TWI662285B - 內嵌式觸控顯示器及斷路與短路測試方法 - Google Patents

Abstract

一種內嵌式觸控顯示器，包含具有鄰接的顯示區與周邊區之顯示面板、複數觸控電極、觸控測試單元、複數走線、測試信號接收器、信號輸入墊及判斷單元。觸控電極設置於顯示區。觸控測試單元及信號輸入墊設置於周邊區。走線中之第一群與第二群走線及信號輸入墊中之第一組與第二組信號輸入墊分別耦接觸控電極中之第一群與第二群觸控電極。測試信號接收器中之第一及第二測試信號接收單元透過觸控測試單元耦接第一群及第二群觸控電極。判斷單元比較第一組(第二組)信號輸入墊與第一(第二)測試信號接收單元以判斷第一群(第二群)走線是否斷路。

Description

內嵌式觸控顯示器及斷路與短路測試方法

本發明係與觸控顯示器(Touch display)有關，尤其是關於一種內嵌式(In-cell)觸控顯示器以及應用於內嵌式觸控顯示器的斷路(Open)與短路(Short)測試方法。

一般而言，內嵌式觸控顯示器包含有顯示面板、複數個觸控電極、觸控測試單元及複數條走線。對於設置於觸控測試單元與該些觸控電極(例如RX觸控電極)之間的該些走線(例如RX觸控電極走線)而言，傳統上都是採用人眼檢測的方式來判斷該些走線是否斷路(Open)。

舉例而言，位於上方的觸控測試單元可循序輸出顯示信號至該些走線的上端並透過該些走線將顯示信號傳送至該些觸控電極。當電壓不足時，藉由人眼檢測顯示畫面之品質來判斷該些走線是否斷路。

然而，由於採用人眼檢測的方式進行檢測，不僅需要耗費相當多的檢測人力，並且每個檢測人員對於畫面品、質之主觀認定不一定相同，導致很可能發生漏篩的情況而未能確實檢測出發生斷路或短路的走線，因而無法提早篩選出不良品，使得整 體生產成本難以有效降低。

根據本發明之一具體實施例為一種內嵌式(In-cell)觸控顯示器。於此實施例中，內嵌式觸控顯示器包含顯示面板、複數個觸控電極、觸控測試單元、複數條走線、測試信號接收器、信號輸入墊及判斷單元。顯示面板具有顯示區與周邊區，其中周邊區鄰接於顯示區。該些觸控電極包含第一群觸控電極與第二群觸控電極，且該些觸控電極設置於顯示面板之顯示區。觸控測試單元設置於顯示面板之周邊區。複數條走線包含第一群走線與第二群走線，且第一群走線分別耦接觸控測試單元與第一群觸控電極，第二群走線分別耦接觸控測試單元與第二群觸控電極。測試信號接收器包含第一測試信號接收單元與第二測試信號接收單元，且第一測試信號接收單元透過觸控測試單元耦接第一群觸控電極，第二測試信號接收單元透過觸控測試單元耦接第二群觸控電極。信號輸入墊設置於周邊區並包含第一組信號輸入墊與第二組信號輸入墊，且第一組信號輸入墊耦接第一群觸控電極，第二組信號輸入墊耦接第二群觸控電極。判斷單元分別耦接測試信號接收器與信號輸入墊。其中，判斷單元比較第一組信號輸入墊與第一測試信號接收單元以判斷第一群走線是否為斷路狀態；判斷單元比較第二組信號輸入墊與第二測試信號接收單元以判斷第二群走線是否為斷路狀態。

於一實施例中，判斷單元包含比較器與計數器。

於一實施例中，內嵌式觸控顯示器更包含透明導電層、金屬層、絕緣層、第一通孔及第二通孔。透明導電層用以形成該些觸控電極。金屬層用以形成該些走線，而金屬層包含第一部分與第二部分。絕緣層設置於透明導電層與金屬層之間。第一通孔形成於絕緣層。第二通孔形成於絕緣層。第一通孔與第二通孔分別對應於該些觸控電極之其一。其中金屬層之第一部分可容納於第一通孔，第二部分可容納於第二通孔，使得第一部分與第二部分可分別連接於同一觸控電極，且第一部分與第二部分彼此結構分離。

於一實施例中，內嵌式觸控顯示器更包含透明導電層、金屬層、絕緣層、第一通孔及第二通孔。透明導電層用以形成該些觸控電極。金屬層用以形成該些走線。金屬層包含第一部分與第二部分。絕緣層設置於透明導電層與金屬層之間。第一通孔形成於絕緣層。第二通孔形成於絕緣層。第一通孔與第二通孔分別對應於該些觸控電極之其一。其中，金屬層之第一部分可容納於第一通孔且金屬層之第二部分可容納於第二通孔，使得第一部分與第二部分可分別連接於同一觸控電極，且第一部分與第二部分彼此結構相連。

