TWI610207B - 檢測方法 - Google Patents
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Abstract
一種檢測方法,用以檢測內嵌式觸控顯示面板。檢測方法包括下列步驟。在第一時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差。在第二時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差。在第一時間內第一區域未呈現第一亮度、在第二時間內第一區域未呈現第二亮度、或者在第一時間內第一區域未呈現第一亮度且在第二時間內第一區域未呈現第二亮度,則判斷端點位於第一區域的第一觸控電極異常。
Description
本發明是有關於一種檢測方法,且特別是有關於一種檢測內嵌式觸控顯示面板的方法。
一般而言,依照觸控電極與顯示面板的相對位置,觸控顯示面板可分為外貼式(added-on)、整合式(on-cell)與內嵌式(in-cell)。外貼式(added-on)觸控顯示面板包括顯示面板與外貼於顯示面板上的觸控基板。觸控基板包括保護基板及形成於保護基板上的觸控電極。觸控電極位於保護基板與顯示面板之間。然而,外貼式觸控顯示面板的厚度厚,不利於電子裝置的薄型化。
整合式(on-cell)觸控顯示面板包括顯示面板及形成於顯示面板之外表面上的觸控電極。然而,位於顯示面板之外表面上的觸控電極容易於製程或使用過程中受損,不利於電子裝置的良率及耐用性。內嵌式(in-cell)觸控顯示面板包括顯示面板及觸控電極。內嵌式觸控顯示面板的觸控電極設置於顯示面板的其中一個基板與顯示介質之間,以利於電子裝置的薄型化、良率及耐用性。因此,內嵌式觸控顯示面板已成為觸控顯示面板的另一開發重點。然而,由於內嵌式觸控顯示面板的觸控電極是整合在顯示面板的一個基板上,而顯示面板的基板已無多餘的空間可設置分別對應多個觸控電極的多個檢測接墊,而造成檢測內嵌式觸控顯示面板之觸控電極的困難。
本發明提供一種檢測方法,用以檢測內嵌式觸控顯示面板。
本發明的檢測方法用以檢測內嵌式觸控顯示面板。內嵌式觸控顯示面板具有多個畫素電極與多個第一觸控電極。每一第一觸控電極具有一個端點。多個第一觸控電極的多個端點分別位於不同的多個第一區域。檢測方法包括下列步驟:在第一時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差;在第二時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差;在第一時間內所述第一區域未呈現第一亮度,在第二時間內所述第一區域未呈現第二亮度,或者在第一時間內所述第一區域未呈現第一亮度且在第二時間內所述第一區域未呈現第二亮度,則判斷端點位於所述第一區域的第一觸控電極異常。
在本發明的一實施例中,上述的內嵌式觸控顯示面板更具有多個第二觸控電極。每一第二觸控電極具有一個端點。多個第二觸控電極的多個端點分別位於與第一區域不同的多個第二區域。檢測方法更包括下列步驟:在第一時間內,令畫素電極與第二觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差;在第二時間內,令畫素電極與第二觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差。
在本發明的一實施例中,在上述的第一時間內第二區域未呈現第二亮度,在第二時間內第二區域未呈現第一亮度、或在第一時間內第二區域未呈現第二亮度且在第二時間內第二區域未呈現第一亮度,則判斷端點位於第二區域的第二觸控電極異常。
在本發明的一實施例中,上述的多個第一觸控電極之多個端點所在的多個第一區域排成一個陣列且位於內嵌式觸控面板的左邊,而多個第二觸控電極之多個端點所在的多個第二區域排成另一個陣列且位於內嵌式觸控面板的右邊。
在本發明的一實施例中,在上述的第一時間內所述第一區域呈現與其他的第一區域不同的第二亮度,在第二時間內所述第一區域呈現與其他的第一區域不同的第一亮度,則判斷端點位於所述第一區域的第一觸控電極為斷路。在第一時間內所述第二區域呈現與其他的第二區域不同的第一亮度,在第二時間內所述第二區域呈現與其他的第二區域不同的第二亮度,則判斷端點位於所述第二區域的第二觸控電極為斷路。
在本發明的一實施例中,上述的多個第一觸控電極之多個端點所在的多個第一區域以及多個第二觸控電極之多個端點所在的多個第二區域在第一方向以及與第一方向交錯的第二方向上交替排列。
在本發明的一實施例中,在上述的第一時間內相鄰的一個第一區域與一個第二區域呈現相同的第二亮度,在第二時間內相鄰的所述第一區域與所述第二區域呈現相同的第一亮度,則判斷端點位於所述第一區域的第一觸控電極與其中一個第二觸控電極短路。
在本發明的一實施例中,上述的內嵌式觸控顯示面板更具有多個第三觸控電極與多個第四觸控電極。第一觸控電極與第二觸控電極位於內嵌式觸控面板的左邊。第三觸控電極與第四觸控電極位於內嵌式觸控面板的右邊。第三觸控電極之多個端點所在的多個第三區域以及第四觸控電極之多個端點所在的第四區域在第一方向以及第二方向上交替排列。
