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DE1017799B - Verfahren und Einrichtung zur exakten Laengenmessung - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur exakten Laengenmessung

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DE1017799B
DE1017799B DES43128A DES0043128A DE1017799B DE 1017799 B DE1017799 B DE 1017799B DE S43128 A DES43128 A DE S43128A DE S0043128 A DES0043128 A DE S0043128A DE 1017799 B DE1017799 B DE 1017799B
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DE
Germany
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mirror
interferometer
rays
interfering
optical path
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Pending
Application number
DES43128A
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English (en)
Inventor
Miron Koulikovitch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GENEVOISE INSTR PHYSIQUE
Societe Genevoise dInstruments de Physique
Original Assignee
GENEVOISE INSTR PHYSIQUE
Societe Genevoise dInstruments de Physique
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Description

  • Verfahren und Einrichtung zur exakten Längenmessung Die zur Zeit bekannten Einrichtungen zur exakten Messung von Längen bestehen aus: a) einem Interferometer, dessen einer Spiegel verstellbar ist, b) einer photoelektrischen Zelle, welche die Interferenzstreifen aufnimmt, c) einem Modulator, der aus einem Gitter besteht, das in einer periodischen, senkrecht zu dem auf die photoelektrische Zelle fallenden Strahlenbündel hin-und hergehenden Bewegung gehalten wird und so vor der Zelle angeordnet ist, daß eine kleine Verstellung des Spiegels eine Verschiebung der Interferenzstreifen und damit eine proportionale Änderung des Verhältnisses der Zeitfolgen zwischen zwei aufeinanderfolgenden Maxima oder Minima der von der photoelektrischen Zelle aufgenommen Lichtintensität bewirkt, d) einem elektronischen Gerät, daß die Stromänderungen der photoelektrischen Zelle in Stromimpulse von sehr kurzer Dauer oder Momentimpulse umwandelt, e) einem Meßgerät, das durch diese Impulse gesteuert wird und die Änderung des Verhältnisses der erwähnten Zeitfolgen sichtbar macht. Das Meßgerät gibt also die Ungleichmäßigkeit der Zeitspanne zwischen den Momentimpulsen wieder, die im Laufe einer vollständigen Periode des Hin- und Herganges des Gitters ausgesandt werden, und zwar im Maße der Verstellung des beweglichen Spiegels gegenüber einer gewählten Ausgangsstellung.
  • Diese bekannten Einrichtungen weisen den Nachteil auf, daß die von der photoelektrischen Zelle aufgenommenen Lichtintensitäten schwach sind oder daß die Kontraste zwischen den aufeinanderfolgenden Maxima und Minima der I ichtintensität zu wenig ausgeprägt bleiben, so daß die Möglichkeit, meßbare Interferenzen hervorzurufen, auf die schwachen Laufdifferenzen beschränkt ist und infolgedessen die meßbare Länge, um die man den beweglichen Spiegel verstellen kann, begrenzt ist.
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur exakten Messung von Längen, bei dem man die Verschiebung eines mit dem einen Spiegel eines Interferometers verbundenen Gegenstandes durch Messung der Änderung bestimmt, welche das Zeitintervall erfährt, das durch Verschiebung der Interferenzstreifen und damit durch periodisches Modulieren des von einer photoelektrischen Zelle empfangenen Lichtflusses des Interferenzbildes zwischen zwei aufeinanderfolgenden Maxima oder Minima der empfangenen Lichtintensität hervorgerufen wird.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die obenerwähnten Nachteile zu beheben, d. h. die meßbare ÄVegstrecke des verstellharen Spiegels erheblich zu verlängern, so daß die beschriebene Anordnung die theoretisch bestmögliche Lichtintensität besitzt und die ausgeprägtesten Unterschiede zwischen den Maxima und Minima des die Zelle treffenden Lichtes hervorruft. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Spiegel des Interferometers von monochromatischen Strahlen beleuchtet werden, wobei die relative Lage der Teile dieses Interferometers derart geregelt wird, daß eine im wesentlichen homogene Ausleuchtung des beobachteten Feldes entsteht, wobei die Lichtintensität des Interferenzfeldes durch periodische Änderung des optischen Weges moduliert wird, der von den Strahlen mindestens eines der bei den untereinander interferierenden Strahlenbündel zurückgelegt wird.
  • Die Erfindung betrifft ferner eine Einrichtung zur Durchführung des beschriebenen Verfahrens. Diese besteht aus einem Interferometer und aus einem Gerät zur Modulation der Lichtintensität durch Verschiebung der Interferenzstreifen; sie unterscheidet sich von den bekannten Einrichtungen dadurch, daß die Spiegel des Interferometers zueinander und zu einer Quelle monochromatischer Strahlen von gleichbleibender Lichtstärke so angeordnet sind, daß eine im wesentlichen gleichmäßige Aufhellung des beobachteten Feldes erzielt wird, in dem die Interferenzstreifen auf Unendlich eingestellt werden, und daß gleichzeitig das Modulationsgerät im Strahlengang mindestens des einen der zwei miteinander interferierenden Strahlenbündel angeordnet ist und eine periodische Änderung des optischen Weges hervorruft, der von den Strahlen mindestens des einen der beiden miteinander inteiferierenden Strahlenbündel durchlaufen wird.
  • Die Zeichnung zeigt beispielhaft und schematisch eine schaubildliche Darstellung einer Einrichtung nach der Erfindung.
  • Die dargestellte Ausführungsform besteht aus: a) einem InterferometerI mit einer monochromatischen Lichtquelle S, einer optischen Einrichtung 0, die ein Bündel paralleler Lichtstrahlen ibildet, einer Teilvorrichtung P mit einer halbreflektierenden Fläche c, die in einem Winkel von 450 zur optischen Achse x der optischen Einrichtung 0 steht, und endlich aus zwei Spiegeln m1 und m2, von denen der eine fest ist, während der andere in der Richtung der Achse a des einfallenden Strahlenbündels beweglich ist, b) einem Elektronenaggregat II mit einer photoelektrischen Zelle b und einem Elektronengerät d, das die Änderungen des Stromes der photoelektrischen Zelle in elektrische Kurzimpulse umwandelt, c) aus einem Meßaggregat III mit einem Gleichstrom-Meßgeräti von großer Trägheit und mit einem durch die Stromstöße des Elektronenaggregates gesteuerten Wechselrichter e.
  • Alle diese Geräte und Einzelteile sind bekannt, so daß sie hier nicht im einzelnen erklärt zu werden brauchen.
  • Di.e Teile des Interferometers sind ebenso wie die photoelektrische Zelle b auf einem Gestell 1 montiert, das eine Gleitbahn2 aufweist. Ein Schlitten3, der den beweglichen Spiegel mg trägt und eine Gradeinteilsung r aufweist, kann der Gleitbahn 2 entlang gegenüber einem nicht dargestellten Präzisionsmaßstab verschoben werden. Diese Gradeinteilungr ist auf einer zur Ebene des Spiegels senkrechten, etwa in der Länge mittelebene des Spiegels nt1 liegenden Fläche 6 eingraviert. Diese Fläche 6 und der Spiegel m1 bilden Teile eines auf dem Schlitten 3 verstellbaren Supportes 7, dessen Verschiebungen durch eine mit Magnetostriktion arbeitende Steuervorrichtung MS geschaltet werden. Diese Vorrichtung besteht aus: a) einem Zylinder 8 aus 600/oigem Nickel stahl, dessen Achse parallel zur Achse a des auf den Spiegel mg fallenden Strahlenbündels ist. Das vordere Ende dieses Zylinders 8, mit einer Stirnwand 9 aus Weicheisen (Flußeisen) versehen, ist an dem Schlitten 3 durch Halteorgane 10 starr befestigt. b) einem Kern 11 aus reinem Nickel, der koaxial zum Zylinder 8 angeordnet ist und dessen hinteres Ende in einer Stirnwand 12 aus Flußeisen befestigt ist, di,e ihrerseits fest am hinteren Ende des Zylinders 8 montiert ist. Das vordere Ende des Kernes 11 ragt frei durch die Öffnung 13 in der Wand 9 und trägt den Support 7. c) einer Wicklung 14, die zwischen dem Zylinder 8 und dem Kern 11 liegt und von einem besonders stabilisierten Gleichstrom gespeist wird. Zu diesem Zweck ist in den Stromkreis zur Speisung der Wicklung ein an ein Verteilernetz R angeschlossener Gleichrichter 15 und ein Stabilisator 16 eingeschaltet. Ein Regelwiderstand 17 ermöglicht es, die Stärke des Speisestromes zu verändern.