於一實施例中，內嵌式觸控顯示器更包含顯示驅動器積體電路。顯示驅動器積體電路分別耦接信號輸入墊。於測試期間內，顯示驅動器積體電路依序提供複數個第一測試輸入信號與複數個第二測試輸入信號；於觸控期間內，顯示驅動器積體電 路可接收一觸控信號。

於一實施例中，顯示驅動器積體電路耦接測試信號接收器，且判斷單元係設置於顯示驅動器積體電路內。

根據本發明之另一具體實施例為一種斷路與短路測試方法。於此實施例中，斷路與短路測試方法係應用於內嵌式(In-cell)觸控顯示器。內嵌式觸控顯示器包含顯示面板、測試信號接收器、複數個觸控電極、複數條走線及觸控測試單元。觸控測試單元設置於顯示面板之一側。該些觸控電極設置於顯示面板上。該些走線之第一端分別耦接觸控測試單元。該些走線依序排列於內嵌式觸控面板上並選擇性地耦接該些觸控電極。測試信號接收器耦接觸控測試單元。

斷路與短路測試方法包含下列步驟：(a)於第一時間區間內，該些走線中之第一群走線的第二端依序接收複數個第一測試輸入信號，其中第一群走線係分別耦接該些觸控電極中之第一群觸控電極；(b)觸控測試單元根據該些第一測試輸入信號產生第一測試輸出信號；(c)當測試信號接收器接收到第一測試輸出信號時，判斷第一測試輸出信號是否異於第一預設測試輸出信號；以及(d)若步驟(c)之判斷結果為是，根據第一測試輸出信號與第一預設測試輸出信號相異之處判定第一群走線處於斷路狀態。

相較於先前技術，本發明之內嵌式觸控顯示器係循序將複數個測試輸入信號輸入至與一群觸控電極耦接之一群走線的下端並透過該群走線分別將該些測試輸入信號傳送至上方的觸控測試單元，再由觸控測試單元根據該些測試輸入信號產生測試輸出信號，並比較測試輸出信號與預設測試輸出信號，以判斷該群走線是否處於斷路狀態或是該群走線是否與另一群走線之間有短路狀態，故能有效避免先前技術中採用人眼檢測的方式所產生漏篩之情事，以提升產品之良率與穩定性。

此外，除了可由耦接顯示面板的顯示驅動器積體電路提供該些測試輸入信號至該些走線來進行測試之外，亦可在尚未設置顯示驅動器積體電路的測試階段透過測試板(Test board)提供該些測試輸入信號至該些走線來進行測試，藉以在測試階段提早篩選出走線斷路或短路的不良品，故能有效節省內嵌式觸控顯示器的生產成本。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

1‧‧‧內嵌式觸控顯示器

PL‧‧‧顯示面板

R1~R14‧‧‧觸控電極

10‧‧‧觸控測試單元

T1~T14‧‧‧走線

12‧‧‧測試信號接收器

P‧‧‧信號輸入墊

14‧‧‧判斷單元

DR‧‧‧顯示區

SR‧‧‧周邊區

V1~V6‧‧‧通孔

121‧‧‧第一測試信號接收單元

122‧‧‧第二測試信號接收單元

P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13‧‧‧第一組信號輸入墊

P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14‧‧‧第二組信號輸入墊

N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13‧‧‧第一測試輸入信號

N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14‧‧‧第二測試輸入信號

U1‧‧‧第一測試輸出信號

U2‧‧‧第二測試輸出信號

AA’、BB’‧‧‧剖面

INL‧‧‧絕緣層

HV‧‧‧高準位信號

LV‧‧‧低準位信號

DU1‧‧‧第一預設測試輸出信號

DU2‧‧‧第二預設測試輸出信號

140‧‧‧比較器

142‧‧‧計數器

W1‧‧‧第一導線

W2‧‧‧第二導線

W3‧‧‧第三導線

M1~M14‧‧‧開關

TPC‧‧‧觸控控制信號

N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、N11’、N13’‧‧‧第一測試輸入信號

N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’‧‧‧第二測試輸入信號

S10~S24‧‧‧步驟

圖1A係繪示根據本發明之一較佳具體實施例中之內嵌式觸控顯示器的示意圖。

圖1B係繪示圖1A中之內嵌式觸控顯示器沿AA’剖面之剖面圖。

圖1C係繪示圖1A中之內嵌式觸控顯示器沿BB’剖面 之剖面圖。

圖1D係繪示內嵌式觸控顯示器的功能方塊圖。

圖2A及圖2B係繪示根據本發明之另一較佳具體實施例中之斷路與短路測試方法的流程圖。

圖3係繪示第一預設測試輸出信號DU1係由第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13相加而得之示意圖。

