JP2018018930A - 固体電解コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】導電性高分子を固体電解質とする固体電解コンデンサにおいて、もれ電流を低減するとともに、体積当たりの容量の低下を抑制する固体電解コンデンサおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】弁作用金属からなる陽極導体1、誘電体層2、シランカップリング剤層9、固体電解質層4を順次形成する固体電解コンデンサにおいて、シランカップリング剤層9が誘電体層の表面領域の75%以上で厚さが10nm以上、50nm未満とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、導電性高分子を固体電解質とする、固体電解コンデンサおよびその製造方法に関する。
多孔質の弁作用金属からなる陽極体表面に誘電体層を形成し、誘電体層上にシランカップリング剤層を形成し、シランカップリング剤層上に固体電解質層を形成する固体電解コンデンサ及びその製造方法が、特許文献1に開示されている。
固体電解コンデンサでは、もれ電流抑制を目的にシランカップリング剤層を厚く形成すると、膜厚が不均一になりやすい。シランカップリング剤層が必要以上に厚すぎると、トンネル効果による電子の電位障壁透過が阻害され、誘電体層の特性を十分に活用することができずにコンデンサの体積当たりの容量が低下する。一方、シランカップリング剤層が薄すぎると、トンネル効果によってもれ電流が増大する。
従って、従来の固体電解コンデンサでは、もれ電流を低減すると同時に、体積当たりの容量の低下を抑制することが困難であるという課題がある。
本発明は、多孔質体の弁作用金属からなる陽極導体と、前記陽極導体の表面に配する誘電体層と、前記誘電体層の表面に配するシランカップリング剤層と、前記シランカップリング剤層の表面に配する固体電解質層を備えた固体電解コンデンサであって、前記シランカップリング剤層は前記誘電体層の表面における領域の75%以上において、厚さが10nm以上、50nm未満であることを特徴とする固体電解コンデンサとすることで、上記課題を解決する。
本発明の固体電解コンデンサは、前記シランカップリング剤層が単分子状態であっても良い。
また、本発明の固体電解コンデンサは、前記シランカップリング剤層が非イオン性の官能基を有するものであっても良い。
更に、本発明の固体電解コンデンサは、前記シランカップリング剤層を、前記誘電体層及び前記固体電解質層の内部にも配しても良い。
本発明によれば、多孔質体の弁作用金属からなる陽極導体の表面に、誘電体層を形成する工程と、前記誘電体層の表面にシランカップリング剤の溶液を塗布して乾燥させ、シランカップリング剤層を形成する工程と、前記シランカップリング剤層の表面に固体電解質層を形成する工程と、を含むことを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法が得られる。
本発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記シランカップリング剤の溶液のpHが3.0以上6.0未満であっても良い。
本発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記シランカップリング剤の溶液が非プロトン性極性溶媒を含んでも良い。
本発明の固体電解コンデンサの製造方法は、前記シランカップリング剤の溶液の温度が10℃以下であっても良い。
誘電体層の表面における領域の75%以上において、シランカップリング剤層を所定範囲の厚みとすることにより、シランカップリング剤層自身が誘電体最表面の電位障壁の一部として機能させることが可能となる。特に、シランカップリング剤層の厚さを10nm以上とすることで、電位障壁の修復のみならず、トンネル効果に起因する電子の透過を抑制し、固体電解コンデンサのもれ電流を減少することができる。また、シランカップリング剤層の厚さを50nm未満とすることで、固体電解コンデンサの容量の低下やESR(等価直列抵抗)の上昇を抑制することができる。
シランカップリング剤層の形成に単分子状態のシランカップリング剤を用いると、シランカップリング剤層の厚みを均一化することができるため、シランカップリング剤層が部分的に厚くなって容量が低下したり、逆に薄くなりすぎてもれ電流が増大したりする不具合を抑制することができる。
シランカップリング剤層がイオン性の官能基を有する場合、誘電体にドープされることで電位障壁が狭くなることから、十分な電位障壁を確保するためには非イオン性の官能基を有することが望ましい。
シランカップリング剤層は、固体電解質層の層間に存在しても良く、誘電体層表面と固体電解質層の層間というように、2層以上に分割してもよい。分割した場合は各層の厚みの合計が10nm以上、50nm未満となれば良い。固体電解質層の層間にシランカップリング剤層を形成することによって、容量の減少をさらに抑制できる可能性がある。
シランカップリング剤の溶液のpHを3.0以上6.0未満とすることによって、シランカップリング剤同士の縮合反応、すなわち高分子化を抑制し、シランカップリング剤の単分子状態を維持することが可能である。
シランカップリング剤の溶液が非プロトン性極性溶媒を含むことで、触媒であるプロトンの濃度が低くなるため、シランカップリング剤の高分子化を抑制することができる。
