TW201121916A - Glass for diffusion layer in organic led element, and organic led element utilizing same - Google Patents
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Description
201121916 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種有機LED(Light Emitting Diode,發光 二極體)元件之散射層用玻璃、及使用其之有機LED元件。 【先前技術】 先刖’已知有為提高有機LED元件之光提取效率(Hght extraction efficiency) ’而於有機LED元件内設置散射層 (例如,參照專利文獻1)。 專利文獻1中所揭示之散射層係使散射材分散於基材中 而形成。作為基材,例示有不含鹼金屬之玻璃。 又’已知含有Ρζ〇5、BhO3及ZnO,且具有高折射率、低 溫軟化性及低熱膨脹率之光學玻璃(例如,參照專利文獻 2)。 先前技術文獻 專利文獻 專利文獻1 :國際公開第09/017035號說明書 專利文獻2:曰本專利第4059695號公報 【發明内容】 發明所欲解決之問題 然而’專利文獻1之表1 2中所揭示之散射層用玻璃含有 較多鉛(Pb3〇4)。因此,其無法滿足欲儘量減少鉛之使用量 之使用者之要求。 又,於專利文獻2中,並無用作有機lED元件之散射層 用玻璃之記載。此外,專利文獻2中所揭示之玻璃存在於 151592.doc 201121916 域為玻璃粉末時容易結晶化之問題。若結晶化,則光透 過率會降低,並且有損玻以面之平滑性,因此有導致有 機LED元件之電極間短路之虞。再者,於以下說明中,所 謂「結晶化」,係指炮燒為麵粉末時之結晶化。 本發明係鑒於上述課題而實施者,其目的在於提供一種 難以結晶化、且可滿足欲儘量減少心使用量之使用者之 要求的有機LEDit件之散射層用玻璃、及使用其之有機 LED元件。 解決問題之技術手段 為達到上述目的,本發明之有機㈣元件之散射層用 玻璃 以氧化物為基準之莫耳%表示, 含有 〇〜20。/。之 P2〇5、15〜60%之82〇3、Η〜28%之 Bi2〇3、 20〜50%之 ZnO ; ?2〇5之含量除以ZnO之含量所得之值未達〇 48 ; P2〇5與B2〇3之含量之總量為3〇〜60% ; 於Ρζ〇5與B2〇3之含量之總量超過50%時,p2〇5之含量為 10%以下;且 除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛(pb0或 Pb304)、Li20、Na20及 K20。 又’本發明之另一有機LED元件之散射層用玻璃 以氧化物為基準之莫耳%表示, 含有:0〜20% 之 P205 ’ 15 〜60% 之 B2〇3,1〇〜37% 之 Bi203,5〜50% 之 ZnO,0~20% 之 Si02,〇〜ι〇〇/0 之 Al2〇3, 151592.doc -4- 201121916 0〜5%之Zr02,0〜10%之Gd203,〇〜15%之Ti〇2,及辨計 0〜10%之 MgO、CaO、SrO及 BaO ; ?2〇5之含量除以ZnO之含量所得之值未達0.48 ; P2O5與B2O3之含量之總量為30〜60% ; 於P2〇5與ΙΟ;之含量之總量超過50%時,p2〇5之含 10%以下;且 除作為雜質而被含有以外,實質上不含雜(Pb〇或 Pb304)、Li20、Na20及 K20。 又,本發明之有機LED元件係 依序具有基板、散射層、第1電極、有機層及第2電極 者;且 上述散射層包含基材、及分散於上述基材中、且具有與 上述基材不同之折射率的1種以上之散射材; 上述基材包含一玻璃,該玻璃以氧化物為基準之莫耳% 表示’含有0〜20%之P2〇5、15〜60%之B2〇3、15〜28%之 Bi2〇3、20〜5 0%之ZnO ; P205之含量除以Zn0之含量所得之 值未達〇·48 ; ?2〇5與32〇3之含量之總量為3〇〜6〇()/。;於p2〇5 與B2〇3之含量之總量超過50%時,ΙΑ之含量為1〇%以 下’且除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛(Pb〇或 Pb3〇4)、Li2〇、Na20及 K20。 又’本發明之另一有機led元件係 依序具有基板、散射層、第丨電極、有機層及第2電極 者;且 上述散射層包含基材、及分散於上述基材中、且具有與 151592.doc 201121916 上述基材不同之折射率的1種以上之散射材; 上述基材以氧化物為基準之莫耳%表示,含有 :0〜20% 之 P205,15〜60% 之 B2〇3,1〇〜37%之則2〇3,5〜5〇% 之 ZnO,〇〜20% 之 Si02,〇〜1〇% 之 Al2〇3,〇〜5%之21>〇2, 〇〜10% 之 Gd203,0〜15% 之 Ti〇2,及總計 〇〜1〇%tMg〇、 CaO、SrO及BaO ; P2〇5之含量除以Zn〇之含量所得之值未 達0.48 ; P205與B2〇3之含量之總量為3〇〜6〇% ;於ρ2〇5與 B2〇3之含量之總量超過50%時’匕仏之含量為1〇%以下; 且除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛(pb〇或
Pb304)、Li20、Na20及 K20。 發明之效果 根據本發明,可提供一種難以結晶化、且可滿足欲儘量 減少鉛之使用量之使用者之要求的有機LED元件之散射層 用玻璃、及使用其之有機led元件。 【實施方式】 以下,參照圖式對用以實施本發明之形態進行說明。再 者,以下之實施形態係作為一例而表示者,於未脫離本發 明之目的之範圍内可進行各種變形而實施。 圖1係表示本發明之有機led元件之一例之剖面圖。 於圖1所示之例中,有機LED元件係底部發光型之有機 led元件’依序具有基板11()、散射層12〇、第1電極m 有機層140及第2電極150。第1電極130為透明電極(陽極), 具有用以將自有機層140所發出之光傳送至散射層12〇之透 明性《另一方面,第2電極15〇為反射電極(陰極),具有用 151592.doc -6- 201121916 以反射自有機層140所發出之光而使其返回至有機層14〇之 反射性。 再者,於圖1所示之例中’雖然係使第1電極i 3 〇為陽 極,使第2電極150為陰極,但亦可使第1電極13〇為陰極, 使第2電極150為陽極。 (基板) 基板110具有透光性。基板11 〇(以下,稱為「透光性基 板110」)係由對於可見光之透過率較高之材料所構成,例 如由玻璃或塑料所構成。 作為構成透光性基板110之玻璃,有鹼性玻璃、無鹼玻 璃及石英玻璃等。通常使用鈉鈣玻璃。