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WO2007135972A1 - キャリアシート付銅箔、キャリアシート付銅箔の製造方法、キャリアシート付表面処理銅箔及びそのキャリアシート付表面処理銅箔を用いた銅張積層板 - Google Patents

キャリアシート付銅箔、キャリアシート付銅箔の製造方法、キャリアシート付表面処理銅箔及びそのキャリアシート付表面処理銅箔を用いた銅張積層板 Download PDF

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WO2007135972A1
WO2007135972A1 PCT/JP2007/060191 JP2007060191W WO2007135972A1 WO 2007135972 A1 WO2007135972 A1 WO 2007135972A1 JP 2007060191 W JP2007060191 W JP 2007060191W WO 2007135972 A1 WO2007135972 A1 WO 2007135972A1
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WO
WIPO (PCT)
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layer
copper foil
carrier sheet
copper
bonding interface
Prior art date
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Ceased
Application number
PCT/JP2007/060191
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English (en)
French (fr)
Inventor
Seiji Nagatani
Hiroshi Watanabe
Kazufumi Izumida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Kinzoku Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Mining and Smelting Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Priority to KR1020087027911A priority patent/KR101086957B1/ko
Priority to US12/301,338 priority patent/US8187722B2/en
Publication of WO2007135972A1 publication Critical patent/WO2007135972A1/ja
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Ceased legal-status Critical Current

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Definitions

  • Copper foil with carrier sheet method for producing copper foil with carrier sheet, surface-treated copper foil with carrier sheet, and copper-clad laminate using the surface-treated copper foil with carrier sheet
  • the present invention relates to a copper foil with a carrier sheet, a method for producing the copper foil with a carrier sheet, a surface-treated copper foil with a carrier sheet obtained by subjecting the copper foil with a carrier sheet to surface treatment, and a surface-treated copper with a carrier sheet.
  • the present invention relates to a copper clad laminate using a foil. All of these are suitable as materials for producing printed wiring boards.
  • electrolytic copper foil as disclosed in many documents including Patent Document 1 and rolled copper foil as disclosed in Patent Document 2 have been used for the production of copper-clad laminates.
  • a printed wiring board has been manufactured by etching a copper layer formed on the copper-clad laminate.
  • the production of the copper-clad laminate as referred to herein is different depending on whether a rigid-type copper-clad laminate is produced or a flexible-type copper-clad laminate.
  • rigid-type copper clad laminates a combination of copper foil, a resin-impregnated base material (prepreg) semi-cured on the B stage, and other end plates used as spacers in multiple stages It is common to use a method in which stacked books are sandwiched between hot plates, and high pressure is applied in a high-temperature atmosphere to cure the resin in the resin-impregnated base material, and at the same time press-bond to the copper foil. The process may be referred to as “pressing”).
  • polyamic resin is applied by means of hot pressing, roll laminating force, and casting method, etc. It is common to employ a method such as coating the copper foil and heating the component to form a polyimide resin layer.
  • the surface defects of these copper-clad laminates cause short circuit or disconnection of the wiring circuit formed in the subsequent printed wiring board manufacturing process. Even when a method different from the press force method such as roll laminating and casting method when manufacturing a flexible type copper clad laminate is used, the sheet present in the copper foil is in the state of the copper clad laminate. After that, it remains as irregularities on the surface, causing similar problems.
  • electrolytic copper foil with carrier foil has been used.
  • electrolytic copper foil with carrier foil can be roughly classified into a bearable type and an etchable type.
  • the difference is that the bearable type is a copper-clad laminate and then the carrier foil is physically peeled off and the etchable type is the copper-clad laminate and then the carrier foil is removed. It is removed by etching.
  • Patent Literature 3, Patent Literature 4 and the like disclose bearable type electrolytic copper foil with carrier foil.
  • This bearable type electrolytic copper foil with carrier foil has a layer structure in which a release layer is provided between the carrier foil layer and the copper foil layer. Even after receiving the heat history of press working, the carrier foil is required to have a characteristic capable of being peeled with a bow peeling strength of 20 gf Zcm to LOOgf Zcm. The peel strength increases as the temperature of the press force increases. However, even when a liquid crystal polymer substrate, a fluorine resin substrate, or a polyimide resin layer formed by a casting method using a press cage temperature exceeding 300 ° C. is used, it is heated at a temperature exceeding 300 ° C.
  • the release layer between the carrier foil layer and the copper foil layer is poor in heat resistance, it is between the carrier foil layer and the copper foil layer, between the carrier foil layer, the Z release layer, and the three copper foil layers. Interdiffusion occurs, causing a phenomenon that a part of the carrier foil is torn off and remains on the surface of the copper foil layer, or the carrier foil layer and the copper foil layer cannot be peeled off.
  • Patent Document 3 discloses that a metal oxide is a compound that is stable even at high temperatures.
  • a technique is disclosed in which a metal oxide layer is used alone at the bonding interface between a carrier layer and a copper foil layer by utilizing the property of being hard but brittle.
  • Patent Document 4 a peeling layer, a diffusion prevention layer, and an electrolytic copper plating layer are laminated in this order on the surface of the carrier foil, and the surface of the electrolytic copper plating is roughened.
  • An ultrathin copper foil with a carrier is disclosed.
  • the release layer referred to here is an inorganic release layer, and is preferably a chromium layer or a chromium hydrated oxide layer.
  • the anti-diffusion layer formed on the release layer is a layer that prevents the release layer from diffusing when the ultra-thin copper foil with carrier is placed on the resin base material and press-laminated.
  • It consists of at least one element selected from the group consisting of cobalt, iron, chromium, molybdenum, tungsten, copper, aluminum and linker, and may be a single metal layer or an alloy layer of two or more metals or one or more types A metal oxide layer is also acceptable. The purpose of this is to achieve both the stability of the peel strength of the carrier foil during press-cage and the laser drilling performance.
  • Patent Document 5 discloses an ultrathin copper foil with a carrier foil that is laminated in the order of a bonding interface layer Z a copper foil layer composed of a carrier foil Z organic agent. Since the bonding interface disclosed in Patent Document 4 is composed of an organic agent, when pressing at 200 ° C or lower, the peeling strength of the carrier foil more than the electrolytic copper foil with carrier foil disclosed in Patent Document 3 is strong. Shows stability. However, when a pressing force at a temperature exceeding 200 ° C. is performed, a phenomenon occurs in which the carrier foil layer and the copper foil layer cannot be peeled off.
  • the metal oxide layer constituting the bonding interface layer is made of nickel oxide, chromium oxide, titanium oxide, magnesium oxide, iron oxide, tungsten oxide alloy containing these elements, or an alloy acid containing these elements. It is a thing. [0011] As described above, a technique has been proposed that makes it easy to peel off a carrier foil of a beableable electrolytic copper foil with a carrier foil even when the press carriage temperature is high, and has achieved certain results.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 10-18075
  • Patent Document 2 JP-A-8-158027
  • Patent Document 3 Japanese Translation of Special Publication 2005-502496 (EP1133220)
  • Patent Document 4 Publication of WO2002Z024444
  • Patent Document 5 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2000-309898
  • Patent Document 6 Japanese Patent Laid-Open No. 2001-68804
  • Patent Document 7 Japanese Patent Laid-Open No. 2003-181970
  • Patent Document 4 clearly shows that the peel strength when peeling the carrier foil is greatly influenced by the amount of the chromium layer deposited.
  • it is difficult to control the amount of chromium deposited in mass production, and the management cost in manufacturing tends to increase.
  • chromium is a regulated substance according to the European Directive (WEEEZRoHS) concerning environmental pollutants, and active use is not preferable.
  • the conventional electrolytic copper foil with carrier foil is 30 It could not be used with confidence in the production of copper-clad laminates that employ press working temperatures exceeding o ° c. Therefore, in order to make it easier to form a fine pitch circuit for copper clad laminates that require a press cascading temperature exceeding 300 ° C, the carrier foil layer There has been a demand for an electrolytic copper foil with a carrier foil that the copper foil layer and the copper foil layer can achieve a stable peel strength that can be industrially employed.
  • the inventors of the present invention as a result of earnest research, have adopted a sputtering vapor deposition method for forming a bonding interface layer of a copper foil with a bearable carrier sheet, so that the temperature exceeds 300 ° C. Even after the load is applied, the bonding interface layer can be maintained soundly, the peeling strength between the carrier sheet layer and the copper foil layer can be stabilized at a low level, and the carrier sheet can be easily peeled off. I came up with it.
  • the present invention will be described.
  • Copper foil with carrier sheet according to the present invention has a copper foil layer on the surface of the carrier sheet via a bonding interface layer, and the carrier sheet is physically pulled.
  • the peelable copper foil with a carrier sheet is characterized in that the bonding interface layer is composed of two layers of a metal layer Z and a carbon layer formed by physical vapor deposition.
  • the carbon layer constituting the bonding interface layer has a thickness of Inn! It is preferably ⁇ 20nm.
  • the metal layer constituting the bonding interface layer is a layer composed of any one of tantalum, niobium, zirconium, nickel, chromium, titanium, iron, silicon, molybdenum, vanadium, and tungsten. Is preferred.
  • the metal layer has a thickness of Inn! It is preferable that it is ⁇ 50nm.
  • the bonding interface layer has a converted thickness of 2 ⁇ ! This is preferably ⁇ 70nm thick.
  • the copper foil layer of the copper foil with a carrier sheet according to the present invention is preferably a copper layer formed by an electrolytic method.
  • the copper foil layer is formed by a physical vapor deposition method. Form a first copper layer with a thickness of ⁇ 300nm It is also preferable to use a copper layer obtained by forming a second copper layer by an electrolytic method.
  • the carrier sheet-attached copper foil according to the present invention preferably has a carrier sheet peeling strength of 2 gfZcm to 20 gfZcm in a normal state.
  • the carrier sheet-attached copper foil according to the present invention preferably has a peel strength of the carrier sheet of 5 gfZcm to 50 gfZcm after heating at 300 ° C to 350 ° C for 30 minutes.
  • the carrier sheet of the copper foil with a carrier sheet according to the present invention has a thickness of
  • Surface-treated copper foil with carrier sheet according to the present invention The surface-treated copper foil with carrier sheet according to the present invention is roughened on the surface of the copper foil layer of the copper foil with carrier sheet according to any one of the above. One or two or more surface treatments selected from anti-mold treatment and silane coupling agent treatment are applied.
  • Manufacturing method of copper foil with carrier sheet according to the present invention employs either the first manufacturing method or the second manufacturing method of the following manufacturing methods. It is preferable.
  • the first production method includes the following step A and step B.
  • Step A A joining interface layer forming step of forming a joining interface layer in which a metal layer and a carbon layer are laminated on the surface of the carrier sheet using a thin film forming means.
  • Process B The copper foil layer formation process which comprises a copper foil layer by the electrolytic method or the physical vapor deposition method on the joining interface layer which consists of the said metal layer and a carbon layer.
  • the second production method includes the following steps a to c.
  • Step a A bonding interface layer forming step in which a bonding interface layer in which a metal layer and a carbon layer are laminated is formed on the surface of the carrier sheet using a thin film forming means.
  • Step b A first copper layer forming step of forming a first copper layer on the surface of the carbon layer by physical vapor deposition.
  • Step c A copper foil layer forming step in which a second copper foil layer is formed on the first copper layer by an electrolytic method to complete the copper foil layer.
  • the thin film forming means in the step A or the step a may be a spa in physical vapor deposition. It is preferable to select and use the sputtering method.
  • step A or the step a a method including the following step i and step ii is adopted.
  • Step i Using a target material of tantalum, niobium, zirconium, nickel, chromium, titanium, iron, silicon, molybdenum, vanadium, or tungsten, a metal is deposited on the surface of the carrier sheet by sputtering evaporation. Atoms are landed to form a metal layer.
  • a carbon layer is formed on the metal layer by sputtering vapor deposition to form a bonding interface layer.
  • Copper-clad laminate according to the present invention By using the above-described surface-treated copper foil with a carrier sheet according to the present invention, a high-quality copper-clad laminate can be provided.
  • the copper foil with a carrier sheet according to the present invention has a layer structure of a carrier sheet layer, a Z-bonding interface layer, and a Z-copper foil layer, and is formed on the bonding interface layer using a thin film forming method typified by a sputtering vapor deposition method. It is characterized in that a bonded interface layer is provided. Since this bonding interface layer is composed of a metal layer and a carbon layer, the bonding interface layer (peeling layer) is superior in heat resistance stability compared to the conventional copper foil with a bearable carrier sheet. Even if a press working temperature exceeding ° C is adopted, the work of peeling off the carrier sheet is dramatically facilitated.
  • the copper foil with a carrier sheet according to the present invention has a rough surface for improving adhesion to the antifouling treatment layer and the base resin for ensuring long-term storage on the surface of the copper foil. It is possible to give a surface-treated copper foil with a carrier sheet by optionally performing a treatment and a silane coupling agent treatment. And most of the products that are actually supplied to the factory are the surface-treated copper foil with a carrier sheet.
  • the method for producing a copper foil with a carrier sheet according to the present invention discloses conditions under which a metal layer and a carbon layer having a uniform thickness can be efficiently formed on the surface of the carrier sheet, and in particular, 1 m.
  • a carrier sheet roll force having a width exceeding 1 mm can be applied even when the metal layer and the carbon layer are successively formed on the surface of the fed carrier sheet.
  • Form of copper foil with carrier sheet according to the present invention Copper foil with carrier sheet according to the present invention
  • Fig. 1 shows the basic layer structure of (copper foil with first carrier sheet).
  • the copper foil 1 with a carrier sheet according to the present invention includes a bonding interface layer 4 between the carrier sheet 2 and the copper foil layer 3.
