CN102116950A - 具有触控功能的显示面板及其检测方法 - Google Patents

Abstract

一种具有触控功能的显示面板及其检测方法，该显示面板包括多根数据线；多根栅极线；多根第一触摸检测线，与数据线平行；数据线短路棒；还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：第一薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；检测开关控制线控制第一薄膜晶体管的开关；第一触摸检测线的一端与电压输入线电连接，第一薄膜晶体管的源极与所述第一触摸检测线的另一端电连接，第一薄膜晶体管的漏极与第一触摸检测线相邻的数据线电连接。通过测试结构及相应的测试方法可以检测到第一触摸检测线是否断路，与相邻的数据线之间是否短路；及时修复有缺陷的第一触摸检测线，提高产品合格率。

Description

具有触控功能的显示面板及其检测方法

技术领域

本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及具有触控功能的显示面板及其检测方法。

背景技术

为了操作上的方便，人们用触摸屏来代替鼠标或键盘。工作时，我们必须首先用手指或其它物体触摸安装在显示器前端的触摸屏，然后系统根据手指触摸的图标或菜单位置来定位选择信息输入。触摸屏由触摸检测部件和触摸屏控制器组成；触摸检测部件安装在显示器屏幕前面，用于检测用户触摸位置，接受后送触摸屏控制器；而触摸屏控制器的主要作用是从触摸点检测装置上接收触摸信息，并将它转换成触点坐标，再送给CPU，它同时能接收CPU发来的命令并加以执行。

触摸屏面板安装在显示装置的图像显示表面上，所述显示装置例如为液晶显示(LCD)装置、场发射显示(FED)装置、等离子体显示面板(PDP)装置和电致发光(ELD)装置。

图1为现有技术的具有触摸屏的液晶显示面板的一个子像素的线路连接示意图，图示中，110表示一个子像素，111表示薄膜晶体管(TFT)，112表示第一检测电极，113表示第二检测电极，114表示数据线，115表示栅极线，116表示第一触摸检测线，117表示第二触摸检测线。现有技术中，第一触摸检测线116，第二触摸检测线117的线宽不能做得太小，否则会出现断路现象，同时不能做得太宽，否则会影响像素的开口率，另外，第二触摸检测线117不能与栅极线靠的太近，否则容易导致二者短路，第一触摸检测线116也不能与数据线靠得太近，否则容易导致短路。现有技术没有检测第一触摸检测线和第二触摸检测线短路、断路的结构和方法。

2009年7月1日公开的公开号为CN101470288A的中国专利申请，公开了具有内嵌式触摸屏的显示面板，该专利申请也没有解决以上所述的缺点。

发明内容

本发明解决的技术问题是现有技术的具有触控功能的显示面板，不能检测第一触摸检测线短路、断路的缺点。

为解决上述技术问题，本发明提供一种具有触控功能的显示面板，包括：

形成于薄膜晶体管基板上的多根数据线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根栅极线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根第一触摸检测线，与所述数据线平行；

数据线短路棒，向数据线提供检测电压；

还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：

第一薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；

所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管的开关；

所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述第一触摸检测线相邻的一数据线一端电连接。

可选的，还包括第二薄膜晶体管和电压输入开关控制线；

所述电压输入开关控制线控制第二薄膜晶体管的开关；

所述电压输入线通过第二薄膜晶体管与所述第一触摸检测线的一端电连接。

可选的，还包括：第三薄膜晶体管；

所述检测开关控制线控制第三薄膜晶体管的开关；

所述第三薄膜晶体管的源极与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，第三薄膜晶体管的漏极与第一触摸检测线相邻的另一数据线的一端电连接。

可选的，还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接。

可选的，所述第四薄膜晶体管的漏极电连接同一数据线短路棒。

可选的，还包括：第五薄膜晶体管以及第二数据线开关控制线；

所述第二数据线开关控制线控制所述第五薄膜晶体管的开关；

所述第五薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的另一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接。

可选的，所述第五薄膜晶体管的漏极电连接同一数据线短路棒。

本发明还提供一种具有触控功能的显示面板的检测方法，该显示面板包括形成于薄膜晶体管基板上的多根数据线；形成于薄膜晶体管基板上的多根栅极线；形成于薄膜晶体管基板上的多根第一触摸检测线，与所述数据线平行；数据线短路棒，向数据线提供检测电压；还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：第一薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管的开关；所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述第一触摸检测线相邻的一数据线一端电连接；

该方法包括：使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线，则对应位置的数据线存在线缺陷，修复该线缺陷；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位，其他数据线处于高电位；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，则对应位置的第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在短路。

可选的，还包括：修复第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

可选的，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第二薄膜晶体管和电压输入开关控制线；

所述电压输入开关控制线控制第二薄膜晶体管的开关；

所述电压输入线通过第二薄膜晶体管与所述第一触摸检测线的一端电连接；

该方法还包括：在给所述电压输入线一高电压时，同时给所述电压输入开关控制线一高电压，使所述第二薄膜晶体管导通，所述电压输入线上的高电压通过第二薄膜晶体管传输给所述第一触摸检测线。

可选的，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该相邻的数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的一数据线处于低电位包括：给所述第一数据线开关控制线一低电压，使第四薄膜晶体管断开，使与所述第一触摸检测线相邻的一数据线处于低电位。

本发明还提供另一种具有触控功能的显示面板的检测方法，该显示面板包括，第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：

