JPH09160237A - Photo soldering resist composition - Google Patents
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Landscapes
- Macromonomer-Based Addition Polymer (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板を
製造する際に使用される、光硬化可能なプロペニルエー
テル末端基化合物を含むフォトソルダーレジスト組成物
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosolder resist composition containing a photocurable propenyl ether end group compound used in manufacturing a printed wiring board.
【0002】[0002]
【従来の技術】ソルダーレジストは、プリント配線基板
製造において、ソルダリング工程で半田が不必要に付着
するのを防ぐ保護具として、また永久マスクとして必要
不可欠な材料である。従来、ソルダーレジストとしては
熱硬化性型のものが多く用いられ、これをスクリーン印
刷法で印刷を施す方法が一般的であったが、近年プリン
ト配線板の高密度化に伴いスクリーン印刷法では解像度
に限界があり、写真法でパターンを形成するフォトソル
ダーレジストが盛んに用いられるようになった。しかし
ながら、従来のフォトソルダーレジストに使用される感
光性樹脂はアクリル系光ラジカルUV硬化樹脂であり、
該樹脂の場合、酸素阻害による表面硬化性の低下がおこ
り、さらに光硬化時の体積収縮が大きく、基板との密着
性が低下することにより現像性、感度が低下するという
問題がある。これらの問題点を克服する組成物としてエ
ポキシ系光カチオンUV硬化樹脂があるが、光反応性が
低いため、硬化時に大きなUVエネルギーを必要とす
る。そのため、高UVエネルギー照射装置を必要とした
り、照射時間が長くかかるという欠点があった。このよ
うな、カチオン系UV硬化樹脂の反応性の低さを向上さ
せるための方法として、脂環式エポキシ化合物をベース
レジンまたは、希釈剤として用いる方法が知られている
(特開平1−209442号公報など)。しかし、この
ものはラジカル系UV硬化性樹脂の反応速度に比べると
遅く、工業的に入手できる脂環式エポキシの種類は限ら
れており、実用性能を満足できるものを得るのは困難で
あった。2. Description of the Related Art Solder resists are indispensable materials in printed wiring board manufacturing, as a protector for preventing unnecessary adhesion of solder in a soldering process and as a permanent mask. Conventionally, a thermosetting type resist is often used as a solder resist, and a method of printing this with a screen printing method has been generally used. However, with the recent increase in density of printed wiring boards, the resolution of the screen printing method has been increased. There is a limit to this, and a photo solder resist that forms a pattern by a photographic method has been widely used. However, the photosensitive resin used in the conventional photo solder resist is an acrylic photo-radical UV curable resin,
In the case of the resin, there is a problem that the surface curability is lowered due to oxygen inhibition, the volume shrinkage during photocuring is large, and the adhesiveness to the substrate is lowered, so that the developability and the sensitivity are lowered. An epoxy photocationic UV curable resin is a composition that overcomes these problems, but it requires a large amount of UV energy during curing due to its low photoreactivity. Therefore, there are drawbacks that a high UV energy irradiation device is required and that irradiation time is long. As a method for improving such low reactivity of the cationic UV curable resin, a method using an alicyclic epoxy compound as a base resin or a diluent is known (JP-A-1-209442). Gazette). However, this is slower than the reaction rate of the radical UV curable resin, the types of alicyclic epoxies that are industrially available are limited, and it was difficult to obtain a product that satisfies practical performance. .
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の技術
の前述した問題点を解決し、UV等の活性エネルギー線
を照射することにより、高速に硬化し、表面硬化性に優
れ、光硬化時の体積収縮が小さく、基板との密着性に優
れることによる高現像性、高感度のフォトソルダーレジ
スト組成物を提供することを目的とする。DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and cures at a high speed by irradiating active energy rays such as UV and has excellent surface curability, and photocuring. It is an object of the present invention to provide a photo solder resist composition having high developability and high sensitivity due to its small volume shrinkage and excellent adhesion to a substrate.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明者は上記課題を解
決するため、鋭意検討した結果、本発明に到達した。す
なわち本発明は少なくとも2個のプロペニルエーテル末
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトソルダーレジスト組成物である。The present inventor has arrived at the present invention as a result of extensive studies in order to solve the above problems. That is, the present invention relates to a compound (A) having at least two propenyl ether end groups, and a photopolymerization initiator (B).
Is a photo solder resist composition.
【0005】[0005]
【発明の実施の形態】本発明の(A)としては次のもの
があげられる。すなわち、プロペニルエーテル末端基を
有する(ポリ)エーテルオリゴマー、プロペニルエーテ
ル末端基を有するポリエステルオリゴマー、プロペニル
エーテル末端基を有するウレタンオリゴマーおよびプロ
ペニルエーテル末端基を有するモノマーの群から選ばれ
る1種以上のものであり、好ましくはプロペニルエーテ
ル末端基を有するウレタンオリゴマーである。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (A) of the present invention includes the following. That is, at least one selected from the group consisting of a (poly) ether oligomer having a propenyl ether end group, a polyester oligomer having a propenyl ether end group, a urethane oligomer having a propenyl ether end group, and a monomer having a propenyl ether end group. And is preferably a urethane oligomer having a propenyl ether end group.
【0006】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有する(ポリ)エーテルオリゴマーは下記一
般式(1)で表される化合物である。 X1[−O−(AO)m−R1]n (1) {式中、nは2〜200の整数であり、n個のmは0〜
200の整数でありmの少なくとも1個は1以上であ
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。Aは炭素数2〜12のアルキレン、アリー
レン、アルアルキレンまたはシクロアルキレン基であ
り、mが2以上の場合のAは同一でも異なっていても良
く、(AO)m部分はランダム付加でもブロック付加で
も良い。X1は多価アルコール残基または多価フェノー
ル性水酸基の残基である。}The (poly) ether oligomer having a propenyl ether terminal group in (A) of the present invention is a compound represented by the following general formula (1). X 1 [-O- (AO) m -R 1] n (1) { wherein, n is an integer of 2 to 200, the n-number of m 0 to
It is an integer of 200 and at least one of m is 1 or more. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. A is an alkylene, arylene, aralkylene or cycloalkylene group having 2 to 12 carbon atoms, and when m is 2 or more, A may be the same or different, and the (AO) m portion may be random addition or block addition. good. X 1 is a polyhydric alcohol residue or a polyhydric phenolic hydroxyl group residue. }
【0007】一般式(1)において、Aはアルキレン、
アリーレン、アルアルキレンおよびシクロアルキレン基
よりなる群から選ばれる2価の基であり、使用しうるア
ルキレン基の例には、メチレン、エチレン、プロピレ
ン、ブチレン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、
オクチレン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデ
シレン等があげられる。アリーレン基の例にはフェニレ
ン、ナフチレン、アントリレン、フェナントリレン等が
あげられる。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1
−フェニチレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロ
ピレン、2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピ
レンなどがあげられる。シクロアルキレン基の例には、
シクロペンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレ
ン、シクロオクチレン等があげられる。これらのうち好
ましくは、エチレン基およびプロピレン基である。アル
キレン基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。In the general formula (1), A is alkylene,
It is a divalent group selected from the group consisting of arylene, aralkylene and cycloalkylene groups, and examples of alkylene groups that can be used include methylene, ethylene, propylene, butylene, pentylene, hexylene, heptylene,
Examples include octylene, nonylene, decylene, undecylene and dodecylene. Examples of the arylene group include phenylene, naphthylene, anthrylene, phenanthrylene and the like. Examples of alkylene are benzylene, 1
-Phenylene, 2-phenylene, 3-phenylpropylene, 2-phenylpropylene, 1-phenylpropylene and the like. Examples of cycloalkylene groups include:
Examples include cyclopentylene, cyclohexylene, cycloheptylene, cyclooctylene and the like. Of these, ethylene group and propylene group are preferable. When the alkylene group becomes long, the solubility of the initiator deteriorates.