  • the bonding interface layer is composed of a metal layer 4a and a carbon layer 4b so that the carrier sheet can be physically peeled off.
  • the bonding interface layer may be formed on one side of the carrier sheet, or the bonding interface layer may be formed on both sides of the carrier sheet.
  • the copper foil layer which comes out to the following description is provided after providing the joining interface layer. Therefore, the copper foil with a carrier sheet according to the present invention also includes a first copper foil with a carrier sheet 1 ′ having copper foil layers on both sides of the carrier sheet as shown in FIG.
  • Fig. 3 shows the basic layer structure of the copper foil with a carrier sheet (second copper foil with a carrier sheet) according to the present invention.
  • the copper foil 20 with a carrier sheet according to the present invention includes a bonding interface layer 4 between the carrier sheet 2 and the copper foil layer 3.
  • This bonding interface layer is the same as the copper foil with the first carrier sheet, and consists of the metal layer 4a and the carbon layer 4b so that the carrier sheet can be physically peeled off.
  • the bonding interface layer may be formed on one side of the carrier sheet, or the bonding interface layer may be formed on both sides of the carrier sheet.
  • the copper foil layer which comes out to the following description is provided after providing the joining interface layer.
  • the second carrier sheet-attached copper foil according to the present invention also includes a second carrier sheet-attached copper foil 20 ′ having copper foil layers on both sides of the carrier sheet as shown in FIG.
  • the difference from the copper foil with the first carrier sheet is that the copper foil layer is composed of a first copper layer 21 formed by physical vapor deposition and a second copper foil layer 22 formed by electrolysis. Due to the presence of the first copper layer, it is easy to form the second copper foil layer formed by electrolysis, and the peeling strength when the carrier sheet is peeled is stable.
  • the common components of the copper foil with the first carrier sheet and the copper foil with the second carrier sheet will be described below.
  • the carrier sheet will be described.
  • This carrier sheet exists in a form in which the copper foil layer and the applied force are bonded together in a plane, and the following characteristics are required. It is.
  • metal copper is electrodeposited and manufactured in a continuous process on the surface of the carrier, so that the carrier surface must be at least conductive.
  • the bonding interface layer is formed by physical vapor deposition. And since this joining interface layer has electroconductivity, it is not necessary to request
  • this copper foil with a carrier sheet has a predetermined strength and maintains a state in which the carrier sheet is bonded to the copper foil layer at least until the end of the production of the copper-clad laminate.
  • What is necessary is just to have a role which reinforces and protects a copper foil layer in all meanings, such as making it easy.
  • metal foil such as copper foil, nickel foil, stainless steel foil, and aluminum foil, PET film, aramid film, polyimide film, nylon film and other resin films, It is possible to use a metal coated resin film having a metal layer coating layer on the resin film.
  • the wet electrolysis method is optimal for forming a metal copper layer with the required thickness that can function as a conductive wiring.
  • Wet electrolysis is an established technology that enables production at high current density when productivity is taken into consideration, and a large current capacity is required for the carrier sheet.
  • the bonding interface layer is a conductor, it cannot withstand production using a large current due to its thickness.
  • a copper foil with a thickness of 12 m or more which has a sufficient amount of current flow enough to form a copper foil layer to be electrodeposited on the surface of the carrier sheet.
  • 210 m is the upper limit.
  • the copper foil used for this carrier sheet may be either a rolled copper foil (including a copper alloy foil) manufactured by a rolling method or an electrolytic copper foil manufactured by an electrolytic method.
  • the joining interface layer of the copper foil with a carrier sheet employs a multilayer structure of two layers of a metal layer and a carbon layer for both the copper foil with a first carrier sheet and the copper foil with a second carrier sheet.
  • the metal layer constituting the bonding interface layer will be described first.
  • This metal layer has If a material that easily forms a passive film on the surface is selected and used, it is considered that even if only a metal layer is used, an appropriate adhesive force and sufficient peelability can be exhibited at normal temperature.
  • the carrier sheet in the case of high-temperature press processing, in the case of a metal carrier sheet, the carrier sheet itself functions as a reducing agent for the nonconductive film of the metal layer, and the carrier sheet z-bonding interface layer Z interface part of the copper foil layer There is a risk of causing interdiffusion and forming a metal bond and losing the peelability.
  • the metal layer referred to here employs a metal capable of stable bonding with carbon, and includes tantalum, niobium, zirconium, nickel, chromium, titanium, iron, silicon, molybdenum, vanadium, Tungsten or the like can also be used.
  • the converted metal layer thickness is Inn! It is preferably ⁇ 50nm. This metal layer is the equivalent thickness Inn! Preferably it is ⁇ 50nm. More preferably, it is 4 nm to 50 nm. If the thickness of the metal layer is less than 1 nm, the metal layer cannot be a diffusion layer because the thickness of the metal layer is not uniform.
  • the thicker the metal layer the easier it is to peel off between the copper foil layer and the bonding interface layer even when subjected to pressing at temperatures exceeding 300 ° C. Even if it exceeds 50 nm, further improvement in peelability is a waste of resources.
  • the use of any one of titanium, tantalum, and tungsten is preferable because of its high stability as an interdiffusion substrate when subjected to high-temperature press processing or the like.
  • titanium has a high-temperature heat resistance because its passive film is generally composed of a complex oxide of rutile oxide and anatase oxide and is a very strong oxide. It is known. However, it is difficult to form such a titanium layer (film) by an electrolytic method. Therefore, the titanium layer according to the present invention is formed using a physical vapor deposition method such as sputtering vapor deposition described later.
  • a carbon layer is provided on the metal layer.
  • This carbon layer is also common to the configuration of the bonding interface layer of the copper foil with the first carrier sheet and the copper foil with the second carrier sheet. Further, this carbon layer is also formed by a physical vapor deposition method such as sputtering vapor deposition described later. Therefore, Mechanical carbon is excluded.
  • the carbon at this time is known to have various structures, and there are a diamond structure and a graphite structure as typical examples, but V and a shift structure may be provided.
  • the thickness of the carbon layer is less than lnm, the carrier sheet in the case where the bonding interface layer where the carbon layer is thin is formed of only the metal layer, the effect of preventing mutual diffusion at the interface portion of the Z bonding interface layer and the copper foil layer. It will not change. On the other hand, even if the thickness of the carbon layer exceeds 20 nm, the releasability is not improved further, and resources are wasted.
  • This bonding interface layer is the total thickness of the metal layer Z and the carbon layer, and the converted thickness is 2 ⁇ ! A thickness of ⁇ 70 nm is preferred.
  • the thickness of the bonding interface layer is less than 2 nm, peeling between the copper foil layer and the bonding interface layer becomes difficult when subjected to press working at a temperature exceeding 300 ° C.
  • the reason why the upper limit of the thickness of the bonding interface layer is set to 70 nm is as follows. As a result of each of the metal layer and the carbon layer having conductivity, it is most preferable that the bonding interface layer itself has conductivity. However, even if the material is small in conductivity, conduction by the tunnel effect may be obtained if the layer is sufficiently thin.
  • the thickness is preferably 70 nm or less. Therefore, a good continuity can be obtained.
  • the converted thickness refers to the thickness calculated based on the amount of analysis by chemical quantitative analysis of the amount of components deposited per unit area. Therefore, in the case of the copper foil with a carrier sheet according to the present invention, since the bonding interface layer is two layers of the metal layer Z and the carbon layer, the respective converted thicknesses of the metal layer and the carbon layer are calculated, and these are calculated. What is added is the bonding interface layer thickness.
  • the copper foil layer is preferably formed on the carbon layer of the bonding interface layer by using either an electrolytic method or a physical vapor deposition method.
  • a copper layer is formed by depositing copper on the carbon layer using, for example, a sulfuric acid-based copper electrolyte or a copper pyrophosphate-based copper electrolyte.
  • the advantage of using the electrolytic method in this way is that the m-level copper foil layer can be formed most rapidly and at low cost.
  • the physical vapor deposition method is used, the cost is higher than the electrolytic method.
  • the carbon layer does not come into contact with the solution, so the carbon layer does not absorb moisture, and a stable quality bonding interface layer can be maintained.
  • the copper foil layer is also preferably manufactured by a two-stage process.
  • the charcoal ⁇ ⁇ on the underlying layer by physical vapor deposition It is also preferable to use a copper layer obtained by forming a first copper layer having a thickness of up to 300 nm and further forming a second copper layer having an arbitrary thickness by an electrolytic method.
  • the first copper layer provided on the carbon of the bonding interface layer is formed by a physical vapor deposition method such as sputtering vapor deposition described later.
  • the first copper layer has an increased electrical resistance due to the carbon layer, so the formation speed of the copper foil layer to be formed increases. There is a tendency to slow down and become uneven.
  • the thickness of the first copper layer is preferably 10 nm to 300 nm.
  • the thickness of the first copper layer is less than lOnm, the carbon layer cannot be uniformly coated even though the physical vapor deposition method is used.
  • the electrolytic method is used to form the second copper layer in consideration of manufacturing costs.
  • the thickness of the second copper layer can be set according to the intended use.
  • the carrier peel strength in the normal state of the copper foil with a carrier sheet according to the present invention is preferably 2 gfZcm to 20 gfZcm.
  • the copper foil with a carrier sheet must be kept in a state of being bonded to the copper foil layer at least until the end of the production of the copper clad laminate. It must be premised to do. Therefore, the minimum carrier peel strength is preferably 2 gfZcm, which does not cause peeling during handling up to the copper clad laminate manufacturing process, and the maximum value is 20 gfZcm, which can maintain the peel strength after heating at a practical level.
  • the carrier peel strength of the copper foil with a carrier sheet according to the present invention after heating at 300 ° C to 350 ° CX for 30 minutes is preferably 5 gfZcm to 50 gfZcm.
  • the value of the carrier peel strength after the lamination process with the insulating layer constituent material is 20 ⁇ :
  • the range of LOOgfZcm is said to be a good range.
  • the heating temperature greatly exceeds 300 ° C, but it is a short time because it is a thermoplastic resin.
  • the polyimide resin is a thermosetting resin, so the coating of the molten resin is performed at a high temperature of about 400 ° C in a short time, and then relatively before and after 200 ° C. When cured at low temperatures, it adopts a process.
  • the carrier peel strength after heating for 30 minutes at 300 ° C to 350 ° CX is 5 gfZcm to 50 gfZcm!
  • Form of surface-treated copper foil with carrier sheet according to the present invention is a schematic cross-sectional view of FIG. The layer structure is illustrated. In FIG. 5, fine copper particles 5 are attached and formed on the surface of the copper foil layer of the carrier sheet copper foil shown in FIG. 1 as a roughening treatment.
  • the surface-treated copper foil with a carrier sheet in which the coupling agent treatment layer 7 is formed is illustrated.
  • the surface-treated copper foil with a carrier sheet referred to here is subjected to a roughening treatment, an antifungal treatment, a silane coupling agent treatment, etc. by a known method on the surface of the copper foil layer of the carrier-coated copper foil according to the present invention.
  • the insulation layer constituent material having a large chemical bond strength is subjected only to the anti-bacterial treatment and the silane coupling agent treatment with an emphasis on the chemical bond strength, or the chemical bond strength is poor.
  • an optimal layer structure such as a treatment for imparting a physical anchor effect by performing a roughening treatment, an antifungal treatment, and a silane coupling agent treatment.
  • the prevention treatment may be performed by a wet process or the physical vapor deposition method.
  • Manufacturing method of copper foil with carrier sheet according to the present invention includes the first copper foil with carrier sheet and the second copper foil with carrier sheet. The process is different. Hereinafter, each manufacturing method will be described.
  • the method for producing the copper foil with the first carrier sheet includes the following step A and step B. However, it is preferable to clean the surface of the carrier sheet before forming the bonding interface layer. As the cleaning of the carrier sheet, it is preferable to use one or more selected from degreasing, pickling, soft etching, and dry etching power. As described above, when using rolled copper foil as the carrier sheet, it is particularly is required.
  • Rolled copper foil is a manufacturing method in which metal copper is thinned by passing pressure between two rotating rolls to increase the pressure. Rolling oil is also supplied between the rolls for the purpose of cooling. ing. Therefore, rolling oil and a slight acid film are present on the surface of the finished rolled copper foil.
  • the bonding interface layer is formed without cleaning the carrier sheet and the copper foil layer is formed, the variation in the adhesive strength between the carrier sheet and the bonding interface layer may increase, and the thickness and surface roughness may increase. In some cases, large variations may occur. Therefore, it is preferable to select a cleaning method according to the characteristics of the substance attached to the carrier surface. For example, in the case where oil is present, pickling or soft etching is performed after the alkali degreasing or electrolytic degreasing process. In addition, it is also preferable to perform cleaning by performing a press sputtering with argon ions or the like in the vacuum chamber. Further, when a metal foil is used as the carrier sheet, it is also preferable to carry out antifouling treatment on the surface to prevent acidification in advance. In the case of an electrolytic copper foil that does not use oil in the manufacturing process, cleaning can be omitted.
  • Step A is a bonding interface layer forming step in which a bonding interface layer in which a metal layer and a carbon layer are laminated is formed on the surface of the carrier sheet using a thin film forming means.
  • the thin film forming means here is preferably a dry film forming means. That is, it is preferable to employ any one of vacuum deposition, sputtering, chemical vapor deposition and the like. However, sputtering deposition is the most suitable for forming the metal layer and carbon layer used in the present invention.
  • step i and step ii described below a metal sheet and a carbon layer are continuously formed on the surface of the carrier sheet that has been rolled out with a carrier sheet roll force having a width exceeding lm. It is also possible to form them sequentially.
  • step i a metal is applied to the surface of the carrier sheet by sputtering deposition using a target material of any one of tantalum, niobium, zirconium, nickel, chromium, titanium, iron, silicon, molybdenum, vanadium, and tungsten. Atoms are landed to form a metal layer.
