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WO2004112009A1 - 情報記録方法及び情報記録装置 - Google Patents

情報記録方法及び情報記録装置 Download PDF

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WO2004112009A1
WO2004112009A1 PCT/JP2004/002806 JP2004002806W WO2004112009A1 WO 2004112009 A1 WO2004112009 A1 WO 2004112009A1 JP 2004002806 W JP2004002806 W JP 2004002806W WO 2004112009 A1 WO2004112009 A1 WO 2004112009A1
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WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
recording
information
recording power
recorded
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2004/002806
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Naruhiro Masui
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to EP04717797A priority Critical patent/EP1635337A4/en
Priority to US10/937,285 priority patent/US7301870B2/en
Publication of WO2004112009A1 publication Critical patent/WO2004112009A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/006—Overwriting
    • G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording

Definitions

  • the present invention relates to an information recording method and information recording for various recording media such as CD-R, CD-RW, DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, and DVD + RW.
  • various recording media such as CD-R, CD-RW, DVD-R, DVD-RW, DVD-RAM, and DVD + RW.
  • recordable optical disk drive devices such as CD-R drive devices have been put into practical use, and research aimed at higher capacity and higher speed recording has been conducted.
  • recordable optical disc media include write-once optical discs using dye-based media and rewritable discs using magneto-optical media and phase change media.
  • a semiconductor laser is used as a light source, and this laser light pulse-modulated by recording information is irradiated onto a recording medium to form a recording mark.
  • a predetermined area PC A: Power Calibration Area (trial writing area), test writing while changing the recording power, and after trial writing, optimal recording of the power recorded in the area with the best playback signal quality in that area
  • OPC Optimum Power Control
  • lame method power S are used as the best.
  • the asymmetry is calculated according to the above, and the reproduction signal in which this asymmetry / 3 becomes a predetermined value (for example, 0) is improved.
  • the second is an evaluation method using the modulation degree m of the reproduced signal (hereinafter referred to as “ ⁇ method” where appropriate).
  • ⁇ method the maximum value I pk and minimum value I bt of the playback signal are detected.
  • the modulation degree m is calculated.
  • the change rate ⁇ of the modulation degree with respect to the recording power is calculated.
  • the mark edge recording method in which the length of the mark suitable for high-density recording bears information is adopted.
  • the mark mark recording method is used. Accurate control of the shape of the edge is required.
  • a multi-pulse recording method in which a recording mark is formed by a pulse train divided into a plurality of recording pulses is widely used in order to uniformly adjust the mark shape even if the mark length is different. That is, a uniform long mark is formed by repeating the heating / cooling cycle to connect the marks. This method is also applied to dye-based write-once media.
  • the recording power Pw may deviate from the ideal value of the recording mark length.
  • Figure 5 illustrates this relationship. 1 is the characteristic of specific mark length (3 T), and 2 is the characteristic of other mark lengths.
  • CD has a mark length from 3 T to 11 ⁇ (where ⁇ is the reference clock period of data), and the deviation ⁇ from the ideal value for the recording power of 3 ⁇ ⁇ , which is the minimum mark length, is Is different.
  • the recording power of a specific mark length is recorded with a value different from the recording power of other mark lengths, and each mark length is recorded appropriately.
  • the 3T mark is recorded with the recording power Pwex, and the other mark lengths are recorded with the recording power Pw.
  • the relationship between the recording power and the deviation from the ideal value differs depending on the mark length, and the recording pulse of the recording medium and the recording device (that is, the recording pulse due to the variation of the semiconductor laser driving unit).
  • the relationship between the optimum recording power Pwex (opt) for a specific mark length and the optimum recording power Pw (opt) for other mark lengths varies, so each recording power is set appropriately.
  • the accuracy of the mark shape and mark position is impaired, resulting in a problem of data error. Disclosure of the invention
  • the purpose of this statement is to optimize the recording performance of information recording methods and information recording devices that record the recording power of a specific mark length with a value different from the recording power of other mark lengths. It is an object to provide an information recording method and an information recording apparatus capable of obtaining a value and thereby performing accurate recording.
  • information is recorded by irradiating a recording medium with light modulated based on recording information from a light source to form a recording mark.
  • predetermined first test data is trial-written to the predetermined test writing area of the recording medium while changing the recording power to be irradiated in a stepwise manner, and from the reproduced signal of the recorded test writing data.
  • a first trial writing step for calculating a first optimum recording power; and for a specific pattern of the recording information, the recording power is varied stepwise; for the other patterns, the recording power
  • the second optimum recording power which is the optimum recording power of the specific pattern, is written from the reproduction signal of the recorded trial writing data.
  • a second test writing step to calculate, and information is recorded based on the calculated first and second optimum recording powers.
  • the predetermined first test data is a data string excluding the specific pattern from the recording information. Therefore, since the first test data is a data string excluding a specific pattern, an error in the reproduced signal detection value due to the fact that the recording data of the specific pattern is not optimized during the first test writing. Therefore, the first optimum recording power can be calculated with high accuracy.
  • the predetermined second test data includes a first data string obtained by repeating a specific pattern of tin and the specific pattern of the recorded information.
  • This is a data string obtained by repeating the second data string excluding. Therefore, since the average value of the reproduction signal of each data string can be separated and detected easily and accurately, the calculation accuracy of the optimum recording power is improved.
  • the first optimum recording power in the first test writing step is a modulation degree or modulation of a reproduction signal in an area where the first test writing is performed.
  • the second optimum recording power in the second trial writing step is calculated from the reproduction signal asymmetry in the area where the second trial writing has been performed.
  • asymmetry means the ratio of the positive peak value and the negative peak value to the average value level of the reproduction signal.
  • the first optimum recording power in the first trial writing step is calculated from an asymmetry force of a reproduction signal in an area where the first trial writing has been performed.
