[go: up one dir, main page]

DE1228235B - Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid - Google Patents

Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid

Info

Publication number
DE1228235B
DE1228235B DES89788A DES0089788A DE1228235B DE 1228235 B DE1228235 B DE 1228235B DE S89788 A DES89788 A DE S89788A DE S0089788 A DES0089788 A DE S0089788A DE 1228235 B DE1228235 B DE 1228235B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
silicon carbide
mixture
compounds
crystal
seed crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DES89788A
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Chem Dr Julius Nickl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES89788A priority Critical patent/DE1228235B/de
Publication of DE1228235B publication Critical patent/DE1228235B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/80Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B32/00Carbon; Compounds thereof
    • C01B32/90Carbides
    • C01B32/914Carbides of single elements
    • C01B32/956Silicon carbide
    • C01B32/963Preparation from compounds containing silicon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/14Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
    • H01S3/16Solid materials
    • H10P10/00
    • H10P95/80

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

  • Verfahren zum Herstellen einkristalliner Stäbe aus Siliciumcarbid Dieser Verfahren stellt eine vorteilhafte Kombination des bekannten, insbesondere zur Herstellung von Rubinen zur Anwendung kommenden Verneuilverfahrens, bei dem die feinverteilten Ausgangsmaterialien in so kleinen Mengen kontinuierlich oder schubweise auf die mittels einer Knallgasflamme hocherhitzte Spitze eines senkrecht stehenden Keimkristalls aufgebracht werden, mit dem bekannten Verfahren zum Herstellen von Siliciumcarbid in feinkristalliner Form durch Pyrolyse eines stöchiometrischen Gemisches von gasförmigen Verbindungen der Komponenten dar.
  • Mit Hilfe des Verfahrens nach der Lehre der Erfindung lassen sich einkristalline Stäbe aus Siliciumearbid herstellen, die sich durch eine gute Kristallperfektion auszeichnen. Derartige Stäbe können sowohl zur Herstellung an sich bekannter Halbleiterbauelemente, wie Transistoren, Gleichrichter oder Fotoanordnungen als auch zur Herstellung von Lasem oder Heizleiterstäben verwendet werden.
  • Das beanspruchte Verfahren, bei dem ein Gemisch aus gasförmigen Verbindungen der Komponenten in Gegenwart eines Trägergases an einem Siliciumcarbid-Einkristall thermisch zersetzt wird, ist dadurch gekennzeichnet, daß man in an sich bekannter Weise die Ausgangsmaterialien im stöchiometrischen Verhältnis in kleinen Mengen kontinuierlich oder schubweise auf die mittels einer Knallgasflamme hoch erhitzte Spitze des senkrecht stehenden Keimkristalls aufbringt.
  • Als Ausgangsmaterial könnenentwedergasförnüge Halogenide der Komponenten in einem Mischungsverhältnis, das der stöchiometrischen Zusammensetzung von Siliciumcarbid entspricht, verwendet werden oder aber siliciumorganische Verbindungen, die eine Si-C-Bindung im Molekül enthalten. Es hat sich gezeigt, daß sich hierfür nicht nur Substanzen wie SiC13 - CH3, SiHCI2 - CH., sondern auch solche Substanzen eignen, die außer Kohlenstoff, Silicium und Wasserstoff auch noch Sauerstoff im Molekül enthalten, wie z. B. CH,3 - S' - Cl2 - OCH,' Weiterhin sind als Ausgangsmaterialien Gemische aus Silicium-und Kohlenwasserstoffen bzw. aus den entsprechenden Halogenderivaten, wie CCIP CHCl3 oder CHBr. oder SiHC13 und SiC14 oder SiBr4, geeignet. Es ist dabei lediglich auf das Mischungsverhältnis zu achten, das auch in diesem Fall der stöchiometrischen Zusammensetzung des erwünschten Reaktionsproduktes entsprechen muß.
  • Als Trägergas ist Wasserstoff bevorzugt geeignet. Der Anteil der earbidbildenden Verbindungen liegt vorteilhaft in einem Bereich von 0,01 bis 60 Volumprozent im Gasgemisch.
