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TWI576735B - 觸控顯示面板及其測試方法 - Google Patents

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TWI576735B
TWI576735B TW104118458A TW104118458A TWI576735B TW I576735 B TWI576735 B TW I576735B TW 104118458 A TW104118458 A TW 104118458A TW 104118458 A TW104118458 A TW 104118458A TW I576735 B TWI576735 B TW I576735B
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common electrode
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黃聖峰
施建豐
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群創光電股份有限公司
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Description

觸控顯示面板及其測試方法
本發明係有關於一種觸控顯示面板，且特別有關於能夠測試共用電極是否短路、斷路、以及對畫素電極放電的觸控顯示面板的測試方法。
觸控顯示面板是指將觸控功能整合進顯示面板內，而在顯示面板之外不另外設置觸控面板的構造，例如將觸控功能整合進液晶顯示面板或有機電致發光元件(OLED)面板，稱為內嵌式觸控顯示面板(In cell touch display panel)，這樣的結構下通常觸控功能往往利用顯示面板既有的電極結構來實現，因此不需要額外的觸控構造。例如，當內嵌式觸控顯示面板是邊緣電場切換型(Fringe Field Switching，FFS)液晶顯示面板時，通常會將其共用電極圖案化，以區分成複數塊，做為觸控感測電極使用。
邊緣電場切換型液晶顯示面板的基本構造如第1圖所示，邊緣電場切換型液晶顯示面板10由下而上，包括：下偏光板11、下基板12、薄膜電晶體層13、液晶層14、配向層15、彩色濾光片16、上基板17、上偏光板18。薄膜電晶體層13更包括：畫素電極131、絕緣層132、共用電極133、配向層134。其中複數的畫素電極131被施加電壓時會與共用電極133之間產 生電場，而產生的電場可控制液晶分子在水平方向轉動，藉此調變畫面的灰階。另外，在彩色濾光片16朝向上偏光板18的一側也可以選擇設置一遮蔽層，以屏蔽外部的干擾。
一般的邊緣電場切換型液晶顯示面板中的共用電極如第1圖的共用電極133所示是一整片的平面。觸控顯示面板則將此共用電極分割成矩陣狀配置的複數個電極塊，每一個電極塊在顯示期間仍做為一般的共用電極使用，而在觸控檢測期間則做為觸控感測電極使用，藉由檢測電極塊與外部的觸控物之間所形成的電容，來判斷觸控物的位置。
由共用電極所分割而成的複數個電極塊，結構上必須彼此電性分離，電極塊才能個別檢測觸控位置。因此，觸控顯示面板在組裝前必須先測試各個電極塊是否電性分離且運作正常。
本發明係基於上述目的，而提出一種觸控顯示面板及其測試方法，能夠測試共用電極是否短路、斷路、以及對畫素電極放電。
