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DE1200012B - Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator - Google Patents

Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator

Info

Publication number
DE1200012B
DE1200012B DED42067A DED0042067A DE1200012B DE 1200012 B DE1200012 B DE 1200012B DE D42067 A DED42067 A DE D42067A DE D0042067 A DED0042067 A DE D0042067A DE 1200012 B DE1200012 B DE 1200012B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mirror
littrow
setting
arrangement
monochromator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DED42067A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Med Wolfgang Guttmann
Hans Becker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Berlin Brandenburg Academy of Sciences and Humanities
Original Assignee
Berlin Brandenburg Academy of Sciences and Humanities
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Berlin Brandenburg Academy of Sciences and Humanities filed Critical Berlin Brandenburg Academy of Sciences and Humanities
Priority to DED42067A priority Critical patent/DE1200012B/de
Publication of DE1200012B publication Critical patent/DE1200012B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

  • Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator mit Hilfe einer Michelson-Interferometeranordnung, in deren telezentrischem Strahlenbündel eine Teilerplatte angeordnet ist, so daß ein Strahlenteil von der Teilerplatte auf einen Vergleichsplanspiegel und von dort in Richtung einer Beobachtungsoptik reflektiert wird, während der andere Strahlenteil durch die Teilerplatte hindurchfällt.
  • Bei der Anwendung von Monochromatoren, insbesondere Spiegelmonochromatoren, müssen zur Einstellung der gewünschten Wellenlänge ein oder mehrere Littrow-Spiegel, die an einer Achse drehbar gelagert sind, in eine genau definierte Winkellage gebracht werden. Die Reproduzierbarkeit der Wellenlängeneinstellung des Monochromators hängt unter anderem von der Genauigkeit und Reproduzierbarkeit dieser Spiegelschwenkung ab.
  • Es ist bekannt, diese Spiegelschwenkungen durch Präzisionsgetriebe zu bewerkstelligen, wobei die Stellung eines Antriebselementes des Getriebes ein Maß für die erreichte Winkellage ist. Im Getriebe vorhandene Fehler und Spiele beeinträchtigen die gewünschte Genauigkeit. Zur Vermeidung dieses Nachteils gibt es Monochromatoren, die mit Lichtzeigereinrichtung versehen sind. Dabei wird die Lage des für die Wellenlängeneinstellung kritischen Spiegels durch die Ablenkung eines Lichtzeigers entweder unmittelbar durch den besagten Spiegel oder durch einen an gleicher Achse befestigten Spiegel ermittelt. Getriebefehler bleiben bei dieser Anordnung unwirksam. Die erreichbare Präzision der Winkeleinstellung wird durch die Empfindlichkeit der Lichtzeiger bestimmt. Diese Empfindlichkeit ist abhängig von der Länge des Lichtzeigers und der Anzahl der Reflexionen an dem Drehspiegel. Eine Erhöhung der Lichtzeigerlänge bedingt meist eine sperrige Bauweise oder ist nur durch ebenfalls komplizierte »Multiflex«-Anordnungen zu erreichen.
  • Die Enöhung der Anzahl der Reflexionen am Drehspiegel erhöht zwar den Ablenkungsgrad pro Rcflexion um den Wert Zwei, bedingt dann allerdings sehr enge Lichtzeigerstrahlenbündel und ist deshalb nicht gleichzeitig mittels eines Lichtzeigerstrahlenganges bei mehreren Drehspiegeln anwendbar.
  • Es ist weiterhin zur genauen Einstellung von Winkeln eine Michelson-Interferometeranordnung bekannt. Bei dieser ist ein die Strahlen ablenkender Doppelkeil im Strahlengange unmittelbar vor einer neigbaren reflektierenden Fläche angeordnet oder diese Fläche ist selbst in zwei gegeneinander geneigte Flächen unterteilt. Bei symmetrischer Lage der Fläche bzw. Flächenhälften gegenüber der halbdurchlässigen Fläche des Doppelprismas zeigen die beiden im Interferenzbild nebeneinander entstehenden Streifensysteme gleichen Streifenabstand. Bei geneigter Lage weist dagegen das eine Streifensystem unterschiedlichen Streifenabstand gegenüber dem anderen Streifensystem auf, wobei dann der Gangunterschied ein Maß für die relative Neigung der reflektierenden Fläche bzw. Flächenhälfte ist.
  • Diese Anordnung hat den Nachteil, daß zur Bestimmung eines Winkels jeweils das gesamte Strahlenbündel benötigt wird, so daß es nicht möglich ist, mit einem Strahlenbündel mehrere voneinander unabhängige Spiegel auf bestimmte Winkel einzustellen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, für die Einstellung mehrerer vorher bestimmbarer und sich wiederholender Winkellagen eines Littrow-Spiegels eine Michelson-Interferometeranordnung zu verwenden.