シランカップリング剤の溶液の温度を10℃以下とすると、低温のため化学反応が起きにくくなり、シランカップリング剤の高分子化を抑制することができる。
本発明により、シランカップリング剤層を誘電体層の表面における所定領域で所定範囲の厚みとすることで、シランカップリング剤層自身が電位障壁の一部として電子の透過を抑制し、トンネル効果に起因する固体電解コンデンサのもれ電流を低減するとともに、実質的な電位障壁が厚くなるため、固体電解コンデンサの耐電圧の向上に寄与することに加え、体積当たりの容量の低下を抑制することができる固体電解コンデンサおよびその製造方法の提供が可能となる。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図1は、本発明の固体電解コンデンサの断面図であり、図2は図1の破線部分の拡大図である。
図1のように、多孔質体の弁作用金属からなる陽極導体1と、その陽極導体1の表面に誘電体層2を形成し、その誘電体層2の表面における領域の75%以上において、厚さが10nm以上、50nm未満のシランカップリング剤層9を形成し、シランカップリング剤層9の表面に固体電解質層4を形成し、固体電解質層4の表面に陰極層5を形成し、陽極リード3および陰極層5にそれぞれリードフレーム71、72を接続する。接続は、溶接や導電性接着剤6を用いて行う。リードフレーム71、72の外部電極となる部分を露出させて全体を外装樹脂8でモールド成型することにより、固体電解コンデンサを得る。
誘電体層2は、弁作用金属(例えばTa)の陽極酸化によって形成する。金属側に隣接している部分は、Ta2O5の化学当量以上の過剰タンタル原子を含んでいるn形酸化タンタル層であり、続く層はTa2O5の化学当量の組成をもつ真性半導体であるi層である。i層は化成電圧(酸化被膜を形成させるための電圧)に比例した厚さを有する。その最表面は、誘電体層上に構成される固体電解質(導電性高分子、シランカップリング剤等)によって、p形酸化タンタル層が誘起される結果、誘電体の構造は,p−i−n接合が形成され、良好な絶縁性が得られる。ただし、導電性高分子が形成されると、導電性高分子が酸化皮膜から電子を引き抜き、電子障壁を低くする。
シランカップリング剤層9の形成に用いるシランカップリング剤は、有機物(導電性高分子)と親和性の高い有機物官能基と、加水分解性OR基を有するケイ素化合物である。OR基を加水分解してOH基に変化させ、誘電体表面と反応させることによって、無機物表面等と化学結合を形成する。また、有機物官能基は導電性高分子と親和性が高いため、有機物官能基と導電性高分子の密着性を向上する効果があり、シランカップリング剤を介して誘電体と導電性高分子層を結びつけることができる。また、OH基が電子供性であり、導電性高分子の形成によって低くなった誘電体最表面の電子障壁を修復する効果がある。
シランカップリング剤層9の形成においては、シランカップリング剤を含む溶液中に浸漬した後、乾燥させることで被膜を得る。得られる被膜は極めて薄いため、所望の膜厚となるまで繰り返し浸漬、乾燥を行う。被膜は、付着しやすい所には更に付着し、付着しにくい所との間で膜厚に大きな差異が生じやすいため、均一な膜厚とすることが難しい。また、酸性溶媒を用いるとシランカップリング剤の一部が縮合した塊が生じるため、均一な膜厚とすることがさらに困難になる。
シランカップリング剤層9の膜厚を均一に形成するためには、5%以下の単分子状態のシランカップリング剤水溶液を用いて、複数回浸漬させることが好ましい。また、水溶液のpHは3.0以上6.0未満が好ましく、その範囲外では、シランカップリング剤同士の縮合によって、シランカップリング剤が高分子化するため、シランカップリング剤層の厚みが不均一となる可能性が有る。
シランカップリング剤は、加水分解によってOR基をOH基に置換したあとに使用する。OH基に置換したあとに、非プロトン性極性溶媒を混合することが好ましい。これは、プロトンが触媒となってOH基を有するシランカップリング剤同士の高分子化が進むため、プロトンの濃度を抑制できるからである。非プロトン性極性溶媒としてはジメチルスルホキシド、アセトニトリル、アセトンが好ましい。また、シランカップリング剤溶液の液温は10℃以下がシランカップリング剤同士の縮合を抑制するため好ましい。
なお、シランカップリング剤層9は、固体電解質層4の層間に存在しても良く、誘電体層2表面と固体電解質層4の層間というように2層以上に分割してもよい。分割した場合は各層の厚みの合計が10nm以上、50nm未満となれば良い。固体電解質層4の層間にシランカップリング剤層9を形成することによって、容量の減少をさらに抑制できる可能性がある。
シランカップリング剤層9の厚みは、研磨によって断面形成後、イオンミリング装置にて断面を加工して研磨による断面のだれを除去し、アンモニア水溶液にてシランカップリング剤同士を結合させてSEM(走査型電子顕微鏡)を用いて観察する。アンモニア水溶液によるシランカップリング剤の結合を行わないと、SEMの電子線でシランカップリング剤が揮発して観察に支障が生じる。
