DE2728676A1 - Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte schaltung ausgefuehrtes system aus logischen schaltungen mit darin eingebetteter matrixanordnung - Google Patents
Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte schaltung ausgefuehrtes system aus logischen schaltungen mit darin eingebetteter matrixanordnungInfo
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Description
Böblingen, den 23. Juni 1977 ne-bm/som
Anmelderin: Amtliches Aktenzeichen;
Aktenzeichen der Anmelderin:
Vertreter: International Business Machines
Corporation, Armonk, N.Y. 10504 Neuanmeldung
FI 976 018
Patentassessor Dipl.-Ing. Johannes Neuland 7030 Böblingen
Bezeichnung: Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte Schaltung
ausgeführtes System aus logischen Schaltungen mit darin eingebetteter Matrixanordnung
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Die Erfindung betrifft logische Systeme mit eingebetteten
Matrixanordnungen, die allgemein modular und stufenempfindlich so organisiert sind, daß die Prüfung und Erzeugung von Prüfdaten
erleichtert werden.
Bisher hatte der Konstrukteur von Computerlogikschaltungen mit eingebetteten Matrixanordnungen vollständige Beweglichkeit
bei der Anordnung logischer Schaltungen zur Implementierung von Systemen und logischen Untersystemfunktionen in Zentraleinheiten,
Kanälen und Steuereinheiten, die in digitalen Rechnern verwendet werden. Daraus resultierte eine beachtliche Vielzahl
von Konstruktionsverwirklichungen, von denen jede ihre eigene spezielle Abhängigkeit von der Wechselstromcharakteristik
einzelner im System verwendeter Schaltungen hatte.
Die Unabhängigkeit und Flexibilität, die die Anordnungen charakterisierte, führte oft zu unerwarteten Systemtaktierungsproblemen,
komplizierten und komplexen Problemen bei der Prüfung der logischen Schaltungenen um diese Matrixanordnungen
herum und der Matrixanordnung selbst und zu einer beachtlichen Komplexität und Detailierung bei der Schulung
des Wartungspersonals für solche Rechensysteme. Der Konstrukteuer hatte jedoch den Vorteil, daß er alle Techniken zur Erzielung
der besten Leistungsfähigkeit anwenden konnte durch Benutzung einer kleinstmöglichen Zahl von Schaltungen. Die
Schnittstelle zwischen dem Konstrukteur der logischen Schal- | tungen und dem Komponentenhersteller war einigermaßen defi- !
niert und die Lösung konnte in der Vergangenheit in der Kompo- | nentenherstellung unterstützt werden, da die Wechselstrompara- '
meter wie Anstiegszeit, Abfallzeit, Verzögerung der einzelnen Schaltung, Zugriffszeit usw. ziemlich leicht zu prüfen waren.
Die Matrixanordnungen wurden als Matrixanordnungen auf Karten geprüft, die nur Matrixanordnungen hatten und die Karten
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mit logischen Schaltungen, die diese Matrixanordnungen nicht aufwiesen, wurden auf Prüfgeräten für logische Schaltungen
geprüft.
Mit dem Aufkommen der Großintegration existiert diese wohldefinierte
und zuverlässig ausgeprüfte Schnittstelle nicht mehr. Es wurde unmöglich oder unpraktisch, jede Schaltung und jede
Matrixanordnung auf alle wohlbekannten Wechselstromparameter zu prüfen.
Infolgedessen müssen logische Systeme und Untersysteme in Funktionseinheiten mit Charakteristiken aufgeteilt werden,
die im wesentlichen für diese Parameter unempfindlich sind. Die Großintegration bietet dem Konstrukteur logischer Schaltungen
sowie dem Komponentenhersteller die Möglichkeit, hunderte von Schaltungen oder eine komplette Matrixanordnung
auf einem Chip aus Halbleitermaterial unterzubringen. Dadurch können wiederum der Stromverbrauch reduziert, die Schaltgeschwindigkeit
erhöht und die Kosten digitaler Netzwerke nennenswert reduziert werden.
Zu den vor Erreichung dieses Zieles anzustellenden Überlegungen gehört beispielsweise auch der Punkt, daß zu einem Rechnersystem
mittlerer Größe ungefähr 40 000 einzelne Schaltungen und Matrixanordnungen gehören und es ist keineswegs unüblich,
15O0 oder mehr technische Änderungen während der Entwicklungsperiode eines Produktes durchzuführen. Eine solch große Zahl
technischer Änderungen durchzuführen grenzt an die Unmöglichkeit, wenn man sich mit dem modularen Baustein der niedrigsten
Stufe eines Computers beschäftigt, in dem bereits hunderte von Schaltungen enthalten sind.
Ein anderer Bereich bei der Großintegration von Funktionseinheiten
ist die erforderliche Produktprüfung vor dem Einbau in ein Rechnersystem. Die nachfolgenden während des Betriebes im
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Felde durchgeführten Diagnoseprüfungen sowie die Simulation während der Konstruktion und Herstellung sind Faktoren die
bei der Fabrikation solcher Funktionseinheiten zu berücksichtigen sind.
Bisher wurde jede einzelne Matrixanordnung mit den gebräuchlichen und normalen Gleich- und Wechselstromparametern geprüft,
über eine feste Anzahl von Eingangs-/Ausgangsanschlußstiften wurde die Eingangsprüfbedingung an die modulare Baueinheit
angelegt und die Ausgangsantwort gemessen. Außerdem waren die Matrixanordnungen und die logischen Schaltungen nicht
gemischt. Mit dem Aufkommen der Großintegration von Funktionseinheiten steht zwar noch dieselbe Anzahl von Eingangs-/Ausgangs stiften
zur Verfügung, es ist jedoch eine beträchtlich höhere Anzahl von Schaltungen mit den Matrixanordnungen gemischt.
In einem typischen Modul mit 100 Chips von jeweils bis zu
Schaltungen und 25 Chips mit Matrixanordnungen würde das Modul wenigstens 40 000 Schaltungen und 25 Matrixanordnungen enthai- j
ten. Die Parameterprüfung einer solchen Einheit ist nicht j möglich. Die Gleich- und Wechselstromprüfung der gesamten
logischen Schaltungen, die Matrixanordnungen nicht speisen oder von ihnen gespeist werden, kann durch die Verfahren und
Techniken erfolgen, die in den US-Patentschriften Nr. 3 761 3 783 254 und 3 784 907 beschrieben sind. Wenn an einer solchen
Einheit, die herkömmliche logische Konfigurationen aufweist, iftinktionsprüfungen der Matrixanordnungen versucht werden, würde}*
die logischen Schaltungen unmittelbar um die Matrixanordnung herum und die Matrixanordnung selbst nur unzureichend von der
prüfung erfaßt und ebenso wäre dann auch die Zuverlässigkeit jfür die Verwendung in einem Rechnersystem unzureichend. Daher
jnüssen die bisher üblichen Abhängigkeiten eliminiert werden.
Die heute gebräuchlichen Systeme aus logischen Schaltungen und Matrixanordnungen sind zu vermeiden und neue Organisationsformen
dafür müssen in Rechnersystemen verwendet werden, wenn
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die Vorteile der GroBintegration optimiert werden sollen. Diese
Systeme aus logischen Schaltungen und Matrixanordnungen müssen funktionell geprüft werden, sei es als Chips, Moduln oder andere
Baustufen. Diese Prüfung erfolgt durch die automatische Erzeugung von PrüfSignalen, die die richtige Operation eines
jeden logischen Elementes in der Einheit annehmen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein stufenempfindliches,
als monolithisch hochintegrierte Schaltung ausgeführtes System aus logischen Schaltungen mit einer eingebetteten
Matrixanordnung anzugeben, das durch eine verbesserte Organisation und Anordnung leicht und wirkungsvoll geprüft
werden kann.
Diese Aufgabe wird gelöst durch das in den Patentansprüchen gekennzeichnete stufenempfindliche System.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anschließend in Verbindung mit den Zeichnungen näher beschrieben, von denen
zeigen:
Fig. 1 ein Blockschaltbild der Organisation und allgemeinen Anordnung eines stufenempfindlichen
logischen Systems mit eingebetteter Matrixan-
• Ordnung,
I ;
in Fig. 1 gezeigten System verwendet wird, ,
das etwas genauer die Matrixanordnung der I
■ Fig. 1 darstellt,
tFig. 4 das Blockschaltbild einer Form einer getakteten
■ Gleichstroro-Verriegelungeschaltung, ausge-
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" 3~
führt mit NAND-Gliedern,
die die inverse Funktion zu der Funktion bildet, die von der in Fig. 4 dargestellten Verriegelungsschaltung
gebildet wird,
der Fig. 4,
des in Fig. 1 gezeigten Systems, insbesondere des kombinatorischen Netzwerkes 10 mit
seinem Satz aus Eingangs-Verriegelungsschaltungen und seinem Satz von Eingängen für die
Matrixanordnung,
Anordnung eines stufenempfindlichen logischen Systems mit eingebetteter Matrixanordnung mit
einer Vorkehrung für die Eingabe/Ausgabe des Systems,
lungsschaltung für das in Fig. 9 gezeigte
System, '
Fig. 11 ein Blockschaltbild einer getakteten Gleichstrom-Verriegelungsschaltung
zur Verwendung in dem in Fig. 9 gezeigten System, ;
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-y-
ΑΌ
Flg. 12 symbolisch, wie mehrere Verriegelungsschaltungen nach Fig. 10 auf einem Halbleiterchip
mit einem erfindungsgemäßen System untereinander verbunden sind und
Fig. 13 symbolisch die Verbindung mehrerer Chipkonfigurationen der in Fig. 12 gezeigten Art auf
einem Modul oder einer elektrischen Packungsstruktur.
