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DE1258612B - Einrichtung zur Weg- und/oder Geschwindigkeitsmessung bei Werkstuecken - Google Patents

Einrichtung zur Weg- und/oder Geschwindigkeitsmessung bei Werkstuecken

Info

Publication number
DE1258612B
DE1258612B DE1963S0085375 DES0085375A DE1258612B DE 1258612 B DE1258612 B DE 1258612B DE 1963S0085375 DE1963S0085375 DE 1963S0085375 DE S0085375 A DES0085375 A DE S0085375A DE 1258612 B DE1258612 B DE 1258612B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
laser
distance
workpiece
frequency
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE1963S0085375
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Phys Ingo Pritsching
Dipl-Phys Dr Bernhard Andress
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE1963S0085375 priority Critical patent/DE1258612B/de
Publication of DE1258612B publication Critical patent/DE1258612B/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02041Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
    • G01B9/02045Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques using the Doppler effect

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

  • Einrichtung zur Weg- und/oder Geschwindigkeitsmessung bei Werkstücken Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Weg-und/oder Geschwindigkeitsmessung bei Werkstücken, die insbesondere für Steuerungen automatischer Werkzeugmaschinen geeignet ist.
  • Für Präzisionsmessungen sind allgemein Interferometer gebräuchlich So kann beispielsweise mit dem Interferometer nach der deutschen Auslegeschrift 1022032 der Brechungsindex einer Probe bestimmt werden, indem man den Strahlengang durch die Probe mit einem Strahlengang durch ein Vergleichsmedium interferieren läßt.
  • Es sind auch Wegmeßeinrichtungen für Werkstücke bekannt, die nach dem Interferometerprinzip arbeiten. Eine Einrichtung zur Längenmessung (deutsche Auslegeschrift 1 017 799) arbeitet beispielsweise mit einem Interferometer und einer Quelle für inkohärentes monochromatisches Licht, wobei die Lichtintensität des Interferenzfeldes durch periodisches Ändern des optischen Weges moduliert wird, der von den Strahlen mindestens eines der beiden untereinander interferierenden Strahlenbündel zurückgelegt wird. Die Werkstücksgeschwindigkeit wird dabei nicht erfaßt. Diese Wegmeßeinrichtung ist, abgesehen von der durch die natürliche Linienbreite von inkohärentem monochromatischem Licht begrenzten Genauigkeit, infolge des Modulators und eines für die Auswertung erforderlichen Wechselrichters aufwendig. Meist erfordern solche Einrichtungen für die Auswertung auch noch einen Verstärker.
  • Seit als Lichtquellen Laser zur Verfügung stehen, die bekanntlich den Vorteil aufweisen, monochromatisches kohärentes Licht auszusenden, ist man bestrebt, den Laser für Meßeinrichtungen nach dem Interferometerprinzip heranzuziehen, da man so schärfere Maxima und Minima erhalten kann (»Funktechnik«, Heft 21 von 1962, S. 707).
  • Ein bekanntes Laserinterferometer, das zur Wiederholung des historischen Michelson-Versuchs vorgeschlagen wird (»radio mentor«, Heft 1 von 1963, S. 36, sowie »Electronics« vom 24. November 1961, S. 54 bis 57), arbeitet mit zwei rechtwinklig zueinander aufgestellten Lasern, deren Strahlengang auf eine Fotozelle gelenkt wird, an der eine elektronische Mischstufe angeschlossen ist, die zwischen den interferierenden Wellen die Differenz bildet. Falls eine Äthertrift existiert, müßte dann bei einer Wiederholung des Versuchs mit einer um 900 gedrehten Anordnung eine abweichende Differenzfrequenz gewonnen werden. Wie ersichtlich, mißt diese Einrichtung keinen Weg, sondern eine Frequenz- bzw. eine Laufzeitänderung.