在本發明的一實施例中,在上述的第一時間內,令畫素電極與第三觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差,且令畫素電極與第四觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差。在第二時間內,令畫素電極與第三觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差,且令畫素電極與第四觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差。
在本發明的一實施例中,在上述的第一時間內相鄰的一個第三區域與一個第四區域呈現相同的第一亮度,在第二時間內相鄰的所述第三區域與所述第四區域呈現相同的第二亮度,則判斷端點位於所述第四區域的第四觸控電極與其中一個第三觸控電極短路。
基於上述,本發明一實施例的檢測方法包括下列步驟:在第一時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差;在第二時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差;以及在第一時間內至少一第一區域未呈現第一亮度、在第二時間內至少一第一區域未呈現第二亮度、或者在第一時間內至少一第一區域未呈現第一亮度且在第二時間內至少一第一區域未呈現第二亮度,則判斷端點位於至少一區域的一第一觸控電極異常。利用上述檢測方法,不需設置分別對應多個觸控電極的多個檢測接墊及/或使用複雜的電路檢測方法檢測觸控電極,檢測者用肉眼或輔以光學設備(例如:攝影機等)便可簡易且快速地判斷內嵌式觸控顯示面板的觸控電極是否異常。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的剖面示意圖。請參照圖1,內嵌式觸控顯示面板100包括第一基板110、第二基板120、顯示介質130、畫素電極140與觸控電極150。第二基板120設置於第一基板110的對向。顯示介質130位於第一基板110與第二基板120之間。畫素電極140位於第一基板110上。在本實施例中,內嵌式觸控顯示面板100還包括主動元件170(例如:薄膜電晶體)。絕緣層160覆蓋主動元件170。畫素電極140配置於絕緣層160上並填入絕緣層160的接觸孔(contact hole)160a,以和主動元件170電性連接。在本實施例中,顯示介質130例如為液晶,但本發明不限於此,在其他實施例中,顯示介質130也可為有機電致發光層或其他適當材料。
請參照圖1,在本實施例中,觸控電極150除了可偵測觸控感測訊號外,更可做為共用電極以和畫素電極140一起驅動顯示介質130。詳言之,內嵌式觸控顯示面板100可在交替進行的觸控時段及顯示時段內分別執行觸控感測動作及顯示動作。在觸控時段內,觸控電極150用以感測觸控訊號,進而取得使用者的觸碰資訊。在顯示時段內,觸控電極150做為共用電極,共用電極與畫素電極140之間的電壓差可驅動顯示介質130,進而使內嵌式觸控顯示面板100顯示畫面。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,觸控電極150也可獨立於共用電極,換言之,觸控電極150與共用電極也可為互不相同的兩個構件。
請參照圖1,在本實施例中,觸控電極150可位於顯示介質130與第一基板110與之間。畫素電極140與觸控電極150可選擇性地配置於同一基板(即第一基板110)上。更進一步地說,本實施例的內嵌式觸控顯示面板100可為邊緣場切換(Fringe-Field Switching,FFS)模式的顯示面板。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,內嵌式觸控顯示面板100也可為共面切換(In-Plane Switching,IPS)模式或其他適當模式的顯示面板。此外,本發明也不限制畫素電極140與觸控電極150必需配置於同一基板上。在其他實施例中,畫素電極140與觸控電極150也可分別配置相對的兩基板上,以下以圖2為例說明之。
圖2為本發明另一實施例之內嵌式觸控顯示面板的剖面示意圖。圖2的內嵌式觸控顯示面板100A與圖1的內嵌式觸控顯示面板100相似,因此相同或相對應的構件以相同或相對應的標號表示。在圖2的實施例中,觸控電極150也可位於第二基板120與顯示介質130之間。畫素電極140與觸控電極150也可分別配置於第一基板110與第二基板120上。更進一步地說,內嵌式觸控顯示面板100A也可為扭轉向列(Twisted Nematic,TN)、垂直排列(Vertical Alignment,VA)模式或其他適當模式的顯示面板。
圖3為本發明一實施例之觸控電極的上視示意圖。請參照圖3,前述的觸控電極150包括多個第一觸控電極151。每一第一觸控電極151具有一個端點151a。多個第一觸控電極151的多個端點151a分別位於不同的多個第一區域100a。任一個第一區域100a與對應的至少一個畫素電極140重疊。在本實施例中,多個第一觸控電極151可分為多個觸控電極組G,多個觸控電極組G可沿著第一方向x排列,每一觸控電極組G包括沿著第一方向x依序排列的多個第一觸控電極151,同一觸控電極組G的多個第一觸控電極151在第二方向y上的長度可依序遞減。換言之,同一觸控電極組G的多個第一觸控電極151的多個端點151a所在的多個第一區域100a可排成一行,而所有端點151a所在的第一區域100a可排成一個陣列,但本發明不以此為限。多個第一觸控電極151電性連接至檢測接墊P。在本實施例中,為簡化用以檢測觸控電極150的設備,所有的第一觸控電極151可電性連接至同一檢測接墊P。但本發明不限於此,在其他實施例中,多個第一觸控電極151也可電性連接至不同的多個檢測接墊。
