JPH09160237A - フォトソルダーレジスト組成物 - Google Patents
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Landscapes
- Polymerisation Methods In General (AREA)
- Macromonomer-Based Addition Polymer (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 硬化速度が速く、表面硬化性、および銅
密着性に優れたフォトソルダーレジスト組成物を提供す
る。 【解決手段】 少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトレジスト組成物。
密着性に優れたフォトソルダーレジスト組成物を提供す
る。 【解決手段】 少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトレジスト組成物。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板を
製造する際に使用される、光硬化可能なプロペニルエー
テル末端基化合物を含むフォトソルダーレジスト組成物
に関する。
製造する際に使用される、光硬化可能なプロペニルエー
テル末端基化合物を含むフォトソルダーレジスト組成物
に関する。
【0002】
【従来の技術】ソルダーレジストは、プリント配線基板
製造において、ソルダリング工程で半田が不必要に付着
するのを防ぐ保護具として、また永久マスクとして必要
不可欠な材料である。従来、ソルダーレジストとしては
熱硬化性型のものが多く用いられ、これをスクリーン印
刷法で印刷を施す方法が一般的であったが、近年プリン
ト配線板の高密度化に伴いスクリーン印刷法では解像度
に限界があり、写真法でパターンを形成するフォトソル
ダーレジストが盛んに用いられるようになった。しかし
ながら、従来のフォトソルダーレジストに使用される感
光性樹脂はアクリル系光ラジカルUV硬化樹脂であり、
該樹脂の場合、酸素阻害による表面硬化性の低下がおこ
り、さらに光硬化時の体積収縮が大きく、基板との密着
性が低下することにより現像性、感度が低下するという
問題がある。これらの問題点を克服する組成物としてエ
ポキシ系光カチオンUV硬化樹脂があるが、光反応性が
低いため、硬化時に大きなUVエネルギーを必要とす
る。そのため、高UVエネルギー照射装置を必要とした
り、照射時間が長くかかるという欠点があった。このよ
うな、カチオン系UV硬化樹脂の反応性の低さを向上さ
せるための方法として、脂環式エポキシ化合物をベース
レジンまたは、希釈剤として用いる方法が知られている
(特開平1−209442号公報など)。しかし、この
ものはラジカル系UV硬化性樹脂の反応速度に比べると
遅く、工業的に入手できる脂環式エポキシの種類は限ら
れており、実用性能を満足できるものを得るのは困難で
あった。
製造において、ソルダリング工程で半田が不必要に付着
するのを防ぐ保護具として、また永久マスクとして必要
不可欠な材料である。従来、ソルダーレジストとしては
熱硬化性型のものが多く用いられ、これをスクリーン印
刷法で印刷を施す方法が一般的であったが、近年プリン
ト配線板の高密度化に伴いスクリーン印刷法では解像度
に限界があり、写真法でパターンを形成するフォトソル
ダーレジストが盛んに用いられるようになった。しかし
ながら、従来のフォトソルダーレジストに使用される感
光性樹脂はアクリル系光ラジカルUV硬化樹脂であり、
該樹脂の場合、酸素阻害による表面硬化性の低下がおこ
り、さらに光硬化時の体積収縮が大きく、基板との密着
性が低下することにより現像性、感度が低下するという
問題がある。これらの問題点を克服する組成物としてエ
ポキシ系光カチオンUV硬化樹脂があるが、光反応性が
低いため、硬化時に大きなUVエネルギーを必要とす
る。そのため、高UVエネルギー照射装置を必要とした
り、照射時間が長くかかるという欠点があった。このよ
うな、カチオン系UV硬化樹脂の反応性の低さを向上さ
せるための方法として、脂環式エポキシ化合物をベース
レジンまたは、希釈剤として用いる方法が知られている
(特開平1−209442号公報など)。しかし、この
ものはラジカル系UV硬化性樹脂の反応速度に比べると
遅く、工業的に入手できる脂環式エポキシの種類は限ら
れており、実用性能を満足できるものを得るのは困難で
あった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の技術
の前述した問題点を解決し、UV等の活性エネルギー線
を照射することにより、高速に硬化し、表面硬化性に優
れ、光硬化時の体積収縮が小さく、基板との密着性に優
れることによる高現像性、高感度のフォトソルダーレジ
スト組成物を提供することを目的とする。
の前述した問題点を解決し、UV等の活性エネルギー線
を照射することにより、高速に硬化し、表面硬化性に優
れ、光硬化時の体積収縮が小さく、基板との密着性に優
れることによる高現像性、高感度のフォトソルダーレジ
スト組成物を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題を解
決するため、鋭意検討した結果、本発明に到達した。す
なわち本発明は少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトソルダーレジスト組成物である。
決するため、鋭意検討した結果、本発明に到達した。す
なわち本発明は少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトソルダーレジスト組成物である。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明の(A)としては次のもの
があげられる。すなわち、プロペニルエーテル末端基を
有する(ポリ)エーテルオリゴマー、プロペニルエーテ
ル末端基を有するポリエステルオリゴマー、プロペニル
エーテル末端基を有するウレタンオリゴマーおよびプロ
ペニルエーテル末端基を有するモノマーの群から選ばれ
る1種以上のものであり、好ましくはプロペニルエーテ
ル末端基を有するウレタンオリゴマーである。
があげられる。すなわち、プロペニルエーテル末端基を
有する(ポリ)エーテルオリゴマー、プロペニルエーテ
ル末端基を有するポリエステルオリゴマー、プロペニル
エーテル末端基を有するウレタンオリゴマーおよびプロ
ペニルエーテル末端基を有するモノマーの群から選ばれ
る1種以上のものであり、好ましくはプロペニルエーテ
ル末端基を有するウレタンオリゴマーである。
【0006】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有する(ポリ)エーテルオリゴマーは下記一
般式(1)で表される化合物である。 X1[−O−(AO)m−R1]n (1) {式中、nは2〜200の整数であり、n個のmは0〜
200の整数でありmの少なくとも1個は1以上であ
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。Aは炭素数2〜12のアルキレン、アリー
レン、アルアルキレンまたはシクロアルキレン基であ
り、mが2以上の場合のAは同一でも異なっていても良
く、(AO)m部分はランダム付加でもブロック付加で
も良い。X1は多価アルコール残基または多価フェノー
ル性水酸基の残基である。}
ル末端基を有する(ポリ)エーテルオリゴマーは下記一
般式(1)で表される化合物である。 X1[−O−(AO)m−R1]n (1) {式中、nは2〜200の整数であり、n個のmは0〜
200の整数でありmの少なくとも1個は1以上であ
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。Aは炭素数2〜12のアルキレン、アリー
レン、アルアルキレンまたはシクロアルキレン基であ
り、mが2以上の場合のAは同一でも異なっていても良
く、(AO)m部分はランダム付加でもブロック付加で
も良い。X1は多価アルコール残基または多価フェノー
ル性水酸基の残基である。}
【0007】一般式(1)において、Aはアルキレン、
アリーレン、アルアルキレンおよびシクロアルキレン基
よりなる群から選ばれる2価の基であり、使用しうるア
ルキレン基の例には、メチレン、エチレン、プロピレ
ン、ブチレン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、
オクチレン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデ
シレン等があげられる。アリーレン基の例にはフェニレ
ン、ナフチレン、アントリレン、フェナントリレン等が
あげられる。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1
−フェニチレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロ
ピレン、2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピ
レンなどがあげられる。シクロアルキレン基の例には、
シクロペンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレ
ン、シクロオクチレン等があげられる。これらのうち好
ましくは、エチレン基およびプロピレン基である。アル
キレン基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。
アリーレン、アルアルキレンおよびシクロアルキレン基
よりなる群から選ばれる2価の基であり、使用しうるア
ルキレン基の例には、メチレン、エチレン、プロピレ
ン、ブチレン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、
オクチレン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデ
シレン等があげられる。アリーレン基の例にはフェニレ
ン、ナフチレン、アントリレン、フェナントリレン等が
あげられる。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1
−フェニチレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロ
ピレン、2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピ
レンなどがあげられる。シクロアルキレン基の例には、
シクロペンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレ
ン、シクロオクチレン等があげられる。これらのうち好
ましくは、エチレン基およびプロピレン基である。アル
キレン基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。
【0008】X1は多価アルコール残基または多価フェ
ノール性水酸基の残基であり、多価アルコールとしては
以下のものがあげられる。例えば、エチレングリコー
ル、トリエチレングリコール、グリセリン、ポリグリセ
リン(グリセリンの2〜18量体、例えばジグリセリ
ン、トリグリセリン、テトラグリセリン等)、グリシド
ールの開環重合物(重合度が2〜5000である化合
物)、トリメチロールアルカン(トリメチロールエタ
ン、トリメチロールプロパン、トリメチロールブタン
等)および、これらの2〜3量体、モノペンタエリスリ
トール、ジペンタエリスリトール、1,3,5−ペンタ
エリスリトール、ソルビトール、ソルビタンソルビタン
グリセリン縮合物等があげられ、多価フェノール性水酸
基含有化合物としてはフェノールノボラック樹脂、クレ
ゾールノボラック樹脂、これらの樹脂を部分的に無水マ
レイン酸と反応させて得られるカルボン酸含有フェノー
ルノボラック樹脂、またはカルボン酸含有クレゾールノ
ボラック樹脂等があげられる。これらのうち好ましくは
カルボン酸含有フェノールノボラック樹脂、およびカル
ボン酸含有クレゾールノボラック樹脂である。
ノール性水酸基の残基であり、多価アルコールとしては
以下のものがあげられる。例えば、エチレングリコー
ル、トリエチレングリコール、グリセリン、ポリグリセ
リン(グリセリンの2〜18量体、例えばジグリセリ
ン、トリグリセリン、テトラグリセリン等)、グリシド
ールの開環重合物(重合度が2〜5000である化合
物)、トリメチロールアルカン(トリメチロールエタ
ン、トリメチロールプロパン、トリメチロールブタン
等)および、これらの2〜3量体、モノペンタエリスリ
トール、ジペンタエリスリトール、1,3,5−ペンタ
エリスリトール、ソルビトール、ソルビタンソルビタン
グリセリン縮合物等があげられ、多価フェノール性水酸
基含有化合物としてはフェノールノボラック樹脂、クレ
ゾールノボラック樹脂、これらの樹脂を部分的に無水マ
レイン酸と反応させて得られるカルボン酸含有フェノー
ルノボラック樹脂、またはカルボン酸含有クレゾールノ
ボラック樹脂等があげられる。これらのうち好ましくは
カルボン酸含有フェノールノボラック樹脂、およびカル
ボン酸含有クレゾールノボラック樹脂である。
【0009】n個のmは通常0〜200の整数でありm
の少なくとも1個は1以上であり、好ましくは1〜8
0、特に好ましくは1〜5の整数である。mが200を
超えると通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。
の少なくとも1個は1以上であり、好ましくは1〜8
0、特に好ましくは1〜5の整数である。mが200を
超えると通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。
【0010】nは2〜200、好ましくは3〜100、
特に好ましくは3〜5の整数である。nが200を超え
ると、通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。
特に好ましくは3〜5の整数である。nが200を超え
ると、通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。
【0011】本発明におけるプロペニルエーテル末端基
を有するポリエステルオリゴマーは下記一般式(2)、
(3)または(4)で表される化合物があげられる。
を有するポリエステルオリゴマーは下記一般式(2)、
(3)または(4)で表される化合物があげられる。
【0012】 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2、X3はそれぞれHOX2OH、HOX3OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
あり、Y1は多価カルボン酸残基であり、Y2は2価カル
ボン酸残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシル又
はアリール基でもよい。}
であり、X2、X3はそれぞれHOX2OH、HOX3OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
あり、Y1は多価カルボン酸残基であり、Y2は2価カル
ボン酸残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシル又
はアリール基でもよい。}
【0013】一般式(2)におけるX2は、HOX2OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
ある。
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
ある。
【0014】HOX2OHで表されるアルキレンジオー
ルの例としては、エチレングリコール、プロピレングリ
コール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオ
ール、1,6−ヘキサンジオール、1,9−ノナンジオ
ール、ネオペンチルグリコール、1.4−シクロヘキサ
ンジオールなどがあげらる。これらのうち好ましくは、
エチレングリコール、およびプロピレングリコールであ
る。
ルの例としては、エチレングリコール、プロピレングリ
コール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオ
ール、1,6−ヘキサンジオール、1,9−ノナンジオ
ール、ネオペンチルグリコール、1.4−シクロヘキサ
ンジオールなどがあげらる。これらのうち好ましくは、
エチレングリコール、およびプロピレングリコールであ
る。
【0015】HOX2OHで表されるアリーレンジオー
ルの例としては、カテコール、ビス(2−ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、ビスフェノールAなどがあげられる。これらのうち
好ましくは、ビスフェノールAである。
ルの例としては、カテコール、ビス(2−ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、ビスフェノールAなどがあげられる。これらのうち
好ましくは、ビスフェノールAである。
【0016】HOX2OHで表されるポリエーテルジオ
ールの例としては、ポリ(オキシエチレン)ジオール、
ポリ(オキシプロピレン)ジオール、ポリ(オキシテト
ラメチレン)ジオール、ビスフェノールAのエチレンオ
キサイド付加物、およびビスフェノールAのプロピレン
オキサイド付加物などがあげられる。これらのうち好ま
しくは、ポリ(オキシエチレン)ジオールおよびポリ
(オキシプロピレン)ジオールである。
ールの例としては、ポリ(オキシエチレン)ジオール、
ポリ(オキシプロピレン)ジオール、ポリ(オキシテト
ラメチレン)ジオール、ビスフェノールAのエチレンオ
キサイド付加物、およびビスフェノールAのプロピレン
オキサイド付加物などがあげられる。これらのうち好ま
しくは、ポリ(オキシエチレン)ジオールおよびポリ
(オキシプロピレン)ジオールである。
【0017】上記ポリエーテルジオールの重合度は通常
1〜200、好ましくは2〜100、特に好ましくは3
〜20である。
1〜200、好ましくは2〜100、特に好ましくは3
〜20である。
【0018】HOX2OHで表されるポリウレタンジオ
ールの例としては下記の(i)と(ii)との反応生成