本發明提出一種觸控顯示面板，包括：一下基板，形成有一共用電極層、一第一測試墊、及一第二測試墊；一上基板，面向該下基板的該共用電極層；以及一液晶層，夾於該上、下基板之間，其中該共用電極層分割為複數的共用電極，且該複數的共用電極中的任意兩相鄰的共用電極會分別電性連接至該第一測試墊及該第二測試墊。
在上述的觸控顯示面板中，該下基板更形成有一 第一控制墊及複數的第一開關元件，其中該複數的第一開關元件分別連接於各個該共用電極與該共用電極所電性連接的該第一測試墊或該第二測試墊之間，而該第一控制墊連接至該複數的第一開關元件的控制端子。
在上述的觸控顯示面板中，該共用電極層分割為矩陣狀配置。
在上述的觸控顯示面板中，該下基板更形成有複數的資料線、一第二控制墊及複數的第二開關元件，其中任一條該複數的資料線會透過該複數的第二開關元件中的一者連接至該第一測試墊或該第二測試墊，而該第二控制墊連接至該複數的第二開關元件的控制端子。
在上述的觸控顯示面板中，該下基板的一端面係相對於該上基板同一側的端面突出，該第一測試墊、該第二測試墊及第一控制墊係形成於該下基板相對於該上基板突出的區域。
在上述的觸控顯示面板中，該共用電極塊是四邊形，且四邊形的各邊長的尺寸介於1mm~5mm之間。
在上述的觸控顯示面板中，該上基板為彩色濾光基板，而下基板為薄膜電晶體陣列基板。
根據本發明另一個觀點，本發明提出一種觸控顯示面板，包括：一下基板，形成有一共用電極層；一上基板，面向該下基板的該共用電極層；一液晶層，夾於該上、下基板之間，其中該共用電極層分割為矩陣狀配置的複數個共用電極，且每一個該複數的共用電極分別電性連接至一金屬導線， 各該金屬導線係中斷於該下基板的一邊緣。
又，根據本發明另一個觀點，本發明也提出一種觸控顯示面板的測試方法，該觸控顯示面板包括：複數的畫素電極、複數的共用電極、一第一測試墊、以及第二測試墊，其中該複數的共用電極中任意兩相鄰的共用電極會分別電性連接至該第一測試墊及該第二測試墊，該測試方法包括一共用電極短路檢測方法，包括：將該複數的畫素電極充電至相同的電位；提供一第一電位至該第一測試墊且提供不等於該第一電位的一第二電位至該第二測試墊，使該觸控顯示面板顯示棋盤狀的圖案；以及檢查該棋盤狀的圖案是否有相鄰的格子具有相同的灰階的情況。
在上述的測試方法中，該觸控顯示面板更包括：一第一控制墊及複數的第一開關元件，其中該複數的第一開關元件分別連接於各個共用電極與該共用電極所電性連接的該第一測試墊或該第二測試墊之間，而該第一控制墊連接至該複數的第一開關元件的控制端子，該共用電極短路檢測方法更包括：提供一既定電位至該第一控制墊，使該複數的第一開關元件導通。
在上述的測試方法中，該觸控顯示面板更包括：複數資料線、一第二控制墊及複數的第二開關元件，其中任一條該複數的資料線會透過該複數的第二開關元件中的一者連接至該第一測試墊或該第二測試墊，而該第二控制墊連接至該複數的第二開關元件的控制端子，該檢測方法更包括一放電方法，包括：使該複數的畫素電極與該複數的資料線導通；提供 一接地電位至該第一測試墊及該第二測試墊；以及提供一既定電位至該第一控制墊及該第二控制墊，使該複數的第一開關元件及該複數的第二開關元件導通，藉以對該複數的畫素電極放電。
在上述的測試方法中，該測試方法更包括一共用電極斷路檢測方法，包括：將該複數的畫素電極充電至相同的電位；提供一共用電位至該第一測試墊及該第二測試墊，使該觸控顯示面板的全畫面顯示相同灰階；檢查該畫面是否有灰階異常的區塊。
根據以上所述的觸控顯示面板及其測試方法，能夠測試共用電極是否短路、斷路、以及對畫素電極放電。