固体電解質層4は、化学重合または電解重合法または導電性高分子溶液を塗布し乾燥する方法のいずれか1種以上の方法で形成され、少なくとも多孔質体の一部を充填する必要がある。固体電解質層4としては、ピロール、チオフェン、アニリンおよびその誘導体を少なくとも一種以上含む単量体からなる重合体を含むことが好ましい。加えて、ドーパントとしてスルホン酸系化合物を含むことが好ましい。また、前記の導電性高分子材料以外にも、二酸化マンガン、酸化ルテニウム等の酸化物誘導体、TCNQ(7,7,8,8,−テトラシアノキノジメタンコンプレックス塩)等の有機物半導体等が含まれていても良い。
固体電解質層4の形成は、既知の方法を用いれば良い。例えば、陽極導体1の表面に形成された誘電体層2の上に前記導電性高分子組成物を塗布または含浸し、乾燥することにより、固体電解質層4が得られる。なお、固体電解質層4は、二層以上の層から構成されていても良い。
陰極層5は、導体で構成されていれば、材質は特に限定されない。例えば、グラファイト等からなるカーボン層と、銀導電性樹脂層とからなる2層構造とすることができる。
(実施例1)
Ta粉末を縦3.5mm、横3.0mm、厚さ1.5mmの直方体に成型し、陽極リード3としてTaワイヤーを埋め込んだプレス体を焼結してTa焼結体を作製した。この焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。
Ta粉末を縦3.5mm、横3.0mm、厚さ1.5mmの直方体に成型し、陽極リード3としてTaワイヤーを埋め込んだプレス体を焼結してTa焼結体を作製した。この焼結体をリン酸水溶液中で陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。
次に、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。この操作を3回繰り返すことによって、シランカップリング剤層9を形成した。なお、シランカップリング層の膜厚は10nm以上、50nm未満であり、その領域の面積は全体の75%であった。
陽極導体1を、3,4−エチレンジオキシチオフェンを含むモノマー溶液と、ドーパントとしての1,3,6−ナフタレントリスルホン酸と、酸化剤であるペルオキソ二硫酸アンモニウムを含む酸化剤溶液と、を含む溶液に浸漬させた。浸漬を繰り返し、化学酸化重合法によってポリ3,4−エチレンジオキシチオフェンを含む固体電解質層4である導電性高分子層を形成した。
導電性ペーストとしてグラファイトペーストと銀ペーストを使用して陰極層5を形成し、導電性接着剤6を介してリードフレーム71と陰極層5、溶接により陽極リード3とリードフレーム72を接続した後、外部電極を除いた全体を外装樹脂8でモールド外装し、固体電解コンデンサを得た。
(実施例2)
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。尚、シランカップリング剤水溶液は、膜厚の均一化促進のために、温度を5±1℃に管理した。
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。尚、シランカップリング剤水溶液は、膜厚の均一化促進のために、温度を5±1℃に管理した。
前記操作を3回繰り返すことによって、シランカップリング剤層9を形成した。なお、シランカップリング層の膜厚は10nm以上、30nm未満であり、その領域の面積は全体の80%であった。
更に、実施例1と同様に固体電解質層4を形成し、陰極層5を形成し、導電性接着剤6や溶接を用いて陰極層5および陽極リード3それぞれにリードフレーム71、72を接続した後、全体を外装樹脂8でモールド外装し、固体電解コンデンサを得た。
(実施例3)
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整され、ジメチルスルホキシドが30質量%含まれた3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整され、ジメチルスルホキシドが30質量%含まれた3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。
前記操作を3回繰り返すことによって、シランカップリング剤層9を形成した。なお、シランカップリング層の膜厚は10nm以上、30nm未満であり、その領域の面積は全体の80%であった。
更に、実施例1と同様に固体電解質層4を形成し、陰極層5を形成し、導電性接着剤6や溶接を用いて陰極層5および陽極リード3それぞれにリードフレーム71、72を接続した後、全体を外装樹脂8でモールド外装し、固体電解コンデンサを得た。
(実施例4)
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたタンタル焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたタンタル焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。
陽極導体1を、3,4−エチレンジオキシチオフェンを含むモノマー溶液と、ドーパントとしての1,3,6−ナフタレントリスルホン酸と、酸化剤であるペルオキソ二硫酸アンモニウムを含む酸化剤溶液と、を含む溶液に浸漬させた。その後、酢酸によってpHが3.0以上6.0未満に調整された3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの5質量%水溶液に浸漬した。この操作を2回繰り返した。
更に、3,4−エチレンジオキシチオフェンを含むモノマー溶液と、ドーパントとしての1,3,6−ナフタレントリスルホン酸と、酸化剤であるペルオキソ二硫酸アンモニウムを含む酸化剤溶液と、を含む溶液に浸漬させた。浸漬を繰り返し、化学酸化重合法によってポリ3,4−エチレンジオキシチオフェンを含む固体電解質層4である導電性高分子層を形成した。
なお、本実施例における導電性高分子層間のシランカップリング剤層と誘電体表面のシランカップリング剤層の膜厚は、合計が10nm以上、50nm未満となり、当該膜厚の領域の面積は全体の75%であった。
更に、実施例1と同様に陰極層5を形成し、導電性接着剤6や溶接を用いて陰極層5および陽極リード3それぞれにリードフレーム71、72を接続した後、全体を外装樹脂8でモールド外装し、固体電解コンデンサを得た。
(比較例)
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。次に、pHが7の3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの1質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。この操作を3回繰り返すことによって、シランカップリング剤層9を形成した。なお、シランカップリング剤層の膜厚が10nm以上、50nm未満の面積は、全体の50%であった。
実施例1と同様にTa焼結体を作製し、陽極酸化を行い、誘電体層2を形成した。次に、pHが7の3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランの1質量%水溶液に誘電体層2で被覆されたTa焼結体を浸漬し、120℃、60分乾燥した。この操作を3回繰り返すことによって、シランカップリング剤層9を形成した。なお、シランカップリング剤層の膜厚が10nm以上、50nm未満の面積は、全体の50%であった。
更に、実施例1と同様に固体電解質層4を形成し、陰極層5を形成し、導電性接着剤6や溶接を用いて陰極層5および陽極リード3それぞれにリードフレーム71、72を接続した後、全体を外装樹脂8でモールド外装し、固体電解コンデンサを得た。
表1に示すように、本発明の実施例1〜4では、比較例の構成よりももれ電流が顕著に低減されていた。また容量についても、比較例よりも5〜8%程度の改善がなされた。
以上、本発明の実施例を説明したが、本発明は上記構成に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、構成の変更や修正が可能である。すなわち、当業者であればなし得るであろう各種変形、修正もまた本発明に含まれることは勿論である。
1 陽極導体
2 誘電体層
3 陽極リード
4 固体電解質層
5 陰極層
6 導電性接着剤
8 外装樹脂
9 シランカップリング剤層
71、72 リードフレーム
2 誘電体層
3 陽極リード
4 固体電解質層
5 陰極層
6 導電性接着剤
8 外装樹脂
9 シランカップリング剤層
71、72 リードフレーム
Claims (8)
- 多孔質体の弁作用金属からなる陽極導体と、前記陽極導体の表面に配する誘電体層と、前記誘電体層の表面に配するシランカップリング剤層と、前記シランカップリング剤層の表面に配する固体電解質層を備えた固体電解コンデンサであって、前記シランカップリング剤層は前記誘電体層の表面における領域の75%以上において、厚さが10nm以上、50nm未満であることを特徴とする固体電解コンデンサ。
- 前記シランカップリング剤層が、単分子状態であること特徴とする、請求項1に記載の固体電解コンデンサ。
- 前記シランカップリング剤層が、非イオン性の官能基を有することを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の固体電解コンデンサ。
- 前記シランカップリング剤層を、前記誘電体層及び前記固体電解質層の内部にも配することを特徴する、請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の固体電解コンデンサ。
- 多孔質体の弁作用金属からなる陽極導体の表面に、誘電体層を形成する工程と、前記誘電体層の表面にシランカップリング剤の溶液を塗布して乾燥させ、シランカップリング剤層を形成する工程と、前記シランカップリング剤層の表面に固体電解質層を形成する工程と、を含むことを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記シランカップリング剤の溶液のpHが3.0以上6.0未満であることを特徴とする、請求項5に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記シランカップリング剤の溶液が非プロトン性極性溶媒を含むことを特徴とする、請求項5または請求項6に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
- 前記シランカップリング剤の溶液の温度が10℃以下であることを特徴とする、請求項5乃至請求項7のいずれかに記載の固体電解コンデンサの製造方法。
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