DE19909300A1 - Monolithisches Keramisches Elektronikbauteil - Google Patents
Monolithisches Keramisches ElektronikbauteilInfo
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Description
Diese Erfindung betrifft ein monolithisches keramisches
Elektronikbauteil, wie z. B. einen monolithischen Keramik
kondensator und insbesondere eine verbesserte innere
Elektrode desselben.
Bisher wurden dielektrische Keramikmaterialien wie z. B.
Bariumtitanat, Strontiumtitanat, Calziumtitanat und der
gleichen, die eine perowskitartige Struktur haben, wegen
ihrer hohen Dielektrizitätskonstanten als Kondensatorwerk
stoffe verwendet. Mit der seit einiger Zeit bestehenden
Tendenz zur Verkleinerung elektronischer Bauteile sind Kon
densatoren als passive Bauteile mit hoher elektrostatischer
Kapazität und kleinen Abmessungen gewünscht.
Für monolithische Keramikkondensatoren, die in ihren di
elektrischen Schichten dielektrische Keramikmaterialien
enthalten, ist es erforderlich, die dielektrischen Keramik
materialien bei hohen Temperaturen, z. B. bei 1300°C in der
Atmosphäre zu brennen. Deshalb wurden für die Innen
elektroden Edelmetalle wie z. B. Palladium, Platin und der
gleichen und deren Legierungen verwendet. Allerdings sind
diese Elektrodenwerkstoffe sehr kostspielig und die Werk
stoff kosten haben einen großen Anteil an den Produktkosten.
Deshalb ließen sich die Produktkosten nur schwer ver
ringern.
Um die oben erwähnten Schwierigkeiten zu überwinden, hat
man versucht, unedle Metalle für die inneren Elektroden
eines monolithischen Keramikkondensators einzusetzen. Als
Ergebnis wurden eine Vielzahl dielektrischer Keramikstoffe
mit Antireduktionseigenschaften derart entwickelt, daß sie
in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre gebrannt
werden können, was die Oxidation ihrer Elektroden ver
hindert. Solche unedlen Metalle für die Innenelektroden
enthalten Kobalt, Nickel, Kupfer und dergleichen. Unter dem
Gesichtspunkt der Herstellungskosten und der Antioxida
tionseigenschaften ist hauptsächlich Nickel verwendet
worden.
Gegenwärtig besteht immer noch Bedarf an noch kleineren
monolithischen Keramikkondensatoren mit höherer Kapazität.
Aus diesem Grund hat man dielektrische Keramikmaterialien
mit höherer Dielektrizitätskonstanten erforscht, deren aus
dielektrischen Keramikmaterialien bestehenden Keramik
schichten noch dünner sein können. Außerdem hat man ver
dünnte Innenelektroden entwickelt.
Im allgemeinen werden die Innenelektroden monolithischer
Keramikkondensatoren durch einen Druckvorgang, wie z. B.
durch Siebdruck aus Metallpulver enthaltenden Pasten ge
bildet. Z. B. dienen in den meisten Fällen für die in
solchen Pasten enthaltenen Metallpulver Nickelpulver, die
durch ein Verfahren aus der flüssigen Phase oder durch
chemische Dampfabscheidung gewonnen werden und die eine
mittlere Teilchengröße über 0,25 µm haben. Jedoch ist es
wegen dieser verhältnismäßig großen Teilchen schwierig,
dünne Innenelektroden zu bilden.
Wenn Nickelpulver mit einer mittleren Teilchengröße von
ungefähr 0,25 µm verwendet werden, mußte die Dicke der
Innenelektrode wenigstens 0,8 µm sein, um die dielek
trischen Eigenschaften der dielektrischen Keramikmateri
alien zu verwirklichen.
Um die elektrostatische Kapazität der monolithischen
Keramikkondensatoren zu erhöhen, ist es am wirksamsten,
eine dünne Keramikschicht zwischen die Innenelektroden zu
legen. Wenn jedoch die Keramikschicht eine Dicke von 3 µm
oder weniger hat und gleichzeitig die Innenelektroden
jeweils eine Dicke von 0,8 µm haben, tritt oftmals wegen
dem unterschiedlichen Schrumpfverhalten der Materialien der
Innenelektroden und der Keramikschichten ein Aufblättern
oder eine Delamination auf. Dies ist einer der großen
Fehler monolithischer Keramikkondensatoren.
Falls das Nickelpulver und/oder das Pulver des keramischen
Rohmaterials eine große mittlere Teilchengröße haben,
bilden sich große Ausbuchtungen und Einsprünge an den Be
rührungsflächen zwischen den Innenelektroden und den
Keramikschichten. Beim Brennen der Pulver entsteht deshalb
die Schwierigkeit, daß die Bedeckung (effektive Elektroden
flächen) der Innenelektroden verringert ist (ein Anwachsen
der Häufigkeit von Elektrodenbrüchen). Dies bedingt, daß
sich die Zuverlässigkeit des monolithischen Keramik
kondensators verringert.
Dementsprechend ist es Aufgabe dieser Erfindung, ein mono
lithisches keramisches Elektronikbauteil, wie z. B. einen
monolithischen Keramikkondensator anzugeben, der keine
Strukturfehler hat, dessen Innenelektroden und Keramik
schichten verdünnt werden können und der sehr gute
Leistungsmerkmale, wie z. B. eine hohe Kapazität, geringe
Abmessungen und eine hohe Zuverlässigkeit hat.
Diese Erfindung richtet sich auf ein monolithisches
keramisches Elektronikbauteil, ausgestattet mit einem Lami
nat, das mehrere laminierte Keramiklagen hat, die jeweils
aus gesinterten Keramikrohmaterialpulverlagen bestehen und
mit einer Innenelektrode, die aus einem gesinterten Metall
pulver besteht, und die entlang einer vorbestimmten Berüh
rungsfläche zwischen den Keramiklagen liegt.
Um die oben beschriebenen technischen Probleme zu lösen,
ist das monolithische keramische Elektronikbauteil dadurch
gekennzeichnet, daß die Keramiklagen jeweils eine Dicke von
bis zu 3 µm haben und die Keramikkörner dieser Keramiklagen
nach der Sinterung eine mittlere Teilchengröße von bis zu
0,5 µm aufweisen und die Innenelektrode eine Dicke von
0,2 µm-0,7 µm hat.
Bevorzugt enthält das erfindungsgemäße monolithische
keramische Elektronikbauteil außerdem eine Außenelektrode,
die an jeweils entgegengesetzten Stirnflächen des Laminats
gebildet ist, die Keramiklagen bestehen aus dielektrischem
Keramikmaterial, und die mehreren Innenelektroden sind so
geformt, daß eine Kante jeder Innenelektrode an einer der
Stirnflächen des Laminats freiliegt und mit der Außen
elektrode elektrisch in Kontakt steht, wodurch ein mono
lithischer Keramikkondensator gebildet ist.
Bevorzugt dient zur Bildung der Innenelektrode eine
Metallpulver enthaltende Paste, wobei das Metallpulver in
der Paste eine Dicke von 10 nm bis 200 nm hat. In diesem
Fall wird als Metallpulver ein unedles Metall, bevorzugt
ein aus Nickel oder einer Nickellegierung bestehendes
Metallpulver verwendet.
Bevorzugt wird die das Metallpulver enthaltende Paste zur
Bildung der Innenelektroden aufgedruckt.
Bevorzugt hat das Pulver des keramischen Rohmaterials vor
der Sinterung zur Bildung der Keramiklagen eine mittlere
Teilchengröße von bis zu 500 nm.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht eines eine Ausführungsform
dieser Erfindung darstellenden monolithischen Keramikkon
densators 1;
Fig. 2 ist ein fotografisches Bild, das einen Querschnitt
durch einen einem konkreteren Ausführungsbeispiel dieser
Erfindung entsprechenden monolithischen Keramikkondensator
zeigt und das mit einem Rasterelektronenmikroskop aufge
nommen ist;
und
Fig. 3 ist ein fotografisches Bild, das einen mit einem
Rasterelektronenmikroskop aufgenommenen Querschnitt eines
herkömmlichen monolithischen Keramikkondensators zeigt.