  • the second optimum recording power in the second trial writing step is calculated from the asymmetry force of the reproduction signal in the area where the second trial writing has been performed.
  • each optimum recording power can be accurately calculated according to each test data.
  • the second optimum recording power in the second trial writing step is the first data string in the trial writing area where the second trial writing is performed. It is calculated from the average value of the playback signal and the average value of the playback signal of the second data string.
  • each optimum recording power can be accurately calculated according to each test data.
  • the specific pattern is a minimum mark length of frl self-recording information.
  • the optimum recording power is calculated separately from the other mark lengths with the minimum mark length as a specific pattern, it can be suitably applied to many recording media by a simple method.
  • the specific pattern is a pattern according to a recording mark length immediately before or immediately after a recording information string, or both.
  • a recording mark can be formed with high accuracy and recording with high accuracy can be performed.
  • the recording information are divided into N groups (N: a natural number of 2 or more) according to the mark length, and the optimum value of the recording power of each group is calculated.
  • N a natural number of 2 or more
  • the Mth test data M is a natural number from 1 to N
  • the predetermined Mth test data is written while the recording power of the group is varied in stages.
  • a test writing process for calculating the optimum recording power of the Mth group from the reproduction signal of the data was provided for each group, and information was recorded based on the optimum recording power calculated for each group.
  • the optimum recording power is calculated for each mark length, so that all the mark lengths can be formed with high accuracy and recording with high accuracy can be performed.
  • N 3
  • the third group is the minimum mark length of the recorded information
  • the second group is the next of the recorded information.
  • the first group is the other mark length of the recorded information.
  • the third group is a minimum mark length of the recording information
  • the second group is a reference period of the recording information.
  • the mark length is an even multiple
  • the first group has a mark length that is an odd multiple of the reference period of the recorded information except for the third group.
  • the so-called 2T strategy which has been put to practical use in recent years with the high-speed recording of CD recording and DVD recording, has the minimum mark length of 3T mark length, even mark length, and odd marks excluding 3T.
  • the present invention can be suitably applied to such a recording medium.
  • the effect of the information recording method can be similarly achieved by information storage according to another feature of the present invention.
  • the optimum recording power of a specific pattern of the recorded information and other patterns is calculated, respectively, and the information recording is performed as usual based on the calculated optimum recording power. Since all the mark lengths can be formed with high accuracy, it is possible to perform recording with high accuracy.
  • the predetermined first test data is a data string in which the first test data excludes a specific pattern.
  • the error of the reproduced signal detection value due to the fact that the recording data of a certain pattern is not optimized can be eliminated, and the first optimum recording power can be calculated with high accuracy.
  • the predetermined second test data is a second data obtained by removing the specific pattern from the first data string obtained by operating a specific pattern and the recording information. Since the data string is a repeated data string, the average value of the reproduction signal of each data string can be separated and easily detected with high accuracy, and the calculation accuracy of the optimum recording power can be improved. ⁇
  • the first optimum recording power in the first trial writing step is calculated from the modulation degree of the reproduction signal in the area where the first trial writing has been performed or the rate of change of the modulation degree. Since the second optimum recording power in the trial writing process of 2 is calculated from the asymmetry of the reproduction signal in the area where the second trial writing was performed, each optimum recording power is accurately determined according to each test data. Can be calculated.
  • the first optimum recording power in the first trial writing step is calculated from the asymmetry force of the reproduction signal in the area where the first trial writing has been performed, and the second trial writing step. Since the second optimum recording power in is calculated from the asymmetry of the reproduction signal in the area where the second trial writing was performed, each optimum recording power can be accurately calculated according to each test data. it can.
  • the second optimum recording power in the second trial writing step is equal to the average value of the reproduction signal of the first data string in the trial writing area where the second trial writing is performed and the second optimum recording power. Since it is calculated from the average value of the reproduction signal of the data string, each optimum recording power can be accurately calculated according to each test data.
  • the optimum recording power is calculated separately from the other mark lengths using the minimum mark length as a specific pattern, and thus can be suitably applied to many recording media by a simple method. Can do.
  • a specific pattern can be recorded optimally according to a specific data pattern by making it a pattern according to the recording mark length immediately before or immediately after the recording information string or both. Even for recording media with different powers, a recording mark can be formed with high accuracy and high-precision recording can be performed. According to one aspect of the present invention, even if the recording medium has different optimum recording power depending on the mark length, the optimum recording power is calculated for each mark length, so that all mark lengths can be formed with high accuracy. Highly accurate recording can be performed.
  • N 3
  • the third group is the minimum mark length
  • the second group is the next shorter mark length
  • the first group is the other mark length.
  • N 3
  • the third group is the minimum mark length
  • the second group is an even multiple of the reference period
  • the first group is the reference period except for the third group.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration example of an optical information recording apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an explanatory diagram regarding the P CA area and the test writing method.
  • FIG. 3 is a characteristic diagram showing an eye diagram of a reproduction signal.
  • FIG. 4 is a waveform diagram showing a light emission waveform example corresponding to each record information.
  • FIG. 5 is a characteristic diagram showing the deviation characteristic from the ideal value due to the difference in mark length.
  • FIG. 6 is a schematic flowchart showing an example of test writing process control.
  • FIG. 7 is a characteristic diagram of the reproduction signal related to the test writing area.
  • FIG. 8 is an explanatory diagram showing another embodiment of the second test pattern.
  • FIG. 9 is a schematic flowchart showing an example of trial writing process control in another embodiment regarding trial writing when recording is performed at a plurality of recording power levels according to the mark length.
  • Fig. 10 shows a test for recording at multiple recording levels according to the mark length.
  • 12 is a schematic flowchart showing an example of trial writing process control in still another embodiment relating to writing.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration example of the optical information recording apparatus.
  • the recording medium 1 used in this optical information recording apparatus is a recordable recording medium (ex. CD-R, CD-RW, DVD-R, DVD-RW, DVD + R, DVD + RW, DVD- RAM, MD, MO, etc. optical disc).
