TWI759466B - 用於進行自動化測試的系統及使用自動化測試設備以進行測試的方法 - Google Patents

Abstract

揭露一種用來進行一自動化測試的系統。該系統包含一使用者計算機，其可操作來從一使用者載入一測試程式至一控制伺服器，其中，該測試程式包含複數個測試流程。該系統進一步包含部屬複數個基元的一測試器。此外，該控制伺服器係通訊式耦接於該使用者計算機與該測試器，其中，該控制伺服器可操作來從該等複數個基元下載該測試程式至一基元，並且其中，該控制伺服器更可操作來執行來自在該基元內之在一第一DUT上的該等複數個測試流程中的一第一測試流程，並且同時地執行來自在該基元內之在一第二DUT上的該等複數個測試流程中的一第二測試流程。

Description

用於進行自動化測試的系統及使用自動化測試設備以進行測試的方法 相關申請案

本申請案係關於在________所提申之標題為「支援使用不同應用程式之多使用者的測試系統」的美國專利申請案________號，發明人指定為洛探奈涵(Rotem Nahum)、瑞貝卡拓依(Rebecca Toy)，帕碼賈那路里(Padmaja Nalluri)，和黎恩陳(Leon Chen)作為發明人，並且具有代理人案號ATSY-0052-01.01US。為了所有目的，該申請的全部內容通過引用併入本文。

本揭露係大致關於自動化測試設備之領域，更精確地，係關於控制此等設備的技術。

自動化測試設備(ATE)可為能夠在一半導體晶圓或晶粒、一積體電路(IC)、一電路板或諸如一固態驅動機的一封裝裝置進行一測試的任何測試總成。ATE 總成可被使用來執行自動化測試，其快速地進行量測且產生接著可被分析的測試結果。一ATE總成可為來自與一量測儀耦接之一計算機系統的任何物，到一複雜自動化測試總成，其可包括一客戶、專用計算機控制系統與許多不同測試儀器，該等測試遺棄可自動地測試電子部件及/或半導體晶圓測試，諸如系統單晶片(SOC)測試或積體電路測試。ATE系統減少了花費在測試裝置上的時間已確保裝置功能如設計一般，且作為診斷工具來在給定裝置觸及顧客以前，判定在給定裝置內不良組件的存在。

當典型的ATE系統測試一裝置(通常稱為待測裝置或DUT)時，ATE系統將施加刺激(例如，電氣信號)於裝置並檢查裝置的響應(例如，電流和電壓)。通常，如果裝置在預先建立的容忍值內成功提供某些預期響應，則測試的最終結果為「通過」，或者如果裝置未在預先建立的容忍值內提供預期響應，則「失敗」。更複雜的ATE系統能夠評估一故障裝置，以判定可能故障的一個或多個原因。

對一ATE系統來說，通常包括指導ATE系統操作的計算機。典型地，計算機運行一個或多個專用軟體程式以提供(甲)一測試開發環境以及(乙)一裝置測試環境。在該測試開發環境中，使用者通常會創造一測試程式，例如，可控制ATE系統的各種部分之一或多個檔案的基於軟體的結構。在該裝置測試環境中，使用者通常會提供ATE系統一個或多個用於測試的裝置，並指導ATE系統 根據測試程式對每個裝置測試。使用者可以藉由簡單地將額外裝置提供給ATE系統而測試額外裝置，並且指導ATE系統根據測試程式測試額外裝置。據此，ATE系統使得使用者能夠基於測試程式以一致且自動化的方式測試多個裝置。

在一典型的習知測試環境中，DUT被放置在受控的環境腔室或「烤箱」中。該等DUT與測試頭的切片(slice)連接。幾個DUT可以被連接到一單一切片，且一單一測試腔室可以包含幾個切片。該等切片含有根據測試計劃而對該等DUT進行測試的測試電路。當在烤箱中時，該等DUT不能被使用者取用，以免干擾腔室的受控環境。該等複數個切片通常在鎖定步驟中操作，對該等複數個DUT執行相同的測試計劃。更進一步地，測試頭通常會由直接連接到該測試頭的一單一控制器計算機系統控制，並且以此種方式控制測試頭的所有切片。控制器計算機通常由單一個使用者在該等DUT上執行單一測試計劃而操作。

此種測試環境的一問題在於，在每次測試期間，通常的狀況是沒有足夠的DUT來完全填充給定測試頭的切片。因此，在這種情況下，在測試期間空(vacant)切片會因為沒有進行任何有用的工作而浪費掉。因為非常昂貴的電子裝置被閒置，此等空位可能會降低整體測試流通量。此等閒置切片不能被用於不同的用途，因為：1)在測試期間腔室的內部不可觸及；2)控制計算機在任何時間只能支援一個使用者；3)該等切片(所有的切片) 一次只能在通常專用於一種類型的DUT的一個測試計劃上運行。

測試腔室亦是體積大且昂貴的。傳統測試環境的另一個缺點是，為了充分利用測試室，想要在幾個不同使用者群組之間共享測試腔室的一典型顧客(例如，製造，工程等)無法這樣作。因為在典型的測試環境中，測試切片一次只能在單一個測試計劃上運行，並且僅支援單一使用者實驗，因此顧客在任何給定時間都無法充分利用測試腔室，因此被迫購買額外設備的或犧牲效率。總之，傳統的測試室非常不靈活。

因此，存在可以在多個使用者之間共享測試環境的需求。此外，需要的是可以包含多個測試切片的測試環境，其中，各切片可以運行獨立的測試計劃或獨立於測試室中剩餘的切片而使用。而且，所需要的是允許在腔室內測試時可允許對腔室內部取用的測試室，以致使腔室可以被多個使用者同時充分利用。最後，需要的是一種測試環境，在其中，在個測試切片內的不同DUT可獨立於在系統中的其他DUT而運行測試流程(flow)。使用所描述系統之有益的態樣而沒有它們各自的限制，本發明的實施例提供了解決這些問題的新穎解決方案。

在此揭露之本發明利用了複數個基元(或測試切片)以及相關聯的DUT介面板(DIB)來測試DUT。各個基元都是模組化的，代表著它可以獨立於其他基元操 作。因此，即使在不同的DUT類型上操作，設置在一機架中的複數個基元也可以在不同的測試計劃下運行。基元與一控制伺服器通訊以獲得指令、控制、管理等。伺服器能夠為其支援的各種基元主持(host)多個應用程式或測試計劃。該基元可以經由一標準IP網路與伺服器通訊。各種計算機系統，其可以為在遠端，可以經由標準IP網路連接取用伺服器。此外，在一個實施例中，當測試與基元之一機架相關聯的DUT時，不再需要環境腔室，因此有利地在任何時間允許對該等DUT和基元的直接使用者操縱。

因此，在此測試平台下，由於：1)基元模組化；和2)標準IP網路的使用，對於將要在給定的測試計劃下根據一個使用者而測試複數個DUT的複數個基元為可能的，同時由第二使用者指導之在同一機架的第二複數個基元正在進行完全不同的應用程式，依此類推。因此，排除了先前技術中與閒置測試電路相關聯的問題。

更進一步地，在本發明的一實施例中，允許任何給定基元(或測試切片)中的各個DUT運行與在該基元中不同的測試流程，因而為使用者提供增加的彈性且使得測試程序更加高效率。換句話說，不同於在測試器內的所有DUT上運行相同測試程式和相同測試流程的傳統測試器所需，本發明的實施例允許在一基元(或測試切片)內的各個DUT運行來與在同一基元內其他DUT不同的測試流程。