【0008】X1は多価アルコール残基または多価フェ
ノール性水酸基の残基であり、多価アルコールとしては
以下のものがあげられる。例えば、エチレングリコー
ル、トリエチレングリコール、グリセリン、ポリグリセ
リン(グリセリンの2〜18量体、例えばジグリセリ
ン、トリグリセリン、テトラグリセリン等)、グリシド
ールの開環重合物(重合度が2〜5000である化合
物)、トリメチロールアルカン(トリメチロールエタ
ン、トリメチロールプロパン、トリメチロールブタン
等)および、これらの2〜3量体、モノペンタエリスリ
トール、ジペンタエリスリトール、1,3,5−ペンタ
エリスリトール、ソルビトール、ソルビタンソルビタン
グリセリン縮合物等があげられ、多価フェノール性水酸
基含有化合物としてはフェノールノボラック樹脂、クレ
ゾールノボラック樹脂、これらの樹脂を部分的に無水マ
レイン酸と反応させて得られるカルボン酸含有フェノー
ルノボラック樹脂、またはカルボン酸含有クレゾールノ
ボラック樹脂等があげられる。これらのうち好ましくは
カルボン酸含有フェノールノボラック樹脂、およびカル
ボン酸含有クレゾールノボラック樹脂である。X 1 is a polyhydric alcohol residue or a polyhydric phenolic hydroxyl group residue, and examples of the polyhydric alcohol include the following. For example, ethylene glycol, triethylene glycol, glycerin, polyglycerin (glycerin 2-18, for example, diglycerin, triglycerin, tetraglycerin, etc.), ring-opening polymer of glycidol (compound having a degree of polymerization of 2-5000) ), Trimethylolalkane (trimethylolethane, trimethylolpropane, trimethylolbutane, etc.) and their dimers and trimers, monopentaerythritol, dipentaerythritol, 1,3,5-pentaerythritol, sorbitol, sorbitan sorbitan. Examples of the polyhydric phenolic hydroxyl group-containing compound include glycerin condensates, and phenol novolac resins, cresol novolac resins, and carboxylic acid-containing phenols obtained by partially reacting these resins with maleic anhydride. Novolak resin or carboxylic acid-containing cresol novolac resins, and the like. Of these, carboxylic acid-containing phenol novolac resins and carboxylic acid-containing cresol novolac resins are preferable.
【0009】n個のmは通常0〜200の整数でありm
の少なくとも1個は1以上であり、好ましくは1〜8
0、特に好ましくは1〜5の整数である。mが200を
超えると通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。N is usually an integer from 0 to 200 and m
At least one is 1 or more, preferably 1 to 8
0, particularly preferably an integer of 1 to 5. When m exceeds 200, the viscosity is usually high and it becomes difficult to dissolve the initiator.
【0010】nは2〜200、好ましくは3〜100、
特に好ましくは3〜5の整数である。nが200を超え
ると、通常は粘度が高くなり開始剤の溶解が困難にな
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。N is 2 to 200, preferably 3 to 100,
Particularly preferably, it is an integer of 3 to 5. When n exceeds 200, the viscosity is usually high and it becomes difficult to dissolve the initiator. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups.
【0011】本発明におけるプロペニルエーテル末端基
を有するポリエステルオリゴマーは下記一般式(2)、
(3)または(4)で表される化合物があげられる。The polyester oligomer having a propenyl ether terminal group in the present invention is represented by the following general formula (2):
Examples thereof include compounds represented by (3) or (4).
【0012】 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2、X3はそれぞれHOX2OH、HOX3OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
あり、Y1は多価カルボン酸残基であり、Y2は2価カル
ボン酸残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシル又
はアリール基でもよい。}[0012] {In the formula, m is an integer of 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, and X 2 and X 3 are HOX 2 OH and HOX 3 OH, respectively.
Represented by alkylene diol, arylene diol,
It is a residue of any one of polyether diol, polyurethane diol or polycarbonate diol, Y 1 is a polyvalent carboxylic acid residue, and Y 2 is a divalent carboxylic acid residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. }
【0013】一般式(2)におけるX2は、HOX2OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
ある。X 2 in the general formula (2) is HOX 2 OH.
Represented by alkylene diol, arylene diol,
It is the residue of a diol, either a polyether diol, a polyurethane diol or a polycarbonate diol.
【0014】HOX2OHで表されるアルキレンジオー
ルの例としては、エチレングリコール、プロピレングリ
コール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオ
ール、1,6−ヘキサンジオール、1,9−ノナンジオ
ール、ネオペンチルグリコール、1.4−シクロヘキサ
ンジオールなどがあげらる。これらのうち好ましくは、
エチレングリコール、およびプロピレングリコールであ
る。Examples of the alkylene diol represented by HOX 2 OH include ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-butane diol, 1,4-butane diol, 1,6-hexane diol and 1,9-nonane diol. , Neopentyl glycol, 1.4-cyclohexanediol and the like. Of these, preferably,
They are ethylene glycol and propylene glycol.
【0015】HOX2OHで表されるアリーレンジオー
ルの例としては、カテコール、ビス(2−ヒドロキシフ
ェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、ビスフェノールAなどがあげられる。これらのうち
好ましくは、ビスフェノールAである。Examples of the arylene diol represented by HOX 2 OH include catechol, bis (2-hydroxyphenyl) methane, bis (4-hydroxyphenyl) methane and bisphenol A. Of these, bisphenol A is preferred.
【0016】HOX2OHで表されるポリエーテルジオ
ールの例としては、ポリ(オキシエチレン)ジオール、
ポリ(オキシプロピレン)ジオール、ポリ(オキシテト
ラメチレン)ジオール、ビスフェノールAのエチレンオ
キサイド付加物、およびビスフェノールAのプロピレン
オキサイド付加物などがあげられる。これらのうち好ま
しくは、ポリ(オキシエチレン)ジオールおよびポリ
(オキシプロピレン)ジオールである。Examples of the polyether diol represented by HOX 2 OH include poly (oxyethylene) diol,
Examples thereof include poly (oxypropylene) diol, poly (oxytetramethylene) diol, ethylene oxide adduct of bisphenol A, and propylene oxide adduct of bisphenol A. Of these, poly (oxyethylene) diol and poly (oxypropylene) diol are preferable.
【0017】上記ポリエーテルジオールの重合度は通常
1〜200、好ましくは2〜100、特に好ましくは3
〜20である。The degree of polymerization of the above polyether diol is usually 1 to 200, preferably 2 to 100, particularly preferably 3
-20.
