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DE102009048341A1 - Substratträger für Sputterbeschichtungsanlage - Google Patents

Substratträger für Sputterbeschichtungsanlage Download PDF

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Michael Huhn
Erwin Zschieschang
Hubertus Von Der Waydbrink
Götz Teschner
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Abstract

Ein Substratträger zur Halterung von Substraten in vertikalen Sputteranlagen ist erfindungsgemäß auf seiner Substrataufnahmeseite gegenüber einem Plasma in der Beschichtungskammer durch eine Verblendung verdeckt, wobei die Verblendung den Substratträger unter Freilassung der zu beschichtenden Fläche des Substrates abdeckt, und wobei die Verblendung aus einem Material aus derselben Klasse Isolator, Halbleiter oder Leiter wie das Substrat besteht. Damit gelingt es, den Einfluss der Position und der Geometrie des Substratträgers auf die Schichtstöchiometrie und die Schichtdickenverteilung zu minimieren.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen Substratträger für eine Sputterbeschichtungsanlage. Üblicherweise werden Substratträger bei vertikalen Sputterbeschichtungsanlagen zur Aufnahme und Halterung von Substraten eingesetzt, weshalb die Erfindung insbesondere einen Substratträger für eine vertikale Sputterbeschichtungsanlage betrifft. Die Erfindung betrifft jedoch auch horizontale Sputterbeschichtungsanlagen, sofern dort Substratträger zum Einsatz gelangen.
  • Kathodenzerstäubungs-(Sputter-)Verfahren kommen in vielfältigen Anwendungen zur Abscheidung dünner Schichten zum Einsatz. Dabei wird ein Plasma genutzt, um ein Targetmaterial durch Beschuss mit Ionen abzutragen und auf einem gegenüberliegenden Substrat abzuscheiden. Dieses Plasma, im Weiteren auch Beschichtungsplasma genannt, wird dabei von einer Beschichtungsquelle erzeugt. Das zur Plasmaerzeugung genutzte Prozessgas liefert dabei die zur Zerstäubung des Targetmaterials notwendigen Ladungsträger (Ionen).
  • In vertikalen Beschichtungsanlagen für großflächige Beschichtungen werden die zu beschichtenden Substrate, beispielsweise Glas-, Kunststoff- oder Glaskeramiksubstrate, in einer Sputterbeschichtungskammer senkrecht oder geringfügig zur Senkrechten geneigt an dem Plasma vorbei geführt und dabei beschichtet. Dafür ist ein Substratträger erforderlich, der die Aufgabe hat, das Substrat zu haltern, und der mittels eines Transportsystems, durch die Kammer bewegt wird.
  • Ein solcher Substratträger wird aus Gründen einer kostengünstigen Fertigung und einfachen Handhabbarkeit zum Einspannen des Substrates üblicherweise aus Metall hergestellt.
  • Da zu den Rändern eines Beschichtungsplasmas hin die erzielbare Schichtdicke abnimmt, wird die Größe der Beschichtungsquellen, die das Beschichtungsplasma erzeugen, im Allgemeinen derart bemessen, dass sich das Plasma über die Ränder des Substrates hinaus erstreckt, um auf dem Substrat eine einheitliche Schichtdicke zu erzielen. Damit ist das Beschichtungsplasma auch vor dem das Substrat umgebenden Substratträger vorhanden.
  • Es hat sich nun erwiesen, dass das metallische Material des Substratträgers die Homogenität des Beschichtungsplasmas stören kann, was sich wiederum nachteilig auf die Gleichmäßigkeit der erzielbaren Schichtdicke auswirken kann.
  • Insbesondere hat sich gezeigt, dass bei der Beschichtung von dielektrischen Substraten wie Glas, Kunststoff oder Glaskeramik Dichteinhomogenitäten im Plasma an den Rändern des Substrates auftreten, die sich auf eine unterschiedliche Wechselwirkung des metallischen Materials des Substratträgers und des dielektrischen Substratmaterials mit dem Beschichtungsplasma zurückführen lassen. Diese Störungen gleichen sich langsamer aus, als die Substrate an dem Plasma vorbeigefahren werden, wodurch es zu unzureichenden Schichtdicken in den Randbereichen des Substrates kommt.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, einen Substratträger zur Halterung von Substraten in vertikalen Sputteranlagen aufzuzeigen, mit welchem der Einfluss der Position und der Geometrie des Substratträgers auf die Schichtstöchiometrie und die Schichtdickenverteilung minimiert werden kann.
  • Die Erfindung schlägt einen Substratträger für eine Sputterbeschichtungsanlage, insbesondere für eine vertikale Sputterbeschichtungsanlage vor, der ein zu beschichtendes Substrat aufnimmt und haltert und der durch eine Sputterbeschichtungskammer gefahren wird. Das Substratmaterial kann einer der Klassen Isolator, Halbleiter und Leiter zugeordnet werden. Der erfindungsgemäße Substratträger ist nun dadurch gekennzeichnet, dass er auf seiner Substrataufnahmeseite durch eine Verblendung gegenüber einem Plasma in der Beschichtungskammer verdeckt ist, wobei die Verblendung den Substratträger unter Freilassung der zu beschichtenden Fläche des Substrates abdeckt. Die erfindungsgemäße Aufgabe wird bereits durch eine Verblendung gelöst, die aus einem Material aus derselben Klasse Isolator, Halbleiter oder Leiter wie das Substrat besteht.
  • Die elektrischen Eigenschaften eines Materials können durch eine komplexe dielektrische Konstante oder genauer dielektrische Funktion (wegen deren Frequenzabhängigkeit) beschrieben werden. Der reelle Teil spiegelt dann die Polarisierbarkeit (relative Permittivität) wider, der Imaginärteil die (dielektrischen) Verluste, verursacht durch die endliche Leitfähigkeit des Materials, also einen von Null verschiedenen spezifischen Widerstand, d. h. bei Stromfluss wird dem elektrischen Feld Energie entzogen und in Wärme umgesetzt. Diese Verluste beeinflussen dann natürlich wieder das tatsächlich wirkende elektrische Feld. Bekanntermaßen lassen sich Materialien bezüglich ihrer elektrischen Eigenschaften grob in die Klassen Isolator, Halbleiter und Leiter/Metalle einordnen. Die Verblendung gemäß der Erfindung sollte wenigstens in dieser Grobeinteilung mit dem Substratmaterial identisch sein.
  • Die Frequenzabhängigkeit der dielektrischen Funktion von Substratmaterial und Verblendungsmaterial sollte qualitativ ähnlich sein, denn auch im Falle von Mittelfrequenzplasmen (z. B. Doppelmagnetron im Mittelfrequenz-Wechselspannungsbetrieb), die nicht zu ”weit” vom Gleichspannungsfall entfernt sind, können bei bestimmten Sputterprozessen (z. B. im Falle des reaktiven Sputterns von SiO2) sehr hochfrequente Plasmaschwingungen nicht unbedeutenden Ausmaßes auftreten. Selbstredend ist dies natürlich bei RF-Magnetronentladungen mit Frequenzen von beispielsweise 13 MHz zu beachten. Diese qualitative Ähnlichkeit der Frequenzabhängigkeit der dielektrischen Funktion von Substratmaterial und Verblendungsmaterial ist bereits gegeben, wenn das Verblendungsmaterial wie angegeben aus einem Material derselben Klasse Isolator, Halbleiter oder Leiter/Metall wie das Substratmaterial besteht.
  • Die relative Permittivität von gebräuchlichen dielektrischen Beschichtungssubstraten wie Glas, Glaskeramik oder verschiedenen Kunststoffen liegt im Bereich von ungefähr 2 bis ungefähr 16. Ein deutlicher Vorteil der Erfindung gegenüber einer Anordnung bestehend aus dielektrischem Substrat und unverkleidetem metallischem Träger wird bereits dann erzielt, wenn der Träger mit einem in seinen dielektrischen Eigenschaften mit dem Substratmaterial vergleichbaren Material verblendet wird, also beispielsweise ein Glassubstrat mit einer Glaskeramikblende oder umgekehrt.
  • Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform weicht die relative Permittivität des Materials der Verblendung unter den Umgebungsbedingungen des Beschichtungsprozesses, d. h. solchen Bedingungen wie Temperatur, Druck, Frequenz, um höchstens das zweifache von der relativen Permittivität des Substratmaterials ab und/oder die spezifische elektrische Leitfähigkeit des Materials der Verblendung weicht um höchstens zwei Größenordnungen von der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit des Substratmaterials ab. Handelt es sich bei Substrat- und Verblendungsmaterial um Isolatoren, so ist für diese die relative Permittivität der Materialien zu betrachten. Handelt es sich bei Substrat- und Verblendungsmaterial um elektrisch leitende Materialien, so ist für diese hingegen die Betrachtung der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit relevant. Fallen sowohl Substratals auch Verblendungsmaterial in die Klasse der Halbleiter, so sind sowohl die relative Permittivität als auch die spezifische elektrische Leitfähigkeit des Substratmaterials zu betrachten.
  • Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Erfindung liegt die relative Permittivität der Verblendelemente im Bereich von plus/minus 10% der relativen Permittivität des Substrates, was bedeutet, dass als Verblendelemente im Wesentlichen das gleiche Material wie das Substratmaterial verwendet wird. Im praktischen Einsatz müsste gegebenenfalls ein Kompromiss zwischen der erzielbaren Schichthomogenität und dem Aufwand einer Bevorratung von Verblendelementen aus sämtlichen potentiell als Substratmaterial eingesetzten Materialien gefunden werden.
  • Die Verblendung kann einstückig in Form eines Rahmens ausgeführt sein oder kann aus mehreren aneinandergrenzend angeordneten Verblendelementen bestehen.
  • Das/die Verblendelement(e) ist/sind mithilfe von Befestigungsmitteln lösbar an dem Substratträger befestigt, so dass sie austauschbar sind. Vorzugsweise werden Dübel als Befestigungsmittel verwendet.
  • Gemäß einer Ausführungsform kann der Substratträger als Hinterstützungsplatte ausgebildet sein, und die Verblendung kann derart ausgebildet sein, dass sie das Substrat an zumindest einem Rand überkragt und dadurch an dem Substratträger hält, so dass sie außerdem als Spannelement für das Substrat fungiert.
  • Entsprechend einer weiteren Ausführungsform kann der Substratträger als Spannrahmen für das Substrat ausgebildet sein, und die Verblendung kann plattenförmig ausgebildet und plasmaseitig an dem Substratträger befestigt sein, ohne das Substrat zu berühren.
  • Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des Substratträgers ist die Größe des Substratträgers und/oder zumindest die Größe der Verblendung des Substratträgers derart bemessen, dass sie mindestens der Abmessung des Plasmas entspricht, so dass die Verblendung den Substratträger gegebenenfalls an dessen Rändern auch überragen kann. Damit kann es gelingen, Beschichtungsmaterial abzufangen und so parasitäre Beschichtungen in der Beschichtungskammer zu vermeiden.
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung sollen nun detailliert anhand der beigefügten Zeichnungen erläutert werden, dabei zeigt:
  • 1 eine Querschnittsansicht eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers in einer Beschichtungskammer einer Vertikalbeschichtungsanlage;
  • 2 eine Ansicht der dem Beschichtungsplasma zugewandten Seite eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung;
  • 3 eine Ansicht der dem Beschichtungsplasma zugewandten Seite eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung;
  • 4 eine Querschnittsansicht eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung;
  • 5 eine Querschnittsansicht eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers gemäß einer vierten Ausführungsform der Erfindung; und
  • 6 eine Querschnittsansicht eines erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers gemäß einer fünften Ausführungsform der Erfindung.
  • In 1 ist eine Sputterbeschichtungskammer 10 als ein Beispiel für eine Beschichtungskammer einer Vertikalbeschichtungsanlage dargestellt, in der die Erfindung zur Anwendung kommen kann. In der Beschichtungskammer ist ein Rohrmagnetron 12 angeordnet, das über außerhalb der Kammer angeordnete Stromzuleitungen 14 und einen Elektromotor 13 betrieben wird.
  • Ein Substratträger 2, der ein Substrat 1 haltert, wird mittels eines Transportsystems 47 durch die Beschichtungskammer 10 bewegt. Der Substratträger ist von der Kammer und dem Transportsystem elektrisch isoliert, befindet sich also auf floatendem Potential. Das Transportsystem umfasst einen unterhalb (6) und einen oberhalb (4) des Substratträgers angeordneten Teil. Zum Beispiel kann der Substratträger auf Rollen 5 verfahren werden, die über einen Elektromotor 7 angetrieben werden und kann an seiner Oberkante magnetisch gehalten werden. Transportsysteme für Substratträger sind bekannt und sind nicht Teil der Erfindung.
  • Ein typischer Abstand von Substratträger zu Plasma beträgt 50–150 mm. Ein typischer bekannter Substratträger weist eine Länge von ungefähr 3,5 m und eine Höhe von ungefähr 2,5 m auf und kann ein Substrat mit Abmessungen von 3,2 × 1,8 m haltern. Diese Abmessungen stellen lediglich ein veranschaulichendes Beispiel dar; keinesfalls ist damit beabsichtigt, die Erfindung auf eine bestimmte Substratoder Substratträgergröße einzuschränken.
  • Der Substratträger 2 ist auf der Schichtabscheidungsseite vollflächig mit einem Material 3 verblendet, das in seinen dielektrischen Eigenschaften dem Substrat 1 vergleichbar ist. Besteht das Substrat 1 beispielsweise aus Glas, so wird eine Verblendung aus Glas oder Glaskeramik bevorzugt. Die Öffnung der Verblendung 3 definiert die zu beschichtende Fläche des Substrates 1.
  • Die 2 bis 6 stellen Prinzipskizzen des erfindungsgemäß verblendeten Substratträgers als Vorderansicht der dem Plasma zugewandten Seite bzw. als Querschnittsansichten dar, in denen die Beschichtungskammer und das Magnetron sowie Details des Transportsystems der Übersichtlichkeit halber weggelassen sind.
  • In 2 ist eine Ausführungsvariante der Verblendung 3 gezeigt, bei der die Verblendung aus vier Verblendelementen besteht. Es sei hier angemerkt, dass die Figuren nicht maßstabsgerecht gezeichnet sind. Bei den oben genannten beispielhaften Abmaßen für Substratträger und Substrat würde der Substratträger das Substrat horizontal an jeder Seite um zirka 150 mm und vertikal um zirka 350 mm überragen, was der Mindestbreite der Verblendelemente entsprechen würde.
  • Die Verblendelemente können mittels Dübeln auf dem Substratträger gehalten werden. Auch eine Befestigung mittels Schrauben oder anderen bekannten Befestigungsmitteln, mit denen die Verblendelemente lösbar und somit austauschbar an dem Substratträger befestigt werden können, kommt in Betracht. Zwei- oder dreiteilige Ausführungsvarianten der Verblendung, mit welcher der Substratträger 2 auf der dem Plasma zugewandten Seite vollflächig umkleidet wird, sind ebenfalls möglich.
  • In 3 ist außerdem eine einstückige Ausführungsvariante der Verblendung 3 dargestellt.
  • Bei der in 4 dargestellten Ausführungsform wird das Substrat allein durch den Substratträger 2a gehalten, der als Spannrahmen ausgebildet ist. Die Verblendelemente 3a sind plattenartig ausgebildet und sind auf der dem Plasma zugewandten Seite des Substratträgers das Substrat umschließend angebracht, ohne dass sie in Berührung mit dem Substrat kommen.
  • In einer weiteren Ausführungsform können die Verblendelemente 3 selbst auch eine Spannfunktion bezüglich des Substrates ausüben. In 5 ist zum Beispiel ein Substratträger 2b dargestellt, der als Hinterstützungsplatte für das Substrat ausgebildet ist. Die Verblendelemente 3b überkragen die Substratränder oder an der Beschichtungsseite und halten damit das Substrat an dem Substratträger. Somit bilden sie einen Teil einer Spannvorrichtung für das Substrat.
  • Bei einer in 6 dargestellten Weiterbildung der erfindungsgemäßen Verblendung weisen die Verblendelemente 3c eine Schulter zum Substrat hin auf, mit der auch eine senkrecht zum Substrat und zum Plasma ausgerichtete Kante des Spannrahmens 2c gegenüber dem Plasma abgedeckt wird.
  • Es sind vielfältige Kombinationen der in den Figuren gezeigten Ausbildungsformen der Anordnungen aus Substratträger und einem oder mehreren Verblendelementen möglich. Wesentlich dabei ist, dass die dem Plasma zugewandte Front, bestehend aus Substratoberfläche und Verblendelementen, im Wesentlichen einheitliche dielektrische Eigenschaften aufweist, so dass durch den Übergang Substrat/Verblendung keine Inhomogenitäten des Plasmas induziert werden.
  • Gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung, die nicht in den Zeichnungen dargestellt ist, sind der Substratträger und/oder die Verblendung derart ausgebildet, dass parasitäre Beschichtungen in der Beschichtungskammer vermieden werden. Der Substratträger wird derart bemessen, dass er Abmessungen aufweist, die mindestens der Ausdehnung des Plasmas entsprechen. Damit kann er außerhalb der Substratränder Beschichtungsmaterial abfangen, das ansonsten die Beschichtungskammer verschmutzen würde.