在一個實施例中，揭露了一種用於進行自動 化測試的系統。該系統包括一使用者計算機，其可操作來將來自一使用者的一測試程式載入一控制伺服器，其中該測試程式包含複數個測試流程。該系統亦包含一測試器，其部署複數個基元。此外，該控制伺服器可與該使用者計算機和該測試器通訊式耦接，其中，該控制伺服器可操作來從該等複數個基元下載測試程式至一基元，並且其中，該控制伺服器進一步可操作來執行來自在該基元內的一第一DUT上之該等複數個測試流程中之一第一測試流程，且同時執行來自在該基元內的一第二DUT上該等複數個測試流程中之一第二測試流程。

在另一個實施例中，揭露了用於進行一自動化測試的系統。該系統包含可操作以將一測試程式從一使用者載入到一控制伺服器的一使用者計算機，其中該測試程式包含複數個測試流程。該系統還包括部署複數個測試切片的一測試器。此外，該控制伺服器可通訊式耦接到該使用者計算機和該測試器，其中，該控制伺服器可操作以下載該測試程式至來自該等複數個測試切片的一測試切片，並且其中，該控制伺服器進一步可操作以同時地執行在該測試器切片內各DUT上的一不同測試流程。

在一不同實施例中，揭露一種使用自動化測試設備(ATE)而用於進行測試的方法。該方法包含從一使用者計算機載入一測試程式至一控制伺服器，其中，該控制伺服器與在一測試器內的複數個基元通訊，並且其中，該等複數個測試程式包含複數個測試流程。該方法亦 包含下載該測試程式至來自該等複數個基元的一基元並且執行來自在該基元內的一第一DUT上之該等複數個測試流程中的一第一測試流程。最後，該方法包含同時地執行來自在該基元內的一第二DUT上該等複數個測試流程中之一第二測試流程。

以下詳細說明連同附加圖式將提供對本發明的性質和優點的更好理解。

10:環境腔室

20:測試頭

30:托盤

40、340A~340N:測式切片

110:系統

112:通訊基礎架構

114:處理器

116:記憶體

118:記憶體控制器

120:輸入/輸出(I/O)控制器

122:通訊介面

124:顯示裝置

126:顯示器轉接器

128:輸入裝置

130:輸入介面

132:主要儲存裝置

133:備份儲存裝置

134:儲存介面

140:資料庫

141、145:伺服器

150:網路

151、152、153:客戶端系統

160、170、190:儲存裝置

195:智能儲存陣列

200:網路架構

300:ATE

301:系統控制器

302:網路交換機

304:測試處理器

308:記憶體模組

310A、310B:站點模組

316'318:FPGA

332A~332B:裝置電力供應器

352、354:線

372:DUT

380:負載板

390:加熱腔室

400:DIB

420:DUT

410、491、540:基元

450:外殼

510、520:使用者計算機

525:伺服器

550:DUT

620:測試器

710:測試方法

720:測試套件

730:測試參數

740:測試分段

760:程式序列

795:窗口

800、900:流程

802、804、806、808、810、902、904、906、908:步驟

本發明的實施例以範例而非限制方式例示說明，在附加圖式中的圖類似的標號指涉類似元件。

圖1A為根據本發明之一實施例的一計算機系統，本發明的自動化測試系統的實施例可在該計算機系統上實施；圖1B為為根據本發明之一實施例的一網路架構的方塊圖，其中客戶端系統與伺服器可與一網路耦接；圖2例示說明一典型測試環境，其中DUT放置在一受控環境腔室中；圖3為一詳細概要方塊圖例示說明一測試切片的一範例實施例及其與該系統控制器及DUT互連；圖4A例示說明根據本發明之一實施例之與一DUT介面板(DIB)400介接的一基元；圖4B例示說明包含複數個基元的一工作胞元；圖5例示說明根據本發明之一實施例的一測 試系統，該測試系統支援多使用者使用不同應用程式；圖6為一高階概述例示說明本發明之實施例所提供超越傳統測試器之新穎的改進；圖7例示說明根據本發明之一實施例的一測試程式的各種組件；圖8例示說明根據本發明之一實施例的一範例計算機實施程序的一流程圖，該程序用於在相同測試器上同時運行多個測試程式；圖9例示說明根據本發明之一實施例的一範例計算機實施程序的一流程圖，該程序用於在相同測試器上的一單一基元內部同時運行多個測試流程；在圖式中，具有相同代號的元件具有相同或類似功能。

現在將詳細參考本揭露的各種實施例，其範例在附圖中例示說明。雖然結合此等實施例進行描述，可理解的是，它們並非意欲將本揭露限制於這些實施例。相反地，本揭露旨在涵蓋可包括落入如所附加請求項中所定義之本揭露的精神和範圍內的替代、修改和等效物。此外，在本揭露以下詳細說明中，提出了許多特定細節以提供對本揭露的透徹理解。然而，可理解的是，本揭露可以在沒有這些特定細節的情況下實施。在其他情況下，為了不要不必要地模糊本揭露的各種態樣，不詳細描述眾所周知的方法、過程、組件和電路。

以下詳細說明的一些部分以過程、邏輯塊、處理以及其他符號表示來呈現，符號表示為在一計算機記憶體內的資料位元的操作。此等描述和表示是資料處理領域的技術人員為了將其工作的本質最有效地傳達給本領域其他技術人員的手段。在本申請案中，一過程、邏輯塊、程序或類似者被認為是可導致所需結果的一自我一致序列的步驟或指令。該等步驟是利用物理量的物理操縱的步驟。通常，雖然並非必要，此等量採取能夠在計算機系統中儲存、傳輸、組合、比較和以其他方式操縱的電氣或磁信號的形式。已經證明了主要是為了共同使用的原因，有時將這些信號稱為交易、位元、值、元素、符號、字符、樣本、像素等是方便的。

然而，應該記住的是，所有此等和類似的術語都與恰當的物理量相關聯，並且僅是應用於此等量的方便標籤。除非特別聲明，否則從以下討論中顯而易見的是，應理解在本揭露中各處利用用語諸如「組配」、「提供」、「執行」、「傳送」、「獲得」、「實現」、「程式化」、「分配」、「關聯」、「設置」、「取用」、「控制」、「判定」、「識別」、「緩存(caching)」、「維護」、「比較」、「移除」、「讀取」、「寫入」等是指涉一計算機系統或類似電子計算裝置或處理器(例如，圖1A的系統110)的動作和程序(例如，圖8的流程圖800)。計算機系統或類似的電子計算裝置操縱並轉換在計算機系統記憶體、暫存器或其他此等訊息儲存器、傳輸或顯示裝置內 以物理量(電子)表示的資料。

在此描述的實施例可以在存在於一些計算機可讀儲存媒體的形式上由一個或多個計算機或其他設備執行的計算機可執行指令的一般上下文中討論，計算機可讀儲存媒體諸如程式模組。以範例而非限制，計算機可讀儲存媒體可以包含非暫時性計算機可讀儲存媒體和通訊媒體、非暫時性計算機可讀媒體包括除了暫時傳播信號之外的所有計算機可讀媒體。通常，程式模組包括可進行特定任務或實施特定抽象資料類型的常式、程式、物件、組件、資料結構等。程式模組的功能可以根據需求在各種實施例中組合或分配。

計算機儲存媒體包括用於儲存諸如計算機可讀指令、資料結構、程式模組或其他資料之訊息的以任何方法或技術實施的依電性和非依電性、可移除和不可移除媒體。計算機儲存媒體包括但不限於隨機存取記憶體(RAM)、僅讀記憶體(ROM)電可抹除可程式化ROM(EEPROM)、快閃記憶體或其他記憶體技術、光碟ROM(CD-ROM)、數位多功能碟(DVD)或其他光儲存器、磁帶盒、磁帶、磁碟儲存器或其他磁性儲存設備，或可使用來儲存所需資訊並可被取用以擷取該資訊的任何其他媒體。