圖4示出用以檢測本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。舉例而言,圖4所示的訊號可用以檢測圖3的多個第一觸控電極151。圖4的上方的座標圖示出時間t與電壓V140的關係,其中電壓V140用以輸入至內嵌式顯示面板100(或100A)的畫素電極140。圖4的下方的座標圖示出時間t與電壓VP的關係,其中電壓VP用以輸入至與第一觸控電極151電性連接的檢測接墊P。圖5示出與圖3對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第一時間T1內的檢測畫面。請參照圖3、圖4及圖5,在第一時間T1內,令輸入至畫素電極140的電壓V140為V,且令輸入至檢測接墊P的電壓VP為V1。換言之,在第一時間T1內,
畫素電極140與所有第一觸控電極151之間存在第一電壓差V-V1。第一電壓差V-V1對應第一亮度(意即,在內嵌式顯示面板100無異常的情況下,第一電壓差V-V1能使第一觸控電極151之端點151a所在的第一區域100a呈現第一亮度)。舉例而言,在本實施例中,第一電壓差V-V1可趨近或等於0,在內嵌式顯示面板100無異常的情況下,第一電壓差V-V1應能使第一觸控電極151之端點151a所在的所有第一區域100a呈現白色。請參照圖5,然而,在本實施例中,於第一時間T1內,第一區域100a1未呈現應有第一亮度(白色)。換言之,某一個第一觸控電極151的端點151a(例如:位於圖3之第三行及第四列的第一區域100a1的端點151a)與對應的畫素電極140之間的電壓差非應有的第一電壓差V-V1。此時,便能夠判斷端點151a位於第一區域100a1的所述第一觸控電極151異常,例如:所述第一觸控電極151本身為斷路。
圖6示出與圖3對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第二時間T2內的檢測畫面。請參照圖3、圖4及圖6,在第二時間T2內,令輸入至畫素電極140的電壓V140為V,且令輸入至檢測接墊P的電壓VP例如為0。換言之,在第二時間T2內,令畫素電極140與所有第一觸控電極151之間存在第二電壓差(V-0=V)。第二電壓差(V-0=V)對應第二亮度,意即,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第二電壓差(V-0=V)應能使第一觸控電極151之端點151a所在的第一區域100a呈現第二亮度。舉例而言,在本實施例中,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第二電壓差(V-0=V)應能使第一觸控電極151之端點151a所在的所有第一區域100a呈現黑色。請參照圖6,然而,在本實施例中,於第二時間T2內,第一區域100a1未呈現應有第二亮度(黑色)。換言之,某一個第一觸控電極151的端點151a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第二電壓差(V-0=V)。此時,便能夠再次地確認端點151a位於第一區域100a1的一個第一觸控電極151異常,例如:所述第一觸控電極151本身為斷路。
需說明的是,在圖3~圖6的實施例中,於第一時間T1及第二時間T2均進行檢測第一觸控電極151的步驟,以重複確認端點151a位於第一區域100a1的一個第一觸控電極151異常。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,執行對應第一時間T1的檢測步驟,或執行對應第二時間T2的檢測步驟,便足以檢測多個第一觸控電極151是否異常。換言之,包括對應第一時間T1之檢測步驟的檢測方法或包括對應第二時間T2的檢測步驟的檢測方法也在本發明所欲保護的範疇內。
值得一提的是,利用上述檢測方法,每一第一觸控電極151不需各自對應一個接墊,進而能減少檢測設備所需的探針數量。更重要的是,利用上述檢測方法,不需設置分別對應多個觸控電極的多個檢測接墊及/或使用複雜的電路檢測方法,以檢測觸控電極。透過上述檢測方法,檢測者可用肉眼或輔以光學設備(例如:攝影機等)便能夠簡易且快速地判斷內嵌式觸控顯示面板的觸控電極是否異常。
圖7為本發明另一實施例之觸控電極的上視示意圖。請參照圖7,前述的觸控電極150包括多個第一觸控電極151。每一第一觸控電極151具有一個端點151a。多個第一觸控電極151的多個端點151a分別位於不同的多個第一區域100a。每一第一區域100a與對應的至少一畫素電極140重疊。在本實施例中,前述的觸控電極150更可包括多個第二觸控電極152。每一第二觸控電極152具有一個端點152a。多個第二觸控電極152的多個端點152a分別位於不同的多個第二區域100b。第二區域100b與第一區域100a不同。每一第二區域100b與對應的至少一畫素電極140重疊。