  • a carbon target material a carbon layer is formed on the metal layer by sputtering vapor deposition to form a composite layer.
  • argon ions or nitrogen ions are used.
  • sputter species such as argon ions and nitrogen ions
  • argon ions and nitrogen ions are obtained by ionizing argon gas, nitrogen gas, etc. into a plasma state, and collide with the target by the applied acceleration voltage, so that metal atoms that are constituent components of the target, It plays the role of popping out carbon atoms.
  • the sputter type is appropriately selected according to the target type. For example, when comparing argon and nitrogen as sputtering species, argon ions generally have the advantage that the sputtering rate is large and high productivity can be obtained compared to nitrogen ions. Since the roughness of the surface is large, there is a drawback that the target life is short.
  • Nitrogen ions as sputtering species tend to be less productive than argon ions, which have a lower sputtering rate than argon ions, but the target material surface roughness is low. There are features such as the advantage of a long life for each sputter type. Therefore, what should be used as the sputtering type may be appropriately selected in consideration of the properties of the production line and the required productivity.
  • step i and step ii it is preferable to adopt a magnetron sputtering technique, because the film deposition rate is high and the viewpoint of adopting an industrial continuous production method is also preferable.
  • a constant voltage is applied to the target to generate a magnetic field parallel to the target surface, and sputter seed ions are generated by glow discharge and collide with the target surface.
  • ionization of the sputter species gas is promoted, and at the same time, the target atoms land on the surface of the carrier sheet to be deposited. Promote.
  • a power of 1 kW to 5 kW (hereinafter simply referred to as "sputtering power") be applied to the target.
  • the sputtering power exceeds 5 kW, it is difficult to induce metal atoms and carbon atoms ejected from the target material to the surface of the carrier sheet, and the amount of loss components adhering to the side wall of the chamber is increased, which is preferable. Absent.
  • the sputtering power is less than 1 kW, the industrially required productivity is not satisfied and the product is formed. The variation in the thickness of the metal layer and the carbon layer is also increased.
  • Step B is a copper foil layer forming step in which a copper foil layer is formed on the composite layer of the metal layer and the carbon layer by an electrolytic method or a physical vapor deposition method.
  • a wet electrolytic method using a sulfuric acid-based copper electrolytic solution, a copper pyrophosphate-based copper electrolytic solution, or the like is employed.
  • the carrier sheet on which the bonding interface layer is formed is brought into contact with a copper electrolyte, the carrier sheet is force-sword polarized, and copper is electrodeposited on the bonding interface layer.
  • the copper electrolyte there is no special limitation regarding the copper electrolyte at this time.
  • a copper foil layer is formed on the composite layer of the metal layer and the carbon layer by a physical vapor deposition method, it is formed using the above-described sputtering vapor deposition or the like.
  • Step A and Step B A cocoon treatment process, a silane coupling agent treatment process, a cleaning process, a drying process, and the like may be provided as appropriate.
  • the manufacturing method of copper foil with a 1st carrier sheet contains the following process a-process c. At this time, the process a and the process A of the manufacturing method of the copper foil with the first carrier sheet are common. Therefore, in order to avoid redundant description, the description of step a of the method for manufacturing the copper foil with the second carrier sheet is omitted.
  • This step b is a first copper layer forming step of forming a first copper layer on the surface of the carbon layer. That is, the same concept as in step A can be applied to the formation of the first copper layer.
  • the sputtering conditions when employing the sputtering vapor deposition method may be appropriately selected in consideration of the properties of the production line and the required productivity.
  • step c is a copper foil layer forming step in which a second copper foil layer is formed on the first copper layer by an electrolytic method to complete the copper foil layer.
  • the electrolysis conditions at this time are the same as in step B of the above-described method for producing the copper foil with the first carrier sheet.
  • Copper-clad laminate according to the present invention By using the above-described surface-treated copper foil with a carrier sheet according to the present invention, a high-quality copper-clad laminate can be provided.
  • Carrier according to the present invention The copper clad laminate obtained using the copper foil with a sheet prevents the copper foil layer from being creased during handling and bonding, and the copper foil layer is protected by a carrier sheet.
  • This is a copper clad laminate with surface contamination prevented. That is, it is possible to provide a copper-clad laminate that has an ultra-thin electrolytic copper foil on the surface, has little surface contamination such as adhesion of foreign matter, and has few defects, and is useful for the production of fine pitch printed wiring boards.
  • the carrier sheet can be easily removed even if it is subjected to a pressing force that causes a load of 300 ° C or higher.
  • the first carrier sheet-attached copper foil 1 shown in FIG. 1 was produced.
  • electrolytic copper foil classified as grade 3 of 35 / zm thickness is used for carrier sheet 2, and copper foil layer 3 ⁇ m thick 3 mm thick on the glossy surface side with an average roughness (Ra) of 0.21 ⁇ m.
  • Ra average roughness
  • the manufacturing conditions will be described in the order of each process.
  • a dimensionally stable anode (DSA) is used as the anode electrode as long as the material is not described.
  • the carrier sheet 2 was pickled.
  • the pickling treatment at this time was performed by immersing the carrier sheet 2 in a dilute sulfuric acid solution having a sulfuric acid concentration of 150 g Zl and a liquid temperature of 30 ° C. for 30 seconds to remove the surface acid film, washing with water and drying. .
  • Step A For the formation of the bonding interface layer on the carrier sheet after drying, a winding type sputtering apparatus SPW-155 manufactured by Nippon Vacuum Technology Co., Ltd. was used as the sputtering apparatus, and the target was 300 mm X 1700 mm. A titanium target of the size was used. Then, the scan Roh Ttaringu conditions, the ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _4 Pa, sputtering pressure PAr by adopting 0. LPA, the sputtering conditions power 30 kW, the carrier sheet titanium emission layer having a thickness of 10nm It formed in the glossy surface side of the electrolytic copper foil which is.
  • a winding type sputtering apparatus SPW-155 manufactured by Nippon Vacuum Technology Co., Ltd. was used as the sputtering apparatus, and a carbon table having a size of 300 mm x 1700 mm was used as the target. One get was used.
  • the ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _4 Pa
  • spatter ring pressure PAr is 0. 4 Pa
  • Step B When the formation of the bonding interface layer was completed as described above, a copper foil layer was formed on the surface.
  • the copper foil layer in this example was formed using a copper sulfate solution having a sulfuric acid concentration of 150 gZl, a copper concentration of 65 gZl, and a liquid temperature of 45 ° C.
  • a flat plate anode electrode is placed in parallel on the surface where the bonding interface layer is formed, the carrier sheet 2 itself is force-sword polarized, and the current density is 24 AZdm 2 for 40 seconds under a smooth plating condition.
  • Electrolysis was carried out to form a copper foil layer having a thickness of 3 m to obtain a copper foil with a carrier sheet.
  • fine copper particles were deposited on the surface of the copper foil layer in the fine copper particle formation step.
  • the same kind of copper sulfate solution as that used for forming the copper foil layer described above was used, with a solution composition of lOOgZl sulfuric acid, 18gZl copper, and a liquid temperature of 25 ° C. .
  • a flat anode electrode is arranged in parallel on the surface on which the copper foil layer is formed, the carrier itself is force-sword polarized, and electrolysis is performed for 10 seconds under the condition of current density lOAZdm 2. Then, fine copper particles were deposited and formed.
  • a covering step for preventing the fine copper particles from falling off was performed.
  • electrolysis was performed for 20 seconds under smooth plating conditions using the same copper sulfate solution and method as used in the formation of the copper foil layer described above.
  • an antifungal treatment and a silane coupling agent treatment were performed.
  • zinc was used as an antifouling element, and not only the surface of the copper foil layer but also the surface of the carrier layer was subjected to the antifouling treatment at the same time. Therefore, here, a zinc plate, which is a soluble anode, is used as an anode electrode on both sides of a copper foil with a carrier sheet that has been subjected to a roughening treatment, and the zinc concentration balance in the antifouling treatment tank is used.
  • a zinc sulfate bath was used as the electrolytic solution, the sulfuric acid concentration was maintained at 7 Og / zinc concentration at 20 gZl, the liquid temperature was 40 ° C., the current density was 15 AZdm 2 , and the electrolysis time was 15 seconds. When the antifouling treatment was completed, washing was performed.
  • a chromate layer was formed on the zinc barrier layer by electrolysis.
  • the electrolysis conditions were chromic acid 5. Og / U pHl 1.5, liquid temperature 35 ° C, current density 8AZdm 2 , and electrolysis time 5 seconds. This electrolytic chromate protection was performed simultaneously on the surface of the zinc-protected carrier layer only on the surface of the zinc-protected copper foil layer.
  • the silane coupling agent was adsorbed only on the antifouling treatment layer on the roughened surface of the copper foil layer in the silane coupling agent treatment tank.
  • the solution composition at this time was such that ion exchange water was used as a solvent and y-glycidoxypropyltrimethoxysilane was added to a concentration of 5 gZl. Then, the solution was adsorbed by spraying the surface with a shower ring.
  • the atmospheric temperature is adjusted by an electric heater in the drying treatment furnace so that the foil temperature becomes 140 ° C, and it passes through the heated furnace over 4 seconds. Then, the moisture was removed and the condensation reaction of the silane coupling agent was promoted to obtain a finished surface-treated copper foil with a carrier sheet.
  • an adhesive was used on the copper foil layer side of the surface-treated copper foil with a carrier sheet, and firmly bonded to a 150 m thick cured FR-4 substrate. Then, the peeling strength between the carrier and the copper foil layer was measured at 10 points by peeling off the carrier sheet. As a result, the average peel strength measurement result averaged 3. lgZcm.
  • FR-4 base material is pasted on the copper foil layer side of the surface-treated copper foil with carrier sheet in the same manner as described above, and the peel strength between the carrier and the copper foil layer is measured at 10 points. did. As a result, the measurement result of the peel strength was an average of 20.2 gZcm.
  • Example 2 the results of manufacturing the second carrier sheet-attached copper foil 20 shown in FIG. 2 will be described.
  • the same electrolytic copper foil as in Example 1 was used for the carrier sheet 2, and a copper foil layer 3 having a thickness of 5 ⁇ m was formed on the glossy surface side with an average roughness (Ra) of 0.21 ⁇ m.
  • Ra average roughness
  • Step a Glossy surface side of electrolytic copper foil as carrier sheet in the same manner as in step 1 of Example 1 In addition, in order to manufacture Sample 1 to Sample 4 shown in Table 1, a metal layer having various thickness titanium layers was prepared.
  • Step b Next, a first copper layer was formed on the carbon layer.
  • a winding type sputtering apparatus SPW-155 manufactured by Nippon Vacuum Technology Co., Ltd. was used as the sputtering apparatus, and a copper target having a size of 300 mm ⁇ 1700 mm was used as the target.
  • the sputtering conditions at this time are as follows. In order to manufacture Sample 1 to Sample 4 listed in Table 1, the ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _4 Pa, the sputtering pressure PAr is 0.4 Pa, and the sputtering power is appropriately changed to obtain various thicknesses. A first copper layer was formed on each sample.
  • TM When the formation of the first copper layer was completed as described above, a second copper layer was formed on the surface.
  • the second copper layer in this example was formed under the same conditions as in Example 1 so that the total thickness of the first copper layer and the second copper layer was 3 m.
  • the thickness of the copper foil layer is approximately 3 m, which is the sum of the thicknesses of the first and second copper layers.
  • the second carrier sheet-attached copper foil 20 shown in FIG. 2 was manufactured by the same process as in Example 2. Since the process is basically the same as that of the second embodiment, only the different parts will be described.
  • the carrier sheet 2 was pickled.
  • the pickling treatment at this time was performed by immersing the carrier sheet 2 in a dilute sulfuric acid solution having a sulfuric acid concentration of 150 g Zl and a liquid temperature of 30 ° C. .
  • Step a For forming the bonding interface layer on the carrier sheet after drying, a winding type sputtering apparatus SPW-155 manufactured by Nippon Vacuum Technology Co., Ltd. was used as the sputtering apparatus, and the target was 300 mm X 1700 mm. A nickel target of the size was used. Then, as the sputtering conditions, the ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _4 Pa, sputtering pressure PAr by adopting 0. LPA, the sputtering conditions power 13 kW, a 34nm thickness - is a nickel layer with the carrier sheet It formed in the glossy surface side of the electrolytic copper foil.
  • Step b Next, a first copper layer was formed on the carbon layer.
  • the formation conditions of the first copper layer at this time are as follows: ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _4 Pa, sputtering pressure PAr is 0.1 lPa, sputtering power is 10 kW, and the first copper layer having a thickness of 32 nm is formed. Formed on each sample.
  • TM When the formation of the first copper layer was completed as described above, a second copper layer was formed on the surface.
  • the second copper layer was formed under the same conditions as in Example 2 so that the total thickness of the first copper layer and the second copper layer was 3 m.
  • the measurement result of the normal peel strength measured in the same manner as in Example 1 was 3.4 fgZcm on average.
  • the surface peel-off copper foil with a carrier sheet was subjected to heat treatment in an oven at 230 ° C and 350 ° C for 30 minutes, and the measured peel strength was an average of 3.5 gfZcm at 230 ° C.
  • the average at 350 ° C was 31.8 gfZcm.
  • step B the formation of the copper foil layer in step B was performed by a physical vapor deposition method.
  • the only difference from Example 1 is that part of the treatment was performed by physical vapor deposition. Therefore, only this difference is described and the evaluation results are shown below.
  • Step B when the formation of the bonding interface layer in Step A was completed, a copper foil layer was formed on the surface using an electron beam evaporation method.
  • the copper foil layer in this example was 3 m thick.