第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；

所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管的开关；

所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端分别与所述第一薄膜晶体管的源极和所述第三薄膜晶体管的源极电连接、第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管的漏极与分别与所述第一触摸检测线相邻的两数据线电连接；

该方法包括：使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线，则对应位置的数据线存在线缺陷，修复该线缺陷；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位，不相邻的数据线处于高电位；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，则对应位置的第一触摸检测线与其相邻的数据线之间存在短路。

可选的，还包括：修复第一触摸检测线与相邻的两数据线之间存在的短路；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

可选的，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位包括：给所述第一数据线开关控制线一低电压，使第四薄膜晶体管断开，使与所述第一触摸检测线相邻通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位。

可选的，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第五薄膜晶体管、第二数据线开关控制线；

所述第二数据线开关控制线控制第五薄膜晶体管的开关；

所述第五薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的另一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位还包括：给所述第二数据线开关控制线一低电压，使第五薄膜晶体管断开，从而使与所述第一触摸检测线相邻并通过第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

在显示面板上增加第一触摸检测线测试结构，通过第一触摸检测线测试结构及相应的测试方法可以检测到第一触摸检测线是否断路，与相邻的数据线之间是否短路；从而可以得知具有触控功能的显示面板的第一触摸检测线是否合格，及时的修复有缺陷的第一触摸检测线，提高产品的合格率。

附图说明

图1是现有技术的具有触控功能的液晶显示面板的一个子像素的线路连接示意图。

图2是本发明一具体实施例的具有触控功能的显示面板的局部结构示意图。

图3为图2所示的线路连接的局部布局示意图。

图4是本发明另一具体实施例的具有触控功能的显示面板的局部结构示意图。

具体实施方式

本发明的具有触控功能的显示面板，在显示面板上增加第一触摸检测线测试结构，通过第一触摸检测线测试结构及相应的测试方法可以检测到第一触摸检测线是否断路，与相邻的数据线之间是否短路。

本发明具体实施方式的具有触控功能的显示面板，包括：形成于薄膜晶体管基板上的多根数据线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根栅极线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根第一触摸检测线，与所述数据线平行；

数据线短路棒，向数据线提供检测电压；还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：

第一薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；

所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管的开关；

所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述第一触摸检测线相邻的一数据线电连接。

为了使本发明对本领域技术人员更易于理解，同时也为了更好的阐述本发明的精神，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

图2是本发明一具体实施例的具有触控功能的显示面板的局部结构示意图。图中只显示局部的显示面板，其他部分的结构根据本领域的公知常识可以得知，而且显示面板的数据线、栅极线、像素单元、以及触摸检测线根据规则重复排列，图2中显示了六个像素单元，六根数据线和四根栅极线，两根第一触摸检测线，A表示制盒测试区，B表示外围走线区，C表示显示区，D表示测试结构区。

该具体实施例的具有触控功能的显示面板包括形成于薄膜晶体管基板上的数据线DL1、DL2、DL3、DL4、DL5、DL6……，为描述方便，图2中只显示数据线DL1、DL2、DL3、DL4、DL5、DL6；形成于薄膜晶体管基板上的栅极线GL1、GL2、GL3、GL4……，为描述方便，图2中只显示栅极线GL1、GL2、GL3、GL4；形成于薄膜晶体管基板上的第一触摸检测线TPL1、TPL2……，为描述方便，图2中只显示第一触摸检测线TPL1、TPL2，与所述数据线DL1、DL2、DL3、DL4、DL5、DL6……平行；形成于薄膜晶体管基板上的第二触摸检测线(图中未示)，第一触摸检测线和第二触摸检测线正交交叉；数据线短路棒201、202、203，其中数据线短路棒201与R像素的数据线DL1、DL4……电连接，数据线短路棒202与G像素的数据线DL2、DL5……电连接，数据线短路棒203与B像素的数据线DL3、DL6……电连接；栅极线GL1、GL2、GL3、GL4……分别与各自的栅极线短路棒电连接(图中未示)，栅极线短路棒和栅极线GL1、GL2、GL3、GL4……的电连接方式与数据线短路棒和数据线电连接的方式相同；在数据线DL1、DL2、DL3、DL4、DL5、DL6……与栅极线GL1、GL2、GL3、GL4……的交叉点形成有薄膜晶体管，通过对所述栅极线GL1、GL2、GL3、GL4……施加电压控制薄膜晶体管的开或关。

在该具体实施例中，第一触摸检测线TPL1、TPL2……对应的与B像素数据线DL3、DL6……、R像素数据线DL1、DL4……相邻。

该显示面板还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：多个第一薄膜晶体管207、多个第二薄膜晶体管209和多个第四薄膜晶体管207-1，检测开关控制线204、第一数据线开关控制线204-1和电压输入开关控制线205，以及电压输入线206。

所述检测开关控制线204控制第一薄膜晶体管207的开关，所述第一数据线开关控制线204-1控制第四薄膜晶体管207-1的开关，所述电压输入开关控制线205控制第二薄膜晶体管209的开关；当给第一数据线开关控制线204-1提供高电压使第四薄膜晶体管207-1处于导通状态时，供给所述B像素数据线DL3、DL6……电压的数据线短路棒203通过第四薄膜晶体管207-1，供给所述B像素数据线DL3、DL6……电压；所述电压输入线206通过所述第二薄膜晶体管209供给所述第一触摸检测线TPL1、TPL2……电压，所述对应的第二薄膜晶体管209、第一触摸检测线TPL1、TPL2……、第一薄膜晶体管207、与对应的第一触摸检测线TPL1、TPL2……相邻的B像素数据线DL3、DL6……组成电连接回路。