物があげられる。 (i) H(OX5)m−OHで表される化合物 (mは0〜200の整数、X5は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (ii) OCN−Z3−NCO (式中、Z3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基からなる群から選ばれる2
価の基である)
ールの例としては下記の(i)と(ii)との反応生成
物があげられる。 (i) H(OX5)m−OHで表される化合物 (mは0〜200の整数、X5は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (ii) OCN−Z3−NCO (式中、Z3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基からなる群から選ばれる2
価の基である)
【0019】上記(i)のポリエーテルジオールにおい
てmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整数で
ある。
てmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整数で
ある。
【0020】上記(i)のポリエーテルジオールにおい
てX5は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、ア
ラルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群か
ら選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の
例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、
ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノ
ニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげ
られる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレ
ン、アントリレン、フェナントリレン等があげられる。
アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレ
ン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−
フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあ
げられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチ
レン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオ
クチレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エ
チレン、プロピレン基である。アルキレン基が長くなる
と開始剤の溶解性が悪くなる。
てX5は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、ア
ラルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群か
ら選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の
例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、
ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノ
ニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげ
られる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレ
ン、アントリレン、フェナントリレン等があげられる。
アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレ
ン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−
フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあ
げられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチ
レン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオ
クチレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エ
チレン、プロピレン基である。アルキレン基が長くなる
と開始剤の溶解性が悪くなる。
【0021】上記(ii)のジイソシアネートの例とし
ては、トルエンジイソシアネート(TDI)、p−およ
び、m−フェニレンジイソシアネート、1,4−テトラ
メチレンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジ
イソシアネート、2,2,4−トリメチルヘキサメチレ
ンジイソシアネート、1,4−シクロヘキサンジイソシ
アネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシ
アネート(デスモジュールW)、4,4’−ジフェニル
メタンジイソシアネート(MDI)、3,3’−ジメチ
ル−4、4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、
1,5−テトラヒドロナフタリンジイソシアネート、ナ
フタリン−1,5’−ジイソシアネート、ビス(2−メ
チル−3−イソシアネートフェニル)メタン、4,4’
−ジフェニルプロパンジイソシアネート、テトラメチル
キシレンジイソシアネート(TMXDI)、イソホロン
ジイソシアネート(IPDI)などがあげられる。これ
らのうち好ましくは、トルエンジイソシアネート(TD
I)、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート
(MDI)、イソホロンジイソシアネート(IPD
I)、テトラメチルキシレンジイソシアネート(TMX
DI)、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシア
ネート(デスモジュールW)、1,6−ヘキサメチレン
ジイソシアネートである。
ては、トルエンジイソシアネート(TDI)、p−およ
び、m−フェニレンジイソシアネート、1,4−テトラ
メチレンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジ
イソシアネート、2,2,4−トリメチルヘキサメチレ
ンジイソシアネート、1,4−シクロヘキサンジイソシ
アネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシ
アネート(デスモジュールW)、4,4’−ジフェニル
メタンジイソシアネート(MDI)、3,3’−ジメチ
ル−4、4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、
1,5−テトラヒドロナフタリンジイソシアネート、ナ
フタリン−1,5’−ジイソシアネート、ビス(2−メ
チル−3−イソシアネートフェニル)メタン、4,4’
−ジフェニルプロパンジイソシアネート、テトラメチル
キシレンジイソシアネート(TMXDI)、イソホロン
ジイソシアネート(IPDI)などがあげられる。これ
らのうち好ましくは、トルエンジイソシアネート(TD
I)、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート
(MDI)、イソホロンジイソシアネート(IPD
I)、テトラメチルキシレンジイソシアネート(TMX
DI)、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシア
ネート(デスモジュールW)、1,6−ヘキサメチレン
ジイソシアネートである。
【0022】HOX2OHで表されるポリカーボネート
ジオールの例としては下記の一般式であげられる化合物
があげられる。 (mは1〜200の整数であり、X6は炭素数2〜12
のアルキレン、アリーレン、アラルキレン、およびシク
ロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2価の基であ
る)
ジオールの例としては下記の一般式であげられる化合物
があげられる。 (mは1〜200の整数であり、X6は炭素数2〜12
のアルキレン、アリーレン、アラルキレン、およびシク
ロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2価の基であ
る)
【0023】上記一般式においてmは通常1〜200の
整数、好ましくは3〜20の整数である。
整数、好ましくは3〜20の整数である。
【0024】上記のポリカーボネートジオールにおいて