  • Erfindungsgemäß wird das dadurch erreicht, daß in dem durch die Teilerplatte des Michelson-Interferometers hindurchfallenden Strahlenteil mehrere, diesen Strahlenteil nur teilweise bedeckende, zueinander geneigte, mit dem zugehörigen einstellbaren Littrow-Spiegel fest verbundene Spiegelstreifen angeordnet sind, so daß die Interferenzstreifensysteme sämtlicher Spiegelstreifen beobachtbar sind und eine Einstellung vorbestimmter Lagen des Littrow-Spiegels ermöglicht wird, die bei symmetrischer Figur des Interferenzstreifensystems erreicht werden.
  • Durch einen Feintrieb, der bezüglich Reproduzierbarkeit keine Präzision aufzuweisen braucht, kann die Achse des Monochromatorspiegels geschwenkt werden. Das Auftreten der Interferenzerscheinung bei den verschiedenen Spiegelstreifen zeigt dann jeweils mit der bekanntermaßen hohen Empfindlichkeit derselben an, daß die richtige Drehlage des Monochromatorspiegels vorliegt. Durch den Interferenzstrahlengang werden sämtliche Spiegelstreifen gleichzeitig übersehen, so daß eine Zuordnung jedes Streifens zu den fest eingestellten Werten der gewünschten Wellenlängen ohne Schwierigkeiten gegeben ist.
  • Zur leichteren Erkennbarkeit der Symmetriestellung der Interferenzfigur können die Spiegelstreifen sehr schwach sphärisch deformiert sein. Dadurch erscheinen die Interferenzstreifen nicht als gerade Linien wie bei der Verwendung von ebenen Spiegeln, sondern als gekrümmte Linien. Bei unsymmetrischer Einstellung ist an der Krümmung der Interferenzstreifen die notwendige Verstellrichtung sofort erkennbar.
  • Mit der erfindungsgemäßen Anordnung können die Monochromatorspiegel sehr schnell und genau reproduzierbar auf bestimmte Winkel eingestellt werden.
  • Die Anordnung ist jedoch nicht auf die Einstellung von Monochromatorspiegeln bzw. allgemein auf die Einstellung beliebiger Spiegel beschränkt. Vielmehr kann sie auch für die Winkeleinstellung anderer Elemente, z. B. Prismen, verwendet werden.
  • In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Die Achsen 1 und 2 ragen mit ihrem oberen Ende (oberhalb der Zeichenebene) in den Strahlengangraum eines Monochromators. Im Falle eines Zweikanalmonochromators mit geteiltem Littrow-Spiegel befindet sich an jedem Achsende ein Littrow-Halbspiegel, der mit der erwähnten Präzision zur Einstellung der Wellenlänge reproduzierbar in eine bestimmte Winkellage gebracht werden muß.
  • Die anderen Enden der Achsen 1 und 2 befinden sich in einem dem Strahlengangraum benachbarten Raum, welcher den der Erfindung entsprechenden Interferenzstrahlengang enthält. Dieser ist in der Skizze dargestellt. An einer oder an beiden Achsen 1 und 2 sind mehrere Spiegelstreifen 3, 4 und 5, 6 so befestigt, daß durch eine geeignete Justierfassung ihre Winkellage zu den Achsen bzw. Littrow-Spiegeln fein einstellbarist, jedoch nach derJustierung ihre Lage unveränderlich fixiert werden kann. Diese Einstellwinkel entsprechen den experimentell aufgefundenen und gewünschten Wellenlängeneinstellungen des Monochromators. Die reproduzierbare Ausrichtung jedes beliebigen Spiegelstreifens geschieht durch den daneben angeordneten Michelson-Interferenzstrahlengang.
  • Dieser besteht aus einer Lichtquelle7, die über eine Linse 8 eine Eintrittsblende 9 beleuchtet. Eine Kollimatorlinse 10 erzeugt ein telezentrisches Bündel von einem solchen Durchmesser, daß sämtliche in Frage kommenden Spiegelstreifen davon erfaßt werden. An einer Teilerplatteil wird das Bündel aufgespalten, wobei ein Anteil durch einen Vergleichsplanspiegel 12 in Richtung einer Beobachtungsoptik 13 mit einer Austrittsblende 14 reflexiert wird.
  • Das durch die Teilerplatte 11 hindurchtretende Bündel wird von den Spiegelstreifen 3, 4 und 5, 6 reflexiert und gelangt nach einer Reflexion an der Teilerplattell ebenfalls in die Beobachtungsoptik.
  • Kommen durch eine entsprechende Winkellage der Spiegel streifen die Wellennormalen beider Teilstrahlenbündel zur Deckung, entsteht die erwähnte Interferenzstreifenfigur als Kriterium für die gewünschte Einstellung.
  • Zur Erläuterung der Wendungen »symmetrische« und »unsymmetrische« Lage der Interferenzfigur dienen die Fig. 2 und 3.
  • Aus der F i g. 2 ist ersichtlich, was unter symmetrischer Lage der Interferenzfigur bei nicht deformierten Spiegelstreifen zu verstehen ist.
  • Der die Nullage kennzeichnende Interferenzstreifen hat bekanntlich eine größere Breite als die auf beiden Seiten angrenzenden Streifen. Befindet sich dieser breiteste Streifen in der Mitte des Spiegels, dann hat die Interferenzfigur eine symmetrische Lage.
  • In der F i g. 3 ist die symmetrische und unsymmetrische Lage der Interferenzfigur auf schwach gekrümmten Spiegeln dargestellt.