其中，所述对应的第一薄膜晶体管207的栅极与所述检测开关控制线204电连接，所述对应的第一触摸检测线TPL1、TPL2……的一端与所述电压输入线206电连接，另一端与所述第一薄膜晶体管207的源极电连接，第一薄膜晶体管206的漏极与所述对应B像素数据线DL3、DL6……的一端电连接；给所述检测开关控制线204一高电压，该检测开关控制线204给第一薄膜晶体管207一高电压，可以使通过栅极与其电连接的第一薄膜晶体管207处于导通状态，当所述检测开关控制线204处于低电位时，所述第一薄膜晶体管207处于断开状态。

所述第二薄膜晶体管209的栅极与所述电压输入开关控制线205电连接，漏极与电压输入线206电连接，源极与对应的所述第一触摸检测线TPL1、TPL2……的一端电连接；给所述电压输入开关控制线205一高电压，该电压输入开关控制线205给第二薄膜晶体管209一高电压，可以使通过栅极与其电连接的第二薄膜晶体管209处于导通状态，通过端子3供给数据线短路棒203施加的电压可以通过第二薄膜晶体管209施加给对应的B像素数据线DL3、DL6……；当所述电压输入开关控制线205处于低电位时，所述第二薄膜晶体管209处于断开状态，端子3供给数据线短路棒203施加的电压不能通过第二薄膜晶体管209施加给对应的B像素数据线DL3、DL6……。

所述第四薄膜晶体管207-1的栅极与所述第一数据线开关控制线204-1电连接，漏极与数据线短路棒203电连接，源极与对应的所述B像素数据线DL3、DL6……电连接；给所述第一数据线开关控制线204-1一高电压，该第一数据线开关控制线204-1给第四薄膜晶体管207-1一高电压，可以使通过栅极与其电连接的第四薄膜晶体管207-1处于导通状态，当所述第一数据线开关控制线204-1处于低电位时，所述第四薄膜晶体管207-1处于断开状态；在第四薄膜晶体管207-1处于导通状态时，在数据线短路棒203上施加的电压可以通过第四薄膜晶体管207-1的漏极、源极施加到B像素数据线DL3、DL6……，在第四薄膜晶体管207-1处于断开状态时，数据线短路棒203上的电压不能提供给B像素数据线DL3、DL6……。

图3为图2所示的线路连接的局部布局示意图。同时参考图2、图3，在该具体实施例中，数据线短路棒201、202、203分别与端子1、2、3电连接；检测开关控制线204与端子4电连接，第一数据线开关控制线204-1与端子4-1电连接，电压输入开关控制线205与端子5电连接，电压输入线206与端子6电连接；数据线短路棒201和电压输入线206位于同一金属层在同一工艺中形成，数据线短路棒202和203、检测开关控制线204、第一数据线开关控制线204-1、电压输入开关控制线205位于同一金属层在同一工艺中形成，数据线DL1、DL2、DL3、DL4、DL5、DL6……位于同一金属层在同一工艺中形成；第一触摸检测线TPL1、TPL2……位于同一金属层在同一工艺中形成。

在本发明的其他实施例中，也可以不包括第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，将数据线短路棒203直接与B像素数据线DL3、DL6……电连接，由数据线短路棒203直接给B像素数据线DL3、DL6……提供电压，通过给数据线短路203提供电压或不提供电压，来完成测试，同样可以达到本发明的目的。

在本发明的其他实施例中，也可以不包括第二薄膜晶体管209和电压输入开关控制线205，将电压输入线206直接与第一触摸检测线TPL1、TPL2……电连接，需要使第一触摸检测线TPL1、TPL2……处于高电位或低电位时，直接通过给电压输入线206施加电压，同样可以达到本发明的目的。

该具体实施例中，与第一触摸检测线TPL1、TPL2……相邻的数据线为B像素数据线和R像素数据线；在其他的实施例中，第一触摸检测线TPL1、TPL2……可以位于其他的位置，相邻的数据线为R像素数据线和G像素数据线；第一触摸检测线TPL1、TPL2……也可以位于另外的位置，相邻的数据线为B像素数据线和G像素数据线。

图4是本发明另一具体实施例的具有触控功能的显示面板的局部结构示意图。图中只显示局部的显示面板，其他部分的结构根据本领域的公知常识可以得知，而且显示面板的数据线、栅极线、像素单元、以及触摸检测线根据规则重复排列，图4中显示了四个像素单元，六根数据线和三根栅极线，两根第一触摸检测线。

该另一具体实施例与图2中所示的具体实施例的区别在于：该另一具体实施例增加了多个第三薄膜晶体管208，多个第五薄膜晶体管208-1，第二数据线开关控制线201-1；第二数据线开关控制线201-1控制第五薄膜晶体管208-1的开关，检测开关控制线204控制第二薄膜晶体管209的开关。

对应的第三薄膜晶体管208的栅极与所述检测开关控制线204电连接，漏极与对应的所述第一触摸检测线TPL1、TPL2……电连接，源极与对应的R像素数据线DL1、DL4……电连接；给所述检测开关控制线204一高电压，该检测开关控制线204给第三薄膜晶体管208一高电压，可以使通过栅极与其电连接的第三薄膜晶体管208处于导通状态，当所述检测开关控制线204处于低电位时，所述第三薄膜晶体管208处于断开状态。