Das allgemeine und modulare logische System der Erfindung hat eine gemeinsame Organisation und Struktur und ist auf jede
binäre digitale Maschine anwendbar, die Matrixanordnungen benutzt. Ein erfindungsgemäßes System oder Untersystem würde
einen wesentlichen Funktionsteil einer zentralen Verarbeitungseinheit, eines Kanales oder einer Steuereinheit im
Rechensystem bilden. Solch eine Organisation und Struktur ist förderlich für die Prüfung von Chips mit monolithisch hochintegrierten
Schaltungen und von Moduln, die Fehlerdiagnose und technologische Verbesserungen. Fast alle durch eine
Anordnung von logischen Schaltungen und Matrixanordnungen zu verwirklichenden Funktionen können mit dieser Organisation
und Struktur verwirklicht werden. Nichtdigitale Funktionen wie die von Analogschaltungen dürfen nicht nach dem Erfindungsgedanken organisiert werden.
Die erfindungsgemäße Konfiguration logischer Schaltungen mit
einer Matrixanordnung ist durch eine einseitige Verzögerungsabhängigkeit gekennzeichnet. Das Konfigurationskonzept wird
dazu benutzt, daß die richtige Betriebsweise der Struktur nicht von der Anstiegszeit, der Abfallzeit oder einer minimalen
Verzögerung einer jeden einzelnen Schaltung oder Matrixanordnung im System abhängig ist. Die einzige Abhängigkeit besteht darin,
daß die Gesamtverzögerungen durch eine Anzahl von Stufen logischer Schaltungen von oder zu einer Matrixanordnung kleiner
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ist als ein bekannter Wert. Eine solche Konfiguration wird als stufenempfindlich bezeichnet.
Es wird definiert, daß ein eine Matrixanordnung enthaltendes logisches System nur stufenempfindlich ist, wenn die Antwort
im eingeschwungenen Zustand auf jede zulässige Änderung des Eingangszustandes von den Verzögerungen der Schaltung und der
Verdrahtung innerhalb des Systems unabhängig ist. Wenn eine Änderung des Eingangszustandes die Änderung von mehr als einem
Eingangssignal mit sich bringt, muß die Antwort von der Reihenfolge, in der sich die Eingangssignale ändern, unabhängig sein.
Das Konzept des stufenempfindlichen Betriebes ist natürlich davon abhängig, daß man nur zulässige Eingangsänderungen hat.
Das bringt eine gewisse Einschränkung für die Änderungen der Eingangssignale mit sich, die jedoch fast ausschließlich für
die Systemtaktsignale und die Steuereingangssignale für die Matrixanordnung gelten. Für andere Eingangssignale, wie beispielsweise
Datensignale, gelten im wesentlichen keine Einschränkungen hinsichtlich ihres Auftretens.
i Der Ausdruck "Antwort im eingeschwungenen Zustand" bezieht sich
auf den Endwert aller internen Speicherelemente wie I
Flip-Flops und Rückkopplungsschleifen. Es wird angenommen, daß ein stufenempfindliches System aufgrund einer Folge von zu- ;
lässigen Eingangszustandsänderungen arbeitet, wobei zwischen den Änderungen genügend Zeit verstreicht, damit das System
sich im neuen internen Zustand stabilisieren kann. Diese Zeitdauer ist normalerweise durch System-Taktsignalzüge gesichert,
die den dynamischen Betrieb der logischen Konfiguration steuern und durch die Steuereingangssignale für die Matrixanordnung,
die deren Betrieb steuern.
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Zur logischen Organisation der Erfindung gehört auch das Konzept der Konfiguration aller internen Speicherelemente, die
eine Matrixanordnung speisen oder von ihr gespeist werden in einer Art, daß sie als Schieberegister oder Teile von
Schieberegistern fungieren können. Zur Verwirklichung dieses Konzeptes erfolgt die gesamte Speicherung innerhalb der logischen
Organisation durch Verriegelungsschaltungen, die frei von Zeitbedingungen sind, und so erhält man logische Systeme,
die für Wechselstromkennwerte wie Anstiegszeit, Abfallzeit und Mindestsignalverzögerung unempfindlich sind.
Die Verriegelungsstufen sind stufenempfindlich. Das System wird durch zwei oder mehr nicht überlappende Taktsignalzüge
gespeist, die voneinander unabhängig sind. Jedes Signal in einem solchen Zug braucht nur so lang zu sein, daß eine Verriegelungsschaltung
gesetzt werden kann. Das Erregungssignal
und das Durchschaltsignal für jede getaktete Verriegelungsschaltung sind eine logische kombinatorische Funktion der
Systemeingangssignale und der Ausgangssignale von Verriegelungsschaltungen, die durch andere Taktsignalzüge gesteuert
werden als durch den Signalzug, der ein Eingangssignal für die zuerst erwähnten getakteten Verriegelungsschaltungen bildet,
und der Ausgangssignale der Matrix.
Dieses zuletzt genannte Ziel läßt sich beispielsweise dadurch erreichen, daß jede getaktete Verriegelungsschaltung durch
genau ein Systemtaktsignal gesteuert wird. Wenn das Durch-ι
I schaltsignal und das Taktsignal beide einen hohen Pegel aufweisen,
wird die getaktete Verriegelungsschaltung in einem Zustand verriegelt, der durch das Erregungssignal für diese
Verriegelungsschaltung bestimmt ist.
Eine dieses Konzept enthaltende allgemeine logische Organisation und Struktur ist in Fig. 1 gezeigt. Die Konfiguration
wird gebildet durch zwei Netzwerke 10, 11 aus kombinatorischen
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logischen Schaltungen, die vor bzw. hinter der Matrixanordnung
12 angeordnet sind. Das Netzwerk 10 ist mit der Matrixanordnung 12 und dem Netzwerk 11 gekoppelt und empfängt auch die Ausgangssignale
13A, 14A und 15A der Verriegelungsschaltungssätze 13, 14, 15. Das Netzwerk 11 empfängt Signale (E2) der Verriegelungsschaltungssätze
13, 14 und 15 möglicherweise über das Netzwerk 10 und Signale (B1) von der Matrixanordnung. Das
Netzwerk 11 ist speziell mit dem Satz der Verriegelungsschaltungen 16, 17, 18 gekoppelt. Das logische System mit einer
eingebetteten Matrixanordnung ist somit effektiv in mehrere, in ein kombinatorisches Netzwerk eingebettete Matrixanordnungen
unterteilt. Obwohl nur eine derartige Einbettung dargestellt ist, kann nach dem Erfindungsgedanken natürlich jede beliebige
Anzahl parallel angeordnet werden.
Jedes der kombinatorischen Netzwerke 10, 11 hat mehrere Eingänge
und mehrere Ausgänge und enthält eine Reihe von Stufen mit kombinatorischen logischen Schaltungen, die die Form konventioneller
logischer Halbleiterschaltungen annehmen können. Obwohl die Neztwerke in den meisten Fällen in einem derartigen
System komplex sind und mehrere logische Stufen enthalten, kann das Netzwerk natürlich auch einfach oder trivial sein
und nur aus Leitern bestehen, die von einem Verriegelungsschaltungssatz
zu einem anderen führen.
Jedes Netzwerk spricht auf jede eindeutige Kombination von Eingangssignalen an, die eine eindeutige Kombination von Ausgangssignalen
ergibt. Die Ausgangssignale E1, E2, K1, K2, Kk, B1 sind tatsächlich Sätze von Ausgangssignalen, so daß das
Symbol E1 steht für e11, e12 ... eiN. In ähnlicher Heise bezieh
hen sich die Symbole G1, G2, GN, H1, H2 und HK auf Sätze von
Durchschaltsignalen, die durch jedes kombinatorische Neztwerk
des übrigen Systems geliefert werden können. Die an die Verriegelungsschaltungssätze
13, 14, 15 gelieferten EingangsSignaIe
sind ein Satz S externer Eingangssignale. Die Eingangssignale ä
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- yi -H
können vom übrigen Tell des Systems kommen, das dem In der US-Patentschrift
Nr. 3 783 254 beschriebenen entsprechen kann. In ähnlicher Welse werden die Ausgangssignale der Verriegelungsschaltungssätze
16, 17, 18 mit dem Rest des Systems und den Verrlegelungsschaltungssätzen 13, 14, 15 gekoppelt. In der
Beschreibung dieser Erfindung bedeuter der Ausdruck "Satz" ein einzelnes Teil (Signal) oder eine wesentliche Vielzahl solcher
Teile (Signale). Die Matrixanordnung nach Fig. 1 weist nach Darstellung in Fig. 3 drei Sätze von Eingängen D1, A1 und C1 auf.
Das Eingangssignal D1 stellt die in der Matrixanordnung an der Adresse A1 zu speichernden Daten dar, wenn die Steuer-Eingangssignale
C1C Schreibbetrieb ermöglichen. Wenn sie den Lesebetrieb erlauben, dann werden die vorher an der Adresse A1 gespeicherten
Daten an den Ausgang 01 gegeben. Wenn eine als Festwertspeicher dienende Matrixanordnung verwendet wird, dann sind die Eingänge
Da überflüssig. Außerdem kann ein Ausgabedatenpuffer vorgesehen
werden, der die Ergebnisse einer Leseoperation bis zur nächsten Leseoperation festhält.
Die Matrixanordnung 12 in Fig. 1 und 43 in Fig. 9 kann eine M χ N-Speichermatrix oder eine programmierbare Matrixanordnung
aus logischen Schaltungen von allgemein bekannter Art sein, wie sie z.B. in den US-Patentschriften Nr. 3 593 317, 3 863 232
und 3 936 812 beschrieben sind.