圖4係繪示第一測試輸出信號U1係由第一測試輸入信號N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、N11’、N13’相加而得之示意圖。

圖5係繪示比較第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1是否相異之示意圖。

圖6係繪示第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14與第二預設測試輸出信號DU2於第一時間區間內均為低準位信號LV之示意圖。

圖7A係繪示第二測試輸出信號U2為低準位信號LV，但第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1並未相異之示意圖。

圖7B係繪示第二測試輸出信號U2為低準位信號LV且第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1彼此相異之示意圖。

圖7C係繪示第二測試輸出信號U2並非低準位信號LV之示意圖。

圖8係繪示第二預設測試輸出信號DU2係由第二測試 輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14相加而得之示意圖。

圖9係繪示第二測試輸出信號U2係由第二測試輸入信號N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’相加而得之示意圖。

圖10係繪示比較第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2是否相異之示意圖。

圖11係繪示第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13與第一預設測試輸出信號DU1於第二時間區間內均為低準位信號LV之示意圖。

圖12A係繪示第一測試輸出信號U1為低準位信號LV，但第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2並未相異之示意圖。

圖12B係繪示第一測試輸出信號U1為低準位信號LV且第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2彼此相異之示意圖。

圖12C係繪示第一測試輸出信號U1並非低準位信號LV之示意圖。

在下文中將參照附圖更全面地描述本發明，在附圖中示出了本發明的示例性實施例。如本領域技術人員將認識到的，可以以各種不同的方式修改所描述的實施例，而不脫離本發明的精神或範圍。

在附圖中，為了清楚起見，放大了部份區域。在整 個說明書中，相同的附圖標記表示相同的元件。應當理解，當諸如區域或基板的元件被稱為在另一元件“上”或者“連接(或稱為耦接)”又或者“電性連接”另一元件時，其可以直接在另一元件上或與另一元件連接(或稱為耦接)或電性連接，或者中間元件可以也存在。相反，當元件被稱為“直接在另一元件上”或“直接連接到”另一元件時，不存在中間元件。如本文所使用的，“連接(或稱為耦接)”可以指物理及/或電連接。

根據本發明之一較佳具體實施例為一種內嵌式觸控顯示器。請參照圖1A至圖1C，圖1A係繪示此實施例中之內嵌式觸控顯示器的示意圖；圖1B係繪示圖1A中之內嵌式觸控顯示器沿AA’剖面之剖面圖；圖1C係繪示圖1A中之內嵌式觸控顯示器沿BB’剖面之剖面圖。

如圖1A所示，內嵌式觸控顯示器1可包含顯示面板PL、複數個觸控電極R1~R14、觸控測試單元10、複數條走線T1~T14、測試信號接收器12及信號輸入墊P。需說明的是，該些觸控電極與該些走線之數量可視實際需要而設定，並不以此實施例為限。

於實際應用中，該些觸控電極R1~R14可由透明導電層形成且該些走線T1~T14可由金屬層形成，並且用以選擇性耦接該些走線T1~T14與該些觸控電極R1~R14。具體而言，透明導電層與金屬層之間設有絕緣層，且金屬層與透明導電層可透過形成於絕緣層的通孔彼此連接，但不以此為限。

舉例而言，請同時參照圖1A及圖1B，對應於觸控電極R1的通孔V1~V3係形成於透明導電層(觸控電極R1)與金屬層(走線T1)之間的絕緣層INL，使得金屬層(走線T1)與透明導電層(觸控電極R1)可透過通孔V1~V3而彼此連接。於另一變形例中，如圖1C，對應於觸控電極R1的通孔V1~V3係形成於透明導電層(觸控電極R1)與金屬層(走線T1)之間的絕緣層，使得金屬層(走線T1)與透明導電層(觸控電極R1)可透過通孔V1~V3而彼此連接。於圖1C之實施例中，走線T1包含第一部分與第二部分，且第一部分透過通孔V1而連接於透明導電層(觸控電極R1)，第二部分則透過通孔V2、V3而連接於透明導電層(觸控電極R1)。因此，走線T1之第一部分與第二部分在結構上係為分離結構。綜合圖1B與圖1C的實施例，該些走線T1~T14的金屬層可包含第一部分與第二部分，並且金屬層的第一部分與第二部分可彼此結構分離或相連。當絕緣層形成有通孔時，金屬層的第一部分與第二部分可分別容納於不同的通孔，使得金屬層的第一部分與第二部分可分別連接於同一觸控電極，但不以此為限。