請參照圖7,在本實施例中,多個第一觸控電極151與多個第二觸控電極152可分別位於內嵌式觸控顯示面板100(或100A)的左邊L與右邊R。多個第一觸控電極151可分為多個觸控電極組G1。多個觸控電極組G1可沿著第一方向x排列。每一觸控電極組G1包括沿著第一方向x依序排列的多個第一觸控電極151。同一觸控電極組G1的多個第一觸控電極151在第二方向y上的長度可依序遞減。多個第二觸控電極152可分為多個觸控電極組G2。多個觸控電極組G2可沿著第一方向x排列。每一觸控電極組G2包括沿著第一方向x依序排列的多個第二觸控電極152。同一觸控電極組G2的多個第二觸控電極152在第二方向y上的長度可依序遞減。同一觸控電極組G1的多個第一觸控電極151的多個端點151a所在的多個第一區域100a可排成一行,同一觸控電極組G2的多個第二觸控電極152的多個端點152a所在的多個第二區域100b可排成一行,而所有端點151a及所有端點152a所在的第一區域100a與第二區域100b可排成一個陣列,但本發明不以此為限。多個第一觸控電極151電性連接至檢測接墊P1。多個第二觸控電極152電性連接至檢測接墊P2。在本實施例中,為簡化用以檢測觸控電極150的設備,所有第一觸控電極151可電性連接至同一檢測接墊P1,所有第二觸控電極152可電性連接至同一檢測接墊P2。但本發明不限於此,在其他實施例中,多個第一觸控電極151也可電性連接至不同的多個檢測接墊,而多個第二觸控電極152也可電性連接至不同的多個檢測接墊。
圖8示出用以檢測本發明另一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。舉例而言,圖8所示的訊號可用以檢測圖7的多個第一觸控電極151與多個第二觸控電極152。圖8的最上方的座標圖示出時間t與電壓V
140的關係,其中電壓V
140用以輸入至內嵌式顯示面板100(或100A)的畫素電極140。圖8的中間的座標圖示出時間t與電壓V
P1的關係,其中電壓V
P1用以輸入至與第一觸控電極151電性連接的檢測接墊P1。圖8的最下方的座標圖示出時間t與電壓V
P2的關係,其中電壓V
P2用以輸入至與第二觸控電極152電性連接的檢測接墊P2。圖9示出與圖7對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第一時間T1內的檢測畫面。請參照圖7、圖8及圖9,在第一時間T1內,令輸入至畫素電極140的電壓V
140為V,令輸入至檢測接墊P1的電壓V
P1為V1,且令輸入至檢測接墊P2的電壓V
P2例如為0。換言之,在第一時間T1內,畫素電極140與所有的第一觸控電極151之間存在第一電壓差V-V1,而畫素電極140與所有的第二觸控電極152之間存在第二電壓差(V-0=V)。第一電壓差V-V1對應第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)對應第二亮度。意即,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V1能使第一觸控電極151之端點151a所在的第一區域100a呈現第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)能使第二觸控電極152之端點152a所在的第二區域100b呈現第二亮度。
舉例而言,在本實施例中,第一電壓差V-V1可趨近或等於0,而第二電壓差可為大於0的V。在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V1應能使第一觸控電極151之端點151a所在的所有第一區域100a呈現白色,而第二電壓差(V-0=V)應能使第二觸控電極152之端點152a所在的所有第二區域100b呈現黑色。請參照圖9,然而,在本實施例中,於第一時間T1內,第一區域100a1未呈現應有第一亮度(白色),而第二區域100b1未呈現應有第二亮度(黑色)。換言之,某一個第一觸控電極151的端點151a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第一電壓差V-V1,而某一個第二觸控電極152的端點152a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第二電壓差(V-0=V)。此時,便能夠判斷端點151a位於第一區域100a1的所述第一觸控電極151以及端點152a位於第二區域100b1的所述第二觸控電極152異常,例如:所述第一觸控電極151本身及所述第二觸控電極152本身為斷路。
圖10示出與圖7對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第二時間T2內的檢測畫面。請參照圖7、圖8及圖10,在第二時間T2內,令輸入至畫素電極140的電壓V
140為V,令輸入至檢測接墊P1的電壓V
P1例如為0,且令輸入至檢測接墊P2的電壓V