  • the spindle motor 2 that rotates the recording medium 1 is controlled so as to have a constant linear velocity (CLV) or a constant angular velocity (CAV) according to a signal supplied from the servo controller 3.
  • the optical pickup (PU) 4 irradiates the recording medium 1 with the light emitted from the semiconductor laser (LD), which is the light source, to record information, or receives the reflected light from the recording medium 1 and converts it into a received light signal.
  • LD semiconductor laser
  • the optical pickup 4 consists of a light source, a light receiving element that receives reflected light and converts it into a received light signal, an optical system, an actuator, and so on.
  • the optical pickup 4 is also provided with a monitor light receiving unit that monitors a part of the light emitted from the light source, and the output light amount fluctuation of the light source is controlled by the monitor signal that is the output.
  • a tilt detection light receiving unit for detecting the tilt of the recording medium 1 with respect to the irradiation light.
  • the light reception signal processing unit 5 receives light reception signals from various light reception units arranged in the optical pickup 4 and performs various signal processing.
  • the actuator is designed to always irradiate the light within a predetermined error against fluctuations such as the generation of the reproduction signal Srf from the received light signal and the fluctuation of the surface shake and the radial shake of the track along with the rotation of the recording medium 1 together with the controller 3.
  • Drive and control focus servo control and track servo control.
  • a servo error signal S sv is generated from the received signal and supplied to the servo controller 3.
  • the optical pickup 4 is movable in the radial direction of the recording medium 1 and performs a seek operation so that the optical spot is irradiated to a desired position.
  • the servo controller 3 controls the seek control and the rotation control of the recording medium 1 according to the address information recorded in the recording medium 1 in advance. Also performs functions such as tilt control.
  • a wobble in which the recording track meanders at a predetermined frequency is formed in advance, and the received light signal processing unit 5 also generates a wobble signal Swbl from which the wobble component is extracted. Based on the wobble signal Swbl, the wobble signal processing unit 6 performs rotation control, detection of address information, and generation of a recording clock WCK serving as a reference clock at the time of recording.
  • the reproduction signal processing unit 7 performs demodulation in accordance with a predetermined modulation method rule of the recording medium 1 reproduced from the reproduction signal Srf. Also, the recovered clock is extracted by the built-in PLL circuit. The demodulated data is supplied to the controller 8.
  • the encoder 9 modulates the recording information supplied from the controller 8 in accordance with a predetermined modulation method rule, and supplies recording data Wdata. At this time, it is generated based on the recording clock WCK.
  • the DVD recorder uses the E FM + modulation method, and the pulse length of the recording data Wdata is 3 T ⁇ : L 1 T, 14 T (T is the period of the recording clock WCK) Become.
  • the LD drive unit 10 modulates the light source LD with a predetermined optical waveform according to the recording data Wdata and the recording clock WCK. Irradiation power and optical waveform information are set from controller 8. Also, a monitor light reception signal is input from the light reception signal processing unit 5, and based on this monitor light reception signal, control is performed so that the amount of light emitted from the light source LD becomes a desired value (so-called APC (Automatic Power Control) control is performed). .
  • APC Automatic Power Control
  • OPC Optimum Power Control
  • one trial write is performed using, for example, one ECC block which is a recording information unit (this one ECC block is composed of 16 sectors), and each sector is written. Test-write while changing the recording power.
  • the reproduced signal S rf in the area where the trial writing has been performed becomes as shown in FIG. 2 (c), so that the OPC detection unit 11 1 uses the maximum value I pk and the minimum value of each sector of the reproduced signal Srf.
  • Fig. 3 shows an example of the eye diagram of the playback signal Srf.
  • the controller 8 reproduces the area in which the test writing was performed, detects these values, performs a predetermined calculation from these values, and calculates the optimum recording power. Details of this calculation operation will be described later.
  • test signal generator 12 generates test writing data (test pattern) when performing test writing. This trial writing data is supplied to the encoder 9, and at the time of trial writing, this is selected and outputted to the LD drive unit 10.
  • the controller 8 controls recording of the entire apparatus by exchanging recording / reproduction information and command communication with a host computer (not shown).
  • FIG. Figure 4 (a) shows the recording clock WCK
  • Figure 4 (b) shows the recording data Wdata
  • Figure 4 (c) shows the optical waveform when the mark length of the recording data Wdata is 3 T (1) to 14T (10).
  • Irradiation powers are set to be bottom power Pb, erase power Pe, and write power Pw (3 T to l 4T, respectively, Pw 3 to Pwl 4).
  • 4T and 5T, 6 ⁇ and 7 ⁇ , 8 ⁇ and 9T, and 10T and 11 ⁇ each have the same number of pulses.
  • FIG. 6 is a flowchart showing an algorithm for calculating the optimum recording powers P w (opt) and P wex (opt) in accordance with the trial writing process in the process control related to the recording operation. Such calculation of the optimum recording power is performed as preparation for the start of information recording.
  • the first trial writing process or first trial writing means for calculating the optimum recording power Pw (opt) and the optimum recording power Pwex (opt ) Is calculated by the second trial writing process or the second trial writing means.
  • a first test pattern used in the first test writing process is generated (step S1).
  • the first test pattern is supplied from the encoder 9 as recording data Wdata.
  • step S 3 the area trial-written in step S 2 is reproduced, and the power at which the sector in which the reproduction signal Srf is best obtained is recorded is calculated as the optimum recording power Pw (opt).