  • the deposition conditions for the electron beam evaporation method were an ultimate pressure of 1 ⁇ 10 _2 Pa or less, a carrier foil temperature of room temperature, and a processing speed of 2 mZmin.
  • the antifouling layer was formed on the surface of the copper foil layer.
  • the anti-bacterial treatment layer is formed as a zinc layer.
  • a magnetron type sputtering apparatus similar to the above was used as the sputtering apparatus, and a zinc target having a size of 300 mm ⁇ 170 Omm was used as the target.
  • the ultimate vacuum Pu is less than 1 X 10 _3 Pa
  • the sputtering pressure PAr is 0.4 Pa
  • the sputtering power is 6 kW
  • a zinc layer with a thickness of 5 nm is formed on the copper foil layer. did.
  • the silane coupling agent was adsorbed only on the antifouling treatment layer of the copper foil layer immediately in the silane coupling agent treatment tank.
  • the solution composition at this time was such that ion exchange water was used as a solvent and y-glycidoxypropyltrimethoxysilane was added to a concentration of 5 gZl.
  • the solution was adsorbed by spraying the surface with a shower ring.
  • the atmosphere temperature is finally adjusted by an electric heater in the drying furnace so that the foil temperature becomes 140 ° C, and it passes through the heated furnace over 4 seconds. Then, the moisture was removed and the condensation reaction of the silane coupling agent was promoted to obtain a finished surface-treated copper foil with a carrier foil.
  • the thickness of the titanium layer in the bonding interface layer of the surface-treated copper foil with carrier foil obtained as described above averaged 10 nm, and the thickness of the carbon layer averaged 1 nm.
  • the measurement result of the normal peel strength measured in the same manner as in Example 1 was an average of 7.2 gfZcm.
  • the surface peel-off copper foil with carrier sheet was subjected to heat treatment in an oven at 230 ° C and 350 ° C for 30 minutes, and the average peel strength measured at 230 ° C was 5.8 gfZcm. The average was 16.8 gfZcm at 350 ° C.
  • This Comparative Example 1 employs the same manufacturing method as in Example 1, omits the formation of the carbon layer, and uses only a titanium layer having a thickness of 8 nm as the bonding interface layer formed in Step A. An attached copper foil was produced, and a surface-treated copper foil with a carrier foil for comparison was further obtained.
  • each peel strength was measured in the same manner as in Example 1. As a result, the average peel strength was 4.5gfZcm on average, 30 minutes heat treatment in an oven at 230 ° C, and the peel strength after an average heat treatment in an oven at 28.6gfZcm, 330 ° C for 30 minutes. It was not possible to peel it off.
  • Comparative Example 2 the same manufacturing method as in Example 1 was adopted, the formation of the titanium layer was omitted, and the bonding interface layer formed in Step A was only a 2 nm thick carbon layer. A copper foil was produced, and a surface-treated copper foil with a carrier foil for comparison was further obtained.
  • each peel strength was measured in the same manner as in Example 1.
  • the normal peel strength averaged 15.3 gfZcm, and after heat treatment in an oven at 230 ° C for 30 minutes and after heat treatment in an oven at 330 ° C for 30 minutes, the peel strength was strong.
  • the surface treatment copper foil with carrier foil according to the example is a carrier, even in a normal state, after heat treatment in an oven at a temperature exceeding 300 ° C for 30 minutes. It becomes clear that the foil can be easily peeled off. That is, in order to obtain such characteristics, the surface-treated copper foil with carrier foil (or copper foil with carrier foil) includes a bonding interface layer composed of a metal layer and a carbon layer as referred to in the present invention. There is a need.
  • the carrier sheet-attached copper foil or surface-treated copper foil with a carrier sheet according to the present invention is used. Fluororesin-based copper-clad laminates and liquid crystal polymer copper-clad laminates that require pressing at temperatures of 300 ° C or higher, production of polyimide copper-clad laminates by casting and pressing methods, etc. Even after a high temperature load is applied, an easy peeling force S between the carrier layer and the copper foil layer is possible. In addition, it has become possible to significantly reduce the variation in the peel strength. As a result, by forming an extremely thin copper foil layer that cannot be conventionally applied to a fluorine resin substrate, a liquid crystal polymer, a polyimide substrate, etc. using the copper foil with a carrier sheet according to the present invention, Product quality can be greatly improved, and fine pitch wiring can be easily formed.
  • FIG. 1 is a schematic sectional view of a copper foil with a first carrier sheet.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a double-sided copper foil with a first carrier sheet.
  • FIG. 3 is a schematic sectional view of a copper foil with a second carrier sheet.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of a double-sided copper foil with a second carrier sheet.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a surface-treated copper foil with a first carrier sheet.
  • Double-sided copper foil with first carrier sheet 1. Double-sided copper foil with first carrier sheet
  • Double-sided copper foil with second carrier sheet 1st copper layer 2nd copper layer

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Abstract

 300°C以上の温度でのプレス加工するプリント配線基板の製造に用いても、キャリアと銅箔層との引き剥がし可能なキャリアシート付銅箔の提供を目的とする。この目的を達成するため、キャリアシートの表面に接合界面層を介して銅箔層を有し、当該キャリアシートが物理的に引き剥がし可能なキャリアシート付銅箔であって、当該接合界面層は、金属層と炭素層とからなることを特徴とするキャリアシート付銅箔を採用する。そして、前記接合界面層は、厚さ1nm~50nmの金属層と、厚さ1nm~20nmの炭素層とで構成されたものとすることが好ましい。

Description

明 細 書
キャリアシート付銅箔、キャリアシート付銅箔の製造方法、キャリアシート付 表面処理銅箔及びそのキャリアシート付表面処理銅箔を用いた銅張積層板
技術分野
[0001] 本件発明は、キャリアシート付銅箔、当該キャリアシート付銅箔の製造方法、当該キ ャリアシート付銅箔に表面処理を施したキャリアシート付表面処理銅箔、当該キャリア シート付表面処理銅箔を用いた銅張積層板に関する。これらは全てプリント配線板の 製造材料として好適なものである。
背景技術
[0002] 従来から、特許文献 1を初め多くの文献に開示されているような電解銅箔、特許文 献 2に開示されているような圧延銅箔が銅張積層板の製造に用いられ、この銅張積 層板に形成される銅層をエッチング加工することにより、プリント配線板が製造されて きた。
[0003] ここで言う銅張積層板の製造は、リジッドタイプの銅張積層板を製造する場合とフレ キシブルタイプの銅張積層板を製造する場合とで異なる。リジッドタイプの銅張積層 板を製造する場合には、銅箔と、 Bステージに半硬化させた榭脂含浸基材 (プリプレ グ)と、その他スぺーサ一となる鏡板との組み合わせを多段に積み重ねたブックを熱 板で挟みこみ、高温雰囲気下で高圧をかけて榭脂含浸基材の榭脂を硬化させると 同時に銅箔と圧着する方法を採用するのが一般的である(以下、この工程を「プレス 加工」と称する場合がある)。フレキシブルタイプの銅張積層板を製造する場合には、 銅箔とポリイミド等の有機系高分子絶縁層構成材料等とを熱間プレス、ロールラミネ ートにより張り合わせる力、キャスティング法等によりポリアミック榭脂成分を銅箔に塗 布して加熱してポリイミド榭脂層を形成する等の方法を採用するのが一般的である。
