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DE1192848B - Interferometer mit zwei gegenlaeufig verschieb-baren Interferenzstreifensystemen - Google Patents

Interferometer mit zwei gegenlaeufig verschieb-baren Interferenzstreifensystemen

Info

Publication number
DE1192848B
DE1192848B DEJ22032A DEJ0022032A DE1192848B DE 1192848 B DE1192848 B DE 1192848B DE J22032 A DEJ22032 A DE J22032A DE J0022032 A DEJ0022032 A DE J0022032A DE 1192848 B DE1192848 B DE 1192848B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
interferometer
chambers
interference fringe
opposite directions
fringe systems
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEJ22032A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Wolfgang Nebe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DEJ22032A priority Critical patent/DE1192848B/de
Publication of DE1192848B publication Critical patent/DE1192848B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Interferometer mit zwei gegenläufig verschiebbaren lnterferenzstreifensystemen Die Erfindung bezieht sich auf ein Interferometer mit zwei gegenläufig verschiebbaren Interferenzstreifensystemen, das im Strahlengang eine Doppelschlitzblende zur Erzeugung zweier nebeneinanderliegender Lichtbündel, eine aus vier Kammern bestehende Küvette und einen Kompensator enthält.
  • Das Interferometer ist zur Messung der Brechungszahlen von homogenen Substanzen bestimmt.
  • Es sind bereits Interferometer nach Michelson bekannt, die zur Messung von aus Längenunterschieden sich ableitenden Gangunterschieden zwei gegenläufig verschiebbare Interferenzstreifensysteme benutzen. Diese Interferometer sind jedoch nur zur Messung von Längendifferenzen geeignet und wegen ihrer langen, sich in verschiedene Richtungen erstreckenden Lichtwege sehr empfindlich gegen äußere, Meßfehler verursachende Einflüsse.
  • Zur gleich großen gegenläufigen Verschiebung zweier Meßmarkensysteme oder ihrer Bilder, im vorliegenden Fall zweier Interferenzstreifensysteme, werden verschiedene Teile des Abbildungsstrahlenganges eines Interferometers mittels seitenvertauschender optischer Glieder (planparalleler Glasplatten, Keile, Dove-Prismen) unterschiedlich beeinflußt. Da die optischen Glieder nicht den gesamten Abbildungsstrahlengang beeinflussen, rufen Ungenauigkeiten bei ihrer Herstellung und ihrer Justierung im Interferometer Meßfehler hervor. Darüber hinaus bewirkt die Anordnung eines derartigen optischen Gliedes im divergenten Strahlengang für den betreffenden Teil des Kollimatorstrahlenganges eine Brennpunktverlagerung, die nur durch zusätzliche Vorkehrungen wieder rückgängig zu machen ist.
  • Es ist auch ein lichtelektrisches Interferometer bekannt, bei dem zur Gewährleistung der objektiven Messung auch von Streifenauswanderungen, die größer als der Streifenabstand sind, eine aus vier Kammern bestehende Küvette vorgesehen ist. Jeweils zwei nebeneinanderliegende Kammern haben die gleiche Länge. Es sind praktisch zwei Interferometer verschiedener Meßgenauigkeit miteinander kombiniert, wobei der Meßbereich des einen ein ganzzahliges Vielfaches des Meßbereichs des anderen Interferometers ist. Die Interferenzstreifensysteme beiderInterferometer sind nicht aufeinander bezogen.
  • Die Koinzidenz der beiden Meßmarkensysteme jedes Interferometers ist im Verlauf der Messung durch die Verschiebung nur eines Meßmarkensystems gegenüber dem anderen, festen Meßmarkensystem durchführbar.
  • Ziel der vorliegenden Erfindung ist ein Interferometer, bei dem die Gegenläufigkeit der Interferenzstreifensysteme ohne die Anwendung seitenvertauschender optischer Glieder gewährleistet ist, dem die von der Fertigung, Anordnung und Justierung dieser Glieder herrührenden Fehlermöglichkeiten nicht anhaften und dem darüber hinaus bei Anwendung eines divergenten Strahlenganges Brennpunktsverlagerungen nicht zu eigen sind. Gemäß der Erfindung ergibt sich ein derartiges Interferometer, wenn die vier Kammern in der optischen Achse des Interferometers zusammenstoßen, jeweils zwei über Kreuz liegende Kammern miteinander verbunden sind und wenn der Kompensator entsprechend den Kammerverbindungen über Kreuz liegend zwei schwenkbare und zwei fest angeordnete, optisch gleiche, durchsichtige Platten aufweist.
  • Die Verbindung der Kammern kann an sich beliebig gestaltet sein. Damit die Küvette und ihr Inhalt jedoch gegen äußere Einflüsse von Temperatur, Druck und Stoß möglichst unempfindlich ist, wird empfohlen, die Verbindung der über Kreuz liegenden Kammern durch das gemeinsame Mittelstück der inneren Kammerwände zu führen.
  • In den F i g. 1 bis 4 der Zeichnung sind zwei Ausführungsbeispiele des Gegenstandes der Erfindung schematisch dargestellt. Die Fig. 1 und 2 zeigen ein Zweistrahlinterferometer im Aufriß und Grundriß.
  • Ein nach dem Autokollimationsprinzip aufgebautes Zweistrahlinterferometer ist in Fig.3 dargestellt.
  • Aus F i g. 4 ist der Aufbau einer vierteiligen Küvette ersichtlich.