  • the maximum value Ipk, minimum value Ibt, and average value (DC value) Idc of the reproduction signal Srf in each sector are detected. And for each sector, the maximum value Ipk, minimum value Ibt, and average value (DC value) Idc of the reproduction signal Srf in each sector are detected. And for each sector, the maximum value Ipk, minimum value Ibt, and average value (DC value) Idc of the reproduction signal Srf in each sector are detected. And for each sector,
  • the reproduction signal Srf of the area recorded with the optimum recording power of the other marks is as shown in FIG. That is, since the average value I dcA excluding the 3 T mark length is different from the average value I dc 3 of the 3 T mark (for example, 3 T repetitive pattern), the detected average value I dc is the average excluding the 3 T mark. There is an error with the value I dcA, and as a result, an incorrect optimum recording power is calculated because an incorrect value is also calculated for asymmetry 3.
  • the data pattern excluding the 3T mark length is used in the first trial writing process, such a problem does not occur and the optimum recording power can be accurately calculated.
  • the second method uses the rate of change ⁇ with respect to the recording power of the modulation level m of the reproduced signal as an index. Similarly to the above, the maximum value I pk and the minimum value I bt of the reproduction signal S rf in each sector are detected. And
  • the modulation degree m is calculated.
  • the rate of change ⁇ of the modulation factor m with respect to the recording power is calculated from the calculated modulation factor m and the recording power Pw at that time.
  • the recording power Pt at which the rate of change 0 becomes a predetermined value is obtained, and a value obtained by multiplying this by a predetermined coefficient k is determined as the optimum recording power Pw.
  • predetermined values and coefficient k values predetermined for each type of recording medium 1 and each recording apparatus are used.
  • a combination of these methods may be used, or a jitter detection unit may be provided to calculate the recording power that provides the minimum jitter.
  • a second test pattern used in the second test writing process is generated.
  • the second test pattern is a data pattern that includes all mark lengths, that is, recorded data Wdata obtained by modulating normal data (for example, data supplied from the controller 8 with arbitrary data or fixed data) by the encoder 9. Good.
  • this trial writing area may be overwritten on the first trial writing area in step S2, or the second trial writing after erasing once. You can go.
  • the first test writing may be performed in the first half of the test writing area (for example, 1 E CC block) that can be used at one time, and the second test writing may be performed in the second half.
  • step S 6 the area written by trial writing in step S 5 is reproduced, and the power in which the sector where the reproduction signal S rf is best obtained is calculated as the second optimum recording power P wex (opt).
  • the maximum value I pk, minimum value I bi :, and average value (DC value) I dc of the playback signal Srf in each sector are detected as in step S3.
  • (1) Calculate asymmetry i3. Then, the power at which the sector whose asymmetry 3 is closest to 0 may be calculated as the optimum recording power Pwex (opt). Alternatively, an approximate expression between the recording power Pwex and the asymmetry may be calculated, and the recording power at which 3) 0 may be calculated.
  • the average value I dc A excluding the 3 T mark length is 0. It is a value.
  • the trial writing process is completed by calculating the optimum recording powers Pw (opt) and Pwex opt), respectively.
  • all mark lengths can be accurately formed by recording based on the optimum recording powers Pw (opt) and Pwex (opt) calculated in this way. Can be done.
  • Test pattern TP 1 and 3 T Repeat pattern 3 When TP is written on a trial basis, it repeats at a predetermined cycle in sync with the sector, so the average value is detected in sync with the sector during playback. By doing so, it is possible to easily detect the average values I dcA and ⁇ I dc 3. Note that the repetition period of the first test pattern TP 1 and the 3T repetition pattern 3 TP may be set in consideration of the average value detection band of the reproduction signal. In addition, when calculating the optimum recording power with the change rate ⁇ of the modulation degree m in step S3, even if the 3 ⁇ mark is recorded with a value different from the optimum power, the modulation degree m and its change rate ⁇ are almost equal.
  • the first test pattern TP 1 is a data pattern that includes all mark lengths, that is, normal data, and Pw3 can be changed by changing the recording power Pw.
  • the recording medium 1 has been described assuming a phase change recording medium.
  • the OPC method as in this embodiment can be suitably applied to a recording method in which recording is performed with different recording powers for the 3T mark length and other mark lengths.
  • step S11 a first test pattern used in the first test writing process is generated.
  • the first test pattern is composed of data patterns excluding the 3T mark length and 4T mark length in the recorded information, and the prescribed modulation rule is satisfied. 'In the first trial writing process, this first test pattern is supplied from the encoder 9 as the recording data Wdata.
  • step S 13 the area trial-written in step S 12 is reproduced, and the portion in which the sector in which the reproduction signal S rf is best obtained is calculated as the optimum recording power P w (opt).
  • the above-described example can be applied to the quality evaluation of the reproduction signal.
  • step S14 a second test pattern used in the second trial writing process is generated.
  • the second test pattern consists of a data pattern excluding the 3T mark length, and the prescribed modulation rule is satisfied.
  • step S16 the area trial-written in step S15 is reproduced, and the power at which the sector in which the reproduction signal S rf is best obtained is calculated as the optimum recording power P w 4 (opt).
  • the quality of this reproduction signal can be evaluated in the same manner as step S6.
  • the second test pattern is the same as shown in Fig. 8.
  • the first test pattern and the 4T repeating pattern may be repeated alternately.
  • a third test pattern used in the third trial writing process is generated.
  • the third test pattern may be a data pattern including all mark lengths, that is, recording data Wdata obtained by modulating normal data (for example, data supplied from the controller with arbitrary data or fixed data) by the encoder 9.
  • Pw 4 (opt) is set, and this third test pattern is recorded in the trial writing area while changing the recording parameter Pw 3 for each sector.
  • step S 19 the area written by trial writing in step S 18 is reproduced, and in the same manner as in step S 16, the area where the reproduction signal Srf is best obtained is calculated as the optimum recording power Pw 3 (opt). To do.
  • N natural number of 2 or more
  • the optimum value of the recording power of each group is calculated.
  • a predetermined M-th test data is trial-written while the recording power of the M-th (M: natural number from 1 to N) group is gradually changed with respect to the area, and the first test data is recorded from the reproduction signal of the recorded test-write data.