Nachstehend wird ein einer Ausführungsform dieser Erfindung
entsprechender monolithischer Keramikkondensator 1 be
schrieben, dessen Struktur in Fig. 1 dargestellt ist.
Bezogen auf Fig. 1 enthält ein monolithischer Keramik
kondensator 1 ein Laminat 3, das aus Keramiklagen 2 be
steht, die aus mehreren laminierten dielektrischen Keramik
materialien zusammengesetzt sind, und eine erste und zweite
Außenelektrode 6 und 7, die jeweils an einer ersten und
zweiten Stirnfläche 4 und 5 des Laminats 3 angebracht sind.
Der monolithische Keramikkondensator 1 bildet ein chip
artiges Elektronikbauteil, das die Form eines Quaders hat.
Erste Innenelektroden 8 und zweite Innenelektroden 9 sind
abwechselnd in das Laminat 3 eingebettet. Jede erste
Innenelektrode 8 ist jeweils längs einer vorgegebenen
Berührungsfläche der Keramiklagen 2 gebildet, und eine
Seitenkante jeder ersten Innenelektrode 8 liegt an der
ersten Stirnfläche 4 frei und ist dort elektrisch mit der
Außenelektrode 6 verbunden. Jede zweite Innenelektrode 9
ist entlang einer vorbestimmten Berührungsfläche der
Keramiklagen 2 gebildet, und eine Seitenkante der zweiten
Innenelektrode 9 liegt an der zweiten Stirnfläche 5 frei
und ist dort mit der Außenelektrode 7 elektrisch kontak
tiert.
Zur Herstellung des monolithischen Keramikkondensators 1
werden ein keramisches Rohmaterialpulver, das Bariumtitanat
oder dergleichen als Hauptrohstoff enthält und außerdem
Zusätze zur Modifikation der Kennwerte als Anfangsrohstoffe
vorbereitet. Als keramisches Rohmaterialpulver wird
bevorzugt Pulver mit einer mittleren Teilchengröße von bis
zu 500 nm, eingestellt durch Regelung der Calzinier
temperatur verwendet. Der Grund dafür wird später
beschrieben.
Vorbestimmte Mengen des keramischen Rohmaterialpulvers und
der Zusatzstoffe werden gewogen und durch ein Naß
mischungsverfahren vermischt und man erhält daraus ein
Mischpulver. Insbesondere wird jeder Zusatzstoff in Form
seines Oxidpulvers oder Karbonatpulvers zugesetzt und durch
ein Naßmischverfahren mit dem keramischen Rohmaterial
pulver vermischt. In diesem Fall kann jeder Zusatzstoff in
ein Alkoxid oder eine Verbindung umgesetzt werden, wie z. B.
Acetylacetonat oder Metallseife, so daß er in orga
nischem Lösungsmittel lösbar ist. Eine die jeweiligen
Zusatzstoffe enthaltende Lösung kann auf die Oberflächen
des keramischen Rohmaterialpulvers aufgetragen und dann
wärmebehandelt werden.
Daraufhin wird organischer Binder und ein Lösungsmittel dem
oben beschriebenen Mischpulver zugesetzt und ein Keramik
brei bereitet. Mit dem Keramikbrei wird ein keramisches
Rohblatt zur Bildung jeder Keramiklage 2 geformt. Die Dicke
jedes keramischen Rohblatts ist so festgelegt, daß dessen
Dicke nach dem Brennen bis zu 3 µm beträgt.
Dann wird auf das keramische Rohblatt ein elektrisch
leitfähiger pastöser Film, z. B. durch Siebdruck oder
dergleichen aufgedruckt, um jeweils die ersten und zweiten
Innenelektroden 8 und 9 zu bilden. Die Dicke des
leitfähigen pastösen Films ist so festgelegt, daß die Dicke
der Innenelektrode nach dem Brennen im Bereich von 0,2 bis
0,7 µm liegt.
Die zur Bildung des oben erwähnten pastösen Films dienende
Paste enthält Metallpulver, einen Binder und ein Lösungs
mittel. Bevorzugt hat das Metallpulver eine mittlere Teil
chengröße von 10 bis 200 nm. Der Grund dafür wird später
beschrieben. Z. B. wird eine Nickelpulver, einen Ethyl
zellulosebinder und ein Lösungsmittel wie z. B. Terpineol
oder dergleichen enthaltende Paste verwendet. Die Paste
wird sorgfältig mittels einer drei Walzen enthaltenden
Mühle oder dergleichen bereitet, um das Nickelpulver, das
eine mittlere Teilchengröße von 10 bis 200 nm hat, zu
verteilen oder um eine Aufflockung des Pulvers zu vermeiden
und um das Pulver ausreichend zu dispergieren.
Das oben beschriebene Metallpulver, insbesondere das
Nickelpulver kann günstig durch chemische Dampfabscheidung,
Wasserstoffbogenentladung oder Verdampfen im Gas bereitet
werden.
Bei der chemischen Dampfabscheidung wird Nickelchlorid
erhitzt und verdampft und der dadurch erzeugte Nickel
chloriddampf, getragen von einem Edelgas, in Berührung mit
Wasserstoff bei einer vorbestimmten Temperatur zur Reaktion
gebracht, wodurch Nickelpulver entsteht. Das Nickelpulver
wird durch Abkühlen des das Nickelpulver enthaltenden
Reaktionsgases angesammelt.
Die Wasserstoffbogenentladungsmethode enthält eine Bogen
entladung in einer wasserstoffgashaltigen Umgebung, um
Nickelfeinpulver zu schmelzen und zu verdampfen. Aus der
Gasphase wird ein Nickelfeinpulver geformt. Insbesondere
wird ein Wasserstoff oder eine nicht oxidierende Wasser
stoffgasverbindung enthaltendes Gas oder ein Mischgas des
obigen Gases mit einem Edelgas wie z. B. Ar, He, Xe oder
dergleichen in ein Reaktionsgefäß geleitet, wo ein einen
Lichtbogen, Plasma oder dergleichen verwendender Heizer
liegt, um eine Mischgasatmosphäre zu erzeugen. Durch die
mit dem Lichtbogen oder durch das Plasma erzeugte Hitze,
läßt sich das Wasserstoff oder die nicht oxidierende
wasserstoffhaltige Verbindung in der Atmosphäre leicht
aktivieren (anregen, aufspalten, dissoziieren, ionisieren
und dergleichen). Die sich einstellenden aktiven Spezies
(angeregte Wasserstoffmoleküle, Wasserstoffmolekülionen,
Wasserstoffatome, Wasserstoffatomionen, Ionen freier Radi
kale und dergleichen) reagieren positiv mit dem Nickel, das
durch die vom Lichtbogen oder vom Plasma erzeugte Hitze
geschmolzen wird und lösen sich in dem geschmolzenen
Nickel. Wenn der Wasserstoff in der Nickelschmelze in einer
die Übersättigungsmenge übersteigenden Menge gelöst ist
(mehr als die Sättigungsmenge im Gleichgewicht), wird
Wasserstoff aus der Nickelschmelze frei. In diesem Fall
wird örtlich ein Zustand hoher Temperatur erzeugt, der die
Verdampfung von Nickel fördert, d. h., daß Nickeldampf frei
wird. Der Nickeldampf wird kondensiert und abgekühlt und so
das Nickelfeinpulver erzeugt.
Das Verfahren zur Verdampfung im Gas umfaßt das Erhitzen
und Schmelzen eines Nickelblocks mit einer Heizvorrichtung,
z. B. mit einem Hochfrequenz-Induktionsheizgerät oder
dergleichen in einem Edelgas (Ar, He, Xe oder dergleichen)
enthaltenden Gefäß. Das Erhitzen wird fortgesetzt, bis
Nickeldampf erzeugt wird. Der erzeugte Nickeldampf wird mit
dem in der Atmosphäre enthaltenen Edelgas in Kontakt
gebracht, um ihn abzukühlen und zu verfestigen, so daß auf
diese Weise feines Nickelpulver erzeugt wird.