  • Traditionell werden in den Kammern Blenden verbaut, die bestimmte Bereiche vor Beschichtung schützen, da Beschichtungen in der Beschichtungskammer ungewollte Partikelquellen darstellen können. Diese Blenden selbst werden dann aber auch beschichtet. Durch die erfindungsgemäße Verkleidung des Substratträgers mit einem Material mit ähnlichem dielektrischen Eigenschaften wie denen des Substrates erübrigt sich der Aspekt, den Substratträger so zu bemessen, dass er möglichst wenig über das Substrat übersteht, um das Plasma nicht zu beeinträchtigen. Mit der erfindungsgemäßen Verblendung ist es auch möglich, den Substratträger breiter zu gestalten, als für dessen Halterungsfunktion erforderlich wäre, so dass er zusätzlich die genannte Abschirmfunktion erfüllt. Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel überragt die Verblendung den Substratträger an dessen Außenseiten und kann dadurch Beschichtungsmaterial abfangen, das ansonsten zu parasitären Beschichtungen führen würde.
  • Die Sputteranlage kann eine Magnetron-Beschichtungsanlage darstellen. Das Magnetron ist dann breiter als das Substrat. Der Substratträger hingegen sollte mindestens genauso groß wie das Magnetron sein, um parasitäre Beschichtungen in der Beschichtungskammer zu vermeiden.
  • Der Substratträger kann auch als Trägerband ausgebildet sein, das aufeinander folgende Substrate haltert. In einem solchen Fall steht dem Beschichtungsplasma durch den Substratträgeraufbau mit Verblendungen stets eine in ihren (di-)elektrischen Eigenschaften unveränderte Wand gegenüber. Damit minimiert sich der Einfluss der Position und der Geometrie des Substratträgers auf die Stöchiometrie sowie die Schichtdickenverteilung auf dem Substrat sowohl in Längs- als auch in Querrichtung.
  • Bezugszeichenliste
  • 1
    Substrat
    2, 2a, b, c
    Substratträger
    3, 3a, b, c
    Verblendelemente
    4
    oberer Teil des Transportsystems
    5
    Transportrollen
    6
    unterer Teil des Transportsystems
    7
    Elektromotor
    10
    Beschichtungskammer
    12
    Rohrmagnetron
    13
    Elektromotor
    14
    Stromversorgung

Claims (10)

  1. Substratträger für eine Sputterbeschichtungsanlage, insbesondere für eine vertikale Sputterbeschichtungsanlage, der ein zu beschichtendes Substrat (1) aufnimmt und haltert und der durch eine Sputterbeschichtungskammer (10) gefahren wird, wobei das Substrat aus einem Material besteht, das einer der Klassen Isolator, Halbleiter und Leiter zuzuordnen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratträger auf seiner Substrataufnahmeseite durch eine Verblendung (3) gegenüber einem Plasma in der Beschichtungskammer verdeckt ist, wobei die Verblendung den Substratträger unter Freilassung der zu beschichtenden Fläche des Substrates abdeckt, und dass die Verblendung aus einem Material aus derselben Klasse Isolator, Halbleiter oder Leiter wie das Substrat besteht.
  2. Substratträger nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass unter den Umgebungsbedingungen des Beschichtungsprozesses die relative Permittivität des Materials der Verblendung um höchstens das zweifache von der relativen Permittivität des Substratmaterials abweicht und/oder dass die spezifische elektrische Leitfähigkeit des Materials der Verblendung um höchstens zwei Größenordnungen von der spezifischen elektrischen Leitfähigkeit des Substratmaterials abweicht.
  3. Substratträger nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die relative Permittivität des Materials der Verblendung im Bereich von plus/minus 10% der relativen Permittivität des Substratmaterials (1) liegt.
  4. Substratträger nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Verblendung (3) aus einem einzigen Verblendelement besteht.
  5. Substratträger einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Verblendung (3) aus mehreren Verblendelementen besteht.
  6. Substratträger nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass das/die Verblendelement(e) (3) mithilfe von Befestigungsmitteln lösbar an dem Substratträger befestigt ist/sind.
  7. Substratträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratträger als Hinterstützungsplatte ausgebildet ist und dass die Verblendung (3) außerdem als Spannelement für das Substrat fungiert, indem sie das Substrat an zumindest einem Rand überkragt und an dem Substratträger hält.
  8. Substratträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratträger als Spannrahmen für das Substrat ausgebildet ist und dass die Verblendung (3) plattenförmig ausgebildet ist und an dem Substratträger befestigt ist, ohne das Substrat zu berühren.
  9. Substratträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Größe des Substratträgers mindestens der Abmessung des Plasmas entspricht.
  10. Substratträger nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Verblendung den Substratträger an dessen Außenrändern überragt und dass die Größe der Verblendung mindestens den Abmessungen des Plasmas entspricht.
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