  • the trial writing process is completed by calculating the optimum recording powers P w 3 (opt), P w 4 (opt) and P w (opt) in this way.
  • P w 3 (opt) the optimum recording powers
  • P w 4 (opt) the optimum recording power
  • the third test pattern is composed of data patterns excluding the 4 T mark length, the second trial writing and the third trial writing are performed in succession, and then these two trial writing areas are played back.
  • the optimum recording power Pw 4 (opt) and Pw 3 (opt) may be calculated. That is, steps Sll, SI 2, SI 3, SI 4, SI 5, SI 7, SI 8, SI 7, SI 9 are processed in this order. In this way, the step of switching between recording and reproduction processing (such as access time to the target test writing area) can be omitted, so that the test writing process time can be shortened.
  • step S21 a first test pattern is generated.
  • This first test pattern consists of a data pattern consisting of the first group of mark lengths.
  • step S22 the first test pattern is recorded in the test writing area while changing the recording power PwA for each sector.
  • step S 23 the area written by trial writing in step S 22 is reproduced, and the portion in which the sector where the reproduction signal S rf is best obtained is calculated as the optimum recording power P w A (opt).
  • the above-described example can be applied to evaluate the quality of the reproduced signal.
  • step S24 a second test pattern is generated.
  • This second test pattern consists of a data pattern consisting of the second group mark length, or a data pattern consisting of the first group and second group mark lengths.
  • step S 25 the second test pattern is recorded in the test writing area while changing the recording power PwB for each sector. If the second test pattern includes the first group mark length, the optimum recording power PwA (opt) calculated in step S23 is set.
  • step S26 the area trial-written in step S25 is played back and the playback signal is
  • the optimum recording power P w B (opt) is calculated by recording the sector in which the sector with the best S rf is recorded.
  • the above-described example can be applied to evaluate the quality of the reproduced signal.
  • step S 27 a third test pattern is generated.
  • This third test pattern consists of a data pattern that includes all mark lengths.
  • step S 28 the recording power P wA of the first group is calculated as the optimum recording power P wA (opt) calculated in step S 23 and the recording power P wB of the second group is calculated in step S 26. Set the recording power P w B (opt) and record this third test pattern in the trial writing area while changing the recording power P w C for each sector.
  • step S 2 9 the area trial-written in step S 28 is reproduced, and the power at which the sector where the reproduction signal Srf is best obtained is recorded is the optimum recording power P w C ( opt).
  • N natural number of 2 or more
  • the optimum value of the recording power of each group is calculated.
  • a predetermined M-th test data is trial-written while the recording power of the M-th (M: natural number from 1 to N) group is gradually changed with respect to the area, and the first test data is recorded from the reproduction signal of the recorded test-write data.
  • a test writing process for calculating the optimum recording power of group M is provided for each group.
  • Group 3 is the minimum mark length of recorded information minus 3 T mark length
  • the trial recording process is completed by calculating the optimum recording powers P w A (opt), P w B (opt) and P w C (opt).
  • P w A (opt) the optimum recording powers obtained in this way.