【0018】HOX2OHで表されるポリウレタンジオ
ールの例としては下記の(i)と(ii)との反応生成
物があげられる。 (i) H(OX5)m−OHで表される化合物 (mは0〜200の整数、X5は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (ii) OCN−Z3−NCO (式中、Z3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基からなる群から選ばれる2
価の基である)Examples of polyurethane diol represented by HOX 2 OH include reaction products of the following (i) and (ii). (I) Compound represented by H (OX 5 ) m-OH (m is an integer of 0 to 200, X 5 is selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene, and cycloalkylene groups having 2 to 12 carbon atoms. (Ii) OCN-Z 3 -NCO (in the formula, Z 3 is 2 selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene and cycloalkylene).
Is the basis of valence)
【0019】上記(i)のポリエーテルジオールにおい
てmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整数で
ある。In the above polyether diol (i), m is usually 0 to 200, preferably 3 to 20.
【0020】上記(i)のポリエーテルジオールにおい
てX5は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、ア
ラルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群か
ら選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の
例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、
ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノ
ニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげ
られる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレ
ン、アントリレン、フェナントリレン等があげられる。
アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレ
ン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−
フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあ
げられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチ
レン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオ
クチレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エ
チレン、プロピレン基である。アルキレン基が長くなる
と開始剤の溶解性が悪くなる。In the polyether diol (i), X 5 is a divalent group selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene, and cycloalkylene groups having 2 to 12 carbon atoms, and usable alkylene groups. Examples of methylene, ethylene, propylene, butylene,
Pentylene, hexylene, heptylene, octylene, nonylene, decylene, undecylene, dodecylene and the like can be mentioned. Examples of the arylene group include phenylene, naphthylene, anthrylene, phenanthrylene and the like.
Examples of alkylene are benzylene, 1-phenylene, 2-phenylene, 3-phenylpropylene, 2-
Examples thereof include phenyl propylene and 1-phenyl propylene. Examples of cycloalkylene groups include cyclopentylene, cyclohexylene, cycloheptylene, cyclooctylene and the like. Of these, ethylene and propylene groups are preferable. When the alkylene group becomes long, the solubility of the initiator deteriorates.
【0021】上記(ii)のジイソシアネートの例とし
ては、トルエンジイソシアネート(TDI)、p−およ
び、m−フェニレンジイソシアネート、1,4−テトラ
メチレンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジ
イソシアネート、2,2,4−トリメチルヘキサメチレ
ンジイソシアネート、1,4−シクロヘキサンジイソシ
アネート、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシ
アネート(デスモジュールW)、4,4’−ジフェニル
メタンジイソシアネート(MDI)、3,3’−ジメチ
ル−4、4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、
1,5−テトラヒドロナフタリンジイソシアネート、ナ
フタリン−1,5’−ジイソシアネート、ビス(2−メ
チル−3−イソシアネートフェニル)メタン、4,4’
−ジフェニルプロパンジイソシアネート、テトラメチル
キシレンジイソシアネート(TMXDI)、イソホロン
ジイソシアネート(IPDI)などがあげられる。これ
らのうち好ましくは、トルエンジイソシアネート(TD
I)、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート
(MDI)、イソホロンジイソシアネート(IPD
I)、テトラメチルキシレンジイソシアネート(TMX
DI)、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシア
ネート(デスモジュールW)、1,6−ヘキサメチレン
ジイソシアネートである。Examples of the diisocyanate of (ii) above include toluene diisocyanate (TDI), p- and m-phenylene diisocyanate, 1,4-tetramethylene diisocyanate, 1,6-hexamethylene diisocyanate, 2,2,4. -Trimethylhexamethylene diisocyanate, 1,4-cyclohexane diisocyanate, 4,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate (Desmodur W), 4,4'-diphenylmethane diisocyanate (MDI), 3,3'-dimethyl-4,4'- Diphenylmethane diisocyanate,
1,5-tetrahydronaphthalene diisocyanate, naphthalene-1,5′-diisocyanate, bis (2-methyl-3-isocyanatephenyl) methane, 4,4 ′
-Diphenylpropane diisocyanate, tetramethyl xylene diisocyanate (TMXDI), isophorone diisocyanate (IPDI) and the like. Of these, toluene diisocyanate (TD) is preferred.
I), 4,4′-diphenylmethane diisocyanate (MDI), isophorone diisocyanate (IPD
I), tetramethyl xylene diisocyanate (TMX
DI), 4,4'-dicyclohexylmethane diisocyanate (Desmodur W), 1,6-hexamethylene diisocyanate.
【0022】HOX2OHで表されるポリカーボネート
ジオールの例としては下記の一般式であげられる化合物
があげられる。 (mは1〜200の整数であり、X6は炭素数2〜12
のアルキレン、アリーレン、アラルキレン、およびシク
ロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2価の基であ
る)Examples of the polycarbonate diol represented by HOX 2 OH include compounds represented by the following general formula. (M is an integer of 1 to 200, X 6 has 2 to 12 carbon atoms
Is a divalent group selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene, and cycloalkylene groups).
【0023】上記一般式においてmは通常1〜200の
整数、好ましくは3〜20の整数である。In the above general formula, m is usually an integer of 1 to 200, preferably 3 to 20.
【0024】上記のポリカーボネートジオールにおいて
X6は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレン、アラ
ルキレン、およびシクロアルキレンの基よりなる群から
選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン基の例
には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレン、ペ
ンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレン、ノニ
レン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等があげら
れる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフチレン、
アントリレン、フェナントリレン等があげられる。アル
アルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニチレン、
2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、2−フェ
ニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなどがあげら
れる。シクロアルキレン基の例には、シクロペンチレ
ン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シクロオク
チレン等があげられる。これらのうち好ましくは、エチ
レン、およびプロピレン基である。アルキレン基が長く
なると開始剤の溶解性が悪くなる。In the above polycarbonate diol, X 6 is a divalent group selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene, and cycloalkylene groups having 2 to 12 carbon atoms. Examples of alkylene groups that can be used include , Methylene, ethylene, propylene, butylene, pentylene, hexylene, heptylene, octylene, nonylene, decylene, undecylene, dodecylene and the like. Examples of arylene groups are phenylene, naphthylene,
Examples include anthrylene and phenanthrylene. Examples of alkylene are benzylene, 1-phenylene,
2-Phenylene, 3-phenylpropylene, 2-phenylpropylene, 1-phenylpropylene and the like can be mentioned. Examples of cycloalkylene groups include cyclopentylene, cyclohexylene, cycloheptylene, cyclooctylene and the like. Of these, ethylene and propylene groups are preferable. When the alkylene group becomes long, the solubility of the initiator deteriorates.
【0025】一般式(2)におけるX3は、上記のX2で
示されるものと同一のものがあげられ、X2とX3は同一
でも、異なっていてもよい。[0025] X in the general formula (2) 3, the same as those shown in the above X 2 may be mentioned, X 2 and X 3 may be the same or different.
