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TWI885795B - 自動化測試系統 - Google Patents

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TWI885795B
TWI885795B TW113108975A TW113108975A TWI885795B TW I885795 B TWI885795 B TW I885795B TW 113108975 A TW113108975 A TW 113108975A TW 113108975 A TW113108975 A TW 113108975A TW I885795 B TWI885795 B TW I885795B
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TW
Taiwan
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test
laboratory equipment
server device
storage unit
testing
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TW113108975A
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TW202536363A (zh
Inventor
蔡憲章
張富翔
賴建中
陳德立
Original Assignee
廣達電腦股份有限公司
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00693Calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
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Abstract

一種自動化測試系統,包括伺服器裝置、第一測試裝置與第一實驗室設備。伺服器裝置具有儲存單元,儲存單元儲存實驗室設備資料。第一測試裝置設定第一測試參數,讀取實驗室設備資料,依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置,依據第一測試參數對第一待測裝置進行測試,以產生第一測試結果,以及將第一測試結果儲存至儲存單元。第一待測裝置設置於第一實驗室設備。伺服器裝置依據第一控制命令,控制第一實驗室設備的運作,且伺服器裝置讀取第一實驗室設備的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元。

Description

自動化測試系統
本發明是關於一種測試系統,特別是關於一種自動化測試系統。
一般來說,在電子元件製造完成後,會透過測試系統對上述電子元件進行測試,以確認上述電子元件的狀態。
然而,上述測試系統會包括實驗室設備與測試站,且上述實驗室設備及測試站的參數需要分別透過使用者以人工方式進行設定,而實驗室設備及測試站的測試結果也分別需要透過使用者以人工方式取得並進行彙整,如此可能會增加參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本,並降低使用上的便利性。因此,如何有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本,並增加使用上的便利性是當前重要的課題。
本發明提供一種自動化測試系統,藉以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本,並增加使用上的便利性。
本發明提供一種自動化測試系統,包括伺服器裝置、第一測試裝置與第一實驗室設備。伺服器裝置具有儲存單元,儲存單元儲存實驗室設備資料。第一測試裝置連接伺服器裝置。第一測試裝置設定第一測試參數,讀取實驗室設備資料,依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置,依據第一測試參數對第一待測裝置進行測試,以產生第一測試結果,以及將第一測試結果儲存至儲存單元。第一實驗室設備連接伺服器裝置,且第一待測裝置設置於第一實驗室設備。伺服器裝置依據第一控制命令,控制第一實驗室設備的運作,且伺服器裝置讀取第一實驗室設備的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元。