  • Bei Einsatz von Lasern sind schon Arbeiten an »Fabry-Perot-Resonatoren«, die räumlich relativ zur Wellenlänge groß sind, vorgenommen worden (»radio mentor«, Heft 12 von 1962, S. 1016 bis 1020). Solche Resonatoren, bei denen man bekanntlich eine Strahlung zwischen zwei halbdurchlässigen Flächen spiegelt und die reflektierte Strahlung interferieren läßt, eignen sich für eine genaue Messung von Wellenlängen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, aufbauend von den Erfahrungen mit bekannten Laser interferometern für Steuerungen automatischer Werkzeugmaschinen eine weitgehend trägheitslose Weg-und Geschwindigkeitsmessung eines Werkstückes zu ermöglichen. Von dieser Einrichtung wird erwartet, daß sie eine größere Genauigkeit als die bekannten mechanischen und optischen Längen- und Wegmesser höchster Präzision erbringt.
  • Die geschilderte Aufgabe wird nach der Erfindung dadurch gelöst, daß ein an sich bekannter Laserstrahl, vorzugsweise einer Gaslaseranordnung, durch ein Interferometer geführt ist, dessen einer Spiegel mit dem zu überwachenden Werkstück gekoppelt ist, und daß im Ausgangsinterferenzstrahl ein optischelektrischer Empfänger und/oder ein Spektrometer vorzugsweise unter Verwendung eines weiteren Gaslasers mit nachgeschaltetem optisch-elektrischen Empfänger liegt.
  • Die Einrichtung gemäß der Erfindung stellt mit Hilfe von Lasern mit hoher Präzision den Ort des Werkstückes durch Interferenz und die Bewegungsrichtung sowie die Geschwindigkeit des Werkstückes durch den Dopplereffekt fest. Es bedeutet einen erheblichen Vorteil, daß dabei nicht mit analogen Größen, wie etwa der Amplitude des Interferenzstrahles, sondern digital, nämlich mit »hell« oder »dunkel«, gearbeitet wird. Diese Signale können mit einem einfachen optisch-elektrischen Empfänger, wie ihn beispielsweise eine Fotozelle darstellt, in Strom- bzw.
  • Spannungsimpulse umgesetzt werden.
  • Die Interferenz des Laserstrahles kommt in einem Interferometer zustande, dessen einer Spiegel mit dem Werkstück direkt gekoppelt ist. Im Mittelfeld einer Ebene senkrecht zum- Strahlengang am Ausgang des Interferometers erscheinen dann bei Werkstücksbewegung nacheinander helle oder dunkle Stellen, abhängig von der Weglänge des reflektierten Laserstrahles. Dabei ergibt sich Auslöschung bzw.
  • Verstärkung des Strahles in Abhängigkeit von der Phase zwischen Laserstrahl und reflektiertem Strahl.
  • Durch ein Spektrometer, das prinzipiell ein Prisma sein kann, erfolgt eine frequenzabhängige Strahlauslenkung. Durch den-Dopplereffekt ergibt sich in Abhängigkeit von der Geschwindigkeit und der Bewegungsrichtung des Werkstückes eine Frequenzänderung und somit durch das Spektrometer eine veränderte Strahlauslenkung. Einer Werkstücksbewegung in Strahlrichtung bzw. gegen die Strahlrichtung des Lasers entspricht eine Verschiebung zu niedrigeren bzw. höheren Frequenzen als der des Lasers. Jeder Frequenz entspricht außerdem eine bestimmte Geschwindigkeit.
  • Besonders geeignet ist als Spektrometer für die Einrichtung nach der Erfindung ein Laser, der als Frequenzindikator dient und dessen Abstand der Energieniveaus mit Hilfe zeitlich periodisch veränderlicher magnetischer oder elektrischer Felder, die die Lasersubstanz transversal oder der Länge nach durchsetzen, periodisch geändert wird. Zur Erzeugung solcher Felder kamin eiS elektrisches Mittelfrequenzfeld mit zeitlich sägezahnförmig veränderlicher Amplitude dienen. Deckt sich' bei dem so durchgestimmten Laser die Eigenfrequenz mit der Frequenz des einfallenden Strahles, so entlädt sich der als Spektrometer verwendete Laser und gibt einen Lichtblitz ab. Diesem Zeitpunkt der Entladung entspricht eine bestimmte Amplitude des Mittelfrequenzfeldes und damit ein bestimmter Abstand der Energieniveaus im Laser. Durch jeden Energieniveauabstand liegt eine Laserfrequenz fest, und wegen des Dopplereffekts besteht eine Beziehung zwischen der Laserfrequeuz bei Entladung und tler Geschwindigkeit des Werkstückes. Läßt man während der Anstiegsdauer eines Sägezahnimpulses einen Zeitzähler laufen, so kann dem Zeitpunkt des Entladevorganges eine Werkstücks geschwindigkeit, zugeordnet werden. Beim Durchstimmen des als Indikator dienenden Lasers wird die Geschwindigkeit nur einmal gemeldet. Für weitgehend kontinuierliche Geschwindigkeitsmeldung ist die Periode der Sägezahnimpulse entsprechend kurz zu