Mehrere Rohblätter mit den darauf in der oben beschriebenen
Weise gebildeten Filmen aus leitfähiger Paste werden lami
niert, gepreßt und, wenn nötig, geschnitten. Auf diese
Weise wird das Laminat 3 in seinem Rohzustand gebildet,
indem mehrere keramische Rohblätter mit den darauf längs
vorbestimmten Berührungsflächen zwischen den keramischen
Rohblättern gebildeten Filmen aus leitfähiger Paste, die
die Innenelektroden 8 und 9 bilden, laminiert werden, und
die die Innenelektroden 8 und 9 bildenden Filme aus
leitfähiger Paste liegen mit ihren Seitenkanten jeweils an
den Stirnflächen 4 und 5 frei.
Dann wird das Laminat 3 in einer reduzierenden Atmosphäre
gebrannt. In diesem Fall beträgt die nach der Sinterung
gemessene mittlere Korngröße der die Keramiklagen 2
bildenden Keramikkörner bis zu 0,5 µm. Der Grund dafür wird
später beschrieben.
Danach werden die erste und zweite Außenelektrode 6 und 7
jeweils an der ersten und zweiten Stirnseite 4 und 5 des
Laminats 3 derart gebildet, daß die Außenelektroden
elektrisch mit den Seitenkanten der ersten und zweiten
Innenelektroden 8 und 9 im gebrannten Laminat 3 verbunden
sind.
Die Stoffzusammensetzung für die Außenelektroden 6 und 7
ist nicht besonders beschränkt. Insbesondere sind dieselben
Stoffe wie für die Innenelektroden 8 und 9 verwendbar.
Zusätzlich können beispielsweise die Außenelektroden 6 und
7 aus gesinterten Lagen aus einer Vielfalt von elektrisch
leitfähigen Metallpulvern gebildet werden, wie z. B. Ag,
Pd, Ag-Pd, Cu, Cu-Legierungen oder dergleichen, oder auch
aus gesinterten Lagen der oben erwähnten leitfähigen
Metallpulver, die mit Glasfritten der Art B2O3-Li2O-SiO2-
BaO, B2O3-SiO2-BaO, Li2O-SiO2-BaO, B2O3-SiO3-ZnO oder der
gleichen bestehen. Die Materialzusammensetzung für die
Außenelektroden 6 und 7 wird sorgfältig ausgewählt,
abhängig von der Verwendung, den Einsatzorten und der
gleichen des monolithischen Keramikkondensators 1.
Die Außenelektroden 6 und 7 können durch Auftragen einer
ein Metallpulver enthaltenden Paste als Stoff der Außen
elektrode 6 und 7 auf das Laminat 3 nach dem Brennen und
anschließendes Brennen, wie oben beschrieben, gebildet
werden. Die Außenelektroden 6 und 7 können durch Aufbringen
der Paste auf das Laminat 3 vor dem Brennen und dann durch
gleichzeitiges Brennen der Paste und des Laminats 3
gebildet werden.
Danach werden die Außenelektroden 6 und 7, wenn nötig,
jeweils mit Plattierlagen 10 und 11 beschichtet, die z. B.
aus Ni, Cu oder einer Ni-Cu-Legierung bestehen. Außerdem
können auf die Plattierlagen 10 und 11 zweite Plattierlagen
12 und 13 aus Lot, Zinn oder dergleichen aufgebracht
werden.
Die Erfindung definiert die Dickenbereiche der
Innenelektroden 8 und 9, die mittlere Teilchengröße der
Keramikkörner nach der Sinterung, die die Keramiklagen 2
bilden und die Dicke der Keramiklagen 2. Außerdem definiert
die Erfindung die bevorzugten Bereiche der mittleren
Teilchengröße des in der die Innenelektroden 8 und 9
bildenden Paste enthaltenen Nickelpulvers und die mittlere
Teilchengröße des zur Bildung der Keramikschicht in der
oben beschriebenen Weise verwendeten Keramikrohmaterial
pulvers vor dem Sintern. In dieser Beschreibung bedeutet
"mittlere Teilchengröße" eine 50% der Teilchen entspre
chende Größe (D50) der Teilchengrößenverteilung auf nume
rischer Basis, ermittelt durch eine Bildauswertung einer
elektronenmikroskopischen Fotografie des Pulvers oder der
Körnchen.
Die Erfindung definiert die Dicke der Innenelektroden 8 und
9 bis zu 0,7 µm. Einer der Gründe dafür ist, daß, wenn die
Keramiklagen 2 dünn sind, z. B. eine Dicke von bis zu 3 µm
haben, dickere Innenelektroden 8 und 9, die Nickel ent
halten und die Keramiklagen 2 nicht vor einer durch
unterschiedliche Schrumpfung zwischen den Lagen verur
sachten Delamination bewahrt werden könnten.
Anders gesagt kann, wenn die Innenelektroden 8 und 9 eine
Dicke von bis zu 0,7 µm haben, die Dicke der Keramiklagen 2
ohne Schwierigkeiten auf 3 µm oder weniger festgelegt
werden. Dies trägt zur großen Kapazität des monolithischen
Keramikkondensators bei.
Zusätzlich ist die Dicke der Innenelektroden 8 und 9 zu
wenigstens 0,2 µm definiert. Dies liegt daran, daß das in
den Innenelektroden 8 und 9 enthaltene Nickel, wenn die
Dicke der Innenelektroden weniger als 0,2 µm beträgt, mit
der in den Keramiklagen 2 enthaltenen Keramik während der
Calzinierung reagiert und dadurch eine Oxidation des
Nickels und wegen dieser Oxidation eine Delamination verur
sacht werden. In diesem Fall können die Innenelektroden
ihre Funktionen nicht erfüllen.
Weiterhin definiert die Erfindung die mittlere Teilchen
größe der die Keramiklagen 2 bildenden Keramikkörnchen nach
dem Sintern zu maximal 0,5 µm. Der Grund dafür ist
folgender. Wenn die mittlere Teilchengröße der Keramik
körnchen bis zu 0,5 µm reicht, wird die Größe der
Einsprünge und Ausbuchtungen an der Berührungsfläche
zwischen den Innenelektroden 8 und 9 und der Keramiklage 2
verringert. Dieser Effekt verhindert Elektrodenbruch der
Innenelektroden 8 und 9, erhöht die Bedeckung (effektive
Elektrodenfläche) der Elektrode und unterbindet eine mit
den Einsprüngen und Ausbuchtungen an den Berührungsflächen
einhergehende Konzentration des elektrischen Feldes. Dieser
Umstand trägt zu einer Verlängerung der durch einen Hoch
temperaturbelastungstest gemessenen Lebensdauer bei. Auf
diese Weise läßt sich die Zuverlässigkeit des mono
lithischen Keramikkondensators steigern.
Die mittlere Teilchengröße des in der zur Bildung der
Innenelektroden 8 und 9 dienenden Paste enthaltenen Nickel
pulvers ist bevorzugt im Bereich von 10 bis 200 nm defi
niert. Der Grund dafür ist folgender.
Wenn die mittlere Teilchengröße des Nickelpulvers unter
10 nm liegt, ist die Einstellung einer für einen Druck
vorgang wie z. B. Siebdruck ausreichenden Viskosität der
Paste erschwert. Auch wenn die Paste, die eine so hohe
Viskosität hat, durch Siebdruck aufgedruckt wird, lassen
sich die Filme aus leitfähiger Paste, die die Innen
elektroden 8 und 9 bilden, nur schwer mit hoher Glätte
ausbilden. Durch Verkratzen und Kraterbildung entstehen
Fehler, die die Bedeckung reduzieren und Elektrodenbruch
verursachen können.
Andererseits ist es, wenn die mittlere Teilchengröße des
Nickelpulvers 200 nm überschreitet, schwierig die die
Innenelektroden 8 und 9 bildenden Filme aus leitfähiger
Paste mit ausreichend hoher Glätte zu bilden, so daß die
Bedeckung verringert ist. Außerdem entstehen Ausbuchtungen
und Einsprünge an den Berührungsflächen zwischen den
Innenelektroden 8 und 9 mit der Keramiklage 2.