X6は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、アラ
ルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群から
選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の例
には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、ペ
ンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノニ
レン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげら
れる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレン、
アントリレン、フェナントリレン等があげられる。アル
アルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレン、
2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−フェ
ニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあげら
れる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチレ
ン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオク
チレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エチ
レン、およびプロピレン基である。アルキレン基が長く
なると開始剤の溶解性が悪くなる。
X6は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、アラ
ルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群から
選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の例
には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、ペ
ンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノニ
レン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげら
れる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレン、
アントリレン、フェナントリレン等があげられる。アル
アルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレン、
2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−フェ
ニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあげら
れる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチレ
ン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオク
チレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エチ
レン、およびプロピレン基である。アルキレン基が長く
なると開始剤の溶解性が悪くなる。
【0025】一般式(2)におけるX3は、上記のX2で
示されるものと同一のものがあげられ、X2とX3は同一
でも、異なっていてもよい。
示されるものと同一のものがあげられ、X2とX3は同一
でも、異なっていてもよい。
【0026】一般式(2)におけるY1は多価カルボン
酸残基であり、Y2は2価カルボン酸残基である。2価
カルボン酸の例としては、フタル酸、イソフタル酸、テ
レフタル酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル
酸、アジピン酸等があげられ、3価以上のものとしたは
トリメリット酸、ピリメリット酸、その他のポリカルボ
ン酸等があげられる。これらのうちY1、Y2ともにイソ
フタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸が好まし
い。
酸残基であり、Y2は2価カルボン酸残基である。2価
カルボン酸の例としては、フタル酸、イソフタル酸、テ
レフタル酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル
酸、アジピン酸等があげられ、3価以上のものとしたは
トリメリット酸、ピリメリット酸、その他のポリカルボ
ン酸等があげられる。これらのうちY1、Y2ともにイソ
フタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸が好まし
い。
【0027】一般式(2)において、mは通常1〜20
0、好ましくは1〜80、特に好ましくは1〜20の整
数である。mが200をこえると粘度が高くなり開始剤
の溶解が困難になる。
0、好ましくは1〜80、特に好ましくは1〜20の整
数である。mが200をこえると粘度が高くなり開始剤
の溶解が困難になる。
【0028】一般式(2)おいて、nは通常2〜20
0、好ましくは3〜100、特に好ましくは3〜20の
整数である。nが200より大きくなると、粘度が高く
なり開始剤の溶解が困難になる。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシル又はアリール基でもよい。
0、好ましくは3〜100、特に好ましくは3〜20の
整数である。nが200より大きくなると、粘度が高く
なり開始剤の溶解が困難になる。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシル又はアリール基でもよい。
【0029】一般式(3)は、 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2はアルキレンまたはアリーレン基であり、
X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。}で表される。
であり、X2はアルキレンまたはアリーレン基であり、
X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。}で表される。
【0030】一般式(3)におけるX1は一般式(1)
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、mおよ
びnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同一の
ものがあげられる。
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、mおよ
びnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同一の
ものがあげられる。
【0031】一般式(4)は、 {式中、mは1〜200、nは2〜200の整数であ
り、X2、X3はそれぞれ、HOX2OH、HOX3OHで
表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポ
リエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリ
カーボネートジオールのいずれかのジオールの残基であ
り、X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少な
くとも2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、ア
ルキル、アシル又はアリール基でもよい。}で表され
る。
り、X2、X3はそれぞれ、HOX2OH、HOX3OHで
表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポ
リエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリ
カーボネートジオールのいずれかのジオールの残基であ
り、X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少な
くとも2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、ア
ルキル、アシル又はアリール基でもよい。}で表され
る。
【0032】一般式(4)におけるX1は一般式(1)
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、X3、m
およびnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同
一のものがあげられ、X2とX3は同一でも、異なってい
てもよい。
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、X3、m
およびnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同
一のものがあげられ、X2とX3は同一でも、異なってい
てもよい。
【0033】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有するウレタンオリゴマーは下記一般式
(5)で表される。 {式中、mは0〜200、nは2〜200の整数であ
り、Q1は−OX2O−または−N(R2)−X4−N(R
2)−で表される基であり、Q2は−OX2O−で表され
る基である。X2は、HOX2OHで表されるアルキルジ
オール、アリールジオール、ポリ エーテルジオール、
ポリエステルジオールまたはポリカーボネートジオール
のいずれかのジオールの残基である。−N(R2)−X4
−N(R2)−はHN(R2)−X4−N(R2)Hで表さ
れるジアミン残基であり、X4は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレンまたはシクロアルキ
レン基であり、R2は炭素数2〜12のアルキル、アリ
ール、アラルキルまたはシクロアルキル基である。Z1
は多価イソシアネート残基であり、Z2は2価イソシア
ネート残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。}
ル末端基を有するウレタンオリゴマーは下記一般式
(5)で表される。 {式中、mは0〜200、nは2〜200の整数であ
り、Q1は−OX2O−または−N(R2)−X4−N(R
2)−で表される基であり、Q2は−OX2O−で表され
る基である。X2は、HOX2OHで表されるアルキルジ
オール、アリールジオール、ポリ エーテルジオール、
ポリエステルジオールまたはポリカーボネートジオール
のいずれかのジオールの残基である。−N(R2)−X4
−N(R2)−はHN(R2)−X4−N(R2)Hで表さ
れるジアミン残基であり、X4は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレンまたはシクロアルキ
レン基であり、R2は炭素数2〜12のアルキル、アリ
ール、アラルキルまたはシクロアルキル基である。Z1
は多価イソシアネート残基であり、Z2は2価イソシア
ネート残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。}
【0034】一般式(5)において、Z2における2価
イソシアネートとしては前記式(ii)であげられたも
のと同一のものがあげられる。Z1における多価イソシ
アネートとしてはリジンエステルトリイソシアネート、
ヘキサメチレントリイソシアネートおよびポリフェニル
ポリイソシアネート等があげられる。
イソシアネートとしては前記式(ii)であげられたも
のと同一のものがあげられる。Z1における多価イソシ
アネートとしてはリジンエステルトリイソシアネート、
ヘキサメチレントリイソシアネートおよびポリフェニル
ポリイソシアネート等があげられる。
【0035】一般式(5)において、Q1は−OX2O−
または−N(R2)−X4−N(R2)−で表される基で
あり、Q2は−OX2O−で表される基である。X2はH
OX2OHで表されるアルキレンジオール、アリ−レン
ジオール、ポリエーテルジオール、ポリエステルジオー
ルまたはポリカーボネートジオールのいずれかのジオー
ルの残基であり、X2は一般(2)におけるX2と同一の
ものがあげられる。
または−N(R2)−X4−N(R2)−で表される基で
あり、Q2は−OX2O−で表される基である。X2はH
OX2OHで表されるアルキレンジオール、アリ−レン
ジオール、ポリエーテルジオール、ポリエステルジオー
ルまたはポリカーボネートジオールのいずれかのジオー
ルの残基であり、X2は一般(2)におけるX2と同一の
ものがあげられる。
【0036】上記HOX2OHがポリエステルジオール
の場合、下記の(iii)と(iv)との反応生成物が
あげられる。 (iii) H(OX7)m−OH (mは0〜200の整数、X7は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (iv) HOOC−Y3−COOH (式中、Y3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2
価の基である)
の場合、下記の(iii)と(iv)との反応生成物が
あげられる。 (iii) H(OX7)m−OH (mは0〜200の整数、X7は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (iv) HOOC−Y3−COOH (式中、Y3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2
価の基である)
【0037】上記(iii)のポリエーテルジオールに
おいてmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整
数である。
おいてmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整
数である。
【0038】上記(iii)のポリエーテルジオールに
おいてX7は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレ
ン、アラルキレンおよびシクロアルキレンの基よりなる
群から選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン
基の例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレ
ン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレ
ン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等
があげられる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフ
チレン、アントリレン、フェナントリレン等があげられ
る。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニ
チレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、
2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなど
があげられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペ
ンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シク
ロオクチレン等があげられる。これらのうち好ましく
は、エチレン基およびプロピレン基である。アルキレン
基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。
おいてX7は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレ
ン、アラルキレンおよびシクロアルキレンの基よりなる
群から選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン
基の例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレ
ン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレ
ン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等
があげられる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフ
チレン、アントリレン、フェナントリレン等があげられ
る。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニ
チレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、
2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなど
があげられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペ
ンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シク
ロオクチレン等があげられる。これらのうち好ましく
は、エチレン基およびプロピレン基である。アルキレン
基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。
【0039】上記(iv)のジカルボン酸の例として
は、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、シュウ
酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ポ
リカルボン酸等があげられる。これらのうち好ましく
