DE102008023027B4 - Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum - Google Patents
Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum Download PDFInfo
- Publication number
- DE102008023027B4 DE102008023027B4 DE102008023027A DE102008023027A DE102008023027B4 DE 102008023027 B4 DE102008023027 B4 DE 102008023027B4 DE 102008023027 A DE102008023027 A DE 102008023027A DE 102008023027 A DE102008023027 A DE 102008023027A DE 102008023027 B4 DE102008023027 B4 DE 102008023027B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- box
- electrically insulating
- insulating element
- contraption
- anode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000005266 casting Methods 0.000 claims description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- YKTSYUJCYHOUJP-UHFFFAOYSA-N [O--].[Al+3].[Al+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] Chemical compound [O--].[Al+3].[Al+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] YKTSYUJCYHOUJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 2
- 239000002689 soil Substances 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 2
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000009489 vacuum treatment Methods 0.000 description 2
- 241000093804 Berzelia galpinii Species 0.000 description 1
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 description 1
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000000306 component Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000010410 dusting Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002996 emotional effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002657 fibrous material Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000004382 potting Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3266—Magnetic control means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32532—Electrodes
- H01J37/32541—Shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32532—Electrodes
- H01J37/3255—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/48—Generating plasma using an arc
- H05H1/50—Generating plasma using an arc and using applied magnetic fields, e.g. for focusing or rotating the arc
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
Description
- Die Erfindung betrifft eine Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse, beispielsweise die Abscheidung dünner Schichten auf der Oberfläche eines Substrats oder die Entfernung dünner Schichten von der Oberfläche eines Substrats im Vakuum.
- In den hier betrachteten Prozessen wird zwischen dem zu behandelnden Substrat und einer Gegenelektrode ein Plasma gezündet, dessen positive Ladungsträger durch den sogenannten Sputtereffekt (Abstäuben, d. h. durch Ionenbombardement induziertes Herausschlagen von Atomen aus der Festkörperoberfläche) die oberen Schichten einer Oberfläche (Beschichtungsmaterial oder Verunreinigungen des Substrats) abtragen. Je nach Verfahren kann die Gegenelektrode gegenüber dem Substrat Kathode oder Anode sein. Bei der Abscheidung dünner Schichten auf der Oberfläche eines Substrats wird das zu zerstäubende Material in Form sogenannter Targets bereitgestellt und auf (relatives) Kathodenpotential gelegt, während das Substrat auf (relativem) Anodenpotential liegt. Demgegenüber liegt bei der Entfernung dünner Schichten von der Oberfläche eines Substrats das Substrat auf (relativem) Kathodenpotential, wobei sich das Plasma zwischen dem Substrat und einer auf (relativem) Anodenpotential liegenden Elektrode (häufig als Anodenplatte oder Anodenkasten ausgeführt) ausbildet. Zur Unterstützung der Plasmabildung wie auch zum gezielten Verstärken der Bewegung der im Plasma enthaltenen Ladungsträger (Ionen) auf die abzutragende Oberfläche (Target beim Beschichten bzw. Substrat beim Abtragen) ist auf der dem Plasma abgewandten Seite dieser Oberfläche eine Magneteinrichtung vorgesehen, die die Bewegung der Ladungsträger beeinflusst und zur Erhöhung der Ladungsträgerdichte führt.
- In
ist eine Vorrichtung zur Entfernung dünner Schichten von der Oberfläche eines Substrats im Vakuum beschrieben, bei der eine Hohlanode durch eine Kammerwand einer Vakuumkammer in deren Inneres ragt. Die Hohlanode ist umgeben von einer Dunkelfeldabschirmung, die ebenfalls durch die Kammerwand ragt.DD 292 124 A5 - Um unerwünschte Entladungen zu verhindern, bei denen die Rückseite der Gegenelektrode ebenfalls zerstäubt wird oder/und eine Verunreinigung der aufgestäubten Schicht verursacht wird, verwendet man eine geerdete Abschirmung, welche die vor der Zerstäubung zu bewahrenden Teile umschließt. Diese sogenannte Dunkelfeldabschirmung muss dabei so dicht an den abzuschirmenden Teilen liegen, dass ihr Abstand geringer ist als die zum Brennen der Entladung nötige Länge des Dunkelraums vor der Gegenelektrode.