P2為V2。換言之,在第二時間T2內,畫素電極140與所有的第一觸控電極151之間存在第二電壓差(V-0=V),而畫素電極140與所有的第二觸控電極152之間存在第一電壓差V-V2。第一電壓差V-V2對應第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)對應第二亮度。意即,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第二電壓差(V-0=V)能使第一觸控電極151之端點151a所在的第一區域100a呈現第二亮度,而第一電壓差V-V2能使第二觸控電極152之端點152a所在的第二區域100b呈現第一亮度。
舉例而言,在本實施例中,第二電壓差(V-0=V)可為大於0的V,而第一電壓差V-V2可趨近或等於0。在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第二電壓差(V-0=V)能使第一觸控電極151之端點151a所在的所有第一區域100a呈現黑色,而第一電壓差V-V2能使第二觸控電極152之端點152a所在的所有第二區域100b呈現白色。請參照圖10,然而,在本實施例中,於第二時間T2內,第一區域100a1未呈現應有第二亮度(黑色),而第二區域100b1未呈現應有第一亮度(白色)。第一區域100a1呈現與其他的第一區域100a不同的白色,而第二區域100b1呈現與其他的第二區域100a不同的黑色。換言之,某一個第一觸控電極151的端點151a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第二電壓差(V-0=V),而某一個第二觸控電極152的端點152a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第一電壓差V-V2。此時,便能夠再次地確認端點151a位於第一區域100a1的所述第一觸控電極151以及端點152a位於第二區域100b1的所述第二觸控電極152異常,所述第一觸控電極151本身以及所述第二觸控電極152本身為斷路。
需說明的是,在圖7~圖10的實施例中,於第一時間T1及第二時間T2均進行檢測第一觸控電極151及第二觸控電極152的步驟,以重複確認端點151a位於第一區域100a1的一個第一觸控電極151及端點152a位於第二區域100b1的一個第二觸控電極152異常。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,執行對應第一時間T1的檢測步驟,或執行對應第二時間T2的檢測步驟,便足以確認多個第一觸控電極151以及多個第二觸控電極152是否異常。換言之,包括對應第一時間T1之檢測步驟的檢測方法或包括對應第二時間T2的檢測步驟的檢測方法也在本發明所欲保護的範疇內。圖7~圖10的檢測方法具有與圖3~圖6的檢測方法類似的功效與優點,於此便不再重述。
圖11為本發明再一實施例之觸控電極的上視示意圖。請參照圖11,前述的觸控電極150包括多個第一觸控電極153、多個第二觸控電極154、多個第三觸控電極155以及多個第四觸控電極156。每一第一觸控電極153具有一個端點153a。多個第一觸控電極153的多個端點153a分別位於不同的多個第一區域100c。每一第一區域100c與對應的至少一畫素電極140重疊。每一第二觸控電極154具有一個端點154a。多個第二觸控電極154的多個端點154a分別位於不同的多個第二區域100d。每一第二區域100d與至少一畫素電極140重疊。多個第三觸控電極155的多個端點155a分別位於不同的多個第三區域100e。每一第三區域100e與對應的至少一畫素電極140重疊。每一第四觸控電極156具有一個端點156a。多個第四觸控電極156的多個端點156a分別位於不同的多個第四區域100f。每一第四區域100f與對應的至少一畫素電極140重疊。
在本實施例中,第一觸控電極153與第二觸控電極154位於內嵌式觸控面板100(或100A)的左邊L,而第三觸控電極155與第四觸控電極156位於內嵌式觸控面板100(或100A)的右邊R。第一觸控電極153之端點153a所在的第一區域100c以及第二觸控電極154之端點154a所在的第二區域100d在第一方向x以及與第一方向x交錯的第二方向y上交替排列。第三觸控電極155之多個端點155a所在的多個第三區域100e以及第四觸控電極156之多個端點156a所在的第四區域100f在第一方向x以及第二方向y上交替排列。在圖11的實施例中,多個第一觸控電極153可電性連接至同一檢測接墊P1,多個第二觸控電極154可電性連接至同一檢測接墊P2,多個第三觸控電極155可電性連接至同一檢測接墊P3,而多個第四觸控電極156可電性連接至同一檢測接墊P4。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,第一觸控電極153、第二觸控電極154、第三觸控電極155與第四觸控電極156也可利用其他方式連接至對應的檢測接墊,以下以圖12為例說明之。圖12為本發明另一實施例之觸控電極的上視示意圖,圖12的觸控電極150與圖11的觸控電極150相同,惟圖12的檢測接墊P13、P24與圖11的檢測接墊P1、P2、P3、P4不同。在圖12的實施例中,多個第一觸控電極153及個第三觸控電極155可電性連接至同一檢測接墊P13,而多個第二觸控電極154與多個第四觸控電極156可電性連接至同一檢測接墊P24。