对应的第五薄膜晶体管208-1的栅极与所述第二数据线开关控制线201-1电连接，漏极与R像素数据线DL1、DL4……的数据线短路棒201电连接，源极与对应的所述R像素数据线DL1、DL4……电连接；给所述第二数据线开关控制线201-1一高电压，该第二数据线开关控制线201-1给第五薄膜晶体管208-1一高电压，可以使通过栅极与其电连接的第五薄膜晶体管208-1处于导通状态，通过端子1-1给数据线短路棒201施加的电压可以通过第五薄膜晶体管208-1施加给对应的R像素数据线DL1、DL4……；当所述第二数据线开关控制线201-1处于低电位时，所述第五薄膜晶体管208-1处于断开状态，端子1-1给数据线短路棒201施加的电压不能通过第五薄膜晶体管208-1施加给对应的R像素数据线DL1、DL4……。

在本发明的其他实施例中，也可以不包括第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，将数据线短路棒203直接与B像素数据线DL3、DL6……电连接，由数据线短路棒203直接给B像素数据线DL3、DL6……提供电压，通过给数据线短路203提供电压或不提供电压，来完成测试，同样可以达到本发明的目的。

在本发明的其他实施例中，也可以不包括第二薄膜晶体管209和电压输入开关控制线205，将电压输入线206直接与第一触摸检测线TPL1、TPL2……电连接，需要使第一触摸检测线TPL1、TPL2……处于高电位或低电位时，直接通过给电压输入线206施加不同的电压，同样可以达到本发明的目的。

在本发明的其他实施例中，也可以不包括第五薄膜晶体管208-1和第二数据线开关控制线201-1，将数据线短路棒201直接与R像素数据线DL1、DL4……电连接，需要使R像素数据线DL1、DL4……处于高电位或低电位时，通过给数据线短路201施加不同的电压，同样可以达到本发明的目的。

同样，在该另一具体实施例中，与第一触摸检测线TPL1、TPL2……相邻的数据线为B像素数据线和R像素数据线；在其他的实施例中，第一触摸检测线TPL1、TPL2……可以位于其他的位置，相邻的数据线为R像素数据线和G像素数据线；第一触摸检测线TPL1、TPL2……也可以位于另外的位置，相邻的数据线为B像素数据线和G像素数据线。

本发明一具体实施方式的具有触控功能的显示面板的检测方法，包括：

使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线或暗线，则对应位置的数据线有线缺陷，修复该线缺陷；在常白模式下，显示面板的显示屏呈现黑色画面，在黑色画面下检测是否有亮线，或者，在常黑模式下，显示面板的显示屏呈现白色画面，在白色画面下检测是否有亮线；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位，其他数据线处于高电位；显示面板的显示屏上呈现与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线对应像素的画面，例如，如果与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线为B像素数据线，则显示面板的显示屏上呈现蓝色画面；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，则对应位置的第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在短路。

该方法还包括：修复第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路；避免第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路影响第一触摸检测线的断路检测；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

下面结合图2所示的本发明具体实施例显示面板，对以上所述的检测方法做详细介绍。

在图2所示的具体实施例中，第一触摸检测线TPL1、TPL2……与对应的B像素的数据线DL3、DL6……和对应的R像素的数据线DL1、DL4……相邻，但是该具体实施例，只可以检测第一触摸检测线TPL1、TPL2……是否与对应的B像素的数据线DL3、DL6……短路，不能检测第一触摸检测线TPL1、TPL2……是否与对应的R像素的数据线DL1、DL4……短路。

下面在常白模式下说明该具体实施例的检测方法。

首先确定是否有B像素数据线对应的线缺陷存在：

使公共电极处于低电位，在该具体实施例中将公共电极(图中未示)电压设置为0伏，在数据线短路棒201、202、203上加高电压Va，通过端子4-1给第一数据线开关控制线204-1加高电压，一般15V，第一数据线开关控制线204-1处于高电位，第四薄膜晶体管207-1处于导通状态，使所有的数据线处于高电位，如果所有的数据线均不存在线缺陷，整个显示面板显示黑色，显示面板处于黑屏(在常黑模式下，整个显示面板显示白色，显示面板处于白屏)；如果在某一位置显示面板的黑色画面出现蓝色亮线(在常黑模式下，白色画面上出现红色和绿色的混合色亮线)，则对应位置的B像素数据线存在断路的线缺陷，对该对应位置的B像素数据线进行修复，必须对该线缺陷进行修复，否则将会影响对应的第一触摸检测线TPL1、TPL2……的断路、短路的检测。在其他实施例中，如果检测相邻的R像素数据线、或G像素数据线的线缺陷，用同样的方式，不同的是显示面板的显示屏上的画面颜色及显示缺陷的颜色相应的变化。

完成数据线的线缺陷检测后，检测第一触摸检测线TPL1、TPL2……与相邻的B像素数据线DL3、DL6……之间是否存在短路，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3相邻，第一触摸检测线TPL2与B像素数据线DL6相邻，其他第一触摸检测线与B像素数据线依次类推，彼此相邻。下面以第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3为例说明检测第一触摸检测线和相邻的B像素数据线之间是否存在短路。