- Problematisch dabei ist, dass auch zwischen der Gegenelektrode und der Dunkelfeldabschirmung Entladungen auftreten können, die den Prozess gefährden. Diese werden meist durch metallischen Flitter verursacht, der beispielsweise aus abgetragenen Partikeln des Targets oder des Substrats besteht, die in den Zwischenraum zwischen der Gegenelektrode und der Dunkelfeldabschirmung gelangt sind. Um derartige Störungen des ablaufenden Prozesses zu verhindern, wird bei einer Vorrichtung zur Entfernung dünner Schichten von der Oberfläche eines Substrats im Vakuum, die eine Transporteinrichtung für Substrate sowie eine Elektrodenanordnung mit einer auf relativem Anodenpotential liegenden, zumindest teilweise parallel zu der zu behandelnden Oberfläche des Substrats angeordneten Gegenelektrode, einer Dunkelfeldabschirmung und einem zwischen der Gegenelektrode und der Dunkelfeldabschirmung angeordneten elektrisch isolierenden Element umfasst vorgeschlagen, dass die Elektrodenanordnung vollständig in der Vorrichtung angeordnet ist, die Dunkelfeldabschirmung die vom Substrat abgewandte Seite der Gegenelektrode vollständig überdeckt und das elektrisch isolierende Element zumindest den parallel zur Oberfläche des Substrats angeordneten Teil der Gegenelektrode vollständig überdeckt.
- Wenn die Gegenelektrode ein Anodenkasten mit einem Boden und den Boden umschließenden Seitenwänden ist, kann weiter vorgesehen sein, dass die Dunkelfeldabschirmung ein die Außenseite des Anodenkastens umschließender Abschirmungskasten mit einem Boden und den Boden umschließenden Seitenwänden ist, wobei die Böden von Anodenkasten und Abschirmungskasten sowie die Seitenwände von Anodenkasten und Abschirmungskasten zueinander beabstandet sind.
- Dabei kann sich das elektrisch isolierende Element vollflächig zumindest zwischen den Böden des Anodenkastens und des Abschirmungskastens erstrecken. Auf diese Weise wird verhindert, dass in den Zwischenraum gelangender Flitter zu einer Entladung zwischen den beiden Böden führt, insbesondere wenn der Anodenkasten innerhalb der Prozessanlage mit nach oben gerichteter Öffnung angeordnet ist. Das elektrisch isolierende Element kann dabei als Einlage ausgeführt sein oder so, dass es den gesamten Zwischenraum zwischen den Böden des Anodenkastens und des Abschirmungskastens ausfüllt.
- Weiter kann vorgesehen sein, dass sich das elektrisch isolierende Element vollflächig zwischen den Böden und Seitenwänden des Anodenkastens und des Abschirmungskastens erstreckt. Auch hierbei kann das elektrisch isolierende Element eine Einlage sein, deren Dicke geringer ist als der Abstand zwischen den Seitenwänden und den Böden oder so aus geführt sein, dass es den gesamten Zwischenraum zwischen dem Anodenkasten und dem Abschirmungskasten ausfüllt.
- Das elektrisch isolierende Element kann aus Keramikpapier oder Keramikvlies gefertigt sein. Diese Materialien basieren auf keramischen Fasern unterschiedlicher Länge und können wie gewöhnliches Papier oder textiles Vlies geschnitten und gefaltet werden. Dieses Fasermaterial ist extrem beständig gegen Alterung, ist temperaturschockresistent und hat eine geringe thermische Leitfähigkeit sowie eine hohe Reißfestigkeit und reversible Formtreue. Es ist beständig in reduzierenden und oxidierenden Gasatmosphären, gegen die meisten Chemikalien und Lösemittel, sowie gegen viele Metallschmelzen, für Einsatztemperaturen bis 1260°C–1650°C geeignet und in verschiedenen Dicken lieferbar.
- Eine andere Möglichkeit besteht darin, das elektrisch isolierende Element aus einer keramischen Gussmasse zu fertigen, die zur Material- und Gewichtsersparnis aufgeschäumt sein kann. Derartige Gussmassen werden meist aus zwei Komponenten, Pulver und Binder, geliefert und härten chemisch aus.
- Geeignete Grundstoffe für das elektrisch isolierende Element sind beispielsweise Aluminiumoxid, Aluminiumsilikat, Zirkonoxid, Bornitrid, Siliziumdioxid.