  • Der für die Durchführung der Siliciumearbidabscheidung günstigste Druckbereich liegt zwischen 0,1 und 10 at.
  • Um die für das Aufschmelzen der auf den Keimkristall gelangenden Partikeln notwendige Temperatur von etwa 1450 bis 1700' C zu erreichen, ist es vorteilhaft, eine Chlorknallgasflamme zu verwenden.
  • Bei einer speziellen Ausführungsforin des Verfahrens gemäß der Erfindung ist vorgesehen, daß dem Reaktionsgas in bekannter Weise Dotierungsstoffe in Form gasföriniger Verbindungen, beispielsweise von Halogenverbindungen wie A1C13 oder Al-organischen Verbindungen beigefügt werden.
  • Nähere Einzelheiten der Erfindung gehen aus dem an Hand der Figur beschriebenen Ausführungsbeispiel hervor.
  • In der Figur ist eine zur Durchführung des Verfahrens gemäß der Erfindung geeignete Anordnung schematisch dargestellt.
  • Diese Ausführungsform sieht die Verwendung einer Chlorknallgasflamrne vor. Ein an seinem unteren Ende fest eingespannter Keimkristall 1 aus Siliciumcarbid, der eine Länge von etwa 3 mm und einen Durchmesser von annähernd 1 mm besitzt, ist in einem Schutzrohr 2 aus einem hochfeuerfesten Material untergebracht. Der Kristall kann dabei durch geeignete Ausbildung der Befestigungsvorrichtung 3 nach unten abgesenkt werden. Die Zuführung des Reaktionsgasgemisches erfolgt mit Hilfe von Wasserstoff als Trägergas durch das Zuführungsrohr 4, das so ausgebildet ist, daß seine Düse 5 direkt auf die obere Spitze des Keimkristalls gerichtet ist. Durch ein weiteres Zuführungsrohr 6 wird Chlor zugeführt. Der Aufbau der Gaszuführungsvorrichtung entspricht dem Aufbau eines an sich bekannten Knallgasbrenners. Durch die bei der Verbrennung des Chlorknallgasgemisches entstehende Reaktionswärme wird an der Spitze des Keimkristalls die Zone 7 auf eine für den Einbau aus der Gasphase hinzutretender Siliciunicarbidpartikehl hinreichend hohe Temperatur, . beispielsweise 17000 C, erhitzt; die bei der Zersetzung bei der herrschenden hohen Temperatur gebildeten Si- und C-Partikeln vereinigen sich augenblicklich zu Siliciumcarbid und werden in das Gitter des Keimkristalls als SiC eingebaut. Es ist dabei darauf zu achten, daß jeweils nur so wenig Siliciumcarbid zugeführt wird, daß die Siliciumcarbidpartikeln orientiert in das Gitter eingebaut werden 'lÜönnen. Die entstehenden Restgase strömen durch das Schutzrohr nach unten ab. Der Kristall kann entweder im Laufe des Wachstums kontinuierlich nach unten abgesenkt werden oder aber periodisch um größere Strecken nach unten geführt werden. Für eine gleichmäßige Ausbildung des Einkristallstabes ist es jedoch zweckmäßig, die Absenkung kontinuierlich vorzunehmen.
  • Das Verfahren -kann durch entsprechende Auswahl der carbidbildenden Komponenten variiert werden. Die Verwendung sfliciumorganischer Verbindungen oder aber von Gemischen aus Halogeniden oder entsprechenden Wasserstoff- bzw. Halogenwasserstoffverbindungen der carbidbildenden Substanzen führt in jedem Fall zur Bildung von Siliciumcarbid, da bei den genannten Umsetzungen die Reaktionsenthalpien stets negativ sind. Es ist hierbei nur zu beachten, daß das Mischungsverhältnis der Ausgangsmaterialien jeweils der stöchiometrischen Zusammensetzung des Siliciumcarbids entspricht und daß die Menaen des auf den Keimkristall gelangenden Materials nur gering sind, da sonst der orientierte Einbau in den Keimkristall unmöglich ist. Außerdem muß beachtet werden, daß die Strömungsgeschwindigkeit des Reaktionsgases so gewählt wird, daß die überschüssige Reaktionsenergie abgeführt wird.
  • PÜr die Verwendung von nach diesem Verfahren hergestelltem Siliciumcarbid in der Halbleitertechnik ist es vielfach notwendig, dotiertes Material zu erhalten. -Zu diesem Zweck wird dem Reaktionsgasgemisch in bekannter Weise Dotierungsmaterial in Form einer gasförmigen Verbindung, vorzugsweise eines Chlorids, zugeführt. Es besteht auch die Mög- lichkeit, dotierte Keimkristalle zu verwenden, die beispielsweise durch Sublimation hergestellt wordeiisind.

Claims (2)

  1. Patentanspräche: 1. Verfahren zum Herstellen einkristalliner Stäbe aus Siliciumcarbid, bei dein ein Gemisch aus gasförmigen Verbindungen der Komponenten in Gegenwart eines Trägergases an einem Siliciumcarbid-Einkristall thermisch zersetzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise die Ausgangsmaterialien im stöchiometrischen Verhältnis in kleinen Mengen kontinuierlich oder schubweise auf die mittels einer Knallgasflamme hocherhitzte Spitze des senkrecht stehenden Keimkristalls aufgebracht werden.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Ausgangsmaterial gasförmige Halogenide der Komponenten, verwendet werden. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Ausgangsmaterial ein Gemisch aus gegebenenfalls halogenierten Silicium-und Kohlenwasserstoffen in stöchiometrischen Mengen oder siliciumorganische Verbindungen mit einer Si-C-Bindung im Molekül verwendet werden. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Trägergas Wasserstoff verwendet wird. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Anteil der carbidbildenden Verbindungen im Ausgangsgemisch im Bereich von 0,01 bis 60 Volumprozent gehalten wird. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Siliciumcarbidabscheidung bei Drücken in einem Bereich von 0,1 bis 10 at durchgeführt wird. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Spitze des Keimkristalls auf eine Temperatur von 1450 bis 1700' C erhitzt wird. 8. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn eichnet, daß dem Reaktionsgas Dotierungsstoffe in Form - sförmiger Verbindungen zugefügt werden. In Betracht gezogene Druckschriften: Belgische Patentschrift Nr. 629 139.
DES89788A 1964-03-02 1964-03-02 Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid Pending DE1228235B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES89788A DE1228235B (de) 1964-03-02 1964-03-02 Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES89788A DE1228235B (de) 1964-03-02 1964-03-02 Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1228235B true DE1228235B (de) 1966-11-10

Family

ID=7515349

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES89788A Pending DE1228235B (de) 1964-03-02 1964-03-02 Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1228235B (de)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE629139A (de) * 1962-03-06

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE629139A (de) * 1962-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2364989C3 (de) Verfahren zur Herstellung von Schichten aus Siliciumcarbid auf einem Siliciumsubstrat
EP0800592B1 (de) Verfahren zum herstellen von mit bor dotiertem, einkristallinem siliciumcarbid
DE69300877T2 (de) Wachstum von SiC-Einkristall.
DE1444514B2 (de) Verfahren zur herstellung eines epitaktisch auf ein einkristallines substrat aufgewachsenen filmes aus halbleiterverbindungen
DE2061189B2 (de) Verfahren zur kontinuierlichen Herstellung von Alkoxysilanen oder Alkoxypolysiloxanen
DE3687529T2 (de) Herstellung von graphiteinlagerungsverbindung und gedopte carbonfilme.
DE1138481B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen durch einkristalline Abscheidung von Halbleitermaterial aus der Gasphase
DE69419425T2 (de) Verfahren zur herstellung von siliziumkarbid-filmen unter verwendung von einzelnen siliziumorganischen verbindungen
DE3516589C2 (de)
DE69031859T2 (de) Nitridprodukte und Methode und Apparat zu ihrer Herstellung
DE1264442B (de) Verfahren zum Austausch von Si-gebundenen Wasserstoff- und Chloratomen in Silanen
DE1228235B (de) Verfahren zum Herstellen einkristalliner Staebe aus Siliciumcarbid
DE3241440A1 (de) Verfahren zur herstellung von siliciumnitrid-pulver
DE1184738B (de) Verfahren zur Herstellung von hochreinen Siliciumcarbidkristallen
DE2831816A1 (de) Verfahren zum abscheiden von silicium in feinkristalliner form
DE2950827A1 (de) Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung
DE69107645T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Karbidprodukten.
DE1769605A1 (de) Verfahren zum Herstellen epitaktischer Aufwachsschichten aus Halbleitermaterial fuer elektrische Bauelemente
DE1215665B (de) Verfahren zum Herstellen von hochreinem Siliziumkarbid
DE1247278B (de) Verfahren zum Herstellen von einkristallinen Halbleiterkoerpern durch thermische Zersetzung gasfoermiger Verbindungen
DE1519892A1 (de) Verfahren zum Herstellen von hochreinen kristallinen,insbesondere einkristallinen Materialien
DE1282621B (de) Verfahren zum Herstellen von insbesondere monokristallinem Siliziumkarbid
DE1136315B (de) Verfahren zur Herstellung von Siliciumnitriden
DE2441298C3 (de) Verfahren zum Herstellen weicher hexagonaler Bornitridkristalle
DE1467143A1 (de) Verfahren zum pyrolytischen Abscheiden von kristallinem,vorzugsweise einkristallinem Silicium