【0026】一般式(2)におけるY1は多価カルボン
酸残基であり、Y2は2価カルボン酸残基である。2価
カルボン酸の例としては、フタル酸、イソフタル酸、テ
レフタル酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル
酸、アジピン酸等があげられ、3価以上のものとしたは
トリメリット酸、ピリメリット酸、その他のポリカルボ
ン酸等があげられる。これらのうちY1、Y2ともにイソ
フタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸が好まし
い。In the general formula (2), Y 1 is a polyvalent carboxylic acid residue and Y 2 is a divalent carboxylic acid residue. Examples of the divalent carboxylic acid include phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid and adipic acid. Examples thereof include meritic acid and other polycarboxylic acids. Of these, Y 1 and Y 2 are preferably isophthalic acid, terephthalic acid, and adipic acid.
【0027】一般式(2)において、mは通常1〜20
0、好ましくは1〜80、特に好ましくは1〜20の整
数である。mが200をこえると粘度が高くなり開始剤
の溶解が困難になる。In the general formula (2), m is usually 1 to 20.
It is an integer of 0, preferably 1-80, particularly preferably 1-20. When m exceeds 200, the viscosity becomes high and it becomes difficult to dissolve the initiator.
【0028】一般式(2)おいて、nは通常2〜20
0、好ましくは3〜100、特に好ましくは3〜20の
整数である。nが200より大きくなると、粘度が高く
なり開始剤の溶解が困難になる。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシル又はアリール基でもよい。In the general formula (2), n is usually 2 to 20.
It is an integer of 0, preferably 3 to 100, particularly preferably 3 to 20. When n is larger than 200, the viscosity becomes high and it becomes difficult to dissolve the initiator. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups.
【0029】一般式(3)は、 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2はアルキレンまたはアリーレン基であり、
X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。}で表される。The general formula (3) is {In the formula, m is an integer of 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, X 2 is an alkylene or arylene group,
X 1 is a polyhydric alcohol residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. It is represented by}.
【0030】一般式(3)におけるX1は一般式(1)
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、mおよ
びnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同一の
ものがあげられる。X 1 in the general formula (3) is represented by the general formula (1)
And the same as those represented by the general formula (2) for X 2 , m and n.
【0031】一般式(4)は、 {式中、mは1〜200、nは2〜200の整数であ
り、X2、X3はそれぞれ、HOX2OH、HOX3OHで
表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポ
リエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリ
カーボネートジオールのいずれかのジオールの残基であ
り、X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少な
くとも2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、ア
ルキル、アシル又はアリール基でもよい。}で表され
る。The general formula (4) is {In the formula, m is 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, and X 2 and X 3 are alkylene diols, arylene diols, polyether diols, and polyurethanes represented by HOX 2 OH and HOX 3 OH, respectively. X 1 is a polyhydric alcohol residue, which is the residue of either a diol or a polycarbonate diol. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. It is represented by}.
【0032】一般式(4)におけるX1は一般式(1)
で示されたものと同一のものがあげられ、X2、X3、m
およびnは、それぞれ一般式(2)で示されたものと同
一のものがあげられ、X2とX3は同一でも、異なってい
てもよい。X 1 in the general formula (4) is represented by the general formula (1)
The same ones as those shown in X. 2 , X 3 , M
Examples of n and n are the same as those shown in the general formula (2), and X 2 and X 3 may be the same or different.
【0033】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有するウレタンオリゴマーは下記一般式
(5)で表される。 {式中、mは0〜200、nは2〜200の整数であ
り、Q1は−OX2O−または−N(R2)−X4−N(R
2)−で表される基であり、Q2は−OX2O−で表され
る基である。X2は、HOX2OHで表されるアルキルジ
オール、アリールジオール、ポリ エーテルジオール、
ポリエステルジオールまたはポリカーボネートジオール
のいずれかのジオールの残基である。−N(R2)−X4
−N(R2)−はHN(R2)−X4−N(R2)Hで表さ
れるジアミン残基であり、X4は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレンまたはシクロアルキ
レン基であり、R2は炭素数2〜12のアルキル、アリ
ール、アラルキルまたはシクロアルキル基である。Z1
は多価イソシアネート残基であり、Z2は2価イソシア
ネート残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。}The urethane oligomer having a propenyl ether terminal group in (A) of the present invention is represented by the following general formula (5). {In the formula, m is 0 to 200, n is an integer of 2 to 200, and Q 1 is -OX 2 O- or -N (R 2 ) -X 4 -N (R
2 )-, and Q 2 is a group represented by -OX 2 O-. X 2 is an alkyl diol represented by HOX 2 OH, an aryl diol, a polyether diol,
It is the residue of a diol, either a polyester diol or a polycarbonate diol. -N (R 2) -X 4
—N (R 2 ) — is a diamine residue represented by HN (R 2 ) —X 4 —N (R 2 ) H, and X 4 is alkylene, arylene, aralkylene or cycloalkylene having 2 to 12 carbon atoms. And R 2 is an alkyl, aryl, aralkyl or cycloalkyl group having 2 to 12 carbon atoms. Z 1
Is a polyvalent isocyanate residue, and Z 2 is a divalent isocyanate residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. }
【0034】一般式(5)において、Z2における2価
イソシアネートとしては前記式(ii)であげられたも
のと同一のものがあげられる。Z1における多価イソシ
アネートとしてはリジンエステルトリイソシアネート、
ヘキサメチレントリイソシアネートおよびポリフェニル
ポリイソシアネート等があげられる。In the general formula (5), as the divalent isocyanate for Z 2 , the same ones as mentioned in the above formula (ii) can be mentioned. The polyvalent isocyanate in Z 1 is lysine ester triisocyanate,
Examples include hexamethylene triisocyanate and polyphenyl polyisocyanate.
【0035】一般式(5)において、Q1は−OX2O−
または−N(R2)−X4−N(R2)−で表される基で
あり、Q2は−OX2O−で表される基である。X2はH
OX2OHで表されるアルキレンジオール、アリ−レン
ジオール、ポリエーテルジオール、ポリエステルジオー
ルまたはポリカーボネートジオールのいずれかのジオー
ルの残基であり、X2は一般(2)におけるX2と同一の
ものがあげられる。In the general formula (5), Q 1 is -OX 2 O-.
Or -N (R 2) -X 4 -N (R 2) - in a group represented, Q 2 is a group represented by -OX 2 O-. X 2 is H
OX 2 OH is a diol residue represented by alkylene diol, arylene diol, polyether diol, polyester diol or polycarbonate diol, and X 2 is the same as X 2 in general (2). can give.