- Nachfolgend wird die beschriebene Elektrodenanordnung anhand von Ausführungsbeispielen und zugehörigen Zeichnungen naher erläutert. Dabei zeigen
-
1 eine Elektrodenanordnung für das Trockenätzen, und -
2 eine Vorrichtung zur magnetfeldgeführten plasmagestützten Behandlung von Substraten im Vakuum. - In
1 ist ein Anodenkasten1 dargestellt, der zum Trockenätzen eines Substrats verwendet wird. Der Anodenkasten1 weist einen Boden11 und den Boden11 umschließende Seitenwände12 sowie einen Anschluss13 an eine Stromversorgung15 auf. Die Außenseite des Anodenkastens1 ist von einem Abschirmungskasten2 umhüllt, der ebenfalls einen Boden21 sowie den Boden21 umschließende Seitenwände22 aufweist. Im Boden21 des Abschirmungskastens2 ist eine Öffnung vorgesehen, durch die ein Isolationsrohr14 vom Boden11 des Anodenkastens1 zur Rückseite des Abschirmungskastens2 führt. Durch das Isolationsrohr14 ist die Verbindungsleitung13 von der Stromversorgung15 zum Boden11 des Anodenkastens1 geführt. Der Abschirmungskasten2 ist geerdet. - Auf dem Boden
21 des Abschirmungskastens2 ist ein elektrisch isolierendes Element3 angeordnet, das als Einlage aus Keramikpapier ausgeführt ist. Das elektrisch isolierende Element3 erstreckt sich über die gesamte Fläche des Bodens21 des Abschirmungskastens2 und verhindert so, dass ein in den Zwischenraum zwischen Anodenkasten1 und Abschirmungskasten2 gelangender Flitter zu einer Entladung zwischen den beiden Böden11 ,21 führt. -
2 zeigt einen Ausschnitt einer Vorrichtung4 zur Vakuumbehandlung eines Substrats5 . Im Ausführungsbeispiel ist das Substrat5 ein Metallband, dessen Oberfläche innerhalb der Vorrichtung4 durch Trockenätzen gereinigt werden soll. - Dazu wird das Substrat
5 auf einer Transporteinrichtung41 durch die Vorrichtung4 bewegt. Oberhalb des Substrats5 ist eine Elektrodenanordnung vorgesehen, die einen Anodenkasten1 sowie einen den Anodenkasten1 umschließenden Abschirmungskasten2 umfasst, die mit einem Abstand zueinander angeordnet sind. In den Raum zwischen dem Substrat5 und dem Anodenkasten1 wird zur Durchführung des Prozesses ein plasmabildendes Gas eingelassen. - Der Abschirmungskasten
2 und das Substrat5 sind geerdet und der Anodenkasten1 liegt auf positivem Hochspannungspotential, so dass der Anodenkasten1 als Anode und das Substrat5 als Kathode der Plasmaentladung6 wirkt. Unterhalb des Substrats5 ist eine Magneteinrichtung42 angeordnet, die die Bildung der Plasmaentladung befördert und die darin enthaltenen positiven Ionen des plasmabildenden Gases auf die dem Anodenkasten1 zugewandte Oberfläche des Substrats5 lenkt. - Der Zwischenraum zwischen dem Anodenkasten
1 und dem Abschirmungskasten2 ist vollständig durch ein elektrisch isolierendes Element3 ausgefüllt, das aus einer aufgeschäumten keramischen Vergussmasse besteht. Dadurch werden Entladungen zwischen dem Anodenkasten1 und dem aufgrund des bestehenden Potentialunterschieds wie eine Kathode wirkenden, geerdeten Abschirmungskasten2 wirksam verhindert. - Bezugszeichenliste
-
- 1
- Gegenelektrode, Anodenkasten
- 11
- Boden
- 12
- Seitenwand
- 13
- Verbindungsleitung
- 14
- Isolationsrohr
- 15
- Stromversorgung
- 2
- Dunkelfeldabschirmung, Abschirmungskasten
- 21
- Boden
- 22
- Seitenwand
- 3
- elektrisch isolierendes Element
- 4
- Vorrichtung zur Vakuumbehandlung
- 41
- Transporteinrichtung
- 42
- Magneteinrichtung
- 5
- Substrat
- 6
- Plasmaentladung
Claims (10)
- Vorrichtung (
4 ) zur Entfernung dünner Schichten von der Oberfläche eines Substrats (5 ) im Vakuum, umfassend eine Transporteinrichtung (41 ) für Substrate (5 ) sowie eine Elektrodenanordnung mit einer auf relativem Anodenpotential liegenden, zumindest teilweise parallel zu der zu behandelnden Oberfläche des Substrats (5 ) angeordneten Gegenelektrode (1 ), einer Dunkelfeldabschirmung (2 ) und einem zwischen der Gegenelektrode (1 ) und der Dunkelfeldabschirmung (2 ) angeordneten elektrisch isolierenden Element (3 ), dadurch gekennzeichnet, dass die Elektrodenanordnung vollständig in der Vorrichtung (4 ) angeordnet ist, die Dunkelfeldabschirmung (2 ) die vom Substrat (5 ) abgewandte Seite der Gegenelektrode (1 ) vollständig überdeckt und das elektrisch isolierende Element (3 ) zumindest den parallel zur Oberfläche des Substrats (5 ) angeordneten Teil der Gegenelektrode (1 ) vollständig überdeckt. - Vorrichtung (