圖13示出用以檢測本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。圖13所示的訊號可用以檢測圖11(或圖12)的多個第一觸控電極153、多個第二觸控電極154、多個第三觸控電極155以及多個第四觸控電極156。圖13的最上方的座標圖示出時間t與電壓V
140的關係,其中電壓V
140用以輸入至內嵌式顯示面板100(或100A)的畫素電極140。圖13的中間的座標圖示出時間t與電壓V
P13的關係,其中電壓V
P13用以輸入至圖11的檢測接墊P1 與檢測接墊P3(或圖12的檢測接墊P13)。圖13的最下方的座標圖示出時間t與電壓V
P24的關係,其中電壓V
P24用以輸入至圖11的檢測接墊P2 與檢測接墊P4(或圖12的檢測接墊P24)。圖14示出與圖11(或圖12)對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第一時間T1內的檢測畫面。請參照圖11(或圖12)、圖13及圖14,在第一時間T1內,令輸入至畫素電極140的電壓V
140為V,令輸入至檢測接墊P1及檢測接墊P3(或檢測接墊P13)的電壓V
P13為V1,且輸入至檢測接墊P2及檢測接墊P4(或檢測接墊P24)的電壓V
P24例如為0。換言之,在第一時間T1內,畫素電極140與所有的第一觸控電極153之間存在第一電壓差V-V1,畫素電極140與所有的第三觸控電極155之間存在第一電壓差V-V1,畫素電極140與所有的第二觸控電極154之間存在第二電壓差(V-0=V),而畫素電極140與所有的第四觸控電極156之間存在第二電壓差(V-0=V)。第一電壓差V-V1對應第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)對應第二亮度。意即,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V1能使第一觸控電極153之端點153a所在的第一區域100c以及第三觸控電極155之端點155a所在的第三區域100e呈現第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)能使第二觸控電極154之端點154a所在的第二區域100d以及第四觸控電極156之端點156a所在的第四區域100f呈現第二亮度。
舉例而言,在本實施例中,第一電壓差V-V1可趨近或等於0,而第二電壓差可為大於0的V。在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V1能使第一觸控電極153之端點153a所在的所有第一區域100c以及第三觸控電極155之端點155a所在的所有第三區域100e呈現白色,而第二電壓差(V-0=V)能使第二觸控電極154之端點154a所在的所有第二區域100d以及第四觸控電極156之端點156a所在的所有第四區域100f呈現黑色。換言之,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,內嵌式顯示面板100(或100A)應呈現黑白棋盤格畫面。
請參照圖14,然而,在本實施例中,於第一時間T1內,第一區域100c1未呈現應有第一亮度(白色),而第四區域100f1未呈現應有第二亮度(黑色)。換言之,某一個第一觸控電極153的端點153a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第一電壓差V-V1,而某一個第四觸控電極156的端點156a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第二電壓差(V-0=V)。此時,便能夠判斷端點153a位於第一區域100c1的所述第一觸控電極153以及端點156a位於第四區域100f1的所述第四觸控電極156異常。舉例而言,在第一時間T1內,相鄰的第一區域100c1與第二區域100d1呈現相同的第二亮度(黑色),則判斷端點153a位於第一區域100c1的第一觸控電極153與其中一個第二觸控電極154短路。在第一時間T1內,相鄰的第三區域100e1與第四區域100f1呈現相同的第一亮度(白色),則判斷端點156a位於第四區域100f1的第四觸控電極156與其中一個第三觸控電極155短路。
圖15示出與圖11(或圖12)對應之內嵌式顯示面板100(或100A)在第二時間T2內的檢測畫面。請參照圖11(或圖12)、圖13及圖15,在第二時間T2內,令輸入至畫素電極140的電壓V
140為V,令輸入至檢測接墊P1及檢測接墊P3(或檢測接墊P13)的電壓V
P13例如為0,且令輸入至檢測接墊P2及檢測接墊P4(或檢測接墊P24)的電壓V
P24為V2。換言之,在第二時間T2內,畫素電極140與所有的第一觸控電極153之間存在第二電壓差(V-0=V),畫素電極140與所有的第三觸控電極155之間存在第二電壓差(V-0=V),畫素電極140與所有的第二觸控電極154之間存在第一電壓差V-V2,而畫素電極140與所有的第四觸控電極156之間存在第一電壓差V-V2。第一電壓差V-V2對應第一亮度,而第二電壓差(V-0=V)對應第二亮度。意即,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V2能使第一觸控電極153之端點153a所在的第一區域100c以及第三觸控電極155之端點155a所在的第三區域100e呈現第二亮度,而第二電壓差(V-0=V)能使第二觸控電極154之端點154a所在的第二區域100d以及第四觸控電極156之端點156a所在的第四區域100f呈現第一亮度。