【0036】上記HOX2OHがポリエステルジオール
の場合、下記の(iii)と(iv)との反応生成物が
あげられる。 (iii) H(OX7)m−OH (mは0〜200の整数、X7は炭素数2〜12のアル
キレン、アリーレン、アラルキレン、およびシクロアル
キレンの基よりなる群から選ばれる2価の基である) (iv) HOOC−Y3−COOH (式中、Y3はアルキレン、アリーレン、アラルキレン
およびシクロアルキレンの基よりなる群から選ばれる2
価の基である)When the HOX 2 OH is a polyester diol, the reaction products of the following (iii) and (iv) can be mentioned. (Iii) H (OX 7 ) m-OH (m is an integer of 0 to 200, X 7 is a divalent group selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene, and cycloalkylene groups having 2 to 12 carbon atoms. in a) (iv) in HOOC-Y 3 -COOH (wherein, Y 3 is 2 selected alkylene, arylene, from the group consisting of groups aralkylene and cycloalkylene
Is the basis of valence)
【0037】上記(iii)のポリエーテルジオールに
おいてmは通常0〜200、好ましくは、3〜20の整
数である。In the above-mentioned (iii) polyether diol, m is usually 0 to 200, preferably 3 to 20.
【0038】上記(iii)のポリエーテルジオールに
おいてX7は炭素数2〜12のアルキレン、アリーレ
ン、アラルキレンおよびシクロアルキレンの基よりなる
群から選ばれる2価の基であり、使用しうるアルキレン
基の例には、メチレン、エチレン、プロピレン、ブチレ
ン、ペンチレン、へキシレン、へプチレン、オクチレ
ン、ノニレン、デシレン、ウンデシレン、ドデシレン等
があげられる。アリーレン基の例にはフェニレン、ナフ
チレン、アントリレン、フェナントリレン等があげられ
る。アルアルキレンの例には、ベンジレン、1−フェニ
チレン、2−フェニチレン、3−フェニルプロピレン、
2−フェニルプロピレン、1−フェニルプロピレンなど
があげられる。シクロアルキレン基の例には、シクロペ
ンチレン、シクロヘキシレン、シクロヘプチレン、シク
ロオクチレン等があげられる。これらのうち好ましく
は、エチレン基およびプロピレン基である。アルキレン
基が長くなると開始剤の溶解性が悪くなる。In the polyether diol of (iii) above, X 7 is a divalent group selected from the group consisting of alkylene, arylene, aralkylene and cycloalkylene groups having 2 to 12 carbon atoms. Examples include methylene, ethylene, propylene, butylene, pentylene, hexylene, heptylene, octylene, nonylene, decylene, undecylene, dodecylene and the like. Examples of the arylene group include phenylene, naphthylene, anthrylene, phenanthrylene and the like. Examples of alkylene are benzylene, 1-phenylene, 2-phenylene, 3-phenylpropylene,
2-phenyl propylene, 1-phenyl propylene, etc. are mentioned. Examples of cycloalkylene groups include cyclopentylene, cyclohexylene, cycloheptylene, cyclooctylene and the like. Of these, ethylene group and propylene group are preferable. When the alkylene group becomes long, the solubility of the initiator deteriorates.
【0039】上記(iv)のジカルボン酸の例として
は、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、シュウ
酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ポ
リカルボン酸等があげられる。これらのうち好ましく
は、イソフタル酸、テレフタル酸、およびアジピン酸で
ある。X4は、一般式(2)におけるX2と同一のものが
あげられ、R2は一般式(1)中のAで示されたものと
同一のものがあげられ、mおよびnは一般式(2)で示
したものと同一のものがあげられる。Examples of the dicarboxylic acid (iv) include phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid and polycarboxylic acid. Of these, preferred are isophthalic acid, terephthalic acid, and adipic acid. X 4 is the same as X 2 in the general formula (2), R 2 is the same as that represented by A in the general formula (1), and m and n are the general formulas. The same thing as shown in (2) can be mentioned.
【0040】本発明の(A)におけるプロペニルエーテ
ル末端基を有するモノマーは下記一般式(6)または一
般式(7)で表される。 X1[−O−R1]n (6) (式中、nは2〜200の整数であり、X1は多価アル
コール残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。)The monomer having a propenyl ether terminal group in (A) of the present invention is represented by the following general formula (6) or general formula (7). X 1 [-O-R 1] n (6) ( wherein, n is an integer of 2 to 200, X 1 is a polyhydric alcohol residue .n number of at least two is propenyl group for R 1 And the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups.)
【0041】一般式(6)において、nは通常2〜20
0、好ましくは2〜6の整数である。nが200を超え
ると粘度が高くハンドリングが悪くなる。X1は一般式
(1)で示したものと同一のものがあげられる。In the general formula (6), n is usually 2 to 20.
It is an integer of 0, preferably 2 to 6. When n exceeds 200, the viscosity is high and the handling becomes poor. Examples of X 1 are the same as those shown in the general formula (1).
【0042】 {式中、nは2−200、X2は、HOX2OHで表され
るアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポリエー
テルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリカーボ
ネートジオールのいずれかのジオールの残基であり、Y
1は多価カルボン酸残基である。n個のR1の少なくとも
2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} 一般式(7)において、nは通常2〜200、好ましく
は2〜6の整数である。nが200を超えると粘度が高
くハンドリングが悪くなる。Y1およびX2は一般式
(2)であげられたものと同一のものがあげられる。[0042] {In the formula, n is 2-200, X 2 is a diol residue represented by HOX 2 OH, which is any one of alkylene diol, arylene diol, polyether diol, polyurethane diol or polycarbonate diol, and Y
1 is a polyvalent carboxylic acid residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. } In general formula (7), n is an integer of usually 2 to 200, preferably 2 to 6. When n exceeds 200, the viscosity is high and the handling becomes poor. Examples of Y 1 and X 2 are the same as those given in the general formula (2).
【0043】本発明において使用される光重合開始剤
(B)としては、公知の光カチオン重合開始剤が使用で
きる。例えば、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムホスフェ
ート、P−(フェニルチオ)フェニルジフェニルスルホ
ニウムヘキサフルオロアンチモネート、P−(フェニル
チオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオロ
ホスフェート、4−クロルフェニルジフェニルスルホニ
ウムヘキサフルオロホスフェート、4−クロルフェニル
ジフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネー
ト、ビス[4−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]ス
ルフィドビスヘキサフルオロフォスフェート、ビス[4
−ジフェニルスルフォニオ)フェニル]スルフィドビス
ヘキサフルオロアンチモネート、(2、4−シクロペン
タジエン−1−イル)[(1−メチルエチル)ベンゼ
ン]−Fe−ヘキサフルオロホスフェート等を挙げるこ
とができる。これらは市場より容易に入手することがで
きる。例えば、旭電化(株)製、SP−150、SP−
170、チバ・ガイギー社製、イルガキュアー261、
ユニオンカーバイド社製、UVR−6974、UVR−
6990等を挙げることができる。As the photopolymerization initiator (B) used in the present invention, known photocationic polymerization initiators can be used. For example, triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, triphenylsulfonium phosphate, P- (phenylthio) phenyldiphenylsulfonium hexafluoroantimonate, P- (phenylthio) phenyldiphenylsulfonium hexafluorophosphate, 4-chlorophenyldiphenylsulfonium hexafluorophosphate, 4-chlorophenyldiphenylsulfonium hexafluoroantimonate, bis [4-diphenylsulfonio) phenyl] sulfide bishexafluorophosphate, bis [4
-Diphenylsulfonio) phenyl] sulfide bishexafluoroantimonate, (2,4-cyclopentadien-1-yl) [(1-methylethyl) benzene] -Fe-hexafluorophosphate, and the like. These are readily available from the market. For example, Asahi Denka Co., Ltd., SP-150, SP-
170, manufactured by Ciba Geigy, Irgacure 261,
Union Carbide, UVR-6974, UVR-
6990 etc. can be mentioned.