本發明所揭露之自動化測試系統,透過第一測試裝置設定第一測試參數,讀取伺服器裝置之儲存單元的實驗室設備資料,依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置,依據第一測試參數對設置於第一實驗室設備的第一待測裝置進行測試,以產生第一測試結果,以及將第一測試結果儲存至該儲存單元。另外,伺服器裝置依據第一控制命令,控制第一實驗室設備的運作,且伺服器裝置讀取第一實驗室設備的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元。如此一來,可以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本,並增加使用上的便利性。
在以下所列舉的各實施例中,將以相同的標號代表相同或相似的元件或組件。
第1圖為依據本發明之一實施例之自動化測試系統的示意圖。請參考第1圖,自動化測試系統100可以包括伺服器裝置110、第一測試裝置120與第一實驗室設備130。
伺服器裝置110可以具有儲存單元111。儲存單元111儲存實驗室設備資料。在本實施例中,儲存單元111可以是硬碟、固態硬碟、記憶體等,但本發明實施例不限於此。
第一測試裝置120可以連接伺服器裝置110。在本實施例中,第一測試裝置120可以透過有線網路設備或無線網路設備連接伺服器裝置110。舉例來說,有線網路設備可以包括有線網路交換機及網路線等,且可以透過乙太網(Ethernet)、光纖網路、或非對稱數位式用戶線路(asymmetric digital subscriber line, ADSL)等進行數據的接收或傳輸。
另外,無線網路設備可以包括無線網路交換機及無線網路存取點(access point, AP),且例如使用無線保真技術(wireless fidelity, WiFi)、或其他電信網路技術進行數據的接收及傳輸。
第一測試裝置120可以設定第一測試參數。也就是說,使用者可以透過操作第一測試裝置120,以便設定第一測試參數。在本實施例中,第一測試參數可以包括對第一待測裝置140測試所需的測試參數以及第一實驗室設備130的控制參數。
第一測試裝置120可以讀取實驗室設備資料。也就是說,第一測試裝置120可以對伺服器裝置110的儲存單元111進行存取,以讀取儲存單元111所儲存的實驗室設備資料。在一些實施例中,實驗室設備資料可以包括第一實驗室設備130的相關資料,例如第一實驗室設備130為正常狀態、異常狀態等。
第一測試裝置120可以依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置110。也就是說,第一測試裝置120可以依據第一測試參數中的第一實驗室設備130的控制參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置110。
在一些實施例中,第一控制命令可以包括功能代碼(function code)、設備識別碼(equipment identifier, equipment ID)與控制資料,但本發明實施例不限於此。另外,上述功能代碼例如包括寫入代碼或讀取代碼。此外,上述設備識別碼例如為第一實驗室設備130的設備識別碼。再者,上述控制資料例如包括溫度、濕度等。
第一測試裝置120可以依據第一測試參數對第一待測裝置140進行測試,以產生第一測試結果。也就是說,第一測試裝置120可以依據第一測試參數的對第一待測裝置140測試所需的測試參數,對第一待測裝置140進行測試,以產生對應的第一測試結果。另外,第一測試裝置120可以將第一測試結果傳送至伺服器裝置110並儲存至儲存單元111。此外,第一測試裝置120也可以將第一測試結果進行顯示。
第一實驗室設備130可以連接伺服器裝置110。另外,第一待測裝置140可以設置於第一實驗室設備130。在本實施例中,第一實驗室設備130可以透過有線網路設備或無線網路設備連接伺服器裝置110。舉例來說,有線網路設備可以包括有線網路交換機及網路線等,且可以透過乙太網、光纖網路、或非對稱數位式用戶線路等進行數據的接收或傳輸。另外,無線網路設備可以包括無線網路交換機及無線網路存取點,且例如使用無線保真技術、或其他電信網路技術進行數據的接收及傳輸。
另外,伺服器裝置110可以接收第一測試裝置120所產生的第一控制命令,並依據第一控制命令,控制第一實驗室設備130的運作。接著,伺服器裝置110可以讀取第一實驗室設備130的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元111。如此一來,可以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本。
在一些實施例中,第一測試裝置120例如為自動測試系統(auto test system, ATS)測試站,且第一測試裝置120可以包括電腦裝置與至少一測試元件。電腦裝置可以連接第一待測裝置140與伺服器裝置110。至少一測試元件可以連接電腦裝置與第一待測裝置140。