於本實施例中，顯示面板PL具有顯示區DR與周邊區SR，其中周邊區SR鄰接於顯示區DR。該些觸控電極R1~R14設置於顯示面板PL之顯示區DR。觸控測試單元10與信號輸入墊P則設置於顯示面板PL之周邊區SR，且觸控測試單元10與信號輸入墊P分別位於顯示區DR之上方與下方，但不以此為限。

於本實施例中，觸控電極R1~R14可分為第一群觸控 電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13與第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14，亦即第一群觸控電極包含所有的第奇數個觸控電極且第二群觸控電極包含所有的第偶數個觸控電極，但不以此為限。詳言之，如圖1A所示，以水平方向來看，第一列(Row)觸控電極由左至右依序是觸控電極R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7，其中觸控電極R1、R3、R5、R7屬於第一群觸控電極且觸控電極R2、R4、R6屬於第二群觸控電極，而第二列觸控電極由左至右依序是觸控電極R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14，其中觸控電極R8、R10、R12、R14屬於第二群觸控電極且觸控電極R9、R11、R13屬於第一群觸控電極，其餘可依此類推。由上述可知：第一群觸控電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13與第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14在水平方向上係彼此交錯設置。同理，以垂直方向來看，亦可推知：第一群觸控電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13與第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14在垂直方向上亦係彼此交錯設置，故於此不另行贅述。

於圖1A中，走線T1~T14亦可分為第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14，亦即第一群走線包含所有的第奇數條走線且第二群走線包含所有的第偶數條走線，但不以此為限。詳言之，以水平方向來看，走線T1~T14係由左至右依序排列，亦即第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14在水平方向上係彼此交錯設置。

於本實施例中，走線T1~T14係耦接於觸控測試單元10與信號輸入墊P之間並且選擇性地耦接該些觸控電極R1~R14。具體而言，第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13係分別耦接第一群觸控電極R1、R9、R3、R11、R5、R13、R7與信號輸入墊P。第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14係分別耦接第二群觸控電極R8、R2、R10、R4、R12、R6、R14與信號輸入墊P。

請參閱圖1A之實施例，測試信號接收器12包含第一測試信號接收單元121與第二測試信號接收單元122，測試信號接收器12則可進一步透過觸控測試單元10及該些走線T1~T14而耦接於觸控電極R1~R14。具體而言，第一測試信號接收單元121可透過觸控測試單元10及第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13耦接第一群觸控電極R1、R9、R3、R11、R5、R13、R7；第二測試信號接收單元122可透過觸控測試單元10及第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14耦接第二群觸控電極R8、R2、R10、R4、R12、R6、R14。

於本實施例中，信號輸入墊P包含第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13與第二組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14。其中，第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13係分別透過第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13耦接於第一群觸控電極R1、R9、R3、R11、R5、R13、R7，而第二組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14係分別透過第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14耦接於第二群觸控電 極R8、R2、R10、R4、R12、R6、R14。

亦請參照圖1D，圖1D係繪示內嵌式觸控顯示器還包含有判斷單元的功能方塊圖。如圖1D所示，判斷單元14可分別耦接測試信號接收器12與信號輸入墊P。根據圖1A及圖1D可知：判斷單元14可分別耦接測試信號接收器12中之第一測試信號接收單元121與第二測試信號接收單元122以及信號輸入墊P中之第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13與第二組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14。

於一實施例中，判斷單元14可設置於顯示驅動器積體電路(圖未示)內，且顯示驅動器積體電路可分別耦接測試信號接收器12與信號輸入墊P，抑或是測試信號接收器12與判斷單元14均設置於顯示驅動器積體電路內，且顯示驅動器積體電路分別耦接觸控測試單元10與信號輸入墊P。

於本實施例的測試期間內，顯示驅動器積體電路可依序提供複數個第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13與複數個第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14至信號輸入墊P。詳言之，顯示驅動器積體電路依序提供的該些第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13係分別透過信號輸入墊P中之第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13輸入至第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13的第二端；同理，顯示驅動器積體電路依序提供的該些第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14係分別透過信號輸入墊P中之第二 組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14輸入至第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14的第二端，進而將測試輸入信號N1~N14分別傳遞至觸控電極R1~R14。於本實施例的觸控期間內，顯示驅動器積體電路可接收一觸控信號，但均不以此為限。