【0044】本発明において組成物の粘度を調節する目
的で必要に応じて反応性希釈剤(C)を使用できる。In the present invention, a reactive diluent (C) can be optionally used for the purpose of adjusting the viscosity of the composition.
【0045】該(C)は下記一般式(8)であらわされ
る化合物があげられる。 CH3−CH=CH−O−X2−O−R3 (8) {式中、X2は、HOX2OHで表されるアルキレンジオ
ール、アリーレンジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リウレタンジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基であり、R3は炭素数が2〜
12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロアルキ
ル基または水素原子である。}Examples of the compound (C) include compounds represented by the following general formula (8). CH 3 —CH═CH—O—X 2 —O—R 3 (8) (In the formula, X 2 represents an alkylene diol, arylene diol, polyether diol, polyurethane diol, or polycarbonate diol represented by HOX 2 OH. It is a residue of any diol, and R 3 has 2 to 2 carbon atoms.
12 alkyl, aryl, aralkyl, cycloalkyl group or hydrogen atom. }
【0046】上記一般式においてX2は一般式(2)で
示されたものと同一のものがあげられ、R3は炭素数が
2〜12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロア
ルキル基または水素原子である。In the above general formula, X 2 is the same as that shown in the general formula (2), and R 3 is an alkyl, aryl, aralkyl, cycloalkyl group or hydrogen atom having 2 to 12 carbon atoms. Is.
【0047】本発明において(A)および(B)の使用
割合は通常(A):(B)の重量比が(95〜99.
9):(0.01〜5)であり、好ましくは(97〜9
9):(1〜3)である。In the present invention, the use ratio of (A) and (B) is usually such that the weight ratio of (A) :( B) is (95 to 99.
9): (0.01 to 5), preferably (97 to 9)
9): (1 to 3).
【0048】本発明において(A)と(B)の合計重量
に対して(C)を通常5〜40重量%、好ましくは10
〜30重量%であり、(C)が40重量%をこえると、
硬化速度が大幅に低下する。In the present invention, (C) is usually contained in an amount of 5 to 40% by weight, preferably 10 based on the total weight of (A) and (B).
-30% by weight, and when (C) exceeds 40% by weight,
The curing speed is significantly reduced.
【0049】本発明の組成物には必要により(A)とと
もに公知の光ラジカル重合性組成物(D)を併用するこ
とができる。含有する(D)の量としては、通常(A)
成分100重量部に対し0〜100重量部を使用し、好
ましくは10〜40%である。In the composition of the present invention, if necessary, a known radical photopolymerizable composition (D) can be used in combination with (A). The content of (D) is usually (A)
0 to 100 parts by weight is used per 100 parts by weight of the component, preferably 10 to 40%.
【0050】本発明の組成物には、更に必要に応じて、
密着向上剤、熱重合防止剤、塗料、顔料、可塑剤、難燃
剤、微粒状充填剤、塗工性向上剤、その他各種添加剤等
を含有させることができる。The composition of the present invention further comprises, if necessary,
An adhesion improver, a thermal polymerization inhibitor, a paint, a pigment, a plasticizer, a flame retardant, a fine particulate filler, a coatability improver, and various other additives can be contained.
【0051】[0051]
【実施例】以下、実施例を以て本発明を具体的に説明す
るが、本発明はこれらに限定されない。EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.
【0052】実施例1〜5、比較例1〜3 表1に示した処方で調整した配合物を用い、下記評価方
法、および評価基準にしたがい、光硬化性、現像性、お
よび銅密着性の評価をおこなった。得られた結果を表2
に示す。光硬化性の評価法:それぞれの配合物を銅張積
層板に膜厚40μmで塗布し、しかるのち熱風循環式乾
燥炉中において70℃で30分間乾燥させることにより
テストピースを作製した。それぞれのテストピースに1
00μmの直線状ラインのネガを使用し、照射強度が1
0mW/cm2なる平行露光装置で紫外線を所定量照射
し、次いで「エタナーIR」(旭化成工業製)を現像液
としてスプレーで1分間現像せしめたのちの塗膜の状態
を目視判定した。 光硬化性の評価基準: ◎ 全く変化なし ○ 表面が僅かに変化する △ 表面が顕著に変化する × 塗膜が脱落するもの 現像性の評価法:それぞれのテストピースを「エタナー
IR」(旭化成工業製)を現像液としてスプレーで現像
を行ったときの各時間ごとの現像性を顕微鏡にて目視判
定した。 現像性の評価基準: ◎ 細かいところまで現像できた ○ 基板表面に薄く現像できない部分が残るもの △ 現像できないものがかなり残るもの × ほとんど現像されていないもの 銅密着性の評価方法:JIS D−0202の試験法に
従って、それぞれのテストピースに碁盤目状にクロスカ
ットをいれ、次いでセロテープによるビーリング試験後
の剥がれの状態を目視により判定した。 銅密着性の評価基準: ◎ 100/100で全く変化が認め
られないもの ○ 100/100で線の際が僅かに剥がれたもの △ 50/100〜90/100 × 0/100〜50/100Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3 Using the formulations prepared according to the formulations shown in Table 1, the photo-curability, developability and copper adhesion were evaluated according to the following evaluation methods and evaluation criteria. It was evaluated. Table 2 shows the obtained results.
Shown in Photocurability evaluation method: A test piece was prepared by applying each formulation to a copper clad laminate at a film thickness of 40 μm and then drying in a hot air circulation drying oven at 70 ° C. for 30 minutes. 1 for each test piece
The irradiation intensity is 1 using the negative of the linear line of 00μm.