4 ) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Gegenelektrode (1 ) ein Anodenkasten mit einem Boden (11 ) und den Boden (11 ) umschließenden Seitenwänden (12 ) ist und die Dunkelfeldabschirmung (2 ) ein die Außenseite des Anodenkastens (1 ) umschließender Abschirmungskasten mit einem Boden (21 ) und den Boden (21 ) umschließenden Seitenwänden (22 ) ist, wobei die Böden (11 ,21 ) von Anodenkasten (1 ) und Abschirmungskasten (2 ) sowie die Seitenwände (12 ,22 ) von Anodenkasten (1 ) und Abschirmungskasten (2 ) zueinander beabstandet sind. - Vorrichtung (
4 ) nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass sich das elektrisch isolierende Element (3 ) vollflächig zumindest zwischen den Böden (11 ,21 ) des Anodenkastens (1 ) und des Abschirmungskastens (2 ) erstreckt. - Vorrichtung (
4 ) nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrisch isolierende Element (3 ) den gesamten Zwischenraum zwischen den Böden (11 ,21 ) des Anodenkastens (1 ) und des Abschirmungskastens (2 ) ausfüllt. - Vorrichtung (
4 ) nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass sich das elektrisch isolierende Element (3 ) vollflächig zwischen den Böden (11 ,21 ) und Seitenwänden (12 ,22 ) des Anodenkastens (1 ) und des Abschirmungskastens (2 ) erstreckt. - Vorrichtung (
4 ) nach einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrisch isolierende Element (3 ) den gesamten Zwischenraum zwischen dem Anodenkasten (1 ) und dem Abschirmungskasten (2 ) ausfüllt. - Vorrichtung (
4 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrisch isolierende Element (3 ) aus Keramikpapier oder Keramikvlies gefertigt ist. - Vorrichtung (
4 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrisch isolierende Element (3 ) aus einer keramischen Gussmasse gefertigt ist. - Vorrichtung (
4 ) nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die keramische Gussmasse aufgeschäumt ist. - Vorrichtung (
4 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrisch isolierende Element (3 ) überwiegend aus einem oder mehreren der folgenden Stoffe besteht: Aluminiumoxid, Aluminiumsilikat, Zirkonoxid, Bornitrid, Siliziumdioxid.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102008023027A DE102008023027B4 (de) | 2008-05-09 | 2008-05-09 | Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102008023027A DE102008023027B4 (de) | 2008-05-09 | 2008-05-09 | Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE102008023027A1 DE102008023027A1 (de) | 2009-11-19 |
| DE102008023027B4 true DE102008023027B4 (de) | 2012-06-28 |
Family
ID=41180336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE102008023027A Expired - Fee Related DE102008023027B4 (de) | 2008-05-09 | 2008-05-09 | Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE102008023027B4 (de) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PT2251454E (pt) | 2009-05-13 | 2014-10-01 | Sio2 Medical Products Inc | Revestimento e inspeção de vaso |
| US9458536B2 (en) | 2009-07-02 | 2016-10-04 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD coating methods for capped syringes, cartridges and other articles |
| US11624115B2 (en) | 2010-05-12 | 2023-04-11 | Sio2 Medical Products, Inc. | Syringe with PECVD lubrication |
| US9878101B2 (en) | 2010-11-12 | 2018-01-30 | Sio2 Medical Products, Inc. | Cyclic olefin polymer vessels and vessel coating methods |
| US9272095B2 (en) | 2011-04-01 | 2016-03-01 | Sio2 Medical Products, Inc. | Vessels, contact surfaces, and coating and inspection apparatus and methods |