Die mittlere Teilchengröße des die Keramiklagen bildenden
Keramikrohmaterialpulvers vor dem Sintern ist bevorzugt bis
maximal 500 nm definiert. Dies liegt daran, daß der
Keramikfüllfaktor im Rohblatt erhöht und die Glätte des
Rohblatts erhöht sind, wenn die mittlere Teilchengröße des
Keramikrohmaterialpulvers bis zu 500 nm beträgt, so daß die
in einer Dicke von bis zu 3 µm gebildete Keramiklage ohne
Schwierigkeiten hergestellt werden kann.
Durch die Auswahl nicht nur des oben beschriebenen
bevorzugten Bereichs der mittleren Teilchengröße des in der
die Innenelektroden 8 und 9 bildenden Paste enthaltenen
Nickelpulvers sondern auch des bevorzugten Bereichs der
mittleren Teilchengröße des zur Bildung der Keramiklagen 2
dienenden Keramikrohmaterialpulvers vor der Sinterung
ergibt vorteilhaft verbesserte Ergebnisse in Bedeckung,
Zuverlässigkeit und dergleichen.
In der oben beschriebenen Ausführungsform wird als
monolithisches keramisches Elektronikbauteil ein mono
lithischer Keramikkondensator beschrieben. Jedoch kann
diese Erfindung auch bei andersartigen monolithischen
keramischen Elektronikbauteilen wie z. B. bei einem mehr
lagigen Keramiksubstrat und dergleichen angewendet werden,
das im wesentlichen dieselbe Struktur wie der monolithische
Keramikkondensator hat.
Als Metallpulver, das in der die Innenelektroden bildenden
Paste enthalten ist, stehen Pulver aus Nickellegierungen
und anderen unedlen Metallen wie z. B. Kupfer und Kupfer
legierungen und Edelmetallpulver zusätzlich zu dem oben ge
nannten Nickelpulver zur Verfügung.
Nun wird die Erfindung bezogen auf besondere Beispiele im
einzelnen beschrieben. Es ist verständlich, daß die
praktische Ausführung dieser Erfindung, so lange sie nicht
von dem in den Patentansprüchen definierten Umfang ab
weicht, nicht auf das nachfolgende Beispiel beschränkt ist.
Z. B. ist als dielektrisches Keramikmaterial in dem
beschriebenen Beispiel nur eine Bariumtitanat-Keramikart
beschrieben. Jedoch hat man nachgewiesen, daß sich die
selben Vorteile wie mit der Bariumtitanatkeramik auch mit
anderen dielektrischen Keramikarten erzielen lassen, die
eine perowskitartige Struktur haben und die als Haupt
komponente Strontiumtitanat, Calziumtitanat und dergleichen
verwenden.
Ein die in Fig. 1 gezeigte Struktur aufweisender
monolithischer Keramikkondensator 1 wurde in dem Beispiel
erzeugt.
Zuerst wird Bariumtitanatpulver (BaTiO3) als keramisches
Rohmaterialpulver durch Hydrolisieren bereitet. Das BaTiO3-
Pulver wurde bei den verschiedenen in Tabelle 1 aufge
listeten Calziniertemperaturen calziniert und so verschie
denartige BaTiO3-Pulver A-E bereitet, deren mittlere Parti
kelgrößen (D50) im Bereich von 0,1 bis 0,8 µm lagen.
Danach wurden den oben beschriebenen BaTiO3-Pulvern A-E
Zusätze (αDy + βMg + γMn und Si-Sinterhilfsmittel) in Form
des in Tabelle 2 gezeigten Karbonatpulvers in unter
schiedlichen durch Mol-Teile angegebenen Mengen zugesetzt
und vermischt. Auf diese Weise wurden verschiedenartige
Keramikzusammensetzungen bereitet.
In der in Tabelle 2 enthaltenen Spalte die mit "Art der
Keramikzusammensetzung" bezeichnet ist, geben die Bezugs
zeichen mit einem Zusatz "a" (z. B. Aa) die Arten der bei
der Sinterung kein Kornwachstum bildenden Keramiken an. In
diesem Fall ist die Teilchengröße nach der Sinterung im
wesentlichen dieselbe wie die des Keramikrohmaterial
pulvers. Die mit dem Zusatz "b" versehenen Bezugszeichen
(z. B. Ab) geben Keramikarten an, die bei der Sinterung
unmittelbares Kornwachstum zeigten. In diesem Fall wurden
die mittleren Teilchengrößen der Keramikkörner größer als
die der Rohmaterialpulver.
Jeder der in Tabelle 2 gezeigten Keramikzusammensetzung der
Bariumtitanatart wurde Polyvinylbutyralbinder und ein orga
nisches Lösungsmittel wie z. B. Ethanol oder dergleichen
zugesetzt und naß mit einer Kugelmühle vermischt und
dadurch ein Keramikbrei erzeugt. Darauffolgend wurde der
Keramikbrei mittels einer Rakel in die Form eines
keramischen Rohblatts gebracht. Dafür wurde die Schlitz
weite der Rakel so eingestellt, daß keramische Rohblätter
einer Dicke von 4,2 µm oder 1,4 µm entstanden. Die Dicken
von 4,2 µm und 1,4 µm der keramischen Rohblätter ent
sprechen jeweils den Dicken von 3 µm und 1 µm der Keramik
lagen, nachdem diese laminiert und gebrannt wurden, wie in
den später beschriebenen Ergebnissen und der Auswertung
ersichtlich ist.
Getrennt davon wurden Nickelpulver aus sphärischen Nickel
teilchen mit jeweils unterschiedlichen Teilchengrößen von
5 nm, 15 nm, 50 nm, 100 nm, 180 nm und 250 nm vorbereitet.
Genauer wurden unter diesen Nickelpulvern die Pulver mit
der mittleren Teilchengröße von 5 nm und 15 nm mit dem oben
beschriebenen Verdampfungsverfahren im Gas bereitet, die
Pulver mit der mittleren Teilchengröße 50 nm und 100 nm mit
dem Wasserstoffbogenentladungsverfahren und die Pulver mit
den mittleren Teilchengrößen 180 nm und 250 nm mit
chemischer Dampfabscheidung erzeugt.
Danach wurden zu 42 Gew.-% der jeweiligen Nickelpulver
44 Gew.-% eines organischen Bindemittels, das durch Auf
lösen von 6 Gew.-% eines ethylzelluloseartigen Binders in
94 Gew.-% Terpineol bereitet wurde und 14 Gew.-% Terpineol
zugesetzt, genügend gemischt und mittels einer Drei
walzenmühle dispergiert. Auf diese Weise wurde eine Paste
bereitet, in der das Nickelpulver in ausreichender
Verteilung enthalten war.
Auf die oben beschriebenen Keramikrohblätter wurden jeweils
die Nickelpasten durch Siebdruck aufgedruckt. In diesem
Fall wurden Proben mit 1,2 µm, 1,0 µm, 0,6 µm, 0,3 µm und
0,15 µm Dicke, die nach dem Trocknen der Filme aus den
leitfähigen Pasten gemessen wurde, bereitet. Die Dicken
1,2 µm, 1,0 µm, 0,6 µm, 0,3 µm und 0,15 µm, wie sie nach
dem Trocknen der Filme aus den leitfähigen Pasten gemessen
wurden, entsprechen jeweils den Dicken 0,8 µm, 0,7 µm,
0,4 µm, 0,2 µm und 0,1 µm der Innenelektroden nach dem
Laminier- und Brennvorgang.
Darauffolgend wurden eine Vielzahl keramischer Rohblätter
in mehrere Lagen so laminiert, daß die oben beschriebenen
Filme aus leitfähiger Paste abwechselnd an den Stirnseiten
des Laminats freiliegen und anschließend unter Erwärmung
zu einem einstückigen Körper gepreßt. Dann wurde der ein
stückige gepreßte Körper in eine vorbestimmte Größe zer
schnitten und ergab einen Rohchip in Form eines Roh
laminats. Das Rohlaminat wurde bei 300° in einer N2-
Atmosphäre erhitzt, um den Binder auszubrennen und an
schließend in einer reduzierenden Atmosphäre aus H2-N2-H2O-
Gas bei einem Sauerstoffpartialdruck von 10-9 bis 10-12 MPa
zwei Stunden lang gebrannt. Die Brenntemperatur folgte
einem in den mit "Brenntemperatur" bezeichneten Spalten in
den hier enthaltenen Tabellen 3, 4 und 5 angegebenen
Profil, bei dem die jeweiligen Rohchips zwei Stunden bei
einer maximalen Brenntemperatur im Bereich von 1100 bis
1300°C gehalten wurden.