通常之鈉鈣玻璃於 50〜300°C下之平均線性膨脹係數(以下,亦簡稱為「平均 線性膨脹係數」)為87xl〇-'t:左右,徐冷點為55(rc左右。 由於由此種鈉鈣玻璃所構成之透光性基板丨1〇若於55〇它以 上之溫度下進行熱處理則有變形之虞,因此較好的是於低 於550。(:之溫度下形成散射層120等。 於透光性基板11 〇由塑料基板構成之情形時,由於塑料 基板與玻璃基板相比耐濕性較低,因此亦可形成為具有阻 隔1·生之構成。例如,透光性基板丨i 〇亦可形成為於塑料基 板上之散射層120側之相反側進而形成有另一玻璃層之構 成。 一透光性基板110之厚度通常為〇·;! mm〜2 〇 mm。於作為透 光性基板110之玻璃基板較薄之情形時,有強度不足之 虞尤其好的是作為透光性基板110之玻璃基板之厚度為 151592.doc 201121916 0.5 mm~1.0 mm。 於透光性基板110上形成有散射層120。作為透光性基板 110之玻璃基板上之散射層形成面亦可為經二氧化石夕塗佈 等表面處理者。即,亦可於作為透光性基板n〇之玻璃基 板與散射層120之間形成有二氧化矽膜等保護層。 (第1電極) 為使有機層140中產生之光向外部出射,而要求第1電極 (陽極)130具有80%以上之透光性。又,為注入較多之電 洞,而要求功函數較高者。具體而言,可使ffiIT〇(Indium Tin Oxide,氧化銦錫)、Sn〇2、Zn〇、12〇(1域咖 Oxide氧化銦鋅)、AZO(ZnO-Al2〇3 :摻雜有紹之鋅氧化 物)、GZO(ZnO-Ga2〇3 :摻雜有鎵之鋅氧化物)、摻雜训之 Ti02、摻雜Ta之Ti02等材料。 第1電極130之厚度較好的是10〇 nm以上。若未達1〇〇 nm ’則電阻會升高。 第1電極130之折射率通常為丨.9〜2.2。為使作為第i電極 130之ITO之折射率降低,亦可增加IT〇之載體濃度。具體 而言,藉由增加ΙΤΟ之Sn濃度,可降低ΙΤ〇之折射率。然 而,若增加Sn濃度,則移動率及透過率會降低,因此必須 取得該等之平衡,規定Sn濃度。 再者,當然第1電極130既可為單層亦可為多層。 於第1電極130上形成有有機層140。 (有機層) 有機層140係具有發光功能之層,由電洞注入層、電洞 151592.doc 201121916 輸送層、發光層、電子輸送層及電子注入層所構成。 關於電洞注入層,為降低來自陽極之電洞注入障壁,而 要求游離電位之差較小者。來自電洞注入層中之電極界面 的電荷之注入效率的提高於降低元件之驅動電壓之同時, 提高電荷之注入效率。於高分子中係廣泛使用摻雜有聚苯 乙烯磺酸(PSS)之聚二氧乙基噻吩(PED〇T : PSS),於低分 子中係廣泛使用酞菁系之銅酞菁(Cupc)。 電洞輸送層發揮將自電洞注入層注入之電洞輸送至發光 層之作用。必須具有適當之游離電位與電洞移動率。電洞 輸送層具體而言可使用三苯基胺衍生物、N,N,_雙(1_萘基 N,N’_ 二苯基-1,1’-聯苯-M,-二胺(NPD)、N,N,-二苯基 _ N,N'-雙[N-苯基-N-(2-萘基)-4,-胺基聯苯_4_基]-u,-聯苯_ 4,4’-二胺(NPTE)、苯胺基)苯基]環己烷 (HTM2)及 Ν,Ν·-二苯基-N,N,-雙(3-曱苯基)-1,1,·二苯基_ 4’4'-二胺(TPD)等。電洞輸送層之厚度較好的是10 nm〜15〇 nm。厚度越薄越能夠實現低電壓化,但由於存在電極間短 路之問題’故尤其好的是1〇nm〜15〇nm。 發光層提供所注入之電子與電洞進行再結合之場所,且 使用發光效率較高之材料。若詳細地進行說明,則發光層 中所使用之發光主體材料及發光色素之掺雜材料發揮自陽 極及陰極所注入之電洞及電子之再結合中心之功能,又, 向發光層中之主體材料中摻雜發光色素可獲得較高之發光 效率’並且使發光波長轉換。要求該等具有用以注入電荷 之適當之能階、化學穩定性或耐熱性優異、及形成均質之 151592.doc -9- 201121916 非晶薄膜等。又’要求發光色之種類或色純度優異、或發 光效率較高。作為有機材料之發光材料有低分子系與高分 子系之材料。進而,根據發光機制,分為螢光材料、磷光 材料發光層具體而言可列舉三(8 -經基啥琳)叙錯合物 (Alq3)、雙(8-羥基)喹啉苯酚鋁(Alq,2〇ph) '雙(8羥基)喹 啉_2,5·二甲基苯酚鋁(BAlq)、單(2,2,6,6-四甲基_3,5_庚二 酮酸)鋰錯合物(Liq)、單(8_羥基喹啉)鈉錯合物(Naq)、單 (2,2,6,6-四甲基_3,5_庚二酮酸)鋰錯合物、單(2,2,6,6•四曱 基-3,5-庚二酮酸)鈉錯合物及雙(8_羥基喹啉)鈣錯合物 (Caq2)等喹啉衍生物之金屬錯合物,四笨基丁二烯 '苯基 奎叨啉(QD)、蒽、茈及蔻等螢光性物質。作為主體材料, 較好的是羥基喹啉錯合物,尤其好的是以8_羥喹啉及其衍 生物作為配位基之銘錯合物。 電子輸送層發揮輸送自電極所注入之電子之作用。電子 輸达層具體而言可使用羥喹啉鋁錯合物(Alq3)、嘮二唑衍 生物(例如,2,5-雙(1-萘基H,3,4_噚二唑_〇)及2_(4_第三 丁基苯基)-5-(4-聯苯)-^4-噚二唑(pBD)等)、三唑衍生 物、4,7-二苯基-ΐ,ι〇_啡啉衍生物、矽羅衍生物等。 電子注入層需要提高電子之注入效率者。電子注入層具 體而言係於陰極界面甲設置摻雜有鋰(Li)、鉋(cs)等鹼金 屬之層。 有機層140之折射率通常為17〜18。 於有機層140上形成有第2電極15〇。 (第2電極) 151592.doc -10- 201121916 第2電極(陰極)15〇由於要求具有反射性,故使用功函數 較小之金屬或其合金。第2電極150具體而言可列舉鹼金 屬、鹼土金屬及週期表第3族之金屬等。其中,铭(Ai)、鎂 (Mg)、銀(Ag)或該等之合金等由於係價格低且化學穩定性 良好之材料’因此可較好地使用。又,可使用Ai、Mg、 Ag之共蒸鍍膜、於LiF或Li20之薄膜蒸鍍膜上蒸鍍Ai而成 之積層電極等。又,於高分子系中,可使用鈣(Ca)或鋇 (Ba)與鋁(A1)之積層等。 (散射層) 散射層120設置於透光性基板11 〇與第!電極13〇之間。 於不經由散射層120而於透光性基板11〇上形成第1電極 130之情形時,通常,透光性基板11〇之折射率低於第j電 極130,因此根據斯奈爾定律,欲以較小之角度射入透光 性基板110之光會被全反射至有機層140側。經全反射之光 由作為第2電極1 5 0之反射電極再次反射,而再次到達透光 性基板110。此時,由於對透光性基板丨丨〇之再入射角度未 發生變化,因此光無法提取至有機led元件之外部。 相對於此,於本實施形態中,由於在透光性基板丨1〇與 第1電極130之間設置有散射層120,因此可改變對透光性 基板110之再入射角度,可提高有機LED元件之光提取效 率 〇 散射層120如圖1所示,係於基材121中分散有具有與美 材12 1不同之折射率的1種以上之散射材122者。 