通訊媒體可以實施計算機可執行指令、資料結構和程式模組，並且包括任何資訊傳遞媒體。作為範例而非限制，通訊媒體包括諸如一有線網路或直接有線連接 之類的有線媒體，且有線媒體諸如聲學、射頻(RF)、紅外線以及其他無線媒體之類。上述任何組合也可以被包括在計算機可讀媒體的範圍內。

圖1A為一測試控制系統110的一範例之方塊圖，該系統可支援有不同應用的多個使用者。在一實施例中，系統110控制本發明的基元的操作。例如，系統110可進行伺服器525(如圖5中所顯示)的功能。測試控制系統110廣泛地表示任何單一或多個處理器計算裝置或可以執行計算機可讀指令的系統。控制系統110的範例包括但不限定於工作站、膝上型計算機、客戶端端子、伺服器、分散式計算系統、手持裝置或任何其他計算系統或裝置。在其最基本的組態中，控制系統110可包括至少一處理器114與一系統記憶體116。

處理器114一般代表任何類型或型態之可以處理資料或解譯且執行指令的處理單元。在特定實施例中，處理器114可接收來自一軟體應用程式或模組的指令。此等指令可致使處理器114進行在此所描述及/或例示之一或多個範例實施例的功能。

系統記憶體116一般代表任何類型或型態之可以儲存資料及/或其他計算機可讀指令的揮發性或非揮發性儲存裝置或媒體。系統記憶體116的範例包括但不限定於RAM、ROM、快閃記憶體或任何其他合適的記憶體裝置。雖然並非需要，在特定實施例中，控制系統110可包括一揮發性記憶體單元(諸如，例如，系統記憶體116) 與一非揮發性儲存裝置(諸如，例如，主要儲存裝置132)。

測試控制系統110除了處理器114與系統記憶體116之外，亦可包括一或多個組件或元件。例如，在圖2A的實施例中，控制系統110包括一記憶體控制器118、一輸入/輸出(I/O)控制器120及一通訊介面122，各者可經由一通訊基礎架構112互連。通訊基礎架構112一般代表可以促進在一計算裝置的一或多個組件之間通訊的任何類型或型態的基礎架構。通訊基礎架構112的範例包括但不限定於一通訊匯流排(諸如，一工業標準架構(ISA))、周邊組件互連(PCI)、快速PCI(PCIe)或類似匯流排)以及一網路。

記憶體控制器118一般代表可以處理記憶體或資料或控制在控制系統110的一或多個組件之間通訊的任何類型或型式的裝置。例如，記憶體控制器118可經由通訊基礎架構112控制在處理器114、系統記憶體116與I/O控制器120之間的通訊。

I/O控制器120一般代表可以協調及/或控制一計算裝置的輸入與輸出功能的任何類型或形式的模組。例如I/O控制器120可控制或促進控制系統110的一或多個元件資間的資料轉移，諸如處理器114、系統記憶體116、通訊介面122、顯示器轉接器126、輸入介面130與儲存介面134。

通訊介面122廣泛地可以促進在範例控制系統110與一或多個附加裝置之間的通訊的代表任何類型或 型態的通訊裝置或轉接器。例如通訊介面122可促進在控制系統110與包括附加控制系統之一私人或公用網路之間的通訊。通訊介面122的範例包括但不限定於一有線網路介面(諸如一網路介面卡)、一無線網路介面(諸如一無線網路介面卡)、一數據機與任何其他合適的介面。在一實施例中，通訊介面122經由至諸如網際網路的一網路的一直接鏈路而提供直接連接給一遠端伺服器。通訊界122亦可透過任何其他合適的連接而非直接地提供此等連接。

通訊介面122亦可代表一主機轉接器，其係組配為可促進經由一外部匯流排或通訊頻道而在控制系統110與一或多個附加網路或儲存裝置之間的通訊。主機轉接器的範例包括但不限定於小型計算機系統介面(SCSI)主機轉接器、通用序列匯流排(USB)主機轉接器、IEEE(電子電機工程協會)1394主機轉接器、序列先進技術附加(SATA)與外部SATA(eSATA)主機轉接器、先進技術附件(ATA)與平行ATA(PATA)主機轉接器、光纖通道介面轉接器、乙太網轉接器或類似者。通訊介面122亦可允許控制系統110參與分散式或遠端計算。例如，通訊介面122可接收來自一遠端裝置的指令或發送指令至一遠端裝置以執行。

如圖1A所例示者，控制系統110亦可包括經由一顯示器轉接器126而與通訊基礎架構112耦接的至少一顯示裝置124。顯示裝置124一般代表可以視覺地顯示由顯示器轉接器126所轉發之資訊的任何種類或型態的裝 置。類似地，顯示器轉接器126一般代表組配為可轉發用於在顯示裝置124上顯示的圖像、文字與其他資料任何種類或型態的裝置。

如圖1A中所例示者，控制系統110亦可包括經由一輸入介面130而與通訊基礎架構112耦接的至少一輸入裝置128。輸入裝置128一般代表可以提供不管是計算機或人類產生之輸入至控制系統110的任何種類或型態的輸入裝置。輸入裝置128的範例包括但不限定於一鍵盤、一指向裝置、一語音識別裝置或任何其他輸入裝置。

如圖1A中所例示者，控制系統110亦可包括經由一儲存介面134而與通訊基礎架構112耦接的一主要儲存裝置132與一備份儲存裝置133。儲存裝置132、133一般代表可以儲存資料及/或其他計算機可讀指令的任何種類或型態的儲存裝置或媒體。例如，儲存裝置132與133可為磁碟驅動機(例如，亦稱為硬碟)、軟碟驅動機、磁帶驅動機、光碟驅動機、快閃驅動機或類似者。儲存介面134一般代表用於將資料在儲存裝置132與133與控制系統110的其他組件之間轉移的任何種類或型態的介面或裝置。

在一個範例中，資料庫140可儲存在主要儲存裝置132中。資料庫140可代表一單一資料庫或計算裝置的一部分或者其可代表多個資料庫或計算裝置。例如，資料庫140可代表(可被儲存在)控制系統110的一部分及/或在圖2(以下)中的範例網路架構200中的部分。可替代 地，資料庫140亦可代表(可被儲存在)可以被一計算裝置取用的一或多個實體分離的裝置，計算裝置諸如控制系統110及/或網路架構200的部分。

繼續參照圖1A，儲存裝置132與133可組配為可讀取來自一可移除儲存單元及/或寫入至可移除儲存單元，該可移除儲存單元組配為可儲存計算機軟體、資料或其他計算機可讀資訊。合適的可移除儲存裝置的範例包括但不限定於一軟碟、磁帶、光碟、快閃記憶體裝置或類似者。儲存裝置132與133亦可包括其他類似的結構或裝置以允許計算機軟體、資料或其他計算機可讀指令被載入控制系統110。例如，儲存裝置132與133可組配為可讀取與寫入軟體、資料或其他計算機可讀資訊。儲存裝置132與133亦可為控制系統110的一部分或可為透過其他介面系統所取用之分離的裝置。

許多其他裝置或子系統可連接到控制系統110。相反地，圖1A中所例示的所有組件和設備不需要存在以實施在此描述的實施例。以上提及的設備和子系統也可以以不同於圖1A中所顯示的方式互連。控制系統110亦可使用任何數量的軟體、韌體及/或硬體組態。例如，在此揭露的範例實施例可以編碼為在計算機可讀媒體上的計算機程式(亦稱為計算機軟體、軟體應用程式、計算機可讀指令或計算機控制邏輯)。