は、イソフタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸で
ある。X4は、一般式(2)におけるX2と同一のものが
あげられ、R2は一般式(1)中のAで示されたものと
同一のものがあげられ、mおよびnは一般式(2)で示
したものと同一のものがあげられる。
は、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、シュウ
酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ポ
リカルボン酸等があげられる。これらのうち好ましく
は、イソフタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸で
ある。X4は、一般式(2)におけるX2と同一のものが
あげられ、R2は一般式(1)中のAで示されたものと
同一のものがあげられ、mおよびnは一般式(2)で示
したものと同一のものがあげられる。
【0040】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有するモノマーは下記一般式(6)または一
般式(7)で表される。 X1[−O−R1]n (6) (式中、nは2〜200の整数であり、X1は多価アル
コール残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。)
ル末端基を有するモノマーは下記一般式(6)または一
般式(7)で表される。 X1[−O−R1]n (6) (式中、nは2〜200の整数であり、X1は多価アル
コール残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。)
【0041】一般式(6)において、nは通常2〜20
0、好ましくは2〜6の整数である。nが200を超え
ると粘度が高くハンドリングが悪くなる。X1は一般式
(1)で示したものと同一のものがあげられる。
0、好ましくは2〜6の整数である。nが200を超え
ると粘度が高くハンドリングが悪くなる。X1は一般式
(1)で示したものと同一のものがあげられる。
【0042】 {式中、nは2−200、X2は、HOX2OHで表され
るアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポリエー
テルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリカーボ
ネートジオールのいずれかのジオールの残基であり、Y
1は多価カルボン酸残基である。n個のR1の少なくとも
2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} 一般式(7)において、nは通常2〜200、好ましく
は2〜6の整数である。nが200を超えると粘度が高
くハンドリングが悪くなる。Y1およびX2は一般式
(2)であげられたものと同一のものがあげられる。
るアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポリエー
テルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリカーボ
ネートジオールのいずれかのジオールの残基であり、Y
1は多価カルボン酸残基である。n個のR1の少なくとも
2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} 一般式(7)において、nは通常2〜200、好ましく
は2〜6の整数である。nが200を超えると粘度が高
くハンドリングが悪くなる。Y1およびX2は一般式
(2)であげられたものと同一のものがあげられる。
【0043】本発明において使用される光重合開始剤
(B)としては、公知の光カチオン重合開始剤が使用で
きる。例えば、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムホスフェ
ート、P−(フェニルチオ)フェニルジフェニルスルホ
ニウムヘキサフルオロアンチモネート、P−(フェニル
チオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオロ
ホスフェート、4−クロルフェニルジフェニルスルホニ
ウムヘキサフルオロホスフェート、4−クロルフェニル
ジフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネー
ト、ビス[4−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]ス
ルフィドビスヘキサフルオロフォスフェート、ビス[4
−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]スルフィドビス
ヘキサフルオロアンチモネート、(2、4−シクロペン
タジエン−1−イル)[(1−メチルエチル)ベンゼ
ン]−Fe−ヘキサフルオロホスフェート等を挙げるこ
とができる。これらは市場より容易に入手することがで
きる。例えば、旭電化(株)製、SP−150、SP−
170、チバ・ガイギー社製、イルガキュアー261、
ユニオンカーバイド社製、UVR−6974、UVR−
6990等を挙げることができる。
(B)としては、公知の光カチオン重合開始剤が使用で
きる。例えば、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムホスフェ
ート、P−(フェニルチオ)フェニルジフェニルスルホ
ニウムヘキサフルオロアンチモネート、P−(フェニル
チオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオロ
ホスフェート、4−クロルフェニルジフェニルスルホニ
ウムヘキサフルオロホスフェート、4−クロルフェニル
ジフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネー
ト、ビス[4−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]ス
ルフィドビスヘキサフルオロフォスフェート、ビス[4
−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]スルフィドビス
ヘキサフルオロアンチモネート、(2、4−シクロペン
タジエン−1−イル)[(1−メチルエチル)ベンゼ
ン]−Fe−ヘキサフルオロホスフェート等を挙げるこ
とができる。これらは市場より容易に入手することがで
きる。例えば、旭電化(株)製、SP−150、SP−
170、チバ・ガイギー社製、イルガキュアー261、
ユニオンカーバイド社製、UVR−6974、UVR−
6990等を挙げることができる。
【0044】本発明において組成物の粘度を調節する目
的で必要に応じて反応性希釈剤(C)を使用できる。
的で必要に応じて反応性希釈剤(C)を使用できる。
【0045】該(C)は下記一般式(8)であらわされ
る化合物があげられる。 CH3−CH=CH−O−X2−O−R3 (8) {式中、X2は、HOX2OHで表されるアルキレンジオ
ール、アリーレンジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リウレタンジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基であり、R3は炭素数が2〜
12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロアルキ
ル基または水素原子である。}
る化合物があげられる。 CH3−CH=CH−O−X2−O−R3 (8) {式中、X2は、HOX2OHで表されるアルキレンジオ
ール、アリーレンジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リウレタンジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基であり、R3は炭素数が2〜
12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロアルキ
ル基または水素原子である。}
【0046】上記一般式においてX2は一般式(2)で
示されたものと同一のものがあげられ、R3は炭素数が
2〜12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロア
ルキル基または水素原子である。
示されたものと同一のものがあげられ、R3は炭素数が
2〜12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロア
ルキル基または水素原子である。
【0047】本発明において(A)および(B)の使用
割合は通常(A):(B)の重量比が(95〜99.
9):(0.01〜5)であり、好ましくは(97〜9
9):(1〜3)である。
割合は通常(A):(B)の重量比が(95〜99.
9):(0.01〜5)であり、好ましくは(97〜9
9):(1〜3)である。
【0048】本発明において(A)と(B)の合計重量
に対して(C)を通常5〜40重量%、好ましくは10
〜30重量%であり、(C)が40重量%をこえると、