於另一實施例的測試期間內，亦可透過測試板(Test board)提供該些測試輸入信號N1~N14至該些走線T1~T14來進行測試，藉以在測試階段提早篩選出不良品而能有效節省生產成本。具體而言，測試板可分別耦接於信號輸入墊P中之第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13及第二組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14，進而透過第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13及第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14將測試輸入信號N1~N14分別傳遞至觸控電極R1~R14。

於實際應用中，判斷單元14可透過比較第一組信號輸入墊P1、P3、P5、P7、P9、P11、P13與第一測試信號接收單元121的方式來判斷相對應的第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13是否為斷路狀態；同理，判斷單元14亦可透過比較第二組信號輸入墊P2、P4、P6、P8、P10、P12、P14與第二測試信號接收單元122的方式來判斷第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14是否為斷路狀態。於一實施例中，如圖1D所示，判斷單元14可包含比較器140與計數器142以實現上述功能，但不以此為限。

於一實施例中，如圖1A所示，觸控測試單元10可包含第一導線W1及第二導線W2。第一測試信號接收單元121與第一 群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13均耦接至第一導線W1；第二測試信號接收單元122與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14均耦接至第二導線W2。此外，觸控測試單元10還可進一步包含第三導線W3，用以串接複數個開關M1~M14，且開關M1~M14分別耦接於走線T1~T14。具體而言，開關M1~M14係受控於透過第三導線W3傳遞的觸控控制信號TPC而開啟或關閉，藉以控制第一群觸控電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13是否與第一導線W1耦接以及控制第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14是否與第二導線W2耦接。

接著，請參照圖2A，於一實施例中，應用於內嵌式觸控顯示器1的斷路與短路測試方法可包含下列步驟：步驟S10：於第一時間區間內，該些走線T1~T14中之第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13的第二端依序接收複數個第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13，而第一預設測試輸出信號DU1則可以是將該些第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13相加而得(如圖3所示，其中HV代表高位準信號且LV代表低準位信號)，其中第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13係分別耦接該些觸控電極R1~R14中之第一群觸控電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13，亦即第一測試輸入信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13會分別透過第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13流經第一群觸控電極R1、R3、R5、R7、R9、R11、R13而成為第一測試輸入信號N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、 N11’、N13’；步驟S12：當觸控測試單元10分別透過第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13的第一端接收到第一測試輸入信號N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、N11’、N13’時，觸控測試單元10根據第一測試輸入信號N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、N11’、N13’產生第一測試輸出信號U1，舉例而言，如圖4所示，觸控測試單元10可將第一測試輸入信號N1’、N3’、N5’、N7’、N9’、N11’、N13’相加而得到第一測試輸出信號U1，但不以此為限；步驟S14：當測試信號接收器12的第一測試信號接收單元121接收到第一測試輸出信號U1時，如圖5所示，判斷單元14會比較第一預設測試輸出信號DU1與第一測試輸出信號U1，以判斷第一測試輸出信號U1是否異於第一預設測試輸出信號DU1；以及步驟S16：若判斷單元14之判斷結果為是，亦即第一測試輸出信號U1異於第一預設測試輸出信號DU1，則判斷單元14根據第一測試輸出信號U1相異於第一預設測試輸出信號DU1之處判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13中之相對應的走線處於斷路狀態。舉例而言，如圖5所示，當判斷單元14比較第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1並判定第一測試輸出信號U1異於第一預設測試輸出信號DU1時，由於第一測試輸出信號U1相異於第一預設測試輸出信號DU1之處僅有圖5中之虛線圈起處且其對應的第一測試輸入信號N3’係由走線T3所傳輸，因 此，判斷單元14即可據此判定走線T3處於斷路狀態。

此外，若判斷單元14之判斷結果為否，亦即第一測試輸出信號U1並未異於第一預設測試輸出信號DU1，則判斷單元14可據此判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13中並無任何走線處於斷路狀態。