包含計算機程式的計算機可讀媒體可以被載入到控制系統110中。儲存在計算機可讀媒體上的計算 機程式的全部或一部分接著可以被儲存在系統記憶體116及/或儲存裝置132和133的各個部分中。當由處理器114執行時，載入到控制系統110中的計算機程式可以使處理器114進行及/或成為用於進行在此描述及/或例示的範例實施例的功能的構件。附加地或可替代地，在此描述及/或例示的範例實施例可以用韌體及/或硬體來實施。

圖1B是一網路架構100的一範例的一方塊圖，其中客戶端系統151、152和153以及伺服器141和145可以與一網路150耦接。客戶端系統151、152和153一般代表任何類型或計算裝置或系統的形式，諸如圖1A的測試控制系統110。

類似地，伺服器141和145通常表示被組配為可提供各種資料庫服務及/或運行某些軟體應用程式的計算裝置或系統，諸如應用程式伺服器或資料庫伺服器。網路150通常表示任何電信或計算機網路，包括例如，內部網路、廣域網路(WAN)、區域網路(LAN)、個人區域網路(PAN)或網際網路。

參照圖2A的控制系統110，諸如通訊介面122之類的通訊介面可以使用來提供在各個客戶端系統151、152和153與網路150之間的連接性。客戶端系統151、152和153可以能夠使用，例如Web瀏覽器或其他客戶端軟體存取伺服器141或145上的資訊。此等軟體可允許客戶端系統151、152和153存取由伺服器140、伺服器145、儲存裝置160(1)-(L)、儲存裝置170(1)-(N)、 儲存裝置190(1)-(M)或智能儲存陣列195上所持有的資料。雖然圖2A描述了使用一網路(諸如網際網路)來交換資料，但是在此描述的實施例不限於網際網路或任何特定的基於網路的環境。

在一個實施例中，在此揭露的一或多個範例實施例的全部或一部分被編碼為計算機程式，並被載入且由伺服器141、伺服器145、儲存裝置160(1)-(L)、儲存裝置170(1)-(N)、儲存裝置190(1)-(M)、智能儲存陣列195或其任何組合來執行。在此揭露的一或多個範例實施例的全部或一部分亦可以被編碼為計算機程式、儲存在伺服器141中、由伺服器145運行並且透過過網路150被分佈到客戶端系統151、152和153。

支援使用不同應用程式之多個使用者的測試系統

圖2例示一典型的測試環境，其中，DUT被放置在一受控環境腔室10或「烘箱」內。該等DUT被連接到測試頭20的測試切片。許多DUT可以被連接到單一測試切片40。測試切片(結合圖4進一步詳細討論)包含測試電路，該測試電路根據測試計劃對該等DUT進行測試。每個測試頭20可以有許多測試切片。當被插入到烘箱10中時，該等DUT被放置到托盤30中。當在烘箱10中時，該等DUT通常不是使用者可取用的，以便不干擾腔室10的受控環境。在一典型的環境腔室中，在鎖定步驟中操作的該等複數個測試切片在該等複數個DUT上執行相同的測試計 劃。此外，測試頭通常由直接連接到測試頭的一單一控制器計算機系統(未顯示)所控制，並且以這種方式控制測試頭20的所有切片。控制器計算機通常由單一使用者操作而在該等DUT上執行單一測試計劃。

該測試環境的一個問題在於，在每次測試期間，通常的情況是沒有足夠的DUT來完全填充給定測試頭的測試切片。因此，在這種情況下，測試期間的空白切片因為它們沒有進行任何有用的工作而被浪費掉了。這可能會降低整體測試流通量，而且非常昂貴的電子設備被閒置。此等閒置切片不能用於不同的用途，因為：1)在測試期間不可取用腔室的內部；2)控制計算機在任何時候只能支援一個使用者；3)切片(所有這些切片)一次僅能在一個測試計劃上操作。

測試腔室通常體積龐大且昂貴。測試環境的另一個缺點是，想要在幾個不同使用者群組，例如製造、工程等，之間同時共享測試室以充分利用測試腔室的一般顧客沒辦法這樣做。由於測試切片在典型的測試環境中一次只能在單一個測試計劃上運行，並且僅支援單一使用者體驗，因此客戶無法在任何給定時間內充分利用測試室，因此被迫購買額外的設備或犧牲效率。

圖3為一詳細示意方塊圖，例示說明一測試切片的一範例實施例及其與系統控制器及DUT互連。

參考圖3，各個測試切片包含站點模組。在一個實施例中，站點模組可以被機械地配置到測試切片 340A-340N上，其中，各個測試切片包含至少一個站點模組。在某些典型實施例中，各個測試切片可以包括兩個站點模組和兩個裝置電力供應板。在其他實施例中，測試切片可以包含更多或更少的站點模組及/或電力供應板。例如，圖3的測試切片340A包括站點模組310A和310B以及裝置電力供應板332A和332B。然而，可以配置到測試切片上的裝置電力供應板或站點模組的數量沒有限制。測試切片340係透過網路交換機302連接到系統控制器301。網路交換機302可以以32位元寬匯流排連接到各個站點模組。

在一個實施例中，系統控制器301可以是計算機系統，例如，個人計算機(PC)，其為ATE的使用者提供使用者介面以載入測試程式並對連接至ATE 300的該等DUT運行測試。Advantest Stylus^TM作業系統是裝置測試期間通常使用的測試軟體的一範例。它為使用者提供了一個圖形使用者介面，尤其組配和控制測試。它還可以包含控制測試流程、控制測試程式狀態、判定哪個測試程式正在運行以及記錄測試結果和與測試流程相關的其他數據的功能。在一實施例中，系統控制器可連接到並控制多達512個DUT。

在一個實施例中，系統控制器301可以透過諸如乙太網交換機的網路交換機連接到站點模組310A~310B。在其他實施例中，網路交換機可以例如與諸如光纖頻道、802.11或ATM等不同通訊協定相容。

各個裝置電力供應板332A~332B可以由站點模組310A~310B中之一者來控制。在測試器處理器304上運行的軟體可以被組配為可指定一裝置電力供應器給特定的站點模組。在一實施例中，站點模組310A~310B和裝置電力供應器332A~332B被組配為使用高速序列通訊協定，例如，快速周邊組件互連(PCIe)、序列先進技術附接(SATA)或例如序列附接SCSI(SAS)。

在一個實施例中，每個站點模組係組配唯有兩個FPGA，如圖3所示。圖3的實施例中的各個FPGA 316和318係由測試器處理器304控制。測試器處理器304可與各個如圖3中之系統匯流排330和332所示之諸如PCIe之使用8通道高速序列協議介面的FPGA通訊。在其它實施例中，測試器處理器304還可以使用不同的高速序列協議與FPGA通訊，例如，序列AT附接(SATA)或序列附加SCSI(SAS)。

FPGA 316和318分別連接到記憶體模組308和304。該等記憶體模組可以與FPGA裝置和測試器處理器304耦接，並且可以受其控制。

FPGA 316和318可以分別透過匯流排352和354連接到負載板380上的DUT 372A~372M。負載板380是一種物理裝具(harness)，其允許在站點模組端的一般用途高速連接，其對於使用來與在線352和354上之DUT進行通訊的通訊協定是不可知(agnostic)的。然而，在DUT端，負載板需要被設計為以致使具有專用於由DUT所 使用之通訊協定的連接器。

應當注意的是圖3僅例示說明一測試切片的一範例實施例。此外，注意本發明的實施例不僅限定在圖3中所顯示之測試切片的類型。如將在以下討論者，本發明的實施例可包括可不同類型的測試切片與基元。