A predetermined amount of ultraviolet rays was irradiated with a parallel exposure device of 0 mW / cm 2 , and then the state of the coating film was visually evaluated after developing with "Etaner IR" (manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.) as a developing solution for 1 minute. Evaluation criteria for photocurability: ◎ No change ○ Surface slightly changed △ Surface remarkably changed × Coating film dropped Developability evaluation method: Each test piece was "Etner IR" (Asahi Kasei Kogyo) Was used as a developing solution to perform development by spraying, and the developability at each time was visually evaluated with a microscope. Criteria for evaluation of developability: ◎ It was possible to develop to a fine area. ○ A part of the substrate surface that remained thin and could not be developed remained. △ Some that could not be developed remained. × Little developed. Copper adhesion evaluation method: JIS D-0202 According to the above-mentioned test method, each test piece was cross-cut in a grid pattern, and the state of peeling after the bee ring test with cellophane tape was visually determined. Evaluation criteria for copper adhesion: ◎ 100/100 with no change observed ○ 100/100 with slight peeling at the line edge △ 50/100 to 90/100 × 0/100 to 50/100
【0053】[0053]
【表1】 [Table 1]
【0054】表1に示した化合物は以下の通りである。
なお、CH3−CH=CH−基(プロペニル基)はPr
と略す。プロペニルエーテル末端基化合物(1): Pr−O−(CH2CH2O)12−Pr プロペニルエーテル末端基化合物(2): プロペニルエーテル末端基化合物(3): Pr−O−(CH2CH2O)6−XO−(CH2CH
2O)6−Pr X:ビスフェノールA残基 プロペニルエーテル末端基化合物(4): プロペニルエーテル末端基化合物(5): X:トリエチレングリコール残基 Z:4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート残
基、 プロペニルエーテル末端基化合物(6): R[O−Pr]3 R:トリメチロールプロパン残基 アクリレート末端基化合物(7): アクリレート末端基化合物(8): R:トリメチロールプロパン残基 エポキシ末端基化合物(9):EP−828(油化シェ
ル社製ビスフェノール型エポキシ樹脂 脂環式エポキシ末端基化合物(10):ERL−422
1(UCC製脂環式エポキシ樹脂) 光重合触媒(11):UVR−6974(P−(フェニ
ルチオ)フェニルジフェニルスルホニウムヘキサフルオ
ロアンチモネート、ビス[4−(ジフェニルスルフォニ
オ)フェニル]スルフィドビスヘキサフルオロアンチモ
ネート混合物の50%希釈品) 光重合触媒(12):イルガキュアー184(チバ・ガ
イギー社製) バインダーポエイマー(13):メタクリル酸/メタア
クリル酸メチル/アクリル酸n−ブチル=23/57/
20重量比の共重合体(重量平均分子量約80、00
0)の40%メチルセルソルブ溶液The compounds shown in Table 1 are as follows.
The CH 3 —CH═CH— group (propenyl group) is Pr.
Abbreviated. Propenyl ether end groups Compound (1): Pr-O- ( CH 2 CH 2 O) 12 -Pr propenyl ether end groups of compound (2): Propenyl ether end groups Compound (3): Pr-O- ( CH 2 CH 2 O) 6 -XO- (CH 2 CH
2 O) 6- Pr X: bisphenol A residue propenyl ether end group compound (4): Propenyl ether end group compound (5): X: triethylene glycol residue Z: 4,4'-diphenylmethane diisocyanate residue, propenyl ether terminal group compound (6): R [O-Pr] 3 R: trimethylolpropane residue acrylate terminal group compound (7): Acrylate end group compound (8): R: trimethylolpropane residue Epoxy end group compound (9): EP-828 (bisphenol type epoxy resin manufactured by Yuka Shell Co., alicyclic epoxy end group compound (10): ERL-422
1 (UCC alicyclic epoxy resin) Photopolymerization catalyst (11): UVR-6974 (P- (phenylthio) phenyldiphenylsulfonium hexafluoroantimonate, bis [4- (diphenylsulfonio) phenyl] sulfide bishexafluoro 50% diluted antimonate mixture) Photopolymerization catalyst (12): Irgacure 184 (manufactured by Ciba Geigy) Binder poimer (13): Methacrylic acid / methyl methacrylate / n-butyl acrylate = 23/57 /
20 weight ratio of copolymer (weight average molecular weight of about 80,000
0) 40% methyl cellosolve solution
【0055】[0055]
【表2】 [Table 2]
【0056】[0056]
【発明の効果】以上、説明したように、プロペニルエー
テル末端基を有する化合物を含むフォトソルダーレジス
ト組成物は、ラジカル重合型のアクリレート系樹脂より
も、高速に硬化し、表面硬化性に優れ、光硬化時の体積
収縮が小さく、基板との密着性に優れるという特徴を有
する。また、エポキシ系紫外線硬化樹脂よりも、高速硬
化性である。これらのことから、本発明のフォトソルダ
ーレジスト組成物を用いると高解像性、高感度のレジス
トパターンを形成することが可能となり、プリント配線
板の製造にとって極めて有用なのもである。As described above, a photo solder resist composition containing a compound having a propenyl ether terminal group cures faster than a radical polymerization type acrylate resin and has excellent surface curability, and It has the features of small volume shrinkage during curing and excellent adhesion to the substrate. Further, it is faster curable than an epoxy-based ultraviolet curable resin. For these reasons, the use of the photosolder resist composition of the present invention makes it possible to form a resist pattern having high resolution and high sensitivity, which is extremely useful for the production of printed wiring boards.
Claims (10)
端基を有する化合物(A)、および光重合開始剤(B)
からなるフォトソルダーレジスト組成物。1. A compound (A) having at least two propenyl ether terminal groups, and a photopolymerization initiator (B).
A photo solder resist composition comprising:
する(ポリ)エーテルオリゴマー、プロペニルエーテル
末端基を有するポリエステルオリゴマー、プロペニルエ
ーテル末端基を有するウレタンオリゴマー、プロペニル
エーテル末端基を有するノボラック型エポキシ樹脂およ
びプロペニルエーテル末端基を有するモノマーの群から
選ばれる1種以上の化合物である請求項1記載の組成
物。2. A (poly) ether oligomer (A) having a propenyl ether terminal group, a polyester oligomer having a propenyl ether terminal group, a urethane oligomer having a propenyl ether terminal group, a novolak type epoxy resin having a propenyl ether terminal group, and The composition according to claim 1, which is one or more compounds selected from the group of monomers having a propenyl ether end group.
リ)エーテルオリゴマーが下記一般式(1)で表される
オリゴマーである請求項2記載の組成物。 X1[−O−(AO)m−R1]n (1) {式中、nは2〜200の整数であり、n個のmは0〜
200の整数でありmの少なくとも1個は1以上であ
る。n個のR1の少なくとも2個はプロペニル基であ
り、残りは水素原子、アルキル、アシルまたはアリール
基でもよい。Aは炭素数2〜12のアルキレン、アリー
レン、アルアルキレンまたはシクロアルキレン基であ
り、mが2以上の場合のAは同一でも異なっていても良
く、(AO)m部分はランダム付加でもブロック付加で
も良い。X1は多価アルコール残基または多価フェノー
ル性水酸基の残基である。}3. The composition according to claim 2, wherein the (poly) ether oligomer having a propenyl ether terminal group is an oligomer represented by the following general formula (1). X 1 [-O- (AO) m -R 1] n (1) { wherein, n is an integer of 2 to 200, the n-number of m 0 to
It is an integer of 200 and at least one of m is 1 or more. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. A is an alkylene, arylene, aralkylene or cycloalkylene group having 2 to 12 carbon atoms, and when m is 2 or more, A may be the same or different, and the (AO) m portion may be random addition or block addition. good. X 1 is a polyhydric alcohol residue or a polyhydric phenolic hydroxyl group residue. }
エステルオリゴマーが下記一般式(2)、一般式
(3)、または一般式(4)で表されるオリゴマーであ
る請求項2記載の組成物。 {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2、X3はそれぞれHOX2OH、HOX3OH
で表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、
ポリエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポ
リカーボネートジオールのいずれかのジオールの残基で
あり、Y1は多価カルボン酸残基であり、Y2は2価カル
ボン酸残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシル又
はアリール基でもよい。} {式中、mは1〜200の整数、nは2〜200の整数
であり、X2はアルキレンまたはアリーレン基であり、
X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少なくと
も2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。} {式中、mは1〜200、nは2〜200の整数であ
り、X2、X3はそれぞれ、HOX2OH、HOX3OHで
表されるアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポ
リエーテルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリ
カーボネートジオールのいずれかのジオールの残基であ
り、X1は多価アルコール残基である。n個のR1の少な
くとも2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、ア
ルキル、アシル又はアリール基でもよい。}4. The composition according to claim 2, wherein the polyester oligomer having a propenyl ether terminal group is an oligomer represented by the following general formula (2), general formula (3), or general formula (4). {In the formula, m is an integer of 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, and X 2 and X 3 are HOX 2 OH and HOX 3 OH, respectively.