  • Nach F i g. 1 und 2 besteht ein Interferometer mit der optischen Achse 0,-0, aus einem Gehäuse 1, einem Kollimator 2 mit einem Objektiv 3, einer linienförmigen Lichtquelle 4 und einer Doppelschlitzblende 5, die zwei zueinander parallele Schlitze 6 und 7 besitzt, sowie einem Fernrohr 8, das ein Objektiv 9 und ein Okular 10 in Form einer Zylinderlinse enthält. Im Gehäuse 1 sind eine Küvette 11 und fünf planparallele Glasplatten 12, 13, 14, 15 und 16 vorgesehen. Die Küvette besteht aus vier Kammern 17, 18, 19 und 20 und ist im Strahlengang des Interferometers so angeordnet, daß zwei der inneren Trennwände 21 parallel und die anderen senkrecht zu den Schlitzen 6 und 7 liegen. Die Trennwände stoßen in der optischen Achse °l-°g zusammen. Die planparallele Glasplatte 12 ist in der Ebene geneigt, die durch die optische Achse und die linienförmige Lichtquelle 4 bestimmt ist und in Fig. 1 mit der Zeichenebene zusammenfällt, und dient zur Ausschaltung des Einflusses der senkrecht zu dieser Ebene liegenden Trennwände der Kammern 17, 19 einerseits und 18, 20 andererseits. Die planparallelen Glasplatten 13 und 14 sind bezüglich der Küvette 11 über Kreuz liegend an einer um eine Achse X,-X, schwenkbaren Welle 22 befestigt, welche in einem am Gehäuse 1 befindlichen Lager 23 gelagert und an der ein Hebel 24 befestigt ist. Eine Mikrometerschraube 25 ist außen am Gehäuse 1 in der Nähe des Fernrohrs 8 angeordnet und bewirkt über den Hebel 24 sowie die Welle 22 die Schwenkung der Glasplatten 13 und 14. Die ebenfalls über Kreuz liegenden planparallelen Glasplatten 15 und 16 sind gerätefest vorgesehen und hinsichtlich ihrer optischen Wirkungen den Glasplatten 13 und 14 völlig gleich. Jeder Kammer der Küvette 11 ist nur eine der beim Gangunterschied Null untereinander parallelen Glasplatten 13 bis 16 zugeordnet.
  • Von einem von der linienförmigen Lichtquelle 4 ausgesendeten, das Kollimatorobjektiv 3 parallelstrahlig verlassenden Lichtstrahlenbündel werden mit Hilfe der Doppelschlitzblende 5 zwei Teillichtbündel ausgesendet, von denen jedes zwei benachbart liegende, mit einem Medium gefüllte Kammern 17, 19 bzw. 18, 20 der Küvette 11 sowie eine schwenkbare Kompensatorplatte 13 bzw. 14 und eine fest angeordnete Kompensatorplatte 15 bzw. 16 durchsetzt. Die die Kammern 19 und 20 durchlaufenden Lichtstrahlen werden von der planparallelen Glasplatte 12 parallel versetzt, derart, daß die vom Objektiv 9 in der Bildebene des Fernrohrs entworfenen Interferenzstreifensysteme unmittelbar nebeneinanderliegen und mit Hilfe des Okulars 10 betrachtet werden können.
  • Beim Gebrauch des Interferometers sind die über Kreuz liegenden Kammern 17 und 20 bzw. 18 und 19 mit gleichen Medien gefüllt. Beispielsweise sind die Kammern 17 und 20 mit dem Vergleichsmittel und die Kammern 18 und 19 mit dem Meßmittel gefüllt. Zur Interferenz gelangen in der Fernrohrbildebene einerseits die die Kammern 17 und 19 und andererseits die die Kammern 18 und 20 durchlaufenden Lichtstrahlen. Die auf diese Weise erzeugten Interferenzstreifensysteme sind mit ihren Minima nullter Ordnung infolge der kreuzweisen Kammerfüllungen entgegengesetzt und um gleiche Beträge verschoben, wobei die Größe der gegenseitigen Verschiebung ein Maß für die Differenz der Brechungszahlen der Medien darstellt. Um die gegenseitige Verschiebung beider Interferenzstreifensysteme rückgängig zu machen und gleichzeitig zu messen, werden die Kompensatorplatten 13 und 14 über die Mikrometerschraube 25, den Hebel 24 und die Welle 22 geschwenkt, bis die Interferenzstreifensysteme sich rückläufig bewegend mit ihren Minima nullter Ordnung koinzidieren.
  • In der in Fig.3 dargestellten optischen Anordnung für ein Interferometer mit der optischen Achse °2-°2 bezeichnet 26 eine Blende mit einem Spalt 27, 28 und 29 zwei optisch gleichartige planparallele Glasplatten, die symmetrisch zur optischen Achse O2.O2 und in der vom Spalt und der optischen Achse gebildeten Ebene geneigt sind, 30 eine vierteilige Küvette, 31 eine Sammellinse, 32 und 33 zwei um eine Achse X2-X2 schwenkbare sowie 34 und 35 zwei gerätefest angeordnete planparallele Glasplatten und 36 einen Spiegel mit zwei symmetrisch zur optischen Achse °°-°2 in der vom Spalt 27 und der optischen Achse gebildeten Ebene geneigte, eben verspiegelte Oberflächen 37 und 38.
  • Die in Fig. 4 gesondert dargestellte Küvette 30 besitzt einen undurchsichtigen, metallischen Mantel 39, zwei Fenster 40 und 41 und vier Trennwände 42, 43, 44 und 45, welche den Küvettenraum in vier Kammern 46, 47, 48 und 49 aufteilen. Jeweils zwei gegenüberliegende Kammern 46 und 48 bzw. 47 und 49 sind durch Öffnungen 50 und 51 im gemeinsamen Mittelstück der Trennwände in der Nähe der Fenster 40 und 41 miteinander verbunden. Den untereinander verbundenen Kammern 46 und 48 bzw. 47 und 49 sind zur Füllung und Entleerung je ein Füllstutzen 52 bzw. 53 und ein Ablaßstutzen 54 bzw. 55 im Mantel der Küvette 30 zugeordnet und an denjenigen Enden der Kammern vorgesehen, welche den sie verbindenden Öffnungen abgelegen sind. Dadurch wird eine schnelle und gleichmäßige Durchspülung der Kammern gewährleistet. Den Kammern 46, 47, 48 und 49 sind entsprechend die optisch gleichartigen, in Nullage einander parallelen Kompensatorplatten 32, 33, 34 und 35 zugeordnet, von denen die Glasplatten 32 und 33 auf einer in Lagern 56 und 57 drehbaren Welle 58 befestigt sind.