在一些實施例中,上述至少一測試元件可以包括水冷機(chiller)與電源供應器,但本發明實施例不限於此。此外,電源供應器可以包括高電壓電源供應器或低電壓電源供應器。再者,使用者可以視其需求,選擇第一測試裝置120中之測試元件的數量。
在一些實施例中,第一實驗室設備130可以包括溫箱(temperature chamber)、水冷機及紀錄器(recorder)。進一步來說,第一待測裝置140可以設置於第一實驗室設備130的溫箱中。另外,上述紀錄器可以紀錄溫度、濕度等。在本實施例中,第一測試裝置120中的水冷機與第一實驗室設備130中的水冷機不同。
自動化測試系統100可以更包括遠端裝置150。遠端裝置150可以連接伺服器裝置110。在本實施例中,遠端裝置150可以透過有線或無線網路設備連接伺服器裝置110。另外,無線網路設備可以包括無線網路交換機及無線網路存取點,且例如使用無線保真技術、或其他電信網路技術進行數據的接收及傳輸。
遠端裝置150可以對伺服器裝置110進行存取,以由儲存單元111讀取實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態,並顯示實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態。如此一來,使用者便可透過遠端裝置150得知第一測試裝置120的第一測試結果及第一實驗室設備130的第一運作狀態,以增加使用上的便利性。
另外,遠端裝置150更可以顯示實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態的完整資料或局部資料。上述完整資料例如為整個測試過程中的實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態的資料。上述局部資料例如為整個測試過程之某段測試時間中的實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態的資料。也就是說,使用者可以透過操作遠端裝置150,使遠端裝置150顯示完整資料或局部資料。如此一來,可以增加使用上的便利性。
另外,第一測試裝置120更可以透過遠端裝置150設定第一測試參數。也就是說,使用者可以透過遠端裝置150對第一測試裝置120進行操作,以便設定第一測試參數。如此一來,可以增加使用上的便利性。
在自動化測試系統100的整體操作上,第一測試裝置120設定第一測試參數(即對第一待測裝置140測試所需的測試參數以及第一實驗室設備130的控制參數)或是第一測試裝置120透過遠端裝置150設定第一測試參數。接著,第一測試裝置120讀取伺服器裝置110之儲存單元111的實驗室設備資料。之後,第一測試裝置120依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置110。
接著,伺服器裝置110接收第一測試裝置120所產生的第一控制命令,並執行第一控制命令,以控制第一實驗室設備130的運作。之後,第一測試裝置120依據第一測試參數對第一待測裝置140進行測試,以產生第一測試結果。接著,第一測試裝置120,將第一測試結果傳送至伺服器裝置110並儲存至儲存單元111,且將第一測試結果進行顯示。
另外,伺服器裝置110讀取第一實驗室設備130的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元111。如此一來,可以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本。
接著,遠端裝置150對伺服器裝置110進行存取,以由儲存單元111讀取實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態,並顯示實驗室設備資料、第一測試結果與第一運作狀態。如此一來,使用者便可透過遠端裝置150得知第一測試裝置120的第一測試結果及第一實驗室設備130的第一運作狀態,以增加使用上的便利性。
在一些實施例中,伺服器裝置110更可以對第一實驗室設備130進行校正流程。舉例來說,使用者可以於伺服器裝置110設定第一實驗室設備130的校正日期以及設定第一實驗室設備130的測試溫度、加溫範圍及降溫範圍,且校正日期、測試溫度、加溫範圍及降溫範圍可以儲存至儲存單元111。接著,伺服器裝置110可以確認當前日期是否校正日期相符。
在一些實施例中,當伺服器裝置110確認當前日期與校正日期不相符時,伺服器裝置110不會對第一實驗室設備130進行校正流程。當伺服器裝置110確認當前日期與校正日期相符時,伺服器裝置110可以由儲存單元111讀取所設定的測試溫度、加溫範圍及降溫範圍,並開始對第一實驗室設備130進行校正流程。
接著,伺服器裝置110可以由儲存單元111讀取第一實驗室設備130的溫度、計算加溫範圍對應的加溫時間及計算降溫範圍對應的降溫時間,並將第一實驗室設備130的溫度、加溫時間及降溫時間儲存至儲存單元111。
之後,遠端裝置150可以讀取儲存單元111所儲存的第一實驗室設備130的溫度、加溫時間及降溫時間,並顯示第一實驗室設備130的溫度、加溫時間及降溫時間。如此一來,使用者便可透過遠端裝置150,以得知伺服器裝置110對第一實驗室設備130進行校正的相關數據,進而增加使用的便利性。
第2圖為依據本發明之另一實施例之自動化測試系統的示意圖。請參考第2圖,自動化測試系統200可以包括伺服器裝置110、第一測試裝置120、第一實驗室設備130、遠端裝置150、第二測試裝置210與第二實驗室設備220。在本實施例中,伺服器裝置110、第一測試裝置120、第一實驗室設備130和遠端裝置150與第1圖之伺服器裝置110、第一測試裝置120、第一實驗室設備130和遠端裝置150相同或相似,可參考第1圖之實施例的說明,故在此不再贅述。
第二測試裝置210可以連接伺服器裝置110。在本實施例中,第二測試裝置210可以透過有線網路設備或無線網路設備連接伺服器裝置110。舉例來說,有線網路設備可以包括有線網路交換機及網路線等,且可以透過乙太網、光纖網路、或非對稱數位式用戶線路等進行數據的接收或傳輸。另外,無線網路設備可以包括無線網路交換機及無線網路存取點,且例如使用無線保真技術、或其他電信網路技術進行數據的接收及傳輸。
第二測試裝置210可以設定第二測試參數。也就是說,使用者可以透過操作第二測試裝置210,以便設定第二測試參數。在本實施例中,第二測試參數可以包括對第二待測裝置230測試所需的測試參數以及第二實驗室設備220的控制參數。
另外,在一些實施例中,第二測試裝置210也可以透過遠端裝置150設定第二測試參數。也就是說,使用者可以透過遠端裝置150對第二測試裝置210進行操作,以便設定第二測試參數。如此一來,可以增加使用上的便利性。
第二測試裝置210可以讀取實驗室設備資料。也就是說,第二測試裝置210可以對伺服器裝置110的儲存單元111進行存取,以讀取儲存單元111所儲存的實驗室設備資料。在一些實施例中,實驗室設備資料可以包括第一實驗室設備130與第二實驗室設備220的相關資料,例如第一實驗室設備130與第二時驗試設備220為正常狀態、異常狀態等。
第二測試裝置210可以依據第二測試參數與實驗室設備資料,產生第二控制命令至伺服器裝置110。也就是說,第二測試裝置210可以依據第二測試參數中的第二實驗室設備220的控制參數與實驗室設備資料的第二實驗室設備220的相關資料,產生第二控制命令至伺服器裝置110。
在一些實施例中,第二控制命令可以包括功能代碼、設備識別碼(equipment ID)與控制資料,但本發明實施例不限於此。另外,上述功能代碼例如包括寫入代碼或讀取代碼。此外,上述設備識別碼例如為第二實驗室設備220的設備識別碼。再者,上述控制資料例如包括溫度、濕度等。
第二測試裝置210可以依據第二測試參數對第二待測裝置230進行測試,以產生第二測試結果。也就是說,第二測試裝置210可以依據第二測試參數的對第二待測裝置230測試所需的測試參數,對第二待測裝置230進行測試,以產生對應的第二測試結果。另外,第二測試裝置210可以將第二測試結果傳送至伺服器裝置110並儲存至儲存單元111。此外,第二測試裝置210也可以將第二測試結果進行顯示。
第二實驗室設備220可以連接伺服器裝置110。另外,第二待測裝置230可以設置於第二實驗室設備220。第二實驗室設備220可以透過有線網路設備或無線網路設備連接伺服器裝置110。舉例來說,有線網路設備可以包括有線網路交換機及網路線等,且可以透過乙太網、光纖網路、或非對稱數位式用戶線路等進行數據的接收或傳輸。另外,無線網路設備可以包括無線網路交換機及無線網路存取點,且例如使用無線保真技術、或其他電信網路技術進行數據的接收及傳輸。
另外,伺服器裝置110可以接收第二測試裝置210所產生的第二控制命令,並依據第二控制命令,控制第二實驗室設備220的運作。接著,伺服器裝置110可以讀取第二實驗室設備220的第二運作狀態,並將第二運作狀態儲存至儲存單元111。如此一來,可以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本。
在一些實施例中,第二測試裝置210例如為自動測試系統(ATS)測試站,且第二測試裝置210可以包括電腦裝置與至少一測試元件。電腦裝置可以連接第二待測裝置230與伺服器裝置110。至少一測試元件可以連接電腦裝置與第二待測裝置230。
在一些實施例中,上述至少一測試元件可以包括水冷機與電源供應器,但本發明實施例不限於此。此外,電源供應器可以包括高電壓電源供應器或低電壓電源供應器。再者,使用者可以視其需求,選擇第二測試裝置210中之測試元件的數量。
在一些實施例中,第二實驗室設備220可以包括溫箱、水冷機及紀錄器。進一步來說,第二待測裝置230可以設置於第二實驗室設備220的溫箱中。另外,上述紀錄器可以紀錄溫度、濕度等。在本實施例中,第二測試裝置210中的水冷機與第二實驗室設備220中的水冷機不同。另外,第二待測裝置230與第一待測裝置140可以相同或不同。
另外,在一些實施例中,遠端裝置150也可以顯示實驗室設備資料、第一測試結果、第一運作狀態、第二測試結果與第二運作狀態的完整資料或局部資料。上述完整資料例如為整個測試過程中的實驗室設備資料、第一測試結果、第一運作狀態、第二測試結果與第二運作狀態。
上述局部資料例如為整個測試過程之某段測試時間中的實驗室設備資料、第一測試結果、第一運作狀態、第二測試結果與第二運作狀態。也就是說,使用者可以透過操作遠端裝置150,使遠端裝置150顯示完整資料或局部資料。如此一來,可以增加使用上的便利性。
在一些實施例中,自動化測試系統200可以更包括切換裝置240。切換裝置240可以連接伺服器裝置110、第一測試裝置120與第二測試裝置210之間。也就是說,伺服器裝置110可以透過切換裝置240連接第一測試裝置120或第二測試裝置210。
另外,伺服器裝置110可以輪詢的方式,傳送第一控制命令至第一測試裝置120與傳送第二控制命令至第二測試裝置210,以及讀取第一實驗室設備130的第一運作狀態與第二實驗室設備220的第二運作狀態。
在一些實施例中,伺服器裝置110也可以對第二實驗室設備220進行校正流程。另外,伺服器裝置110對第二實驗室設備220進行校正流程與伺服器裝置110對第一實驗室設備130相同或相似,可參考上述伺服器裝置110對第一實驗室設備130之實施例的說明,故再次不再贅述。
在第2圖中,自動化測試系統200包括2個測試裝置(即第一測試裝置120與第二測試裝置210)與2個實驗室設備(即第一實驗室設備130與第二實驗室設備220,但本發明實施例不限於此。在其他實施例中,自動化測試系統可以包括3個或3個以上的測試裝置與3個或3個以上的實驗室設備。另外,3個或3個以上的測試裝置與3個或3個以上的實驗室設備的連接方式及其操作,可參考第2圖之實施例的說明,故在此不再贅述。
綜上所述,本發明所揭露之自動化測試系統,透過第一測試裝置設定第一測試參數,讀取伺服器裝置之儲存單元的實驗室設備資料,依據第一測試參數與實驗室設備資料,產生第一控制命令至伺服器裝置,依據第一測試參數對設置於第一實驗室設備的第一待測裝置進行測試,以產生第一測試結果,以及將第一測試結果儲存至該儲存單元。另外,伺服器裝置依據第一控制命令,控制第一實驗室設備的運作,且伺服器裝置讀取第一實驗室設備的第一運作狀態,並將第一運作狀態儲存至儲存單元。如此一來,可以有效地降低參數設定的錯誤率、測試效率及測試成本,並增加使用上的便利性。
本發明雖以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明的範圍,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可做些許的更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100,200:自動化測試系統 110:伺服器裝置 111:儲存單元 120:第一測試裝置 130:第一實驗室設備 140:第一待測裝置 150:遠端裝置 210:第二測試裝置 220:第二實驗室設備 230:第二待測裝置 240:切換裝置
第1圖為依據本發明之一實施例之自動化測試系統的示意圖。 第2圖為依據本發明之另一實施例之自動化測試系統的示意圖。
100:自動化測試系統
110:伺服器裝置
111:儲存單元
120:第一測試裝置
130:第一實驗室設備
140:第一待測裝置
150:遠端裝置

Claims (9)

  1. 一種自動化測試系統,包括: 一伺服器裝置,具有一儲存單元,該儲存單元儲存一實驗室設備資料; 一第一測試裝置,連接該伺服器裝置,該第一測試裝置設定一第一測試參數,讀取該實驗室設備資料,依據該第一測試參數與該實驗室設備資料,產生一第一控制命令至該伺服器裝置,依據該第一測試參數對一第一待測裝置進行測試,以產生一第一測試結果,以及將該第一測試結果儲存至該儲存單元;以及 一第一實驗室設備,連接該伺服器裝置,且該第一待測裝置設置於該第一實驗室設備; 其中,該伺服器裝置依據該第一控制命令,控制該第一實驗室設備的運作,且該伺服器裝置讀取該第一實驗室設備的一第一運作狀態,並將該第一運作狀態儲存至該儲存單元; 其中該測試裝置包括一電腦裝置與至少一測試元件。
  2. 如請求項1所述之自動化測試系統,其中至少一測試元件包括一水冷機與一電源供應器。
  3. 如請求項1所述之自動化測試系統,其中該第一實驗室設備包括一溫箱、一水冷機及一紀錄器。
  4. 如請求項1所述之自動化測試系統,更包括: 一遠端裝置,連接該伺服器裝置,讀取該實驗室設備資料、該第一測試結果與該第一運作狀態,並顯示該實驗室設備資料、該第一測試結果與該第一運作狀態。
  5. 如請求項4所述之自動化測試系統,其中該第一測試裝置更透過該遠端裝置設定該第一測試參數。
  6. 如請求項1所述之自動化測試系統,更包括: 一第二測試裝置,連接該伺服器裝置,該第二測試裝置設定一第二測試參數,讀取該實驗室設備資料,依據該第二測試參數與該實驗室設備資料,產生一第二控制命令至該伺服器裝置,依據該第二測試參數對一第二待測裝置進行測試,以產生一第二測試結果,以及將該第二測試結果儲存至該儲存單元;以及 一第二實驗室設備,連接該伺服器裝置,且該第二待測裝置設置於該第二實驗室設備; 其中,該伺服器裝置依據該第二控制命令,控制該第二實驗室設備的運作,且該伺服器裝置讀取該第二實驗室設備的一第二運作狀態,並將該第二運作狀態儲存至該儲存單元。
  7. 如請求項6所述之自動化測試系統,更包括: 一切換裝置,連接該伺服器裝置、該第一測試裝置與該第二測試裝置之間。
  8. 如請求項1所述之自動化測試系統,其中該伺服器裝置更對該第一實驗室設備進行一校正流程。
  9. 如請求項1所述之自動化測試系統,其中該第一控制命令包括一功能代碼、一設備識別碼與一控制資料。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7680615B2 (en) * 2008-01-25 2010-03-16 Azurewave Technologies, Inc. Parallel testing system with shared golden calibration table and method thereof
US20130275073A1 (en) * 2012-04-11 2013-10-17 Henry Arnold Creation and scheduling of a decision and execution tree of a test cell controller
TW201514686A (zh) * 2013-10-03 2015-04-16 Wistron Corp 自動化測試及結果比對方法及系統
TW201843589A (zh) * 2017-04-28 2018-12-16 日商愛德萬測試股份有限公司 利用軟體應用程式介面(api)之自動化測試特徵使用者控制技術
TW202111529A (zh) * 2019-09-11 2021-03-16 英業達股份有限公司 電子設備的可靠性與功能性自動化測試方法
CN117520150A (zh) * 2023-10-24 2024-02-06 珠海莫界科技有限公司 测试方法及测试系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7680615B2 (en) * 2008-01-25 2010-03-16 Azurewave Technologies, Inc. Parallel testing system with shared golden calibration table and method thereof
US20130275073A1 (en) * 2012-04-11 2013-10-17 Henry Arnold Creation and scheduling of a decision and execution tree of a test cell controller
TW201514686A (zh) * 2013-10-03 2015-04-16 Wistron Corp 自動化測試及結果比對方法及系統
TW201843589A (zh) * 2017-04-28 2018-12-16 日商愛德萬測試股份有限公司 利用軟體應用程式介面(api)之自動化測試特徵使用者控制技術
TW202111529A (zh) * 2019-09-11 2021-03-16 英業達股份有限公司 電子設備的可靠性與功能性自動化測試方法
CN117520150A (zh) * 2023-10-24 2024-02-06 珠海莫界科技有限公司 测试方法及测试系统

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