[0004] 一方、近年の小型軽量化の図られた電子機器等に搭載するプリント配線板は、部 品実装密度を向上させ狭小領域に配置されるため、ファインピッチ回路を形成するこ とが求められてきた。この要求に応えるベぐ当業者間では、より薄い銅箔を使用する ことが行われてきた。ところが、薄い銅箔を使用するほど銅箔のハンドリングが困難と なり、シヮ等の欠陥が発生しやすくなる。銅箔にシヮが存在すると、プレス成型時に銅 箔のシヮ発生部でクラックが生じ、流動化したプリプレダの構成樹脂が染み出し、銅 張積層板の表面を汚染したり、表面の平坦度を損ねることになる。これら銅張積層板 の表面欠陥は、その後のプリント配線板製造工程において形成される配線回路のシ ョートや断線等を起こす原因となる。そして、フレキシブルタイプの銅張積層板を製造 する場合のロールラミネート、キャスティング法等のプレス力卩ェとは異なる方法を用い た場合でも銅箔に存在したシヮは、銅張積層板の状態になった以降も、その表面に 凹凸として残留し、同様の問題を起こす。
[0005] これらのことから、キャリア箔付電解銅箔が用いられてきた。キャリア箔付電解銅箔 は、一般にビーラブルタイプとエツチヤブルタイプに大別することが可能である。違い を一言で言えば、ビーラブルタイプは銅張積層板とした後にキャリア箔を物理的に引 き剥がして除去するものであり、エツチヤブルタイプは銅張積層板とした後にキャリア 箔をエッチングにて除去するものである。そして、近年では、エッチングプロセスが不 要で製造コストの上昇を招力ないビーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔に対する 要求が顕著となってきた。特許文献 3、特許文献 4等にビーラブルタイプのキャリア箔 付電解銅箔が開示されている。
[0006] このビーラブルタイプのキャリア箔付電解銅箔は、キャリア箔層と銅箔層との間に、 剥離層を設けた層構成を備える。そして、プレス加工の熱履歴を受けた以降も、キヤ リア箔を 20gf Zcm〜: LOOgf Zcmの弓 |き剥がし強さで剥離可能な特性が求められる 。そして、この引き剥がし強さは、プレス力卩ェの温度が高温になるほど、大きな値とな る。ところが、 300°Cを超えるプレスカ卩ェ温度が採用される液晶ポリマ基材、フッ素榭 脂基材又はキャスティング法によるポリイミド榭脂層の形成でも 300°Cを超える温度で の加熱を受ける。係る場合、キャリア箔層と銅箔層との間の剥離層が耐熱性に乏しい 場合、キャリア箔層と銅箔層との間、キャリア箔層 Z剥離層 Z銅箔層の 3層の間での 相互拡散が起き、キャリア箔の一部がちぎれて銅箔層の表面に残留したり、キャリア 箔層と銅箔層とが引き剥がせないという現象が生じる。
[0007] 高温プレス加工した後も、キャリア箔の容易な引き剥がしが可能なキャリア箔付銅箔 に関する技術として、特許文献 3には金属酸ィ匕物が高温でも安定な化合物であり、 一般的に固いが脆いという性質を利用し、金属酸ィ匕物層を単独で用いてキャリア層と 銅箔層との接合界面に用いると 、う技術が開示されて 、る。
[0008] そこで、特許文献 4では、キャリア箔の表面に、剥離層と、拡散防止層と、電気銅め つき層とをこの順序に積層してなり、該電気銅めつきの表面が粗面化されていることを 特徴とするキャリア付き極薄銅箔を開示している。ここで言う剥離層は、無機系の剥 離層であり、クロム層またはクロム水和酸ィ匕物層であることが好ましい。そして、該剥 離層の上に形成する拡散防止層は、キャリア付き極薄銅箔を榭脂基材に載せ、プレ ス積層するときに、該剥離層の拡散を防ぐ層であり、ニッケル、コバルト、鉄、クロム、 モリブデン、タングステン、銅、アルミニウム及びリンカ なる群より選ばれる少なくとも 1種の元素からなり、単一金属の層でもよぐ 2種以上の金属の合金層または 1種以 上の金属酸ィ匕物の層でもよいとしている。これはプレスカ卩ェしたときのキャリア箔の引 き剥がし強さの安定性と、レーザー穴明け加工性能とを両立させることを目的として いる。
[0009] そして、特許文献 5には、キャリア箔 Z有機系剤により構成した接合界面層 Z銅箔 層の順序に積層したキャリア箔付極薄銅箔を開示して ヽる。この特許文献 4に開示の 接合界面は、有機剤で構成されているため、 200°C以下のプレス加工では、特許文 献 3に開示のキャリア箔付電解銅箔以上のキャリア箔の引き剥がし強さの安定性を見 せる。ところが、 200°Cを超える温度でのプレス力卩ェが行われると、キャリア箔層と銅 箔層とが引き剥がせないという現象が生じる。
[0010] そこで、特許文献 6に開示のように、接合界面層の形成にチオシァヌル酸を用いる と、 300°Cを超えるプレスカ卩ェ温度が負荷されてもキャリア箔の引き剥がしが容易に なる。また、特許文献 7に開示されているように、キャリア箔の片面上に、接合界面層 を備え、その接合界面層上に銅箔層を設けたキャリア箔付電解銅箔において、当該 接合界面層は金属酸化物層と有機剤層とから構成することを特徴とするキャリア箔付 電解銅箔を採用することで、 200°Cを超えるプレス加工温度が負荷されてもキャリア 箔の引き剥がしが容易になるとしている。ここで言う、接合界面層を構成する金属酸 化物層は、 lnm以上の厚さのニッケル、クロム、チタン、マグネシウム、鉄、コノ レト、 タングステンの各酸ィ匕物又はこれらの元素を含む合金酸ィ匕物である。 [0011] 以上のようにして、プレスカ卩ェ温度が高くとも、ビーラブルタイプのキャリア箔付電解 銅箔のキャリア箔の引き剥がしが容易となる技術が提唱され、一定の成果を挙げてき た。
[0012] 特許文献 1 :特開平 10— 18075号公報
特許文献 2:特開平 8 - 158027号公報
特許文献 3:特表 2005 - 502496号公報 (EP1133220)
特許文献 4:WO2002Z024444号公報
特許文献 5:特開 2000 - 309898号公報
特許文献 6:特開 2001— 68804号公報
特許文献 7:特開 2003— 181970号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0013] し力しながら、上記特許文献 3に開示のように、キャリア箔付電解銅箔の剥離層に 金属酸ィ匕物層を単独で用いた場合には、接合状態は安定するが、 300°Cを超える 温度で高温加熱された場合には、金属酸化物と金属銅との間で酸化還元反応が進 行して金属結合部分が形成され、キャリア層と銅箔層との引き剥がし強さが大きくなる 。し力も、当該引き剥がし強さは、安定性に欠けるものであり、キャリア層と銅箔層との 引き剥がし強さの品質保証が困難となる。
[0014] また、特許文献 4には、キャリア箔を剥離する際の剥離強度は、クロム層の付着量に 大きく影響されることが明示されている。ところが、当業者間で周知のように、大量生 産を行う上でのクロムの付着量制御は困難であり、製造における管理コストが増大す る傾向にある。しかも、クロムは、環境汚染物質に関する欧州指令 (WEEEZRoHS )等による規制物質であり、積極的使用が好ましくない。
[0015] 更に、キャリア箔付電解銅箔の剥離層 (接合界面層)に有機剤を用いる特許文献 6 及び特許文献 7に開示の技術では、 300°Cを超える温度で高温プレス加工された後 の、キャリア箔の引き剥がし強さの安定性に対する市場の信頼性を得ることが出来な かった。
[0016] これらのことから、現実の工業的生産の中で、従来のキャリア箔付電解銅箔は、 30 o°cを超えるプレス加工温度を採用する銅張積層板の製造に安心して採用出来るも のではなかった。従って、 300°Cを超えるプレスカ卩ェ温度を必要とする銅張積層板の ファインピッチ回路形成をより容易にするため、 300°Cを超えるプレスカ卩ェ温度が負 荷されても、キャリア箔層と銅箔層とが、工業的に採用可能な安定した引き剥がし強 さを達成できることがキャリア箔付電解銅箔が求められてきた。
課題を解決するための手段
[0017] そこで、本件発明に係る発明者等は、鋭意研究の結果、ビーラブルタイプのキヤリ ァシート付銅箔の接合界面層の形成にスパッタリング蒸着法を採用することで、 300 °Cを越える高温が負荷された後も、接合界面層が健全に維持でき、キャリアシート層 と銅箔層との引き剥がし強さを低いレベルで安定ィ匕させ、容易にキャリアシートの剥 離が可能であることに想到した。以下、本件発明について説明する。
[0018] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔: 本件発明に係るキャリアシート付銅箔は、キ ャリアシートの表面に接合界面層を介して銅箔層を有し、当該キャリアシートが物理 的に引き剥がし可能なキャリアシート付銅箔であって、当該接合界面層は、物理蒸着 法を用いて形成した金属層 Z炭素層の 2層からなることを特徴とするものである。
[0019] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔において、前記接合界面層を構成する炭素 層は、厚さ Inn!〜 20nmである事が好ましい。
[0020] そして、前記接合界面層を構成する金属層は、タンタル、ニオブ、ジルコニウム、二 ッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブデン、バナジウム、タングステンのいずれか で構成された層であることが好まし 、。
[0021] また、前記金属層は、厚さ Inn!〜 50nmである事が好ましい。
[0022] 更に、前記接合界面層は、換算厚さとして 2ηπ!〜 70nmの厚さであることがこのまし い。
[0023] そして、本件発明に係るキャリアシート付銅箔の前記銅箔層は、電解法で形成した 銅層を用いることが好ま 、。
[0024] また、本件発明に係るキャリアシート付銅箔の前記銅箔層は、物理蒸着法で形成し た銅層を用いることも好ましい。
[0025] 更に、前記銅箔層は、物理蒸着法で ΙΟηπ!〜 300nm厚さの第 1銅層を形成し、更 に電解法で第 2銅層を形成して得られる銅層を用いることも好ま 、。
[0026] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔は、常態におけるキャリアシートの引き剥がし 強さが 2gfZcm〜 20gfZcmであることが好ましい。
[0027] また、本件発明に係るキャリアシート付銅箔は、 300°C〜350°C X 30分間加熱後 のキャリアシートの引き剥がし強さが 5gfZcm〜50gfZcmであることが好ましい。
[0028] そして、本件発明に係るキャリアシート付銅箔の前記キャリアシートは、その厚みが
12 μ m〜210 μ mの金属箔を用いることが好ましい。
[0029] 本件発明に係るキャリアシート付表面処理銅箔: 本件発明に係るキャリアシート付 表面処理銅箔は、上述のいずれかに記載のキャリアシート付銅箔の銅箔層の表面に 粗化処理、防鲭処理、シランカップリング剤処理から選択された 1種又は 2種以上の 表面処理を施したものである。
[0030] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の製造方法: 本件発明に係るキャリアシート付 銅箔の製造方法は、以下の製造方法の第 1製造方法又は第 2製造方法のいずれか を採用することが好ましい。
[0031] 第 1製造方法は、以下の工程 A及び工程 Bを含むことを特徴とするものである。
[0032] 工程 A : キャリアシートの表面に、薄膜形成手段を用いて金属層と炭素層との積層 した接合界面層を形成する接合界面層形成工程。
工程 B : 前記金属層と炭素層とからなる接合界面層の上に、電解法又は物理蒸着 法で銅箔層を構成する銅箔層形成工程。
[0033] 第 2製造方法は、以下の工程 a〜工程 cを含むことを特徴とするものである。
[0034] 工程 a : キャリアシートの表面に、薄膜形成手段を用いて金属層と炭素層とを積層し た接合界面層を形成する接合界面層形成工程。
工程 b : 前記炭素層の表面に、物理蒸着法を用いて第 1銅層を積層形成する第 1銅 層形成工程。
工程 c: 前記第 1銅層の上に電解法で第 2銅箔層を形成して銅箔層を完成させる銅 箔層形成工程。
[0035] 上述の本件発明に係るキャリアシート付銅箔の第 1製造方法及び第 2製造方法に おいて、前記工程 A又は工程 aの薄膜形成手段としては、物理蒸着法の中でもスパ ッタリング蒸着法を選択して用いることが好ま 、。
[0036] また、前記工程 A又は工程 aにおけるスパッタリング蒸着法は、以下の工程 i及びェ 程 iiを含むものを採用する。
[0037] 工程 i: タンタル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブ デン、バナジウム、タングステンのいずれかのターゲット材を用いて、スパッタリング蒸 着法でキャリアシートの表面に金属原子を着地させ金属層を形成する。
TMii 炭素ターゲット材を用いて、スパッタリング蒸着法で前記金属層の上に炭素 層を形成し、接合界面層とする。
[0038] 本件発明に係る銅張積層板: 上述の本件発明に係るキャリアシート付表面処理銅 箔を用いることにより、高品質の銅張積層板が提供できる。
発明の効果
[0039] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔は、キャリアシート層 Z接合界面層 Z銅箔層 の層構成を備え、その接合界面層にスパッタリング蒸着法に代表される薄膜形成法 を用いて形成した接合界面層を設けた点に特徴を有する。そして、この接合界面層 を金属層及び炭素層で構成することにより、従来のビーラブルタイプのキャリアシート 付銅箔に比べて接合界面層(剥離層)が耐熱安定性に優れているため、 300°Cを超 えるプレス加工温度等を採用しても、キャリアシートの引き剥がし作業が飛躍的に容 易になる。
[0040] また、本件発明に係るキャリアシート付銅箔は、その銅箔表面に長期保存性を確保 するための防鲭処理層、基材榭脂との密着性を向上させるための粗ィ匕処理及びシラ ンカップリング剤処理等を任意に施し、キャリアシート付表面処理銅箔とすることが可 能である。そして、現実に巿場に供給される製品の殆どは、このキャリアシート付表面 処理銅箔となる。
[0041] 更に、本件発明に係るキャリアシート付銅箔の製造方法は、キャリアシートの表面に 効率よく均一な厚さの金属層及び炭素層を形成可能な条件を開示しており、特に 1 mを超える幅をもつキャリアシートロール力も繰り出されたキャリアシートの表面に連 続的に金属層及び炭素層を順次形成する場合であっても適用可能である。
発明を実施するための最良の形態 [0042] 以下、本件発明に係るキャリアシート付銅箔、キャリアシート付表面処理銅箔、キヤ リアシート付銅箔の製造方法、及びそのキャリアシート付表面処理銅箔を用いた銅張 積層板の形態に関して詳細に説明する。
[0043] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の形態: 本件発明に係るキャリアシート付銅箔