使公共电极处于0电位，该具体实施例中将公共电极电压仍然设置为0伏，通过端子1、2在数据线短路棒201、202上加高电压Va，通过端子4-1给第一数据线开关控制线204-1一低电压Vb，一般-10V，第一数据线开关控制线204-1处于低电位，第四薄膜晶体管207-1处于断开状态，B像素数据线处于低电压，此时显示面板的显示屏呈现蓝色画面，在其他的实施例中，也可以没有第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，直接通过端子3给数据线短路棒203施加低电压，B像素数据线处于低电压，使显示面板的显示屏呈现蓝色画面。然后，通过端子4给检测开关控制线204一低电压Vc，一般取-10V，检测开关控制线204处于低电位，则第一薄膜晶体管207处于断开状态，通过端子5给电压输入开关控制线205一高电压，一般取15V，则第二薄膜晶体管209处于导通状态，之后，通过端子6给电压输入线206一高电压Va，如果第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3在B区域(外围走线区)存在短路，电压输入线206上的电压就会沿着第二薄膜晶体管209、第一触摸检测线TPL1、经过短路的位置传输至B像素数据线DL3，蓝色画面上出现黑色暗线(常黑模式下，红色和绿色的混合色的画面上出现白色亮线)，则此列像素的显示存在问题，即存在线缺陷，此时我们可以检测出对应的位置第一触摸检测线与B像素数据线二者之间存在短路。在其他具体实施中，第一触摸检测线相邻的数据线也可以为G像素数据线、R像素数据线，二者之间的短路检测方法相同，不同的是显示面板的显示屏上的画面颜色及显示缺陷的颜色相应的变化。

采用镭射切割的方式在短路处将二者分开，直至线缺陷消失，显示恢复正常。

第一触摸检测线TPL1、TPL2……断路的检测方法，以第一触摸检测线TPL1为例进行说明，该步骤最好在短路检测步骤之后，避免第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路现象影响第一触摸检测线TPL1、TPL2……的断路检测。

使公共电极处于0电位，该具体实施例中将公共电极电压仍然设置为0伏，通过端子1、2给数据线短路棒201、202施加高电压Va，通过端子4-1给第一数据线开关控制线204-1施加低电压，一般-10V，使得液晶显示面板的显示屏呈现蓝色画面，在其他的实施例中，也可以没有第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，直接通过端子3给数据线短路棒203施加低电压，使显示面板的显示屏呈现蓝色画面；通过端子4给检测开关控制线204施加一高电压，一般取15V，则第一薄膜晶体管207处于导通状态，通过端子5给电压输入开关控制线205一高电压，一般取15V，则第二薄膜晶体管209处于导通状态，之后，通过端子6给电压输入线206一高电压Va；由于第一薄膜晶体管207、第二薄膜晶体管209处于导通状态，如果第一触摸检测线TPL1不存在断路，则电压输入线206上的电压Va会经过第二薄膜晶体管209、第一触摸检测线TPL1、第一薄膜晶体管207传输至B像素数据线DL3，则蓝色画面变成黑色画面(在常黑模式下，红色和绿色混合色的画面变成白色画面)，如果第一触摸检测线TPL1存在断路，则与其相邻的B像素数据线DL3就不会有电压，黑色画面上该列呈现蓝色亮线(常黑模式下，白色画面出现红色和绿色混合色亮线)。依次类推，通过寻找整个显示屏的显示画面上的蓝色亮线，就可以找到哪一根第一触摸检测线断路。在其他具体实施中，第一触摸检测线相邻的数据线也可以为G像素数据线、R像素数据线，第一触摸检测线断路的检测方法相同，不同的是显示面板的显示屏上的画面颜色及显示缺陷的颜色相应的变化。

触摸检测线出现断路的处理方法，如果只存在一根第一触摸检测线断线，不进行修复，作为正常品；如果存在超过两根第一触摸检测线断线，只要在可以修复的能力范围内，进行修复，超出修复范围直接报废处理。

在本发明检测方法的其他实施例中，也可以不包括第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，将数据线短路棒203直接与B像素数据线DL3、DL6……电连接，由数据线短路棒203直接给B像素数据线DL3、DL6……提供电压，通过给数据线短路203提供电压或不提供电压，来完成测试，同样可以达到本发明的目的。

在本发明检测方法的其他实施例中，也可以不包括第二薄膜晶体管209和电压输入开关控制线205，将电压输入线206直接与第一触摸检测线TPL1、TPL2……电连接，需要使第一触摸检测线TPL1、TPL2……处于高电位或低电位时，直接通过给电压输入线206施加不同的电压，同样可以达到本发明的目的。

以上所述的方法只能检测第一触摸检测线与相邻的其中一像素数据线之间是否存在短路，而不能检测第一触摸检测线与相邻的另一像素的数据线之间是否存在短路。为此，本发明提供另一具体实施方式的检测显示面板的第一触摸检测线短路、断路的方法。

图4为本发明显示面板的另一具体实施例，本发明另一具体实施方式的具有触控功能的显示面板的检测方法，包括：使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线，则对应位置的数据线存在线缺陷，修复该线缺陷；其中，在常白模式下，显示面板的显示屏呈现黑色画面，在黑色画面下检测是否有亮线，或者，在常黑模式下，显示面板的显示屏呈现白色画面，在白色画面下检测是否有亮线；

使与第一触摸检测线相邻的数据线处于低电位，不相邻的数据线处于高电位；显示面板的显示屏上呈现与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线对应像素的画面，例如，如果与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线为B像素数据线和R像素数据线，则显示面板的显示屏上呈现蓝色和红色混合色画面；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，在常白模式下为暗线，在常黑模式下为亮线，对应位置的第一触摸检测线与其相邻的数据线之间存在短路。