較好的是基材121之折射率與第丨電極13〇之折射率相等 151592.doc π 201121916 或尚於第1電極130。其原因在於,於基材121之折射率較 低之情形時’於散射層12〇與第!電極13〇之界面,會由於 因全反射所產生之損耗而使光提取效率降低。基材121之 折射率只要至少於有機層14〇之發光光譜範圍之一部分中 (例如,紅、藍、綠等)高於第丨電極13〇即可,較好的是遍 及發光光s普範圍整個區域(43〇 nm〜650 nm)高於第1電極 130,更好的是遍及可見光之波長範圍整個區域㈠ nm〜830 nm)高於第!電極13〇β再者,以下只要未作特別說 明,則所謂「折射率」,係指以^燈0射線(波長:587 6 nm)於25°C下所測定之折射率。 基材1 2 1與散射材122之折射率之差較好的是至少於發光 層之發光光譜範圍之一部分中為〇.〇5以上。為獲得充分之 散射特性,更好的是折射率之差遍及發光光譜範圍整個區 域(430 nm〜650 nm)或可見光之波長範圍整個區域(36〇 nm〜830 nm)為 0.05以上 ° 散射材122於散射層120中所占比例較好的是卜85體積 %。其原因在於,若未達丨體積%,則無法獲得 效果,且光提取效率之提高效果亦不明顯。更好的是2〇體 積%以上。另-方面,若多於85體積%,則有光提取效率 下降之虞。更好的是80體積%以下。進而較好的是3〇體積 %以下。 此處,所謂散射材122於散射層12〇中所占之比例,於散 射層120中分散有複數種散射材之情形時,係指所有散射 材之比例之總計。 151592.doc 12 201121916 散射材122之形狀並無特別限制,於散射材122為球形之 情形時’較好的是其直徑之平均值為〇卜丨〇 μιη。若小於 0.1 μηι,則無法充分地發揮光散射材之功能。另一方面, 若大於10 μηι ’則變得難以均質地存在於散射層ι2〇整體 中,且光提取效率產生偏差。又,於散射材122之數量相 對減少之部分,散射性會降低。又,變得無法獲得塗佈煅 燒膜之表面平滑性。更為理想的散射材122是最大長度為 1 0 μιη以上者之比例為丨5體積%以下。進而較理想的是! 〇 體積%以下。 於散射層120上形成有第!電極13〇。散射層12〇上之第j 電極形成面之表面粗糙度以較好的是3〇 nm以下,更好的 是1〇 nm以下’尤其好的是Inm以下。若超過30 nm,則有 損及第1電極130或有機層14〇之平滑性、且於第i電極13〇 與第2電極15〇之間有發生短路之虞。此處,所謂表面粗糖 度“,係指微觀觀察之表面粗糙度,係將jis b 〇6〇卜2〇〇1 中所規疋之輪廓曲線遽光片之長波長臨界值^設為W㈣ 所仔之值,例如用原子力顯微鏡(AFM,Atomic Force Microscopy)等所測定者。 、為提高平坦性’散射層12吐之第i電極形成面亦可為經 (散射層之散射材) 作為散射材122,可使用氣泡、具有與基材i2i不同之折 所::^才料之粒子。此處,所謂粒子係指較小之固體物 貝’例如有玻璃或其他陶£。又,所謂氣泡,係指空氣或 151592.doc 201121916 氣體之物體。再者,於散射材122為氣泡之情形時,散射 材122之直徑係指空隙之長度。 (散射層之基材) 作為基材121,可使用玻璃。由於基材121係由玻璃所構 成,因此可提高散射層120之散射特性,並且可維持散射 層120之表面之平滑性與透明性。 基材121所使用之玻璃(以下,稱為「基材玻璃」)以氧 化物為基準之莫耳%表示,含有:〇〜2〇%之卩2〇5,15〜60% 之 B203,10〜37%之 Bi203,5〜50%之 ZnO,〇〜20%之 Si02, 0〜10% 之 Al2〇3,〇〜5。/〇 之 Zr02,0〜10% 之 Gd203,〇〜15% 之 Ti02,及總計〇〜1〇%之Mg〇、CaO、SrO及BaO ;卩2〇5之含 量除以ZnO之含量所得之值未達〇 48 ; ?2〇5與b2〇3之含量 之總:!:為3 0〜60%,於P2〇5與1〇3之含量之總量超過5〇〇/〇 時,?2〇5之含量為10%以下;且除作為雜質而被含有以 外’貫質上不含錯(Pbo或Pb3〇4)、Li2〇、Na20及K20。 其次,對該基材玻璃之玻璃組成進行說明。再者,單位 %係指莫耳%。 Βΐ2〇3係提高折射率且降低黏性之成分,於含量未達1〇% 時,散射層120之折射率會過於降低。另一方面,於Bi2〇3 含量超過37%時,平均線性膨脹係數會過於增大,並且於 舞X粍步驟中易結晶化。則2〇3含量較好的是】5〜28%。 B2〇3係成為玻璃之骨架之成分,於含量未達15¾時,於 玻璃成幵y時易失透,且於粉末化後之煅燒時變得易結晶 化。於B2〇3含量超過6〇%時,耐水性會降低。 151592.doc •14- 201121916
ZnO係使玻璃穩定化之成分,於含量未達5%時,於玻璃 成形時變得易失透,並且玻璃轉移點增高,無法獲得粉末 锻燒膜之平滑性。又,折射率會降低而欠佳。於Zn〇含量 超過50 /。時,平均線性膨脹係數會增大,並且於玻璃成形 時變得易失透。有耐候性降低之虞。Zn〇含量較好的是 20〜50%。 si〇2係提高玻璃之敎性、並且減小平均祕膨服係數 之任意成分。Si〇2含量較好的是0〜20%。若超過2〇%則 有折射率過於降低之虞。
Ah〇3係提高玻璃之穩定性之任意成分。Al2〇3之含量較 好的是0〜10%。若超過1〇%,則有液相溫度上升、且產生 失透之虞。 P2〇5係成為玻璃之骨架之成分,且係提高耐酸性之任意 成分。P2〇5含量較好的是〇〜20%。於超過20%時,於玻璃 成形時易失透’且於粉末化後之锻燒時變得易結晶化。 又’折射率會降低。若P2〇5之含量為〇%,則尤其可抑㈣ 晶化’且可於更廣泛之溫度範圍内不伴隨結晶化而進行粉 末之炮燒’故較佳。再者’於期待耐酸 形時,更為理想的是一上,,而較理想的= 5 %以上。 心〇2係提高玻璃之耐候性之任意成分’ Zr〇2之含量較好 的是0〜5%。若超過5%,則有轡得县 j令支付易結晶化、並且玻璃轉 移點過於提高之虞。
Gd2〇3係-面將平均線性膨脹係數抑㈣較低—面提高 151592.doc •15- 201121916
折射率、"tf η X» A 並且抑制軟化點附近之結晶化之任意成分。 Gd2〇3 之令 | ” 3置季父好的是〇〜1〇%。若超過1〇0/〇,則有易結晶 匕且,螭轉移點與軟化點上升之虞。尤其是於欲兼具低 膨膳與w折射率之情形時,更為理想的是含有2%以上。 〇Τι〇2係並非必需但可提高折射率之成分,可最多含有 15%。然而,若過剩地含有,則有易結晶化 '且玻璃轉移 點與軟化點上升之虞。再者,亦可代替Tic>2(或除此以外) 而使用W〇3。丁i〇2與w〇3之含量之總量更為理想的 0〜120/〇 〇 鹼土金屬氧化物(Mg〇、Ca〇、Sr〇及Ba〇)係降低玻螭之 黏性之任意成分。鹼土金屬氧化物之含量較好的是 〇〜10%。若超過1〇%,則有平均線性膨脹係數增大、折射 率降低之虞。更好的是7%以下。 實質上不含Li2〇、Na2〇AK2〇。若含有該等驗金屬氧化 物,則有於熱處理步驟中其鹼性成分擴散之虞。而且,存 在其驗性成分對元件造成電性之不良影響之情形。 此處,所謂實質上不含,係指除作為雜質而被含有以 外’不積極地含有。 實質上不含PbO與Pb3〇4。 P2〇5之含量除以ZnO之含量所得之值未達〇 48。於〇 48 以上時,有變得易失透、且易結晶化之虞。又,於〇48以 上時,有折射率降低、且玻璃轉移點與軟化點上升之虞。 P2〇5與B2〇3之含量之總量為30〜60%。於未達3〇%時有 變得易失透、易結晶化、且損害穩定性之虞。另一方面, 151592.doc 16· 201121916 於超過60%時,有變得易失透、易結晶化、且折射率降低 之虞。此處’於P2〇5與B2〇3之含量之總量超過50%之情形 時,P2〇5之含量為1 〇%以下。於超過丨〇%時,變得易失 透’且易結晶化。 於不喪失發明之效果之範圍内,除上述成分以外,基材 玻璃亦可含有例如 Ge〇2、Nb2〇5、Y2〇3、Ce2〇3、CeC>2、
La2〇3、Te〇2、Sn0、Sn〇2、Sb2〇3、Ta2〇5等。然而,較好 的是該等之總計最多為5%。又,為調整色調’亦可含有 微篁之著色劑。作為著色劑,可使用過渡金屬氧化物、稀 土類金屬氧化物、金屬膠體等公知者。該等著色劑可單獨 或組合使用》 其次’對該基材玻璃之特性進行說明。 基材玻璃之折射率〜較好的是175以上,更好的是丨 以上,尤其好的是丨·85以上。若未達1.75,則於散射層12〇 與第1電極130之界面,由全反射所導致之損耗較大,光提 取效率易降低。 基材玻璃之玻璃軟化點丁3較好的是600〇c以下,更好的 是595°C以下,尤其好的是59(rc以下。 於透光性基板110由鈉鈣玻璃所構成之情形時,為抑制 透光性基板110之熱變开》,基材玻璃之玻璃轉移點較好 的是5〇〇t:以下,更好的是495t以下’尤其好的是485它以 下。 化波峰溫度 尤其好的是 就抑制結晶化之觀點而言,基材玻璃之結晶 Tc較好的是600°C以上,更好的是65〇它以上, 151592.doc -17- 201121916 7〇〇°C以上。 就抑制結晶化之觀點而言,基材玻璃之結晶化波峰溫度 Tc與玻璃軟化溫度Ts之差(Tc_Ts)較好的是55°c以上,更好 的是70°C以上’尤其好的是90。(:以上。 於透光性基板110由鈉转玻璃所構成之情形時,為防止 納鈣玻璃之破損或翹曲,基材玻璃於50〜3001:下之平均線 性膨脹係數α較好的是6〇x1〇-7/〇C以上,更好的是65χ1〇_7/ °C以上。又,基材玻璃於50〜300t:T之平均線性膨脹係數 α較好的是i〇〇xi〇-7/〇c以下,更好的是9〇χ1〇·7Λ(:以下。 該基材玻璃可藉由如下方法獲得:稱取氧化物、磷酸 鹽、偏磷酸鹽、碳酸鹽、硝酸鹽、氫氧化物等原料,並將 其混合後,使用鉑等之坩堝於9〇〇〜14〇〇<t之溫度下熔解, 並冷卻。其後,視需要而存在進行徐冷而去除應變之情 形。藉由研缽、球磨機、喷射磨機等將所獲得之基材玻璃 料,並視需要進行㈣,藉此獲得基材玻璃之粉末。亦 可藉由界面活性劑或矽烷偶合劑使基材玻螭之粉末之表面 改質而使用。 、 (散射層之製造方法) 散射層⑽可藉由將玻璃粉末塗佈於透光性基板⑽上 並進行炮燒而製造。 (1)玻璃粉末 ㈣粉末係包含上述基材玻叙粉末者。就塗佈性 點而言’基材玻璃之粉末之粒徑較好的是H — 破璃之粉末之表面亦可為获出反 TT為藉由界面活性劑或矽烷偶合 I5I592.doc -18- 201121916 以改質者。 玻璃粉末除基材玻璃之粉太 k 相末以外’亦可包含具有較基材 玻璃更低之折射率之玻璃之粉末作為散射材。 就塗佈性之㈣而言,破㈣末較好的是製成與樹脂或 溶劑等混練而成之粉末漿料而塗佈於透光性基板職。 (2)粉末漿料 粉末聚料係利用行星式混合機等將玻璃粉末與媒劑混 合,並利用三輥研磨機等使其均勾地分散而獲得。為調整 ,度’亦可用混練機進_步進行混練。通常,以川〜⑼質 量%之玻璃粉末、20〜30質量%之媒劑之比例進行混合。 此處’所明媒劑,係指將樹脂、溶劑混合而成者,包含 進而混合有界面活性劑者。具體而言,於加熱至50〜8(rc 之浴劑中投人樹脂、界面活性劑等,其後靜置*小時至U 小時左右後,進行過濾而獲得。 樹脂係用以保形塗佈後之粉末漿料膜者。作為具體例, 可使用乙基纖維素、石肖化纖維素、丙稀酸系樹脂、乙酸乙 烯了酸祕脂、三聚氛胺樹脂、醇酸樹脂、松香樹脂 等。可用作主劑者有乙基纖維素與硝化纖維素。再者,丁 經樹脂、二聚氰胺樹脂、醇酸樹脂、松香樹脂係為提高塗 膜強度而添加使用者。煅燒時之脫脂溫度,乙基纖維:二 350〜400°C,硝化纖維素為2〇〇〜3〇〇〇c。 π 洛劑係用以溶解樹脂並且調整粉末漿料之黏度者。溶劑 車又好的疋於塗佈中不乾燥,而於乾燥中迅速地乾燥者,且 幸父好的是沸點為2〇〇〜23〇。〇者。作為具體例,有醚系溶劑 151592.doc •19. 201121916 (丁基卡必醇(BC)、丁基卡必醇乙酸酯(BCA)、二乙二醇二 正丁醚、二丙二醇丁醚、三丙二醇丁醚、丁基溶纖劑乙酸 酿)、醇系溶劑(α-松脂醇、松油、Dowanol)、δ旨系溶劑 (2,2,4-三曱基-1,3-戊二醇單異丁酸酯)、及鄰苯二甲酸酯系 溶劑(DBP(鄰笨二曱酸二丁酯)、DMP(鄰苯二曱酸二曱 醋)、DOP(鄰苯二曱酸二辛酯))。該等溶劑既可單獨使 用’亦可為調整黏度、固形物成分比、乾燥速度而組合使 用。主要使用α-松脂醇或2,2,4-三曱基-1,3-戊二醇單異丁 酸醋。再者’ DBP(鄰笨二曱酸二丁酯)、DMP(鄰苯二曱酸 二曱醋)、DOP(鄰苯二甲酸二辛酯)亦可發揮塑化劑之功 能0 (3)塗佈 作為將粉末漿料塗佈於透光性基板丨10上之方法,可使 用’周版印刷 '刮刀印刷、模塗印刷等。又,亦可將粉末漿 料塗佈於 P3ET(P〇lyethylene Terephthalate ,聚對苯二甲酸 酉曰)膜專上進行乾燥而製成生片’將生片熱壓接合於 透光性基板110上。 ;吏用’·周版印刷之情形時,可藉由調節網版之網眼粗链 度礼劑之厚度、印刷時之壓力、刮刀壓入量等,而控制 k佈後之粉末漿料膜之膜厚。 ;吏用到刀印刷、模塗印刷之情形時,與使用網版印刷 月形相比,可使塗佈後之粉末漿料膜之膜厚較厚。 1者亦可藉由反覆進行塗佈、乾燥,而使粉末衆料膜 151592.doc •20· 201121916 (4)烺燒 對塗佈於透光性基板11 0上之粉末漿料進行煅燒。煅燒 包括.脫脂處理,其使粉末聚料中之樹脂分解、消失;及 煅燒處理,其使脫脂處理後之粉末漿料燒結、軟化。脫脂 皿度’乙基纖維素為35〇〜4〇〇〇c ,硝化纖維素為 200〜300 C,於大氣氣氛中加熱30分鐘至1小時。