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JPH09293818A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH09293818A
JPH09293818A JP8107823A JP10782396A JPH09293818A JP H09293818 A JPH09293818 A JP H09293818A JP 8107823 A JP8107823 A JP 8107823A JP 10782396 A JP10782396 A JP 10782396A JP H09293818 A JPH09293818 A JP H09293818A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dowel
boss
terminal
lead
heat sink
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8107823A
Other languages
English (en)
Inventor
Shiro Otsuka
四郎 大塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP8107823A priority Critical patent/JPH09293818A/ja
Priority to TW087113114A priority patent/TW409373B/zh
Priority to TW087113113A priority patent/TW409378B/zh
Priority to TW085112197A priority patent/TW401633B/zh
Priority to KR1019960050256A priority patent/KR100378277B1/ko
Publication of JPH09293818A publication Critical patent/JPH09293818A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H10W72/07552
    • H10W72/527
    • H10W72/5449
    • H10W90/756

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放熱板とリード端子を一体化する時の組立工
程での不良を防止する。 【解決手段】 半導体チップ20と、前記半導体チップ
20が実装されるアイランド領域11と複数のボス33
とを有する放熱板10と、前記ボス33が挿入されるダ
ボ部と複数のリード端子30とを有し、前記ダボと前記
ボスが嵌合された半導体装置であって、前記ボス33が
挿入されるダボ部と前記リード端子30は同一平面に配
置され、前記放熱板10のアイランド領域11は前記ボ
ス33が設けられた放熱板10の終端部より窪んで形成
されたことを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップを封
止するパッケージの構造に関し、特に放熱板上に電力半
導体チップを実装する半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来のパワートランジスタ等を
含むパワーLSIチップのパッケージ構造、特にリード
端子1とチップ2のボンディングパッド間のワイヤの接
続状態を示す。この半導体チップ2は、パワー素子を含
むLSIチップであるため、放熱板のアイランド領域3
上には半田を介して固着接続される。放熱板4の半導体
チップ2が固着されるアイランド領域3には銀メッキが
施されている。
【0003】放熱板4上に実装された半導体チップ2は
周辺に配置されたリード端子1の先端部分とワイヤボン
ディング接続される。このリード端子1の先端部分は、
ボンディング接続するワイヤ7の長さを最短とするため
に、半導体チップ2の終端辺近傍付近まで導出するよう
に配置されることから、その先端部は放熱板2のアイラ
ンド領域3と重畳配置されている。
【0004】また、リード端子1は放熱板のアイランド
領域3と接触を避けるためにアイランド領域3から所定
の間隔離間した状態で配置される。即ち、リードフレー
ム状態でリード端子1以外にリード端子1をアイランド
領域3から離間させるダボ(穴)を有したダボ用端子5
が設けられており、図7に示すように、このダボ用端子
5とリード端子1は異なる平面で構成されてている。放
熱板4に設けられているボス6(突出部)にダボが嵌合
されボス表面をカシメて放熱板4にリードフレームを固
定する。
【0005】この時、上記したように、ダボ用端子5と
リード端子1とは異なる平面で構成されているためにリ
ード端子1はアイランド領域3から離間されて配置され
る。リードフレームを切断することにより、リード端子
1及びダボ用端子3は個々に分離され半導体装置が提供
される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置は、
上述したように、リードフレーム形成時にリード端子が
放熱板のアイランド領域と接触しないようにダボ用端子
5を設け、そのダボ用端子5の先端部分とリード端子1
とが異なる平面となるようにダボ端子5の先端部分は図
7に示すように折り曲げ加工される。
【0007】ダボ用端子5の先端部分のサイズは非常に
小さくその中央部分にダボ(穴)が設けられ厚み自体も
比較的薄いこと、及び、折り曲げ寸法が微少であるため
に、折り曲げされた各ダボ用端子の先端部の平坦度を均
一にすることが困難であるため以下の不具合があった。
即ち、リードフレームのダボ用端子5のダボと放熱板
4のボスとが嵌合不良(リードフレームから放熱板が脱
落した状態)の状態でリードフレームと放熱板4とのカ
シメが行われ固定不良となる。リード端子1の先端部
が放熱板4のアイランド領域3と接触した状態で固定さ
れショート不良となる。リード端子1の先端部分が浮
沈となりワイヤーボンディング工程でボンディングされ
ないリード端子が発生しボンディング不良となる。折
り曲げ工程時にリードフレーム自体が変形し不良とな
る。
【0008】上述した〜の不具合は、一連(帯状又
はリール状)のリードフレーム全てでダボ用端子5の先