Claims (2)

  1. Patentansprüche: 1. Interferometer mit gegenläufig verschiebbaren Interferenzstreifensystemen, das im Strahlengang eine Doppelschlitzblende zur Erzeugung zweier nebeneinanderliegender Lichtbündel, eine aus vier Kammern bestehende Küvette und einen Kompensator enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die vier Kammern (17, 18, 19, 20 bzw. 46, 47, 48, 49) in der optischen Achse (0,-0, bzw. °2-°2) des Interferometers zusammenstoßen, jeweils zwei über Kreuz liegende Kammern (18 und 19, 20 und 17 bzw. 46 und 48, 47 und 49) miteinander verbunden sind und daß derKompensator entsprechend denKammerverbindungen über Kreuz liegend zwei schwenkbare (13 und 14 bzw. 32 und 33) und zwei fest angeordnete (15 und 16 bzw. 34 und 35), optisch gleiche, durchsichtige Platten aufweist.
  2. 2. Interferometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindung der über Kreuz liegenden Kammern durch das gemeinsame Mittelstück der inneren Kammerwände geführt ist. ~~~~~~~ In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 022 032, 1 100 325, 1 075 861, 1 063 829, 1 108943.
DEJ22032A 1962-06-30 1962-06-30 Interferometer mit zwei gegenlaeufig verschieb-baren Interferenzstreifensystemen Pending DE1192848B (de)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1022032B (de) * 1956-02-11 1958-01-02 Zeiss Carl Fa Interferometer zu Messzwecken
DE1063829B (de) * 1956-01-03 1959-08-20 Freiberger Praez Smechanik Veb Optische Einrichtung zur Darstellung der Kurven fuer den Verlauf des Brechungsindex oder des Brechungsindexgradienten in einem geschichteten Medium
DE1075861B (de) * 1960-02-18 Fa Carl Zeiss Heidenheim/Brenz Interferometer
DE1100325B (de) * 1958-12-06 1961-02-23 Zeiss Carl Fa Interferometer
DE1108943B (de) * 1959-05-30 1961-06-15 Jenoptik Jena Gmbh Interferometer

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