在本發明的一實施例中，DUT 372A~372M被裝載在被設置在一加熱腔室390以用於測試的一負載板380上。該等DUT 372A~372M與該負載板380從裝置電源供應器332A與332B得到電力。

可以連接到各個FPGA之DUT的數量取決於FPGA中的收發器的數量以及各個DUT所需的I/O通道的數量。在一個實施例中，FPGA 316和318各可包括32個高速收發器，且匯流排352和354各可為32位元寬，然而，取決於應用可以更多或更少來實施。例如，如果各個DUT需要8個I/O通道，那麼在此等系統中，各個FPGA只能連接到4個DUT。

圖4例示了根據本發明之一實施例的與DUT介面板(DIB)400介接的基元410。類似於圖2中顯示的測試切片40，圖4的基元是一種裝配於測試頭20且包含測試電路的離散測試模組，其根據一測試計劃對DUT進行測試。基元包括外殼450，在該外殼450內容納所有各種電子設備，例如，站點模組、電源供應器等。DIB 400可以含有使用針對DUT 420尺寸化的客製之連接器的複數個DUT 420。該DIB 400亦可以包括一外殼470。DIB 400 透過類似於圖3中所示的負載板380的一負載板(未顯示)與該基元410的通用背板(未顯示)介接。基元410含有用於在DUT 420上進行測試計劃的測試電路(類似於圖3中所示的測試切片340A)。基元410可獨立於任何其它基元運作並連接到一控制伺服器(類似於圖3中所示的系統控制器301)。

圖4B例示出包含複數個基元491的工作胞元。本發明的實施例利用複數個基元(類似於圖4B中所顯示的基元)和相關聯的DIB來測試DUT。本發明的實施例亦可以使用測試切片(類似於圖2中的測試切片40)來測試DUT。各個基元(或測試切片)都是模組化的，代表著它能夠獨立於其他基元(或測試切片)進行操作。因此，設置在機架中的複數個基元(如圖4B所示)可以各自在不同的測試計劃下操作。基元與一控制伺服器通訊以獲得指令、控制、管理等。控制伺服器能夠對其支援的各種基元主持(host)多個應用程式或測試計劃。該基元可以經由一標準IP網路與伺服器通訊。各種計算機系統，其可以遠端定位，可以經由通過標準IP網路連接取用伺服器。

因此，在此測試平台下，由於：1)基元模組化；和2)標準IP網路連接的使用，複數個基元或測試切片可以根據一個使用者在給定測試計劃下測試複數個DUT，同時同一機架的第二複數個基元正在進行由第二使用者指導之完全不同的應用程式(或不同的測試計劃)等等。因此，與傳統測試系統之閒置測試電路相關聯的從前 之問題被排除。例如，在包含6個基元的測試頭中，可能有2個基元專用於工程部門以對SATA類型的裝置除錯(debugging)，同時4個基元可專用於製造部門對SSD驅動器的容量測試。

在一實施例中，如果測試系統使用圖4中所顯示的基元，則當測試與基元之機架相關聯的DUT時不再需要環境腔室，因為基元被設計為以有效的方式分區。在此實施例中，基元的外殼450允許來自DUT的熱保持在外殼內部，因此不需要分離的加熱室。作為結果，在任何時候都允許對DUT和基元直接進行使用者操縱。換句話說，DUT供應在需要以較高的溫度測試DUT所需的熱(在機殼內被啟動時間更長時)。此外，基元外殼450可含有風扇及/或通風口，以允許空氣在基元內循環以冷卻DUT，並且因而降低基元的內部溫度。

在不同的實施例中，如果測試系統使用圖2中所顯示的測試切片，則仍然需要環境腔室，但是該系統的模組化允許不同的使用者對環境室的各個部分進行專用(exclusive)控制。因此，在任何時候都允許對DUT和測試切片進行直接的使用者操縱。例如，一第一使用者可以使用第一組測試切片在環境腔室中運行測試，而第二使用者可以操縱在第二組測試切片內受其專用控制的DUT。

圖5例示出說明根據本發明實施例的支援使用不同應用程式之多個使用者的測試系統500。如圖5所示，控制伺服器525與不同的基元540a和540b通訊。這兩 個基元可以位於一個機架內(如圖4B所示)。注意，雖然圖5的範例性測試系統使用基元，但是本發明的原理同樣適用於也使用測試切片的測試系統。

基元540a顯示了使用測試計劃「TP1」來測試複數個DUT 550a(經由DIB)。基元540b顯示了使用一分離的應用程式，被稱為測試計畫「TP2」來測試複數個DUT550b(經由DIB)。透過兩個不同的標準IP網路連接上，一第一使用者計算機510和一第二使用者計算機520兩者都連接到控制伺服器525。

例如，第一使用者計算機可以專用於客戶的工程部門，而第二使用者計算機可專用於製造部門。此等使用者計算機可以遠離彼此並且可以遠離伺服器525。可以理解的是，可以有更多的基元及/或測試切片可以與伺服器525通訊，且僅顯示出兩個用於例示說明。

在圖5所顯示的範例中，第二使用者計算機520經由過基元540b的執行而控制在複數個DUT 550b上的製造測試計劃。此製造測試計劃可以被載入到控制伺服器525，然後被下載到基元540b以在DUT 550b上執行。測試結果可以在相反的方向傳遞。在此範例中，在DUT 550b的批量(volume)製造測試期間，使用者計算機520可受控於生產專家。

以此方式，本發明的實施例可以使用相同的測試器來支援完全不同的功能。例如，在製造測試期間，測試人員可以使用測試頭內的基元的子集運行固定的工作 流程。舉例來說，一製造工作流程可以包括將SSD驅動器標示條碼、測試它們、並將它們標記為「通過」或「失敗」。同時，工程團隊的成員可以進行完全不同的功能，諸如使用在測試頭內不同的基元集合來對於SATA驅動器的失敗結果除錯(debug)。

與上述測試一致的是，該第一使用者計算機510可以經由基元540a來控制用於應用至複數個DUT550a的工程測試計劃。工程測試計劃可以是正在開發之尚未最終確定的一測試計劃。可替代地，工程測試計劃可以僅是使用不同通訊協定之用於測試不同DUT的不同類型的製造測試計劃，例如，DUT類型x與DUT類型y。此工程測試計劃可以被載入控制伺服器525，接著被下載到基元540a以在DUT 550a上執行。測試結果可以在相反的方向傳達。在這個範例中，使用者計算機510可以受控於一測試工程師，該測試工程師開發目前處於原型以供將來使用的測試計劃。

在一實施例中，在一個實施例中，使用者計算機510和520可以是運行測試軟體的系統控制器，例如Advantest Stylus TM。在不同的實施例中，使用者計算機510和520可以是透過通訊網路，例如，IP網路至伺服器525而連接的使用者終端，其中，伺服器525為運行該測試軟體，例如，Advantest Stylus TM的一系統控制器。

在一個實施例中，伺服器525為一控制器，其監視對所有連接之基元(或測試切片)的測試並且為使 用者提供GUI。在其他實施例中，使用者透過如圖5顯示的IP連接來連接到伺服器，其中，連接到伺服器的各個使用者計算機對一相關使用者提供分離的GUI以控制相關聯的一組基元。

在一個實施例中，伺服器525可執行在使用者之間分配資源的分配方案。例如，伺服器可以取決於使用者的應用程式而分配基元及/或測試切片予使用者。在一個實施例中，伺服器可動態地分配並管理用於不同目之不同的基元及/或測試切片予不同的使用者。伺服器還允許各個使用者計算機與連接到伺服器525的各種基元(及與其相關聯的DUT)之間的雙向通訊。伺服器亦可管理在各種連接的基元上執行的同步工作流程(workflow)並追蹤在連接的基元及/或測試切片上的各種工作流程。

