DE3829760A1 - Taktflankengesteuertes register - Google Patents
Taktflankengesteuertes registerInfo
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- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein taktflankengesteuertes
Register mit Speicherzellen zur Speicherung von Daten.
Es ist bekannt, taktflankengesteuertes Register durch taktzustandsgesteuerte
Master-Slave-Flip-Flops zu realisieren. Diese
Flip-Flops bestehen aus zwei Speicherzellen und benötigen deshalb
eine relativ große Transistorzahl.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht darin, ein
taktflankengesteuertes Register anzubieten, das zur Realisierung
weniger Transistoren benötigt und dessen Breite leicht erweitert
werden kann.
Diese Aufgabe wird gemäß dem Kennzeichen des Patentanspruches 1
gelöst.
Zur Speicherung der Daten im Register werden somit einstufige
Speicherzellen verwendet, die bei einem festgelegten Signalpegel,
zum Beispiel einem H-Pegel, am Steuereingang die Dateninformation
übernehmen und diese bei entgegengesetztem Pegel,
zum Beispiel L-Pegel, am Steuereingang die Information speichern.
Um die Datenübernahme des Registers flankenabhängig zu machen,
werden die Steuereingänge der Speicherzellen des Registers von
einer Impulsformerstufe angesteuert.
Es ist vorteilhaft, die Speicherzellen in C-MOS-Technik zu
realisieren. Dann kann die Speicherzelle aus einem Transfergate,
an dessen Steuereingang der Taktimpuls anliegt, und aus
einem Speicherelement aus zwei rückgekoppelten Invertern
bestehen.
Andere Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Anhand eines Ausführungsbeispieles, das in den Figuren dargestellt
ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockschaltbild des Registers,
Fig. 2 ein Impulsdiagramm,
Fig. 3 eine erste Ausführung der Speicherzelle,
Fig. 4 eine zweite Ausführung der Speicherzelle,
Fig. 5 eine dritte Ausführungsform der Speicherzelle,
Fig. 6 ein Blockdiagramm der Impulsformerstufe,
Fig. 7 eine in C-MOS-Technik ausgeführte erste Ausführungsform
der Impulsformerstufe,
Fig. 8 eine zweite Ausführungsform der Impulsformerstufe.
Das Register RG besteht aus Speicherzellen SZ, zum Beispiel n
Speicherzellen (n ganze Zahl) und aus einer Impulsformerstufe PF.
Die Speicherzellen SZ sind logisch parallel angeordnet (parametrisierbare
Bitbreite) und werden gemeinsam von der Impulsformerstufe
PF angesteuert. Jede Speicherzelle SZ speichert ein Bit
eines Datenwortes D. An der Impulsformerstufe PF liegt ein Taktsignal
TS an, das von der Impulsformerstufe PF in einen Taktimpuls
CKI umgewandelt wird. Am Ausgang der Speicherzelle SZ kann
das gespeicherte Datenwort D als Datenwort Q abgenommen werden.
Aus Fig. 1 ist entnehmbar, daß das Register RG leicht in der
Breite erweitert werden kann, es müssen lediglich weitere
Speicherzellen SZ angefügt werden, die dann ebenfalls von der
Impulsformerstufe PF angesteuert werden.
Anhand des Zeitdiagramms der Fig. 2 wird die Funktion des
Registers RG der Fig. 1 erläutert. An die Impulsformerstufe PF
wird ein Taktsignal TS angelegt (erste Zeile des Zeitdiagramms).
Nach einer durch die Ausführung der Impulsformerstufe gegebenen
Verzögerung erscheint am Ausgang der Impulsformerstufe der Taktimpuls
CKI (zweite Zeile des Zeitdiagrammes). Diese Zeit ist in
Fig. 2 mit t (DCKI) bezeichnet. Die Impulsformerstufe PF erzeugt
dann einen Taktimpuls CKI definierter Breite tw. Die Breite des
Taktimpulses CKI muß so sein, daß die an den Speicherzellen SZ
anliegenden Bit′s des Datenwortes D sicher in die Speicherzellen
SZ übernommen werden.