Claims (1)

  1. Patentanspruch: Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator unter Verwendung einer Michelson-Interferometeranordnung, in deren telezentrischem Strahlenbündel eine Teilerplatte angeordnet ist, so daß ein Strahlenteil von der Teilerplatte auf einen Vergleichsplanspiegel und von dort in Richtung einer Beobachtungsoptik reflektiert wird, während der andere Strahlenteil durch die Teilerplatte hindurchfällt, dadurch gekennzeichnet, daß in diesem Strahlenteil mehrere, diesen Strahlenteil nur teilweise bedeckende, zueinander geneigte, mit dem zugehörigen einzustellenden Littrow-Spiegel fest verbundene Spiegelstreifen (3, 4, 5, 6) angeordnet sind, so daß die Interferenzstreifensysteme sämtlicher Spiegelstreifen beobachtbar sind, und eine Einstellung vorbestimmter Lagen des Littrow-Spiegels ermöglicht wird, die bei symmetrischer Figur des Interferenzstreifensystems erreicht werden.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 109 411, 1 114 340; Kohlrausch, Praktische Physik, Bd. 1, 1950, S. 422 bis 427.
DED42067A 1963-07-23 1963-07-23 Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator Pending DE1200012B (de)

Priority Applications (1)

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DED42067A DE1200012B (de) 1963-07-23 1963-07-23 Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator

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DED42067A DE1200012B (de) 1963-07-23 1963-07-23 Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1200012B true DE1200012B (de) 1965-09-02

Family

ID=7046548

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DED42067A Pending DE1200012B (de) 1963-07-23 1963-07-23 Anordnung zur Einstellung von Littrow-Spiegeln bei einem Monochromator

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DE (1) DE1200012B (de)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1109411B (de) * 1955-08-27 1961-06-22 Zeiss Carl Fa Interferometer
DE1114340B (de) * 1955-07-01 1961-09-28 Zeiss Carl Fa Zweistrahlinterferometer zu Messzwecken

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1114340B (de) * 1955-07-01 1961-09-28 Zeiss Carl Fa Zweistrahlinterferometer zu Messzwecken
DE1109411B (de) * 1955-08-27 1961-06-22 Zeiss Carl Fa Interferometer

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