注意本發明的實施例可以有利地用來使用同一測試頭20同時測試不同類型的裝置(包括不同尺寸、類型和形態因子(form factor))。例如，同一測試器可以被使用來在同時使用不同的基元或測試片來測試SATA驅動器和SSD驅動器。

更進一步地，可針對被測試之不同類型的設備中的各者或針對測試頭內的各個基元或測試切片運行不同的測試計劃。此有利地允許單一個客戶使用單一個測試器以同步用於複數個功能，並且避免了對於各個功能的專用測試器的需要。為了支援本發明的實施例，在一個實施例中，測試軟體將具有同時載入多個測試程式的能力，其 中，各個測試程式可以同時在不同的基元上執行。例如，使用者可以為每個群組載入一個測試程式，其中，一個群組被定義為在一個托盤插槽上的所有DUT。在一個實施例中，測試軟體可以具有支援與測試器系統中的基元一樣多的同時執行的測試程式的能力。

因此，假設基元540a代表測試複數個DUT的複數個基元，則同一機架的第二複數個基元540b可被不同使用者用於不同目的，因而排除任何閒置組件。更精確地，當工程團隊正在對DUT 550a進行一第一測試時，製造團隊可以有利地並行使用基元550b以準備隨後的測試以供稍後使用。

因為在控制伺服器525和使用者計算機之間使用標準IP網路通訊，所以多個使用者計算機可以在任何時間取用控制伺服器525，且可以是遠端取用。這允許將多個不同的測試計劃載入到機架的各種基元中，並經由伺服器由不同使用者控制而相互獨立地運行。

在因為基元的設計而消除了環境腔室的實施例中，在基元540b的測試計劃正在操作中時，基元540a可以直接地與其手動互動，反之亦然。

類似地，即使在仍然使用環境腔室之有測試切片的實施例中，不同的使用者可對環境腔室的個別區域有排他性控制，因為測試切片可以獨立於彼此地使用。

本發明的優點包括更大的測試器彈性，因為各個基元可以獨立操作。由於排除了閒置的測試電路，本 發明的另一個優點是提高了測試器效率。本發明的另一個優點是多個使用者可以在基元的一給定機架內同時在不同的DUT上執行不同的測試計劃。

測試程式流程控制

在一實施例中，一使用者可在連接到一基元或測試切片的該等DUT之一者上運行不同測試流程。圖6為一高階概述，例示說明本發明之實施例所提供超越傳統測試器之新穎的改進。

如以上在圖6中所顯示與討論者，傳統測試器受限於因為他們僅可在包括在測試頭內的所有測試切片上運行一單一測試計畫(或測試程式)。

此外，如以上所述，本發明的實施例部分地改進了傳統測試器，作為以下的結果：1)基元模組化；和2)使用標準的IP網路連接。因此，如圖6所顯示，複數個基元或測試切片可以在一給定的測試計劃下根據一使用者而測試多個DUT，同時同一機架的第二複數個基元正在進行由一第二使用者指導之完全不同的應用程式(或不同的測試計劃)，等等。例如，如果測試器620含有8個基元，各個基元能夠運行一不同的測試程式(TP0、TP1...TP8)。此外，各個基元可以測試執行不同通訊協定的DUT，例如，一個基元或一組基元可以測試SSD驅動器，而另一個基元或一組基元可以測試SATA驅動器。

本發明的實施例亦藉由允許使用者在連接到基元(或測試切片)的各個DUT上運行不同的測試流程 來改進傳統測試器。雖然連接到同一基元的所有DUT可以執行相同的協定，本發明的實施例允許在各個基元上的該等DUT運行不同的測試流程。如圖6中的測試器630顯示，連接到基元的DUT0運行測試程式TP0執行流程A，DUT2執行流程B並且DUT7執行流程C。換句話說，一基元內的各個DUT可以運行它自己的測試流程，且不是需要與基元中所有其他DUT運行相同的測試流程。

圖7例示了根據本發明實施例的測試程式的各種組件。一測試程式通常由兩個檔案組成：一標準測試介面語言(STIL)和一測試方法(.so)檔案。測試方法(.so)檔案通常含有將會在測試站點模組上運行以直接地測試DUT的計算機代碼。另一方面，STIL檔案包含測試方法是如何組織以產生一測試程式(以及其他組態資訊)的資訊。

測試方法包括測試程式的基本構件。例如，如圖7中所顯示，測試方法710可以包含用於開啟裝置、在DUT上進行一重置或任何其他測試相關操作的操作。測試方法直接地與DUT進行通訊。測試方法在STIL檔案中以階層式結構組織，以下將使用圖7詳細說明。

在本發明的一實施例中，在一測試參數730中調用(invoked)該等測試方法。測試參數730是一組測試方法，其以特定順序運行。一測試參數通常包含一測試方法清單。

一測試分段740通常與一單一測試參數730 相關聯。可以在測試分段中調用測試參數730。注意相同的測試參數可以在多個分段中使用。此外，還要注意測試分段包含用於DUT的分倉資訊(bin information)以及測試參數。一分倉號可與DUT所屬的實體分倉相關。據此，一測試分段將測試參數中的測試方法與實體DUT綁定(tie)起來，該實體DUT為來自測試參數中之測試方法應該在其上運行者。多個測試分段可以組合成一個程式序列。

程式序列760是以特定順序運行的一組分段。有四種不同的程式序列：(甲)開始-預先處理步驟(乙)主要-實際測試步驟(丙)完成-處理後步驟，例如，關閉裝置電源、清理等，以及(丁)除錯(Debug)-可以手動運行以進行除錯的分段(可以是選擇性的)。所有的測試程式都具有開始、主要、完成程式序列。還有可用於除錯目的之一個選擇性的除錯程式序列。

傳統測試人員通常對每個STIL檔案僅允許一組程式序列。在本發明的一個實施例中，在測試器軟體(例如，Advantest StylusTM)內定義測試流程構造(construct)，其包含一組四個程式序列。例如，如圖7所示，測試流程ABC包含四個程式序列開始、主要、完成和除錯。類似地，測試流程DEF亦包含四個程式序列開始、主要、完成和除錯。此外，還會產生一個測試套件構造。一測試套件720被定義為測試流程的一集合。

在本發明的一個實施例中，使用者能夠有利地在一個STIL檔案內定義複數個測試流程。本發明的實施 例藉由過允許一使用者在一個STIL檔案內定義複數個測試流程，並且在連接到一基元(或測試切片)的各個DUT上運行不同的測試流程來改進傳統的測試器。在一基元中的各個DUT可以運行在STIL檔案中所定義的測試流程中之一者。雖然連接到相同基元的所有DUT可以執行相同的通訊協定且受控於同一使用者，但是本發明的實施例允許在各基元上的DUT運行不同的測試流程。據此，本發明的實施例允許每個DUT彈性(除了上述的每個基元的彈性之外)。此外，本發明的實施例允許各至裝置具有多個插入件，其中，每個插入件一需要不同的測試流程。STIL檔案係組配為可處理所有插入件。

藉由允許在一基元中的各個DUT在測試程序期間處於不同的點或階段，本發明的實施例有利地使測試較僅在一個測試程式中允許單一測試流程的傳統測試器更有效能。傳統測試器被限制在一測試器內的所有DUT上需運行相同的測試流程。如果不支援多個測試流程，因為資源無法有效使用，製造和工程程序通常會更複雜。