(第 1キャリアシート付銅箔)の基本的層構成を図 1に示す。この図 1から分力るように 、本件発明に係るキャリアシート付銅箔 1は、キャリアシート 2と銅箔層 3との間に接合 界面層 4を備える。そして、この接合界面層は、当該キャリアシートが物理的に引き剥 力 Sし可能となるように、金属層 4aと炭素層 4bとからなる。ここで、キャリアシートの片面 に接合界面層を形成しても、キャリアシートの両面に接合界面層を形成しても構わな い。そして、以下の説明に出てくる銅箔層は、接合界面層を設けた上に設ける。従つ て、本件発明に係るキャリアシート付銅箔とは、図 2に示すようなキャリアシートの両面 に銅箔層を備える第 1キャリアシート付銅箔 1 'をも含む。
[0044] そして、本件発明に係るキャリアシート付銅箔 (第 2キャリアシート付銅箔)の基本的 層構成を図 3に示す。この図 3から分力るように、本件発明に係るキャリアシート付銅 箔 20は、キャリアシート 2と銅箔層 3との間に接合界面層 4を備える。そして、この接合 界面層は、第 1キャリアシート付銅箔と同様であり、当該キャリアシートが物理的に引 き剥がし可能となるように、金属層 4aと炭素層 4bとからなる。ここで、キャリアシートの 片面に接合界面層を形成しても、キャリアシートの両面に接合界面層を形成しても構 わない。そして、以下の説明に出てくる銅箔層は、接合界面層を設けた上に設ける。 従って、本件発明に係る第 2キャリアシート付銅箔でも、図 4に示すようなキヤリアシー トの両面に銅箔層を備える第 2キャリアシート付銅箔 20'をも含む。第 1キャリアシート 付銅箔との相違は、銅箔層が物理蒸着法を用 ヽて形成した第 1銅層 21と電解法で 形成した第 2銅箔層 22とからなる点にある。この第 1銅層の存在により、電解で形成 する第 2銅箔層の形成が容易で、且つ、キャリアシートを引き剥がすときの引き剥がし 強さが安定ィ匕する。以下、第 1キャリアシート付銅箔と第 2キャリアシート付銅箔との共 通する構成要素に関して説明する。
[0045] 最初に、キャリアシートに関して説明する。このキャリアシートは、銅箔層とあた力も 平面的に貼り合わされたような形態で存在し、次のような特性を要求されているもの である。一般的なキャリアシート付銅箔の製造方法を考えると、キャリアの表面上に連 続した工程で金属銅を電析させ製造されるので、キャリア表面には少なくとも導電性 があることが必要となる。しかし、本件出願に係るキャリアシート付銅箔の場合、その 接合界面層を物理蒸着法で形成する。そして、この接合界面層が導電性を備えるた め、キャリアシートに対して、特に導電性能を要求する必要が無くなる。従って、この キャリアシート付銅箔は、キャリアシートが所定の強度を有し、少なくとも銅張積層板 の製造終了時までは銅箔層と接合した状態を維持し、それまでの過程でノヽンドリング を容易にするなど、銅箔層をあらゆる意味で補強し、保護する役割を持てば良い。こ れらのことを満足するものであれば、銅箔、ニッケル箔、ステンレス箔、アルミニウム箔 等の金属箔に加えて、 PETフィルム、ァラミドフィルム、ポリイミドフィルム、ナイロンフ イルム等の榭脂フィルム、榭脂フィルム上に金属層コート層を備える金属コート榭脂フ イルム等の使用が可能である。
[0046] しかし、リサイクル性及びコストを考えるに、銅箔をキャリアシートとして使用する事が 好ましい。このように銅箔をキャリアシートとして使用する場合には、 12 /ζ πι〜210 /ζ m厚の金属箔を用いることが好ましい。従来技術力もも明らかなように導電配線として 機能できる必要厚みの金属銅層を形成するには湿式電解法が最適である。湿式電 解法は生産性に配慮した場合には高電流密度での生産が可能な確立された技術で あり、キャリアシートには大電流容量が要求されることになる。しかし、接合界面層の みが導電体である場合にはその厚さ故に大電流を用いた生産には耐えられない。よ つて、キャリアシート表面に電析される銅箔層を形成するに足りる電流量の通電実績 が豊富な 12 m以上の厚みの銅箔を用いることが好ましぐ実用性及び製造コストの 面から 210 mが上限になるのである。また、このキャリアシートに用いる銅箔は圧延 法で製造された圧延銅箔 (銅合金箔をも含む)、電解法で製造された電解銅箔のど ちらでも構わな ヽのである。
[0047] 次に、キャリアシートの表面に設ける接合界面層に関して説明する。本件発明に係 るキャリアシート付銅箔の接合界面層は、第 1キャリアシート付銅箔及び第 2キャリア シート付銅箔共に金属層 Z炭素層の 2層の複層構造を採用する。
[0048] ここで、接合界面層を構成する金属層に関して最初に説明する。この金属層には、 表面に不働態膜を形成しやすいものを選択使用すれば、金属層のみであっても常 温では適度な接着力と十分な剥離性を発揮できると考えられる。しかし、高温プレス 加工される場合、金属製キャリアシートの場合には、キャリアシート自体が、当該金属 層の不導体膜の還元剤として機能し、キャリアシート z接合界面層 Z銅箔層の界面 部において相互拡散を起こし、金属結合を形成し、剥離性が損なわれてしまう危険 性がある。そこで、金属製キャリアシートとの相互拡散性及び反応性の小さな炭素を 好適な厚さで配して、 300°Cを超える温度でのプレス力卩ェ等を受けても、銅箔層と接 合界面層との間での高温加熱による金属結合の形成を防止して、キャリアシートの引 き剥がし除去が容易な状態を維持するのである。
[0049] ここで言う金属層は、炭素との安定な結合の可能な金属を採用したものであり、タン タル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブデン、バナ ジゥム、タングステン等を用いることもできる。このときの金属層の換算厚さは、 Inn!〜 50nmであることが好ましい。この金属層は、換算厚さ Inn!〜 50nmであることが好ま しい。より好ましくは 4nm〜50nmである。この金属層の厚さが、 lnm未満の場合に は、金属層の厚さが不均一になるため、金属層が拡散ノ リアとして機能し得ない。一 方、金属層を厚くするほど、 300°Cを超える温度でのプレス加工等を受けても、銅箔 層と接合界面層との間での剥離が容易となる力 金属層の厚さを 50nmを超えるもの としても、それ以上に剥離性が向上することはなぐ資源の無駄遣いとなる。
[0050] 上述の金属層の構成成分の中でもチタン、タンタル、タングステンのいずれかを用 いることが高温プレス加工等されたときの相互拡散ノ《リアとしての安定性が高く好まし い。特に、チタンは、その不働態膜は、一般的にルチル型酸化物、アナターゼ型酸 化物の複合酸化物で構成されており、非常に強硬な酸ィ匕物であるため、高温耐熱性 を備えることが知られている。しカゝしながら、このようなチタン層(被膜)は、電解法で 形成することが困難である。そこで、本件発明に係るチタン層は、後述するスパッタリ ング蒸着等の物理蒸着法を用いて形成したものである。
[0051] そして、前記金属層の上には、炭素層を設ける。この炭素層も、第 1キャリアシート 付銅箔及び第 2キャリアシート付銅箔の接合界面層の構成に共通する。更に、この炭 素層も、後述するスパッタリング蒸着等の物理蒸着法を用いて形成する。従って、有 機系の炭素は除外される。このときの炭素は、種々の構造を取ることが知られており、 その代表としてダイアモンド構造とグラフアイト構造とがあるが、 V、ずれの構造を備え ていても構わない。炭素層の厚さが lnm未満の場合には、炭素層が薄ぐ接合界面 層を金属層のみで形成した場合のキャリアシート Z接合界面層 Z銅箔層の界面部に おける相互拡散防止効果と変わらなくなる。一方、炭素層の厚さが 20nmを超えるも のとしても、それ以上に剥離性は向上せず資源の無駄遣いとなる。
[0052] この接合界面層は、金属層 Z炭素層のトータル厚さであり、換算厚さとして 2ηπ!〜 70nmの厚さであることが好ましい。当該接合界面層の厚さが 2nm未満の場合には、 300°Cを超える温度でのプレス加工等を受けると、銅箔層と接合界面層との間での 剥離が困難となる。一方、当該接合界面層の厚さの上限を 70nmとしたのは、次のよ うな理由力もである。金属層と炭素層とのそれぞれが導電性を有する結果、接合界 面層そのものが導電性を有していることが最も好ましい。しかし、導電性の小さな物質 であっても、十分に薄い層状の場合にはトンネル効果による導通が得られる場合が ある。従って、金属層と炭素層とのトータル厚さとして考え、この金属層と炭素層との 界面に電気抵抗を上昇させる金属炭化物が混在して 、ても、 70nm以下の厚さであ れば良好な導通性が得られるのである。なお、換算厚さとは、単位面積あたりの成分 付着量を化学的に定量分析し、その分析量カゝら算出した厚さのことである。従って、 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の場合には、接合界面層が金属層 Z炭素層の 2層であるから、金属層と炭素層とのそれぞれの換算厚さを算出し、これらを加えたも のが接合界面層厚さである。
[0053] そして、前記銅箔層は、接合界面層の炭素層の上に、電解法又は物理蒸着法のい ずれかを用いて形成することが好ましい。電解法を用いる場合には、硫酸系銅電解 液、ピロリン酸銅系銅電解液を用いる等して、銅を炭素層上に析出させて銅層を形 成する。このように電解法を用いる利点は、最も迅速且つ低コストで、 mレベルの銅 箔層の形成が可能だからである。一方、物理蒸着法を用いる場合には、電解法と比 ベてコスト的には高くなる。しかし、電解法と異なり、炭素層が溶液と接触しないため、 炭素層が吸湿せず、安定した品質の接合界面層が維持できる。
[0054] また、当該銅箔層は、二段階のプロセスで製造することも好ましい。最初に、前記炭 素層上に、物理蒸着法で ΙΟηπ!〜 300nm厚さの第 1銅層を形成し、更に電解法で 任意の厚さの第 2銅層を形成して得られる銅層を用いることも好ましい。この接合界 面層の炭素の上に設ける第 1銅層は、後述するスパッタリング蒸着等の物理蒸着法 を用いて形成する。この第 1銅層は、炭素層の上に直接電解法で銅箔層を形成しよ うとすると、炭素層の影響で通電時の電気抵抗が大きくなるため、形成する銅箔層の 形成速度が遅くなつたり、不均一になる傾向がある。そこで、炭素層の上に、電気の 良導体である銅層(第 1銅層)を物理蒸着法で設けて、その状態で通電して電解法で 第 2銅層を形成すると、電気抵抗が低くなり、均一な厚さの銅箔層を速やかに得られ る。ここで、第 1銅層の厚さは、 10nm〜300nmであることが好ましい。第 1銅層の厚 さが lOnm未満の場合には、いかに物理蒸着法を用いたとは言え、炭素層を均一に 被覆し得ない。一方、第 1銅層の厚さを 300nmを超えるものとしても、この第 1銅層に 通電したときの電気抵抗の顕著な低下はなぐこれ以上の厚さとするために、電解法 に比べてコスト高の物理蒸着法を使用する必要はなくなる。ここで、念のために述べ ておくが、第 2銅層の形成には、製造コストを考慮して電解法を用いている。そして、 第 2銅層の厚さに関しては特段の限定はなぐ用途に応じた厚さとできる。
[0055] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の常態におけるキャリア剥離強度は、 2gfZc m〜20gfZcmであることが好ましい。前述のように、キャリアシート付銅箔は、少なく とも銅張積層板の製造終了時までは銅箔層と接合した状態を維持していなければな らず、高温処理により剥離性が悪ィ匕することを前提としなければならない。従って、キ ャリア剥離強度の最低値は銅張積層板製造工程までのハンドリングで剥離を生じな い 2gfZcm、最高値は加熱後の剥離強度が実用可能レベルに維持できる 20gfZc mが好適なのである。
[0056] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の 300°C〜350°C X 30分間加熱後のキヤリ ァ剥離強度は、 5gfZcm〜50gfZcmであることが好ましい。前述のように、絶縁層 構成材料との張り合せ工程後のキャリアの引き剥がし強さの値は 20〜: LOOgfZcmの 範囲が良好な範囲と言われているが、プレスカ卩ェ工程で受ける熱履歴は、そのときに 用いる絶縁層構成材料の種類により異なる。例えば、フッ素榭脂ゃ液晶ポリマーであ れば加熱温度は 300°Cを大きく超えるが熱可塑性榭脂であるために短時間である。 これに対し、キャスティング法を適用した場合のポリイミド榭脂は熱硬化性榭脂である ために溶融樹脂のコーティングは約 400°Cの高温短時間で実施し、その後 200°C前 後の比較的低温で硬化させると 、うプロセスを採用して 、る。このように多岐に亘る熱 処理条件に広く好適に用いうるためには 300°C〜350°C X 30分間加熱後のキャリア 剥離強度が 5gfZcm〜50gfZcmであることが好まし!/、として!/、る。
[0057] 本件発明に係るキャリアシート付表面処理銅箔の形態: 本件発明に係るキャリアシ ート付表面処理銅箔は、図 5に模式断面図として、第 1キャリアシート付表面処理銅 箔の層構成を例示している。この図 5では、図 1に示すキャリアシート付銅箔の銅箔 層の表面に、粗化処理として微細銅粒 5を付着形成し、更に当該粗化処理の上に防 鲭処理層 6、シランカップリング剤処理層 7を形成したキャリアシート付表面処理銅箔 を例示している。ここで言うキャリアシート付表面処理銅箔は、本件発明に係るキヤリ ァシート付銅箔の銅箔層の表面に、粗化処理、防鲭処理、シランカップリング剤処理 等を公知の方法で施すことが可能であり、主な用途であるプリント配線板用としては 張り合わせる絶縁層構成材料に最適に設計された表面状態であれば足りる。従って 、化学結合力の大きな絶縁層構成材料に対しては化学結合力を重要視した防鲭処 理及びシランカップリング剤処理のみを施したり、化学結合力の乏し ヽ絶縁層構成材 料に対しては粗化処理、防鲭処理及びシランカップリング剤処理を施すことによって 物理的なアンカー効果を持たせる処理を施す等、適宜最適な層構成を設計すること が好ましい。そして、以上に述べてきた防鲭処理に関しても、湿式プロセスで防止処 理を行っても、物理蒸着法で防鲭処理を行ってもかまわな ヽ。
[0058] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔の製造形態: 本件発明に係るキャリアシート付 銅箔の製造方法は、第 1キャリアシート付銅箔と第 2キャリアシート付銅箔とで、その 製造プロセスが異なる。以下、製造方法毎に説明する。
[0059] 第 1キャリアシート付銅箔の製造方法は、以下の工程 A及び工程 Bを含むことを特 徴とするものである。し力しながら、接合界面層の形成前に、キャリアシートの表面の 清浄ィ匕を図ることが好ましい。このキャリアシートの清浄化として、脱脂、酸洗い、ソフ トエッチング及びドライエッチング力 選択された 1種又は 2種以上を用いることが好 ましい。前述のように、キャリアシートとして圧延銅箔を用いる場合には、特に清浄ィ匕 が必要である。圧延銅箔は、 2本の回転するロールの間を通しながら圧力をカ卩えて金 属銅を薄くしてゆく製法であり、前記ロールの間には冷却の目的も兼ねて圧延油を 供給している。従って、できあがった圧延銅箔の表面には圧延油及びわずかな酸ィ匕 皮膜が存在している。そして、電解銅箔の場合でも、電解に使用する銅電解液が硫 酸酸性であることから、ごく僅かではあるが硫酸及び硫酸銅などが付着しており、表 面は酸化しやすぐ電解銅箔の表面には硫酸化合物及び酸化皮膜が存在している 場合もある。