端部分の平坦度が均一にならない場合には、リードフレ
ームと放熱板4とを固定するカシメ工程前にチェックし
て対処する事は可能である。しかし、一連のリードフレ
ーム内にダボ用端子5の先端部の平坦度が均一なところ
と均一でないところがあることから、自動化のカシメ工
程では、ダボ用端子5の平坦度の均一性の認識が確実に
行うことができないため組立工程での歩留まりの低下を
招いていた。
【0009】本発明は、上述した課題に鑑みてなされた
もので、リード端子と放熱板との固定不良等の不具合を
抑制した半導体装置を提供するすることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、以下の構成を採用した。即ち、本発明の
半導体装置は、半導体チップと、前記半導体チップが実
装されるアイランド領域と複数のボスとを有する放熱板
と、前記ボスが挿入されるダボ部と複数のリード端子と
を有し、前記ダボと前記ボスが嵌合された半導体装置で
あって、前記ボスが挿入されるダボ部と前記リード端子
は同一平面に配置され、前記放熱板のアイランド領域は
前記ボスが設けられた放熱板の終端部より窪んで形成さ
れたことを特徴としている。
【0011】また、本発明の半導体装置は、半導体チッ
プと、終端部の所定箇所に形成された複数のボスとその
ボスが形成された領域よりも窪んで形成され前記半導体
チップが実装されるアイランド領域とを有する放熱板
と、前記ボスが挿入されるダボ部と前記アイランド領域
とその先端部分が重畳配置される複数のリード端子とが
同一平面で一体化されたリードフレームとを備え、前記
リードフレームのダボ内に前記放熱板のボスが嵌合さ
れ、前記ダボ表面をカシメて前記リードフレームと前記
放熱板とが固定されたことを特徴としている。
【0012】上述した半導体装置によれば、リード端子
と放熱板と固定されるダボ用端子とが同一平面状、即
ち、フラット面で形成しても、放熱板のアイランド領域
がボスが形成された終端部よりも窪んで形成されている
ことにより、リードフレームに折り曲げ加工を行うこと
なくアイランド領域と重畳配置されるリード端子の間に
所定のすき間を設けることができる。しかも、この半導
体装置によれば、上述したようにリードフレームを折り
曲げ加工することなくフラットな状態で使用できるため
に、上述した〜のような不具合を防止することがで
きる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて図1乃至図3を参照にしながら説明する。図1は本
発明の一実施の形態の半導体装置を示す平面図、図2は
図1のXーX断面図、図3乃至図5は放熱板の製造工程
を説明する図であり、10は放熱板、20は放熱板10
のアイランド領域11上に実装される半導体チップ、3
0はリード端子、31はダボ用端子である。
【0014】図1及び図2に示すように、放熱板10
は、厚み約1mm〜5mm厚の銅系の材料で矩形状に形成さ
れ、その4隅の終端部32にはボス33が設けられてい
る。放熱板10の中央部には半導体チップ20が実装さ
れるアイランド領域11を有しており、このアイランド
領域11はボス33が設けられた終端部32よりも窪ん
だ状態で構成されている。アイランド領域11上には半
導体チップ20を固着する半田との共晶状態を良好とす
るために銀メッキ等のメッキ処理が行われている。
【0015】放熱板10は、例えば図3に示すように、
板厚3mm、幅20mmの板状の銅系材料40を用意する。
この板材40の長手方向の中央部分が半導体チップ20
が実装されるアイランド領域11となる領域をプレス加
工し長手方向に沿った凹部11Aを形成する(図4参
照)。このプレス工程では板材は金型で固定されている
ために、表面をプレスしたとき凹部11Aが形成された
反対面はフラットの状態が保たれる。
【0016】プレスの圧力を調整することによって凹部
11Aの深さを設定することができる。例えば、アイラ
ンド領域11の板厚を2mmとする場合には、凹部11A
の深さが1mmとなるようにプレス打ちする。これにより
板材40の表面と凹部11Aの底面とでは1mmの段差が
設けることができる。凹部11Aを形成した後、凹部1
1A底面に銀メッキ11Bが行われる。
【0017】板材40の長手方向の両端部には所定の間
隔でスタンピングプレスによりボス出し加工が行われ一
定の間隔でボス(突出部)33が形成される(図5参
照)。ボス33を形成した後、ボス33が4隅に配置さ
れるようにプレス抜きが行われ放熱板10が個別に分離
され、上述した放熱板10が形成される。この放熱板1
0は後述するダボ用端子31と固定されリード端子30
と離間した状態で一体化される。
【0018】本発明では、ダボ用端子31は、図1及び
図2に示すようにダボ用端子31の折り曲げ加工は行わ
れず、両端子30、31は同一平面で配置される。ダボ
用端子31の先端部には、放熱板10に設けられたボス
33と嵌合するダボ(穴)が設けられている。両端子3
0、31はここでは図示しないが、帯状のリードフレー
ム内に複数のブロック毎にリード端子30とダボ用端子
31が形成されている。
【0019】ダボ用端子31は1ブロック内に上記放熱
板10に設けたボス33の数に対応した本数を有してい
る。又、ダボ用端子31はリード端子30と電気的に分
離されるが、必要に応じてアース電位となるリード端子
30と一体に形成され導通状態が維持される場合もあ
る。リード端子30とダボ用端子31を有したリードフ
レーム(図示しない)と放熱板とはそれぞれ一体的に固
定される。即ち、ダボ用端子31に設けられたダボと放
熱板10に設けられたボス32とを嵌合しボス33表面
をカシメ工程でカシメることにより、リードフレームと
放熱板10とが固定される。
【0020】このとき、本実施の形態では、放熱板10
のアイランド領域11はボス33が設けられた終端部3
2より1mm窪んだ状態で形成されているために、アイラ
ンド領域11上に配置されたリード端子30とアイラン
ド領域11間には1mmのスペースが設けられることにな
る。本発明では、放熱板11と固定されるダボ用端子3
1は折り曲げ加工が施されないために、ダボ用端子31
及びリード端子に不必要な外部応力が加わることがない
ので、リード端子30の先端部が浮沈することなく、図
2に示すように均一に揃った状態で維持され、リード端
子30とアイランド領域11とが接触することはない。