  • the specific pattern that varies the recording power has been described as a predetermined mark length (for example, the minimum 3 T mark length), but this specific pattern is a combination of the data patterns of the recording data Wdata.
  • the pattern according to the recording mark length immediately before or after the recording information string or both of them and the recording mark length can be similarly applied.
  • the recording mark length of 3 T or more immediately before the space length is 3 T
  • the recording power may be different from other mark lengths, and the optimum recording power may be calculated by performing trial writing by applying the embodiment described in FIG.

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Abstract

特定のマーク長の記録パワーが他のマーク長の記録パワーとは異なった値で記録する方式において、各々の記録パワーの最適値を求め、精度よい記録を可能にする。　特定のパターン＝３Ｔを除く記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第１の最適記録パワーＰw(opt)を算出する第１の試し書き工程と（Ｓ１～Ｓ３）、特定のパターン＝３Ｔについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された第１の最適記録パワーとして所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から特定のパターンの最適記録パワーである第２の最適記録パワーＰwex(opt)を算出する第２の試し書き工程と（Ｓ４～Ｓ６）を備えることで、全てのマーク長を精度よく形成でき、精度のよい記録が可能となる。

Description

明細書 情報記録方法及び情報記 置 技術分野
本発明は、 CD— R， CD-RW, DVD-R, DVD-RW, DVD-RA M， DVD+RW等の各種記録媒体に対する情報記録方法及び情報記 置に関 する。 背
近年、 例えば CD— Rドライブ装置のような記録可能な光ディスクドライブ装 置が実用化され、 さらに大容量化 ·高速記録化を目指した研究がなされている。 記録可能な光ディスク媒体としては、 色素系メディァ等を用いた追記型光ディス クや、 光磁気メディァゃ相変化メディァ等を用いた書換え可能なディスクなどが 挙げられる。
一般の光ディスク記^ ¾置では、 半導体レーザを光源とし、 記録情報によりパ ルス変調されたこのレーザ光を記録媒体に照射し、 記録マークを形成する。 この 時、 記録するレーザ光のパワーにより記録マークの形成状態が変化するため、 従 来では、 記録媒体の特性に適した記録パワーを求めるために、 記録開始の ¾tと して予め所定の領域 （PC A： Power Calibration Area=試し書き領域） に対し て記録パワーを変化させながら試し書きを行い、 試し書き後、 その領域の再生信 号の品質が最も良好である領域を記録したパヮーを最適記録パヮ一として求める という、いわゆる O PC (Optimum Power Control)とレヽぅ方法力 S用いられている。 実際のデータの記録時にはこのようにして求めた最適記録パワーを保ちながら記 録を行う。
ここに、再生信号の品質評価方法としては、幾つかの方法が提案されているが、 代表的な方法として以下の方法が実用化されている。
第 1には、再生信号のァシンメトリ から評価する方法である（以下、適宜 "13 法" と称する）。即ち、図 3に示すように、再生信号の DCレベルに対する正側ピ ーク値 A (= I pk- I dc) と負側ピーク値 B (= I dc- I bt) を検出し、
β = ( ( I pk- I dc) - ( I dc— I bt) ) / ( I pk- I bt)
に従いァシンメトリ を算出し、 このァシンメトリ /3が所定値 （例えば、 0 ) と なる再生信号を良好とするものである。
第 2には、 再生信号の変調度 mを用いて評価する方法である （以下、 適宜 " γ 法" と称する）。 まず、 図 6のように再生信号の最大値 I pkと最小値 I btとを検 出し、
m= ( I pk— I bt) / I pk
に従い変調度 mを算出する。 次に、 算出された変調度 πιとそのときの記録パワー Pと力 ら、 変調度の記録パワーに対する変ィ匕率 γを
γ = ( d m/ d P) - (P/m)
に従い算出する。 そして、 変ィ匕率 γが所定値 y t となる記録パワー P tを求め、 これに所定の係数 kを掛けたものを最適記録パワーとして決定する。
一方、 C Dや DVDなどの多くの光ディスクの記録方法においては、 高密度化 に適したマークの長さが情報を担うマークェッジ記録方法が採用されており、 正 確にデータを再生するためにはマークの形状ゃェッジ位置の正確な制御が必要と なっている。 さらには、 マーク長が異なっても一様にマーク形状を整えるため、 複数の記録パルスに分割したパルス列で記録マークを形成するマルチパルス記録 方法が広く用いられている。 即ち、 加熱 ·冷却のサイクルを繰返してマークを繋 げて形成することにより一様な長マークを形成するものである。 この方法は色素 系追記型の媒体でも適用されている。
ところで、 近年の高速記録化 ·大容量化の要求に伴い様々な記録方法が提案さ れており、 その一つとして記録パワーの多値レベル化が挙げられる。 例えば、 記 録媒体と記録パルス波形との関係によっては、 記録パワー P wに対する記録マー ク長の理想値からのずれ Δの関係力 S、 特定マーク長だけ他のマーク長とは異なる 場合がある。 例えば、 図 5にこの関係を例示する。 ①が特定マーク長 （3 T) の 特性であり、 ②がその他のマーク長の特性である。 CDはマーク長が 3 T〜1 1 Τ (ここで、 Τはデータの基準クロック周期） であり、 最小マーク長である 3 Τ の記録パヮーに対する理想値からのずれ Δが他の記録マーク長とは異なっている。 そのため、 特定のマーク長の記録パワーを他のマーク長の記録パワーとは異なつ た値で記録をし、 各々のマーク長を適正に記録しょうとするものである。 図 5の 例では 3 Tマークを記録パヮー P wex、他のマーク長を記録パヮー P wで記録する ようにする。
そして、 このように記録パワーを多値レベル化した記録方法において、 前述の O P Cを行う際には、 特定マーク長の記録パワー Pwexは、 他のマーク長の記録 パワー Pwと所定の比例関係を保ったまま （pwex/pw=—定)、或いは、所定の 記録パワー差を保ったまま（Pwex— Pw=—定)、記録パワーを変化させながら試 し書きを行レ、、 その中で最適な記録パヮーを求めるようにしている。
しかしながら、 このような O P Cの方法では、 記録パワーと理想镇からのずれ との関係は、 マーク長により異なり、 また、 記録媒体や記録装置のパラツキ （即 ち、 半導体レーザ駆動部のバラツキによる記録パルス波形のバラツキ） があった 場合に、 特定マーク長の記録パワー最適値 Pwex (opt)と他のマーク長の記録パヮ 一最適値 Pw(opt)との関係もばらつくため、 各々の記録パワーを適正に求めるこ とができなくなり、 これによりマーク形状やマーク位置の精度が損なわれ、 結果 として、 データエラ一の原因となるという 題が生じる。 発明の開示
本癸明の目的は、 特定のマーク長の記録パワーが他のマーク長の記録パワーと は異なつた値で記録する情報記録方法や情報記録装置にぉレ、て、 各々の記録パヮ 一の最適値を求め、 これにより精度よい記録を行うことができる情報記録方法及 ぴ情報記録装置を提供することである。