Um die Signale in die Einheit zu takten, müssen bei der in Fig. 1 gezeigten Struktur zwei oder mehr unabhängige Taktsignalzüge
verwendet werden. Eine durch einen Taktsignalzug gesteuerte Verriegelungsschaltung oder ein Satz solcher Schaltungen kann
nicht durch kombinatorische logische Schaltungen mit anderen Verriegelungsschaltungen gekoppelt werden, die durch denselben
Taktsignalzug gesteuert werden. Somit darf der Verrlegelungsschaltungssatz
18 nicht durch den Taktsignalzug C1 oder C2 getaktet werden. Der Verriegelungsschaltungssatz 17 kann jedoch
mit dem Verriegelungsschaltungssatz 13, 14 und 15 gekoppelt werden, die auf andere Taktsignalzüge ansprechen.
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Jeder Verriegelungsschaltungssatz in Fig. 1 wird durch genau
einen dieser Taktsignalzüge so gesteuert, daß jede zu einem steuernden Taktsignal Ci gehörende Verriegelungsschaltung Lij
zwei andere Signale empfängt, nämlich ein Erregungssignal Eij
und eventuell ein Durchschaltsignal Gij. Diese drei Signale
steuern die Verriegelungsschaltung so, daß diese auf den Wert des Erregungssignales gesetzt wird, wenn das
Durchschaltsignal und das Taktsignal einen hohen, den Binärwert "EINS" darstellenden Pegel aufweisen. Wenn eines dieser
beiden Signale einen niedrigen, den Binärwert "NULL" darstellenden Pegel aufweist, kann sich der Zustand der Verriegelungsschaltung
nicht ändern. Zur Taktierung können die Taktsignalzüge auch direkt auf die entsprechenden Verriegelungsschaltungssätze
einwirken ohne die Durchschaltsignale G1, G2 GN, H1, H2 ... HK und die dazwischenliegenden UND-Glieder zu
verwenden.
Der Betrieb des logischen Systems wird bestimmt durch die Takt'
signalzüge. Während der Anstiegszeit von C1 im Zeitabschnitt 19 in Fig. 2 sind C2, C2 und C4 null und die Eingangssignale
zu den Verriegelungsschaltungssätzen 13, 15 stabil. Das Taktsignal C1 wird dann durch die Verriegelungsschaltungen der ;
Sätze 13 und 15 geleitet, wenn die entsprechenden Durchschaltsignale G1 und GN einen hohen Pegel aufweisen. Die Verriegelungsschaltungen
dieser Sätze 13 und 15 werden auf den Wert ihrer Erregungssignale S gesetzt. Einige Verriegelungsschaltungen
in dem Verriegelungsschaltungssatz 13 oder 15 können I
während der Zeit umgeschaltet werden, in der C1 einen hohen Pegel aufweist. Der Zeitabschnitt 19 braucht nur lange genug
zu dauern, damit die Verriegelungsschaltungen gesetzt werden können, d.h., ihr Zustand verändert werden kann. Die Signaländerungen
in den Verriegelungsschaltungen laufen unmittelbar durch die kombinatorischen Netzwerke 10 und 11. Ein anderes
Taktsignal C2 nimmt darstellungsgemäß im Zeitabschnitt 20 den hohen Pegel an. Das Erregungssignal S muß stabil sein.
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Aic
Dadurch ändern einige Verriegelungsschaltungen im Verriegelungsschaltungssatz
14 während dieses Zeitabschnittes 20 ihren Zustand. Die Signaländerungen im Verriegelungsschaltungssatz
14 laufen direkt durch die kombinatorischen Netzwerke 10 und 11 weiter.
Aus Fig. 2 ist zu ersehen, daß sich die Taktimpulse C1, C2,
C3 und C4 nicht überlappen, d.h. zeitlich gegeneinander versetzt sind. Die zeitliche Versetzung muß nur lang genug sein,
damit Impulse von den ihren Zustand ändernden Verriegelungsschaltungen voll weiterlaufen können.
Wenn an den Schreibsteuereingängen (C1C, Fig. 3) der Schreibbetrieb
festgelegt wird, dann werden die Daten an den Dateneingängen D1 der Matrixanordnung in Fig. 3 an der Adresse gespeichert,
die an Al angegeben wird. Wenn an den Eingängen der Lesebetrieb festgelegt wird, dann werden die an der angegebenen
Adresse A1 gespeicherten Daten an die Ausgänge der Matrixanordnung B1 (01, Fig. 3) gegeben. Dadurch ändern einige
Matrixausgänge B1 in Fig. 1 ihren Zustand. Die Signaländerungen in B1 laufen direkt durch das kombinatorische Netzwerk
11 weiter.
I i
Wenn das Taktsignal C3 von einem niedrigen in einen hohen Pegel!
umgeschaltet wird und die Durchschaltsignale H1 und HK anliegen, speichern die Verriegelungsschaltungen im Satz 16, 18
die Erregungssignale vom Netzwerk 11. Wenn das Durchschaltsignal H2 anliegt und das Taktsignal C4 in den hohen Pegel
umschaltet, speichert beim Vorliegen des Durchschaltsignales H2 der Verriegelungsschaltungssatz 17 in ähnlicher Weise die
Erregungssignale vom Netzwerk 11. Für den richtigen Betrieb
des logischen Systems müssen die Taktsignale lang genug sein, um die Verriegelungsschaltungen zu setzen und zwischen den
Signalen aufeinanderfolgender Taktzüge muß genügend Zeit sein, damit alle durch die Verriegelungsschaltungen und die Matrix- |
FI ?76 UT8
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- W-4%
anordnungen erzeugten Signaländerungen das Durchlaufen der kombinatorischen
Netzwerke beenden können. Durch diesen Betrieb ist die Forderung nach einem stufenempfindlichen System erfüllt
und eine minimale Abhängigkeit von Wechselstromparametern gesichert.
Information fließt in die stufenempfindliche Logik mit eingebetteter
Matrixanordnung durch den Satz von Eingangssignalen S. Diese bilden die Erregung für die Verriegelungsschaltungssätze
13, 14 und 15. Wenn die externen Eingangssignale asynchron sind dadurch, daß sie jederzeit ihren Zustand ändern, dann
gehört zu ihrer Behandlung innerhalb des logischen Systems die Synchronisierung unter Verwendung von Verriegelungsschaltungen.
Eine Verriegelungsschaltung empfängt als Eingangssignale eines der Erregungssignale sowie ein bestimmtes Taktsignal. Da die
Verriegelungsschaltung nicht umschalten kann, wenn das Taktsignal einen niedrigen Pegel aufweist, ändert sich der Zustand
am Ausgang der Verriegelungsschaltung nur während der Periode, in der der Taktimpuls einen hohen Pegel aufweist. Auch wenn
sich der Satz von Eingangssignalen S während der Zeit ändert, in der das Taktsignal einen hohen Pegel aufweist, tritt kein
Betriebsproblem auf. Wenn die Verriegelungsschaltung beinahe umschaltet, kann ein Ausgangs-Störimpuls der Verriegelungsschaltung
während der Zeit erscheinen, in der der Taktimpuls den hohen Pegel aufweist. Wenn die Steuerleitungen C1C zur
Matrixanordnung vorbereitet sind, kann das zu einem unbeabsichtigten Schreibbetrieb führen. Eine Schreibsteuerleitung
kann nämlich durch ein Taktsignal zwischen C2 und C3, Zeit 20 und 21, gespeist werden, so daß in die Matrixanordnung
nur eingeschrieben wird, wenn die Schreibsteuerleitung einen hohen Pegel aufweist. Diese Betriebsart schafft somit keine
Probleme, da die Ausgänge der Verriegelungsschaltungssätze 13,
14, 15 nur während einer anderen Taktzeit verwendet werden.
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Aus den Fign. 1 und 2 geht hervor, daß der richtige Betrieb des logischen Systems nur von der Ausbreitungszeit oder
Verzögerung in den kombinatorischen Netzwerken 10 und 11
und der Matrixanordnung 12 abhängt. Die Verzögerungszeit muß kleiner sein als die entsprechende Zeit zwischen aufeinanderfolgenden
Taktsignalen. Wenn sie das nicht ist, können die Verriegelungsschaltungssätze nicht gesetzt werden. Diese entscheidende
Taktierungsabhängigkeit wird eliminiert durch die Möglichkeit des Systemwiederanlaufs bei einer langsameren
Taktgeschwindigkeit. Die Verwendung längerer Taktimpulse mit größeren Zeitspannen zwischen den Taktsignalen resultiert
im erfolgreichen Wiederanlauf, auch wenn der Fehler durch ein Taktierungsproblem im System verursacht wurde. Diese Lösung
liefert eine höhere Zuverlässigkeit des Systems und reduziert die hochintegrierten Halbleiterchips mit logischen Schaltungen
und Matrixanordnungen.
Ein logisches System mit einseitiger Verzögerungsabhängigkeit hat den Vorteil, daß das System in einer Funktionseinheit mit
langsamerer Geschwindigkeit modelliert werden kann, die sich während der Entwicklungsstufen der zu seiner Implementierung
gewählten Technologie leicht ändern läßt. Der übergang zur Großintegration erfolgt dann mit der einzigen Auflage der
Höchstgeschwindigkeit, bei der ein Chip noch erfolgreich arbeitet. Wenn die Signalverzögerungen in der hochintegrierten
Version anders waren als angenommen, würde das nur bedeuten, daß das System mit niedrigerer Geschwindigkeit laufen muß.
So ist die Möglichkeit geboten, Grenzwerte für die Taktierung auszuprüfen. Im ungünstigsten Fall wird z.B. ein Signalmuster
im System umlaufen gelassen, während die Taktgeschwindigkeit langsam erhöht wird. Wenn einmal die Ausfalltaktgeschwindigkeit
ermittelt ist, wird entweder der Taktgeber auf zuverlässigen Betrieb eingestellt oder die ausfallende Einheit durch eine
Einheit ersetzt, die mit der Taktgeschwindigkeit noch zuverlässig arbeitet.
pi ,76 0,8 7098S2/0B1?