10、20、60、70、80‧‧‧邊緣電場切換型液晶顯示面板
11‧‧‧下偏光板
12‧‧‧下基板
13‧‧‧薄膜電晶體層
131‧‧‧畫素電極
132‧‧‧絕緣層
133‧‧‧共用電極
134‧‧‧配向層
14‧‧‧液晶層
15‧‧‧配向層
16‧‧‧彩色濾光片
17‧‧‧上基板
18‧‧‧上偏光板
21‧‧‧重疊區域
22‧‧‧外接腳區域
23‧‧‧顯示區域
31‧‧‧閘極介電層
311‧‧‧半導體通道層
32‧‧‧閘極覆蓋層
33、34、35‧‧‧層間絕緣層
36‧‧‧電極覆蓋層
61、62‧‧‧電極墊
63‧‧‧控制墊
61’、62’、63’‧‧‧金屬導線
81‧‧‧冗餘區域
C‧‧‧導電連接部
Cst‧‧‧畫素電容
D‧‧‧汲極電極襯墊
Dy‧‧‧資料線
D[1]、D[2]、D[p]、D[p+1]‧‧‧資料線群
Gx‧‧‧閘極線
IC‧‧‧控制晶片
E1、E2‧‧‧透明電極
o‧‧‧斷路
Px,y‧‧‧畫素電極
p‧‧‧導電柱
Sn、S1、S2、Sl-1、Sl、Sl+1、Sl+2、Sm、Sm+1‧‧‧共用電極塊
Sa‧‧‧第1源極電極襯墊
Sb‧‧‧第2源極電極襯墊
s‧‧‧短路
SB_VCOM、SB_DATA‧‧‧控制信號
SW1、SW2‧‧‧開關元件
TFT‧‧‧薄膜電晶體
VCOM1、VCOM2‧‧‧電位
Wn、W1、W2、Wl+1、Wl+2、Wm、Wm+1‧‧‧金屬導線
第1圖係顯示習知的邊緣電場切換型液晶顯示面板的剖面圖。
第2圖係本發明的觸控顯示面板的上視圖。
第3A圖係顯示了根據本發明一實施例的一個畫素的電路圖。
第3B圖係顯示了根據本發明一實施例的共用電極與薄膜電晶體層的配置關係的布局剖面圖。
第4圖係根據本發明一實施例的共用電極短路測試電路圖。
第5A圖係短路測試結果為測試正常的示意圖。
第5B圖係短路測試結果為發現短路的示意圖。
第6圖係本發明一實施例的觸控顯示面板的上視圖。
第7圖係本發明另一實施例的觸控顯示面板的上視圖。
第8圖係本發明另一實施例的觸控顯示面板的上視圖。
第9圖係根據本發明一實施例的畫素電極放電用電路圖。
第10圖係顯示第9圖的電路操作於顯示測試模式、共用電極短路測試模式、以及畫素電極放電模式時的各個操作電壓的變化的一個例子。
以下根據圖式說明本發明的觸控顯示面板及其顯示方法。在不同的圖式及對應的說明中標示相同的符號表示相同的元件而省略重複說明。
第2圖係本發明的觸控顯示面板的上視圖。如第2圖所示，觸控顯示面板20中，上基板與下基板重疊的部分在本發明中稱為重疊區域21，以液晶顯示面板為例，上基板為彩色濾光基板，而下基板為薄膜電晶體陣列基板。而下基板的其中一端較上基板突出而未與上基板重疊的部分在本發明中稱為外接腳區域22。重疊區域21中的一部分實際上用來顯示畫面的部分，在本發明中稱為顯示區域23。如第2圖所示，在顯示區域23內，共用電極分割為矩陣狀配置的複數的共用電極塊S1、S2、…、Sl-1、Sl、Sl+1、Sl+2、…、Sm、Sm+1，任一個共用電極塊Sn(n等於1~m+1中的任意整數)為多邊形，例如四邊形、六邊形等形狀，但不以此為限，而本發明實施利是舉例四 邊形的形狀，且四邊形的各邊長介於1mm~5mm之間。每一個共用電極塊Sn會透過至少一個導電連接部C(在此舉例3個)與一條金屬導線Wn(n等於1~m+1中的任意整數)連接。本發明的觸控顯示面板為內嵌式觸控顯示面板，且顯示面板可以是邊緣電場切換型(Fringe Field Switching，FFS)液晶顯示面板，將其共用電極圖案化，以區分成複數塊的目的是做為觸控感測電極使用。