[0060] キャリアシートの清浄ィ匕を行わずに接合界面層を形成し、銅箔層を形成するとキヤ リアシートと接合界面層との接着強度のバラツキが大きくなる場合があり、厚さや表面 粗さにも大きなバラツキが生じる場合がある。従って、キャリア表面に付着している物 質の特徴に合わせてクリーニング手法を選択して施す事が好ましい。例えば、油分 が存在して 、る場合にはアルカリ脱脂や電解脱脂工程の後、酸洗 、又はソフトエツ チングを施す等である。また、真空チャンバ一内で、アルゴンイオン等によるプレスパ ッタを行って清浄ィ匕を図ることも好ましい。更に、キャリアシートとして金属箔を用いる 場合には、その表面に防鲭処理を施して、予め酸ィ匕防止を行うことも好ましい。製造 過程で油分を用いない電解銅箔のようなものの場合には、クリーニングを省略するこ とも可能である。
[0061] 工程 Aについて説明する。この工程 Aは、キャリアシートの表面に、薄膜形成手段を 用いて金属層と炭素層との積層した接合界面層を形成する接合界面層形成工程で ある。そして、ここで言う薄膜形成手段は乾式の成膜手段を採用することが好ましい。 即ち、真空蒸着、スパッタリング、化学気相成長法等のいずれかを採用することが好 ましい。しかしながら、本件発明で使用する金属層及び炭素層の形成には、スパッタ リング蒸着法が最適である。そして、以下に述べる工程 i及び工程 iiの条件で、ターゲ ット個数を調整すれば、 lmを超える幅をもつキャリアシートロール力 繰り出されたキ ャリアシートの表面に連続的に金属層及び炭素層を順次形成することも可能である。
[0062] 工程 iでは、タンタル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、 モリブデン、バナジウム、タングステンのいずれかのターゲット材を用いて、スパッタリ ング蒸着法でキャリアシートの表面に金属原子を着地させ金属層を形成する。工程 ϋ では、炭素ターゲット材を用いて、スパッタリング蒸着法で前記金属層の上に炭素層 を形成し、複合層とする。ここで、工程 i及び工程 ii共にスパッタ種としては、特段の限 定はないが、一般的にはアルゴンイオン又は窒素イオンを用いる。これらのアルゴン イオン、窒素イオン等のスパッタ種は、アルゴンガス、窒素ガス等をプラズマ状態に電 離して得られ、印可された加速電圧によりターゲットに衝突させ、ターゲットの構成成 分である金属原子、炭素原子をはじき出す役割をするものである。スパッタ種に関し ては、ターゲットの種類に応じて適宜選択して使用するものである。例えば、スパッタ 種としてのアルゴンと窒素とを比べてみると、一般的にアルゴンイオンは、窒素イオン に比べてスパッタレートが大きぐ高い生産性を得ることが出来る利点があるが、ター ゲット材の表面の粗さが大きくなるためターゲット寿命が短いという欠点がある。スパッ タ種としての窒素イオンは、アルゴンイオンに比べてスパッタレートが小さぐアルゴン イオンを用 V、た場合と比べ生産性が低下する傾向にあるが、ターゲット材の表面の粗 さが小さぐターゲット寿命が長いという利点がある等の特徴がスパッタ種毎にある。 従って、スパッタ種として何を用いるかは、製造ラインの性質、求められる生産性を考 慮して、適宜選択すればよい。
[0063] そして、工程 i及び工程 iiでのスパッタリング蒸着は、マグネトロンスパッタリング技術 を採用する事が、成膜速度が速く工業的な連続生産法を採用する観点力も好ましい 。従って、ターゲットに一定の電圧を印可して、ターゲット表面に平行な磁界を発生さ せ、グロ一放電によりスパッタ種イオンを発生させ、これをターゲット表面へ衝突させ る。そして、ターゲット表面力もたたき出された二次電子をローレンツ力で捕らえてサ イクロトロン運動させることにより、スパッタ種ガスのイオン化を促進すると同時に、成 膜対象であるキャリアシートの表面にターゲット原子の着地を促進させる。
[0064] このとき 6インチ X 12インチのターゲットを用いるとすれば、ターゲットには lkW〜5 kWの電力(以下、単に「スパッタリング電力」と称する。)が負荷されるようにする事が 好ましい。ここで、スパッタリング電力が 5kWを超えると、ターゲット材からはじき出さ れた金属原子及び炭素原子をキャリアシート表面に誘導することが困難となり、チヤ ンバーの側壁等に付着するロス成分量が増大するため好ましくない。一方、スパッタ リング電力が lkW未満の場合には、工業的に求められる生産性を満足せず、形成さ れる金属層及び炭素層の厚さのバラツキも大きくなる。
[0065] 工程 Bについて説明する。工程 Bは、前記金属層と炭素層との複合層の上に、電解 法又は物理蒸着法で銅箔層を構成する銅箔層形成工程である。ここで、電解法で銅 箔層を形成する場合には、硫酸系銅電解液、ピロリン酸銅系銅電解液等を用いた湿 式電解法を採用する。この工程では、接合界面層を形成したキャリアシートを銅電解 液と接触させ、当該キャリアシートを力ソード分極して、接合界面層上に銅を電析させ る。このときの銅電解液に関しては、特段の限定はない。
[0066] そして、前記金属層と炭素層との複合層の上に、物理蒸着法で銅箔層を構成する 場合には、上述のスパッタリング蒸着等を用いて形成する。
[0067] 以下、念のために明記しておくが、本件発明に係るキャリアシート付表面処理銅箔 を製造する場合には、上述の工程 A、工程 Bに続けて、粗化処理工程、防鲭処理工 程、シランカップリング剤処理工程、洗浄工程、乾燥工程等を適宜設ければよい。
[0068] 次に、第 2キャリアシート付銅箔の製造方法に関して述べる。第 1キャリアシート付銅 箔の製造方法は、以下の工程 a〜工程 cを含む。このとき、工程 aと第 1キャリアシート 付銅箔の製造方法の工程 Aとは共通する。従って、重複した説明を避けるために、 第 2キャリアシート付銅箔の製造方法の工程 aの説明は省略する。
[0069] 従って、工程 bに関して述べる。この工程 bは、前記炭素層の表面に第 1銅層を形 成する第 1銅層形成工程である。即ち、この第 1銅層の形成にも、上述の工程 Aと同 様の概念を適用できる。そして、このときの物理蒸着手段にも、スパッタリング蒸着法 を採用し、マグネトロンスパッタリング技術を採用する事が、成膜速度が速く工業的な 連続生産法を採用する観点から好ま Uヽ。ここでスパッタリング蒸着法を採用する場 合のスパッタ条件は、製造ラインの性質、求められる生産性を考慮して、適宜選択す ればよい。
[0070] そして、工程 cは、前記第 1銅層の上に、電解法で第 2銅箔層を形成して銅箔層を 完成させる銅箔層形成工程である。このときの電解条件に関しては、上述の第 1キヤ リアシート付銅箔の製造方法の工程 Bと同様である。
[0071] 本件発明に係る銅張積層板: 上述の本件発明に係るキャリアシート付表面処理銅 箔を用いることにより、高品質の銅張積層板が提供できる。本件発明に係るキャリア シート付銅箔を使用して得られた銅張積層板は、ハンドリング時及び張り合せ加工時 の銅箔層のシヮの発生を防止し、銅箔層がキャリアシートで保護されていることで表 面汚染の防止がなされた銅張積層板となる。即ち、極薄電解銅箔を表面に有し、シ ヮゃ異物付着などの表面汚染及び欠陥の少な 、、ファインピッチプリント配線板の製 造に有用な銅張積層板の提供が可能となる。し力も、 300°C以上の温度が負荷され るようなプレス力卩ェを受けても、容易にキャリアシートを除去することが出来るのである
[0072] 以下、本件発明に係るキャリアシート付銅箔を製造した実施例を示し、得られた製 品で、プレス加工温度を変化させ、いくつかの銅張積層板を製造し、そのときのキヤリ ァ層と銅箔層との引き剥がし強さを測定した結果を示すこととする。
実施例 1
[0073] 本実施例においては、図 1に示した第 1キャリアシート付銅箔 1を製造した。ここでは 、キャリアシート 2に 35 /z m厚のグレード 3に分類される電解銅箔を用い、平均粗さ (R a) 0. 21 μ mの光沢面側へ 3 μ m厚の銅箔層 3を形成した。以下、各工程の順に従 つて、製造条件の説明を行う。なお、以下に述べる電解法を用いた工程において、 特に材質を記載しな 、限りは、アノード電極には寸法安定性陽極 (Dimentionally Stable Anode: DSA)を用いている。
[0074] 最初に、キャリアシート 2を酸洗処理した。このときの酸洗処理は、硫酸濃度 150g Zl、液温 30°Cの希硫酸溶液に、当該キャリアシート 2を 30秒間浸漬して、表面酸ィ匕 被膜の除去を行い、水洗後、乾燥した。
[0075] 工程 A:乾燥後のキャリアシートへの接合界面層の形成には、スパッタリング装置とし て日本真空技術株式会社製の巻き取り型スパッタリング装置 SPW— 155を用い、タ 一ゲットとして 300mm X 1700mmのサイズのチタンターゲットを用いた。そして、ス ノ ッタリング条件として、到達真空度 Puは 1 X 10_4Pa未満、スパッタリング圧 PArは 0. lPa、スパッタリング電力 30kWの条件を採用することにより、 10nmの厚さのチタ ン層をキャリアシートである電解銅箔の光沢面側に形成した。
[0076] 続、てスパッタリング装置として日本真空技術株式会社製の巻き取り型スパッタリン グ装置 SPW— 155を用い、ターゲットとして 300mm X 1700mmのサイズの炭素タ 一ゲットを用いた。スパッタリング条件として、到達真空度 Puは 1 X 10_4Pa未満、ス パッタリング圧 PArは 0. 4Pa、スパッタリング電力 20kWの条件を採用することにより 、 lnmの厚さの炭素層をチタン層の上に形成した。
[0077] 工程 B : 上記にて接合界面層の形成が終了すると、その面に銅箔層を形成した。本 実施例における銅箔層の形成は、硫酸濃度 150gZl、銅濃度 65gZl、液温 45°Cの 硫酸銅溶液を用いた。当該溶液を満たした槽内で、接合界面層を形成した面に、平 板のアノード電極を平行配置し、キャリアシート 2自体を力ソード分極し、電流密度 24 AZdm2の平滑メツキ条件で 40秒間電解し、 3 m厚さの銅箔層を形成しキャリアシ ート付銅箔とした。
[0078] そして、銅箔層の形成が終了すると、微細銅粒形成工程で、銅箔層の表面に微細 銅粒を付着形成した。この微細銅粒を析出付着させる工程では、前述の銅箔層の形 成に用いたと同種の硫酸銅溶液であって、溶液組成が lOOgZl 硫酸、 18gZl 銅 、液温 25°Cのものを用いた。そして、当該溶液を満たした槽内で、銅箔層を形成した 面に、平板のアノード電極を平行配置して、キャリア自体を力ソード分極し、電流密度 lOAZdm2のャケメツキ条件で 10秒間電解し、微細銅粒の付着形成を行った。
[0079] 更に、微細銅粒の脱落を防止するための被せメツキ工程を施した。この被せメツキ 工程では、前述の銅箔層の形成で用いたと全く同様の硫酸銅溶液及び手法を用い て、平滑メツキ条件で 20秒間電解するものとした。
[0080] 更に、防鲭処理及びシランカップリング剤処理を施した。本実施例における防鲭処 理は、防鲭元素として亜鉛を用い、銅箔層の表面だけでなくキャリア層の表面も同時 に防鲭処理した。従って、ここでは、アノード電極として溶解性アノードである亜鉛板 を、粗ィ匕処理を施したキャリアシート付銅箔の両面側にそれぞれ配して用い、防鲭処 理槽内の亜鉛の濃度バランスを維持し、電解液に硫酸亜鉛浴を用い、硫酸濃度が 7 Og/ 亜鉛濃度を 20gZlに維持し、液温 40°C、電流密度 15AZdm2、電解時間 1 5秒とした。防鲭処理が終了すると、水洗を行った。
[0081] 更に、防鲭強化を目的として、亜鉛防鲭の上に、電解クロメート防鲭処理を施した。
亜鉛防鲭層の上に、電解でクロメート層を形成したのである。このときの電解条件は、 クロム酸 5. Og/U pHl l. 5、液温 35°C、電流密度 8AZdm2、電解時間 5秒とした。 この電解クロメート防鲭も、亜鉛防鲭した銅箔層の表面だけでなぐ亜鉛防鲭したキヤ リア層の表面にも同時に行った。
[0082] 防鲭処理が完了すると水洗後、直ちにシランカップリング剤処理槽で、銅箔層の粗 化した面の防鲭処理層の上にのみシランカップリング剤の吸着を行った。このときの 溶液組成は、イオン交換水を溶媒として、 y—グリシドキシプロピルトリメトキシシラン を 5gZlの濃度となるよう加えたものとした。そして、この溶液をシャワーリングにて表 面に吹き付けることにより吸着処理した。
[0083] シランカップリング剤処理が終了すると、最終的に、乾燥処理炉内で電熱器により 箔温度が 140°Cとなるよう雰囲気温度を調整し、加熱された炉内を 4秒かけて通過し 、水分をとばし、シランカップリング剤の縮合反応を促進し、完成したキャリアシート付 表面処理銅箔とした。
[0084] 以上のようにして得られたキャリアシート付表面処理銅箔の接合界面層のチタン層 の厚さは平均 10nm、炭素層の厚さは平均 lnmであった。このキャリアシート付表面 処理銅箔の加熱前の、キャリアシート付表面処理銅箔の銅箔層側に接着剤を用いて 、 150 m厚の硬化処理した FR— 4基材に強固に張り合わせた。そして、キャリアシ ートを引き剥がすことで、キャリアと銅箔層との引き剥がし強さを 10点測定した。その 結果、この常態引き剥がし強さの測定結果は、平均 3. lgZcmであった。また、この キャリアシート付表面処理銅箔を、 330°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した。そ して、加熱処理した後、キャリアシート付表面処理銅箔の銅箔層側に、上述と同様に FR— 4基材を張り合わせ、キャリアと銅箔層との引き剥がし強さを 10点測定した。そ の結果、引き剥がし強さの測定結果は、平均 20. 2gZcmであった。
実施例 2
[0085] 本実施例においては、図 2に示した第 2キャリアシート付銅箔 20を製造した結果に ついて説明する。ここでは、キャリアシート 2に実施例 1と同様の電解銅箔を用い、平 均粗さ (Ra) 0. 21 μ mの光沢面側へ 5 μ厚の銅箔層 3を形成した。以下、各工程の 順に従って、製造条件の説明を行う。なお、キャリアシート 2は、実施例 1と同様の条 件で、最初に酸洗処理した。
[0086] 工程 a :実施例 1の工程 Αと同様の方法で、キャリアシートである電解銅箔の光沢面側 に、金属層として、表 1に記載した試料 1〜試料 4を製造するため各種厚さのチタン 層を形成したものを準備した。
[0087] 続ヽて、実施例 1の工程 Aと同様の方法で、表 1に記載した試料 1〜試料 4を製造 するため各種厚さの炭素層を、各試料のチタン層の上に形成した。
[0088] 工程 b :次に、炭素層の上に第 1銅層を形成した。スパッタリング装置として日本真空 技術株式会社製の巻き取り型スパッタリング装置 SPW— 155を用い、ターゲットとし て 300mm X 1700mmのサイズの銅ターゲットを用いた。そして、このときのスパッタ リング条件は、以下のとおりである。表 1に記載した試料 1〜試料 4を製造するため、 到達真空度 Puは 1 X 10_4Pa未満、スパッタリング圧 PArは 0. 4Paとし、スパッタリン グ電力を適宜変更して、各種厚さの第 1銅層を各試料に形成した。
