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DE1109411B - Interferometer - Google Patents

Interferometer

Info

Publication number
DE1109411B
DE1109411B DEZ5109A DEZ0005109A DE1109411B DE 1109411 B DE1109411 B DE 1109411B DE Z5109 A DEZ5109 A DE Z5109A DE Z0005109 A DEZ0005109 A DE Z0005109A DE 1109411 B DE1109411 B DE 1109411B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semi
interferometer
reflective surface
double
prism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEZ5109A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr-Ing Kurt Raentsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DEZ5109A priority Critical patent/DE1109411B/de
Publication of DE1109411B publication Critical patent/DE1109411B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G01B11/007Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

  • Interferometer Es ist eine Interferenzeinrichtung zur Messung von Längen, Geradführungen, Lichtbrechungen u. dgl. bekannt, bei der zur Erzeugung und Wiedervereinigung zweier kohärenter Strahlenbündel ein Doppelprisma dient, das aus zwei nach Größe und Winkeln völlig gleichen Einzelprismen besteht, die längs je einer ihrer einander entsprechenden Flächen zwangsfrei zusammengefügt, z. B. verkittet sind, wobei die eine der beiden in Kontakt stehenden Flächen halb durchlässig verspiegelt ist. Die weiteren Prismenflächen, an denen die kohärenten Strahlen nach Spiegelung bzw. Durchtritt durch die halbdurchlässige Spiegelfläche reflektiert werden, treffen auf eine relativ zur Teilungsfläche neigbare reflektierende Fläche auf, wobei das Doppelprisma mit seinen spiegelnden Flächen so gegenüber der neigbaren Fläche angeordnet wird, daß die geteilten Strahlenbündel gegenläufig im Interferometer umlaufen. Ein derart ausgebildetes Interferometer eignet sich ganz besonders für die genaue Einstellung eines Winkels, nämlich beispielsweise des Winkels, den die relativ neigbare Fläche mit der Teilungs- und Wiedervereinigungsfläche einschließt. Bei jeder Neigung einer dieser beiden Flächen relativ zur andern ändert sich nämlich die Anzahl der Interferenzstreifen im Gesichtsfeld, so daß das Maß für die Neigung durch die Interferenzstreifenzahl ausdrückbar ist.
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine weitere Ausgestaltung dieser Anordnung und ist dadurch gekennzeichnet, daß ein die Strahlen ablenkender Doppelkeil im Strahlengange unmittelbar vor der neigbaren reflektierenden Fläche angeordnet oder diese Fläche selbst in zwei gegeneinander geneigte Flächen unterteilt ist, so daß bei symmetrischer Lage der Fläche bzw. Flächenhälften gegenüber der halbdurchlässigen Fläche des Doppelprismas die beiden im Interferenzbild nebeneinander entstehenden Streifensysteme gleichen Streifenabstand zeigen, bei geneigter Lage dagegen das eine Streifensystem unterschiedlichen Streifenabstand gegenüber dem anderen Streifensystem aufweist, wobei dann der Gangunterschied ein Maß für die relative Neigung der reflektierenden Fläche bzw. Flächenhälften ist.
  • Es wird also z. B. die Anzahl der Interferenzstreifen in der einen Gesichtsfeldhälfte vermehrt, in der andern dagegen vermindert. So kann man einmal die Nullstellung stets einwandfrei im Interferenzstreifenbild erkennen, zum andern kann man aber auch aus der Differenz der Streifenzahlen in beiden Bildern die Größe der Neigungsabweichung aus der Nullstellung erkennen und schließlich auch das Vorzeichen dieser Abweichung, je nachdem nämlich im einen Bild die Interferenzstreifenzahl größer ist als im andern oder umgekehrt.
  • Es ist eine Anordnung bekannt, bei der zur Schichtdickenmessung ein von der zu messenden Schicht erzeugtes Interferenzstreifensystem sich über das gesamte Interferenzbild erstreckt. Diesem System ist ein zweites Streifensystem, erzeugt von einer Kompensatorplatte, so überlagert, daß das 2. System nur die Hälfte des gesamten Bildes erfüllt. Durch Verdrehung der Kompensatorplatte lassen sich beide Streifensysteme zur Deckung bringen.
  • Demgegenüber liegt der Vorteil der erfindungsgemäßen Anordnung darin, daß sich bei einer Winkeländerung der Abstand der Streifen in beiden Hälften gegenläufig ändert, während in der Nullstellung die Streifensysteme hinsichtlich Lage und Abstand in beiden Teilen übereinstimmen. Dabei ist der absolute Abstand der Streifen nicht wesentlich; der Streifenabstand ist lediglich ein Maß für die Größe des Neigungswinkels der beiden Flächen gegenüber der halbdurchlässigen Fläche.