该方法还包括：修复第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路；避免第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路影响第一触摸检测线的断路检测；

使与第一触摸检测线相邻的数据线处于低电位，不相邻的数据线处于高电位；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

下面参考图4具体描述该具体实施例的具有触摸功能的显示面板的检测方法。

也是在常白模式下说明该具体实施例的检测方法。

首先确定是否有B像素数据线、R像素数据线对应的线缺陷存在：

此方法与上一实施例的原理相同，在此做简要说明，不做详细说明。给第一数据线开关控制线204-1、第二数据线开关控制线201-1高电压，使第四薄膜晶体管207-1、第五薄膜晶体管208-1处于导通状态，给检测开关控制线204高电压使第一薄膜晶体管207和第三薄膜晶体管208处于断开状态，然后，给数据线短路棒201、202、203施加高电压，一般为15V，使所有的数据线处于高电位，如果所有的数据线均不存在线缺陷，显示面板呈现黑色画面如(常黑模式下，整个画面呈现白色)，如果显示面板的某一数据线存在线缺陷，画面在此列出现亮线，例如，液晶显示面板的显示屏的黑色画面上出现红色亮线(常黑模式下，白色画面上出现蓝色和绿色混合色的亮线)，对应位置R像素数据线存在断路，如果显示面板显示屏的黑色画面上出现蓝色亮线(常黑模式下，白色画面上出现红色和绿色混合色的亮线)，对应显示位置B像素数据线存在断路，在检测到数据线的线缺陷后，将其修复正常。

在修复好显示面板的数据线的线缺陷后，检测第一触摸检测线与相邻的B像素数据线、R像素数据线之间是否存在短路，以及第一触摸检测线本身是否存在断路。下面以第一触摸检测线TPL1与相邻的B像素数据线DL3、R像素数据线DL4之间是否存在短路，以及第一触摸检测线TPL1是否存在断路为例进行说明。

检测第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3、R像素数据线DL4之间是否存在短路，原理与以上所述的实施例的原理相同：

通过端子4、4-1、1-1给检测开关控制线204、第一数据线开关控制线204-1和第二数据线开关控制线201-1低电压，使第一薄膜晶体管207、第四薄膜晶体管207-1、第三薄膜晶体管208、第五薄膜晶体管208-1处于断开状态；通过端子2给数据线短路棒202高电压Va，使显示面板显示屏呈现蓝色和红色的混合色画面(常黑模式下，呈现绿色画面)，然后通过端子给电压输入开关控制线205一高电压，使第二薄膜晶体管209处于导通状态，通过端子6给电压输入线206高电压Va，如果该列的显示由蓝色和红色的混合色变成黑色即在画面上出现黑色暗线(常黑模式下，该列的显示由绿色变成白色即在画面上出现亮线)，在该列存在显示缺陷，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3、R像素数据线DL4之间存在短路；如果该列显示的颜色仍为蓝色和红色的混合色，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3、R像素数据线DL4之间不存在短路；如果该列的显示由蓝色和红色的混合色变成红色即画面上出现红色亮线(常黑模式下，该列的显示由绿色变成绿色和蓝色的混合色即画面上出现亮线)，在该列存在显示缺陷，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3之间存在短路；如果该列的显示由蓝色和红色的混合色变成蓝色即画面上出现蓝色亮线(常黑模式下，该列的显示由绿色变成绿色和红色的混合色即画面上出现混合色亮线)，在该列存在显示缺陷，第一触摸检测线TPL1与R像素数据线DL4之间存在短路；因此，常白模式下，如果显示面板显示屏的蓝色和红色的混合色画面上出现红色亮线，对应位置的第一触摸检测线与相邻的B像素数据线之间存在短路，如果出现蓝色亮线，对应位置的第一触摸检测线与相邻的R像素数据线之间存在短路，如果出现黑色暗线，对应位置的第一触摸检测线与相邻的R像素数据线、B像素数据线之间存在短路；在画面上寻找相应显示缺陷就可以找到哪一根第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在短路。当第一触摸检测线与其他的数据线相邻时，检测方法相同，不同的是画面显示以及画面上的显示缺陷相应的变化。

在其他实施例中，也可以分别检测第一触摸检测线TPL1与相邻的B像素数据线DL3之间是否存在短路，第一触摸检测线TPL1与相邻的R像素数据线DL4之间是否存在短路，具体方法为：

检测第一触摸检测线TPL1与相邻的B像素数据线DL3之间是否存在短路：

给检测开关控制线204低电压，使第一薄膜晶体管207、第三薄膜晶体管208处于断开状态；通过端子1-1给第二数据线开关控制线201-1一高电压，使第五薄膜晶体管208-1处于导通状态；通过端子4-1给第一数据线开关控制线204-1一低电压，使第四薄膜晶体管207-1处于断开状态；通过端子1、2给数据线短路棒201、202高电压Va，使液晶显示面板的显示屏呈现蓝色画面(常黑模式下，呈现红色和绿色的混合色画面)，然后通过端子5给电压输入开关控制线205一高电压，使第二薄膜晶体管209处于导通状态，通过端子6给电压输入线206高电压Va，如果该列显示的颜色由蓝色变成黑色即画面上出现黑色暗线(常黑模式下，由红色和绿色的混合色变成白色即画面上出现白色亮线)，在该列存在显示缺陷，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3之间存在短路；如果该列显示的颜色仍为蓝色，第一触摸检测线TPL1与B像素数据线DL3之间不存在短路。依次类推，通过寻找整个液晶显示面板显示屏的蓝色画面上的黑色暗线，就可以找到哪一根第一触摸检测线与相邻的B像素数据线之间存在短路。

