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WO2009037914A1 - Procédé et système de détection d'un défaut de structure - Google Patents

Procédé et système de détection d'un défaut de structure Download PDF

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WO2009037914A1
WO2009037914A1 PCT/JP2008/062488 JP2008062488W WO2009037914A1 WO 2009037914 A1 WO2009037914 A1 WO 2009037914A1 JP 2008062488 W JP2008062488 W JP 2008062488W WO 2009037914 A1 WO2009037914 A1 WO 2009037914A1
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WO
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defect
light emitting
light
detecting
periphery
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Ceased
Application number
PCT/JP2008/062488
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English (en)
Japanese (ja)
Inventor
Chao-Nan Xu
Yusuke Imai
Naohiro Ueno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/08—Testing mechanical properties
    • G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

La présente invention concerne un système de détection de défaut (10) qui détecte l'existence d'un défaut par détection de l'émission de lumière d'un film électroluminescent (1) formé sur une surface d'une structure (2), à savoir une cible de détection. Le film électroluminescent (1) contient des particules électroluminescentes (1a). Lorsqu'un changement de déformation est généré dans la structure (2) ayant un défaut, la périphérie du défaut est déformée à cause d'une concentration de contraintes générée au niveau de la périphérie, et le film électroluminescent sur la surface est également déformé. A mesure que l'énergie de déformation se propage vers les particules électroluminescentes et entraîne les particules électroluminescentes à émettre une lumière, le défaut qui ne peut pas être visuellement examiné, peut être indiqué à l'extérieur de la structure par l'émission d'une lumière. Ainsi, l'invention fournit le procédé et le système permettant de détecter facilement et avec précision l'existence du défaut sans destruction de la structure.
PCT/JP2008/062488 2007-09-21 2008-07-10 Procédé et système de détection d'un défaut de structure Ceased WO2009037914A1 (fr)

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