| WO2013071138A1 (en) | 2011-11-11 | 2013-05-16 | Sio2 Medical Products, Inc. | PASSIVATION, pH PROTECTIVE OR LUBRICITY COATING FOR PHARMACEUTICAL PACKAGE, COATING PROCESS AND APPARATUS |
| US11116695B2 (en) | 2011-11-11 | 2021-09-14 | Sio2 Medical Products, Inc. | Blood sample collection tube |
| EP2846755A1 (de) | 2012-05-09 | 2015-03-18 | SiO2 Medical Products, Inc. | Saccharidschutzschicht für eine arzneimittelverpackung |
| US20150297800A1 (en) | 2012-07-03 | 2015-10-22 | Sio2 Medical Products, Inc. | SiOx BARRIER FOR PHARMACEUTICAL PACKAGE AND COATING PROCESS |
| US9664626B2 (en) | 2012-11-01 | 2017-05-30 | Sio2 Medical Products, Inc. | Coating inspection method |
| DE102012110927A1 (de) | 2012-11-14 | 2014-05-15 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur plasmagestützten Vakuumbehandlung von Substraten |
| EP2920567B1 (de) | 2012-11-16 | 2020-08-19 | SiO2 Medical Products, Inc. | Verfahren und vorrichtung zur erkennung von schnellen sperrbeschichtungsintegritätseigenschaften |
| CN105705676B (zh) | 2012-11-30 | 2018-09-07 | Sio2医药产品公司 | 控制在医用注射器、药筒等上的pecvd沉积的均匀性 |
| US9764093B2 (en) | 2012-11-30 | 2017-09-19 | Sio2 Medical Products, Inc. | Controlling the uniformity of PECVD deposition |
| WO2014134577A1 (en) | 2013-03-01 | 2014-09-04 | Sio2 Medical Products, Inc. | Plasma or cvd pre-treatment for lubricated pharmaceutical package, coating process and apparatus |
| US9937099B2 (en) | 2013-03-11 | 2018-04-10 | Sio2 Medical Products, Inc. | Trilayer coated pharmaceutical packaging with low oxygen transmission rate |
| KR102167557B1 (ko) | 2013-03-11 | 2020-10-20 | 에스아이오2 메디컬 프로덕츠, 인크. | 코팅된 패키징 |
| US9863042B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-09 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD lubricity vessel coating, coating process and apparatus providing different power levels in two phases |
| EP3122917B1 (de) | 2014-03-28 | 2020-05-06 | SiO2 Medical Products, Inc. | Antistatische beschichtungen für kunststoffbehälter |
| CA2995225C (en) | 2015-08-18 | 2023-08-29 | Sio2 Medical Products, Inc. | Pharmaceutical and other packaging with low oxygen transmission rate |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4169031A (en) * | 1978-01-13 | 1979-09-25 | Polyohm, Inc. | Magnetron sputter cathode assembly |
| US4422896A (en) * | 1982-01-26 | 1983-12-27 | Materials Research Corporation | Magnetically enhanced plasma process and apparatus |
| DE3738845A1 (de) * | 1987-11-16 | 1989-05-24 | Leybold Ag | Zerstaeubungskatode nach dem magnetronprinzip |
| DD292124A5 (de) * | 1990-02-08 | 1991-07-18 | Veb Elektromat Dresden,De | Einrichtung zum reinigen von werkstueckoberflaechen durch katodenzerstaeubung |
| DE4235064A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-21 | Leybold Ag | Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung |
| DE4336830A1 (de) * | 1993-10-28 | 1995-05-04 | Leybold Ag | Plasma-Zerstäubungsanlage mit Mikrowellenunterstützung |
| JPH08167594A (ja) * | 1994-12-15 | 1996-06-25 | Nissin Electric Co Ltd | プラズマ処理装置 |
-
2008
- 2008-05-09 DE DE102008023027A patent/DE102008023027B4/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4169031A (en) * | 1978-01-13 | 1979-09-25 | Polyohm, Inc. | Magnetron sputter cathode assembly |
| US4422896A (en) * | 1982-01-26 | 1983-12-27 | Materials Research Corporation | Magnetically enhanced plasma process and apparatus |
| DE3738845A1 (de) * | 1987-11-16 | 1989-05-24 | Leybold Ag | Zerstaeubungskatode nach dem magnetronprinzip |
| DD292124A5 (de) * | 1990-02-08 | 1991-07-18 | Veb Elektromat Dresden,De | Einrichtung zum reinigen von werkstueckoberflaechen durch katodenzerstaeubung |
| DE4235064A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-21 | Leybold Ag | Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung |
| DE4336830A1 (de) * | 1993-10-28 | 1995-05-04 | Leybold Ag | Plasma-Zerstäubungsanlage mit Mikrowellenunterstützung |