  • Der Doppelkeil ist deshalb in der Nähe der relativ neigbaren reflektierenden Fläche angeordnet, weil beim erfindungsgemäßen Interferometer die Interferenzerscheinung in der Ebene der relativ neigbaren reflektierenden Fläche liegt. Sie kann daher mit der Trennkante des Doppelkeils, welche der Trennlinie der Interferenzstreifenbilder entspricht, nur dann gleich scharf gesehen werden, wenn die Trennkante nahe genug an der relativ neigbaren Fläche anordbar ist.
  • Ist eine derartige Anordnung nicht möglich, so unterteilt man in einer anderen Ausbildungsform der Erfindung die relativ neigbare reflektierende Fläche in zwei Teile mit verschiedener Neigung zum einfallenden Licht. Eine derart unterteilte reflektierende Fläche leistet dasselbe wie der Doppelkeil, mit dem Vorteil, daß hier die Trennkante zusammen mit dem Interferenzstreifenbild stets scharf einstellbar ist.
  • In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele des Erfindungsgegenstandes dargestellt, und zwar zeigt Fig. 1 das Interferometer des Hauptpatents mit einem erfindungsgemäß eingeschalteten Doppelkeil, Fig. 2 das Interferometer des Hauptpatents mit einer unterteilten reflektierenden Fläche, Fig. 3 und 4 das Gesichtsfeld der Interferometer nach den Fig. 1 und 2 bei verschiedenen Neigungen der reflektierenden Fläche.
  • In Fig. 1 sind zwei Prismen 1 und 2 von Parallelepipedform verkittet, und in der Kitttläche ist eine halbdurchlässige Spiegelschicht 3 angeordnet. Unterhalb der Prismen ist eine reflektierende Fläche 4 vorgesehen. Ein Lichtstrahl 5, welcher auf die halbdurchlässige Spiegelschicht 3 trifft, wird in die Anteile 6' und 6" zerlegt. Die Teilstrahlen 6' und 6" werden an Außenflächen 7 und 8 der Prismen 1 und 2 sowie an der Spiegelfläche 4 reflektiert, so daß sie in entgegengesetztem Sinn im Interferometer umlaufen. In der halbdurchlässigen Spiegelschicht interferieren die Teilstrahlen und verlassen als vereinigte Lichtstrahlen 9 das Interferometer. Liegt die Spiegelfläche 4 genau senkrecht zur halbdurchlässigen Spiegelfläche 3, so weisen die Teilstrahlen 6' und 6" bei ihrer Wiedervereinigung in der halbdurchlässigen Spiegelfläche 3 keinerlei Gangunterschiede auf. Es entstehen deshalb Interferenzstreifen von unendlicher Breite. Bringt man nun in dieser Anordnung zwischen die Prismen 1 und 2 und die Spiegelfläche 4 einen aus zwei gleichen, jedoch um 180 gegeneinander gedrehten Keilen 10 und 11 zusammengesetzten Doppelkeil, dann werden Keilinterferenzen, wie in Fig. 3 dargestellt, erzeugt.
  • Die Trennlinie 12 in Fig. 3 entspricht dabei der Berührungskante der Keile 10 und 11. Das über der Trennlinie 12 liegende Interferenzstreifenbild 11' sei dabei vom Keil 11 erzeugt und das unter der Trennlinie 12 liegende Bild 10' vom Keil 10.
  • Wird jetzt die Spiegelfläche 4 etwas geneigt, z. B. in die gestrichelt gezeichnete Lage 4', dann treffen die Teilstrahlen 6' und 6" auf die Spiegelfläche 4' unter verschiedenen Winkeln, d. h., es wird eine zusätzliche Keilwirkung erzeugt, welche bewirkt, daß die Interferenzstreifen im Bild 11' auseinander- und im Bild 10' zusammenrücken (Fig. 4). Umgekehrt kann der Spiegel 4 aus einer geneigten Lage leicht und äußerst genau in eine Lage genau senkrecht zur halbdurchlässigen Spiegelschicht 3 gebracht werden, wenn er nur so weit gedreht wird, daß die Interferenzstreifenbilder 10' und 11" zur Koinzidenz kommen.
  • Die beschriebene Anordnung erfordert einen so großen Abstand der reflektierenden Fläche 4 von den Prismen 1 und 2, daß der Doppelkeil 10 und 11 zwischen diesen Teilen anordbar ist.
  • Fig.2 zeigt eine Ausführungsform, in der dieser Abstand verhältnismäßig klein gehalten werden kann.
  • An Stelle des Doppelkeiles 10 und 11 der Fig. 1 ist hier der Spiegel 4 in zwei Teile 14 und 15 mit verschiedener Neigung unterteilt. Die Neigungswinkel sind so gewählt, daß sie in der Nullstellung des Spiegels 4 bezogen auf die Ebene der halbdurchlässigen Spiegeischicht 3 gleich groß, jedoch von entgegengesetztem Vorzeichen, sind. Es entstehen dadurch in der Nullstellung des Spiegels 4 wieder Keilinterferenzen, wie sie in Fig. 3 dargestellt sind. Wird der Spiegel 4 in der Zeichenebene entgegengesetzt dem Uhrzeigersinn etwas gekippt, dann wird der Neigungswinkel der Spiegelfläche 15 kleiner und der der Spiegelfläche 14 größer. Es entsteht deshalb ein Interferenzstreifenbild wie in Fig. 4, d. h., im Bildfeld 10' liegen die Interferenzstreifen enger zusammen als im Bildfeld 11', wobei den an der Fläche 15 entstehenden Interferenzen das Bild 11' und den an der Fläche 14 entstehenden das Bild 10' zugeordnet ist. Im Gegensatz zur Ausführung nach Fig. 1 kann hier die Trennkante zwischen den Spiegelflächen 14 und 15 zusammen mit den Interferenzen stets scharf in das Gesichtsfeld abgebildet werden, weil die Interferenzerscheinungen in der Spiegelebene des Spiegels 4 entstehen.