因此，本發明的實施例允許不同的測試方法在任何給定時間於不同的DUT上運行，這允許一使用者完整利用測試器資源。如果沒有支援多個測試流程的能力，在測試程序之不同階段的DUT需要從許多個測試器之間分離出來。舉例來說，考量測試器中的各個DUT需要運行三個不同的測試程式。過去，客戶需要載入該第一測試程式，並讓測試器中的所有DUT在完成第二個測試程式之前 完成。在第一個測試程式運行完成以後，使用者接著需要載入該第二個測試程式並讓所有設備完成等等。

使用本發明的實施例，客戶可以將三個測試程式中的每一者整合到多流程STIL檔案中的單一測試流程中。接著，若DUT 12在DUT 0之前很久就完成了，客戶可以運行針對DUT 12的第二測試流程，同時DUT 0仍處於執行第一測試流程中。因此，本發明的實施例不僅允許客戶在各個基元上運行不同的測試程式，而且允許客戶在各個DUT上運行不同的測試程式。因此，本發明的實施例為使用者提供了很大的彈性且有助於更有效地使用系統資源。

在一實施例中，使用者可能能夠組合兩個現有的STIL檔案。因為在STIL檔案中定義的所有測試流程都仰賴於同一組測試方法(例如，測試方法710)，所以使用者必須確保測試方法(.so)檔案中針對各個個別測試程式可取用的所有測試方法，在組合測試程式的測試方法檔案亦可取用。

本發明的實施例亦允許圖形使用者介面(GUI)編輯該等測試流程。例如，如圖7所示，GUI具有用於各種測試流程的標誌(tab)，例如，主要、ABC、DEF、GHI等。此外，各個流程對於該流程內的各個程式序列具有如圖7所示之單獨的標誌，例如，開始、主要、完成、除錯。在圖7的範例中，測試流程窗口795顯示主要測試流程的主序列。主序列含有用於主要測試流程的實際 測試步驟。本發明的實施例允許使用圖7中顯示的GUI來編輯測試流程。例如，為了編輯主測試流程的主序列，使用者可以圖形化地編輯測試流程窗口795中所示的分段。

本發明的實施例還允許GUI運行測試流程。當由GUI運行測試程式時，使用者可以選擇要運行一個測試流程或整個測試套件。為了運行特定的測試流程，使用者選擇她想要運行的測試流程。接著，使用者可以開始運行測試程式。所選的流程將針對DUT工具中被選定的所有DUT運行。為了要運行測試套件，使用者可以選擇他希望要在其上運行程式的DUT，且然後按下GUI中在DUT工具中的運行按鈕。當運行測試套件時，如果出現任何失敗(failures)，測試套件可能會停止運行，且GUI將報告失敗(失敗後續的流程將不會運行)。

本發明的實施例還允許執行次序編號。如上所述，每個測試流程均以基礎分段為基礎。本發明的實施例為各個分段指定(assign)一個標識號。這可以讓使用者更佳地了解(visibility)測試進度。在運行時間期間，允許使用者使用標識號碼判定測試正在哪個步驟。執行編號761，如圖7所示，可以由使用者編輯。此外，執行號碼是可選擇的，並非每個分段都需要執行號碼。如果執行號碼未定義，則不會顯示。

在一實施例中，測試器軟體支援特定運行時間步驟。例如，對於各個設備，測試器軟體可以自動判定要在一DUT上運行哪個測試流程。當測試流程結束時，自 動化系統亦可以決定要繼續下一個測試流程還是完成相關DUT的測試程序。

圖8例示說明根據本發明之一個實施例的一範例計算機實施程序的一流程圖，以用於在同一測試器上同時運行多個測試程式。然而，本發明不限制於由流程圖800提供的描述。相反地，根據在此提供的教示，對於習於此領域者而言顯而易見的是，其他功能流程落入本發明的範圍和精神內。流程圖800將繼續參考以上描述範例實施例來描述，但是該方法不限於該等實施例。

在步驟802，從一第一使用者計算機，例如，使用者計算機510，載入第一測試計劃到控制伺服器，例如，伺服器525，其中，該控制伺服器與測試器中的複數個基元通訊。如以上所述，本發明的實施例亦適用於測試切片。控制伺服器通常會運行測試軟體，例如，Advantest Stylus TM作業系統，其允許它與基元通訊並在基元內的DUT上運行測試計劃。

在步驟804，將第一測試計劃下載至來自複數個基元的第一組基元上，以在與該第一組基元相關聯的DUT上執行。如在與圖5相關聯的範例中所提及者，該第一使用者計算機可以由工程群組來控制，且該第一組基元可以執行工程群組的測試計劃。

在步驟806，將第二測試計劃從一第二使用者計算機，例如，使用者計算機520，載入至控制伺服器。第二使用者計算機可以，例如受控於處於客戶站點處的製 造群組。

在步驟808，將該第二測試計劃下載至來自複數個基元的一第二組基元上，以在與第二組基元相關聯的DUT上執行。

在步驟810，伺服器同時對基元的第一子集和第二基元子集執行第一測試計劃和第二測試計劃。

圖9例示說明根據本發明的一個實施例之一範例計算機實施程序的一流程圖，該程序用於在同一測試器上的單一個基元內同時運行多個測試流程。然而，本發明不限於由流程圖900提供的描述。相反地，根據在此提供的教示，對於習於此領域者而言顯而易見的是，其他功能流程落入本發明的範圍和精神內。流程圖900將繼續參考以上描述範例實施例來描述，但是該方法不限於該等實施例。

在步驟902，一測試計劃從一使用者計算機，例如，使用者計算機510，載入到一控制伺服器，例如，伺服器525，其中，該控制伺服器與在一測試器中的複數個基元，例如基元540a至540b進行通訊。該控制伺服器通常會運行測試軟體，例如，Advantest Stylus TM作業系統，其允許它與基元進行通訊並在基元內的DUT上運行測試計劃。

在步驟904，將測試計劃下載至來自複數個基元的一基元上，以在與該基元相關聯的DUT上執行。如以上所提及者，在本發明的一實施例中，一使用者可定義 一測試計劃之一STIL檔案內的複數個測試流程。

在步驟906，在該基元內的一第一DUT上執行來自複數個測試流程的一第一測試流程。在步驟908，來自複數個測試流程的一第二測試流程在該基元內的一第二DUT上執行，其中該第一測試流程與該第二測試流程同時執行。如以上所述，本發明的實施例藉由允許一使用者定義在一個STIL檔案內之多個測試流程、並且在連接到一基元(或測試切片)的各個DUT上運行不同的測試流程來提供對傳統測試器的改進。一基元中的各個DUT可以運行在STIL檔案中所定義的測試流程中之一者。雖然連接到相同基元的所有DUT可以執行相同的協定，且受控於同一使用者，但是本發明的實施例允許在各個基元上的DUT運行不同的測試流程。

為了解釋的目的，以上的描述已參照具體實施例描述。然而，以上的例示性討論並非意欲窮舉或限制本發明於所揭露的具體形式。基於上述教示，許多修改和變化是可能的。為了最好地解釋本發明的原理及其實際應用，選擇並描述實施例，因而使得習於此技藝者能夠最佳地利用本發明，且有各種修改的各種實施例可適合於預期的特定用途。

110:系統

112:通訊基礎架構

114:處理器

116:記憶體

118:記憶體控制器

120:輸入/輸出(I/O)控制器

122:通訊介面

124:顯示裝置

126:顯示器轉接器

128:輸入裝置

130:輸入介面

132:主要儲存裝置

133:備份儲存裝置

134:儲存介面

140:資料庫

Claims (19)