上述の目的を達成するために、 本発明の一つの特徴によれば、 記録情報に基づ き変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより 情報の記録を行う情報記録方法において、 前記記録媒体の所定の試し書き領域に 対して、 照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第 1のテストデータ を試し書きし、 記録した試し書きデータの再生信号から第 1の最適記録パワーを 算出する第 1の試し書き工程と、 前記記録情報のうち特定のパターンについては その記録パワーを段階的に可変し、 その他のパターンについてはその記録パワー を算出された前記第 1の最適記録パワーとして所定の第 2のテストデータを試し 書きし、 記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録 パワーである第 2の最適記録パワーを算出する第 2の試し書き工程と、 を備え、 算出されたこれらの第 1及び第 2の最適記録パワーに基づき情報の記録を行うよ うにした。
従って、 記録情報のうちの特定のパターンとその他のパターンとの最適記録パ ヮーを各々算出し、 これらの算出された最適記録パワーに基づき通常通り、售報 の記録を行うことで、 全てのマーク長を精度よく形成することができ、 精度のよ い記録が行える。 ' - 本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 所定の前記第 1のテ ストデータは、前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いたデータ列である。 従って、 第 1のテストデータが特定のパターンを除いたデータ列であるので、 第 1の試し書きの際には特定のパターンの記録データが最適化されてないことに よる再生信号検出値の誤差が含まれないので、 精度よく第 1の最適記録パワーを 算出することができる。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 所定の前記第 2のテ ストデータは、 tin己特定のパターンを繰返した第 1データ列と前記記録情報のう ち前記特定のパターンを除いた第 2データ列とを繰返したデータ列である。 従って、 各データ列の再生信号の平均値を分離して容易かつ精度よく検出でき るので、 最適記録パワーの算出精度が向上する。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 前記第 1の試し書き 工程における前記第 1の最適記録パワーは、 第 1の試し書きを行った領域の再生 信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、 前記第 2の試し書き工程におけ る前記第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書きを行った領域の再生信号のァシ ンメトリから算出する。
本発明及び以下の発明において、 ァシンメトリとは、 再生信号の平均値レベル に対する正側ピーク値と負側ピーク値との割合を意味する。
従って、 各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出するこ とができる。 本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 前記第 1の試し書き 工程における前記第 1の最適記録パワーは、 第 1の試し書きを行った領域の再生 信号のァシンメトリ力ら算出し、 前記第 2の試し書き工程における前記第 2の最 適記録パワーは、 第 2の試し書きを行った領域の再生信号のァシンメトリ力ら算 出する。
従って、 各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出するこ とができる。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 前記第 2の試し書き 工程における前記第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書きを行った試し書き領 域内の第 1データ列の再生信号の平均値と第 2データ列の再生信号の平均値とか ら算出する。
従って、 各テストデータに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出するこ とができる。
本発明の他の特徴によれば、 上記記載の情報記録方法において、 前記特定のパ ターンは、 frl己記録情報のうちの最小マーク長である。
従って、 最小マーク長を特定のパターンとして、 他のマーク長とは別に最適記 録パワーを算出するようにしているので、 簡便な方法で多くの記録媒体に好適に 適用することができる。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 前記特定のパターン は、 記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパ ターンである。
従って、 特定のデータパターンに応じて最適記録パヮ一が異なる記録媒体であ つても、 精度よく記録マークを形成でき、 精度のよい記録が行える。
本発明の他の特徴によれば、 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒 体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法に おいて、 前記記録情報のマーク長によって N (N： 2以上の自然数） の群に区分 し、 各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、 前記記録媒体の所 定の試し書き領域に対して、 第 M (M : 1〜Nの自然数） 群の記録パワーを段階 的に可変しながら所定の第 Mのテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデ ータの再生信号から第 M群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に 備え、 これらの各群毎に算出された最適記録パワーに基づき情報の記録を行うよ うにした。
従って、 マーク長によって最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、 各々 のマーク長毎に最適記録パワーを算出するので、 全てのマーク長が精度よく形成 でき、 精度のよい記録が行える。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 N= 3であり、 第 3 群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、.第 2群が前記記録情報のうちの 次に短いマーク長であり、 第 1群が前記記録情報のうちのその他のマーク長であ る。
従って、 特に高速記録化に伴い、 最小マーク長やその次に短いマーク長が他の マーク長とは最適記録パヮ一が異なつてくることが多レヽが、 このような記録媒体 に対して好適に適用することができる。
本発明の他の特徴によれば、 上記情報記録方法において、 N= 3であり、 第 3 群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、 第 2群が前記記録情報の基準周 期に対して偶数倍のマーク長であり、 第 1群が第 3群を除き前記記録情報の基準 周期に対して奇数倍のマーク長である。
従って、 C D記録や D V D記録の高速記録化に伴レ、近年実用化がなされている いわゆる 2 Tストラテジでは、 最小マーク長である 3 Tマーク長と、 偶数マーク 長と、 3 Tを除く奇数マーク長とで最適記録パワーが異なる媒体が多くなるが、 このような記録媒体に対して好適に適用することができる。
上記情報記録方法による作用は、 本発明の他の特徴に従つた情報記維置によ つても同様に奏することができる。
本発明の一特徴によれば、 記録情報のうちの特定のパターンとその他のパター ンとの最適記録パワーを各々算出し、 これらの算出された最適記録パワーに基づ き通常通り、 情報の記録を行うようにしたので、 全てのマーク長を精度よく形成 することができ、 精度のよい記録を行わせることができる。
本発明の一特徴によれば、 所定の前記第 1のテストデータを、 第 1のテストデ ータが特定のパターンを除いたデータ列としたので、 第 1の試し書きの際には特 定のパターンの記録データが最適化されてないことによる再生信号検出値の誤差 が含まれなくすることができ、 精度よく第 1の最適記録パワーを算出することが できる。