舉例而言,在本實施例中,第一電壓差V-V2可為大於0的V,而第二電壓差(V-0=V)可趨近或等於0。在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,第一電壓差V-V2能使第一觸控電極153之端點153a所在的所有第一區域100c以及第三觸控電極155之端點155a所在的第三區域100e呈現黑色,而第二電壓差(V-0=V)能使第二觸控電極154之端點154a所在的所有第二區域100d以及第四觸控電極156之端點156a所在的所有第四區域100f呈現白色。換言之,在內嵌式顯示面板100(或100A)無異常的情況下,內嵌式顯示面板100(或100A)應呈現黑白棋盤格畫面。
請參照圖15,然而,在本實施例中,於第二時間T2內,第一區域100c1未呈現應有第二亮度(黑色),而第四區域100f1未呈現應有第一亮度(白色)。第一區域100c1呈現與其他的第一區域100c不同的白色,而第四區域100f1呈現與其他的第四區域100f不同的黑色。換言之,某一個第一觸控電極153的端點153a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第二電壓差(V-0=V),而某一個第四觸控電極156的端點156a與對應的畫素電極140之間的電壓差並非應有的第一電壓差V-V2。此時,便能夠再次地確認端點153a位於第一區域100c1的所述第一觸控電極153以及端點156a位於第四區域100f1的所述第四觸控電極156異常。舉例而言,在第二時間T2內,相鄰的第一區域100c1與第二區域100d1呈現相同的第一亮度(白色),則判斷端點153a位於第一區域100c1的第一觸控電極153與其中一個第二觸控電極154短路。在第二時間T2內,相鄰的第三區域100e1與第四區域100f1呈現相同的第二亮度(黑色),則判斷端點156a位於第四區域100f1的第四觸控電極156與其中一個第三觸控電極155短路。
需說明的是,在圖11~圖15的實施例中,於第一時間T1及第二時間T2均進行檢測第一觸控電極153、第二觸控電極154、第三觸控電極155以及第四觸控電極156的步驟,以重複確認端點153a位於第一區域100c1的一個第一觸控電極153及端點156a位於第四區域100f1的一個第四觸控電極156異常。然而,本發明不限於此,在其他實施例中,執行對應第一時間T1的檢測步驟,或執行對應第二時間T2的檢測步驟,便足以確認多個第一觸控電極153、多個第二觸控電極154、多個第三觸控電極155以及多個第四觸控電極156是否異常。換言之,包括對應第一時間T1之檢測步驟的檢測方法或包括對應第二時間T2的檢測步驟的檢測方法也在本發明所欲保護的範疇內。圖11~圖15的檢測方法具有與圖3~圖6的檢測方法類似的功效與優點,於此便不再重述。
綜上所述,本發明一實施例的檢測方法包括下列步驟:在第一時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第一亮度的第一電壓差;在第二時間內,令畫素電極與第一觸控電極之間存在對應第二亮度的第二電壓差;以及在第一時間內至少一第一區域未呈現第一亮度、在第二時間內至少一第一區域未呈現第二亮度、或者在第一時間內至少一第一區域未呈現第一亮度且在第二時間內至少一第一區域未呈現第二亮度,則判斷端點位於至少一區域的一第一觸控電極異常。利用上述檢測方法,不需設置分別對應多個觸控電極的多個檢測接墊及/或使用複雜的電路檢測方法檢測觸控電極,檢測者用肉眼或輔以光學設備(例如:攝影機等)便可簡易且快速地判斷內嵌式觸控顯示面板的觸控電極是否異常。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100、100A‧‧‧內嵌式觸控顯示面板
100a、100a1、100c、100c1‧‧‧第一區域
100b、100b1、100d‧‧‧第二區域
100e‧‧‧第三區域
100f、100f1‧‧‧第四區域
110‧‧‧第一基板
120‧‧‧第二基板
130‧‧‧顯示介質
140‧‧‧畫素電極
150‧‧‧觸控電極
151、153‧‧‧第一觸控電極
151a、152a、153a、154a、155a、156a‧‧‧端點
152、154‧‧‧第二觸控電極
155‧‧‧第三觸控電極
156‧‧‧第四觸控電極
160‧‧‧絕緣層
160a‧‧‧接觸孔
170‧‧‧主動元件
G、G1、G2‧‧‧觸控電極組
L‧‧‧左邊
P、P1、P2、P3、P4、P13、P24‧‧‧檢測接墊
R‧‧‧右邊
t‧‧‧時間
T1‧‧‧第一時間
T2‧‧‧第二時間
V140、VP、VP1、VP2、VP13、VP24、V、V1、V2‧‧‧電壓
x‧‧‧第一方向
y‧‧‧第二方向