於實際應用中，於第一時間區間內，該些走線T1~T14中之第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14的第二端可依序接收第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14，且如圖6所示，第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14均為低準位信號LV，而第二預設測試輸出信號DU2則可以是將第二測試信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14相加而得，故其亦為低準位信號LV。觸控測試單元10可依據觸控控制信號TPC而分別產生第一測試輸出信號U1與第二測試輸出信號U2，並由測試信號接收器12中之第一測試信號接收單元121及第二測試信號接收單元122分別接收第一測試輸出信號U1及第二測試輸出信號U2。上述內容搭配圖4與圖5已說明其第二測試輸出信號U1的機制，在此不進行贅述。接著，由判斷單元14判斷第二測試輸出信號U2是否為低準位信號LV。若判斷單元14之判斷結果為是，亦即第二測試輸出信號U2為低準位信號LV，且判斷單元14亦判定第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1有相異之處，則判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13中之相對應的走線處於斷路狀態。此外，若判斷單元14之判斷結果為否，亦即 第二測試輸出信號U2並非低準位信號LV，則判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14之間處於短路(Short)狀態。

於一實施例中，如圖7A所示，第二測試輸出信號U2為低準位信號LV，並且，第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1並未有任何相異之處，故判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13中並未有任何走線處於斷路狀態。

於另一實施例中，如圖7B所示，第二測試輸出信號U2為低準位信號LV且第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1彼此相異，故判斷單元14會根據第一測試輸出信號U1與第一預設測試輸出信號DU1相異之處(圖7B中之虛線圈起處)判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13中相對應的走線T3處於斷路狀態。

於另一實施例中，如圖7C所示，由於第二測試輸出信號U2並非低準位信號LV，故判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14之間處於短路狀態。

接著，如圖2B所示，應用於內嵌式觸控顯示器1的斷路與短路測試方法還可進一步包含下列步驟：步驟S18：於第二時間區間內，該些走線T1~T14中之第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14的第二端依序接收複數個第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14，而 第二預設測試輸出信號DU2則可以是將該些第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14相加而得(如圖8所示)，其中第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14係分別耦接該些觸控電極R1~R14中之第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14，亦即第二測試輸入信號N2、N4、N6、N8、N10、N12、N14會分別透過第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14流經第二群觸控電極R2、R4、R6、R8、R10、R12、R14而成為第二測試輸入信號N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’；步驟S20：當觸控測試單元10分別透過第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14的第一端接收到第二測試輸入信號N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’時，觸控測試單元10根據第二測試輸入信號N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’產生第二測試輸出信號U2，舉例而言，如圖9所示，觸控測試單元10可將第二測試輸入信號N2’、N4’、N6’、N8’、N10’、N12’、N14’相加而得到第二測試輸出信號U2，但不以此為限；步驟S22：當測試信號接收器12的第二測試信號接收單元122接收到第二測試輸出信號U2時，如圖10所示，判斷單元14會比較第二預設測試輸出信號DU2與第二測試輸出信號U2，以判斷第二測試輸出信號U2是否異於第二預設測試輸出信號DU2；以及步驟S24：若判斷單元14之判斷結果為是，亦即第二測試輸出信號U2異於第二預設測試輸出信號DU2，則判斷單元14 根據第二測試輸出信號U2相異於第二預設測試輸出信號DU2之處判定第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14中之相對應的走線處於斷路狀態。舉例而言，如圖10所示，當判斷單元14比較第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2並判定第二測試輸出信號U2異於第二預設測試輸出信號DU2時，由於第二測試輸出信號U2相異於第二預設測試輸出信號DU2之處僅有圖10中之虛線圈起處且其對應的第二測試輸入信號N4’係由走線T4所傳輸，因此，判斷單元14即可據此判定走線T4處於斷路狀態。

此外，若判斷單元14之判斷結果為否，亦即第二測試輸出信號U2並未異於第二預設測試輸出信號DU2，則判斷單元14可據此判定第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14中並無任何走線處於斷路狀態。

於實際應用中，於第二時間區間內，該些走線T1~T14中之第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13的第二端可依序接收第一測試信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13，且如圖11所示，第一測試信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13均為低準位信號LV，而第一預設測試輸出信號DU1則可以是將第一測試信號N1、N3、N5、N7、N9、N11、N13相加而得，故其亦為低準位信號LV。

觸控測試單元10可依據觸控控制信號而分別產生第一測試輸出信號U1與第二測試輸出信號U2，並由測試信號接收器12中之第一測試信號接收單元121及第二測試信號接收單元122分 別接收第一測試輸出信號U1與第二測試輸出信號U2。接著，由判斷單元14判斷第一測試輸出信號U1是否為低準位信號LV。若判斷單元14之判斷結果為是，亦即第一測試輸出信號U1為低準位信號LV，且判斷單元14亦判定第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2有相異之處，則判斷單元14會判定第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14中之相對應的走線處於斷路狀態。此外，若判斷單元14之判斷結果為否，亦即第一測試輸出信號U1並非低準位信號LV，則判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14之間處於短路狀態。

