20180121410A (ko) 2018-11-07
JP6761441B2 (ja) 2020-09-23
CN108845557B (zh) 2023-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI761495B (zh) 使用自動化測試設備以進行測試之方法及系統、以及相關的非暫時性計算機可讀媒體
TWI759466B (zh) 用於進行自動化測試的系統及使用自動化測試設備以進行測試的方法
CN105378493B (zh) 用于支持协议无关器件测试系统中协议重新配置的基于云的基础设施
US6470227B1 (en) Method and apparatus for automating a microelectric manufacturing process
US20140237292A1 (en) Gui implementations on central controller computer system for supporting protocol independent device testing
TWI761496B (zh) 使用自動化測試設備以進行測試的方法及用以進行自動化測試的系統
US6720194B1 (en) Semiconductor characterization and production information system
CN101710352A (zh) 配置仿真器以仿真多个设备的方法、系统和图形用户界面
US20210270888A1 (en) Eye diagram capture test during production
CN101710351A (zh) 用于对多个设备进行仿真的方法和系统
JP5968451B2 (ja) 計算機システム、及びプログラム
CN115774662A (zh) 一种业务流程测试方法、装置、设备及存储介质
KR102253549B1 (ko) 오류 정형화를 이용한 발사통제기 자동 점검 방법 및 그 장치
CN119557209A (zh) 基于深度学习的界面及接口自动化测试整合一体化方法
CN120563042A (zh) 一种测试晶圆的测试管理方法和测试管理系统
CA2291396A1 (en) Assembly and testing tracking system