| JPH08167594A (ja) * | 1994-12-15 | 1996-06-25 | Nissin Electric Co Ltd | プラズマ処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE102008023027A1 (de) | 2009-11-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102008023027B4 (de) | Elektrodenanordnung für magnetfeldgeführte plasmagestützte Prozesse im Vakuum | |
| DE69509591T2 (de) | Kathodenzerstäubung, Bevorzugt von Isolatoren auf leitenden Targets | |
| DE4117518C2 (de) | Vorrichtung zum Sputtern mit bewegtem, insbesondere rotierendem Target | |
| EP0467046A2 (de) | Aetz- oder Beschichtungsanlagen | |
| EP3247817A1 (de) | Vakuumkammer mit besonderer gestaltung zur erhöhung der wärmeabführung | |
| DE69715962T2 (de) | Plasma Behandlung Anlage und Behandlung-Methode | |
| DE112009003766T5 (de) | Sputter-Vorrichtung und Sputter-Verfahren | |
| CH668565A5 (de) | Verfahren und anordnung zum zerstaeuben eines materials mittels hochfrequenz. | |
| WO2010003476A1 (de) | Beschichtungsverfahren und vorrichtung mittels einer plasmagestützen chemischen reaktion | |
| DE102013107659B4 (de) | Plasmachemische Beschichtungsvorrichtung | |
| EP0007115B1 (de) | Bauteil aus metallischem Werkstoff mit aufladungsgefährdeter Oberfläche und Verwendung hierfür | |
| DE3241391A1 (de) | Hochfrequenz-aetztisch mit elektrisch vorgespanntem einfassungteil | |
| DE102007004760A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Beschichten von plattenförmigen oder bandförmigen metallischen Substraten | |
| DE10322696B3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur plasmagestützten Behandlung von vorgebbaren Oberflächenbereichen eines Substrates | |
| DE69110394T2 (de) | Verfahren zum Verringen von Teilchenkontamination beim Zerstäuben. | |
| DE29800950U1 (de) | Plasmarektor mit Prallströmung zur Oberflächenbehandlung | |
| DE102009048341A1 (de) | Substratträger für Sputterbeschichtungsanlage | |
| DE102008023025B4 (de) | Tiegelanordnung für thermische Beschichtungsverfahren | |
| EP3665315B1 (de) | Anordnung zur beschichtung von substratoberflächen mittels elektrischer lichtbogenentladung | |
| DE102015117845A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur Beschichtung eines Substrats | |
| DE102008050196A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Abscheiden einer Gradientenschicht | |
| WO2006108547A1 (de) | Vorrichtung zur plasmabehandlung und /oder zur beschichtung von werkstücken | |
| DE102010007516A1 (de) | Großflächige Kathode für Plasmaprozesse mit hohem Ionisierungsgrad | |
| DE102015104615A1 (de) | Magnetronanordnung | |
| DE102014110835A1 (de) | Vorrichtung zum Bedampfen eines Substrates innerhalb einer Vakuumkammer |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H05H0001340000 Ipc: H05H0001240000 |
|
| R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H05H0001340000 Ipc: H05H0001240000 Effective date: 20111128 |
|
| R016 | Response to examination communication | ||
| R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
| R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20120929 |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: PATENTANWAELTE LIPPERT, STACHOW & PARTNER, DE |
|
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: VON ARDENNE GMBH, DE Free format text: FORMER OWNER: VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH, 01324 DRESDEN, DE Effective date: 20140918 Owner name: VON ARDENNE ASSET GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH, 01324 DRESDEN, DE Effective date: 20140918 |
|
| R082 | Change of representative |
Representative=s name: PATENTANWAELTE LIPPERT, STACHOW & PARTNER, DE Effective date: 20140918 Representative=s name: LIPPERT STACHOW PATENTANWAELTE RECHTSANWAELTE , DE Effective date: 20140918 |
|
| R082 | Change of representative | ||
| R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: VON ARDENNE ASSET GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: VON ARDENNE GMBH, 01324 DRESDEN, DE |
|
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |