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TW200823708A - Method for transferring self-assembled dummy pattern to substrate - Google Patents

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Publication number
TW200823708A
TW200823708A TW095149781A TW95149781A TW200823708A TW 200823708 A TW200823708 A TW 200823708A TW 095149781 A TW095149781 A TW 095149781A TW 95149781 A TW95149781 A TW 95149781A TW 200823708 A TW200823708 A TW 200823708A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layout
reduced
pattern
circuit
width
Prior art date
Application number
TW095149781A
Other languages
English (en)
Inventor
Jae-In Moon
Original Assignee
Hynix Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hynix Semiconductor Inc filed Critical Hynix Semiconductor Inc
Publication of TW200823708A publication Critical patent/TW200823708A/zh

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D89/00Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
    • H10D89/10Integrated device layouts
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B12/00Dynamic random access memory [DRAM] devices

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

200823708 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本申請書於2 0 0 6年1 1月2 4日主張韓國專利申請號 10-2006- 1 1 7 1 5 8的優先權,其在此可全面地參考於此中來 Λ 合倂。本發明係有關於傳送圖案於一基板,例如,一個半 , 導體基板。 【先前技術】 對於有高度整合的半導體裝置或者積體電路裝置來 ® 說,廣大硏究已被發展策劃以改善裝置特性並保證增加一 處理邊限。例如,如NAND型快閃記憶體裝置或動態隨機 存取記憶體(DRAM)裝置的半導體裝置已被開發增加記憶 體容量並降低構成此一裝置圖案之臨界尺寸(critical dimension, CD)。因此,要求在一微印刷術處理,一蝕刻 處理以及一化學機器硏磨(cΜP)針對在一晶圓裝置上圖案 的形成有著各式各樣的限制或問題。 例如,圖案缺陷可能由於在縮小圖案尺寸時,使用微 ® 印刷術而發生一曝光處理,這樣的圖案缺陷的例子爲;一 圖案橋,一圖案非理想連接的現象;或者一圖案變窄,一 圖案臨界尺寸被非理想縮小的現象,或者被非理想分開之 圖案。爲了克服關於該些過程之限制,各式各樣的方法已 經被提議。例如,針對改變或修改設計圖案佈局的方法, 以及針對把虛擬圖案插入一設計佈局中的方法,可作爲輔 助圖案。 此一虛擬圖案的形狀和功能取決於層的特性,其中該 200823708 層需要一半導體裝置的製造並應用該虛擬圖案。同樣地, 針對產生此一虛擬圖案並插入該產生的虛擬圖案的方法視 設計的電路佈局而定。奮在一晶圓上所形成的電路圖案是 一電晶體的閘極圖案時,該虛擬圖案可爲一閘極輔助圖案 A 的作用以輔助該閘極圖案之曝光與蝕刻。由於晶圓拓撲中 • 的差異,該虛擬圖案可甩來作爲一 C Μ P輔助虛擬圖案以在 一晶圓之不同部分之間將磨光率的差異減到最小。此外, 一虛擬圖案可被採用以克服於晶胞區與一周圍區之間的一 • 個圖案線寬差異,藉以於曝光與蝕刻處理斯間改善處理邊 限。 當在一晶圓上形成之電路圖案爲一電晶體之閘極圖案 時,一線形虛擬圖案可被插入以作爲一輔助圖案以改善該 閘極附近之處理邊限。同樣地,就一個記憶體裝置來說, 一^塊形虛擬圖案在一周圍區中之鬧極附近可被插入一個大 的空區中。然而’在虛擬圖案插入過程期間,於該虛擬圖 案和電路圖案之間(例如,在位元線或金屬相連層附近)有 ® 增加短路的可能性。因此,以自動方式執行該虛擬圖案的 插入是困難的。針對上述,在傳統的情況裡,該虛擬圖案 插入可以用手操作方式來完成。 針對一虛擬圖案之產生,一個支配虛擬產生圖解可被 考慮,在此圖解過程中,該虛擬圖案可依支配資料(包含尺 寸以及給定圖案的間隔)來產生該虛擬圖案的形狀和虛擬 圖案的尺寸。基於工作者決斷力之用手操作圖解也可被考 慮。在支配虛擬產生圖解方面,然而,關於曝光處理之參 200823708 數考量是很困難的’因此,在圖案或者圖案突然失敗之間 有一橋是高可能性的。此外,在外圍區的過程和設計裡, 關於一虛擬圖案的產生與插入可能有無法預測的因素,除 非曝光條件被考慮進來,這是由於2維圖案主要被配置在 外圍區內的緣故。 另一方面’在用手操作圖解中,針對虛擬圖案的插入 其可能#費一相對長的時間。例如,就頁面緩衝器電路配 置於一多層晶胞(MLC)類型之快閃記憶體裝置之外圍區內 來說,該頁面緩衝區有一大寬度約7 0 0 // m。此大區域將花 費相當多的時間來產生並插入虛擬圖案至整個區域。此 外,當虛擬圖案用手操作在此一大地區裡產生時,則人爲 錯誤的可能性會增加。因此,得到一種沒有缺陷的電路圖 案是困難的。 因此,一種新的虛擬圖案插入方法的開發正被要求以 能考慮曝光處理情況,並因此可安全穩定該曝光處理情 況,以及防止在虛擬圖案與電路圖案之間的短路。 【發明內容】 本發明之觀點爲一用以製造一半導體裝置的方法,該 方法包含:設計一初始電路怖局;得到一電路怖局的逆钸 局;縮小該逆佈局的尺寸’藉以得到一縮小的佈局;得到 一虛擬圖案佈局,該虛擬圖案佈局具有一個與該被縮小佈 局的外形相同的外形,與一給定線寬使得該虛擬圖案佈局 可自身組裝至電路佈局;結合該虛擬圖案佈局與電路佈 局;以及傳送該結合的佈局到一個半導體基板。 200823708 該方法可更進一步包含縮小逆佈局,其係藉由一比該 縮小佈局之縮小寬度還大的縮小寬度來縮小,藉以得到一 第二縮小佈局,得到一第二虛擬圖案佈局,該虛擬隱案佈 局具有一個與該第二縮小佈局的外形相同的外形,與一給 ^ 定線寬使得該第二虛擬圖案佈局可從該電路佈局被隔開, - 比該第一虛擬圖案進一步地是,並且結合該第二虛擬圖案 佈局與電路佈局。 該方法可更進一步包含傳送該被結合的佈局至一光罩 # 基板,藉以形成一光罩,並使用該光罩執行一曝光處理, 藉以傳送該被結合的佈局至半導體基板。 該光罩可包含一二元的光罩或一具有該結合佈局傳送 到該光罩的相移光罩。 在本發明的另一個觀點上,爲用以製造一半導體裝置 的方法,該方法包含設計一初始電路佈局;得到該電路佈 局之逆佈局;藉由一第一縮小寬度來縮小該逆佈局,藉以 得到一第一縮小佈局;藉由一第二縮小寬度來縮小該第一 • 縮小佈局,藉以得到一第二縮小佈局;從該第一縮小佈局 扣除該第二縮小佈局,藉以得到一自身組裝至電路佈局的 虛擬圖案钸局;結合該電路怖局與該虛擬圖案佈局;以及 傳送該結合的佈局至一半導體基板。 本發明的另一個觀點,爲用以製造一半導體裝置的方 法,該方法包含:設計一初始的電路佈局;設定曝光情況 而用以傳送該電路佈局;得到該電路佈局的逆佈局;在關 於X軸方向反射該曝光情況後,藉由設定一第一縮小寬度 200823708 於一 X軸方向中縮小該逆佈局,藉以得到一第一縮小佈 局;在關於Y軸方向反射該曝光情況後,藉由設定一第二 縮小寬度於一 Y軸方向中縮小該第一縮小佈局,藉以得到 一第二縮小佈局;藉由X軸方向中一第三縮小寬度與Y軸 A 方向中一第四縮小寬度來縮小該第二縮小佈局,藉以一第 - 三縮小佈局;從第二縮小佈局扣除該第三縮小佈局,藉以 得到自身組裝至電路佈局的一虛擬圖案;結合該虛擬圖案 與電路佈局;以及傳送該結合的佈局至一半導體基板。 Φ 在另一個實施例方面,針對傳送圖案到一基板的方法 包含設計電路佈局以傳送到基板;得到該電路佈局的逆佈 局;縮小該逆佈局尺寸,藉以得到一縮小佈局;得到'一虛 擬圖案佈局,該虛擬圖案佈局具有一對應於該縮小佈局之 外形的外形以及一給定線寬,使得該虛擬圖案佈局自身組 裝至該電路佈局;以及結合該虛擬圖案佈局與電路佈局。 該方法更進一步包含傳送電路層到基板。該方法更進一步 包含傳送該被結合的佈局到基板。 ® 在又一個實施例中,針對傳送圖案到一基板的方法包 含設計一具有一電路圖案的電路佈局,該電路圖案定義一 個打開區域;得到該電路怖局之逆佈局;藉由一第一縮小 寬度縮小該逆佈局,藉以得到一第一縮小佈局;由一第二 縮小寬度縮小該第一縮小佈局,藉以得到一第二縮小佈 局;從該第一縮小佈局扣除該第二縮小佈局,藉以得到一 自身組裝的虛擬圖案佈局;結合該虛擬圖案佈局與該電路 佈局,該虛擬圖案佈局由該電路圖案於一打開區域中被定 200823708 義;以及傳送該結合的佈局至一基板。該結合佈局被傳送 的基板是一半導體基板。該結合佈局被傳送的基板可爲一 光罩基板。 【實施方式】 A 在本發明之一實施例中,係提出一用以插入自身裝配 - 虛擬圖案於一電路圖案之佈局中的方法。該虛擬圖案之形 狀可基於初始佈局而被設定,使得該虛擬圖案可與初始佈 局排成直線。因此,可讚賞該虛擬圖案爲一自身組裝的虛 II 擬圖案。 在此使用時,該名詞”自身組裝虛擬圖案,,係參照一已 被使用一計算機實現的演算法所得到的虛擬圖案。該計計 算機實現的演算法可基於一個或更多個由一使用者基於曝 光情況設定的參數’使得此一情況能考慮到何時決定虛擬 圖案的形狀與插入位置。 由於虛擬圖案的排列與設定可基於該初始佈局來實 現’當設疋可被完成時,該曝光情況可考慮到該情況以設 ® 定虛擬圖案的形狀與插入位置。因此,自動修正圖案缺陷 是可能的,如圖案橋或圖案變窄,其可於曝光過程中產生, 根據應周曝光情祝以自動修正圖案缺陷。 由於該虛擬圖案可基於電路圖案佈局的形狀來設定, 故使用一個操作裝置如一電腦而自動產生虛擬圖案給有各 式各樣形狀(例如,位元線或金屬線層)的電路佈局並且插 入該產生的虛擬圖案於初始佈局中是可行的。因此,針對 具有複雜形狀的電路圖案而產生虛擬圖案是可行的。 -10- 200823708 因此’實現一曝光處理中解析度的改良並.於曝光處理 中保證一理想處理邊限是可行的,此係因爲插入該自身組 裝虛擬圖案至初始佈局中,並傳送該結合的圖案至一光罩 然後到一半導體基板是可行的。 ‘ " 參照第1圖所示,一電路圖案之佈局先被設計(步騾 - 1 〇) ’如第2圖所示,該初始電路佈局可爲於一 NAND型快 閃記憶體裝置之一頁面緩衝器區域2 1 0中針對位元線之一 電路佈局230,第2圖槪要說明一多重晶胞(MLC)型晶片結 •構中之一平面配置。 該頁面緩衝器區域2 1 0爲一頁面緩衝電路配置的區 域’該頁面緩衝電路可執行操作如讀取,寫入(或編製程 序)’以及消除形成於晶胞區域中記憶體晶胞之操作。在此 情況下’ 一 MLC型快閃記憶體裝置其中2位元或多位元之 資料可儲存於一個記憶體晶胞中,由於關於頁面緩衝電路 之複雜架構,因此該頁面緩衝區域2 1 0具有相對大的區域。 由於該頁面緩衝器區域2 1 0具有一 7 0 0 μ m或更大的大寬 ® 度’因此可能需要長時間(如4 8小時或更長)來手動操作虛 擬圖案的插入以達所需之最佳化曝光過程與蝕刻過程。 該插入虛擬圖案於頁靣緩衝器區域2 1 0中的方法與一 DR.AM裝置或與此類相似的裝置不同,因爲該頁面緩衝器 區域2 1 0的架構是互相不同的,此方法也與針對CMP處理 所需之虛擬圖案之使用方法不同。針對虛擬圖案的插入爲 了簡化並避免需要太多應用規則,可提出一個插入一虛擬 圖案於一初始電路佈局中而可用在一個以電腦爲基礎的計 -11- 200823708 算操作上的方法。 參照第3圖,其係顯示一實施於一半導體基板上而設 計的初始電路佈局300,第3圖之該初始電路佈局300可較 佳地包含位元線電路佈局,其構成一頁面緩衝器。如第3 • 圖所示,形成於鄰接位元線電路圖案3 0 1之間的空區域3 0 3 ' 具有各種不同形狀與尺寸,爲了改善曝光處理、蝕刻處理 之處理邊限,並圖案傳送之準確性,虛擬圖案可被插入至 這些空區域303中。爲了產生該虛擬圖案之佈局以插入該 ® 空區域3 0 3中,可使用該初始電路佈局3 0 〇的資料,同時, 在佈局插圖中,該電路圖案301延伸定義爲Y -軸之方向, 並且Y軸垂直方向定義爲X軸方向。 參照第4圖’一逆佈局400,其爲該初始電路佈局300 之逆影像然後被產生(第1圖中的步驟120),該逆佈局400 可由針對該初始電路佈局3 00之資料執行一以電腦爲基礎 之操作而產生,該逆佈局400爲該初始電路佈局300中之 空區域303之佈局。 W 一虛擬圖案佈局然後可藉由縮小該逆佈局400所產生 之圖案尺寸來產生,以致於該組成之逆佈局從該初始電路 佈局3 0 0 (第1圖中步騾1 3 0)具有一預定間隔,例如,該虛 擬圖案佈局可由逆佈局400縮小的尺寸來產生並移動縮小 尺寸佈局之重疊部分以產生二個具有不同尺寸的縮小佈 局。 參照第5圖,一第一縮小佈局4 1 0可由一第一縮小寬 度al之逆佈局400 (第4圖)之Y方向中縮小的尺寸來得到’ 200823708 在此情況下,整個逆佈局400之區域藉由該第一縮小寬度 a 1從頂端與底端轉移逆佈局400之圖案外形於γ方向中, 而在Y軸方向中縮小,在此情況下,該第一縮小寬度a 1可 由設計者來決定,例如,該第一縮小寬度a 1設定對應一最 Λ 小尺寸以允許於Υ軸方向中曝光處理之執行。 - 該第一縮小寬度a 1可被決定以考量丫軸方向之曝光解 析度,因此,該曝光情況可考量設定虛擬圖案之程序,此 可看出不僅其中一對稱照明系統如傳統照明系統可被用在 Φ 該曝光處理中的情況,而且其中一非對稱照明系統如一雙 極照明系統或一四極照明系統可被用在該曝光處理中的情 況。該雙極照明系統使用具光傳輸區域之虹彩於一個軸方 向中互相間隔隔開,例如,X軸方向,此情況下,由於原 始光的推論結論,故X軸方向中的解析度比Y軸方向中的 解析度還高。當該第一縮小寬度a 1設定在該虛擬圖案產生 程序中時,考量Y軸方向中的解析度,該曝光情況的影響 則可被考量在虛擬圖案的設定上。 ® 該第一縮小寬度al可設定以對應電路佈局300之電路 圖案3 0 1與該虛擬圖案之間的實際間隔,爲了改善該虛擬 圖案與電路圖案尺寸之一致性,該第一縮小寬度a 1可設定 以對應電路圖案3 0 1之線寬。 由於該第一縮小佈局4 1 0具有一尺寸可從γ軸方向之 該逆佈局4 0 0中縮小,其藉由該第一縮小寬度a 1從γ軸方 向之該些電路圖案3 0 1間隔隔開而具有外形,因此,該第 一縮小佈局4 1 0之Y軸外形取決於初始電路佈局300之γ 200823708 軸外形來定義電路佈局3 0 1。 爹照弟6圖,一弟一縮小佈局4 1 1可由—第二縮小寬 度b 1之該第一縮小佈局4 1 0的X方向縮小尺寸來得到,在 此情況下’第一縮小佈局4 1 0之整個區域可由該第二縮小 # 寬度b 1從X方向之左端與右端,由轉移第一縮小寬度佈局 • 4 1 0之圖案外形於X軸方向中縮小。 在此情況下,該第二縮小寬度b 1可由設計者決定,例 如’該弟一縮小寬度b 1可由對應一最小尺寸來設定,以允 €1 許於X軸方向中曝光處理的執行,該第二縮小寬度b 1可由 對應電路佈局300之電路圖案301與虛擬圖案之間實際間 隔來設定。爲了改善該虛擬圖案與電路圖案3 〇 i之尺寸的 一致性,該第二縮小寬度bl可由對應電路圖案301之線寬 來設定。同樣地可設定第一縮小寬度a 1,曝光情況可考量 到該第二縮小寬度b 1的設定,使得X軸方向中之解析度的 影響可被說明。 由於第二縮小佈局4 1 1具有一尺寸可從該第一縮小佈 Φ 局410於X軸方向中縮小,該第二縮小佈局411具有由Y 軸方向中該第一縮小寬度a 1與X.軸方向中該第二縮小寬度 bl從電路圖案301間隔隔開的外形,因此,該第二縮小怖 局4 1 1之Y軸與X軸之外形可視該初始電路佈局3 00之Y 軸與X軸之外形以及其電路圖案3 0 1,該第二縮小佈局4 1 1 定義一外形,其爲定義該虛擬圖案二個外形之一外形,並 可配置在相對於其它外形之電路圖案3 0 1附近。爲了定義 該虛擬圖案之其它外形,另一個具有外形之縮小佈局藉由 -14- 200823708 縮小第二縮小佈局4 1 1之尺寸而視該第二縮小佈 外形來得到。 參照第7圖所示,一第三縮小佈局4 2 0可由 小寬度a2縮小第二縮小佈局41 1(第6圖)之Y方 * 寸來得到,在此情況下,該第二縮小佈局4 1 1之 • 可由第三縮小寬度a2從Y方向中頂端與底端由轉 小佈局41 1之圖案外形於Y軸方向中來縮小,該 三縮小佈局4 2 0爲由 Y軸方向中” a 1 + a 2,,的寬度 # 400(第4圖)縮小的佈局,在此情況下,該第三縮 可由設計者決定。例如,第三縮小寬度a 3可由對 尺寸來設定,以允許Y軸方向中曝光處理之執行 該佈局整個區域之規則性或一致性時,該第三縮 可被設定爲與該第一縮小寬度a 1相等。 該第三縮小寬度a2可由考量Y軸方向中之曝 來決定,因此,曝光情況可被考量針對設定虛擬 序中,在此可看出不僅其中一對稱照明系統如傳 ® 統可被用在該曝光處理中的情況,而且其中一非 系統如一雙極照明系統或一四極照明系統可被用 處理中的情況。因此,曝光情沅之影響可被考量 案之設定中。該第三縮小寬度a2可由對應配置在 電路佈局300之電路圖案301之虛擬圖案的Y軸 定。爲了改善該虛擬圖案與電路圖案301之尺寸& 該第三縮小寬度a2可由對應該電路圖案301之 局411之 一第三縮 向中之尺 整個區域 移第二縮 得到的第 從逆佈局 小寬度a2 應一最小 。在考量 小寬度a2 光解析度 圖案之程 統照明系 對稱照明 在該曝光 於虛擬圖 鄰近初始 線寬來設 勺一致性, 線寬來設 200823708 由於該第三縮小佈局420具有一尺寸可於Y軸方向中 從該第二縮小佈局4 1 1縮小,其由第三縮小寬度a2於Υ軸 方向中從該些電路圖案301間隔隔開而具有外形,因此, 該第三縮小佈局420之Y軸外形可依該初始佈局300之Y 軸外形與其電路圖案3 0 1來決定。 參照第8圖所示,一第四縮小佈局421可於X軸方向 中藉由一第四縮小寬度b2由縮小第三縮小佈局420之X軸 尺寸來得到,在此情況下,該第三縮小佈局420之整個區 域可藉由第四縮小寬度b 2,從X方向中左端與右端由轉移 該第三縮小佈局420之圖案外形在X軸方向中縮小,在此 情況下,該第四縮小寬度b2可由設計者決定。例如,該第 四縮小寬度b2可由對應一最小尺寸來設定,以允許X軸方 向中曝光處理之執行。由於該第四縮小佈局 42 1可由對 應”bl+b2”之第四縮小寬度b2,而從該初始電路佈局300之 電路圖案3 0 1間隔隔開,其可定義虛擬圖案之其它外形, 亦即,該第四縮小佈局421爲於X軸方向中”bl+b2”之寬度 從逆佈局400(第4圖)縮小的佈局。 該第四縮小寬度b2可由對應X軸方向中虛擬圖案之線 寬來設定,爲了改善電路圖案301之尺寸的一致性,該第 四縮小寬度b2可由對應電路圖案301之線寬來設定,同樣 地可設定該第二縮小寬度b 1,該曝光情況可被考量於該第 四縮小寬度b 2之設定中,使得X軸方向中的解析度之影響 可被說明。 由於該第四縮小佈局42 1具有一尺寸可於X軸方向中 200823708 從該第三縮小佈局4 2 0縮小,其於γ軸方向中藉由 的寬度與於X軸方向中藉由” b 1 + b 2 ”的寬度從該幽 案3 0 1間隔隔開而具有外形,因此,該第四縮小佈 之Y軸與X軸外形可依照初始電路佈局3〇〇(即,電 " 3 0 1)之Y軸與X軸外形來設定,同時,該第一與第 - 寬度a 1與a 2可設定爲互相相同,同樣地,該第二 縮小寬度bl與b2可設定爲互相相同。 之後,一第一虛擬圖案之佈局可配置在最接近 ® 路佈局300之電路圖案301,針對第二與第四縮小伟 與421 (第1圖中之步驟130)使用資料來得到。 參照第9圖所示,一第一虛擬圖案之佈局5 i 〇 二縮小佈局4 1 1 (第6圖)由扣除第四縮小佈局4 2 1來 該第二縮小佈局4 1 1之外形定義該第一虛擬圖案佈 之一第一外形511,其配置接近該電路圖案301,該 小佈局42 1之外形定義相對於第一外形5 1 1之第一 案佈局5 1 0之第二外形5 1 3,因此,該第一虛擬圖案 • 具有一 X軸線寬b2,一 Y軸線寬a2,一 X軸間隔 及一 Y軸間隔a 1。由於此針對佈局4 1 1與4 2 1之資 標資料(或由演算法得到)5從第二縮小佈局4 1 1之第 佈局42 1之扣除可使用一電腦依照一布林邏輯運算ΐ 該第一虛擬圖案佈局5 1 0可以上述方式依照 4 00之外形以及向外擴展沿著電路圖案3 0 1之外 到,因此,消除或抑制第一虛擬圖案佈局5 1 0與初 佈局300中之電路圖案301之佈局之重疊是可行的 > a 1 + a 2 ” 電路圖 局421 路圖案 三縮小 與第四 初始電 i 局 4 1 1 可從第 得到, 局5 1 0 第四縮 虛擬圖 可設定 bl,以 料爲座 四縮小 枝完成。 逆佈局 形來得 始電路 。同樣 -17- 200823708 地’當該第一虛擬圖案佈局5 1 0被取出使得其反射於第一 虛擬圖案佈局5 1 0上時,曝光情況如照明系統情況可被用 在曝光處理中並且可考量X軸與γ軸解析度。因此,抑制 圖案缺陷是可行的,如圖案橋或圖案變窄,其可產生在曝 ‘光處理中並自動修正圖案佈局。 ♦ 在上述第一虛擬圖案佈局5 1 0之設定後,無論該結果 佈局是否具有一允許另一虛擬圖案產生第二空的或打開區 3 05,以及無論該第二打開區3 05是否具有足夠的尺寸以允 IP 許一第二虛擬圖案(第1圖中步驟140)的產生,其可被決 定。該結果佈局爲該初始電路佈局3 0 0與該第一虛擬圖案 佈局5 1 0之結合,若有足夠的空間,該第二虛擬圖案之佈 局可被產生,基於逆佈局4 0 0或初始電路佈局3 0 0可以相 同於上述方式來說明,在此情況下,該第二虛擬圖案佈局 之產生可以相同於上述參照第5到9圖之說明方式來實 行。當縮小寬度被設定爲二倍使用於上述說明情況之縮小 寬度時,其產生第二虛擬圖案佈局而沒有導致第二虛擬圖 # 案層以與該第一虛擬圖案佈局5 1 0重疊是可行的。 參照第1 0圖所不,一第五縮小佈局4 3 0可由縮小第4 圖中所示之逆佈局4 00 ’來產生,或由縮小各自的縮小佈局 410,411,420,以及421其中之一顯示於第5到8圖中來 產生。例如,該第五縮小佈局4 3 0可於Y軸方向藉由第三 縮小寬度a2與第五縮小寬度a3縮小第二縮小佈局4 11來 得到,其可看出該第五縮小佈局4 3 0爲一可依照一增加縮 小寬度比作該第二縮小佈局4 1 1之應用來縮小的佈局,若 -18- 200823708 假設該”al”,”a2”,與”a3”是相同的,並且在曝光處理中係 可得到最小暴露線寬,介於電路圖案3 0 1與第五縮小佈局 4 30之間由Y軸間隔爲三倍最小暴露線寬,同樣地,介於 第二縮小佈局4 1 1之外形與第五縮小佈局430之外形之間 一 由Y軸間隔爲二倍最小暴露線寬。 • 由於第五縮小佈局4 3 0可被設定,基於該第二縮小佈 局41 1,該第五縮小佈局430之外形可依照電路圖案301 之佈局來設定。因此,抑制或消除第五縮小佈局430與電 路圖案301或弟一虛擬圖案佈局510與圖案缺陷產生之重 疊是可行的’同樣地,因爲曝光情況或照明系統情況之曝 光處理中抑制圖案缺陷的產生是可行的,並且解析度可反 射在第五縮小寬度a3的設定上。 參照第1 1圖所示,一第六縮小佈局4 3 1可由第四縮小 寬度b2與一第六縮小寬度b3於X軸方向中藉由縮小第五 縮小佈局4 3 0之X軸尺寸來產生,在此情況下,該第六縮 小寬度b3可設定爲等於”bl”或”b2”。因此,該第六縮小佈 # 局43 1藉由二倍第二縮小寬度b 1而具有一大於該第五縮小 佈局430之X軸間隔’亦即,從電路圖案301之該第六縮 小佈局4 3 1之X軸間隔可對應三倍第二縮小寬度b 1。 參照第 12圖所示,一第七縮小佈局 440可 由”a2 + a3 + a4(a4 :第七縮小寬度)”之寬度來縮小第二縮小佈 局4 1 1 (第6圖)之Y方向中的尺寸而得到,此程序可以縮小 第7圖之第三縮小佈局42〇之說明而設定”a2”與” a 1”作爲該 第三縮小寬度的相同方式來實行,在此情況下,該第七縮 -19- 200823708 小佈局440可由應用一γ軸縮小寬度至該第三縮小佈局420 以對應初始應用至第三縮小佈局420之二倍Υ軸縮小寬度 而得到。 參照第 13圖所示,一第八縮小佈局 441可 ^ 由”b2 + b3 + b4(b4 :第八縮小寬度),,之寬度來縮小第七縮小佈 - 局440之X軸尺寸而得到,其可看出沒有X軸邊限允許產 生該第八縮小佈局4 4 1作爲一實質上的佈局。 參照第14圖所示,一第二虛擬圖案之佈局5 30其爲從 • 屬配置在初始電路佈局300中之該電路佈局301的佈局 上’其爲使用已得到的第六與第八佈局431與441 (重複第 1圖之”130”)之資料而得到,此程序可被重複直到一實質縮 小佈局不再產生爲止’如弟1 3圖中所產生之第八縮小佈局 4 4 1之情況一樣。由於該第八縮小佈局4 4 1不是真的產生, 該第二虛擬圖案佈局5 3 0爲一具有對應第六縮小佈局4 3 1 之一外形的佈局,如關於第二虛擬圖案佈局5 3 0之外形的. 資料可自動地由依據一電腦基本操作從該第八縮小佈局 ^ 4 4 1扣除該第六縮小佈局4 3 1來得到,如該第一虛擬圖案佈 局510之產生一樣。 因此5該第二虛擬圖案佈局5 3 0,以及更進一步的虛擬 圖案佈局可由多次執行一類似使用以產生該第一虛擬圖案 佈局5 1 0之演算法來得到,其中一個差異處爲可應用一增 加佈局縮小寬度。同樣地,該第二虛擬圖案佈局5 3 0,以及 更進一步的虛擬圖案佈局可由基於初始電路佈局3 〇 〇或逆 佈局4 0 0實行縮小或扣除一佈局來得到,因此,該第二虛 -20- 200823708 擬圖案佈局5 30之外形係取決於初始電路佈局3 00之外形。 再參照至第1圖,另一個虛擬圖案佈局的產生可重複 執行,只要該打開區(第9圖中之”3 05 ”)允許虛擬圖案被確 保產生,該虛擬圖案產生可自動地依據上述演算法用一電 ~ 腦基本資料操作來實現,而不用使用手動操作,因此,該 。 虛擬圖案產生的時間可大幅地降低。 參照第1 5圖所示,——結合電路佈局可由插入已得到的 第一與第二虛擬圖案佈局510與530(共同地參照爲一,,虛擬 ® 圖案佈局500”)至該初始電路佈局300中來得到,並且因 此’產生一初始電路佈局3 00與該虛擬圖案佈局5 00的結 合’之後,從該虛擬圖案佈局500執行一去除程序,在虛 擬圖案的產生期間其可能形成虛擬圖案不理想的電路部 分’例如小突出物如凸出部或小槽如凹口(第1圖中之步驟 150),除了凸出部或凹口外,額外的缺陷區域,其具有— 不合適的線寬,或很難傳送至一晶圓於曝光處理中,其可 被去除(第1圖中之步驟160),針對去除此虛擬誤差之程 • & 序,其可被設計爲第1 5圖中之參照數字” 5 5 0,,,可使用一 檢查與修正一設計佈局之方法來達成,例如,一規則檢查。 參照第1 6圖所示’該虛擬誤差5 5 0可虛擬圖案铈局(第 15圖中之”5 00”)來去除,例如,此去除可由縮小介於鄰近 圖案”b 5 ”之間的間隔,檢查該縮小圖案間隔,使用一規則 檢查或類似方式’以及去除如形成圖案橋之圖案缺陷的缺 陷區域來達成,依照上述方式該虛擬圖案佈局5 〇〇之修正, 〜沒有如凸出部或凹口之虛擬誤差5 5 〇的第一修正虛擬圖 200823708 案佈局501可被產生。 例如’一各式各樣尺寸的佈局可由例如應用”b5 -1”至 虛擬圖案佈局500(第15圖)之圖案與初始電路佈局3 00之 間的X軸間隔來產生,其中該”1)5-1”藉由一單元尺寸(例 • 如,Inm當”nm”用來作爲一單元尺寸時)在一垂直於電路圖 , 案301之延伸方向的方向中是小於該圖案間隔b5的。該產 生的佈局然後使用一方法(例如一規則檢查)檢查圖案缺陷 如圖案橋,以檢查關於該圖案間隔是否恰當的,之後,預 # 期導致一橋現象的缺陷區域會依照一修正程序來去除,因 此,可產生第一修正虛擬圖案佈局501,從間隔(例如,60nm) 之該1 n m的一個單元尺寸之扣除可被分析作爲確保圖案橋 之產生可被禁止之一橋禁止區域,依照上述程序,可能主 要爲凸出部或凹口之虛擬誤差550可被去除。 參照第1 7圖所示,一第二修正虛擬圖案佈局5 〇2,其 沒有凸出部或類似之物,可由調整第一修正虛擬圖案佈局 5 0 1之圖案間隔來產生,使得該圖案間隔可對應該初始設定 ® 的圖案間隔b 5,其可看出該第一修正虛擬圖案佈局5 〇 1之 尺寸可依照圖案間隔之調整而調整。該去除虛擬圖案誤差 如凸出部於X軸方向中突出的程序,可更進一步從被調整 爲具有一較大値(例如,2 n m)之該圖案間隔扣除該單元尺寸 的情況下實行。 參照第1 8圖所示,一各式各樣尺寸的佈局可朝由成長 桌一修正虛擬圖案佈局5 0 2於Y軸方向中所產生之頂端與 底端延伸’亦即,朝向頂端與底端,也就是,由一個單元 -22 - 200823708 尺寸從Y軸圖案間隔a5到第二修正虛擬圖 小”al -1 nm”的應用,該產生的佈局然後使J 一規則檢查)檢查圖案缺陷如圖案橋,以檢查 隔是否恰當的,之後,預期導致一橋現象的 ” 照一修正程序來去除,因此,可產生第三修 - 局5 03,因此,該第三修正虛擬圖案佈局503 有虛擬誤差(第1圖中之”550”)如Y軸之凸出 參照第1 9圖所示,該第三修正虛擬圖案 Φ .調整第三修正虛擬圖案佈局5 0 3之圖案間隔 a5來縮小,因此,一第四修正虛擬圖案佈-局 沒有凸出部或類似之物。其可看出該第三修 局5 0 3可依照第四修正虛擬圖案佈局5 0 4之 整來調整尺寸。針對去除虛擬誤差如Y軸之 可更進一步地從被調整爲一較大値之該圖案 元尺寸的情況下重複執行。 參照第2 0圖與2 1圖所示,一從該第四 • 佈局504(第19圖)用以去除第二X軸凸出部 參照第1 6圖與第17圖所述來實現,在說明 擬誤差釦凸出部可被同時從該第四修正j 5 04(第19圖)去除,例如,可於X軸方向中 元尺寸縮小圖案間隔b 6,檢查該縮小圖案間 案線寬,使用一規則檢查或類似方式,以及 圖案橋或類似圖案橋之檢查部分而完成虛擬 之後’ 一各式各f永尺寸的佈局可由一個 案佈局5 02縮 1 一方法(例如 關於該圖案間 缺陷區域會依 正虛擬圖案佈 可被產生而沒 部或凹口。 佈局5 0 3可由 等於初始間隔 504可產生而 正虛擬圖案佈 圖案間隔的調 凸出部之程序 間隔a 5扣除單 修正虛擬圖案 之附加程序可 實施例中,虛 t擬圖案佈局 藉由一給定單 隔”b6 -1”與圖 去除預期導致 誤差去除。 單元尺寸調整 -23 - 200823708 該圖案間隔爲比圖案間隔b 6還小的” b 6 -1 ”來產生,該產生 的佈局然後使用一方法(例如一規則檢查)檢查圖案缺陷如 圖案橋’以檢查關於該圖案間隔是否恰當的,之後,預期 導致一橋現象的缺陷部分會依照一修正程.序來去除,因 " 此’可產生第五修正虛擬圖案佈局505。 - 參照第21圖所示,該第五修正虛擬圖案佈局5 05可於 圖案間隔中被調整,使得該第五修正虛擬圖案佈局5 05之 圖案間隔等於初始間隔b6,因此,一第六修正虛擬圖案佈 馨 局5 0 6不會產生凸出部或類似之物。由於該第六修正虛擬 圖案佈局5 0 6沒有凸出部或類似之物,故其針對第1 5圖之 虛擬圖案佈局500可用來作爲一代替物,一最後佈局然後 可由插入該第六修正虛擬圖案佈局506於初始電路佈局 3 00(第1圖之步驟170)中來產生。 在傳送包含該”最後”虛擬圖案佈局5 06與電路佈局300 之佈局至一真實的光罩基板或至一真實的晶圓之前,一考. 里於曝先處理期間所產生之光學鄰近效應(optical 鲁 proximity effect ’〇PE)之修正,·例如,一 〇PE修正(〇PC) 可被實行。該〇PC之結果如第22圖所示可由應用〇pc虛 擬圖案佈局590以及一應用0PC電路饰局390來表示。 第23圖描述一外形平面圖,基於一模型基礎處理設 計’透過一模擬之繪製以實行關於第22圖中所示之該應用 〇PC佈局之資料,第24圖描述一透過模擬得到暴露空氣的 圖,針對第22圖中所示之該應用〇pc佈局來實行,第25 圖爲一外形平面圖其曝光的能量從一給定曝光能量情況 -24- 200823708 -1 0%/0%/10%而爲多變的,第16圖描述一對應第25圖之一 部分2 6之放大外形平面圖。 第23圖到第26圖之模擬結果顯示該電路圖案依照插 入本發明之圖式實施例產生的虛擬圖案佈局5 90(第22圖) 中’針對曝光處理具有一增加很大的處理邊限,如第23圖 ^ 與24圖所示之結果,圖案橋與圖案變窄可有效地被消除, 參照第25圖之結果,儘管曝光能量變動,但其可看出抑制 該橋或變窄現象的發生是可行的,因此,得到一較大曝光 ® 處理邊限是可行的,甚至當依據於大約i:80iim的範圍中變 動之一 60nm設計之聚焦邊限時,可由一橋或變窄現象的消 除來得到改善結果,因此,聚焦的深度的改良也可達到。 再參照第1圖所示,該最後佈局包含第22圖中所示之 應用OPC虛擬圖案佈局590以及該應用〇PC電路佈局390, 可傳送至一光罩以形成一遮罩圖案(第丨圖中之步驟180), 之後’使用&先罩以貫丫了 一曝光處理以傳送該最後佈局至 一晶圓(桌1圖中之步驟1 9 0 ),在此情況下,因爲曝光情況 ® 可使用在曝光處理中,故針對圖案暴露處理之處理邊限中 完成改善是可行的,例如,雙極照明系統情況已考量虛擬 圖案之插入上。 其中可使用一雙極照明系統,介於一 X軸解析度與一 Υ軸解析度之間的差真可被包含,爲此目的,在產生該虛 擬圖案佈局390 (第22圖)之上,於X軸與γ軸方向中應用 不同的插入情況,以考量該解析度的差異。其中在照明方 向來說,一不同於該雙極照明系統的照明系統,例如,一 -25 - 200823708 四極照明系統可被使用’曝光情況的反射可由該參照軸之 改變方向來完成。 雖然本發明之實施例已使用具體範例說明,但其也可 被用在其它佈局上,本發明也可應用至除了位元線以外之 金屬連接線之佈局,此外’本發明不僅可應用至一快閃記 - 憶體裝置,也可應用至一 DRAM記憶體裝置。 同樣地,本發明也可應用至一使用於一曝光處理而實 現在一光罩上的佈局,例如,依據本發明之一實施例的佈 • 局可應用至一相移遮罩或一二元遮罩。依據本發明之一實 施例的佈局也可應用至一沒有遮罩印刷術處理,其中一圖 案可直接傳送至一晶圓,此外,依據本發明之一實施例的 佈局可應用至一針對形成一 CMP虛擬或一除了電路線如位 元線外之閘協助虛擬之處理。 雖然本發明之實施例已揭露說明目的,但那些熟悉該 項技術者將可察知其各種改變,增加或代替是可行的,而 沒有脫離本發明伴隨申請專利範圍中所揭露之範圍與本 • 意。 【圖式簡單說明】 第1圖爲一流程圖,用以圖示說明一半導體裝置製造 方法,其係使用一具有自身組裝的虛擬圖案之電路佈局以 插入依據本發明之一實施例中; 第2圖到第22圖爲使用具有自身組裝虛擬圖案插入依 據本發明之一實施例中的電路佈局,用以解釋半導體裝置 製造方法的槪要佈局圖;以及 -26- 200823708
第23圖到第26圖爲顯 具有自身組裝 虛 擬 圖 案 插入 路佈局 ,用以 解 釋 半 導 體裝 【主要元件符 號 說 明 I 120 、 130 、 140 、 150 160、 210 頁 面 緩 衝 區 230 電 路 佈 局 300 初 始 電 路 佈 局 301 位 元 線 電 路 圖案 303 空 區 305 第 二 打 開 區 390 電 路 佈 局 400 逆 佈 局 410 第 — 縮 小 佈 局 420 第 縮 小 佈 局 421 第 四 縮 小 佈 局 430 第 五 縮 小 佈 局 431 第 _L^ 縮 小 佈 局 411 第 二 縮 小 佈 局 440 第 七 縮 小 佈 局f 441 第 八 縮 小 佈 局 5 00 虛 擬 圖 案 佈 局 501 第 一 修 正 虛 擬圖 502 第 二 修 正 虛 擬圖 503 第 二 修 正 虛 擬圖 案佈局 案佈局 案佈局 示模擬結果之佈局圖,由使用 依據本發明之一實施例中的電 置製造方法所得到的結果。 170、 180、 190 步驟 -27- 200823708
504 第 四 修 正 虛 擬 圖 案 佈 局 505 第 五 修 正 虛 擬 圖 案 佈 局 5 06 第 _JL^ 修 正 虛 擬 圖 案 佈 局 5 10 第 一 虛 擬 圖 案 佈 局 5 11 第 一 外 形 5 13 第 二 外 形 530 第 二 虛 擬 圖 案 佈 局 550 虛 擬 誤 差 590 應 用 OPC 虛 擬 圖 案 ;佈 丨局 al 第 一 縮 小 寬 度 a2 第 二 縮 小 寬 度 a 3 第 五 縮 小 寬 度 a4 第 七 、 八 縮 小 寬 度 a 5 圖 案 間 隔 b 1 第 二 縮 小 寬 度 b2 第 四 縮 小 寬 度 b3 第 _JL·^ 縮 小 寬 度 b4 第 八 縮 小 寬 度 b5、b6 圖 案 間 隔 -2 8 -

Claims (1)

  1. 200823708 十、申請專利範圍: 1 · 一種轉移圖案至一基板的方法,包含: 設計一電路佈局以傳送至基板; 得到該電路佈局之逆佈局; — 縮小該電路佈局之尺寸,藉以得到一縮小佈局; - 得到一虛擬圖案佈局,其中該虛擬圖案佈局具有對應 於該縮小佈局外形的外形與一給定線寬使得虛擬圖案佈 局自身組裝至該電路佈局;以及 # 結合該虛擬圖案佈局與該電路佈局。 2 ·如申請專利範圍第1項之方法,更可包含: 傳送該電路佈局至基板。 3 ·如申請專利範圍第1項之方法,更可包含: 傳送該已結合的佈局至基板。[問題:該虛擬圖案也” 完全”傳送至該基板上嗎?是的] 4 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中該電路佈局可被設 計爲記憶體之金屬線佈局,其中該基板可爲一半導體基 ® 板。 5 ·如申請專利範圍第1項之方法,其中該電路佈局可被設 計爲搆成快閃記憶體裝置之頁靣緩衝電路位元線之怖 局。 6 ·如申請專利範圍第1項之方法’其中該電路佈局可被設 計爲針對線連接結構之連接接觸之配置佈局。 7 .如申請專利範圍第1項之方法,更可包含: 縮小該逆佈局,其藉由一比該縮小佈局之縮小寬度還 -29 - 200823708 大的縮小寬度來縮小該逆佈局,藉以得到一第二縮小佈 局; 得到一第二虛擬圖案佈局,其中該虛擬圖案佈局具有 〃對應於該第二縮小佈局外形的外形以及一給定線寬使得 一 該第二虛擬圖案佈局可被間隔除了電路佈局外比該第一 ^ 虛擬圖案還遠;以及 結合該第二虛擬圖案佈局與該電路佈局。 8.如申請專利範圍第1項之方法,更可包含: Φ 傳送該結合的佈局至光罩基板,藉以形成一光罩;以 及使用該光罩執行一曝光處理,藉以傳送該結合的佈局 至基板。 9 ·如申請專利範圍第8項之方法,其中該曝光處理可在曝 光情況下執行,其中包含一對稱照明與一非對稱照明。 10·如申請專利範圍第8項之方法,其中該光罩包含一二元 光罩或一相移光罩。 1 1 ·—種轉移圖案至一基板的方法,包含: _ ® 設計一具有電路圖案的電路佈局,該電路圖案定義一 打開區; 得到該電路倚局之逆倚局; 由第一縮小寬度來縮小該逆佈局,藉以得到一第一縮 小佈局; 由第二縮小寬度來縮小該第一佈局,藉以得到一第二 縮小佈局; 從該第一縮小佈局扣除該第二縮小佈局,藉以得到一 -30· 200823708 自身組裝虛fen圖案佈局; 結合該虛擬圖案佈局與該電路佈局,該虛擬圖案佈局 可由該電路圖案定義之一打開區中來定義;以及 傳送該結合佈局至一基板。 ' 1 2.如申請專利範圍第1 1項之方法,其中該傳送該結合佈局 , 之基扳爲一半導體基板。 13·如申請專利範圍第π項之方法,其中該傳送該結合佈局 之基板爲一光罩基板。 Φ 1 4 ·如申請專利範圍第11項之方法,其中該電路佈局可被設 計爲構成快閃記憶體裝置之頁面緩衝電路位元線之佈 局。 1 5 ·如申請專利範圍第π項之方法,更可包含: 由一第三縮小寬度縮小該第二縮小佈局,藉以得到一 第三縮小佈局; 由一第四縮小寬度縮小該第三縮小佈局,藉以得到一 第四縮小佈局; ® 從該第三縮小佈局扣除該第四縮小佈局,藉以得到一 第二虛擬圖案佈局;以及 結合該第二虛擬圖案佈局與該電路饰局。 16·如申請專利範圍第11項之方法,更包含: 由一比該第二縮小寬度還大的寬度縮小逆佈局,藉以 得到一第二縮小佈局; 得到一第二虛擬圖案佈局,其用有一對應該第三縮小 佈局外形之外形與一給定線寬’使得該第二虛擬圖案佈 •31- 200823708 局可從電路佈局間隔隔開,而比該第一虛擬圖案還遠; 結合該第二虛擬圖案佈局與該電路佈局。 1 7 · —種製造一半導體裝置的方法,包含: 設計一電路佈局; - 設定曝光情況,用以針對該電路佈局之傳送; . 得到該電路佈局之逆佈局; 縮小X軸方向的逆佈局’其係在反射與χ軸方向有關 的曝光情況之後,藉由設定一第一縮小寬度來縮小,以 _ 得到一第一縮小佈局; 縮小Y軸方向的桌一縮小佈局,其係在反射與γ軸方 向有關的曝光情況之後,藉由設定一第二縮小寬度來縮 小’以得到一第一縮小佈局; 縮小第二縮小佈局’其係藉由x軸方向的第三縮小寬 度以及Y軸方向的第四縮小寬度來縮小,以得到一第三 縮小佈局; 從該第二縮小佈局扣除該第三縮小佈局,藉以得到一 Φ 自身組裝至電路佈局的虛擬圖案佈局; 結合該虛擬圖案佈局與該電路佈局;以及 傳送該結合佈局至一半導體基板。 1 8 ·如申請專利範圍第1 7項之方法,其中該初始電路佈局可 設計爲一記憶體裝置之金屬線電路佈局。 19·如申請專利範圍第17項之方法’其中該電路佈局可被設 計爲構成快閃記憶體裝置之頁面緩衝電路位元,綠之佈 局0 -32 - 200823708 2 0.如申請專利範圍第1 7項之方法,其中該電路佈局可設計 爲針對一個線連接結構而連接接觸的一配置佈局。 2 1 .如申請專利範圍第1 7項之方法,其中該曝光情況包含於 X軸與Y軸方向中具有一相同曝光解析度的對稱照明, 或者於X軸與丫軸方向中具有一不同曝光解析度的非對 稱照明。 22.如申請專利範圍第17項之方法,其中該第一與第二縮小 寬度可互相設定爲相同或互相設定爲不同,其爲依照曝 光情況來決定。 2 3 .如申請專利範圍第17項之方法,其中更包含: 於X軸方向中由一第五縮小寬度以及於Y軸方向中由 一第六縮小寬度來縮小該第三縮小佈局,藉以得到一第 四縮小佈局; 於X軸方向中由一第七縮小寬度以及於γ軸方向中由 一第八縮小寬度來縮小該第四縮小佈局,藉以得到一第 五縮小佈局; 從該第四縮小佈局扣除該第五縮小佈局,藉以得到— 第二虛擬圖案佈局;以及 結合該第二虛擬圖案佈局與該電路佈局。 2 4 ·如申請專利範圍第1 7項之方法,其中更包含: 從該逆佈局得到一第四縮小佈局,使得該第四縮小佈 局可從該電路佈局間隔隔開,而比該第一虛擬圖案還遠; 得到一第二虛擬圖案佈局,其具有一與該第四縮小佈 局之外形相同之外形與一給定線寬;以及 結合該第二虛擬圖案佈局與該電路佈局。 -33-
TW095149781A 2006-11-24 2006-12-29 Method for transferring self-assembled dummy pattern to substrate TW200823708A (en)

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010062475A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Nec Electronics Corp レイアウトパターン生成方法、半導体装置の製造方法、プログラム、レイアウトパターン生成装置
JP5607308B2 (ja) * 2009-01-09 2014-10-15 キヤノン株式会社 原版データ生成プログラムおよび方法
JP5607348B2 (ja) * 2009-01-19 2014-10-15 キヤノン株式会社 原版データを生成する方法およびプログラム、ならびに、原版製作方法
US8010913B2 (en) * 2009-04-14 2011-08-30 Synopsys, Inc. Model-based assist feature placement using inverse imaging approach
US8350586B2 (en) * 2009-07-02 2013-01-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus of deembedding
NL2006655A (en) * 2010-06-28 2011-12-29 Asml Netherlands Bv Multiple patterning lithography using spacer and self-aligned assist patterns.
CN102495239A (zh) * 2011-12-12 2012-06-13 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 一种示波器微波薄膜电路模拟前端技术的装置
US9347862B2 (en) 2013-08-06 2016-05-24 Kla-Tencor Corp. Setting up a wafer inspection process using programmed defects
US9465906B2 (en) * 2014-04-01 2016-10-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. System and method for integrated circuit manufacturing
US9330224B2 (en) * 2014-04-30 2016-05-03 Oracle International Corporation Method and apparatus for dummy cell placement management
KR20160013698A (ko) 2014-07-28 2016-02-05 삼성전자주식회사 레이아웃 디자인 시스템, 레이아웃 디자인 방법 및 레이아웃 디자인 방법을 수행하기 위한 프로그램을 포함하는 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체
US9740092B2 (en) * 2014-08-25 2017-08-22 Globalfoundries Inc. Model-based generation of dummy features
US9977325B2 (en) * 2015-10-20 2018-05-22 International Business Machines Corporation Modifying design layer of integrated circuit (IC)
US10460061B2 (en) * 2017-10-03 2019-10-29 Ipgreat Incorporated System and method for anti reverse engineering for analog integrated circuit
US20240142958A1 (en) * 2022-11-02 2024-05-02 Orbotech Ltd. System and method for defect mitigation using data analysis

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61251705A (ja) * 1985-04-30 1986-11-08 Sumitomo Metal Ind Ltd パタ−ン検査方法及び装置
JP2942300B2 (ja) * 1990-03-20 1999-08-30 株式会社日立製作所 露光方法
JP3179520B2 (ja) * 1991-07-11 2001-06-25 株式会社日立製作所 半導体装置の製造方法
US6487682B2 (en) 1991-09-18 2002-11-26 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit
JP2828372B2 (ja) * 1992-09-17 1998-11-25 シャープ株式会社 マスク用データ作成方法
JPH06242594A (ja) * 1993-02-15 1994-09-02 Sharp Corp 変形照明露光装置用マスク
KR0161437B1 (ko) 1995-09-19 1999-02-01 김광호 반도체장치의 미세패턴 형성방법
JPH09288347A (ja) 1996-02-20 1997-11-04 Ricoh Co Ltd ダミーパターン付きレチクルおよびこのレチクルを用いて製造された半導体装置
US6266110B1 (en) * 1996-07-30 2001-07-24 Kawasaki Steel Corporation Semiconductor device reeventing light from entering its substrate transistor and the same for driving reflection type liquid crystal
US5790417A (en) * 1996-09-25 1998-08-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Method of automatic dummy layout generation
KR100217903B1 (ko) * 1996-12-04 1999-09-01 김영환 포토마스크의 제작방법
JPH117120A (ja) * 1997-06-18 1999-01-12 Sony Corp マスクパターン作成方法およびマスクパターン作成装置並びにマスク作成装置
JP2000112114A (ja) 1998-10-08 2000-04-21 Hitachi Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
US6259115B1 (en) * 1999-03-04 2001-07-10 Advanced Micro Devices, Inc. Dummy patterning for semiconductor manufacturing processes
JP2001125252A (ja) 1999-10-25 2001-05-11 Fujitsu Ltd 半導体集積回路の露光方法及び露光装置
US6323113B1 (en) * 1999-12-10 2001-11-27 Philips Electronics North America Corporation Intelligent gate-level fill methods for reducing global pattern density effects
JP2001228599A (ja) * 2000-02-21 2001-08-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 補助パターン生成方法および半導体マスクレイアウトパターンの自動生成方法
AUPQ605800A0 (en) * 2000-03-06 2000-03-30 Silverbrook Research Pty Ltd Printehead assembly
JP3656591B2 (ja) * 2001-06-28 2005-06-08 ソニー株式会社 光学記録媒体製造用スタンパの製造方法および光学記録媒体の製造方法
JP2003017390A (ja) * 2001-06-29 2003-01-17 Toshiba Corp パターン形成方法及びパターン形成に用いるマスク
JP3454259B2 (ja) * 2001-09-07 2003-10-06 セイコーエプソン株式会社 マスクデータの生成方法、マスクおよび記録媒体、ならびに半導体装置の製造方法
JP2003248296A (ja) * 2002-02-27 2003-09-05 Sony Corp 露光マスクおよびその製造方法、ならびに転写パターンの形成方法
US6613688B1 (en) * 2002-04-26 2003-09-02 Motorola, Inc. Semiconductor device and process for generating an etch pattern
JP3703799B2 (ja) * 2002-12-13 2005-10-05 沖電気工業株式会社 残膜厚分布の推定方法、残膜厚分布の推定方法を用いたパターニング用マスク及び絶縁膜除去用マスクの修正方法、及び、修正されたパターニング用マスク及び絶縁膜除去用マスクを用いた半導体素子の製造方法
JP2004341064A (ja) 2003-05-13 2004-12-02 Sharp Corp 露光用マスクパターンの作成方法および露光用マスクと、それを用いた半導体装置の製造方法
JP2005141104A (ja) 2003-11-10 2005-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd フォトマスク
JP4167664B2 (ja) * 2004-02-23 2008-10-15 株式会社東芝 レチクルの補正方法、レチクルの作製方法、パターン形成方法及び半導体装置の製造方法
US7560197B2 (en) * 2004-02-23 2009-07-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Mask pattern data producing method, patterning method, reticle correcting method, reticle manufacturing method, and semiconductor apparatus manufacturing method
US7234130B2 (en) * 2004-02-25 2007-06-19 James Word Long range corrections in integrated circuit layout designs
DE102004010902B4 (de) * 2004-03-05 2007-01-11 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Übertragen eines kritischen Layouts einer Ebene einer integrierten Schaltung auf ein Halbleitersubstrat
JP2006126614A (ja) * 2004-10-29 2006-05-18 Toshiba Corp マスクパターンデータ生成方法、フォトマスクの製造方法、及び半導体デバイスの製造方法
US7552416B2 (en) * 2005-02-28 2009-06-23 Yuri Granik Calculation system for inverse masks
JP4686257B2 (ja) * 2005-05-25 2011-05-25 株式会社東芝 マスク製造システム、マスクデータ作成方法、及び半導体装置の製造方法
US20070032083A1 (en) * 2005-08-05 2007-02-08 Hynix Semiconductor, Inc. Planarization method for manufacturing semiconductor device
US20070178389A1 (en) * 2006-02-01 2007-08-02 Yoo Chue S Universal photomask

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