所有的金屬導線Wn均連接到設置於外接腳區域22上的控制晶片IC。控制晶片IC在顯示期間輸出共用電位給全部的共用電極塊Sn，在觸控檢測期間則用以檢測各個共用電極塊Sn有無電壓的變化來判斷是否有觸控。在此，本發明的觸控檢測是採用自容式(self-capacitance)的驅動檢測方式，亦即，透過檢測是否在各共用電極塊Sn與觸控物件(手指或觸控筆)之間形成的電容值，來判斷是否有觸控事件發生。例如，當觸控物件靠近各個共用電極塊Sn時，各共用電極塊Sn與觸控物件(手指或觸控筆)之間會建立電容，此電容會影響充放電的速度，因此一控制器可以據以判斷有觸控事件發生。
為了更方便理解共用電極塊Sn與薄膜電晶體層中各個金屬的位置關係，第3A圖係顯示了根據本發明一實施例的一個畫素的電路圖。第3B圖係顯示了根據本發明一實施例的共用電極與薄膜電晶體層的配置關係的布局剖面圖。如第3A圖所示，一個畫素的電路包括：閘極線Gx(x為正整數)、資料線Dy(y為正整數)、薄膜電晶體TFT、畫素電極Px,y(x、y對應閘極線與資料線中的x、y值)、以及共用電極Sn，其中畫素電極Px,y與共用電極Sn之間構成畫素電容Cst。再參照第3B圖， 畫素電極Px,y、共用電極Sn與薄膜電晶體TFT分別位於不同層形成多層結構。此構造由下而上分別為閘極介電層31、閘極覆蓋層32、層間絕緣層33、34、35、電極覆蓋層36。薄膜電晶體TFT形成於閘極介電層31、閘極覆蓋層32及層間絕緣層33內，共用電極Sn及導線Wn形成於層間絕緣層34、35內，畫素電極Px,y形成於電極覆蓋層36內。閘極介電層31內有半導體通道層311，用以形成薄膜電晶體的通道。閘極G(與閘極線Gx電性連接)形成在閘極介電層31上，並且被閘極覆蓋層32所覆蓋；汲極電極襯墊D(與資料線Dy電性連接)與第1源極電極襯墊Sa形成於閘極覆蓋層32上，並且被層間絕緣層33所覆蓋，以平坦化汲極電極襯墊D與第1源極電極襯墊Sa；汲極電極襯墊D與第1源極電極襯墊Sa均透過由導電材料構成的導電柱p與半導層通道311接觸；金屬導線Wn與第2源極電極襯墊Sb形成在層間絕緣層33上並且被層間絕緣層34所覆蓋，其中第2源極電極襯墊Sb透過由導電材料構成的導電柱p與第1源極電極襯墊Sa連接；透明電極E1構成共用電極Sn，形成於層間絕緣層34上並且被層間絕緣層35所覆蓋，其中透明電極E1會透過導電連接部C連接到位於下層的金屬導線Wn；具有一定間隔的複數透明電極E2構成畫素電極Px,y，形成於層間絕緣層35上並且被電極覆蓋層36所覆蓋，其中透明電極E2會透過由導電材料構成的導電柱p與第2源極電極襯墊Sb連接。藉由此構造，當驅動畫素時，畫素電極Px,y中的複數透明電極E2所發出的電力線會經過彼此之間的間隙而到達共用電極Sn。第3B圖的畫素剖面構造可與第1圖的面板剖面構造相對照，其中透明電極E1(共用電極Sn) 對應於第1圖中的共用電極133；層間絕緣層35對應於第1圖中的絕緣層132；透明電極E2(畫素電極Px,y)對應於第1圖中的畫素電極131；電極覆蓋層36對應第1圖中的配向層134。其中，閘極介電層31、閘極覆蓋層32、層間絕緣層34、35可以是選自氧化矽、氮化矽、氮氧化矽或其組合；層間絕緣層33做為平坦層可包含一絕緣材料，例如全氟烷氧基聚合物樹脂(perfluoroalkoxy(PFA)polymer resin)；而電極覆蓋層36可以是一種含有醯亞胺基的有機高分子材料，例如是聚醯亞胺(Polyimide，簡稱PI)。
在面板製造時，相鄰的共用電極Sn或是金屬導線Wn之間可能會因為塵埃等微粒的混入而形成短路。因此必須在控制晶片IC形成於面板上之前先進行共用電極Sn的短路測試，來排除短路的情況。
第4圖係根據本發明一實施例的共用電極短路測試電路圖。第5圖係短路測試的結果的示意圖。為了檢測出各個相鄰的共用電極Sn或是金屬導線Wn之間是否有短路，本發明使各條相鄰的金屬導線分別連接至不同的電位，具體來說，是將奇數條的金屬導線Wn連接至電位VCOM1，將偶數條的金屬導線Wn連接至電位VCOM2。而各條金屬導線Wn與電位VCOM1或VCOM2之間，還會配置一個開關元件SW1，所有的開關元件SW1的控制端子由控制信號SB_VCOM統一控制，藉此可整體地切換各個金屬導線Wn與電位VCOM1及VCOM2之間的導通或非導通。在共用電極短路測試時，會透過資料線Dy將所有的畫素電極Px,y充電至最高灰階電壓，然後控制信號 SB_VCOM將全部的開關元件SW1導通，使得奇數條的金屬導線Wn連接至電位VCOM1，偶數條的金屬導線Wn連接至電位VCOM2。因此相鄰的共用電極Sn(例如縱方向的S1與S2，或是橫方向Sl與Sl+1)將會處於不同的電位VCOM1與電位VCOM2。假設相鄰的金屬導線Wm與Wm+1如第4圖所示，兩者之間發生短路s，則金屬導線Wm與Wm+1之間會有一電流產生，從電位VCOM1與電位VCOM2中電位較高者流到電位較低者(例如第4圖的箭頭方向)，使得金屬導線Wm與Wm+1所連接的共用電極Sm與Sm+1變成相等的電位。
共用電極短路測試的結果如第5圖所示，由於相鄰的共用電極塊Sn連接至不同的電位VCOM1及VCOM2，因此當全部畫素電極Px,y充電至最高灰階電壓時，畫面會呈現棋盤狀的圖案，每一格子對應到一塊共用電極塊Sn，相鄰的格子呈現不同的灰階。當棋盤狀圖案沒有缺陷時(如第5a圖所示)，表示測試結果正常。當在棋盤狀圖案中發現有相鄰的格子呈現相同的灰階的情況時(如第5b圖中圈起來的部分)，則表示這兩個格子所對應的共用電極塊Sn之間或者金屬導線Wn之間有短路的現象。此時再針對短路發生的區域做細部的檢查，排除短路發生的狀況。
實際將第4圖的電路配置於第2圖的觸控顯示面板時，具體的例子如第6-8圖。由於共用電極短路測試時控制晶片IC還未焊接，因此以虛線表示。在第6圖中，觸控顯示面板60的下基板的外接腳區域22更配置了測試墊61、測試墊62、控制墊63。測試墊61、測試墊62、控制墊63各自連接有一條金屬 導線，分別是61’、62’、63’。三條金屬導線61’、62’、63’均沿著於重疊區域21中的顯示區域23以外的邊界延伸，直到重疊區域21的上方邊界。開關元件SW1配置於重疊區域21的上方邊界，連接於金屬導線61’與奇數條金屬導線Wn之間，以及連接於金屬導線62’與偶數條金屬導線Wn之間。所有的開關元件SW1的控制端子均連接至金屬導線63’。當進行共用電極短路測試時，測試墊61會被施加電位VCOM1，測試墊62會被施加電位VCOM2，控制墊63會被施加控制信號SB_VCOM，此時控制信號SB_VCOM的電位會將所有的開關元件SW1導通，來達成上述說明的共用電極短路測試。
測試電路配置於觸控顯示面板的另一具體的例子如第7圖所示，觸控顯示面板70的金屬導線61’、62’、63’及開關元件SW1也可全部配置於重疊區域21的下方邊界。使用這個構造除了可進行與第6圖相同的共用電極短路測試外，還可以對每一個共用電極塊Sn的金屬導線Wn進行斷路測試。觸控顯示面板70在進行共用電極短路測試前，會先進行顯示測試。具體來說，就是透過資料線Dy將所有的畫素電極Px,y充電至同一灰階電壓，並將所有共用電極塊Sn供給相同的電壓(測試墊61與測試墊62被施加相同的電位)，然後藉由觀看畫面中是否有亮暗點來判斷是否有畫素異常。而第7圖的構造的特別之處在於，進行顯示測試時也能同時測試共用電極塊Sn的每一條金屬導線Wn是否有斷路。假設金屬導線W1如第7圖所示發生斷路o，則共用電極塊S1的電位會與所有其他的共用電極塊的電位不同，因此可觀察出畫面中有一個的格子灰階異常，這個格子 對應到共用電極塊S1，因此能判斷電極塊S1的金屬導線W1上有斷路。
測試電路配置於觸控顯示面板的另一具體的例子如第8圖所示，觸控顯示面板80中的測試墊61、測試墊62、控制墊63、金屬導線61’、62’、63’及開關元件SW1全部配置在面板外部的冗餘區域81，而金屬導線Wn會延伸到基板外部的冗餘區域81當中。冗餘區域81原本可能是下基板的一部分，在共用電極短路測試完成後會整個切除。因此，在這個構造當中，當冗餘區域81被切除後，從觸控顯示面板80的外觀只能觀察到金屬導線Wn延伸到基板的邊緣。又或者，在另一實施例中，也可以利用雷射將位於開關元件SW1與各共用電極Sn之間的各金屬導線Wn蝕刻斷開，例如第8圖中，利用雷射沿著一切割線(即冗餘區域81鄰接重疊區域21的實線)蝕刻，以電性隔離開關元件SW1與各共用電極Sn。
觸控顯示面板經過顯示測試、共用電極斷路測試、共用電極短路測試後，若無問題可進行後續的組裝步驟。然而，經過幾次測試後的觸控顯示面板中可能會有殘留電荷，若畫素電極長時間有殘留電荷，則容易造成液晶分子極化，而損壞顯示面板。因此，本發明更進一步改良第4圖的電路，使其提供對畫素電極放電的功能。
第9圖係根據本發明一實施例的畫素電極放電用電路圖。在第9圖中，除了第4圖的電路外，資料線群D[1]、D[2]、…、D[p]、D[p+1]也會分別透過開關元件SW2連接到提供電位VCOM1或VCOM2的金屬導線上，所有的開關元件SW2 的控制端子由控制信號SB_DATA統一控制，藉此可整體地切換各個資料線群與電位VCOM1及VCOM2之間的導通或非導通。在此，需注意的是任一個D[n](n為大於1的整數)的符號表示由至少一條的資料線所構成的群組，並不只限定於一條資料線。再者，雖第9圖顯示資料線群D[1]透過開關元件SW2連接至提供電位VCOM1的金屬導線，資料線群D[2]透過開關元件SW2連接至提供電位VCOM2的金屬導線，但實際上資料線群D[1]、D[2]也可同時連接到同一條金屬導線上。這是因為進行畫素電極放電時，電位VCOM1與電位VCOM2相同，故資料線群連接到提供電位VCOM1或VCOM2的金屬導線任一條皆可。進行畫素電極放電時，所有的閘極線Gx使電晶體薄膜TFT導通，控制信號SB_VCOM及控制信號SB_DATA各自導通開關元件SW1、SW2導通，使得全部共用電極Sn以及全部資料線Dy都連接到電位VCOM1或VCOM2，由於此時電位VCOM1等於電位VCOM2，因此所有畫素中的資料線會與共用電極等電位，藉此對畫素電極的殘留電荷放電。
另外，也可以依照第6-8圖的三種配置方式，將第9圖的電路配置於第2圖的觸控顯示面板中，此時會將開關元件SW2加入其中，並增加一個控制墊(未圖示)在控制墊63旁，用來提供控制信號SB_DATA至所有開關元件SW2的控制端子。除了上述差異點外其餘特徵皆與第6-8圖相同，故不重複說明。