wählen. - ~ Zur Auswertung des Dopplereffekts werden bei den relativ niedrigen Werkstücksgeschwindigkeiten von dem Spektrometer höchstes Auflösungsvermögen in einem nur kleinen Frequenzbereich gefordert. Deshalb kommen als Spektrometer auch die in der Optik bekannte Lummerplatte und das Perot-Fabry-Spektrometer in Frage. Solche Spektrometer bringen durch Reflexion eines Eingangsstrahles an zwei planparallelen Begrenzungsplatten viele parallele Strahlen zur Interferenz. In der Brennebene einer in den Ausgangsstrahlen liegenden Linse bilden sich konzentrisch ringförmige -Kurvensysteme ab, die in der Optik als Kurven gleicher Neigung bekannt sind. Für geringfügig verschiedene Wellenlängen entstehen Ringsysteme mit etwa gleichem Streifen abstand.
  • Diese Ringsysteme sind gegeneinander frequenz--abhängig verschoben. Durch vereinfachende Ausblendung der oberen und unteren Kurventeile aus diesem Bild erreicht man z. B. mit einem Raster aus Fotozellen eine optisch-elektrische Umsetzung.
  • Eine elektrische Verschaltung der Zellen längs der Form der Kurvensysteme liefert die Möglichkeit, stufenweise optischen Kurvenbildern elektrische Impulse zuordnen zu können. Den einzelnen Ausgangsleitungen entsprechen dabei bestimmte Geschwindigkeiten und Richtungen.
  • Zur weiteren Erläuterung der Einrichtung nach der Erfindung wird im folgenden ein Ausführungsbeispiel beschrieben, das in Fig. 1 schematisch dargestellt ist.
  • Zur Erzeugung eines monochromatischen, kohärenten Lichtstrahles dient ein kontinuierlich arbeitender Laser 1. Besonders geeignet ist ein Gaslaser, der z. B. mit Helium und Neon gefüllt ist. Auf der Oberfläche eines ringförmigen Quarzglasgefäßes 2 sind Kupfermanschetten 3 angebracht, an die ein Hochfrequenzgenerator4 zum Pumpen des Lasers angeschlossen ist. Zwischen einem Spiegel 5 und einer teildurchlässigen spiegelnden Schicht 8 bilden sich im Laser stehende Wellen aus, die durch die Schicht 8 einen Teil ihrer Energie als Laserstrahl abgeben. Der Spiegel 5 ist auf einem magnetostriktiven Block 6 aufgebracht, der aus Nickelblech besteht oder mit Blechen aus geglühtem Kobaltstahl aufgebaut ist.
  • Der Block ist mit einer Spule7 versehen, die mit Erregerstrom über die Klemmen 7a von einem einstellbaren Konstantstromgerät versorgt zu denken ist.
  • Durch geeignete Wahl der Stromstärke läßt sich der Abstand zwischen den Spiegeln 5 und 8 fein einstellen.
  • Der Laserstrahl9 wird durch ein Interferometer an sich bekannter Art geführt. In diesem trifft der Strahl 9 auf einen zur Strahlrichtung um 450 geneigten halbdurchlässigen Spiegel 10. Ein den Spiegel durchdringender Teilstrahl 12 wird zu einem Spiegel 13 geführt, der mit einem Werkstück 14 gekoppelt ist. Der Strahl 12 wird dort reflektiert und am Spiegel 11 abgelenkt. Der vom Spiegel 11 kommende Strahl und ein direkt aus dem Strahl 9 am Spiegel 10 in Richtung 15 abgelenkter Strahl interferieren.
  • In Richtung 15 trifft der Strahl unter 450 auf einen halbdurchlässigen Spiegel 16. Im Strahlengang eines den Spiegel 16 durchdringenden Strahles 17 liegt zur Abbildung des aus konzentrischen Kurven besteheñden Interferenzbildes eine Linse 18. Zur Umsetzung der optischen Interferenzstreifen in elektrische Impulse dient ein Umsetzer, z. B. eine Fotozelle 19. Die Oberfläche der Fotozelle wird durch die Öffnung einer Blende 20 abhängig vom Ort des Werkstückesl4 belichtet bzw. nicht belichtet. Die Blende dient dazu, die benachbarten Interferenzstreifen von dem Umsetzer abzuschirmen, um Störungen zu vermeiden. Bei Belichtung erzeugt die Fotozelle 19 elektrische Impulse, die von den beiden Klemmen 21 einer zählenden Wegmeßeinrichtung zugeführt werden.
  • Ein Teilstrahl 22 wird einem Laser 23 zugeführt, der wieder ein Gaslaser schon beschriebener Art sein kann. Dieser Laser dient als Frequenzindikator bzw. als Spektrometer. Mit Spulen24 und 25 wird ein Mitteifrequenzfeld mit sägezahnförmig ansteigender Amplitude angelegt, das von einem Generator 26 eingespeist wird. Dieser Generator liefert über Klemmein 27 eine Zeitzählspannung, die mit der Dauer eines Sägezahnanstieges periodisch ist. Stimmt die Frequenz des Lasers 23 mit der des Strahles 22 überein, so entlädt sich der Laser 23 und sendet zu einem optisch-elektrischen Umsetzer 28 einen Lichtblitz aus. Als Umsetzer kann wieder eine Fotozelle dienen.