硬化速度が大幅に低下する。
に対して(C)を通常5〜40重量%、好ましくは10
〜30重量%であり、(C)が40重量%をこえると、
硬化速度が大幅に低下する。
【0049】本発明の組成物には必要により(A)とと
もに公知の光ラジカル重合性組成物(D)を併用するこ
とができる。含有する(D)の量としては、通常(A)
成分100重量部に対し0〜100重量部を使用し、好
ましくは10〜40%である。
もに公知の光ラジカル重合性組成物(D)を併用するこ
とができる。含有する(D)の量としては、通常(A)
成分100重量部に対し0〜100重量部を使用し、好
ましくは10〜40%である。
【0050】本発明の組成物には、更に必要に応じて、
密着向上剤、熱重合防止剤、塗料、顔料、可塑剤、難燃
剤、微粒状充填剤、塗工性向上剤、その他各種添加剤等
を含有させることができる。
密着向上剤、熱重合防止剤、塗料、顔料、可塑剤、難燃
剤、微粒状充填剤、塗工性向上剤、その他各種添加剤等
を含有させることができる。
【0051】
【実施例】以下、実施例を以て本発明を具体的に説明す
るが、本発明はこれらに限定されない。
るが、本発明はこれらに限定されない。
【0052】実施例1〜5、比較例1〜3 表1に示した処方で調整した配合物を用い、下記評価方
法、および評価基準にしたがい、光硬化性、現像性、お
よび銅密着性の評価をおこなった。得られた結果を表2
に示す。光硬化性の評価法:それぞれの配合物を銅張積
層板に膜厚40μmで塗布し、しかるのち熱風循環式乾
燥炉中において70℃で30分間乾燥させることにより
テストピースを作製した。それぞれのテストピースに1
00μmの直線状ラインのネガを使用し、照射強度が1
0mW/cm2なる平行露光装置で紫外線を所定量照射
し、次いで「エタナーIR」(旭化成工業製)を現像液
としてスプレーで1分間現像せしめたのちの塗膜の状態
を目視判定した。 光硬化性の評価基準: ◎ 全く変化なし ○ 表面が僅かに変化する △ 表面が顕著に変化する × 塗膜が脱落するもの 現像性の評価法:それぞれのテストピースを「エタナー
IR」(旭化成工業製)を現像液としてスプレーで現像
を行ったときの各時間ごとの現像性を顕微鏡にて目視判
定した。 現像性の評価基準: ◎ 細かいところまで現像できた ○ 基板表面に薄く現像できない部分が残るもの △ 現像できないものがかなり残るもの × ほとんど現像されていないもの 銅密着性の評価方法:JIS D−0202の試験法に
従って、それぞれのテストピースに碁盤目状にクロスカ
ットをいれ、次いでセロテープによるビーリング試験後
の剥がれの状態を目視により判定した。 銅密着性の評価基準: ◎ 100/100で全く変化が認め
られないもの ○ 100/100で線の際が僅かに剥がれたもの △ 50/100〜90/100 × 0/100〜50/100
法、および評価基準にしたがい、光硬化性、現像性、お
よび銅密着性の評価をおこなった。得られた結果を表2
に示す。光硬化性の評価法:それぞれの配合物を銅張積
層板に膜厚40μmで塗布し、しかるのち熱風循環式乾
燥炉中において70℃で30分間乾燥させることにより
テストピースを作製した。それぞれのテストピースに1
00μmの直線状ラインのネガを使用し、照射強度が1
0mW/cm2なる平行露光装置で紫外線を所定量照射
し、次いで「エタナーIR」(旭化成工業製)を現像液
としてスプレーで1分間現像せしめたのちの塗膜の状態
を目視判定した。 光硬化性の評価基準: ◎ 全く変化なし ○ 表面が僅かに変化する △ 表面が顕著に変化する × 塗膜が脱落するもの 現像性の評価法:それぞれのテストピースを「エタナー
IR」(旭化成工業製)を現像液としてスプレーで現像
を行ったときの各時間ごとの現像性を顕微鏡にて目視判
定した。 現像性の評価基準: ◎ 細かいところまで現像できた ○ 基板表面に薄く現像できない部分が残るもの △ 現像できないものがかなり残るもの × ほとんど現像されていないもの 銅密着性の評価方法:JIS D−0202の試験法に
従って、それぞれのテストピースに碁盤目状にクロスカ
ットをいれ、次いでセロテープによるビーリング試験後
の剥がれの状態を目視により判定した。 銅密着性の評価基準: ◎ 100/100で全く変化が認め
られないもの ○ 100/100で線の際が僅かに剥がれたもの △ 50/100〜90/100 × 0/100〜50/100
【0053】
【表1】
【0054】表1に示した化合物は以下の通りである。
なお、CH3−CH=CH−基(プロペニル基)はPr
と略す。プロペニルエーテル末端基化合物(1): Pr−O−(CH2CH2O)12−Pr プロペニルエーテル末端基化合物(2): プロペニルエーテル末端基化合物(3): Pr−O−(CH2CH2O)6−XO−(CH2CH
2O)6−Pr X:ビスフェノールA残基 プロペニルエーテル末端基化合物(4): プロペニルエーテル末端基化合物(5): X:トリエチレングリコール残基 Z:4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート残
基、 プロペニルエーテル末端基化合物(6): R[O−Pr]3 R:トリメチロールプロパン残基 アクリレート末端基化合物(7): アクリレート末端基化合物(8): R:トリメチロールプロパン残基 エポキシ末端基化合物(9):EP−828(油化シェ
ル社製ビスフェノール型エポキシ樹脂 脂環式エポキシ末端基化合物(10):ERL−422
1(UCC製脂環式エポキシ樹脂) 光重合触媒(11):UVR−6974(P−(フェニ
ルチオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、ビス[4−(ジフェニルスルフォニ
オ)フェニル]スルフィドビスヘキサフルオロアンチモ
ネート混合物の50%希釈品) 光重合触媒(12):イルガキュアー184(チバ・ガ
イギー社製) バインダーポエイマー(13):メタクリル酸/メタア
クリル酸メチル/アクリル酸n−ブチル=23/57/
20重量比の共重合体(重量平均分子量約80、00
0)の40%メチルセルソルブ溶液
なお、CH3−CH=CH−基(プロペニル基)はPr
と略す。プロペニルエーテル末端基化合物(1): Pr−O−(CH2CH2O)12−Pr プロペニルエーテル末端基化合物(2): プロペニルエーテル末端基化合物(3): Pr−O−(CH2CH2O)6−XO−(CH2CH
2O)6−Pr X:ビスフェノールA残基 プロペニルエーテル末端基化合物(4): プロペニルエーテル末端基化合物(5): X:トリエチレングリコール残基 Z:4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート残
基、 プロペニルエーテル末端基化合物(6): R[O−Pr]3 R:トリメチロールプロパン残基 アクリレート末端基化合物(7): アクリレート末端基化合物(8): R:トリメチロールプロパン残基 エポキシ末端基化合物(9):EP−828(油化シェ
ル社製ビスフェノール型エポキシ樹脂 脂環式エポキシ末端基化合物(10):ERL−422
1(UCC製脂環式エポキシ樹脂) 光重合触媒(11):UVR−6974(P−(フェニ
ルチオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、ビス[4−(ジフェニルスルフォニ
オ)フェニル]スルフィドビスヘキサフルオロアンチモ
ネート混合物の50%希釈品) 光重合触媒(12):イルガキュアー184(チバ・ガ
イギー社製) バインダーポエイマー(13):メタクリル酸/メタア
クリル酸メチル/アクリル酸n−ブチル=23/57/
20重量比の共重合体(重量平均分子量約80、00
0)の40%メチルセルソルブ溶液
【0055】
【表2】
【0056】
【発明の効果】以上、説明したように、プロペニルエー
テル末端基を有する化合物を含むフォトソルダーレジス
ト組成物は、ラジカル重合型のアクリレート系樹脂より
も、高速に硬化し、表面硬化性に優れ、光硬化時の体積
収縮が小さく、基板との密着性に優れるという特徴を有
する。また、エポキシ系紫外線硬化樹脂よりも、高速硬
化性である。これらのことから、本発明のフォトソルダ
ーレジスト組成物を用いると高解像性、高感度のレジス
トパターンを形成することが可能となり、プリント配線
板の製造にとって極めて有用なのもである。
テル末端基を有する化合物を含むフォトソルダーレジス
ト組成物は、ラジカル重合型のアクリレート系樹脂より
も、高速に硬化し、表面硬化性に優れ、光硬化時の体積
収縮が小さく、基板との密着性に優れるという特徴を有
する。また、エポキシ系紫外線硬化樹脂よりも、高速硬
化性である。これらのことから、本発明のフォトソルダ
ーレジスト組成物を用いると高解像性、高感度のレジス
トパターンを形成することが可能となり、プリント配線
板の製造にとって極めて有用なのもである。
Claims (10)
- 【請求項1】 少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトソルダーレジスト組成物。 - 【請求項2】 (A)がプロペニルエーテル末端基を有
する(ポリ)エーテルオリゴマー、プロペニルエーテル
末端基を有するポリエステルオリゴマー、プロペニルエ