Represented by alkylene diol, arylene diol,
It is a residue of any one of polyether diol, polyurethane diol or polycarbonate diol, Y 1 is a polyvalent carboxylic acid residue, and Y 2 is a divalent carboxylic acid residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. } {In the formula, m is an integer of 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, X 2 is an alkylene or arylene group,
X 1 is a polyhydric alcohol residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. } {In the formula, m is 1 to 200, n is an integer of 2 to 200, and X 2 and X 3 are alkylene diols, arylene diols, polyether diols, and polyurethanes represented by HOX 2 OH and HOX 3 OH, respectively. X 1 is a polyhydric alcohol residue, which is the residue of either a diol or a polycarbonate diol. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. }
タンオリゴマーが下記一般式(5)で表されるオリゴマ
ーである請求項2記載の組成物。 {式中、mは0〜200、nは2〜200の整数であ
り、Q1は−OX2O−または−N(R2)−X4−N(R
2)−で表される基であり、Q2は−OX2O−で表され
る基である。X2は、HOX2OHで表されるアルキルジ
オール、アリールジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リエステルジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基である。−N(R2)−X4−
N(R2)−はHN(R2)−X4−N(R2)Hで表され
るジアミン残基であり、X4は炭素数2〜12のアルキ
レン、アリーレン、アラルキレンまたはシクロアルキレ
ン基であり、R2は炭素数2〜12のアルキル、アリー
ル、アラルキルまたはシクロアルキル基である。Z1は
多価イソシアネート残基であり、Z2は2価イソシアネ
ート残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロペ
ニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルまた
はアリール基でもよい。}5. The composition according to claim 2, wherein the urethane oligomer having a propenyl ether terminal group is an oligomer represented by the following general formula (5). {In the formula, m is 0 to 200, n is an integer of 2 to 200, and Q 1 is -OX 2 O- or -N (R 2 ) -X 4 -N (R
2 )-, and Q 2 is a group represented by -OX 2 O-. X 2 is a residue of any one of alkyl diol, aryl diol, polyether diol, polyester diol or polycarbonate diol represented by HOX 2 OH. -N (R 2) -X 4 -
N (R 2) - is HN (R 2) -X 4 -N (R 2) a diamine residue represented by H, X 4 is alkylene having 2 to 12 carbon atoms, arylene, aralkylene or cycloalkylene group And R 2 is an alkyl, aryl, aralkyl or cycloalkyl group having 2 to 12 carbon atoms. Z 1 is a polyvalent isocyanate residue and Z 2 is a divalent isocyanate residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. }
マーが下記一般式(6)または一般式(7)で表される
請求項2記載の組成物。 X1[−O−R1]n (6) (式中、nは2〜200の整数であり、X1は多価アル
コール残基である。n個のR1の少なくとも2個はプロ
ペニル基であり、残りは水素原子、アルキル、アシルま
たはアリール基でもよい。) {式中、nは2−200、X2は、HOX2OHで表され
るアルキレンジオール、アリーレンジオール、ポリエー
テルジオール、ポリウレタンジオールまたはポリカーボ
ネートジオールのいずれかのジオールの残基であり、Y
1は多価カルボン酸残基である。n個のR1の少なくとも
2個はプロペニル基であり、残りは水素原子、アルキ
ル、アシルまたはアリール基でもよい。}6. The composition according to claim 2, wherein the monomer having a propenyl ether terminal group is represented by the following general formula (6) or general formula (7). X 1 [-O-R 1] n (6) ( wherein, n is an integer of 2 to 200, X 1 is a polyhydric alcohol residue .n number of at least two is propenyl group for R 1 And the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups.) {In the formula, n is 2-200, X 2 is a diol residue represented by HOX 2 OH, which is any one of alkylene diol, arylene diol, polyether diol, polyurethane diol or polycarbonate diol, and Y
1 is a polyvalent carboxylic acid residue. At least two of n R 1 's are propenyl groups, and the rest may be hydrogen atoms, alkyl, acyl or aryl groups. }
9.9):(0.01〜5)である請求項1〜6のいず
れか記載の組成物。7. A weight ratio of (A) :( B) is (95-9).
9.9): (0.01-5), The composition in any one of Claims 1-6.
なり、(C)の含量が、(A)と(B)の合計重量に対
して、5〜40%である請求項1〜7のいずれか記載の
組成物。8. A reactive diluent (C) is further compounded, and the content of (C) is 5 to 40% of the total weight of (A) and (B). 7. The composition according to any one of 7.
応性希釈剤である請求項8記載の組成物。 CH3−CH=CH−O−X2−O−R3 (8) {式中、X2は、HOX2OHで表されるアルキレンジオ
ール、アリーレンジオール、ポリエーテルジオール、ポ
リウレタンジオールまたはポリカーボネートジオールの
いずれかのジオールの残基であり、R3は炭素数が2〜
12のアルキル、アリール、アラルキル、シクロアルキ
ル基または水素原子である。}9. The composition according to claim 8, wherein (C) is a reactive diluent represented by the following general formula (8). CH 3 —CH═CH—O—X 2 —O—R 3 (8) (In the formula, X 2 represents an alkylene diol, arylene diol, polyether diol, polyurethane diol, or polycarbonate diol represented by HOX 2 OH. It is a residue of any diol, and R 3 has 2 to 2 carbon atoms.
12 alkyl, aryl, aralkyl, cycloalkyl group or hydrogen atom. }
ーレジスト組成物の硬化物。10. A cured product of the solder resist composition according to claim 1.
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|---|---|---|---|
| JP07345811A JP3105439B2 (en) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | Photo solder resist composition |
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|---|---|---|---|
| JP07345811A JP3105439B2 (en) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | Photo solder resist composition |
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|---|---|
| JPH09160237A true JPH09160237A (en) | 1997-06-20 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013057957A1 (en) * | 2011-10-21 | 2013-04-25 | 日本化薬株式会社 | Ultraviolet ray cured resin composition, cured product, and article |
-
1995
- 1995-12-07 JP JP07345811A patent/JP3105439B2/en not_active Expired - Fee Related
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| CN103890028A (en) * | 2011-10-21 | 2014-06-25 | 日本化药株式会社 | Ultraviolet curable resin composition, cured product, and article |
| JP2017020025A (en) * | 2011-10-21 | 2017-01-26 | 日本化薬株式会社 | Ultraviolet-curable resin composition, cured product and article |
| TWI572691B (en) * | 2011-10-21 | 2017-03-01 | 日本化藥股份有限公司 | Ultraviolet-curable resin composition, cured substance and article |
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