於一實施例中，如圖12A所示，雖然第一測試輸出信號U1為低準位信號LV，但由於第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2並未有任何相異之處，故判斷單元14會判定第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14中並未有任何走線處於斷路狀態。

於另一實施例中，如圖12B所示，第一測試輸出信號U1為低準位信號LV且第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2彼此相異，故判斷單元14會根據第二測試輸出信號U2與第二預設測試輸出信號DU2相異之處(圖12B中之虛線圈起處)判定第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14中相對應的走線T4處於斷路狀態。

於另一實施例中，如圖12C所示，由於第一測試輸出 信號U1並非低準位信號LV，故判斷單元14會判定第一群走線T1、T3、T5、T7、T9、T11、T13與第二群走線T2、T4、T6、T8、T10、T12、T14之間處於短路狀態。

需說明的是，本發明所提出的內嵌式觸控顯示器及斷路與短路測試方法不僅可對於設置在觸控電極(例如RX觸控電極)與顯示驅動器積體電路之間的走線進行斷路與短路之測試，亦可對於設置在觸控測試單元與觸控電極之間的走線進行斷路與短路之測試，藉以有效避免先前技術中採用人眼檢測所導致漏篩之情事。

相較於先前技術，本發明之內嵌式觸控顯示器係循序將複數個測試輸入信號輸入至與一群觸控電極耦接之一群走線的下端並透過該群走線分別將該些測試輸入信號傳送至上方的觸控測試單元，再由觸控測試單元根據該些測試輸入信號產生測試輸出信號，並比較測試輸出信號與預設測試輸出信號，以判斷該群走線是否處於斷路狀態或是該群走線是否與另一群走線之間有短路狀態，故能有效避免先前技術中採用人眼檢測的方式所產生漏篩之情事，以提升產品之良率與穩定性。

此外，除了可由耦接顯示面板的顯示驅動器積體電路提供該些測試輸入信號至該些走線來進行測試之外，亦可在尚未設置顯示驅動器積體電路的測試階段透過測試板(Test board)提供該些測試輸入信號至該些走線來進行測試，藉以在測試階段提早篩選出走線斷路或短路的不良品，故能有效節省內嵌式觸控顯 示器的生產成本。

由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

Claims (9)