Wie sich aus Zeile 3 des Zeitdiagramms der Fig. 2 ergibt, liegen
an den Eingängen der Speicherzellen SZ die Daten D an (Zeile 3 des
Zeitdiagramms). Wird an die Speicherzellen zusätzlich der Taktimpuls
CKI angelegt, der zum Beispiel H-Pegel haben kann, dann wird
die Dateninformation D in die Speicherzellen SZ übernommen und in
diesen bei entgegengesetzten Pegel des Taktimpulses CKI, zum Beispiel
einem L-Pegel, gespeichert. Die Daten müssen an den Eingängen
der Speicherzellen SZ so lange anliegen, bis sie in den Speicherzellen
gespeichert sind. Diese Zeit ist in Zeile 3 der Fig. 2
mit t (h) bezeichnet. Die Daten müssen weiterhin vor Auftreten des
Taktimpulses CKI an den Speicherzellen anliegen, wie sich dies aus
der Zeile 3 der Fig. 3 ergibt. Aus Zeile 4 der Fig. 2 ist zu
entnehmen, daß nach Anliegen des Taktimpulses CKI die Information
in die Speicherzellen übernommen worden ist und somit am Ausgang
Q die gespeicherte Information abgenommen werden kann.
Die Impulsformerstufe liefert also bei entsprechenden Flanken
des Taktsignales TS einen Taktimpuls CKI von definierter Breite.
Dieser Taktimpuls führt zur Speicherung der Dateninformation in
den Speicherzellen SZ.
Die einzelnen Speicherzellen können auf verschiedene Weise realisiert
sein. Voraussetzung ist jedoch, daß sie einstufig ausgeführt
sind. Ausführungsbeispiele sind in den Fig. 3 bis 5
gezeigt.
Fig. 3 zeigt eine einstufige Speicherzelle SZ bestehend aus zwei
Transfergates TG 1 und TG 2 und einem Speicherelement SE. Die Speicherzelle SZ ist in C-MOS-Technik realisiert. Das Speicherelement
SE besteht aus zwei Invertern IN 1 und IN 2 mit Transistoren T 1, T 2,
T 3, T 4, die rückgekoppelt sind. In Rückkopplungszweig RZ liegt
das Transfergate TG 2, das ebenfalls von dem Taktimpuls CKI angesteuert
wird.
Die Ausführungsform der Fig. 3 besteht somit aus einem einstufigen
Speicherelement SE, das über ein Transfergate TG mit
der Dateninformation D versorgt wird. Die Betriebsweise ist
folgende:
An die Speicherzelle SZ wird eine Dateninformation D am Eingang
DE angelegt. Anschließend tritt der Taktimpuls CKI von der Impulsformerstufe
PF auf und steuert das Transfergate TG 1
leitend. Im Ausführungsbeispiel besteht das Transfergate TG 1
aus zwei parallel angeordneten Transistoren, nämlich einem
p-Kanal- und einem n-Kanal-Transistor. Am n-Kanal-Transistor
liegt der Taktimpuls CKI, am p-Kanal-Transistor der invertierte
Taktimpuls CKIN an.
Nachdem durch den Taktimpuls CKI das Transfergate TG 1 leitend
gesteuert worden ist, gelangt die Dateninformation D zum
Speicherelement SE. Das Potential am Eingang E der
Speicherzelle SE wird anschließend auf das Potential der
Dateninformation D umgeladen, das heißt die Dateninformation
wird in die Speicherzelle übernommen. Die entgültige
Speicherung der Dateninformation in der Speicherzelle SZ
erfolgt erst dann, wenn der Taktimpuls CKI sein Potential
ändert, und somit das Transfergate TG 1 gesperrt wird, und
das Transfergate TG 2 leitend gesteuert wird. Jetzt ist das
Potential am Ausgang DA des Speicherelementes SE auf das
Potential des Einganges eingestellt. Das heißt, am Ausgang
Q erscheint die Dateninformation D und wird über das leitende
Transfergate TG 2 auf den Eingang E rückgekoppelt.
Der Vorteil der Speicherzelle SZ der Fig. 3 ist darin zu
sehen, daß die Datenübernahme und die Speicherung durch die
Transfergates TG 1 und TG 2 weitgehend symmetrisch für L- und
H-Pegel erfolgen, daß keine Überlagerung aktiver Pegel erfolgt
und somit eine schnelle Datenübernahme gewährleistet ist.
Eine weitere Ausführungsform der Speicherzelle SZ kann Fig. 4
entnommen werden. Jetzt besteht das Transfergate TG 3 nur noch
aus einem Transistor, nämlich einem n-Kanal-Transistor T 5. Das
Speicherelement SE besteht widerum aus zwei rückgekoppelten
Invertern, wobei der erste Inverter IN 1 aus Transistoren T 1 und
T 2, der zweite Inverter IN 2 aus Transistoren T 3 und T 4 besteht.
Unterschiedlich zu Fig. 3 ist auch der Rückkopplungszweig RZ,
der den Ausgang und den Eingang des Speicherelementes SE direkt
miteinander verbindet.
Die Funktion der Speicherzelle SZ entspricht der Funktion der
Speicherzelle nach Fig. 3. Der Aufbau der Speicherzelle SZ
nach Fig. 4 erfordert aber weniger Transistoren und erfordert
auch nicht, daß der Taktimpuls CKI in invertierter Form zugeführt
wird. Dagegen ist erforderlich, daß die Transistoren T 3
und T 4 des Inverters IN 2 schwach dimensioniert sind, um eine
sichere Funktion der Schaltung zu gewährleisten. Das Ausgangssignal
des Transfergates TG 3 muß gegenüber dem rückgekoppelten
Signal des Inverters IN 2 dominieren.
Eine dritte Ausführungsform der Speicherzelle SZ kann Fig. 5
entnommen werden. Diese Ausführungsform unterscheidet sich von
der Fig. 4 nur dadurch, daß im Rückkopplungszweig RZ ein
Widerstand R 1 eingefügt ist. Der Widerstand R 1 ist hochohmig,
mit der Folge, daß keine Überlagerung aktiver Pegel gegeben ist
und eine schnelle Datenübernahme gewährleistet ist. Der Inverter
IN 2 mit den Transistoren T 3 und T 4 kann niederohmig realisiert
werden im Vergleich zu dem Inverter IN 2 der Ausführungsform
nach Fig. 4. Um eine symmetrische Datenübernahme zu gewährleisten
wäre es auch möglich, das Eingangs-Transfergate TG 1
der ersten Ausführungsform zu verwenden.
Ein Blockschaltbild der Impulsformerstufe kann Fig. 6 entnommen
werden. Die Impulsformerstufe PF enthält eine Laufzeitstrecke
LS, ein NAND-Glied ND und einen Inverter IN 3. Die Laufzeitstrecke
LS ist zum Beispiel als Inverter realisiert, an der
das Taktsignal TS anliegt. Der Ausgang der Laufzeitstrecke LS
ist mit dem NAND-Glied ND verbunden, an dem weiterhin das Taktsignal
TS anliegt. Das NAND-Glied ND gibt nur dann einen Impuls
ab, wenn der Ausgang der Laufzeitstrecke LS und das Taktsignal
TS positiven Pegel haben. Die Breite dieses Impulses wird durch
die Laufzeit der Laufzeitstrecke LS festgelegt. Der am Ausgang
des NAND-Gliedes ND auftretende Impuls wird durch das Inverterglied
IN 3 invertiert und bildet dann den Taktimpuls CKI,
der einen positiven Pegel aufweist.
Eine mögliche Realisierung des Blockschaltbildes der Fig. 6
kann Fig. 7 entnommen werden. Die Laufzeitstrecke LS wird
gebildet durch einen Inverter IN 4 und einen Transfertransistor
T 7. Der Transfertransistor T 7 hat die Funktion eines
hochohmigen Widerstandes, was bedeutet, daß er genauso gut
durch
einen solchen ersetzt werden kann. Die Transistoren T 5, T 6 des
Inverters und T 7 legen die Laufzeit in Abhängigkeit der
Entladezeitkonstante, die aus dem Widerstand des Transistors T 7
und der Gate-Kapazität der Transistoren T 8 und T 9 besteht,
fest.
Das NAND-Glied ND wird mit Hilfe der Transistoren T 8, T 9, T 10
und T 11 realisiert. Der Inverter IN 3 besteht aus den
Transistoren T 12 und T 13.
Die Funktion dieses Schaltkreises kann leicht der Fig. 7 unter
Berücksichtigung der Beschreibung der Fig. 6 entnommen werden.
Der Taktimpuls CKI entsteht dadurch, daß an das NAND-Glied
einerseits das Taktsignal TS und andererseits das verzögerte
Taktsignal angelegt wird. Die Zeitspanne zwischen dem Anliegen
des Taktsignales an Transistor T 10, T 11 und dem Anliegen des
verzögerten Taktsignales an Transistor T 8, T 9 des NAND-Gliedes
legt die Dauer des Taktimpulses fest.
Eine weitere Ausführungsform der Impulsformerstufe PF zeigt
Fig. 8, die sich von Fig. 7 nur dadurch unterscheidet, daß
zwischen das NAND-Glied NG und der Laufzeitstrecke LS weitere
Inverter IN 4 (T 14, T 15) und IN 5 (T 16, T 17) geschaltet sind.
Diese Inverter IN 4 und IN 5 bewirken eine zusätzliche Zeitverzögerung
und führen zu einer Verbesserung des von Transistor T 7
kommenden Signales. Die Funktionsweise entspricht der der Fig. 7
und 6.
Claims (8)
1. Taktflankengesteuertes Register mit Speicherzellen (SZ) zur
Speicherung von Daten (D), dadurch gekennzeichnet,
daß,
- - eine Impulsformerstufe (PF) vorgesehen ist, die ein am Eingang anliegendes Taktsignal (TS) in einen Taktimpuls (CKI) mit einer für die Speicherung der Daten in den Speicherzellen ausreichenden Breite umwandelt,
- - einstufige Speicherzellen (SZ) vorgesehen sind, jeweils eine zur Speicherung eines Datenbits, deren Takteingänge (ES) mit dem Ausgang der Impulsformerstufe (PF) verbunden sind und die bei Auftreten des Taktimpulses (CKI) die an den Dateneingängen der Speicherzellen anliegenden Datenbit übernehmen.
2. Register nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Speicherzellen (SZ) parallel
zueinander angeordnet sind (parametrisierbare Bitbreite).
3. Register nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet
durch die Speicherzelle (SZ) in C-MOS-Technik bestehend aus
einem ersten Transfergate (TG 1), an dessen Steuereingang (ES) der
Taktimpuls (CKI) anliegt und aus einem Speicherelement (SE) aus
zwei rückgekoppelten Invertern (IN 1, IN 2).
4. Register nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß im Rückkopplungszweig (RZ) ein
zweites Transfergate (TG 2) angeordnet ist, das vom Taktimpuls (CKI)
so angesteuert ist, daß es gesperrt ist, solange das erste Transfergate
(TG 1) leitend gesteuert ist.
5. Register nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß im Rückkopplungszweig (RZ) ein
Widerstand (R 1) angeordnet ist.
6. Register nach einen der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet
durch die Impulsformerstufe (PF) in
C-MOS-Technik aus
- - einem Inverter (IN 4), an dem das Taktsignal (TS) anliegt,
- - einem am Ausgang des Inverters (IN 4) angeschlossenen Widerstand (R 2),
- - einem NAND-Glied (ND), dessen einer Eingang mit dem Widerstand (R 2) verbunden ist und an dessen anderen Eingang das Taktsignal (TS) anliegt,
- - einem am Ausgang des NAND-Gliedes (ND) angeschlossenen Inverter (IN 3).
7. Register nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Widerstand (R 2) als Transfertransistor
(T 7) realisiert ist.
8. Register nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Transfertransistor
(T 7) und dem NAND-Glied (NG) zwei weitere Inverter (IN 5, IN 6)
angeordnet sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3829760A DE3829760A1 (de) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | Taktflankengesteuertes register |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3829760A DE3829760A1 (de) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | Taktflankengesteuertes register |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3829760A1 true DE3829760A1 (de) | 1990-03-15 |
Family
ID=6362102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3829760A Withdrawn DE3829760A1 (de) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | Taktflankengesteuertes register |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE3829760A1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4319977A1 (de) * | 1993-06-11 | 1994-12-15 | Mikroelektronik Und Technologi | Schaltungsanordnung zur Unterdrückung von dynamischen Störungen in digitalen Schaltungen |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3618572A1 (de) * | 1985-06-06 | 1986-12-11 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeicherelement |
| US4654826A (en) * | 1984-08-20 | 1987-03-31 | National Semiconductor Corporation | Single device transfer static latch |
-
1988
- 1988-09-01 DE DE3829760A patent/DE3829760A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4654826A (en) * | 1984-08-20 | 1987-03-31 | National Semiconductor Corporation | Single device transfer static latch |
| DE3618572A1 (de) * | 1985-06-06 | 1986-12-11 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeicherelement |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| US-Firmenschrift: RCA Corp.: COS/MOS Integrated Circuits Databook, 1977, S. 73-76,140-143, 242-245,348-349,630-632 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4319977A1 (de) * | 1993-06-11 | 1994-12-15 | Mikroelektronik Und Technologi | Schaltungsanordnung zur Unterdrückung von dynamischen Störungen in digitalen Schaltungen |
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