【0021】リード端子30の先端部分は半導体チップ
20の接続距離をできるだけ最短にするために可能な限
りアイランド領域11の中央方向に向かって延在配置さ
れるが、本発明では、上記したように、リード端子30
の先端部が揃っていることからアイランド領域11と接
触することはない。放熱板10のアイランド領域11上
には半田を介してパワー系の半導体チップ20が固着実
装され、周辺に配置されたリード端子30とワイヤで電
気的に接続される。
【0022】本発明では、上述したように、ダボ用端子
31の折り曲げ工程が存在しないため、アイランド領域
11上に配置されたリード端子30の先端部分が浮沈せ
ず均一に揃って配置されていることから、確実にワイヤ
ボンディング接続が行える。半導体チップ20と各リー
ド端子30をボンディング接続した後、半導体チップ2
0を実装した放熱板10の裏面が露出するように表面側
を樹脂封止して、リードフレームからリード端子30、
ダボ用端子31を切断することにより個々の半導体装置
を提供することができる。
【0023】
【発明の効果】上述したように、本発明によれば、放熱
板のアイランド領域を凹部上にすることにより、放熱板
と固定されるダボ用端子を折り曲げ加工することなく、
リード端子とフラットな状態のままで放熱板に固定して
もリード端子とアイランド領域間を所定間隔離間するこ
とができる。
【0024】その結果、従来構造で発生していた、リ
ードフレームのダボ用端子のダボと放熱板のボスとが嵌
合不良(リードフレームから放熱板が脱落した状態)の
状態でリードフレームと放熱板とのカシメ固定不良、
リード端子の先端部が放熱板のアイランド領域と接触し
た状態で固定されショート不良、リード端子の先端部
分が浮沈となりワイヤーボンディング工程でボンディン
グされないリード端子が発生するボンディング不良、
リードフレームの変形不良、等を防止することができ、
半導体装置の組立工程での歩留及び信頼性を著しく向上
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の半導体装置の平面図。
【図2】図1のXーX断面図。
【図3】本発明の放熱板の製造工程を示す図。
【図4】本発明の放熱板の製造工程を示す図。
【図5】本発明の放熱板の製造工程を示す図。
【図6】従来の半導体装置を示す平面図。
【図7】図6のXーX断面図。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体チップと、前記半導体チップが実装
    されるアイランド領域と複数のボスとを有する放熱板
    と、前記ボスが挿入されるダボ部と複数のリード端子と
    を有し、前記ダボと前記ボスが嵌合された半導体装置で
    あって、前記ボスが挿入されるダボ部と前記リード端子
    は同一平面に配置され、前記放熱板のアイランド領域は
    前記ボスが設けられた放熱板の終端部より窪んで形成さ
    れたことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】半導体チップと、終端部の所定箇所に形成
    された複数のボスとそのボスが形成された領域よりも窪
    んで形成され前記半導体チップが実装されるアイランド
    領域とを有する放熱板と、前記ボスが挿入されるダボ部
    と前記アイランド領域とその先端部分が重畳配置される
    複数のリード端子とが同一平面で一体化されたリードフ
    レームとを備え、前記リードフレームのダボ内に前記放
    熱板のボスが嵌合され、前記ダボ表面をカシメて前記リ
    ードフレームと前記放熱板とが固定されたことを特徴と
    する半導体装置。
JP8107823A 1995-10-31 1996-04-26 半導体装置 Pending JPH09293818A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8107823A JPH09293818A (ja) 1996-04-26 1996-04-26 半導体装置
TW087113114A TW409373B (en) 1995-10-31 1996-10-05 Semiconductor device
TW087113113A TW409378B (en) 1995-10-31 1996-10-05 Semiconductor device
TW085112197A TW401633B (en) 1995-10-31 1996-10-05 Semiconductor device
KR1019960050256A KR100378277B1 (ko) 1995-10-31 1996-10-30 반도체장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8107823A JPH09293818A (ja) 1996-04-26 1996-04-26 半導体装置

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JPH09293818A true JPH09293818A (ja) 1997-11-11

Family

ID=14468952

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8107823A Pending JPH09293818A (ja) 1995-10-31 1996-04-26 半導体装置

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JP (1) JPH09293818A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012033665A (ja) * 2010-07-30 2012-02-16 On Semiconductor Trading Ltd 半導体装置及びその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012033665A (ja) * 2010-07-30 2012-02-16 On Semiconductor Trading Ltd 半導体装置及びその製造方法

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