  • Auf diese Weise bewirkt das magnetische Feld, das der durch die Wicklung 14 fließende Strom hervorruft, eine Streckung des Zylinders 8 und eine Verkürzung des Kernes 11. Andererseits bewirkt die Erwärmung durch den gleichen Strom eine Verlängerung sowohl des Zylinders als auch des Kernes. Es ist leicht zu ersehen, daß sich infolge der Montage des Kernes 11 im Zylinder 8 und des Zylinders 8 am Schlitten 3 die Verlängerungen und Verkürzungen des Zylinders und des Kernes (infolge der magnetischen Striktion) addieren, während sich die Verlängerungen von Zylinder und Kern infolge Erwärmung aufheben. Folglich ist es möglich, durch eine einfache Änderung des Stromes in der Wicklung 14 Verschiebungen des Supportes 7 entlang der Achsen hervorzurufen, deren Amplituden so gering sind als man es wünscht.
  • Die Einrichtung weist noch einen Modulator MO auf, der eine periodische Änderung des Weges bewirkt, den das auf den festen Spiegel m2 auftreffende Strahlenbündel zurücklegt.
  • Dieser Modulator besteht aus einem Glasprisma 18, das mit einem Achsbolzen 19 in biegsamen Membranen 20 gelagert ist. Die Membranen 20 sind am Gestell 1 starr befestigt. Der Achsbolzen 19 ist parallel zur Ebene des Spiegels m., gelagert und wird durch das elektrodynamische Gerät E in einer periodischen hin-und hergehenden Bewegung gehalten. Das Gerät E besteht aus: a) einer beweglichen Spule 21, die von dem Achsbolzen 19 getragen wird und miit Wechselstrom aus dem Netz R gespeist wird, b) einem Gehäuse 22 aus Flußeisen mit einer kreisrunden Öffnung 23, in die ein Kern 24 eingreift, der von einem am Gehäuse 22 festen Dauermagnet 25 getragen wird. Die Spule 21 ist frei in den kreisrunden Spalt zwischen dem Kern 24 und dem Rand der tJffnung 23 eingesetzt.
  • Es ist klar, daß die periodischen Änderungen der Intensität des Stromes, der durch die in das magnetische Feld des Spaltes tauchende Spule 21 fließt, eine periodische hin- und hergehende Bewegung des Glasprismas 18 hervorruft.
  • Die Arbeitsweise der beschriebenen Einrichtung ist folgende: Wenn die Lichtquelle S mit Gleichstrom gespeist wird, tritt aus der Optik 0 ein paralleles Strahlenbündel aus, das durch die halbspiegelnde Fläche c in zwei Zweige geteilt wird, die auf die Spiegel mm und auftreffen. Diese Zweigbündel werden durch die beiden Spiegel zurückgeworfen und durch die halbreflektierende Fläche c zu einem Strahlenbündel vereinigt, das in der Achse 3 von der photoelektrischen Zelle b aufgefangen wird.
  • Wenn nun die Spiegel m1 und m2 einerseits vollkommen eben sind und andererseits vollkommen paralles zu den Fronten der einfallenden Wellen stehen, erhält man eine Ausrichtung der Interferenzstreifen auf Unendlich, so daß die Erhellung der von dem Platz der Zelle b aus beobachteten Felder im wesentlichen homogen ist.
  • Unter diesen Bedingungen wird - angenommen der Modulator MO sei nicht wirksam - eine lineare Verschiebung von konstanter Geschwindigkeit des Spiegels ms eine sinusförmige Variierung der Lichtintensität des beobachteten Feldes und damit derjenigen hervorrufen, welche die photoelektrische Zelle b aufnimmt. Diese Lichtintensität durchläuft also ein Maximum, wenn auf der halbspiegelnden Fläche c eine Phasenübereinstimmung zwischen den beiden Strahlenbündeln eintritt, die von den Spiegeln m1 und m9 reflektiert werden, dagegen ein Minimum bei Opposition der Phasen. Der Ausschlag der Verschiebung des Spiegels mj, der notwendig ist, um von einem Maximum an Lichtstärke zum nächsten Maximum überzugehen, entspricht offensichtlich der halben Länge der von der monochromatischen Lichtquelle ausgehenden Wellen. Tatsächlich ändert sich die Länge des optischein Weges, den der einfallende und reflektierte Strahl zurücklegt, um das Doppelte der Verschiebung des Spiegels.
  • Ist nun der bewegliche Spiegel gl auf eine solche Stellung entlang der Gleitbahn2 eingeregelt, daß bei Mittelstellung des Prismas 18 die von der photoelektrischen Quelle aufgenommene Lichtintensität ein Maximum darstellt, und wird dann der Modulator in Tätigkeit gesetzt, so entsteht eine periodische Änderung der von der Zelle b aufgenommenen Lichtintensität. Durch Ändern der die Spule 21 speisenden Spannung kann dann erreicht werden, daß die von der Zelle b aufgenommene Lichtintensität in den beiden Grenzstellungen des Prismas 18 ein Minimum wird.
  • Unter dieser Voraussetzung sind die aufeinanderfolgenden Zeiten zwischen zwei aufeinanderfolgenden Maxima der Lichtintensität einander gleich. Folglich gibt das elektronische Gerät, das jedesmal, wenn die Lichtint,ensität ein Maximum erreicht, einen elektrischen Impuls aussendet, diese elektrischen Impulse in regelmäßigen Zeitabständen ah. Jeder abgegebene elektische Impuls aber bewirkt eine Richtungsumkehr des Gleichstromes in Meßinstrument i. Die in regelmäßigen Zeitabständen abgegebenen elektrischen Impulse bedingen also, daß der Stromverlauf durch das Meßinstrumenti in der einen und anderen Richtung die gleiche Zeit erfordert. Da nun aber die Trägheit dieses Instrumentes dasselbe hindert, den Stromumkehrungen zu folgen, nehmen seine beweglichen Teile eine Gleichgewichtsstellungsein, die eine von dem Verhältnis der Durchströmzeiten in der einen und der anderen Richtung abhängige Funktion darstellt. Infolgedessen, wenn die Durchströmzeiten gleich sind, ist ihr Verhältnis der Einheit gleich, so daß die beweglichen Teile des Meßinstrumentes in ihrer Ruhestellung, die der Nullzeige auf der Skala des Instrumentes entspricht, stehenbleiben.
  • Andererseits ruft schon die kleinste Verschiebung des Spiegels m, aus seiner oben bestimmten Stellung eine Verschiebung des Maximums der von der photoelektrischen Zelle aufgenommenen Lichtintensität gegenüber der periodischen Bewegung des Glasprismas 18 hervor.
  • Wenn das Maximum der Lichtintensität bei einer unsymmetrischen Stellung des Giasprismas entsteht, sind die aufeinanderfolgenden Zeiten zwischen den Maxima der Lichtintensität während einer vollständigen Schwingung des Glasprismas 18 ungleich. Infolgedessen werden die elektrischen Impulse in ungleichen Zeitabständen abgegeben, und das Meßinstrument i zeigt das Verhältnis zwischen diesen aufeinanderfolgenden Zeitabständen als Funktion der Verschiebung des Spiegels nii an. Es ist klar, daß als Ausführungsvariante der beschriebenen Einrichtung das elektronische Gerät einen elektrischen Impuls jedesmal dann abgeben könnte, wenn die von der Zelle b aufgenommene Lichtintensität periodisch einen äußersten Maximal- oder Minimalwert erreicht.
  • Auf Grund der durchgeführten Versuche konnte festgestellt werden, daß es mit Hilfe der beschriebenen Einrichtung möglich ist, ein Maximum oder Minimum an Helligkeit und demzufolge eine genaue Stellung des Spiegels m1 mit einer Präzision von t/zooo und selbst '/loooo der halben Wellenlänge zu bestimmen, vorausgesetzt, daß das Licht rein monochromatisch ist und die optischen Flächen vollkommen eben sind.
  • Die Ersetzung eines Interferenzstreifens durch einen anderen im Laufe der Verschiebung des Spiegels nil ist also mit äußerster Genauigkeit dank der Wiedererscheinung der elektrischen Impulse feststellbar, die in Intervallen regelmäßiger Zeitabstände, d. h. gleicher oder symmetrischer Situationen, abgegeben werden.
  • Diese Regelmäßigkeit oder Symmetrie kann dazu benutzt werden, ein elektrisches Zählgerät C zu betätigen, das also die Anzahl der Interferenzstreifen (also der halben Wellenlängen) anzeigt, die zwischen zwei bestimmten Stellungen des Spiegels m, aufeinander gefolgt sind.
  • Das Zählwerk wird jedesmal um eine Einheit weitergeschaltet, wenn die von dem elektronischen Gerät J abgegebenen Impulse zeitlich gleiche Abstände haben.
  • Dabei genügt es, den von dem elektronischen Gerät g abgegebenen elektrischen Impulsen elektrische Signale zu überlagern, die dauernd in regelmäßigen Zeitabständen von einem aus dem Netz R gespeisten Sendegerät f abgegeben werden. Jedesmal, wenn die elektrischen Impulse mit den elektrischen Signalen zusammenfallen, addieren sie sich und betätigen den Zähler.
  • Hierbei muß die Verschiebegeschwindigkeit des Spiegels mj höchstens gleich der Geschwindigkeit sein, die notwendig ist, um im Laufe einer Periode des Speisestromes des Netzes R von einem Interferenzstreifen zum folgenden überzugehen. Bei einem Netz mit 50 Perioden ist diese Geschwindigkeit ungefähr 0,3 C1 pro 1/io Sekunde, d. h. 0,9 mm pro Minute.
  • Die beschriebene Einrichtung kann folgendermaßen verwendet werden: Ein Präzisionsstab wird parallel der Gleitbahn 2 angeordnet und das Ganze in einen optischen Komparator bekannter Art eingesetzt, wie sie zur Zeit in den w.ichtigsten Meßlaboratorien verwendet werden.
  • Mit Hilfe der beiden Mikroskope dieses Komparators wird auf dem Maßstab eine Länge ausgewählt, die durch den Abstand zwischen zwei Teilstrichen bestimmt wird. Ohne den Abstand zwischen den beiden Mikroskopen zu ändern, wird der so bestimmte Abstand auf die Verschiebeachse des Spiegels snl übertragen. Dann wird der Spiegel ml zunächst unter dem einen, dann unter dem anderen Mikroskop zentriert.
  • Die Feinregulierung wird durch Änderung des Widerstandes 17 erzielt, der die Bewegung des Spiegels ml unter der Einwirkung der magnetischen Striktion hervorruft.
  • Der Spiegel mt wird um ein genaues ganzes Vielfaches der Wellenlänge verschoben, was entweder durch Zählen der Interferenzstreifen mit dem Zählgerät C oder aber, was praktisch viel einfacher ist. mit Hilfe der annähernden, vorläufigen Kenntnis der Teilstrichintervalle auf dem Maßstab erfolgen kann.
  • Die Ablesung des Instrumentes i erlaubt es, mit sehr hoher Präzision zu gewährleisten, daß die Verschiebung um ein ganzes Vielfaches und nicht um Bruchteile von Wellenlängen erfolgt ist. Da nun zwangläufig ein gewisser Abstand zwischen der Maßstablänge und der nächsten auf dem Interferometer gemessenen Länge in vollen Wellenlängen besteht, ist es erforderlich, daß die vergleichenden Mikroskope die Ablesung dieser Abweichung unter genauer Austarierung ermöglichen. Hierzu genügt es, daß zunächst ein Mikroskop auf die Gradeinteilung r des Spiegels i einge'stellt wird und daß mit Hilfe der Magnetostriktion der Spiegel m, um eine oder mehrere Wellenlängen verschoben wird, wobei gleichzeitig die Übereinstimmung der Masse auf dem Instrument i in Wellenlängen und in dem auszutarierenden Mikroskop in Gradeinteilung seiner Strichplatte bzw. seines elektronischen Anzeigers abgelesen wird, sofern es sich um ein photoelektrisches Mikroskop handelt.
  • Vorstehend ist unter Bezugnahme auf die Zeichnung ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Einrichtung beschrieben worden. Natürlich könnten zahlreiche Variationen vorgesehen werden. Der Modulator könnte beispielsweise in dem optischen Weg des auf den Spiegel m3 fallenden und von diesem zurückgeworfenen Strahlenbündels angeordnet werden. Auch könnte er von einem der Spiegel nii oder m2 gebildet werden, der auf einer zu seiner Ebene senkrechten Achse periodisch hin und her bewegt wird, beispielsweise mizt Hilfe einer elektrodynamischen Vorrichtung E oder einer von Wechselstrom gespeisten Magnetostriktionsvorrichtung. Die Amplitude der Verschiebung des Spiegels muß dann einer halben Wellenlänge des verwendeten monochromatischen Lichtes gleich sein, um eine periodische Veränderung der Länge des optischen Weges in Größe einer Wellenlänge hervorzurufen.
  • Der Modulator könnte schließlich auch aus einer umlaufenden Scheibe, die unparallele Flächen aufweist, oder aus einem Körper bestehen, dessen Lichtbrechungsindex periodisch durch periodische Änderung eines physikalischen Faktors, z. B. des auf den Körper wirkenden Druckes, geändert wird. Insgesamt kann also der Modulator durch jede Vorrichtung gebildet werden, die eine periodische Änderung des optischen Weges eines Strahlenbündels ermöglicht.
  • Die Meßeinrichtung kann einerseits eine Lichtquelle aufweisen, die durch von dem elektronischen Gerät d abgegebene Momentimpulse gespeist wird, und kann andererseits eine stroboskopische Vorrichtung mit einer Skala und umlaufenden Richtmarken besitzen, mit denen die zwischen den von der Lichtquelle abgegebenen Lichteffekten ablaufenden Zeitunterschiede sichtbar gemacht werden können.
  • Die Meßeinrichtung kann auch einen Oszillographen besitzen, der durch die Momentimpulse gespeist wird. Ein derartiger Oszillograph kann mit einer Kathodenstrahlenröhre ausgestattet sein, deren Fleck sich synchron mit dem Modulationsgerät verschiebt und durch die von dem elektronischen Gerät abgegebenen Impulse beeinflußt wird.
  • PATENTANSPROCHE: 1. Verfahren zur exakten Messung von Längen, bei dem man die Verschiebung eines mit dem einen Spiegel eines Interferometers verbundenen Gegenstandes durch Messung der Änderung bestimmt, welche das Zeitintervall erfährt, das durch Verschiebung der Interferenzstreifen und damit durch periodisches Modulieren des von einer photoelektrischen Zelle empfangenen Lichtflusses des Interferenzlbildes zwischen zwei aufeinanderfolgenden Minima oder Maxima der empfangenen Lichtintensität hervorgerufen wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Spiegel (?rz,, m2) des Interferometers von monochromatischen Strahlen beleuchtet werden, wobei die relative Lage der Teile (S, O, P, m! 2) dieses Interferometers derart geregelt wird, daß eine im wesentlichen homogene Ausleuchtung des beobachteten Feldes entsteht, und wobei die Lichtintensität des Interferenzfeldes wodurch periodische Änderung des optischen Weges moduliert wird, der von den Strahlen mindestens eines der beiden untereinander interferierenden Strahlenbündel zurückgelegt wird.

Claims (1)

  1. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Länge des optischen Weges, der von den Strahlen des auf einen festen Spiegel (nu2) des Interferometers fallenden Strahlenbündels durchlaufen wird, periodisch geändert wird.
    3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dail die Länge des optischen Weges um einen Wert in der halben Wellenlänge der von der Lichtquelle (S) ausgesandten monochromatischen Strahlen derart verändert wird, daß eine einer Wellenlänge gleiche Phasenverschiebung der reflektierten Strahlen erzielt wird.
    4. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 3 mit einem Interferometer und einem Gerät zur Modulation der Lichtintensität durch Verschiebung der Interferenzstreifen, dadurch gekennzeichnet, daß das Modulationsgerät (MO) im Strahlengang mindestens des einen der zwei miteinander interferierenden Strahlenbündel angeordnet ist und eine periodische Veränderung des optischen Weges hervorruft, der von den Strahlen mindestens des einen der beiden miteinander interferierenden Strahlenbündel durchlaufen wird.
    5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein Spiegel (>n) des Interferometers auf einem Support (11) befestigt ist, der in Richtung der Achse (y) eines der beiden miteinander interferierenden Strahlenbündel verschiebbar ist.
    6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Support (11) mit einer Gradeinteilung (r) versehen ist.
    7. Einrichtung nach den Ansprüchen 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine Vorrichtung zur Betätigung des Supports mittels Magnetostriktion aufweist.
    8. Einrichtung nach den Ansprüchen 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Modulationsgerät (MO) aus einem im optischen Weg (x) eines der beiden miteinander interferierenden Strahlenbündel angeordneten Modulationsorgan (18) und aus einer Betätigungseinrichtung (19, 21, 22, 24, 25) besteht, die das Modulationsorgan (18) in periodische Hin- und Herbewegung versetzen kann.
    9. Einrichtung nach den Ansprüchen 4 bis 8, gekennzeichnet durch ein Zählgerät (C), das die Anzahl der Wellenbogen (halben Wellenlängen) zwischen zwei bestimmten Stellungen des den beweglichen Spiegel (m1) des Interferometers tragenden Supportes (11) zählt.
    10. Einrichtung nach den Ansprüchen 4 bis 8, gekennzeichnet durch ein elektronisches Gerät (b, d), dessen photoelektrische Zelle (b) das von den vereinigten beiden untereinander interferierenden Strahlenbündeln erzeugte Licht aufnimmt und das elektrische Impulse aussendet, wenn die Lichtintensität periodisch einen Grenzwert erreicht.
    11. Einrichtung nach den Ansprüchen 4 bis 8 und 10, gekennzeichnet durch ein Meßgerät, das die Ungleichheit der Zeiten zwischen den im Lauf einer vollständigen Periode des Modulationsorgans (18) ábgegebenen elektrischen Impulsen als Maß der Verschiebung des beweglichen Spiegels(llzi) des Interferometers gegenüber einer gewählten Ausgangsstellung wiedergibt.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 617 674.
DES43128A 1954-03-30 1955-03-21 Verfahren und Einrichtung zur exakten Laengenmessung Pending DE1017799B (de)

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