Nach dem Brennen wurden die beiden einander gegen
überliegenden Stirnseiten des Laminats mit einer Glasfritte
der Art B2O-Li2O-SiO2-BaO enthaltenden Silberpaste beschich
tet und in einer N2-Atmosphäre bei einer Temperatur von
600°C gebrannt, um elektrisch mit den Innenelektroden
verbundene Außenelektroden zu bilden.
Die Außenabmessungen des so erzeugten monolithischen
Keramikkondensators waren 5,0 mm Breite, 5,7 mm Länge und
2,4 mm Dicke. Die Dicke der zwischen den Innenelektroden
liegenden Keramiklagen war 3 µm oder 1 µm. Die Anzahl der
effektiven dielektrischen Keramiklagen betrug 5 und die
Fläche der gegenüberliegenden Elektroden pro Lage betrug
16,3 × 10-6 m2.
Die jeweiligen Proben der auf diese Weise erzeugten
monolithischen Keramikkondensatoren wurden wie folgt hin
sichtlich ihrer Laminatstrukturen, elektrischen Kennwerte
und Zuverlässigkeit ausgewertet.
Um die mittleren Teilchengrößen der die Keramiklagen der
monolithischen Keramikkondensatoren bildenden Keramiklagen
zu bestimmen, wurden die polierten Abschnitte der mono
lithischen Keramikkondensatoren chemisch geätzt und mit
einem Rasterelektronenmikroskop untersucht.
Außerdem wurden, um die Dicke der Innenelektroden und der
Keramiklagen zu ermitteln, die polierten Abschnitte der
monolithischen Keramikkondensatoren mit einem Rasterelek
tronenmikroskop untersucht.
Hinsichtlich der Delamination oder Aufblätterung der mono
lithischen Keramikkondensatoren wurden Abschnitte der
Proben poliert und mit einem Mikroskop visuell untersucht.
Somit wurde das Verhältnis der Anzahl der Proben, bei denen
eine Delamination auftrat (Delaminationsauftrittsverhält
nis) auf Grundlage der Gesamtzahl der geprüften Proben
ermittelt.
Um die Bedeckung (die mit einer Elektrode bedeckte Fläche)
der Innenelektroden quantitativ zu ermitteln, wurden die
Innenelektroden von der Probe abgelöst und eine mit einem
Mikroskop hergestellte Fotografie der so gebildeten leeren
Löcher durch eine Bildanalyse der Fotografie bewertet.
Die hinsichtlich ihrer Struktur als gut bewerteten Proben
wurden auf folgende elektrisch Kennwerte geprüft.
Die elektrostatische Kapazität (C) und der dielektrische
Verlust (tan δ) wurden nach der JIS-Norm Nr. 5102 mittels
einer automatischen Meßbrücke gemessen, die Dielektrizi
tätskonstante (ε) wurde aus der gemessenen elektro
statischen Kapazität berechnet.
Für einen Hochfeuchtigkeitsbelastungstest wurde die
zeitabhängige Änderung des Isolationswiderstandes jeder
Probe ermittelt, während eine Gleichspannung von 10 kV/mm
bei einer Temperatur von 150°C angelegt war. Die Zeit
während der sich der Isolationswiderstand (R) der Probe auf
105 Ω oder weniger verringerte, wurde als Ausfallzeit der
Probe genommen. Die mittlere Lebensdauer der Proben, das
ist die mittlere Zeitdauer, bis die Proben ausfielen, wurde
ermittelt.
Die so erhaltenen Ergebnisse sind in den Tabellen 3, 4 und
5 enthalten. Die Kennwerte der Proben, deren Probennummern
mit einem Stern "*" versehen wurden, weichen von dem Umfang
dieser Erfindung ab.
Die nachstehende Tabelle 3 zeigt die Beziehung zwischen der
Dicke der Innenelektroden und dem Auftrittsverhältnis der
Delamination der unten beschriebenen Proben, deren Keramik
lagen 3 µm oder 1 µm dick sind und deren Innenelektroden
unterschiedliche Dicken haben. D. h., die obigen Proben
wurden aus der Keramikzusammensetzung hergestellt, die kein
Kornwachstum hat und die in der Spalte "Art der
Keramikzusammensetzung" in Tabelle 2 mit dem Bezugszeichen
Ba bezeichnet ist, und BaTiO3-Pulver mit einer mittleren
Teilchengröße von 0,2 µm enthält, welches durch das
Bezugszeichen B in der Spalte "Art des BaTiO3-Pulvers" in
Tabelle 1 angegeben ist und das nach dem Brennen eine
mittlere Keramikteilchengröße von 0,2 µm zeigt.
In Tabelle 3 zeigten die Proben Nr. 1-4 und 17-20, die
jeweils mit einem "*" bezeichnet sind, eine Dicke der
Innenelektroden von 0,8 µm. Das Auftrittsverhältnis der
Delamination war hoch. In den Proben 14-16 und 30-32, die
ebenfalls mit dem "*" bezeichnet sind, war die Dicke der
Innenelektroden 0,1 µm. In diesem Fall trat ebenfalls
Delamination mit hohem Auftrittsverhältnis auf. In den
Proben 14-16 und 30-32 trat Delamination wegen der
Oxidation von Nickel auf.
Andererseits trat, wenn die Innenelektrodendicke im Bereich
von 0,2-0,7 µm liegt, wie bei den Proben Nr. 5-13 und 21-28
Delamination nie oder selten auf.
Die oben beschriebenen Ergebnisse zeigen, daß Delamination
vermieden oder verhindert werden kann, wenn die Dicke der
Innenelektrode im Bereich von 0,2-0,7 µm liegt, wenn die
Dicke der Keramiklage bis zu 3 µm reicht.
Nachstehend werden die Kennwerte, insbesondere die mittlere
Teilchengröße des Nickelpulvers, mit dem die Dicke der
Innenelektrode im Bereich von 0,2-0,7 eingestellt werden
konnte, diskutiert.
Bei den Proben Nr. 5 und 21 ist die mittlere Teilchengröße
des Nickelpulvers 250 nm. Die Bedeckung und die erreichte
Kapazität waren verringert. Bei den Proben Nr. 13 und 29
ist die mittlere Teilchengröße des Nickelpulvers 5 nm. In
diesem Fall waren auch die Bedeckung und die erreichte
Kapazität verringert.
Andererseits zeigte sich bei den Proben Nr. 6-12 und
22-28, daß die Verringerung der Bedeckung vermindert werden
kann und eine hohe elektrostatische Kapazität erreichbar
ist, wenn die mittlere Teilchengröße des Nickelpulvers in
den Bereich von 10-200 nm gelegt wird. Strukturfehler wie
z. B. Delamination und dergleichen lassen sich vermeiden,
obwohl der monolithische Keramikkondensator eine
Keramikfilmdicke von bis zu 3 µm hat, wenn die Dicke der
Innenelektrode im Bereich von 0,2-0,7 µm liegt. Um eine
geringere Verringerung der Bedeckung und eine hohe
elektrostatische Kapazität sicherzustellen, liegt die
mittlere Teilchengröße des Nickelpulvers bevorzugt im
Bereich 10-200 nm.
Die nachstehende Tabelle 4 zeigt die Beziehung zwischen der
Dicke der Innenelektroden und dem Delaminationsauftritts
verhältnis der unten beschriebenen Proben, bei denen die
mittlere Teilchengröße der die Keramiklagen des mono
lithischen Keramikkondensators bildenden Keramikkörner nach
der Sinterung unterschiedlich sind, d. h., daß sie 0,1 µm,
0,3 µm, 0,5 µm und 0,8 µm dick sind, und die Dicke der
Keramiklage 3 µm oder 1 µm beträgt. Die obigen Proben
wurden aus Keramikzusammensetzungen hergestellt, die in der
Spalte "Art der Keramikzusammensetzung" in Tabelle 2 mit
den kein Kornwachstum angebenden Bezugszeichen Aa, Ca, Da
und Ea angegeben sind und die BaTiO3-Pulver mit einer
mittleren Korngröße von 0,1 µm, 0,3 µm, 0,5 µm und 0,8 µm
enthalten, wie sie in der Spalte "Art des BaTiO3-Pulvers"
in Tabelle 1 jeweils mit den Bezugszeichen A, C, D und E
angegeben sind.
In Tabelle 4 beträgt, wie bei den in der obigen Tabelle 3
gezeigten Proben, bei den Proben Nr. 41, 46, 51 und 56, die
jeweils mit dem Zusatz "*" versehen sind, die Dicke der
Innenelektroden 0,8 µm. Delamination tritt mit hohem
Verhältnis auf. Die Proben Nr. 45, 50, 55 und 60, die
jeweils mit einem "*" versehen sind, haben eine Dicke der
Innenelektroden von 0,1 µm. In diesem Fall tritt Delami
nation auch mit hohem Verhältnis auf. Bei den Proben Nr.
45, 50, 55 und 60 geschieht die Delamination wegen der
Oxidation des Nickels.
Andererseits tritt Delamination nicht auf, wenn die Dicke
der Innenelektroden im Bereich 0,2-0,7 µm liegt, wie dies
die Proben Nr. 42-44, 47-49, 52-54 und 57-59 zeigen.
Anhand der oben beschriebenen Ergebnisse wird deutlich, daß
Delamination verhindert oder unterbunden werden kann, wenn
die Dicke der Keramikschicht bis zu 3 µm beträgt und der
Dickenbereich der Innenelektroden von 0,2-0,7 µm reicht.
Bei den in Tabelle 4 aufgelisteten Proben ergab sich
folgende Tendenz. D. h., daß die Ausbuchtungen und Ein
sprünge an den Berührungsflächen zwischen den Innen
elektroden und den Keramiklagen groß und dadurch die
mittlere Lebensdauer dieser Proben verkürzt sind, wenn das
Keramikrohmaterialpulver und die Körner eine große
Abmessung haben, auch wenn die mittlere Teilchengröße der
Keramikrohmaterialpulver im Bereich von 100-800 nm liegt.
Besonders ist die mittlere Lebensdauer verhältnismäßig
kurz, d. h., kürzer als 50 Std., wenn die mittlere Teil
chengröße des keramischen Rohmaterialpulvers 800 nm und die
mittlere Größe der Körner 0,8 µm beträgt.
Andererseits ist die Zuverlässigkeit gesteigert, z. B.
beträgt die mittlere Lebensdauer 50 Std. oder länger, wenn
die mittlere Teilchengröße der Körner bis zu 0,5 µm reicht,
wie die Proben Nr. 44, 47-49, 54 und 57-59 zeigen.
Die oben angeführten Ergebnisse zeigen, daß Delamination
auch vermieden werden kann, wenn der monolithische
Keramikkondensator eine Filmdicke der Keramiklage von bis
zu 3 µm hat, wenn die Dicke der Innenelektroden im Bereich
von 0,2 bis 0,7 µm liegt. Wenn die mittlere Teilchengröße
der Körner bis 0,5 µm reicht, läßt sich die mittlere
Lebensdauer verlängern.
Die nachstehende Tabelle 5 zeigt die Beziehung zwischen der
Dicke der Innenelektroden und dem Delamina
tionsauftrittsverhältnis der nachstehend beschriebenen
Proben, deren mittlere Teilchengrößen im Bereich von 0,2
bis 1,0 µm der Keramikkörnchen, die die Keramiklagen in
einer Dicke von 3 µm oder 1 µm der monolithischen Keramik
kondensatoren bilden, nach der Sinterung anders sind, was
durch Kontrolle der Brenntemperatur erreicht wird. Die
obigen Proben wurden aus den Keramikzusammensetzungen, die
mit den Bezugszeichen Ab, Cb, Db und Eb in der Spalte "Art
der Keramikzusammensetzung" in Tabelle 2 angegeben sind und
die ein leichtes Kornwachstum zeigen und BaTiO3-Pulver mit
mittleren Teilchengrößen von 0,1 µm, 0,3 µm, 0,5 µm und
0,8 µm haben, die in Tabelle 1 in der mit "Art des BaTiO3-
Pulvers" bezeichneten Spalte mit den Bezugszeichen A, C, D
und E bezeichnet sind.
In Tabelle 5 ist bei den mit einem "*" versehenen Proben
Nr. 61, 65, 75 und 79 die Dicke der Innenelektroden 0,8 µm
und es tritt mit hohem Verhältnis Delamination auf, wie
auch bei den oben beschriebenen, in den Tabellen 3 und 4
gezeigten Proben. Außerdem ist bei den mit "*" bezeichneten
Proben Nr. 69, 72, 83 und 86 die Dicke der Innenelektroden
0,1 µm, und auch hier tritt Delamination mit hohem
Verhältnis auf. Bei den Proben Nr. 69, 72, 83 und 86 tritt
Delamination wegen Oxidation von Nickel auf.
Andererseits tritt, wie die Proben Nr. 62-64, 66-68, 70,
71, 73, 74, 76-78, 80-8 2, 84, 85, 87 und 88 zeigen, keine
Delamination auf, wenn die Dicke der Innenelektroden im
Bereich von 0,2-0,7 µm liegt.
Anhand der obigen Beschreibung erkennt man, daß
Delamination verhindert oder unterbunden werden kann, wenn
die Dicke der Keramiklagen bis zu 3 µm beträgt und die
Dicke der Innenelektroden von 0,2 µm bis 0,7 µm reicht.
Die mittleren Größen der Teilchen der Keramikroh
materialpulver der in Tabelle 5 gezeigten Proben liegen im
Bereich von 100-800 nm, und die mittlere Teilchengröße der
Körnchen liegt im Bereich von 0,2-1,0 µm Hinsichtlich
jeder der in Tabelle 5 gezeigten Proben, bei denen die
mittlere Teilchengröße des Rohmaterialpulvers und die
Teilchengröße groß sind, treten große Ausbuchtungen und
Einsprünge an den Berührungsflächen zwischen den Innen
elektroden und den Keramikschichten auf. Aus diesem Grund
ergibt sich die Neigung, daß die mittlere Lebensdauer
verkürzt ist.
Insbesondere beträgt bei den Proben Nr. 62-64, 73, 74, 76-
78, 87 und 88 die mittlere Teilchengröße der Körner
wenigstens 0,7 µm Von diesen Proben ist bei der Probe
Nr. 62 und 76 die mittlere Teilchengröße des Keramikroh
materialpulvers bereits groß, nämlich 800 nm. Bei den
Proben Nr. 63, 64, 73, 74, 77, 78, 87 und 88 beträgt die
mittlere Teilchengröße der Körner wenigstens 0,7 µm, obwohl
die mittlere Teilchengröße des Keramikrohmaterialpulvers
bis 500 nm reicht. Besonders wächst bei den Proben Nr. 73,
74, 87 und 88, obwohl die mittlere Teilchengröße des
Keramikrohmaterialpulvers gering ist, nämlich 100 µm, die
mittlere Teilchengröße der Körner auf bis zu 1,0 µm durch
den Anstieg der Brenntemperatur auf 1250°C. Wenn die
mittlere Teilchengröße der Körner 0,7 µm oder größer ist,
ist, unabhängig von der mittleren Teilchengröße des
Keramikrohmaterialpulvers, die mittlere Lebensdauer kurz,
nämlich kürzer als 50 Std.
Andererseits erkennt man die Neigung, daß sich die Zuver
lässigkeit verbessert, und die mittlere Lebensdauer länger
als 50 Std. ist, wie die Proben Nr. 66-68, 70, 71, 80-82,
84 und 85 zeigen, wenn die mittlere Teilchengröße des
Keramikrohmaterialpulvers unter 500 nm, nämlich 300 nm oder
100 nm und auch die mittlere Teilchengröße der Körner 0,5
µm oder weniger betragen.