  • Der entstehende Spannungs- bzw. Stromimpuls ist über die Klemmen 29 einem Synchrongerät zuzuführen, das auch mit den Klemmen 27 zur Zuführung der Zeitzählspannung verbunden ist.
  • An Hand von Fig.2 soll das Prinzip der Geschwindigkeitsmessung bei Verwendung der Lummerplatte oder des Perot-Fabry-Spektrometers erklärt werden.
  • Im Strahlengang nach einer Lummerplatte oder eines Perot-Fabry-Spektrometers wird mit einer Blende hinter einer Abbildungslinse aus dem Bild der Kurven gleicher Neigung 31 der gestrichelte Kurventeil links der Linie 32-32 ausgeblendet. Von einem Raster aus Fotozellen 34 wird nur der Bildbereich zwischen den Linien 33 verarbeitet. Es sind solche Fotozellen des Rasters 34 elektrisch in Reihe geschaltet, die etwa die Form der Kurven ergeben.
  • Das ist in der Zeichnung durch fett ausgezogene Raster angedeutet. Die übrigen Rasterfelder sind ebenso zu verschalten. Solche Reihenschaltungen sind weiter untereinander parallel oder in Reihe zu schalten, zwischen denen der Streifenabstand liegt.
  • Für die elektrische Verschaltung eignen sich gedruckte Schaltungen.
  • Einer zum gezeichneten Kurvenbild verschobenen Streifenanordnung entspräche eine andere Frequenz und somit eine andere Geschwindigkeit. Es würde eine andere Schaltungseinheit im Raster erregt.
  • Prinzipiell läßt sich eine Einrichtung gemäß der Erfindung auch mit einem Messer aufbauen, wobei Hochfrequenzstrahlung entsprechend zu verarbeiten ist.
  • Für den mit dem Werkstück gekoppelten Spiegel des Interferometers gibt es verschiedene Anordnungen. Er kann z. B. an der Werkstückseinspannvorrichtung oder an dem Schlitten für den Vorschub angebracht sein.
  • Um bei allen Werkstücksgeschwindigkeiten in einem günstigen Auflösungsbereich arbeiten zu können und um z. B. keinen zu großen Strahlauslenkungsbereich zu erhalten, ist es vorteilhaft, die Laserfrequenz so anzugleichen, daß man immer in einem günstigen Arbeitsbereich liegt, z. B. durch eine magnetostriktive Feinverstellung des Abstandes der Laserspiegel. Bekanntlich wird in einer Lasersubstanz durch lawinenartige Verstärkung bei bestimmter Phasenbeziehung eine stehende Welle zwischen spiegelnden Flächen erzeugt, die in einem Vielfachen des der halben Wellenlänge entsprechenden Abstandes angeordnet sind. Durch ein Fenster bzw. durch einen halbdurchlässigen Spiegel kann der monochromatische Laserstrahl austreten.
  • Mit drei dem Werkstück zugeordneten aufeinander senkrecht stehenden Spiegeln und drei Strahlsystemen ist man in der Lage, eine Werkstücksbewegung in drei Koordinaten zu verfolgen, womit eine beliebige, räumliche Bewegung erfaßbar ist.
  • Bei der bisher beschriebenen Einrichtung muß der zurückgelegte Weg durch Zählung der einzelnen Impulse registriert werden, um die augenblickliche Stellung des Werkstückes angeben zu können. Erzeugt man jedoch eine Schwebung durch thberlagerung zweier Laserstrahlen unterschiedlicher Frequenzen mit geringer Frequenzabweichung, so erhält man die Möglichkeit, den Ort durch die Amplitudengröße der Schwebung unmittelbar zu bestimmen. Dieses Meßverfahren ist jeweils für eine Schwebungshalbwelle eindeutig. Amplitudenverkleinerungen durch vergrößerte Spiegelentfernung sind innerhalb einer halben Schwebungswelle wegen äußerst geringer Strahlverbreiterung kohärenten Lichtes zu vernachmassigen.
  • Es ist auch erklärlich, daß die Einrichtung nach der Erfindung zur Geschwindigkeitsmeldung für alle beweglichen Körper geeignet ist, die Laserstrahlen reflektieren und deren Entfernung keine zu große Strahlverbreiterung oder Absorption ergibt. Zur Wegmeldung ist die beschriebene Einrichtung für solche beweglichen und reflektierenden Körper geeignet, deren Entfernung einmal vor der weiteren Messung bekannt ist.

Claims (2)

  1. Patentansprüche: 1. Einrichtung zur Weg- und/oder Geschwindigkeitsmessung bei Werkstücken, d a d u r c h gekennzeichnet, daß ein an sich bekannter Laserstrahl, vorzugsweise einer Gaslaseranordnung, durch ein Interferometer geführt ist, dessen einer Spiegel mit dem zu überwachenden Werkstück gekoppelt ist, und daß im Ausgangsinterferenzstrahl ein optisch-elektrischer Empfänger undloder ein Spektrometer vorzugsweise unter Verwendung eines weiteren Gaslasers mit nachgeschaltetem optisch-elektrischen Empfänger liegt.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel zur Erzeugung magnetischer oder elektrischer Felder mit zeitlich veränderlicher Amplitude zur periodischen Änderung des Abstandes der Energieniveaus bei dem als Spektrometer dienenden Laser vorgesehen sind. ~~~~~~~ In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 799, 1 022 032; »radio mentor«, H. 12, 1962, S. 1016 bis 1020, und H. 1, 1963, S. 35 bis 38; »Electronics«, 1961 (24. 11. 1961), S. 54 bis 57; »Funktechnik«, H. 21, 1962, S. 707.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1017799B (de) * 1954-03-30 1957-10-17 Genevoise Instr Physique Verfahren und Einrichtung zur exakten Laengenmessung
DE1022032B (de) * 1956-02-11 1958-01-02 Zeiss Carl Fa Interferometer zu Messzwecken

Patent Citations (2)

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