本發明的觸控顯示面板採用第9圖的電路時，可操作於顯示測試、共用電極短路測試、以及畫素電極放電三種模式。以下統整說明進行這三種模式時電位VCOM1、VCOM2、 及控制信號SB_VCOM、SB_DATA的變化。第10圖係顯示第9圖的電路操作於顯示測試模式、共用電極短路測試模式、以及畫素電極放電模式時的各個操作電壓的變化的一個例子。在第10圖的例子中，將觸控顯示面板依序操作於顯示測試模式I、共用電極短路測試模式II、以及畫素電極放電模式III，並假設開關元件SW1、SW2是在控制端子被施加高電位時會導通的NMOS電晶體。如第10圖所示，當操作於顯示測試模式I時，電位VCOM1及VCOM2相等(例如-1V)，控制信號SB_VCOM為高電位H使開關元件SW1導通，控制信號SB_DATA為低電位L使開關元件SW2不導通，藉此檢測畫面上是否有亮暗點或顯示異常；當操作於共用電極短路測試模式II時，電位VCOM1及VCOM2不相等(例如電位VCOM1為-0.5V，電位VCOM2為-1.5V)，控制信號SB_VCOM為高電位H使開關元件SW1導通，控制信號SB_DATA為低電位L使開關元件SW2不導通，藉此使畫面呈現棋盤狀圖案來檢測是否有相鄰的格子灰階相同的情況；當操作於畫素電極放電模式III時，電位VCOM1及VCOM2相等(例如0V)，控制信號SB_VCOM為高電位H使開關元件SW1導通，控制信號SB_DATA也是高電位H使開關元件SW2導通，藉此使全部的共用電極Sn與畫素電極Px,y等電位，將畫素電極Px,y的殘留電荷放電到資料線Dy中，並藉由開關元件SW2的導通狀態將殘留電荷接地(假設電位VCOM1及VCOM2為接地)。
由第10圖可看出採用第9圖的電路的觸控顯示面板可操作於三種模式，然而上述各個操作電壓僅為例示，並非用以限定本發明的範圍。另外，本發明的開關元件SW1、SW2 也可以是在控制端子被施加低電位時會導通的PMOS電晶體。
根據以上所述的全部實施例，本發明提出一種觸控顯示面板及其測試方法，能夠測試共用電極是否短路、斷路、以及對畫素電極放電。
雖本發明以上述實施例來說明，但並不限於此。更進一步地說，在熟習該領域技藝人士不脫離本發明的概念與同等範疇之下，申請專利範圍必須廣泛地解釋以包括本發明實施例及其他變形。
21‧‧‧重疊區域
22‧‧‧外接腳區域
23‧‧‧顯示區域
70‧‧‧邊緣電場切換型液晶顯示面板
61、62‧‧‧電極墊
63‧‧‧控制墊
61’、62’、63’‧‧‧金屬導線
IC‧‧‧控制晶片
o‧‧‧斷路
S1、S2、Sl-1、Sl、Sl+1、Sl+2、Sm、Sm+1‧‧‧共用電極塊
SW1‧‧‧開關元件
W1、W2、Wl+1、Wl+2、Wm、Wm+1‧‧‧金屬導線

Claims (12)

  1. 一種觸控顯示面板，包括：一下基板，形成有一共用電極層、一第一測試墊、及一第二測試墊；一上基板，面向該下基板的該共用電極層；以及一液晶層，夾於該上、下基板之間，其中該共用電極層分割為複數的共用電極，且該複數的共用電極中的任意兩相鄰的共用電極會分別電性連接至該第一測試墊及該第二測試墊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控顯示面板，其中該共用電極層分割為矩陣狀配置。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控顯示面板，其中該下基板更形成有一第一控制墊及複數的第一開關元件，其中該複數的第一開關元件分別連接於各個該共用電極與該共用電極所電性連接的該第一測試墊或該第二測試墊之間，而該第一控制墊連接至該複數的第一開關元件的控制端子。