£728676
Als eines der wichtigsten Ziele der Erfindung wurde die Schaffung eines allgemein logischen, für Wechselstromeigenschaften
unempfindlichen Systems betont, wie es in Fig. 1 gezeigt ist. Dazu sind die Speicherelemente in einem solchen
System stufenempfindliche Einheiten, die keine Zeitbedingungen kennen. Schaltelemente, die diese Forderung erfüllen, werden
allgemein als getaktete Gleichstrom-Verriegelungsschaltungen klassifiziert. Eine solche Verriegelungsschaltung hat zwei
Arten von Eingängen: Dateneingänge und Takteingänge. Wenn sich die Takteingänge allein in demselben, z.B. dem Binärwert NULL entsprechenden Zustand befinden, können die Datenein->
gangssignale den Zustand der Verriegelungsschaltung nicht ändern. Wenn jedoch ein Takteingangssignal für eine Verriegelungsschaltung
den dem anderen Binärwert EINS entsprechenden Pegel aufweist, steuern die Dateneingangssignale der Verriegelungsschaltung
deren Zustand.
Eine derartige Verriegelungsschaltung ist die Polaritätshalte-Verriegelungsschaltung,
die nach Fig. 4 durch NAND-Glieder :
implementiert ist. Der Speicherteil der Verriegelung ist in Fig. 4 in der unterbrochenen Linie 27 enthalten. In Fig. 4 ',
sind die NAND-Glieder 28, 30 und der Inverter 29 verwendet worden. Die äquivalente Transistorschaltung in Fig. 5 enthält
die Transistorinverter 31, 32, 33, die in kombinatorischen Schaltungen angeordnet sind, wobei die Transistoren 31 und
in den Rückkopplungskreisen für die Speicherelemente liegen.
Der Polaritätshalte-Verriegelungsschaltungen werden die
Eingangssignale E und C zugeführt. Sie besitzt einen Ausgang L. Wenn im Betrieb die Taktsignale C den dem Binärwert
HULL entsprechenden Pegel aufweisen, kann die Verriegelungs-Bchaltung
ihren Zustand nicht ändern. Wenn sie jedoch den dem ι ßinärwert EINS entsprechenden Pegel aufweist, wird der interne
Zustand der Verriegelungsschaltung auf den Wert des Erregungseingangssignals
E gesetzt.
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-JA -
Unter normalen Betriebsbedingungen weist das Taktsignal C in Fig. 6 den dem Binärwert NULL entsprechenden Pegel auf (zu
Beschreibungszwecken der untere der beiden Spannungspegel) während der Zeit auf, in der sich das Erregungssignal E ändern
kann. Behält das Signal C den dem Binärwert NULL entsprechenden Pegel bei, so wird dadurch verhindert, daß
durch eine Änderung des Erregungssignales E direkt der interne Zustand der Verriegelungsschaltung verändert wird.
Das Taktsignal (EINS-Pegel) tritt normalerweise auf, nach dem
sich das Erregungssignal entweder auf dem dem Binärwert NULL oder dem Binärwert EINS entsprechenden Pegel stabilisiert
hat. Die Verriegelungsschaltung wird auf den neuen Wert des Erregungssignales zu der Zeit gesetzt, zu der das Taktsignal
auftritt. Die korrekte Umschaltung der Verriegelungsschaltung ist daher nicht von der Anstiegszeit oder Abfallzeit des Taktsignales,
sondern nur davon abhängig, daß das Taktsignal während einer Periode auf den dem Binärwert EINS entsprechenden Pegel
aufweist, der gleich oder größer ist als die Zeit, die das Signal zum Weiterlaufen durch die Verriegelungsschaltung und
zum Stabilisieren braucht.
Das Signalmuster der Fig. 6 zeigt, daß unkontrollierte Änderungen des Erregungssignals die Verriegelungsschaltung nicht
zu einem falschen Umschalten veranlassen. Unkontrollierte Änderungen des Erregungssignales E bei 34 schalten also die
Verriegelungsschaltung nicht um, wie es durch die Kurve L des Ausgangssignales gezeigt ist. Außerdem führen unzureichend
beformte Taktsignale wie bei 35 ebenfalls nicht zu einer fälschlichen Umschaltung der Verriegelungsschaltung. Diese
Eigenschaften der Polaritätshalte-Verriegelungsschaltung werden in der allgemeinen Struktur für das logische System
der Fig. 1 verwendet.
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In Fig. 7 ist eine weitere Verriegelungsschaltung gezeigt, die als sequentielle Schaltung in einem stufenempfindlichen
logischen System verwendbar ist. Diese Verriegelungsschaltung ist eine getaktete RS-Verriegelungsschaltung, in der der
Verriegelungsteil in der geschlossenen durchbrochenen Linie enthalten ist. Diese Verriegelungsschaltung empfängt ihre
Eingangssignale von den NAND-Gliedern 37, 38, die entsprechend mit dem Setz- und Rücksetzeingang sowie einem Eingang für
das Taktsignal C verbunden sind. Das den Verriegelungszustand anzeigende Ausgangssignal wird bei L geliefert.
Ein weiteres Merkami des allgemeinen logischen Systems dieser Erfindung besteht darin, daß die Möglichkeit zur dynamischen
überwachung des Zustandes aller internen Speicherelemente
gegeben ist. Dadurch braucht man keine besonderen Prüfpunkte und alle Phasen der manuellen Fehlersuche werden vereinfacht
und es ergibt sich eine Standardschnittstelle für Bedienungskonsole und Wartungskonsole. Zu diesem Zweck ist für jede
Verriegelungsschaltung eines Satzes des Systems eine Schaltung vorgesehen, mit deren Hilfe die Verriegelungsschaltung als
eine Stelle eines Schieberegisters mit von den Systemtakten unabhängigen Schiebesteuerungen und einer von der Systemeingabe/Ausgabe
unabhängigen Eingabe/Ausgabemöglichkeit betrieben werden kann. Diese Schaltungskonfiguration wird als Schieberegister-Verriegelungsschaltung
bezeichnet. Alle diese Schieberegister-Verriegelungsschaltungen in einem gegebenen
Chip, Modul usw. sind zu einem oder mehreren Schieberegistern miteinander verbunden. An den von außen zugänglichen Anschlüssen
des Schaltungsaufbaus steht für jedes Schieberegister ein Eingang, ein Ausgang und eine Schiebesteuerung zur Verfügung.
Durch Umwandlung der getakteten Gleichetrom-Verriegelungsschaltungen
in Schieberegister-Verriegelungsschaltungen ergeben sich die Vorteile der Schieberegister-Verriegelungsschaltungen.
Dazu gehört die generelle Möglichkeit, den System-
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takt zu stoppen und den Zustand aller Verriegelungsschaltungen auszuschieben und/oder neue oder Originalwerte in jede
Verriegelungsschaltung einzuschieben. Diese Möglichkeit nennt man Prüfeingabe-/Ausgabe. Bei der Prüfung der Funktionseinheit wird die Gleichstromprüfung sequentieller Schaltungen
mit eingebetteten Matrixanordnungen reduziert auf die Prüfung kombinatorischer Schaltungen mit eingebetteten Matrixanordnungen,
die wesentlich einfacher und wirksamer ist. Für eine Wechselstromprüfung liefern die wohldefinierten Wechselstromabhängigkeiten,
die Eingabe/Ausgabemöglichkeit die Basis für wirksame und wirtschaftliche Wechselstromprüfungen. Die
Eingabe/Ausgabe bietet die notwendige Möglichkeit der genauen Diagnose sowohl von Konstruktionsfehlern als auch von Bauelementfehlern
für den Systemanlauf, die endgültigen Systemprüfungen und für die Fehlersuche im Feld. Die Schieberegister
können außerdem für Systemfunktionen wie Konsolenschnittstelle, Systemrücksetzen und Prüfpunktfestlegung benutzt werden.
Die kombinatorischen Netzwerke 10, 11 in Fig. 1 benötigen
bestimmte Eigenschaften. Das kombinatorische Netzwerk 10 muß
die Eigenschaft haben, daß für einige Wertkombinationen in den Verriegelungsschaltungssätzen 13, 14, 15 jeder bestimmte
Matrixeingang durch einen bestimmten Verriegelungsschaltungssatz so gesteuert wird, daß zwischen den Verriegelungsschaltungssätzen
13, 14 und 15 einerseits und den Matrixeingängen E1 andererseits eine 1:1-Entsprechung besteht. Fig. 8 enthält
eine erweiterte Darstellung des kombinatorischen Netzwerkes 10 mit den Eingängen L1, L2 ... LI seiner Verriegelungsschaltungssätze
und seinen Matrixeingängen E11, E12 ...
E1K. Für jedes Eli, i = 1, 2 ... K, muß gleichzeitig ein eindeutiges Lj, j = 1, 2 ... I existieren, so daß Eli gleich ist
Lj oder dem logischen Komplement. Mit dieser Eigenschaft kann die Matrix mit irgendwelchen Daten an jeder Adresse geladen
werden, ohne daß ein rückwärtiges Ausrichten notwendig ist.
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Dadurch wird viel Zeit bei der Mustergenerierung gespart. Das kombinatorische Netzwerk 11 in Fig. 1 muß die Eigenschaft
haben, daß alle Ausgangsmuster B1 der Matrixanordnung eindeutig an den Verriegelungsschaltungssätzen 16, 17, 18 erkennbar sind.
Alle Eingangssignale für das logische kombinatorische Netzwerk 10 in Fig. 1 brauchen nicht von den Verriegelungsschaltungssätzen
auszugehen. Sie können von den von außen zugänglichen Eingängen zum Chip oder Modul usw. ausgehen. Außerdem können die beiden
kombinatorischen Netzwerke 10 und 11 Ausgänge sowohl des Chips als auch des Moduls usw. speisen.
Die Schaltungen auf einem Halbleiterchip waren bis jetzt einfach genug, um umfangreiche Wechselstrom- und Gleichstromprüfungen
zur Sicherung der richtigen Arbeitsweise von Bauelement und Schaltung durchführen zu können. Eine nachfolgende Prüfung
auf der Stufe des Moduls oder der Karte konzentrierte sich dann auf den richtigen Gleichstrombetrieb. Mit einer solchen
Prüfung wurde festgestellt, ob die Schaltungen richtig miteinander verbunden waren und während der Fabrikation nicht beein- .
trächtigt wurden. Bei der Großintegration, wo ein Chip
3OO bis 500 oder noch mehr Schaltungen und eine eingebettete Matrixanordnung enthält, ist eine detaillierte Wechselstrom- '
prüfung jedoch nicht mehr länger möglich und die Gleichstrom- . prüfung ist extrem schwierig wegen der Komplexität der zu
prüfenden Funktionseinheit und einer beträchtlichen Änderung ■
im Verhältnis der Anschlußstifte zu den Schaltungen auf dem \
Chip.
Prüfmuster für logische kombinatorische Netzwerke lassen sich bekanntlich wesentlich einfacher erzeugen als Prüfmuster für
komplizierte sequentielle logische Schaltungen. Das Problem der automatischen Erzeugung von Prüfmustern für in kombinatorische
Netzwerke eingebettete Matrixanordnungen ist dabei stärker betroffen als die reine kombinatorische Logik, jedoch
Jjmner noch wesentlich einfacher als die Erzeugung von Prüf-
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272867a
cm
mustern für komplizierte sequentielle logische Schaltungen mit eingebetteten Matrixanordnungen. Die sequentiellen logischen
Schaltungen wie die internen Speicherkreise des allgemeinen logischen Systems müssen daher in eine Form gebracht
werden, die es gestattet, die Prüfmuster genauso zu erzeugen wie für logische kombinatorische Netzwerke mit einer eingebetteten
Matrixanordnung. Das erreicht man durch eine zusätzliche Schaltung für die wahlweise Umwandlung der getakteten
Gleichstrom-Verriegelungsschaltungen in Schieberegister-Verriegelungsschaltungen
.
In Fig. 9 ist ein logisches System mit zwei Taktsignalen, zwei Sätzen von Register-Verriegelungsschaltungen, zwei kombinatorische
Netzwerken und einer eingebetteten Matrixanordnung gezeigt. Die kombinatorischen Netzwerke 41, 42 sind von dem
im Zusammenhang mit Fig. 1 beschriebenen Typ. Sie sprechen auf Signale von den Verriegelungsschaltungssätzen und der
Matrixanordnung an. Das kombinatorische Netzwerk 41 hat die Eigenschaft, daß von den Matrixeingängen E2 zu den Netzwerkeingängen
E1 eine 1:1-Entsprechung aufgestellt werden kann. Außerdem sind alle Ausgangsmuster E4 der Matrixanordnung
eindeutig abfühlbar bei E5. Die Verriegelungsschaltungssätze 44, 45 unterscheiden sich von denen in Fig. 1 dadurch,
daß sie als Schieberegister-Verriegelungsschaltungen geschaltet sind. Eine solche Schieberegister-Verriegelungsschaltung
ist symbolisch in Fig. 10 mit zwei verschiedenen Verrlegelungs-
oder Speicherschaltungen 46, 47 dargestellt. Die Verriegelungsschaltung 46 ist dieselbe wie die in den Verriegelungsschaljtungssätzen
der Fig. 1 verwendete Verriegelungsschaltung, wie sie auch in einer Form in Fig. 4 gezeigt ist. Jede derartige
erriegelungsschaltung hat einen Erregungseingang E, einen Taktsignaleingang D und einen Ausgang L.
Die Verriegelungsschaltung 47 ist die zusätzliche Schaltung, mit der die Struktur zu einer Schieberegister-Verriegelungsschaltung
gemacht wird. Sie enthält den separaten Eingang U,
*ϊ57δό1β 709882/0812
Π28676
einen separaten Ausgang V und die Schiebesteuereingänge A und B. Die Ausführung der Schieberegister-Verriegelungsschaltung
durch NAND-Glieder ist in Fig. 11 gezeigt.
Innerhalb der entsprechend beschrifteten unterbrochenen Linie befindet sich die Verriegelungsschaltung 46, die eine direkte
logische Anpassung der Verriegelungsschaltung nach Fig. 4 ist. Das zusätzliche Eingangssignal U wird durch ein NAND-Glied
geliefert aus den Schaltgliedern 48, 49 und dem NICHT-Glied 50. Diese Schaltung empfängt auch das erste Schiebesteuersignal
A. Von diesen Schaltgliedern 48, 49 geht die Verbindung zur Verriegelungsschaltung 46. Mit den Ausgängen
der Verriegelungsschaltung 46 ist eine zweite Verrlegelungsschaltung,
die die Verriegelungsschaltung 51 einschließt, verbunden. Die NAND-Glieder 52, 53 empfangen die Ausgangssignale
von der Verriegelungsschaltung 46 sowie das zweite Schiebesteuersignal B.
Die Schaltung 51 wirkt als Kurzzeitspeicher während des Einschiebens
und Ausschiebens der Anordnung. Mit diesen Schieberegister-Verriegelungsschaltungen
wird jedes gewünschte Muster aus Einsen und Nullen in die Polaritätshalte-Verriegelungsschaltungen
46 geschoben. Diese Muster dienen als Eingangssignale für die kombinatorischen Netzwerke, die wiederum
Eingangssignale für die Matrixanordnung bilden. Die Ausgangssignale der Schaltung 46 werden dann in die Verriegelungsschaltung 51 getaktet und unter Steuerung des Schiebesignales
B zur Untersuchung und Messung ausgeschoben.
In Fig. 9 enthält jeder Verriegelungsschaltungssatz 44, 45 mehrere Schaltungen der in Fig. 11 gezeigten Art. Die Schaltungen
sind sequentiell miteinander so verbunden, daß der ; ü-Eingang nach Fig. 11 die Eingangsleitung 54 in Fig. 9 ist.
Der A-Schiebetakt oder das Schiebesteuersignal wird an die j erste (z.B. 46) aller Verriegelungsschaltungen der Sätze
angelegt. In ähnlicher Weise wird der B-Schiebetakt oder das
Fl976018 709882/0812
Schiebesteuersignal an die zweite Schaltung einer jeden Verriegelungsschaltung
der Sätze solcher Schaltungen angelegt. Das V-Ausgangssignal der Schaltung nach Fig. 11 wird dann
als Eingangssignal der nächsten Verriegelungsschaltung des
Satzes zugeführt usw. bis zur letzten derartigen Verriegelungsschaltung eines ganzen Registers. Dieses Ausgangssignal der
letzten Verriegelungsschaltung erscheint auf der Ausgangsleitung 55 in der in Fig. 9 gezeigten Anordnung. Die Schieberegister-Verriegelungsschaltungen
sind daher über einen Eingang, einen Ausgang und zwei Anschlüsse für Schiebetakte zu
einem Schieberegister verbunden.
Um zu zeigen, wie die kombinatorischen Netzwerke 41 und 42 und die Matrixanordnung 43 der Fig. 9 geprüft werden können,
wird berücksichtigt, daß ein bestimmtes Prüfmuster aus binären Einsen und Nullen in den Verriegelungsschaltungssatζ 44 und
durch ihn hindurch geschoben wird unter der Steuerung der Schiebetakte A und B. Der Schiebesteuerleitung 46 wird kein
Eingangssignal zugeführt, so daß in die Matrixanordnung nicht versehentlich während der Schiebeoperation eingeschrieben
wird. Nach einer angemessenen Zeit für den Durchlauf der Signale bis zum Eingang E2 der Matrixanordnung oder bis zur
Leitung E5 wird das Taktsignal C2 lange genug eingeschaltet, um den Satz von Erregungssignalen E5 zu speichern, der durch
die Impulse G2 in den Verriegelungsschaltungssatz 45 geleitet wird. Das Muster im Verriegelungsschaltungssatz 45 wird über
die Leitung 55 ausgeschoben und mit dem als Antwort erwarteten Muster verglichen. Zur Prüfung der Schieberegisterkonfiguration
wird eine kurze Folge aus binären Einsen und Nullen durchgeschoben. Man kann auch beide Schiebetakte A und B
gleichzeitig anlegen. Die Ausgangsantwort des Schieberegisters auf der Leitung 55 wird beobachtet, während die Schieberegisterausgangssignale
auf der Leitung 54 zwischen binär eins und null Vor und zurückgeschoben wird. Dieses Prüfverfahren läßt sich
ungeachtet der Packungsstufe wie Chip, Modul, Karte, Schaltplatte und System anwenden.
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~n~
In Fig. 12 sind drei Verriegelungsschaltungen 57, 58, 59 der symbolisch in Fig. 10 gezeigten Art auf dem Chip 64 dargestellt.
Jede dieser Verriegelungsschaltungen ist mit den Schiebesteuersignalen A und B auf den Leitungen 60 bzw. 61
gekoppelt. Das Eingangsmuster wird an die erste der drei Verriegelungsschaltungen 57 über die Verbindung 62 geleitet
und die Verriegelungsschaltungen sequentiell wie oben in Verbindung mit den Fign. 9 und 11 beschrieben miteinander gekoppelt,
so daß man das Ausgangssignal auf der Leitung 63 erhält. In Fig. 13 sind vier Chips 65, 66, 67, 68 des in Fig.
12 gezeigten Typs miteinander gekoppelt. Die Schiebesteuersignale A und B kommen über die Verbindungen 69 und 70
zu jedem der Chips 65 bis 68. Das Eingangsmuster wird über die Leitung 71 an das Chip 65 der hintereinander geschalteten
Chips 65 bis 68 angelegt und das Ausgangsmuster vom Chip 68 über die Leitung 72 abgenommen.
Obwohl die erfindungsgemäße Anordnung der Funktionseinheit ohne weiteres die Gleichstromprüfung der logischen Schaltung
und der eingebetteten Matrixanordnungen ermöglicht, hat sie auch den Vorteil, das System von den Schalt- oder Wechselstromeigenschaften
einzelner logischer Schaltungen und Matrixanordnungen im System unabhängig zu machen. Eine Kombination aus
logischen Schaltungen und Matrixanordnungen läßt sich auf zweierlei Art einer Wechselstromprüfung unterziehen. Zuerst
werden die in dem in Fig. 9 dargestellten Verriegelungsschaltungssatz
44 benötigten Werte wenn möglich durch die logischen Schaltungen, die die Signale S und G1 liefern,
zurückverfolgt und wenn dann der Systemtakt C1 den hohen !Pegel annimmt, schalten einige Verriegelungsschaltungen des
Satzes 44 um. Diese Änderungen laufen durch die kombinatorischen Netzwerke 41 und 42 weiter und führen zum Einschreiben
fader Lesen der Matrixanordnung und lösen schließlich einige Minderungen wie E5 aus. Wenn die Verzögerung für den ungünstigsten
Fall bekannt ist, kann der Takt C2 auf einen
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hohen Pegel gebracht und dann auf einen niedrigen Pegel zurückgeführt werden. Das Muster im Verriegelungsschaltungssatz
45 wird über die Leitung 55 ausgeschoben und mit dem als Antwort erwarteten Muster verglichen.
Das zweite Verfahren zur Wechselstromprüfung besteht in der Verwendung des Schieberegisters als Quelle für die Wechselstromprüfung.
Das Prüfmuster wird mit den A- und B-Schiebesteuersignalen eingeschoben. Der letzte Schiebetakt, mit
dem eine Änderung bei E1 ausgelöst wird, leitet jedoch die Weiterleitung der Signale durch die kombinatorischen Neztwerke
41, 42 und die Matrixanordnung 43 ein. Wenn der Verzögerungsnennwert für den ungünstigsten Fall bekannt ist,
kann der Takt C2 auf einen hohen Pegel gebracht und dann auf einen niedrigen zurückgeführt werden. Das Muster im Verriegelungssatz
45 wird dann über die Leitung 55 ausgeschoben und mit dem als Antwort erwarteten Muster verglichen.
Die einzige Forderung für die Wechselstromprüfung dieser Anordnung besteht darin, daß die Verzögerungen im ungünstigsten
Falle durch die Netzwerke 41, 42 und 43 kleiner sein müssen als bekannte Werte und die einzelnen Anstiegs-, Abfallzeiten
joder Mindestverzögerungen nicht mehr beeinflußt oder geprüft
!zu werden brauchen. Nur die größte Verzögerung muß beeinflußt
und gemessen werden. Nur die Gesamtverzögerung der Pfade vom
Eingang zum Ausgang der Netzwerke 41, 42 und 43 müssen gemessen
werden.
Solche Verzögerungen lassen sich z.B. prüfen durch automatische
Auswertung aller Verzögerungspfade und Erzeugung von Prüfungen EUr diese Pfade. Für eine vollständige Prüfung muß daher ein
3ehr wirksamer Algorithmus entwickelt werden. j
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J»
Eine andere Lösungsmöglichkeit besteht darin, daß man einige Grundprüfmuster durch das System so laufen läßt, daß sie die
Verzögerung für den ungünstigsten Pfad prüfen. Das Anfangsbitmuster
setzt man am besten in das Schieberegister ein und untersucht dann das Endbitmuster nach einer Anzahl kompletter
Zyklen.
Beide Lösungen gestatten die Grenzwertprüfung. Da die Verzögerungszeit
durch die Zeit zwischen Taktsignalen gemessen wird, läuft der Takt während der Prüfung schneller als normal, um
eine Sicherheitsgrenze für den echten Systembetrieb zu haben.
Der wichtigste Vorteil der Konfiguration aus Schieberegister-Verriegelungsschaltungen
ist die Möglichkeit zur dynamischen Messung logischer Netzwerke, die direkt nicht zugänglich sind.
Der Wartungstechniker kann den Zustand einer jeden Verriegelungsschaltung im System nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
auf der Basis eines Zyklus überwachen, inder er alle in den Verriegelungsschaltungen stehenden Daten in ein Bildanzeigegerät
schiebt. Der Zustand des Systems wird nicht gestört, wenn die Daten in derselben Reihenfolge in die Verriegelungsschaltungen
zurückgeschoben werden, wie sie ausgeschoben wurden. Der Zustand aller Verriegelungsschaltungen wird nach jedem
Taktsignal untersucht.
Durch die Möglichkeit, den Zustand aller Verriegelungsschaltungen um die Matrixanordnung herum zu untersuchen, sind besondere
Prüfpunkte nicht mehr erforderlich, so daß bei der Entwicklung
der logischen Struktur diese so dicht wie möglich gepackt werden kann, ohne daß man zusätzliche Eingangs-/Ausgangsleitungen
für den Wartungstechniker vorsehen muß. Mit der Möglichkeit, jede Verriegelungsschaltung in einem System um
eine Matrixanordnung herum nach jedem Taktsignal zu untersuchen, kann jeder auftretende Fehler auf ein bestimmtes logisches
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kombinatorisches Netzwerk und/oder eine Matrixanordnung eingeengt werden, deren Eingänge und Ausgänge beeinflußt werden
können.
Mit höchstens vier zusätzlichen Eingängen/Ausgängen, die zur Durchführung dieses allgemeinen logischen Systems erforderlich
sind, läßt sich eine Standardschnittstelle mit einer größeren Beweglichkeit an den Bedienungs- und Wartungskonsolen sowie
für den Konstrukteur schaffen. Die Konsolen können ausgetauscht werden ohne in irgend einer Weise das logische System zu verändern.
Diese Steuermöglichkeiten ermöglichen auch die Durchführung von Fehlersuchprüfungen unter Steuerung eines anderen
Prozessors oder Prüfgerätes oder gestatten auch Funktionen wie Rückstellung, Initialisierung und Fehleraufzeichnung mit Hilfe
der Schieberegister.
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Claims (7)
- PATENTANSPRÜCHEStufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte Schaltung ausgeführtes System aus logischen Schaltungen mit darin eingebetteter Matrixanordnung, gekennzeichnet durcha) Mittel zum Erzeugen eines Satzes (S, Fig. 1) von Eingangssignalen für das System,b) Taktgeberschaltungen zum Erzeugen einer Reihe von Taktimpulszügen (C1, C2, C3, C4; Fig. 2) mit vorgegebener Dauer zwischen dem Auftreten der Taktimpulse in aufeinanderfolgenden Impulszügen,c) erste Sätze (13, 14, 15; Fig. 1) von Verriegelungsschaltungen, die zumindest bestimmte aus dem Satz der System-Eingangssignale und ausgewählte Taktimpulazüge empfangen,d) zweite Sätze (16, 17, 18) von Verriegelungsschaltungen, die die Systern-Ausgabevorrichtung umfassen und zumindest bestimmte andere ausgewählte Taktimpulszüge (C3, C4) empfangen unde) kombinatorische logische Schaltungen (10, 11) die s zumindest eine Matrixanordnung (12) einschließen und die ersten Sätze der Verriegelungsschaltungen mit den zweiten verbinden.
- 2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die kombinatorischen logischen Schaltungen aus mehreren Stufen aufgebaut sind und einschließlich der Matrixanordnung eine Gesamt-Verzögerungszeit besitzen, die kleiner ist als der vorgegebene zeitliche Abstand ι zwischen dem Auftreten von Taktimpulsen aufeinander- j folgender Taktimpulszüge.
- 3. System nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß jede Verriegelungsschaltung (Fig. 4)Fi 976 018 709882/0812ORIGINAL INSPECTEDzumindest eine bistabile zustandsgesteuerte Verriegelungsschaltung (27) enthält und einen Erregungs-Eingang (E), einen Takt-Eingang (C) und einen Ausgang (L) aufweistund daß eine Reihe von unabhängigen Taktgebern vorgesehen 1st für die Lieferung mehrerer, nicht überlappender Taktimpulszüge, deren Taktimpulse eine ausreichende Dauer aufweisen, damit die bistabile zustandsgesteuerte Verriegelungsschaltung, die einem bestimmten Impulszug zugeordnet ist, ihren Zustand ändern kann, wenn das durch das Erregungs-Eingangssignal verlangt wird.
- 4. System nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß jede Verriegelungsschaltung zumindest eine Polaritätshalte-Verriegelungsschaltung (Fig. 4) enthält.
- 5. System nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß jede Verriegelungsschaltung zumindest eine RS-Verriegelungsschaltung (36; Fig. 7) enthält.
- 6. System nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß jede Verriegelungsschaltung (Fig. 10) erste (47) und zweite Speicherglieder (46) enthält und der Ausgang (V) des ersten mit einem Eingang (E) des zweiten verbunden ist,daß Mittel (54, 55) vorgesehen sind, um dem ersten Speicherglied ein Eingangssignal unabhängig von dem ersten Satz der System-Eingangssignale zuzuführen, und ein Ausgangssignal (L) vom zweiten Speicherglied abzunehmen, und daß eine Verschiebe-Taktleitung (A) an das zweite und eine Verschiebe-Taktleitung (B) an das erste Speicherglied einer Verriegelungsschaltung angeschlossen sind, durch die jede Verriegelungsschaltung zu einer Schieberegister-Verriegelungsschaltungwird· 709882/0812FI 976 018
- 7. System nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß alle Schieberegister-Verriegelungsschaltungen zumindest zu einem Schieberegister verbindbar sind,daß das erste Speicherglied (47) der ersten Verriegelungsstufe (44; Fig. 9) das Eingangssignal empfängt und das zweite Speicherglied der letzten Verriegelungsstufe (45) das Ausgangssignal abgibt, und das zweite Speicherglied jeder Verriegelungsstufe mit dem ersten der nachfolgenden verbunden ist.7Ö§882/Ö812FI 976 018
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/701,054 US4074851A (en) | 1976-06-30 | 1976-06-30 | Method of level sensitive testing a functional logic system with embedded array |
| US05/701,041 US4063080A (en) | 1976-06-30 | 1976-06-30 | Method of propagation delay testing a level sensitive array logic system |
| US05/701,052 US4051352A (en) | 1976-06-30 | 1976-06-30 | Level sensitive embedded array logic system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2728676A1 true DE2728676A1 (de) | 1978-01-12 |
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|---|---|---|---|
| DE2728318A Expired DE2728318C2 (de) | 1976-06-30 | 1977-06-23 | Verfahren zur Prüfung der Signalverzögerung einer einseitig verzögerungsabhängigen, stufenempfindlichen Einheit |
| DE2728676A Expired DE2728676C2 (de) | 1976-06-30 | 1977-06-25 | Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte Schaltung ausgeführtes System aus logischen Schaltungen mit darin eingebetteter Matrixanordnung |
| DE2729053A Expired DE2729053C2 (de) | 1976-06-30 | 1977-06-28 | Prüfverfahren für eine monolithisch integrierte stufenempfindliche, einseitig verzögerungsabhängige logische Einheit |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2728318A Expired DE2728318C2 (de) | 1976-06-30 | 1977-06-23 | Verfahren zur Prüfung der Signalverzögerung einer einseitig verzögerungsabhängigen, stufenempfindlichen Einheit |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2729053A Expired DE2729053C2 (de) | 1976-06-30 | 1977-06-28 | Prüfverfahren für eine monolithisch integrierte stufenempfindliche, einseitig verzögerungsabhängige logische Einheit |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US4051352A (de) |
| JP (3) | JPS533141A (de) |
| CA (3) | CA1077567A (de) |
| DE (3) | DE2728318C2 (de) |
| FR (1) | FR2356997A1 (de) |
| GB (3) | GB1581861A (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2944149A1 (de) * | 1979-11-02 | 1981-05-14 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Integrierte schaltungsanordnung in mos-technik |
Families Citing this family (91)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54121036A (en) * | 1978-03-13 | 1979-09-19 | Cho Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Method of testing function of logic circuit |
| US4247817A (en) * | 1978-05-15 | 1981-01-27 | Teradyne, Inc. | Transmitting electrical signals with a transmission time independent of distance between transmitter and receiver |
| FR2432175A1 (fr) * | 1978-07-27 | 1980-02-22 | Cii Honeywell Bull | Procede pour tester un systeme logique et systeme logique pour la mise en oeuvre de ce procede |
| DE2842750A1 (de) * | 1978-09-30 | 1980-04-10 | Ibm Deutschland | Verfahren und anordnung zur pruefung von durch monolithisch integrierten halbleiterschaltungen dargestellten sequentiellen schaltungen |
| GB2030807B (en) * | 1978-10-02 | 1982-11-10 | Ibm | Latch circuit |
| US4225957A (en) * | 1978-10-16 | 1980-09-30 | International Business Machines Corporation | Testing macros embedded in LSI chips |
| US4244048A (en) * | 1978-12-29 | 1981-01-06 | International Business Machines Corporation | Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits |
| US4293919A (en) * | 1979-08-13 | 1981-10-06 | International Business Machines Corporation | Level sensitive scan design (LSSD) system |
| US4320509A (en) * | 1979-10-19 | 1982-03-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | LSI Circuit logic structure including data compression circuitry |
| JPS5674759A (en) * | 1979-11-26 | 1981-06-20 | Hitachi Ltd | Diagnostic system |
| DE3029883A1 (de) * | 1980-08-07 | 1982-03-11 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke |
| DE3030299A1 (de) | 1980-08-09 | 1982-04-08 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke |
| JPS5737085U (de) * | 1980-08-13 | 1982-02-26 | ||
| JPS5789154A (en) * | 1980-11-25 | 1982-06-03 | Nec Corp | Logical integrated circuit |
| US4392105A (en) * | 1980-12-17 | 1983-07-05 | International Business Machines Corp. | Test circuit for delay measurements on a LSI chip |
| US4441075A (en) * | 1981-07-02 | 1984-04-03 | International Business Machines Corporation | Circuit arrangement which permits the testing of each individual chip and interchip connection in a high density packaging structure having a plurality of interconnected chips, without any physical disconnection |
| US4410987B1 (en) * | 1981-07-13 | 1995-02-28 | Texas Instruments Inc | Preload test circuit for programmable logic arrays |
| US4517661A (en) * | 1981-07-16 | 1985-05-14 | International Business Machines Corporation | Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit |
| US4403287A (en) * | 1981-08-24 | 1983-09-06 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Microprocessor architecture having internal access means |
| US4503386A (en) * | 1982-04-20 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Chip partitioning aid (CPA)-A structure for test pattern generation for large logic networks |
| US4477902A (en) * | 1982-06-18 | 1984-10-16 | Ibm Corporation | Testing method for assuring AC performance of high performance random logic designs using low speed tester |
| US4489272A (en) * | 1982-07-06 | 1984-12-18 | International Business Machines Corporation | Test circuit for turn-on and turn-off delay measurements |
| US4493077A (en) * | 1982-09-09 | 1985-01-08 | At&T Laboratories | Scan testable integrated circuit |
| US4661922A (en) * | 1982-12-08 | 1987-04-28 | American Telephone And Telegraph Company | Programmed logic array with two-level control timing |
| US4495629A (en) * | 1983-01-25 | 1985-01-22 | Storage Technology Partners | CMOS scannable latch |
| US4791602A (en) * | 1983-04-14 | 1988-12-13 | Control Data Corporation | Soft programmable logic array |
| US4564943A (en) * | 1983-07-05 | 1986-01-14 | International Business Machines | System path stressing |
| US4580137A (en) * | 1983-08-29 | 1986-04-01 | International Business Machines Corporation | LSSD-testable D-type edge-trigger-operable latch with overriding set/reset asynchronous control |
| US4554664A (en) * | 1983-10-06 | 1985-11-19 | Sperry Corporation | Static memory cell with dynamic scan test latch |
| JPH07119790B2 (ja) * | 1983-11-10 | 1995-12-20 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積装置 |
| CA1245244A (en) * | 1984-04-30 | 1988-11-22 | Richard S. Antoszewski | Robotic wrist |
| JPS60254626A (ja) * | 1984-05-30 | 1985-12-16 | Sharp Corp | ウエハテスト方法 |
| JPH0772744B2 (ja) * | 1984-09-04 | 1995-08-02 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
| GB8432533D0 (en) * | 1984-12-21 | 1985-02-06 | Plessey Co Plc | Integrated circuits |
| US5023775A (en) * | 1985-02-14 | 1991-06-11 | Intel Corporation | Software programmable logic array utilizing "and" and "or" gates |
| US4684830A (en) * | 1985-03-22 | 1987-08-04 | Monolithic Memories, Inc. | Output circuit for a programmable logic array |
| JPS61246844A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-11-04 | Nec Corp | バイボ−ラセミカスタムlsi |
| JPH0243680Y2 (de) * | 1985-08-07 | 1990-11-20 | ||
| US5032783A (en) * | 1985-10-23 | 1991-07-16 | Texas Instruments Incorporated | Test circuit and scan tested logic device with isolated data lines during testing |
| US4710933A (en) * | 1985-10-23 | 1987-12-01 | Texas Instruments Incorporated | Parallel/serial scan system for testing logic circuits |
| JPH0746120B2 (ja) * | 1986-03-10 | 1995-05-17 | 株式会社東芝 | テスト容易化回路及びテスト方法 |
| US4726023A (en) * | 1986-05-14 | 1988-02-16 | International Business Machines Corporation | Determination of testability of combined logic end memory by ignoring memory |
| KR900002770B1 (ko) * | 1986-08-04 | 1990-04-30 | 미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤 | 반도체 집적회로장치 |
| KR910002236B1 (ko) * | 1986-08-04 | 1991-04-08 | 미쓰비시 뎅기 가부시끼가이샤 | 반도체집적회로장치 |
| JP2556017B2 (ja) * | 1987-01-17 | 1996-11-20 | 日本電気株式会社 | 論理集積回路 |
| US4764033A (en) * | 1987-02-11 | 1988-08-16 | Cincinnati Milacron, Inc. | Oil film damper |
| US4876501A (en) * | 1987-04-13 | 1989-10-24 | Prime Computer, Inc. | Method and apparatus for high accuracy measurment of VLSI components |
| US4780874A (en) * | 1987-04-20 | 1988-10-25 | Tandem Computers Incorporated | Diagnostic apparatus for a data processing system |
| JPS649380A (en) * | 1987-06-15 | 1989-01-12 | Ibm | Delay test for integrated circuit |
| JP2521774B2 (ja) * | 1987-10-02 | 1996-08-07 | 株式会社日立製作所 | メモリ内蔵型論理lsi及びそのlsiの試験方法 |
| JPH01127049A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-19 | Mitsubishi Atom Power Ind Inc | 混合イオン交換樹脂の分離方法 |
| JPH01163840A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-28 | Nec Corp | 遅延時間チエック方式 |
| US5039939A (en) * | 1988-12-29 | 1991-08-13 | International Business Machines Corporation | Calculating AC chip performance using the LSSD scan path |
| US5018144A (en) * | 1989-04-28 | 1991-05-21 | International Business Machines Corporation | Logic performance verification and transition fault detection |
| US5023875A (en) * | 1989-05-26 | 1991-06-11 | Hughes Aircraft Company | Interlaced scan fault detection system |
| JP2619957B2 (ja) * | 1989-07-29 | 1997-06-11 | 富士通株式会社 | ディレイテスト用クロック制御回路 |
| US5274568A (en) * | 1990-12-05 | 1993-12-28 | Ncr Corporation | Method of estimating logic cell delay time |
| US5291495A (en) * | 1991-07-12 | 1994-03-01 | Ncr Corporation | Method for designing a scan path for a logic circuit and testing of the same |
| DE69219255T2 (de) * | 1991-08-30 | 1997-08-07 | Canon Kk | Handgreifmechanismus für einen Roboter |
| US5331643A (en) * | 1991-09-04 | 1994-07-19 | International Business Machines Corporation | Self-testing logic with embedded arrays |
| US5428713A (en) * | 1991-11-25 | 1995-06-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Compound module type manipulator apparatus |
| JPH05199080A (ja) * | 1992-01-17 | 1993-08-06 | Sony Corp | 相補型論理回路 |
| US5559715A (en) * | 1992-03-11 | 1996-09-24 | Vlsi Technology, Inc. | Timing model and characterization system for logic simulation of integrated circuits which takes into account process, temperature and power supply variations |
| US5365528A (en) * | 1992-04-03 | 1994-11-15 | At&T Bell Laboratories | Method for testing delay faults in non-scan sequential circuits |
| EP0596557B1 (de) * | 1992-11-02 | 1999-03-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optimale Entwurfmethode für synchrone digitale Schaltkreise durch Hertakten und selektives Setzen von Kipp-schaltungen |
| US5450418A (en) * | 1992-12-23 | 1995-09-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Pseudo master slave capture mechanism for scan elements |
| US5696770A (en) * | 1993-09-30 | 1997-12-09 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for testing circuitry with memory and with forcing circuitry |
| US5583787A (en) * | 1994-03-08 | 1996-12-10 | Motorola Inc. | Method and data processing system for determining electrical circuit path delays |
| US5815512A (en) * | 1994-05-26 | 1998-09-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory testing device |
| US5499249A (en) * | 1994-05-31 | 1996-03-12 | At&T Corp. | Method and apparatus for test generation and fault simulation for sequential circuits with embedded random access memories (RAMs) |
| US5606567A (en) * | 1994-10-21 | 1997-02-25 | Lucent Technologies Inc. | Delay testing of high-performance digital components by a slow-speed tester |
| US5732246A (en) * | 1995-06-07 | 1998-03-24 | International Business Machines Corporation | Programmable array interconnect latch |
| US5684808A (en) * | 1995-09-19 | 1997-11-04 | Unisys Corporation | System and method for satisfying mutually exclusive gating requirements in automatic test pattern generation systems |
| US5651013A (en) * | 1995-11-14 | 1997-07-22 | International Business Machines Corporation | Programmable circuits for test and operation of programmable gate arrays |
| US6282506B1 (en) * | 1996-02-20 | 2001-08-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of designing semiconductor integrated circuit |
| US5787092A (en) * | 1997-05-27 | 1998-07-28 | Hewlett-Packard Co. | Test chip circuit for on-chip timing characterization |
| US6898101B1 (en) | 1997-12-16 | 2005-05-24 | Cypress Semiconductor Corp. | Microcontroller with programmable logic on a single chip |
| US7133820B2 (en) * | 2000-03-15 | 2006-11-07 | Arc International | Method and apparatus for debugging programs in a distributed environment |
| US6912601B1 (en) | 2000-06-28 | 2005-06-28 | Cypress Semiconductor Corp. | Method of programming PLDs using a wireless link |
| US6640324B1 (en) * | 2000-08-07 | 2003-10-28 | Agere Systems Inc. | Boundary scan chain routing |
| DE10144904C2 (de) * | 2001-09-12 | 2003-08-21 | Infineon Technologies Ag | SIMD-Prozessor mit Unterprogramm-Steuereinheit |
| US8090564B1 (en) | 2003-11-03 | 2012-01-03 | Synopsys, Inc. | Automatic generation of transaction level bus simulation instructions from bus protocol |
| US7451384B2 (en) * | 2004-07-15 | 2008-11-11 | Honeywell International Inc. | Error recovery in asynchronous combinational logic circuits |
| US7742905B2 (en) * | 2005-02-25 | 2010-06-22 | Coware, Inc. | Method and system for dynamically adjusting speed versus accuracy of computer platform simulation |
| US7716031B2 (en) * | 2005-02-25 | 2010-05-11 | Coware, Inc. | Interface converter for unified view of multiple computer system simulations |
| US7899661B2 (en) * | 2006-02-16 | 2011-03-01 | Synopsys, Inc. | Run-time switching for simulation with dynamic run-time accuracy adjustment |
| US8543367B1 (en) | 2006-02-16 | 2013-09-24 | Synopsys, Inc. | Simulation with dynamic run-time accuracy adjustment |
| US7884672B1 (en) | 2006-11-01 | 2011-02-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Operational amplifier and method for amplifying a signal with shared compensation components |
| US7779316B2 (en) * | 2007-12-05 | 2010-08-17 | Oracle America, Inc. | Method of testing memory array at operational speed using scan |
| US7925937B2 (en) * | 2008-01-07 | 2011-04-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Apparatus for testing embedded memory read paths |
| US10175942B2 (en) * | 2014-02-19 | 2019-01-08 | Ranganath Gururaj KULKARNI | Elements of processor software |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3593317A (en) * | 1969-12-30 | 1971-07-13 | Ibm | Partitioning logic operations in a generalized matrix system |
| US3761695A (en) * | 1972-10-16 | 1973-09-25 | Ibm | Method of level sensitive testing a functional logic system |
| US3783254A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-01 | Ibm | Level sensitive logic system |
| US3784907A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-08 | Ibm | Method of propagation delay testing a functional logic system |
| US3863232A (en) * | 1973-12-26 | 1975-01-28 | Ibm | Associative array |
| US3936812A (en) * | 1974-12-30 | 1976-02-03 | Ibm Corporation | Segmented parallel rail paths for input/output signals |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3633016A (en) * | 1970-03-04 | 1972-01-04 | Digital General Corp | Apparatus and method for testing electrical systems having a plurality of terminals |
| US3659088A (en) * | 1970-08-06 | 1972-04-25 | Cogar Corp | Method for indicating memory chip failure modes |
| US3714403A (en) * | 1971-09-01 | 1973-01-30 | Gte Automatic Electric Lab Inc | Computer implemented method of detecting and isolating electrical faults in core memory systems |
| US3787817A (en) * | 1972-06-21 | 1974-01-22 | Us Navy | Memory and logic module |
| US3916306A (en) * | 1973-09-06 | 1975-10-28 | Ibm | Method and apparatus for testing high circuit density devices |
| US3983538A (en) * | 1974-05-01 | 1976-09-28 | International Business Machines Corporation | Universal LSI array logic modules with integral storage array and variable autonomous sequencing |
| US3961254A (en) * | 1974-12-20 | 1976-06-01 | International Business Machines Corporation | Testing embedded arrays |
| US3961251A (en) * | 1974-12-20 | 1976-06-01 | International Business Machines Corporation | Testing embedded arrays |
-
1976
- 1976-06-30 US US05/701,052 patent/US4051352A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-06-30 US US05/701,041 patent/US4063080A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-06-30 US US05/701,054 patent/US4074851A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-05-26 FR FR7716797A patent/FR2356997A1/fr active Granted
- 1977-05-27 JP JP6129777A patent/JPS533141A/ja active Pending
- 1977-05-31 JP JP6291077A patent/JPS533145A/ja active Granted
- 1977-06-03 JP JP6496077A patent/JPS533754A/ja active Granted
- 1977-06-13 CA CA280,450A patent/CA1077567A/en not_active Expired
- 1977-06-13 CA CA280,452A patent/CA1089031A/en not_active Expired
- 1977-06-13 CA CA280,451A patent/CA1075770A/en not_active Expired
- 1977-06-20 GB GB25722/77A patent/GB1581861A/en not_active Expired
- 1977-06-20 GB GB25726/77A patent/GB1581865A/en not_active Expired
- 1977-06-20 GB GB25724/77A patent/GB1581863A/en not_active Expired
- 1977-06-23 DE DE2728318A patent/DE2728318C2/de not_active Expired
- 1977-06-25 DE DE2728676A patent/DE2728676C2/de not_active Expired
- 1977-06-28 DE DE2729053A patent/DE2729053C2/de not_active Expired
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3593317A (en) * | 1969-12-30 | 1971-07-13 | Ibm | Partitioning logic operations in a generalized matrix system |
| US3761695A (en) * | 1972-10-16 | 1973-09-25 | Ibm | Method of level sensitive testing a functional logic system |
| US3783254A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-01 | Ibm | Level sensitive logic system |
| US3784907A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-08 | Ibm | Method of propagation delay testing a functional logic system |
| US3863232A (en) * | 1973-12-26 | 1975-01-28 | Ibm | Associative array |
| US3936812A (en) * | 1974-12-30 | 1976-02-03 | Ibm Corporation | Segmented parallel rail paths for input/output signals |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2944149A1 (de) * | 1979-11-02 | 1981-05-14 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Integrierte schaltungsanordnung in mos-technik |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2728318C2 (de) | 1987-04-23 |
| DE2728676C2 (de) | 1982-04-29 |
| GB1581861A (en) | 1980-12-31 |
| US4074851A (en) | 1978-02-21 |
| JPS573107B2 (de) | 1982-01-20 |
| GB1581863A (en) | 1980-12-31 |
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| JPS5539227B2 (de) | 1980-10-09 |
| US4051352A (en) | 1977-09-27 |
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