1. 一種使用自動化測試設備(ATE)以進行測試的方法，該方法包含：從一使用者計算機載入一測試程式至一控制伺服器，其中該控制伺服器與在一測試器內的複數個基元通訊，其中該測試程式包含一標準界面語言(STIL)檔案，其中該測試程式包含複數個測試流程，其中該等複數個測試流程係在該STIL檔案內被定義；自該控制伺服器下載該測試程式至該等複數個基元的一基元，其中該基元包含一外殼與用於在通訊式耦接至該基元之複數個DUT上執行該測試程式之測試電路；執行在連接至該基元的一第一DUT上之來自該等複數個測試流程中的一第一測試流程；以及同時地執行在連接至該基元的一第二DUT上之來自該等複數個測試流程中之一第二測試流程，其中該第一測試流程及該第二測試流程係在該STIL檔案內被定義，且其中在該基元中之各DUT係經組配以執行來自在該STIL檔案中所定義的該等複數個測試流程之一個別測試流程。
2. 如請求項1的方法，進一步包含：同時地執行在連接至該基元的各DUT上之來自在該STIL檔案中所定義之該等複數個測試流程之一不同測試流程。
3. 如請求項1的方法，其中，各測試流程包含複數個程式序列，其中，用於該等複數個程式序列的步 驟可選自於由下列各者組成之群組：預處理步驟、測試步驟、處理後步驟、以及除錯(debug)步驟。
4. 如請求項3的方法，其中，各程式序列包含複數個分段，其中，各個該等分段可操作來使用一識別號碼被貼標籤並且被識別，其中，該識別號碼是使用來針對該等複數個測試流程進行執行順序編號。
5. 如請求項1的方法，其中，該等複數個測試流程可由使用在該使用者計算機上運行之一圖形使用者介面(GUI)的一使用者所編輯。
6. 如請求項1的方法，其中，該等複數個測試流程可由使用在該控制伺服器上運行之一圖形使用者介面(GUI)的一使用者所編輯。
7. 如請求項1的方法，其中，該等複數個測試流程可由使用在該使用者計算機上運行之一GUI的一使用者所執行。
8. 一種用於進行一自動化測試的系統，該系統包含：一使用者計算機，其可操作來將來自一使用者的一測試程式載入至一控制伺服器，其中該測試程式包含複數個測試流程，其中該測試程式包含一標準界面語言(STIL)檔案，並且其中該等複數個測試流程係在該STIL檔案內被定義；一測試器，其部署複數個基元；以及該控制伺服器，其中該控制伺服器係通訊式耦接至該使 用者計算機及該測試器，其中該控制伺服器可操作來下載該測試程式至該等複數個基元的一基元，其中該基元包含一外殼與用於在通訊式耦接至該基元之複數個DUT上執行該測試程式之測試電路，並且其中該控制伺服器係進一步可操作來執行在通訊式耦接至該基元的一第一DUT上之來自該等複數個測試流程中的一第一測試流程，且同時地執行在通訊式耦接至該基元的一第二DUT上之來自該等複數個測試流程中之一第二測試流程，其中該第一測試流程及該第二測試流程係在該STIL檔案內被定義，且其中在該基元中之各DUT係經組配以執行來自在該STIL檔案中所定義的該等複數個測試流程之一個別測試流程。
9. 如請求項8的系統，其中，該控制伺服器係進一步可操作來同時地執行在通訊式耦接至該基元的各DUT上之來自在該STIL檔案中所定義之該等複數個測試流程之一不同測試流程。
10. 如請求項8的系統，其中，各測試流程包含複數個程式序列，其中，用於該等複數個程式序列的步驟可選自於由下列各者組成之群組：預處理步驟、測試步驟、處理後步驟、以及除錯(debug)步驟。
11. 如請求項10的系統，其中，各程式序列包含複數個分段，其中，各個該等分段可操作來使用一識別號碼被貼標籤並且被識別，其中，該識別號碼是使用來針對該等複數個測試流程進行執行順序編號。
12. 如請求項8的系統，其中，該等複數個測 試流程可由使用在該使用者計算機上運行之一圖形使用者介面(GUI)的一使用者所編輯，其中該使用者計算機係使用一標準IP連接而與該控制伺服器通訊式耦接。
13. 如請求項8的系統，其中，該等複數個測試流程可由使用在該控制伺服器上運行之一圖形使用者介面(GUI)的一使用者所編輯。
14. 如請求項8的系統，其中，該等複數個測試流程可由使用在該控制伺服器上運行之一GUI的一使用者所執行。
15. 一種用於進行一自動化測試的系統，該系統包含：一使用者計算機，其可操作來將來自一使用者的一測試程式載入至一控制伺服器，其中該測試程式包含複數個測試流程，其中該測試程式包含一標準界面語言(STIL)檔案，並且其中該等複數個測試流程係在該STIL檔案內被定義；一測試器，其部署複數個測試切片，其中各測試切片係經組配以在通訊式至一個別測試切片之複數個DUT上執行該測試程式；以及該控制伺服器，其中該控制伺服器係通訊式耦接至該使用者計算機及該測試器，其中該控制伺服器可操作來下載該測試程式至該等複數個測試切片的一測試切片，並且其中該控制伺服器係進一步可操作來執行在通訊式耦接至該基元的一第一DUT上之來自該等複數個測試流程中的一 第一測試流程，且同時地執行在通訊式耦接至該基元的一第二DUT上之來自該等複數個測試流程中之一第二測試流程，其中該第一測試流程及該第二測試流程係在該STIL檔案內被定義，且其中在該基元中之各DUT係經組配以執行來自在該STIL檔案中所定義的該等複數個測試流程之一個別測試流程。
16. 如請求項15的系統，其中，各測試流程包含複數個程式序列，其中，用於該等複數個程式序列的步驟可選自於由下列各者組成之群組：預處理步驟、測試步驟、處理後步驟、以及除錯(debug)步驟。
17. 如請求項16的系統，其中，各程式序列包含複數個分段，其中，各個該等分段可操作來使用一識別號碼被貼標籤並且被識別，其中，該識別號碼是使用來針對該等複數個測試流程進行執行順序編號。
18. 一種使用自動化測試設備(ATE)以進行測試的方法，該方法包含：從一第一使用者計算機上之一圖形化使用者介面載入一第一測試計畫至一控制伺服器，其中該控制伺服器與在一測試器中的複數個基元通訊，其中，該等複數個基元係被部署於在該測試器的一單個機架內，其中該第一測試計畫包含一標準界面語言(STIL)檔案；自該控制伺服器下載該第一測試計畫至來自該等複數個基元之基元的一第一子集，其中該第一測試計畫包含第一複數個測試流程，且其中該等第一複數個測試流程係在 該STIL檔案內被定義；從一第二使用者計算機上之一圖形化使用者介面載入一第二測試計畫至該控制伺服器；自該控制伺服器下載該第二測試計畫至來自該等複數個基元之基元的一第二子集，其中該第二測試計畫包含第二複數個測試流程；同時地執行該第一測試計畫與該第二測試計畫；執行在該等第一複數個基元之一基元內之一第一DUT上的來自該等第一複數個測試流程中的一第一測試流程，其中該基元包含一外殼與用於在通訊式耦接至該基元之複數個DUT上執行該測試程式之測試電路；以及同時地執行在該等第一複數個基元之該基元內之一第二DUT上的來自該等第一複數個測試流程中的一第二測試流程，其中該第一測試流程及該第二測試流程係在該STIL檔案內被定義，且其中在該基元中之各DUT係經組配以執行來自在該STIL檔案中所定義的該等第一複數個測試流程之一個別測試流程。
19. 如請求項18的方法，進一步包含：在該第一測試計畫正在運作且該第二測試計畫已經完成執行時：從一第三使用者計算機的一圖形化使用者介面載入一第三測試計畫至該控制伺服器；下載該第三測試計畫至來自該等複數個基元的基元的一第三子集；以及 同時地執行該第一測試計畫與該第三測試計畫。

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