Claims (2)

  1. PATENTANSPRUCH: Interferometereinrichtung zur genauen Einstellung und Messung von Winkeleinstellungen mit einem Doppelprisma aus zwei gleichen Einzelprismen, die längs je einer ihrer einander entsprechenden Flächen zwangsfrei zusammengefügt sind, wobei die eine der beiden in Kontakt stehenden Flächen halbdurchlässig verspiegelt ist, und bei der die kohärenten Strahlen nach Spiegelung an der bzw. Durchtritt durch die halbdurchlässige(n) Spiegelfläche an den weiteren Prismenflächen reflektiert werden und auf eine relativ zu der halbdurchlässigen Fläche neigbare reflektierende Fläche auftreffen, wobei die geteilten Strahlenbündel gegenläufig im Interferometer umlaufen, dadurch gekennzeichnet, daß ein die Strahlen ablenkender Doppelkeil im Strahlengange unmittelbar vor der neigbaren reflektierenden Fläche angeordnet oder diese Fläche selbst in zwei gegeneinander geneigte Flächen unterteilt ist, so daß bei symmetrischer Lage der Fläche bzw. Flächenhälften gegenüber der halbdurchlässigen Fläche des Doppelprismas die beiden im Interferenzbild nebeneinander entstehenden Streifensysteme gleichen Streifen abstand zeigen, bei geneigter Lage dagegen das eine Streifensystem unterschiedlichen Streifenabstand gegenüber dem anderen Streifensystem aufweist, wobei dann der Gangunterschied ein Maß für die relative Neigung der reflektierenden Fläche bzw. Flächenhälften ist.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 595 211; USA.-Patentschrift Nr. 2338 981; Grimsehl-Tomaschek, »Lehrbuch der Physik«, 1942, Bd.
  2. 2, S. 755.
DEZ5109A 1955-08-27 1955-08-27 Interferometer Pending DE1109411B (de)

Priority Applications (1)

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DEZ5109A DE1109411B (de) 1955-08-27 1955-08-27 Interferometer

Applications Claiming Priority (1)

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DEZ5109A DE1109411B (de) 1955-08-27 1955-08-27 Interferometer

Publications (1)

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DE1109411B true DE1109411B (de) 1961-06-22

Family

ID=7619345

Family Applications (1)

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DEZ5109A Pending DE1109411B (de) 1955-08-27 1955-08-27 Interferometer

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DE (1) DE1109411B (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1147051B (de) * 1956-09-12 1963-04-11 Gen Precision Inc Optisches Interferometer
DE1200012B (de) * 1963-07-23 1965-09-02 Akad Wissenschaften Ddr Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator
DE1255952B (de) * 1964-08-13 1967-12-07 Ibm Interferometeranordnung zur Einstellung des Interferenzlinienabstandes
DE2904836A1 (de) * 1979-02-08 1980-08-14 Max Planck Gesellschaft Interferometrische einrichtung zur messung der wellenlaenge optischer strahlung
WO1996031752A1 (en) * 1995-04-01 1996-10-10 Renishaw Plc Apparatus for the measurement of angular displacement

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE595211C (de) * 1931-03-04 1934-04-12 Wilhelm Koesters Dr Interferenzdoppelprisma fuer Messzwecke
US2338981A (en) * 1939-06-06 1944-01-11 Straub Harald Method and device for measuring the thickness of light transmitting layers

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