ーテル末端基を有するウレタンオリゴマー、プロペニル
エーテル末端基を有するノボラック型エポキシ樹脂およ
びプロペニルエーテル末端基を有するモノマーの群から
選ばれる1種以上の化合物である請求項1記載の組成
物。 - 【請求項3】 プロペニルエーテル末端基を有する(ポ
リ)エーテルオリゴマーが下記一般式(1)で表される
オリゴマーである請求項2記載の組成物。 X1[−O−(AO)m−R1]n (1) {式中、nは2〜200の整数であり、n個のmは0〜
200の整数でありmの少なくとも1個は1以上であ
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。Aは炭素数2〜12のアルキレン、アリー
レン、アルアルキレンまたはシクロアルキレン基であ
り、mが2以上の場合のAは同一でも異なっていても良
く、(AO)m部分はランダム付加でもブロック付加で
も良い。X1は多価アルコール残基または多価フェノー
ル性水酸基の残基である。} - 【請求項4】 プロペニルエーテル末端基を有するポリ
エステルオリゴマーが下記一般式(2)、一般式
(3)、または一般式(4)で表されるオリゴマーであ
る請求項2記載の組成物。 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2、X3はそれぞれHOX2OH、HOX3OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
あり、Y1は多価カルボン酸残基であり、Y2は2価カル
ボン酸残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシル又
はアリール基でもよい。} {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2はアルキレンまたはアリーレン基であり、
X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} {式中、mは1〜200、nは2〜200の整数であ
り、X2、X3はそれぞれ、HOX2OH、HOX3OHで
表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポ
リエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリ
カーボネートジオールのいずれかのジオールの残基であ
り、X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少な
くとも2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、ア
ルキル、アシル又はアリール基でもよい。} - 【請求項5】 プロペニルエーテル末端基を有するウレ
タンオリゴマーが下記一般式(5)で表されるオリゴマ
ーである請求項2記載の組成物。 {式中、mは0〜200、nは2〜200の整数であ
り、Q1は−OX2O−または−N(R2)−X4−N(R
2)−で表される基であり、Q2は−OX2O−で表され
る基である。X2は、HOX2OHで表されるアルキルジ
オール、アリールジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リエステルジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基である。−N(R2)−X4−
N(R2)−はHN(R2)−X4−N(R2)Hで表され
るジアミン残基であり、X4は炭素数2〜12のアルキ
レン、アリーレン、アラルキレンまたはシクロアルキレ
ン基であり、R2は炭素数2〜12のアルキル、アリー
ル、アラルキルまたはシクロアルキル基である。Z1は
多価イソシアネート残基であり、Z2は2価イソシアネ
ート残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロペ
ニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルまた
はアリール基でもよい。} - 【請求項6】 プロペニルエーテル末端基を有するモノ
マーが下記一般式(6)または一般式(7)で表される
請求項2記載の組成物。 X1[−O−R1]n (6) (式中、nは2〜200の整数であり、X1は多価アル
コール残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。) {式中、nは2−200、X2は、HOX2OHで表され
るアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポリエー
テルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリカーボ
ネートジオールのいずれかのジオールの残基であり、Y
1は多価カルボン酸残基である。n個のR1の少なくとも
2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} - 【請求項7】 (A):(B)の重量比が(95〜9
9.9):(0.01〜5)である請求項1〜6のいず
れか記載の組成物。 - 【請求項8】 さらに反応性希釈剤(C)が配合されて
なり、(C)の含量が、(A)と(B)の合計重量に対
して、5〜40%である請求項1〜7のいずれか記載の
組成物。 - 【請求項9】 (C)が下記一般式(8)で表される反
応性希釈剤である請求項8記載の組成物。 CH3−CH=CH−O−X2−O−R3 (8) {式中、X2は、HOX2OHで表されるアルキレンジオ
ール、アリーレンジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リウレタンジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基であり、R3は炭素数が2〜
12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロアルキ
ル基または水素原子である。} - 【請求項10】 請求項1〜9のいずれか記載のソルダ
ーレジスト組成物の硬化物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07345811A JP3105439B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | フォトソルダーレジスト組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07345811A JP3105439B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | フォトソルダーレジスト組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09160237A true JPH09160237A (ja) | 1997-06-20 |
| JP3105439B2 JP3105439B2 (ja) | 2000-10-30 |
Family
ID=18379150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07345811A Expired - Fee Related JP3105439B2 (ja) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | フォトソルダーレジスト組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3105439B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013057957A1 (ja) * | 2011-10-21 | 2013-04-25 | 日本化薬株式会社 | 紫外線硬化型樹脂組成物、硬化物及び物品 |
-
1995
- 1995-12-07 JP JP07345811A patent/JP3105439B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013057957A1 (ja) * | 2011-10-21 | 2013-04-25 | 日本化薬株式会社 | 紫外線硬化型樹脂組成物、硬化物及び物品 |
| CN103890028A (zh) * | 2011-10-21 | 2014-06-25 | 日本化药株式会社 | 紫外线固化型树脂组合物、固化物及物品 |
| JP2017020025A (ja) * | 2011-10-21 | 2017-01-26 | 日本化薬株式会社 | 紫外線硬化型樹脂組成物、硬化物及び物品 |
| TWI572691B (zh) * | 2011-10-21 | 2017-03-01 | 日本化藥股份有限公司 | 紫外線硬化型樹脂組成物、硬化物及物品 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3105439B2 (ja) | 2000-10-30 |
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