圖1為本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的剖面示意圖。 圖2為本發明另一實施例之內嵌式觸控顯示面板的剖面示意圖。 圖3為本發明一實施例之觸控電極的上視示意圖。 圖4示出用以檢測本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。 圖5示出與圖3對應之內嵌式顯示面板在第一時間內的檢測畫面。 圖6示出與圖3對應之內嵌式顯示面板在第二時間內的檢測畫面。 圖7為本發明另一實施例之觸控電極的上視示意圖。 圖8示出用以檢測本發明另一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。 圖9示出與圖7對應之內嵌式顯示面板在第一時間內的檢測畫面。 圖10示出與圖7對應之內嵌式顯示面板在第二時間內的檢測畫面。 圖11為本發明再一實施例之觸控電極的上視示意圖。 圖12為本發明另一實施例之觸控電極的上視示意圖。 圖13示出用以檢測本發明一實施例之內嵌式觸控顯示面板的觸控電極的訊號。 圖14示出與圖11(或圖12)對應之內嵌式顯示面板在第一時間內的檢測畫面。 圖15示出與圖11(或圖12)對應之內嵌式顯示面板在第二時間內的檢測畫面。
100a、100a1‧‧‧第一區域
151‧‧‧第一觸控電極
151a‧‧‧端點
G‧‧‧觸控電極組
P‧‧‧檢測接墊
x‧‧‧第一方向
y‧‧‧第二方向
Claims (10)
- 一種檢測方法,用以檢測一內嵌式觸控顯示面板,該內嵌式觸控顯示面板具有多個畫素電極與多個第一觸控電極,每一該第一觸控電極具有一個端點,該些第一觸控電極的多個端點分別位於不同的多個第一區域,該檢測方法包括: 在一第一時間內,令該些畫素電極與該些第一觸控電極之間存在對應一第一亮度的一第一電壓差; 在一第二時間內,令該些畫素電極與該些第一觸控電極之間存在對應一第二亮度的一第二電壓差;以及 在該第一時間內一該第一區域未呈現該第一亮度,在該第二時間內該第一區域未呈現該第二亮度,或者在該第一時間內一該第一區域未呈現該第一亮度且在該第二時間內該第一區域未呈現該第二亮度,則判斷端點位於該第一區域的一該第一觸控電極異常。
- 如申請專利範圍第1項所述的檢測方法,其中該內嵌式觸控顯示面板更具有多個第二觸控電極,每一該第二觸控電極具有一個端點,該些第二觸控電極的多個端點分別位於與該些第一區域不同的多個第二區域,而該檢測方法更包括: 在該第一時間內,令該些畫素電極與該些第二觸控電極之間存在對應該第二亮度的該第二電壓差; 在該第二時間內,令該些畫素電極與該些第二觸控電極之間存在對應該第一亮度的該第一電壓差。
- 如申請專利範圍第2項所述的檢測方法,其中在該第一時間內一該第二區域未呈現該第二亮度,在該第二時間內該第二區域未呈現該第一亮度、或在該第一時間內一該第二區域未呈現該第二亮度且在該第二時間內該第二區域未呈現該第一亮度,則判斷端點位於該第二區域的一該第二觸控電極異常。
- 如申請專利範圍第3項所述的檢測方法,其中該些第一觸控電極之該些端點所在的該些第一區域排成一陣列且位於該內嵌式觸控面板的左邊,而該些第二觸控電極之該些端點所在的該些第二區域排成一陣列且位於該內嵌式觸控面板的右邊。
- 如申請專利範圍第4項所述的檢測方法,其中, 在該第一時間內一該第一區域呈現與其他的該些第一區域不同的該第二亮度,在該第二時間內該第一區域呈現與其他的該些第一區域不同的該第一亮度,則判斷端點位於該第一區域的一該第一觸控電極為斷路; 在該第一時間內一該第二區域呈現與其他的該些第二區域不同的該第一亮度,在該第二時間內該第二區域呈現與其他的該些第二區域不同的該第二亮度,則判斷端點位於該第二區域的一該第二觸控電極為斷路。
- 如申請專利範圍第2項所述的檢測方法,其中該些第一觸控電極之該些端點所在的該些第一區域以及該些第二觸控電極之該些端點所在的該些第二區域在一第一方向以及與該第一方向交錯的一第二方向上交替排列。
- 如申請專利範圍第6項所述的檢測方法,其中, 在該第一時間內相鄰的一該第一區域與一該第二區域呈現相同的該第二亮度,在該第二時間內相鄰的該第一區域與該第二區域呈現相同的該第一亮度,則判斷端點位於該第一區域的一該第一觸控電極與其中一個第二觸控電極短路。
- 如申請專利範圍第7項所述的檢測方法,其中該內嵌式觸控顯示面板更具有多個第三觸控電極與多個第四觸控電極,該些第一觸控電極與該些第二觸控電極位於該內嵌式觸控面板的左邊,該些第三觸控電極與該些第四觸控電極位於該內嵌式觸控面板的右邊,該些第三觸控電極之多個端點所在的多個第三區域以及該些第四觸控電極之多個端點所在的該些第四區域在該第一方向以及該第二方向上交替排列。
- 如申請專利範圍第8項所述的檢測方法,其中, 在該第一時間內,令該些畫素電極與該些第三觸控電極之間存在對應該第一亮度的該第一電壓差,且令該些畫素電極與該些第四觸控電極之間存在對應該第二亮度的該第二電壓差; 在該第二時間內,令該些畫素電極與該些第三觸控電極之間存在對應該第二亮度的該第二電壓差,且令該些畫素電極與該些第四觸控電極之間存在對應該第一亮度的該第一電壓差。
- 如申請專利範圍第9項所述的檢測方法,其中在該第一時間內相鄰的一該第三區域與一該第四區域呈現相同的該第一亮度,在該第二時間內相鄰的該第三區域與該第四區域呈現相同的該第二亮度,則判斷端點位於該第四區域的一該第四觸控電極與其中一個第三觸控電極短路。
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