检测第一触摸检测线TPL1与相邻的R像素数据线DL4之间是否存在短路：

给检测开关控制线204低电压，使第一薄膜晶体管207、第三薄膜晶体管208处于断开状态；通过端子1-1给第二数据线开关控制线201-1一高电压，使第五薄膜晶体管208-1处于断开状态；通过端子4-1给第一数据线开关控制线204-1一高电压，使第四薄膜晶体管207-1处于导通状态；通过端子2、3给数据线短路棒202、203高电压Va，使液晶显示面板的显示屏呈现红色画面，然后通过端子5给电压输入开关控制线205一高电压，使第二薄膜晶体管209处于导通状态，通过端子6给电压输入线206高电压Va，如果该列显示的颜色由红色变成黑色即画面上出现黑色暗线，在该列存在显示缺陷，第一触摸检测线TPL1与R像素数据线DL4之间存在短路；如果该列显示的颜色仍为红色，第一触摸检测线TPL1与R像素数据线DL4之间不存在短路。依次类推，通过寻找整个液晶显示面板显示屏的红色画面上的黑色暗线，就可以找到哪一根第一触摸检测线与相邻的R像素数据线之间存在短路。

采用镭射切割的方式在短路处将二者分开，直至线缺陷消失，显示恢复正常。

第一触摸检测线自身断路的检测方法，以第一触摸检测线TPL1是否断路为例进行说明：

公共电极电压为0，给G像素数据线DL2上施加高电压Va，使第一薄膜晶体管207、第三薄膜晶体管208、第二薄膜晶体管209处于导通状态，使第四薄膜晶体管207-1、第五薄膜晶体管208-1处于断开状态，使B像素数据线、R像素数据线处于低电位，在其他的实施例中，也可以没有第四薄膜晶体管207-1、第五薄膜晶体管208-1，通过数据线短路棒给B像素数据线、R像素数据线低电压，使其处于低电位；此时，整个液晶显示面板的显示屏呈现红色和蓝色的混合色，然后给电压输入线206施加高电压Va，如果显示面板显示黑色画面，则说明第一触摸检测线不存在断路，如果在某一列出现蓝色红色的混合色亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

在其他具体实施例中，也可以再增加一根控制线，单独控制第三薄膜晶体管的开关，那么，在检测第一触摸检测线是否断路时，可以使第三薄膜晶体管处于关闭状态，第一薄膜晶体管处于导通状态，在R像素数据线和B像素数据线上施加高电压，通过液晶显示面板的显示屏上的画面是否出现蓝色亮线来判定哪一根第一触摸检测线出断路；或者，在检测第一触摸检测线是否断路时，可以使第一薄膜晶体管处于关闭状态，第三薄膜晶体管处于导通状态，在G像素数据线和B像素数据线上施加高电压，通过显示面板显示屏上的画面是否出现红色亮线来判定哪一根第一触摸检测线出断路。

本发明检测方法的其他实施例中，也可以不包括第四薄膜晶体管207-1和第一数据线开关控制线204-1，将数据线短路棒203直接与B像素数据线DL3、DL6……电连接，由数据线短路棒203直接给B像素数据线DL3、DL6……提供电压，通过给数据线短路203提供电压或不提供电压，来完成测试，同样可以达到本发明的目的。

在本发明检测方法的其他实施例中，也可以不包括第二薄膜晶体管209和电压输入开关控制线205，将电压输入线206直接与第一触摸检测线TPL1、TPL2……电连接，需要使第一触摸检测线TPL1、TPL2……处于高电位或低电位时，直接通过给电压输入线206施加不同的电压，同样可以达到本发明的目的。

在本发明检测方法的其他实施例中，也可以不包括第五薄膜晶体管208-1和第二数据线开关控制线201-1，将数据线短路棒201直接与R像素数据线DL1、DL4……电连接，需要使R像素数据线DL1、DL4……处于高电位或低电位时，通过给数据线短路201施加不同的电压，同样可以达到本发明的目的。

以上所述的测试方法，在常白模式下进行，当然，本领域的技术人员可以理解，该测试方法同样可以在常黑模式下进行，不同的是在常黑模式下进行检测时，显示屏上显示的色彩与常白模式下显示的色彩相对。

以上所述的图2显示的具体实施例、图4显示的具体实施例，第一触摸检测线位于R像素数据线和B像素数据线之间；本领域的技术人员根据本领域常识可以理解，第一触摸检测线也可以位于R像素数据线和G像素数据线之间，或者位于G像素数据线和B像素数据线之间，对应的测试结构相应的做调整，对第一触摸检测线短路、断路的测试原理不变，只需相应的做调整即可达到测试的目的。

以上所述仅为本发明的具体实施例，为了使本领域技术人员更好的理解本发明的精神，然而本发明的保护范围并不以该具体实施例的具体描述为限定范围，任何本领域的技术人员在不脱离本发明精神的范围内，可以对本发明的具体实施例做修改，而不脱离本发明的保护范围。

Claims (20)