In den Proben Nr. 66 und 80 ist die mittlere Teilchengröße
des Nickelpulvers 250 nm, und die Bedeckung und die sich
ergebende Kapazität sind verringert. In den Proben Nr. 71
und 85 beträgt die mittlere Teilchengröße des Nickelpulvers
5 nm. Auch in diesem Fall sind sowohl die Bedeckung als
auch die sich ergebende Kapazität verringert.
Andererseits lassen sich bei den Proben Nr. 62-64, 67, 68,
70, 73, 74, 76-78, 81, 82, 84, 87 und 88 aufgrund der im
Bereich von 10-200 nm liegenden mittleren Teilchengröße des
Nickelpulvers hohe elektrostatische Kapazitäten erzielen.
Wie die oben beschriebenen Ergebnisse zeigen, läßt sich
Delamination auch in den Fällen der monolithischen Keramik
kondensatoren verhindern, deren Keramiklagen eine Dicke von
bis zu 3 µm haben, wenn die Dicke der Innenelektroden im
Bereich von 0,2-0,7 µm liegt. Zusätzlich kann die mittlere
Lebensdauer trotz Kornwachstums der Keramikmaterialien
verlängert werden mit der Bedingung, daß die mittlere
Teilchengröße der Körner bis zu 0,5 µm reicht. Wenn die
mittlere Teilchengröße des für die Innenelektroden
verwendeten Nickelpulvers im Bereich von 10-200 liegt, ist
die elektrostatische Kapazität des monolithischen Keramik
kondensators erhöht, und die Verringerung der Bedeckung
geringer.
Die Fig. 2 und 3 sind mit einem Rasterelektronen
mikroskop aufgenommene Fotografien der polierten Quer
schnitte der monolithischen Keramikkondensatoren.
Fig. 2 zeigt den erfindungsgemäßen monolithischen Keramik
kondensator. In dieser Fotografie sind mehrere Keramiklagen
14 und Innenelektrodenlagen 15 zu erkennen, die längs den
Berührungsflächen zwischen den Keramiklagen 14 liegen.
Fig. 3 zeigt einen bekannten monolithischen Keramik
kondensator, bei dem mehrere Keramiklagen 16 und Innen
elektroden 17 entlang den Berührungsflächen zwischen den
Keramiklagen 16 vorgesehen sind.
Die oben erwähnten, in den monolithischen Keramikkonden
satoren gebildeten, Nickel enthaltenden Innenelektroden
lagen 15 und 17 wurden durch eine Ätzung mit Kupfer(II)-
Chlorid vor dem Fotografieren entfernt, so daß die Hohl
räume übrig bleiben.
Für den erfindungsgemäßen monolithischen Keramikkonden
sator, wie in Fig. 2 gezeigt, haben die Keramiklagen 14
jeweils eine Dicke von 2,0 µm und die Innenelektroden
(Innenelektrodenlagen 15) jeweils eine Dicke von 0,5 µm.
Bei dem bekannten, in Fig. 3 gezeigten monolithischen
Keramikkondensator sind jeweils die Dicken der Keramiklagen
16 zu 2,5 µm und die der Innenelektroden (Innenelek
trodenlagen 17) jeweils zu 1,4 µm festgelegt.
Anhand der Fig. 2 ist zu erkennen, daß bei dem
erfindungsgemäßen monolithischen Keramikkondensator die
Ausbuchtungen und Einsprünge an den Berührungsflächen
zwischen den Innenelektroden (Innenelektrodenlagen 15) und
den Keramiklagen 14 klein sind und kein Elektrodenbruch
trotz der dünnen Innenelektroden (Innenelektrodenlagen 15)
in einer Dicke von 0,5 µm auftritt.
Andererseits hat der in Fig. 3 gezeigte bekannte
monolithische Keramikkondensator verhältnismäßig große
Ausbuchtungen und Einsprünge an den Berührungsflächen
zwischen den Innenelektroden (Innenelektrodenlagen 17) und
den Keramiklagen 16, und Elektrodenbruch tritt trotz dünner
Innenelektroden (Innenelektrodenlagen 17) auf, deren Dicke
1,4 µm beträgt. Weiterhin tritt Delamination in dem
bekannten monolithischen Keramikkondensator auf, obwohl
dies die Fotografie der Fig. 3 nicht deutlich zeigt.
Wie die obige Beschreibung zeigt, sind bei dem
erfindungsgemäßen monolithischen Keramikkondensator die
Innenelektroden in einer Dicke von 0,2 µm bis 0,7 µm
gebildet. Deshalb läßt sich Delamination bei dem
keramischen Elektronikbauteil verhindern, wenn jede der
Keramiklagen dünn ist, nämlich eine Dicke von bis zu 3 µm
hat. Für den Fall der Anwendung der Erfindung bei einem
monolithischen Keramikkondensator ist eine unterbundene
Delamination sehr effektiv, wenn ein sehr kleiner
monolithischer Keramikkondensator mit hoher Kapazität
realisiert wird.
Erfindungsgemäß haben die die Keramiklagen bildenden
Keramikkörner nach dem Sintern eine mittlere Keramik
teilchengröße von bis zu 0,5 µm. Deshalb sind die Aus
buchtungen und Einsprünge an den Berührungsflächen zwischen
den Innenelektroden und den Keramiklagen gering, und
dadurch kann eine Konzentration des elektrischen Feldes
verhindert werden. Deshalb läßt sich die im Hochtemperatur
belastungstest oder dergleichen gemessene mittlere Lebens
dauer verlängern und die Zuverlässigkeit steigern.
Bevorzugt wird zur Bildung der Innenelektroden eine
Metallpulver enthaltende Paste verwendet und das verwendete
Metallpulver der Paste hat eine mittlere Teilchengröße von
10 nm bis 200 nm. Dann läßt sich die Fülldichte und die
Glätte des Metallpulvers in den Innenelektroden steigern
und dadurch läßt sich eine hohe Bedeckung erreichen, so daß
diese zur Verwirklichung elektrischer Kennwerte ausreichend
ist, wie z. B. der dielektrischen Kennwerte der die
Keramiklagen bildenden Keramik, auch wenn die Innen
elektroden dünn, nämlich 0,2 bis 0,7 µm dick sind. Auf
diese Weise ist eine zufriedenstellende Funktion der
Innenelektroden gesichert. Zur Bildung der Innenelektroden
wird ohne Schwierigkeiten ein Druckverfahren, wie z. B.
Siebdruck verwendet. Damit läßt sich ein effizientes
Verfahren zur Bildung der Innenelektroden ausführen.
Bevorzugt wird als das oben beschriebene Metallpulver
Pulver eines unedlen Metalls verwendet. Dies zielt auf eine
Verringerung der Materialkosten. Als unedles Metall kann
ein nickelhaltiges Metall verwendet werden. In diesem Fall
können hohe Antioxidationseigenschaften im Vergleich mit
Fällen erwartet werden, wo Kupfer oder dergleichen einge
setzt wurde.
Bevorzugt hat das bei der Erfindung zur Bildung der
Keramiklagen verwendete keramische Rohmaterialpulver vor
der Sinterung eine mittlere Teilchengröße von bis zu 400
nm. In diesem Fall sind der Keramikfüllfaktor und die
Glätte der Keramiklagen gesteigert. Deshalb können dünne
Keramiklagen jeweils in einer Dicke von bis zu 3 µm ohne
Schwierigkeiten gebildet werden.
Claims (7)
1. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil, das aus
einem Laminat (3), das mehrere laminierte Keramiklagen (2)
enthält, die jeweils aus einer gesinterten keramischen
Rohmaterialpulverlage hergestellt sind und aus einer Innen
elektrode (8, 9) besteht, die aus einem gesinterten Metall
pulver hergestellt ist und die längs einer vorbestimmten
Berührungsfläche zwischen den Keramiklagen (2) liegt, dadurch
gekennzeichnet, daß die Keramiklagen (2) eine Dicke von bis
zu 3 µm, die Keramikkörner der Keramiklagen nach der
Sinterung eine mittlere Teilchengröße von bis zu 0,5 µm und
die Innenelektrode eine Dicke von 0,2 µm bis 0,7 µm haben.
2. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach
Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Bauteil außerdem
eine Außenelektrode (6, 7) enthält, gebildet an den jeweils
einander gegenüberliegenden Stirnseiten des Laminats (3), die
Keramiklagen aus einer dielektrischen Keramikmasse bestehen
und die mehreren Innenelektroden (8, 9) so gebildet sind, daß
eine Kante jeder Innenelektrode (8, 9) an einer der
Stirnseiten des Laminats (3) freiliegt und dort mit der
Außenelektrode (6, 7) elektrisch verbunden ist, wodurch ein
monolithischer Keramikkondensator (1) gebildet ist.
3. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach einem
der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine das
Metallpulver enthaltende Paste zur Bildung der Innenelektrode
(8, 9) verwendet wird, wobei das Metallpulver in der Paste
eine mittlere Teilchengröße von 10 nm bis 200 nm hat.
4. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach einem
der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das
Metallpulver aus unedlem Metall besteht.
5. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach einem
der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das
unedle Metall Nickel enthält.
6. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach einem
der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die
Innenelektrode (8, 9) durch ein die das Metallpulver ent
haltende Paste aufdruckendes Druckverfahren gebildet wird.
7. Monolithisches keramisches Elektronikbauteil nach einem
der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das
zur Bildung der Keramiklagen (2) verwendete keramische Roh
materialpulver vor der Sinterung eine mittlere Teilchengröße
von bis zu 500 nm hat.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05053798A JP3644235B2 (ja) | 1998-03-03 | 1998-03-03 | 積層セラミック電子部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19909300A1 true DE19909300A1 (de) | 1999-09-09 |
Family
ID=12861767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19909300A Ceased DE19909300A1 (de) | 1998-03-03 | 1999-03-03 | Monolithisches Keramisches Elektronikbauteil |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6270906B1 (de) |
| JP (1) | JP3644235B2 (de) |
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| CN (1) | CN1135578C (de) |
| DE (1) | DE19909300A1 (de) |
| TW (1) | TW432413B (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102005018323A1 (de) * | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Siemens Ag | Keramik-Grünkörper und Keramik-Bauteil, sowie Mikrowellen-Sinterverfahren für Piezostack-Grünkörper |
| DE10126099B4 (de) * | 2000-05-30 | 2008-11-13 | Tdk Corp. | Keramischer Vielschichtkondensator und Verfahren zu seiner Herstellung |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3498211B2 (ja) * | 1999-12-10 | 2004-02-16 | 株式会社村田製作所 | 積層型半導体セラミック電子部品 |
| JP4702972B2 (ja) * | 2000-01-31 | 2011-06-15 | 京セラ株式会社 | 積層型電子部品およびその製法 |
| US6517745B2 (en) * | 2000-02-28 | 2003-02-11 | Mitsui Mining And Smelting Co., Ltd. | Nickel powder and conductive paste |
| JP2002198255A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-12 | Kyocera Corp | 積層型電子部品 |
| JP4627876B2 (ja) * | 2000-12-27 | 2011-02-09 | 京セラ株式会社 | 誘電体磁器および積層型電子部品 |
| JP2002246256A (ja) * | 2001-02-13 | 2002-08-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 導電性ペースト及びそれを用いた積層コンデンサ |
| JP4652595B2 (ja) * | 2001-03-21 | 2011-03-16 | 京セラ株式会社 | 温度特性に優れた誘電体磁器 |
| US6780494B2 (en) * | 2002-03-07 | 2004-08-24 | Tdk Corporation | Ceramic electronic device and method of production of same |
| JP4200792B2 (ja) * | 2003-03-12 | 2008-12-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| US7898793B2 (en) | 2004-03-19 | 2011-03-01 | Tdk Corporation | Laminated ceramic capacitor |
| US20060169389A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | Barber Daniel E | Electrode paste for thin nickel electrodes in multilayer ceramic capacitors and finished capacitor containing same |
| JP5017792B2 (ja) * | 2005-04-04 | 2012-09-05 | Tdk株式会社 | 電子部品、誘電体磁器組成物およびその製造方法 |
| JP4761062B2 (ja) * | 2006-06-16 | 2011-08-31 | Tdk株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP2009079239A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ニッケル粉末、またはニッケルを主成分とする合金粉末およびその製造方法、導電性ペースト、並びに積層セラミックコンデンサ |
| JP5582944B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2014-09-03 | 京セラ株式会社 | 配線基板、積層板及び積層シート |
| KR20120043501A (ko) * | 2010-10-26 | 2012-05-04 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법 |
| KR101862396B1 (ko) * | 2011-09-08 | 2018-05-30 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 이의 제조방법 |
| TWI471884B (zh) * | 2012-10-09 | 2015-02-01 | Murata Manufacturing Co | Laminated ceramic electronic parts and manufacturing method thereof |
| WO2014167754A1 (ja) | 2013-04-08 | 2014-10-16 | 株式会社村田製作所 | 誘電体セラミック、及び積層セラミックコンデンサ |
| WO2014174875A1 (ja) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP6680457B2 (ja) * | 2014-09-12 | 2020-04-15 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| KR20190121213A (ko) * | 2018-10-24 | 2019-10-25 | 삼성전기주식회사 | 세라믹 전자 부품 |
| CN112750551B (zh) * | 2019-10-31 | 2022-10-18 | 东莞华科电子有限公司 | 电极膏、电极、包含其的陶瓷电子元件及该元件的制法 |
| US11742144B2 (en) * | 2019-12-12 | 2023-08-29 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
| CN117073548A (zh) * | 2023-08-15 | 2023-11-17 | 广东微容电子科技有限公司 | 一种片式多层陶瓷电容器的内电极厚度的检测方法 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4388346A (en) * | 1981-11-25 | 1983-06-14 | Beggs James M Administrator Of | Electrodes for solid state devices |
| KR940004938B1 (ko) * | 1986-04-21 | 1994-06-07 | 스팩트럼 콘트롤 인코포레이티드 | 소형 모놀리딕 캐패시터 및 그것의 단부 종단을 용이하게 하기 위한 방법 |
| US5879812A (en) * | 1995-06-06 | 1999-03-09 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Monolithic ceramic capacitor and method of producing the same |
| JP2993425B2 (ja) * | 1995-12-20 | 1999-12-20 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3024536B2 (ja) * | 1995-12-20 | 2000-03-21 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3024537B2 (ja) * | 1995-12-20 | 2000-03-21 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3039397B2 (ja) * | 1996-01-18 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 誘電体磁器組成物とそれを用いた積層セラミックコンデンサ |
| EP0794542B1 (de) * | 1996-03-08 | 2000-02-16 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Keramisches Dielektrikum und dieses verwendendes monolithisches keramisches Elektronikbauteil |
| JP3180690B2 (ja) * | 1996-07-19 | 2001-06-25 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3180681B2 (ja) * | 1996-07-19 | 2001-06-25 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3039403B2 (ja) * | 1996-12-06 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3039409B2 (ja) * | 1997-01-08 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3039417B2 (ja) * | 1997-02-07 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| JP3039426B2 (ja) * | 1997-03-04 | 2000-05-08 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| SG65086A1 (en) * | 1997-07-23 | 1999-05-25 | Murata Manufacturing Co | Dielectric ceramic composition and monolithic ceramic capacitor using same |
-
1998
- 1998-03-03 JP JP05053798A patent/JP3644235B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-03-03 US US09/261,511 patent/US6270906B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-03-03 KR KR1019990006886A patent/KR100317467B1/ko not_active Expired - Lifetime
- 1999-03-03 TW TW088103234A patent/TW432413B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-03-03 CN CNB991057392A patent/CN1135578C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1999-03-03 DE DE19909300A patent/DE19909300A1/de not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10126099B4 (de) * | 2000-05-30 | 2008-11-13 | Tdk Corp. | Keramischer Vielschichtkondensator und Verfahren zu seiner Herstellung |
| DE102005018323A1 (de) * | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Siemens Ag | Keramik-Grünkörper und Keramik-Bauteil, sowie Mikrowellen-Sinterverfahren für Piezostack-Grünkörper |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6270906B1 (en) | 2001-08-07 |
| CN1135578C (zh) | 2004-01-21 |
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| CN1227957A (zh) | 1999-09-08 |
| KR19990077544A (ko) | 1999-10-25 |
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