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之觸控顯示面板，其中該下基板更形成有複數的資料線、一第二控制墊及複數的第二開關元件， 其中任一條該複數的資料線會透過該複數的第二開關元件中的一者連接至該第一測試墊或該第二測試墊，而該第二控制墊連接至該複數的第二開關元件的控制端子。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之觸控顯示面板，其中該下基板的一端面係相對於該上基板同一側的端面突出，該第一測試墊、該第二測試墊及第一控制墊係形成於該下基板相對於該上基板突出的區域。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控顯示面板，其中該共用電極塊是四邊形，且四邊形的各邊長的尺寸介於1mm~5mm之間。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控顯示面板，其中該上基板為彩色濾光基板，而下基板為薄膜電晶體陣列基板。
  8. 一種觸控顯示面板，包括：一下基板，形成有一共用電極層；一上基板，面向該下基板的該共用電極層；以及一液晶層，夾於該上、下基板之間，其中該共用電極層分割為矩陣狀配置的複數個共用電極，且每一個該複數的共用電極分別電性連接至一金屬導線，各該金屬導線係中斷於該下基板的一邊緣。
  9. 一種觸控顯示面板的測試方法，該觸控顯示面板包括：複數的畫素電極、複數的共用電極、一第一測試墊、以及第二 測試墊，其中該複數的共用電極中任意兩相鄰的共用電極會分別電性連接至該第一測試墊及該第二測試墊，該測試方法包括一共用電極短路檢測方法，包括：將該複數的畫素電極充電至相同的電位；提供一第一電位至該第一測試墊且提供不等於該第一電位的一第二電位至該第二測試墊，使該觸控顯示面板顯示棋盤狀的圖案；以及檢查該棋盤狀的圖案是否有相鄰的格子具有相同的灰階的情況。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之觸控顯示面板的測試方法，其中該觸控顯示面板更包括：一第一控制墊及複數的第一開關元件，其中該複數的第一開關元件分別連接於各個共用電極與該共用電極所電性連接的該第一測試墊或該第二測試墊之間，而該第一控制墊連接至該複數的第一開關元件的控制端子，該共用電極短路檢測方法更包括：提供一既定電位至該第一控制墊，使該複數的第一開關元件導通。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之觸控顯示面板的測試方法，其中該觸控顯示面板更包括：複數資料線、一第二控制墊及複數的第二開關元件，其中任一條該複數的資料線會透過該複數的第二開關元件中的一者連接至該第一測試墊或該 第二測試墊，而該第二控制墊連接至該複數的第二開關元件的控制端子，該檢測方法更包括一放電方法，包括：使該複數的畫素電極與該複數的資料線導通；提供一接地電位至該第一測試墊及該第二測試墊；以及提供一既定電位至該第一控制墊及該第二控制墊，使該複數的第一開關元件及該複數的第二開關元件導通，藉以對該複數的畫素電極放電。
  12. 如申請專利範圍第9項所述之觸控顯示面板的測試方法，其中該測試方法更包括一共用電極斷路檢測方法，包括：將該複數的畫素電極充電至相同的電位；提供一共用電位至該第一測試墊及該第二測試墊，使該觸控顯示面板的全畫面顯示相同灰階；以及檢查該畫面是否有灰階異常的區塊。
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