1. 一種斷路(Open)與短路(Short)測試方法，應用於一內嵌式(In-cell)觸控顯示器，該內嵌式觸控顯示器包含一顯示面板、一測試信號接收器、複數個觸控電極、複數條走線及一觸控測試單元，該觸控測試單元設置於該顯示面板之一側，該些觸控電極設置於該顯示面板上，該些走線之第一端分別耦接該觸控測試單元，該些走線依序排列於該內嵌式觸控面板上並選擇性地耦接該些觸控電極，該測試信號接收器耦接該觸控測試單元，該斷路與短路測試方法包含下列步驟：(a)於一第一時間區間內，該些走線中之第一群走線的第二端依序接收複數個第一測試輸入信號，其中該第一群走線係分別耦接該些觸控電極中之第一群觸控電極；(b)該觸控測試單元根據該些第一測試輸入信號產生一第一測試輸出信號；(c)當該測試信號接收器接收到該第一測試輸出信號時，判斷該第一測試輸出信號是否異於一第一預設測試輸出信號；(d)若步驟(c)之判斷結果為是，根據該第一測試輸出信號與該第一預設測試輸出信號相異之處判定該第一群走線處於斷路狀態；(e)於一第二時間區間內，該些走線中之第二群走線的第二端依序接收複數個第二測試輸入信號，其中該第二群走線係分別耦接該些觸控電極中之第二群觸控電極；(f)該觸控測試單元根據該些第二測試輸入信號產生一第二測試輸出信號；(g)當該測試信號接收器接收到該第二測試輸出信號時，判斷該第二測試輸出信號是否異於一第二預設測試輸出信號；以及(h)若步驟(g)之判斷結果為是，根據該第二測試輸出信號與該第二預設測試輸出信號相異之處判定該第二群走線處於斷路狀態；其中，該測試信號接收器包含一第一測試信號接收單元及一第二測試信號接收單元，該第一測試信號接收單元耦接該第一群觸控電極且該第二測試信號接收單元耦接該第二群觸控電極，而於該第一時間區間內更進一步包含：該第二群走線的第二端依序接收一低準位信號；該觸控測試單元依據一觸控控制信號而分別產生該第一測試輸出信號與該第二測試輸出信號；該第一測試信號接收單元接收該第一測試輸出信號；該第二測試信號接收單元接收該第二測試輸出信號；判斷該第二測試輸出信號是否為一低準位信號；以及當該第二測試輸出信號為該低準位信號，且該第一測試輸出信號與該第一預設測試輸出信號有相異之處，則判定該第一群走線處於斷路狀態。
2. 如申請專利範圍第1項所述之斷路與短路測試方法，其中於該第二時間區間內更包含：該第一群走線的第二端依序輸入該低準位信號；該觸控測試單元依據該觸控控制信號而分別產生該第二測試輸出信號與該第一測試輸出信號；該第一測試信號接收單元接收該第一測試輸出信號；該第二測試信號接收單元接收該第二測試輸出信號；判斷該第一測試輸出信號是否該低準位信號；以及當該第一測試輸出信號為該低準位信號，且該第二測試輸出信號與該第二設測試輸出信號有相異之處，則判定該第二群走線處於斷路狀態。
3. 如申請專利範圍第2項所述之斷路與短路測試方法，其中更進一步包含：當該第二測試輸出信號不為該低準位信號或該第一測試輸出信號不為該低準位信號時，則判定該第一群觸控電極與該第二群觸控電極之間處於短路狀態。
4. 一種內嵌式(In-cell)觸控顯示器，包含：一顯示面板，具有一顯示區與一周邊區，其中該周邊區鄰接於該顯示區；複數個觸控電極，包含一第一群觸控電極與一第二群觸控電極，且該些觸控電極設置於該顯示面板之該顯示區；一觸控測試單元，設置於該顯示面板之該周邊區；複數條走線，包含一第一群走線與一第二群走線，且該第一群走線分別耦接該觸控測試單元與該第一群觸控電極，該第二群走線分別耦接該觸控測試單元與該第二群觸控電極；一測試信號接收器，包含一第一測試信號接收單元與一第二測試信號接收單元，且該第一測試信號接收單元透過該觸控測試單元耦接該第一群觸控電極，該第二測試信號接收單元透過該觸控測試單元耦接該第二群觸控電極；一信號輸入墊，設置於該周邊區並包含一第一組信號輸入墊與一第二組信號輸入墊，且該第一組信號輸入墊耦接該第一群觸控電極，該第二組信號輸入墊耦接該第二群觸控電極；以及一判斷單元，分別耦接該測試信號接收器與該信號輸入墊；其中，該判斷單元比較該第一組信號輸入墊與該第一測試信號接收單元以判斷該第一群走線是否為斷路狀態；該判斷單元比較該第二組信號輸入墊與該第二測試信號接收單元以判斷該第二群走線是否為斷路狀態。
5. 如申請專利範圍第4項所述之內嵌式觸控顯示器，其中該判斷單元包含一比較器與一計數器。
6. 如申請專利範圍第5項所述之內嵌式觸控顯示器，更包含：一透明導電層，以形成該些觸控電極；一金屬層，以形成該些走線，而該金屬層包含一第一部分與一第二部分；一絕緣層，設置於該透明導電層與該金屬層之間；一第一通孔，形成於該絕緣層；以及一第二通孔，形成於該絕緣層，其中該第一通孔與該第二通孔分別對應於該些觸控電極之其一；其中該金屬層之該第一部分可容納於該第一通孔，該第二部分可容納於該第二通孔，使得該第一部分與該第二部分可分別連接於同一之該些觸控電極，且該第一部分與該第二部分彼此結構分離。
7. 如申請專利範圍第5項所述之內嵌式觸控顯示器，更包含：一透明導電層，以形成該些觸控電極；一金屬層，以形成該些走線，而該金屬層包含一第一部分與一第二部分；一絕緣層，設置於該透明導電層與該金屬層之間；一第一通孔，形成於該絕緣層；以及一第二通孔，形成於該絕緣層，其中該第一通孔與該第二通孔分別對應於該些觸控電極之其一；其中該金屬層之該第一部分可容納於該第一通孔且該金屬層之該第二部分可容納於該第二通孔，使得該第一部分與該第二部分可分別連接於同一之該些觸控電極，且該第一部分與該第二部分彼此結構相連。
8. 如申請專利範圍第5項所述之內嵌式觸控顯示器，更包含：一顯示驅動器積體電路，分別耦接該信號輸入墊，於一測試期間內，該顯示驅動器積體電路依序提供複數個第一測試輸入信號與複數個第二測試輸入信號；於一觸控期間內，該顯示驅動器積體電路可接收一觸控信號。
9. 如申請專利範圍第8項所述之內嵌式觸控顯示器，其中該顯示驅動器積體電路耦接該測試信號接收器，且該判斷單元係設置於該顯示驅動器積體電路內。