若以基材 玻璃之玻璃軟化點丁5作為基準,則煅燒溫度(煅燒處理溫 度)係設定於-4〇t〜+30。〇之範圍内,或若以基材玻璃之玻 璃轉移點Tg作為基準,則煅燒溫度(煅燒處理溫度)係設定 於+50 C〜+120 C之範圍内。煅燒後,藉由冷卻至室溫而於 透光性基板11 〇上形成散射層〖2〇。 藉由調節烺燒溫度或煅燒氣氛、玻璃粉末之粒度分佈 等,可調節殘留於散射層120内部之氣泡的形狀、大小。 再者’於代替氣泡(或除氣泡以外)而使用具有與基材 121不同之折射率之材料之粒子作為散射材丨22之情形時, 將該材料之粒子混合於玻璃粉末中而塗佈於透光性基板 110上並進行煅燒。 實施例 以下,藉由實施例更具體地說明本發明,但本發明並不 限定於以下實施例。 (實驗1) 關於例1〜例4 4,為獲得表1〜表6中之組成之玻璃,而稱 取總 §十 200 g 之 H3BO3、ZnO、、τί〇2、W〇3、 Zn(P〇3)2、Li2C03、Na2C03、K2C〇3、MgO、CaC03、 151592.doc •21 · 201121916
SrC03、BaC03、Zr02、Gd203、Si02、Al2〇3之各粉末原 料,將其混合後,使用鉑坩堝,例1〜例25係於l〇5〇t下, 例26〜例44係於1250。(:下熔解1小時,繼而例1〜例25係於 950°C下,例26〜例44係於1100°C下熔解1小時,使該熔融 液之一半流入碳模板中而獲得塊狀之玻璃,使剩餘之熔融 液流入雙輥之間隙並進行急冷而獲得片狀之玻璃。又,藉 由將塊狀玻璃置於500°C之電爐内,並以每1小時l〇(TC之 速度使溫度下降至室溫,而去除應變。 此處’例1〜例22及例26〜例44為實施例,例23〜例25為比 較例。 關於所獲得之玻璃,藉由以下測定法測定塊狀製作時有 無失透、片狀製作時有無失透、粉末煅燒時有無結晶化、 折射率nd、玻璃轉移點Tg(單位:。〇、於50〜3〇〇°C下之平 均線性膨脹係數α(單位:1 )、玻璃軟化點ts(單位: C )、結晶化波峰溫度tc(單位:。〇)及結晶化波峰溫度之波 峰高度(單位:μν)。 1.塊狀製作時之失透: 使玻璃流入碳模板中,將直至固化為止之過程中,藉由 目測於玻璃㈣無法確認結晶析出或分相者設為〇,將_ 部分中可確認結晶析出或分相者設為△,將整體產生結 析出或分相者設為X。 2.片狀製作時之失透: 使玻璃流入雙輥之間隙並 測於玻璃内部無法確認結晶 進行急冷並固化後,將藉由目 析出或分相者設為〇,將—部 151592.doc •22- 201121916 分中可確認結晶析出或分相者設為X β 3.折射率nd : 對塊狀玻璃進行研磨後,藉由Kalnew公司製造之精密折 射計KPR-2000,使用V形塊法,以測定波長587 6 於 25°C下進行測定。 4·玻璃轉移點Tg(單位:。〇: 將塊狀玻璃加工為直徑5 mm、長度2〇〇 mm之圓桿狀 後,藉由Bruker AXS公司製造之熱膨脹計TD5〇〇〇SA,將 升溫速度設為5 °C / m i η而進行測定。 5 ·於50〜300 C下之平均線性膨脹係數α(單位:1 〇·7/。^ ): 將塊狀玻璃加工為直徑5 mm長度2〇〇 mm之圓桿狀後, 藉由Bruker AXS公司製造之熱膨脹計丁〇5〇〇〇8八,將升溫 速度設為5°C/min而進行測定。將5{^c下之玻璃棒之長度設 為Lw ’將300°C下之玻璃棒之長度設為L3q。時,於 50°C〜30(TC下之平均線性膨脹係數α係根據a={(L3Q()/L5。)-1}/(300-50)而求出。 6. 玻璃軟化點Ts(單位:。〇: 將片狀玻璃以瑪瑙研缽粉碎後,篩分為粒逕自74 4爪至 106 μηι為止之玻璃粉末,將其12〇 mg置於鉑盤中,並藉由 • SI1 Nanotechnol〇gy公司製造之熱TG/DTA EXSTAR6000, 將升溫速度設為⑺艺&匕而進行測定,將溫度較玻璃轉移 點Tg更高側所出現之伴隨軟化流動之DTA曲線之臨界點的 溫度設為玻璃軟化點Ts。 7. 結晶化波峰溫度Tc(單位:。〇: 151592.doc •23· 201121916 將片狀玻璃以瑪瑙研缽粉碎後,篩分為粒逕自74 μιη至 106 μηι為止之玻璃粉末,將其120 mg置於鉑盤中,並藉由 SII Nanotechnology 公司製造之熱 TG/DTA EXSTAR6000, 將升溫速度設為1 〇°C /min而進行測定,將伴隨結晶化之 DTA曲線之發熱波峰之溫度設為Tc。於無結晶化波峰或足 夠低而無法檢測時,記作「-」。 8. 結晶化波峰溫度之波峰高度(單位:μν): 將片狀玻璃以瑪瑙研缽粉碎後,筛分為粒逕自74 μιη至 106 μιη為止之玻璃粉末,將其120 mg置於鉑盤中,並藉由 SII Nanotechnology 公司製造之熱 TG/DTA EXSTAR6000, 將升溫速度設為1 〇°C /min而進行測定,讀取伴隨結晶化之 DTA曲線之發熱波峰之高度。於無結晶化波峰或足夠低而 無法檢測時,記作「-」。 9. 粉末煅燒時之結晶化: 將片狀玻璃以瑪瑙研缽粉碎後,筛分為粒逕自74 μιη至 106 μπι為止之玻璃粉末,將其120 mg置於鉑盤中,以升溫 速度10°C/min利用電爐自室溫加熱至600°C為止時,將藉由 目測於玻璃内部無法確認結晶析出者設為〇,將結晶析出 而變得不透明者設為x。 將結果示於表1〜表6。再者,於由於失透而無法製作用 以測定物性值之試樣時,記作「N/A」。 151592.doc -24· 201121916 [表i] 例1 例2 例3 例4 例5 例6 例7 6〇5(莫耳%) 17.0 17.7 18.1 15.9 7.4 11.4 12.2 B2〇3(莫耳 %) 16.2 16.9 17.3 21.9 25.8 20.2 30.6 ΖηΟ(莫耳%) 46.8 48.6 43.3 43.6 46.8 44.4 37.2 812〇3(莫耳%) 20.0 16.8 21.3 18.6 20.0 19.0 20.0 Ti〇2(莫耳 %) - _ • 5.0 _ W03(莫耳%) _ _ - _ Li2〇(莫耳 %) - - _ _ - _ Na20(莫耳 %) - _ _ _ _ - 一 心0(莫耳%) SrO(莫耳%) _ _ • _ - _ 83〇(莫耳%) Zr02(莫耳 %) _ _ - _ _ _ 灣 P205+B203(莫耳0/〇) 33.2 34.6 35.4 37.8 33.2 31.6 42.8 Ρ2〇5^ΐ%)/ΖηΟ(莫耳 %) 0.36 0.36 0.42 0.36 0.16 0.26 0.33 nd 1.89 1.85 1.89 1.87 1.93 1.93 1.88 Tgfc) 452 457 453 460 439 451 463 α(χ1〇·7/°〇 88 85 87 83 85 84 82 Ts(°C) 540 546 541 550 526 546 555 Tc(°C) . 637 619 651 _ • - Tc-Ts(°C) - 91 78 101 • _ Tc之波峰之高度(μν) _ 5 25 4 _ _ _ 塊狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 粉末煅燒時之結晶化 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 151592.doc -25 - 201121916 [表2] 例8 例9 例10 例11 例12 例13 例14 P2〇5(莫耳 %) 12.2 7.4 7.4 6.9 7.1 6.9 7.0 B2〇3(莫耳 %) 35.4 40.2 45.0 32.9 34.1 37.6 38.1 211〇(莫耳%) 32.4 32.4 27.6 34.6 35.8 30.3 30.7 Bi203(莫耳 %) 20.0 20.0 20.0 18.6 19.3 18.7 24.2 Ti02(莫耳 %) • _ _ _ - 6.5 - W03(莫耳%) _ - _ _ 3.7 • - Li20(莫耳 %) • _ _ _ • - _ 他20(莫耳%) — _ - _ _ _ κ2ο(莫耳%) _ - • _ - - • SrO(莫耳%) _ - _ 3.5 一 _ BaO(莫耳%) _ . _ 3.5 _ 乙1*02(莫耳%) _ . _ _ _ • P205+B203(莫耳 °/。) 47.6 47.6 52.4 39.8 41.2 44.5 45.1 ?2〇5(莫耳%)泛11〇(莫耳%) 0.38 0.23 0.27 0.20 0.20 0.23 0.23 na 1.86 1.89 1.87 1.88 1.90 1.92 1.93 Tg(°c) 469 466 472 452 456 474 456 a(xlO'7/°C) 83 81 78 89 82 78 90 TsfC) 559 556 563 545 547 567 545 Tc(°C) 650 - - 651 624 695 - Tc-Ts(°C) 91 - 106 77 128 Tc之波峰之高度(μν) 23 _ 2 23 7 • 塊狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 粉末煅燒時之結晶化 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 151592.doc -26- 201121916 [表3] 例15 例16 例17 例18 例19 例20 例21 Ρ2〇5(莫耳 %) 2.6 2.6 _ - - - _ Β2ο3(莫耳 %) 40.2 45 59.4 54.6 41.0 47.6 54.6 ΖηΟ(莫耳%) 37.2 32.4 20.5 25.4 39.0 25.4 28.9 Bi203(莫耳 %) 20.0 20.0 20.0 20.0 20.0 27.0 16.5 Ti〇2(莫耳 %) _ _ _ _ • _ _ \^03(莫耳%) . . _ _ • 1^20(莫耳%) - - - . _ _ Na20(莫耳 %) _ . • - _ - • 心0(莫耳%) _ - _ _ _ 已1:0(莫耳%) - - _ . - 83〇(莫耳%) • - . - _ Zr02(莫耳 %) _ . - _ - • - ?205+8203(莫耳%) 42.8 47.6 59.4 54.6 41.0 47.6 54.6 P2〇5(莫耳 %)/ZnO(莫耳 %) 0.07 0.08 0 0 0 0 0 nd 1.92 1.90 1.87 1.89 1.93 1.98 1.86 TgfC) 455 458 475 472 447 442 481 α(χ1〇·7/°〇 81 79 76 75 81 87 68 Ts(°C) 541 546 564 557 534 521 573 Tc(°C) - _ 762 _ _ Tc-Ts(°C) - - 198 - _ _ _ Tc之波峰之高度(μ\〇 - . 14 . _ _ 塊狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 粉末煅燒時之結晶化 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 151592.doc ·1Ί · 201121916 [表4]
例22 例23 例24 例25 P2〇5(莫耳 %) _ 30.0 26.6 13.2 8203(莫耳%) 46.2 - 6.6 39.2 211〇(莫耳%) 31.5 50.0 46.8 27.6 Bi203(莫耳 %) 19.4 20.0 20.0 20.0 Ti02(莫耳 %) _ _ . W03(莫耳%) _ _ • _ Li20(莫耳 %) - - - _ Na20(莫耳 %) _ _ • &〇(莫耳%) • - _ SrO(莫耳%) _ _ • _ BaO(莫耳%) _ _ • _ 21*02(莫耳%) 2.9 _ - p2o5+b2o3(莫耳 %) 46.2 30.0 33.2 52.4 P2〇5(莫耳 %)/ZnO(莫耳 %) 0 0.60 0.57 0.48 na 1.92 1.85 Ν/Α Ν/Α Tr(°C) 466 441 Ν/Α Ν/Α α(χ1〇·7/°〇 76 93 Ν/Α Ν/Α Ts(°C) 552 526 532 Ν/Α Tc(°C) • 580 582 Ν/Α Tc-TsfC) _ 54 50 Ν/Α Tc之波蜂之高度(μν) _ 295 89 Ν/Α 塊狀製作時之失透 〇 Δ X X 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 X 粉末煅燒時之結晶化 〇 X X X 151592.doc • 28 - 201121916 [表5] 例26 例27 例28 例29 例3〇 例31 例32 例33 例34 例35 匕〇5(莫耳%) • • • • • 4.5 _ 8203(莫耳%) 53.5 51.5 43.1 34.2 34.6 32 32 32 32.8 47.4 211〇(莫耳%) 15 8.6 7.4 13.7 6.3 12.8 12.8 12.8 13.1 36.9 Bi203(莫耳 %) 31.5 36.1 30.1 28.5 28.8 26.6 26.6 26.6 27.3 10.9 Ti02(莫耳 %) _ • • 14.5 8.6 4.1 4.1 4.1 4.2 • W03(莫耳%) • • Li20(莫耳 %) 灿20(莫耳%) • • κ2ο(莫耳%) _ Mg〇m*%) • CaO(莫耳%) 51〇(莫耳%) _ 83〇(莫耳%) 51〇2(莫耳%) 3.8 19.4 9.1 16.7 15.2 15.2 15.2 15.6 _ 八1203(莫耳%) • • _ • 5 4.8 4.8 4.8 4.9 4.8 Zr02(莫耳 °/。) • _ • _ 4.5 _ _ _ Gd203(莫耳 %) 4.5 2.1 • ?205+8203(莫耳%) 53.5 51.5 43.1 34.2 34.6 32 36.5 32 32.8 47.4 ?2〇5(莫耳%)/ 21!〇(莫耳%) 0 0 0 0 0 0 0.35 0 0 0 nd 1.99 2.03 1.95 2.04 2.00 1.98 1.93 】.98 1.98 1.81 Tg(°C) 439 434 450 459 460 465 467 475 465 494 α(χ10'7/°〇 87 90 84 86 82 80 83 61 81 65 Ts(°C) 514 511 592 541 549 558 565 571 557 592 Tc(°C) • • 629 643 Tc-Ts(°C) _ • 88 94 _ _ _ • Tc之波峰之高度(μν) 25 16 _ • • 塊狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 粉末煅燒時之結晶化 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 •29- 151592.doc 201121916 [表6] —----- 例36 例37 例38 例39 例40 例41 例42 ----- ------ _^[43 例44 P2〇5(莫耳知 2.4 B2〇3(莫耳。/Λ 32.7 30.2 34.6 45.2 45.2 45.2 45.2 -- ^4〇2 42 S 4.5 —- ZnO(莫耳。乂、 Bi203(莫耳 %、 Ti02(其耳 %、 W〇3(莫耳%、 37.7 13.1 12.1 13.8 30.6 30.6 30.6 30.6 27.2 25.1 28.7 15 15 15 15 11·/ 4.2 3.9 4.4 - • • - . • j · / Li20(莫耳。/〇、 • • • 等 Na20(莫耳忪 • • 峰 K20(莫耳。/«Λ - . MgO(莫耳%、 - 4.6 . CaO(莫耳 _ 4.6 SrO(莫耳%·) • • • 4.6 BaO(莫耳 • • _ _ 4.6 5必(莫耳%) 15.5 14.3 14 1 1 1 1 0.8 13.8 ai2o3(莫耳 — Zr02(莫耳 %) 4.9 4.5 3.6 3.6 3.6 3.6 3.2 4.3 _ . . . . Gd203(莫耳 %) 9.9 4.5 p2o5+b2o3(莫耳 %) 35.1 30.2 34.6 45.2 45.2 45.2 45.2 40.2 42.2 卩2〇5(莫 4%)/ZnO(莫耳。/〇) 0.18 0 0 0 0 0 0 0 0.38 nd 】.96 2.01 2.02 1.83 1.84 1.84 1,84 1.84 1.89 Tg(°C) 461 494 464 485 481 476 474 476 471 . 一 80 _ αίχ1〇·7/°〇 82 83 86 71 75 75 76 70 Ts(°C) 551 592 553 573 570 569 574 568 549 Tcft) 718 • - - ----- ----- 一 — Tc-TsCC) • 123 - • - - - Tc之波峰之高度(μ\〇 - 13 - - - - 塊狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 ---- 〇 片狀製作時之失透 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 粉末煅燒時之結晶化_ 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 由表1〜表6可知,例1〜例22及例26〜例44之玻璃實質上不 151592.doc •30- 201121916 含錯_或Pb3〇4)、Li2〇、Na2〇及Κ2〇,具有高折射率、 低溫軟化性及低熱膨脹率,且可抑制玻璃製料之失透或 粉末煅燒時之結晶化。又,由於例丨〜例u及例26〜例料之 玻璃之任一者之玻璃轉移點Tg均為50(TC以下,平均線性 為6〇xl(r7〜l_HrYc,因此可於_玻璃基板 上進行煅燒而形成散射層。 (實驗2) 其次,利用氧化鋁製之球磨機將例丨之組成之片狀玻璃 乾式粉碎2小時,而獲得玻璃粉末。玻璃粉末之質量平均 粒徑為3微米左右。將所獲得之玻璃粉末75 g與有機媒劑 (將10質量%之乙基纖維素溶解於α_松脂醇而成者)25 g混練 而製作玻璃漿料。將該玻璃漿料以煅燒後之厚度成為3〇 μηι之方式以9 cm見方之尺寸均勻地印刷於大小1〇 cmxl〇 cm、厚度0.55 mm之鈉鈣玻璃基板上之中央,將其s15〇〇c 下乾燥30分鐘後’暫且恢復至室溫,以3〇分鐘升溫至 450 C為止,於450 C下保持30分鐘,使有機媒劑之樹脂分 解、消失。其後’以7分鐘升溫至515°C為止,於515°C下 保持3 0分鐘’使玻璃粉末軟化。其後,以3小時降溫至室 溫’於鈉約玻璃基板上形成例1之組成之玻璃層。目測試 驗之結果為於鈉鈣玻璃基板與玻璃層之兩面未發現裂紋。 又’使用穿透式顯微鏡(Nikon公司製造之ECLIPSE ME600)觀察玻璃層之結果為於玻璃層中未發現結晶。 又,未發現成為有機LED之電極間短路之原因之局部凹 凸。 151592.doc -31 - 201121916 又,利用氧化鋁製之球磨機將例19之組成之片狀玻璃乾 式粉碎2小時,獲得玻璃粉末。玻璃粉末之質量平均粒徑 為3微米左右。將所獲得之玻璃粉末75 g與有機媒劑(將1〇 質量%之乙基纖維素溶解於α·松脂醇而成者)25 g混練而製 作玻璃漿料。將該玻璃漿料以煅燒後之厚度成為3〇 μιη之 方式以9 cm見方之尺寸均勻地印刷於大小1〇 cmxl〇 em、 厚度0.55 mm之鈉鈣玻璃基板上之中央。將其於15(Γ(:下乾 燥30分鐘後,暫且恢復至室溫,以3〇分鐘升溫至45〇。〇為 止,於45 0 C下保持30分鐘,使有機媒劑之樹脂分解、消 失。其後,以7分鐘升溫至52(rc為止,於52〇它下保持3〇 分鐘,使玻璃粉末軟化》其後,以3小時降溫至室溫,於 鈉鈣玻璃基板上形成例丨之組成之玻璃層。目測試驗之結 果為於鈉鈣玻璃基板與玻璃層之兩面未發現裂紋。又,使 用穿透式顯微鏡(Nikon公司製造之ECLIpSE ME6〇〇)觀察 玻璃層之結果為於玻璃層中未發現結晶。又,未發現成為 有機LED之電極間短路之原因之局部凹凸。 又,利用氧化鋁製之球磨機將例42之組成之片狀玻璃乾 式粉碎2小時,獲得玻璃粉末。玻璃粉末之質量平均粒徑 為3微米。將所獲得之玻璃粉末乃g與有機媒劑(將1〇質量 %之乙基纖維素溶解於α_松脂醇而成者)25 g混練而製作玻 璃漿料。將該玻璃漿料以煅燒後之厚度成為3〇 μηι之方式 以9 cm見方之尺寸均勻地印刷於大小⑺cmxi〇 cm、厚度 〇·55 mm之鈉鈣玻璃基板上之中央。將其於15〇。〇下乾燥% 分鐘後,暫且恢復至室溫’以3〇分鐘升溫至45〇t為止, I51592.doc •32· 201121916 於450°C下保持30分鐘,使有機媒劑之樹脂分解、消失。 其後,以分鐘升溫至545t為止,於545。〇下保持3〇分 鐘’使玻璃粉末軟化。錢,以3小時降溫至室溫,於鈉 , #玻璃基板上形㈣1之組成之破璃層。目測試驗之結果 為於納妈玻璃基板與玻璃層之兩面未發現裂紋或翹曲。 又,使用穿透式顯微鏡(Nikon公司製造之eclipse ME600)觀察玻璃層之結果為於玻璃層中未發現結晶。 如上所述,可知本實施形態之基材玻璃與鈉鈣玻璃其 之密接性良好,且亦不會產生裂紋或結晶化等問題,因此 適合用作有機LED元件之散射層。 已詳細地且參照特定之實施態樣對本發明進行了說明, 但業者應瞭解可於不脫離本發明之精神與範圍之情況下進 行各種變更或修正。 本申請案係基於2009年10月15曰申請之曰本專利申請案 2009-238676及2010年4月30日申請之日本專利申請案2二〇、_ 105715者’其内容作為參照而併入本文中。 產業上之可利用性 . 根據本發明,可提供-種難以結晶化、且可滿足欲儘量 • ❹錯之使料之使用者之要求的有機LED元件之散射層 用玻璃、及使用其之有機LED元件。 【圖式簡單說明】 圖1係表示本發明之有機LED元件之一例之剖面圖。 【主要元件符號說明】 110 基板 151592.doc -33- 201121916 120 散射層 121 基材 122 散射材 130 第1電極 140 有機層 150 第2電極 15I592.doc -34
Claims (1)
- 201121916 七、申請專利範圍: 1. 一種有機led元件之散射層用玻璃, 其以氧化物為基準之莫耳%表示, 含有 0〜20% 之 P205、15〜60% 之 B2〇3、15〜28〇/ Bi203、20〜50〇/〇之 ZnO ; ’ P2〇5之含量除以ZnO之含量所得之值未達〇 48 ; P2O5與B2O3之含量之總量為30〜60% ; 於?2〇5與B2〇3之含量之總量超過50%時,ρ2〇之人曰 為10%以下;且 除作為雜質而被含有以外,實質上不含錯(pb〇或 Pb304)、Li20、Na20及 K20。 2 _如請求項1之有機LED元件之散射層用玻璃,其中 以氧化物為基準之莫耳%表示, Ti02與W03之含量之總量為0〜12% ; Zr02之含量為〇〜5% ; MgO、CaO、SrO及BaO之含量之總量為〇〜1〇〇/〇。 3.如請求項1或2之有機LED元件之散射層用玻螭,其中以 取燈<^射線(波長:587.6 nm)於25t下測定之折射率為 ' 1.8 5以上。 ‘ 4.如請求項1至3中任一項之有機LED元件之散射層用破 璃’其中於50。〇300。(:下之平均線性膨脹係數為6〇χ1()·7 ΙΟΟχίΟ·7/。。。 5_如請求項1至4中任一項之有機LED元件之散射 9用破 璃,其中 151592.doc 201121916 以氧化物為基準之莫耳%表示, P2O5之含量為5〜20%。 6. 如請求項1至4中任一項之有機led元件之散射層用玻 璃,其+除作為雜質而被含有以外,冑質上不含⑽。 7. —種有機LED元件,其係依序具有基板、散射層、第工電 極、有機層及第2電極者;且 上述散射層包含基材、及分散於上述基材中且具有與 上述基材不同之折射率的丨種以上之散射材; 上述基材包含一玻璃,該玻璃以氧化物為基準之莫耳 %表示,含有0〜20%之P2〇5、15〜6〇%之匕〇3、15〜28%之 Bi2〇3、20〜50%之ZnO ; p2〇5之含量除以Zn〇之含量所得 之值未達0.48 ; P2〇5與BA3之含量之總量為3〇〜6〇% :於 P2〇5與B2〇3之含量之總量超過50%時,p2〇5i含量為 1 0%以下;且除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛 (PbO 或 Pb304)、Li20、Na2〇及 K20。 8. —種有機LED元件之散射層用玻璃, 其以氧化物為基準之莫耳%表示, 含有.0~20%之卩2〇5,15~60% 之 B2〇3,1〇〜37% 之 Bi203 ’ 5〜50% 之 ZnO,〇〜20% 之 Si02,〇〜10% 之 Al2〇3, 0〜5% 之 Zr02 ’ 0-10% 之Gd203 ’ 0〜15°/。之 ή〇2,及合計 0〜10%之 MgO、CaO、SrO及 BaO ; P2〇5之含量除以ZnO之含量所得之值未達〇 48 ; P2〇5與B203之含量之總量為30〜60% ; 於P2〇5與B2〇3之含量之總量超過50%時,p2〇5之含量 151592.doc 201121916 為10%以下;且 除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛(PbO或 Pb304)、Li20、Na20及 K2〇。 9. 如請求項8之有機LED元件之散射層用玻璃,其中 以氧化物為基準之莫耳%表示, P2〇5之含量為2〜20%。 10. 如請求項8或9之有機LED元件之散射層用玻璃,其中 以氧化物為基準之莫耳。/。表示, Gd203之含量為2〜10%。 Π . —種有機LED元件,其係依序具有基板、散射層、第1電 極、有機層及第2電極者;且 上述散射層包含基材、及分散於上述基材令且具有與 上述基材不同之折射率的1種以上之散射材; 上述基材以氧化物為基準之莫耳%表示,含有: 0〜20% 之 P2〇5,15〜60% 之 B2〇3,1〇〜37% 之 Bi203, 5~50%之 ZnO,0〜20% 之 Si02,〇〜1〇% 之 a1203,0〜5。/〇 之 Zr02 ’ 0-10% 之 Gd2〇3,〇〜15% 之 Ti〇2,及合計〇〜10% 之 MgO、CaO、SrO及Ba〇 ; P2〇5之含量除以Zn〇之含量所 得之值未達0.48 ; P2〇5與ία之含量之總量為3〇〜6〇0/〇 ; 於P2〇5與B2〇3之含量之總量超過50%時,p2〇5之含量為 10%以下,且除作為雜質而被含有以外,實質上不含鉛 (PbO 或 Pb304)、Li2〇、Na20及 K20。 151592.doc
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