1.一种具有触控功能的显示面板，包括：

形成于薄膜晶体管基板上的多根数据线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根栅极线；

形成于薄膜晶体管基板上的多根第一触摸检测线，与所述数据线平行；

数据线短路棒，向数据线提供检测电压；

其特征在于，还包括第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：

第一薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；

所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管的开关；

所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述第一触摸检测线相邻的一数据线一端电连接。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括第二薄膜晶体管和电压输入开关控制线；

所述电压输入开关控制线控制第二薄膜晶体管的开关；

所述电压输入线通过第二薄膜晶体管与所述第一触摸检测线的一端电连接。

3.如权利要求1至2中任一项所述的显示面板，其特征在于，还包括：第三薄膜晶体管；

所述检测开关控制线控制第三薄膜晶体管的开关；

所述第三薄膜晶体管的源极与所述第一薄膜晶体管的源极电连接，第三薄膜晶体管的漏极与第一触摸检测线相邻的另一数据线的一端电连接。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接。

5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第四薄膜晶体管的漏极电连接同一数据线短路棒。

6.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，还包括：第五薄膜晶体管以及第二数据线开关控制线；

所述第二数据线开关控制线控制所述第五薄膜晶体管的开关；

所述第五薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的另一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接。

7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于所述第五薄膜晶体管的漏极电连接同一数据线短路棒。

8.如权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，与所述第一触摸检测线相邻的一数据线为B像素数据线，相邻的另一数据线为R像素数据线。

9.如权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，与所述第一触摸检测线相邻的一数据线为G像素数据线，相邻的另一数据线为B像素数据线。

10.如权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，与所述第一触摸检测线相邻的一数据线为R像素数据线，相邻的另一数据线为G像素数据线。

11.一种如权利要求1所述的具有触控功能的显示面板的检测方法，其特征在于，包括：使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线，则对应位置的数据线存在线缺陷，修复该线缺陷；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位，其他数据线处于高电位；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，则对应位置的第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在短路。

12.如权利要求11所述的检测方法，其特征在于，还包括：修复第一触摸检测线与相邻的数据线之间存在的短路；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

13.如权利要求11或12所述的检测方法，其特征在于，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第二薄膜晶体管和电压输入开关控制线；

所述电压输入开关控制线控制第二薄膜晶体管的开关；

所述电压输入线通过第二薄膜晶体管与所述第一触摸检测线的一端电连接；

该方法还包括：在给所述电压输入线一高电压时，同时给所述电压输入开关控制线一高电压，使所述第二薄膜晶体管导通，所述电压输入线上的高电压通过第二薄膜晶体管传输给所述第一触摸检测线。

14.如权利要求13所述的检测方法，其特征在于，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该相邻的数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管与其连接的一数据线处于低电位包括：给所述第一数据线开关控制线一低电压，使第四薄膜晶体管断开，使与所述第一触摸检测线相邻的一数据线处于低电位。

15.如权利要求11或12所述的检测方法，其特征在于，所述公共电极的电压为0，所述低电位为-10V，所述高电位为15V，所述高电压为15V。

16.一种具有触控功能的显示面板的检测方法，该显示面板包括，第一触摸检测线测试结构，该第一触摸检测线测试结构包括：

第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管，检测开关控制线，以及电压输入线；

所述检测开关控制线控制第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管的开关；

所述第一触摸检测线的一端与所述电压输入线电连接，另一端分别与所述第一薄膜晶体管的源极和所述第三薄膜晶体管的源极电连接、第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管的漏极与分别与所述第一触摸检测线相邻的两数据线电连接；

其特征在于，该方法包括：使显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极处于0电位；

使所有的数据线处于高电位，如果显示屏上出现亮线，则对应位置的数据线存在线缺陷，修复该线缺陷；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位，不相邻的数据线处于高电位；

使所述检测开关控制线处于低电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于断开状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线或暗线，则对应位置的第一触摸检测线与其相邻的数据线之间存在短路。

17.如权利要求16所述的方法，其特征在于，还包括：修复第一触摸检测线与相邻的两数据线之间存在的短路；

使所述检测开关控制线处于高电位，使第一薄膜晶体管、第三薄膜晶体管处于导通状态；

给所述电压输入线一高电压，并将该高电压传输给第一触摸检测线，如果所述显示面板显示屏上呈现的画面上出现亮线，则对应位置的第一触摸检测线存在断路。

18.如权利要求16或17所述的方法，其特征在于，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第四薄膜晶体管、第一数据线开关控制线；

所述第一数据线开关控制线控制第四薄膜晶体管的开关；

所述第四薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位包括：给所述第一数据线开关控制线一低电压，使第四薄膜晶体管断开，使与所述第一触摸检测线相邻通过第一薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位。

19.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述第一触摸检测线测试结构还包括：第五薄膜晶体管、第二数据线开关控制线；

所述第二数据线开关控制线控制第五薄膜晶体管的开关；

所述第五薄膜晶体管的源极和漏极分别与所述第一触摸检测线相邻的另一数据线和该数据线对应的数据线短路棒电连接；

使与第一触摸检测线相邻并通过第一薄膜晶体管和第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位还包括：给所述第二数据线开关控制线一低电压，使第五薄膜晶体管断开，从而使与所述第一触摸检测线相邻并通过第三薄膜晶体管与其连接的数据线处于低电位。

20.如权利要求16或17所述的方法，其特征在于，所述公共电极的电压为0，所述低电位为-10V，所述高电位为15V，所述高电压为15V。

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