[0089] TM : 上記にて第 1銅層の形成が終了すると、その面に第 2銅層を形成した。本実 施例における第 2銅層の形成は、実施例 1と同様の条件を採用し、第 1銅層と第 2銅 層との合計厚さが 3 mとなるようにした。
[0090] そして、実施例 1と同様に、微細銅粒形成工程で銅箔層の表面に微細銅粒を付着 形成し、微細銅粒の脱落を防止するための被せメツキ工程を施した。更に、亜鉛及び クロメート処理を用いた防鲭処理及びシランカップリング剤処理を施した。
[0091] 以上のようにして得られた第 2キャリアシート付表面処理銅箔の常態引き剥がし強さ 、 230°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した後の引き剥がし強さ、 350°Cのオーブ ン中で 30分間加熱処理した後の引き剥がし強さ、それぞれの引き剥がし強さの測定 結果を表 1に纏めて示す。
[0092] [表 1]
Figure imgf000022_0001
*銅箔層の厚さは、 第 1飼層と第 2銅層との厚さを合計して約 3 m 実施例 3
[0093] 本実施例においては、実施例 2と同様のプロセスで、図 2に示した第 2キヤリアシー ト付銅箔 20を製造した。基本的には、実施例 2と同様のプロセスであるため、異なる 部分に関してのみ述べる。
[0094] 最初に、キャリアシート 2を酸洗処理した。このときの酸洗処理は、硫酸濃度 150g Zl、液温 30°Cの希硫酸溶液に、当該キャリアシート 2を 30秒間浸漬して、表面酸ィ匕 被膜の除去を行い、水洗後、乾燥した。
[0095] 工程 a :乾燥後のキャリアシートへの接合界面層の形成には、スパッタリング装置とし て日本真空技術株式会社製の巻き取り型スパッタリング装置 SPW— 155を用い、タ 一ゲットとして 300mm X 1700mmのサイズのニッケルターゲットを用いた。そして、 スパッタリング条件として、到達真空度 Puは 1 X 10_4Pa未満、スパッタリング圧 PAr は 0. lPa、スパッタリング電力 13kWの条件を採用することにより、 34nmの厚さの- ッケル層をキャリアシートである電解銅箔の光沢面側に形成した。
[0096] 続いて、実施例 1の工程 Aと同様の方法で、 lnm厚さの炭素層を、試料のニッケル 層の上に形成した。
[0097] 工程 b :次に、炭素層の上に第 1銅層を形成した。このときの第 1銅層の形成条件は、 到達真空度 Puは 1 X 10_4Pa未満、スパッタリング圧 PArは 0. lPaとし、スパッタリン グ電力は 10kWとして、 32nm厚さの第 1銅層を各試料に形成した。
[0098] TM : 上記にて第 1銅層の形成が終了すると、その面に第 2銅層を形成した。本実 施例における第 2銅層の形成は、実施例 2と同様の条件を採用し、第 1銅層と第 2銅 層との合計厚さが 3 mとなるようにした。
[0099] 以上のようにして得られたキャリア箔付表面処理銅箔を用いて、実施例 1と同様に測 定した常態引き剥がし強さの測定結果は、平均 3. 4fgZcmであった。また、このキヤ リアシート付表面処理銅箔を、 230°C、 350°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した 後の引き剥がし強さの測定結果は、 230°Cの場合が平均 3. 5gfZcm、 350°Cの場 合が平均 31. 8gfZcmであった。
実施例 4
[0100] 本実施例においては、工程 Bでの銅箔層の形成を物理蒸着法で実施した点、防鲭 処理の一部を物理蒸着法で行った点が実施例 1と異なるのみである。従って、この相 違点に関してのみ述べ、以下評価結果を示す。
[0101] 工程 Bでは、工程 Aにおける接合界面層の形成が終了すると、その面に電子ビー ム蒸着法を用いて銅箔層を形成した。本実施例における銅箔層は厚さ 3 mとした。 そして、電子ビーム蒸着法の成膜条件は、到達圧力が 1 X 10_2Pa以下、キャリア箔 温度が室温、処理速度 2mZminであった。
[0102] そして、防鲭処理層の形成は、上記銅箔層の表面に防鲭処理層を形成した。この ときの防鲭処理層は、亜鉛層として形成したものである。スパッタリング装置として上 記と同様のマグネトロン型スパッタリング装置を用い、ターゲットとして 300mm X 170 Ommのサイズの亜鉛ターゲットを用いた。スパッタリング条件として、到達真空度 Pu は 1 X 10_3Pa未満、スパッタリング圧 PArは 0. 4Pa、スパッタリング電力 6kWの条件 を採用することにより、 5nmの厚さの亜鉛層を銅箔層の上に形成した。
[0103] 更に、上記防鲭処理層の形成が完了すると、直ちにシランカップリング剤処理槽で 、銅箔層の防鲭処理層の上にのみシランカップリング剤の吸着を行った。このときの 溶液組成は、イオン交換水を溶媒として、 y—グリシドキシプロピルトリメトキシシラン を 5gZlの濃度となるよう加えたものとした。そして、この溶液をシャワーリングにて表 面に吹き付けることにより吸着処理した。
[0104] シランカップリング剤処理が終了すると、最終的に、乾燥処理炉内で電熱器により 箔温度が 140°Cとなるよう雰囲気温度を調整し、加熱された炉内を 4秒かけて通過し 、水分をとばし、シランカップリング剤の縮合反応を促進し、完成したキャリア箔付表 面処理銅箔とした。
[0105] 以上のようにして得られたキャリア箔付表面処理銅箔の接合界面層のチタン層の厚 さは平均 10nm、炭素層の厚さは平均 lnmであった。そして、実施例 1と同様に測定 した常態引き剥がし強さの測定結果は、平均 7. 2gfZcmであった。また、このキヤリ ァシート付表面処理銅箔を、 230°C、 350°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した後 の引き剥がし強さの測定結果は、 230°Cの場合が平均 5. 8gfZcm、 350°Cの場合 が平均 16. 8gfZcmであった。
[0106] 以上の実施例 1〜実施例 4から分力るように、本件出願に係るキャリアシート付表面 処理銅箔は、 300°C〜350°Cの温度で 30分程度の加熱を受けても、キャリアシート を 50gfZcm以下の力で容易に引き剥がすことができる。
比較例
[0107] [比較例 1]
この比較例 1は、実施例 1と同様の製造方法を採用し、炭素層の形成を省略し、ェ 程 Aで形成する接合界面層を 8nm厚さのチタン層のみとして、比較用のキャリア箔付 銅箔を製造し、更に比較用キャリア箔付表面処理銅箔を得た。
[0108] 以上のようにして得られた比較用キャリア箔付表面処理銅箔を用いて、実施例 1と 同様にして、各引き剥がし強さの測定を行った。その結果、この常態引き剥がし強さ は平均 4. 5gfZcm、 230°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した後の引き剥がし強 さは平均 28. 6gfZcm、 330°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した後では引き剥 がせなかった。
[0109] [比較例 2]
この比較例 2は、実施例 1と同様の製造方法を採用し、チタン層の形成を省略し、 工程 Aで形成する接合界面層を 2nm厚さの炭素層のみとして、比較用のキャリア箔 付銅箔を製造し、更に比較用キャリア箔付表面処理銅箔を得た。
[0110] 以上のようにして得られた比較用キャリア箔付表面処理銅箔を用いて、実施例 1と 同様にして、各引き剥がし強さの測定を行った。その結果、この常態引き剥がし強さ は平均 15. 3gfZcm、 230°Cのオーブン中で 30分間加熱処理した後及び 330°Cの オーブン中で 30分間加熱処理した後では引き剥がせな力つた。
[0111] <実施例と比較例との対比 >
実施例 1〜実施例 4と比較例とを対比すると、実施例に係るキャリア箔付表面処理 銅箔は、常態でも、 300°Cを超える温度のオーブン中で 30分間加熱処理した後でも 、キャリア箔を容易に引きはがすことができることが明らかになる。即ち、このような特 性が得られるためには、キャリア箔付表面処理銅箔 (又はキャリア箔付銅箔)が、本件 発明で言う金属層と炭素層とで構成された接合界面層を備える必要がある。
産業上の利用可能性
[0112] 本件発明に係るキャリアシート付銅箔又はキャリアシート付表面処理銅箔を用いる ことで、 300°C以上の温度でのプレス加工を必要とするフッ素榭脂基材銅張積層板 及び液晶ポリマ銅張積層板、キャスティング法やプレス法等によるポリイミド銅張積層 板の製造等の高温負荷が行なわれた後でも、キャリア層と銅箔層との容易な引き剥 力 Sしが可能である。しかも、当該引き剥がし強さのバラツキを著しく減少させることが 可能になった。その結果、フッ素榭脂基板、液晶ポリマ、ポリイミド基板等に対し、従 来に適用できな力つた極薄の銅箔層を、本件発明に係るキャリアシート付銅箔を用 いて形成することで、製品品質を大幅に向上させることが可能であり、ファインピッチ 配線の形成が容易となる。
図面の簡単な説明
[図 1]第 1キャリアシート付銅箔の断面模式図である。
[図 2]第 1キャリアシート付両面銅箔の断面模式図である。
[図 3]第 2キャリアシート付銅箔の断面模式図である。
[図 4]第 2キャリアシート付両面銅箔の断面模式図である。
[図 5]第 1キャリアシート付表面処理銅箔の断面模式図である。
符号の説明
1 第 1キャリアシート付銅箔
1, 第 1キャリアシート付両面銅箔
2 キャリアシート
3 銅箔層
4 接合界面層
4a 金属層
4b 炭素層
5 微細銅粒
6 防鲭処理層
7 シランカップリング剤処理層
10 キャリアシート付表面処理銅箔
20 第 2キャリアシート付銅箔
20, 第 2キャリアシート付両面銅箔 第 1銅層 第 2銅層

Claims

請求の範囲
[I] キャリアシートの表面に接合界面層を介して銅箔層を有し、当該キャリアシートが物 理的に引き剥がし可能なキャリアシート付銅箔であって、
当該接合界面層は、物理蒸着法を用いて形成した金属層 Z炭素層の 2層からなる ことを特徴とするキャリアシート付銅箔。
[2] 前記接合界面層を構成する炭素層は、厚さ Inn!〜 20nmである請求項 1に記載のキ ャリアシート付銅箔。
[3] 前記接合界面層を構成する金属層は、タンタル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、ク ロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブデン、バナジウム、タングステンのいずれかで構成さ れた層である請求項 1又は請求項 2に記載のキャリアシート付銅箔。
[4] 前記金属層は、厚さ Inn!〜 50nmである請求項 1〜請求項 3のいずれかに記載のキ ャリアシート付銅箔。
[5] 前記接合界面層は、換算厚さとして 2ηπ!〜 70nmの厚さである請求項 1〜請求項 4 の!、ずれかに記載のキャリアシート付銅箔。
[6] 前記銅箔層は、電解法で形成した銅層である請求項 1〜請求項 5のいずれかに記載 のキャリアシート付銅箔。
[7] 前記銅箔層は、物理蒸着法で形成した銅層である請求項 1〜請求項 5のいずれかに 記載のキャリアシート付銅箔。
[8] 前記銅箔層は、物理蒸着法で ΙΟηπ!〜 300nm厚さの第 1銅層を形成し、更に電解 法で第 2銅層を形成して得られる銅層である請求項 1〜請求項 7のいずれかに記載 のキャリアシート付銅箔。
[9] 常態におけるキャリアシートの引き剥がし強さが 2gfZcm〜20gfZcmである請求項
1〜請求項 8のいずれかに記載のキャリアシート付銅箔。
[10] 300°C〜350°C X 30分間加熱後のキャリアシートの引き剥がし強さが 5gfZcm〜5
OgfZcmである請求項 1〜請求項 9のいずれかに記載のキャリアシート付銅箔。
[II] 前記キャリアシートは、その厚みが 12 m〜210 mの金属箔を用いる請求項 1〜 請求項 10のいずれかに記載のキャリアシート付銅箔。
[12] 請求項 1〜請求項 11のいずれかに記載のキャリアシート付銅箔の銅箔層の表面に 粗化処理、防鲭処理、シランカップリング剤処理から選択された 1種又は 2種以上の 表面処理を施したキャリアシート付表面処理銅箔。
[13] 請求項 1に記載のキャリアシート付銅箔の製造方法であって、
以下の工程 A及び工程 Bを含むことを特徴とするキャリアシート付銅箔の製造方法 工程 A: キャリアシートの表面に、薄膜形成手段を用いて金属層と炭素層とを積層し た接合界面層を形成する接合界面層形成工程。
工程 B : 前記金属層と炭素層とからなる接合界面層の上に、電解法又は物理蒸着 法で銅箔層を構成する銅箔層形成工程。
[14] 前記工程 Aの薄膜形成手段は、スパッタリング蒸着法を用いるものである請求項 13 に記載のキャリアシート付銅箔の製造方法。
[15] 前記工程 Aにおけるスノッタリング蒸着法は、以下の工程 i及び工程 iiを含むもので ある請求項 14に記載のキャリアシート付銅箔の製造方法。
工程 i: タンタル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブ デン、バナジウム、タングステンのいずれかのターゲット材を用いて、スパッタリング蒸 着法で、キャリアシートの表面に金属原子を着地させ金属層を形成する。
TMii 炭素ターゲット材を用いて、スパッタリング蒸着法で前記金属層の上に炭素 層を形成し、接合界面層とする。
[16] 請求項 1に記載のキャリアシート付銅箔の製造方法であって、
以下の工程 a〜工程 cを含むことを特徴とするキャリアシート付銅箔の製造方法。 工程 a : キャリアシートの表面に、薄膜形成手段を用いて金属層と炭素層とを積層し た接合界面層を形成する接合界面層形成工程。
工程 b : 前記炭素層の表面に、物理蒸着法を用いて第 1銅層を積層形成する第 1銅 層形成工程。
工程 c: 前記第 1銅層の上に電解法で第 2銅箔層を形成して銅箔層を完成させる銅 箔層形成工程。
[17] 前記工程 aの薄膜形成手段は、スパッタリング蒸着法を用いるものである請求項 16に 記載のキャリアシート付銅箔の製造方法。 [18] 前記工程 aにおけるスパッタリング蒸着法は、以下の工程 i及び工程 iiを含むものであ る請求項 17に記載のキャリアシート付銅箔の製造方法。
工程 i: タンタル、ニオブ、ジルコニウム、ニッケル、クロム、チタン、鉄、ケィ素、モリブ デン、バナジウム、タングステンのいずれかのターゲット材を用いて、スパッタリング蒸 着法でキャリアシートの表面に金属原子を着地させ金属層を形成する。
TMii 炭素ターゲット材を用いて、スパッタリング蒸着法で前記金属層の上に炭素 層を形成し、接合界面層とする。
[19] 請求項 12に記載のキャリアシート付表面処理銅箔を用いて得られた銅張積層板。
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