本発明の一特徴によれば、 所定の前記第 2のテストデータを、 歸己特定のバタ 一ンを操返した第 1データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた 第 2データ列とを繰返したデータ列としたので、 各データ列の再生信号の平均値 を分離して容易カゝっ精度よく検出でき、 最適記録パワーの算出精度を向上させる ことができる。 ·
本発明の一特徴によれば、 第 1の試し書き工程における第 1の最適記録パワー は、 第 1の試し書きを行つた領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から 算出し、 第 2の試し書き工程における第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書き を行った領域の再生信号のァシンメトリから算出するようにしたので、 各テスト データに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
本発明の一特徴によれば、 第 1の試し書き工程における第 1の最適記録パワー は、 第 1の試し書きを行った領域の再生信号のァシンメ トリ力 ら算出し、 第 2の 試し書き工程における第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書きを行った領域の 再生信号のァシンメ トリから算出するようにしたので、 各テストデータに応じて 各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
本発明の一特徴によれば、 第 2の試し書き工程における第 2の最適記録パワー は、 第 2の試し書きを行った試し書き領域内の第 1データ列の再生信号の平均値 と第 2データ列の再生信号の平均値とから算出するようにしたので、 各テストデ 一タに応じて各々の最適記録パワーを精度よく算出することができる。
本発明の一特徴によれば、 最小マーク長を特定のパターンとして、 他のマーク 長とは別に最適記録パワーを算出するようにしたので、 簡便な方法で多くの記録 媒体に好適に適用することができる。
本宪明の一特徴によれば、 特定のパターンを、 記録情報列の直前或いは直後又 はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターンとすることで、 特定のデータ パターンに応じて最適記録パワーが異なる記録媒体であっても、 精度よく記録マ ークを形成でき、 精度のよい記録を行うことができる。 本発明の一特徴によれば、 マーク長によって最適記録パワーが異なる記録媒体 であっても、 各々のマーク長毎に最適記録パワーを算出するので、 全てのマーク 長を精度よく形成することができ、 精度のよい記録を行うことができる。
本発明の一特徴によれば、 N= 3であり、 第 3群を最小マーク長、 第 2群を次 に短いマーク長、第 1群をその他のマーク長としたので、特に高速記録化に伴い、 最小マーク長やその次に短いマーク長が他のマーク長とは最適記録パワーが異な つてくることが多いが、 このような記録媒体に対して好適に適用することができ る。
本発明の一特徴によれば、 N= 3であり、 第 3群を最小マーク長、 第 2群を基 準周期に対して偶数倍のマーク長、 第 1群を第 3群を除き基準周期に対して奇数 倍のマーク長としたので、 CD記録や DVD記録の高速記録化に伴い近年実用化 がなされているいわゆる 2 Tストラテジでは、 最小マーク長である 3 Tマーク長 と、 偶数マーク長と、 3 Tを除く奇数マーク長とで最適記録パワーが異なる媒体 が多くなるが、 このような記録媒体に対して好適に適用することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の一実施の形態の光情報記録装置の概略構成例を示すプロッ ク図である。
2は、 P C A領域及び試し書き方式に関する説明図である。
3は、 再生信号のアイダイアグラムを示す特性図である。
図 4は、 各記録情報に対応する発光波形例を示す波形図である。
図 5は、 マーク長の違いによる理想値からのずれ特性を示す特性図である。 図 6は、 試し書き処理制御例を示す概略フローチヤ一トである。
図 7は、 試し書き領域に関する再生信号の特性図である。
図 8は、 第 2のテストパターンの別の実施の形態を示す説明図である。 図 9は、 マーク長によつて複数の記録パワーレベルで記録を行う際の試し書 きに関する別の実施の形態の試し書き処理制御例を示す概略フローチャートであ る。
図 1 0は、 マーク長によつて複数の記録パヮ一レベルで記録を行う際の試し 書きに関するさらに別の実施の形態の試し書き処理制御例を示す概略フローチヤ 一トである。 発明を実施するための最良の形態
本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。 本実施の形態の情報記録装 置は、 光情報記録装置への適用例であり、 図 1はこの光情報記録装置の概略構成 例を示すブロック図である。
この光情報記録装置において用いられる記録媒体 1は、記録可能な記録媒体 (例 免ば、 CD— R, C D- RW, DVD - R, DVD - RW, DVD + R, DVD + RW, DVD -RAM, MD， MOなどの光ディスク等） である。 このような 記録媒体 1を回転駆動させるスピンドルモータ 2は、 サーボコントローラ 3から 供給される信号に従い線速度一定 （C L V) 或いは角速度一定 （CAV) となる ように制御される。光ピックアップ（P U) 4は光源である半導体レーザ（L D) カ らの出射光を記録媒体 1に照射し情報の記録を行つたり、 記録媒体 1からの反 射光を受光し受光信号に変換するものであり、 光源、 反射光を受光し受光信号に 変換する受光素子、 光学系、 ァクチユエータなどから構成されている。 また、 光 ピックアップ 4には光源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、 この出力であるモニタ信号により光源の出射光量変動が制御される。 また、 記録 媒体 1の照射光に対する傾き （チルト） を検知するためのチルト検出受光部など が配置される場合もある。
受光信号処理部 5は光ピックアップ 4に配置された各種受光部からの受光信号 が入力され、様々な信号処理を行う。 受光信号から再生信号 Srf の生成や、 サ一 ポコントローラ 3とともに記録媒体 1の回転に伴う面振れやトラックの半径方向 の振れなどの変動に対し常に所定の誤差内で光を照射するようァクチユエータを 駆動し制御 （フォーカスサーポ制御及ぴトラックサーボ制御） する。 このため受 光信号からサーボエラー信号 S sv を生成し、 サーボコントローラ 3へ供給する。 また、 光ピックアップ 4は記録媒体 1の半径方向に可動し、 所望の位置に光スポ ットが照射されるようシーク動作を行う。 サーボコントローラ 3は記録媒体 1に 予め記録されたァドレス情報などに従いこのシーク制御や記録媒体 1の回転制御、 チルト制御などの機能も担う。
記録媒体 1には記録トラックが所定の周波数で蛇行したゥォブルが予め形成さ れており、受光信号処理部 5ではこのゥォブル成分を抽出したゥォブル信号 S wbl も生成する。 このゥォブル信号 Swbl を基に回転制御、 アドレス情報の検出、 記 録の際の基準クロックとなる記録クロック WCKの生成をゥォブル信号処理部 6で 行う。
再生信号処理部 7は再生信号 Srf から再生している記録媒体 1の所定の変調 方式規則に則り復調を行う。 また、 内蔵された P L L回路により再生クロックを 抽出する。 復調したデータはコントローラ 8に供給する。
エンコーダ 9はコントローラ 8から供給される記録情報を所定の変調方式規則 に則り変調を行い、記録データ Wdataを供給する。 この時、記録クロック WCKを 基準に生成している。 例えば、 D VD記録装置では、 E FM+変調方式が用いら れており、記録データ Wdataのパルス長は 3 T〜： L 1 T， 1 4 T (Tは記録ク口 ック WCKの周期） となる。
L D駆動部 1 0は記録データ Wdata及ぴ記録クロック WCKに従レ、、光源 L Dを 所定の光波形で変調する。 照射パワーや光波形情報などはコントローラ 8から設 定される。 また、 受光信号処理部 5からモニタ受光信号が入力され、 このモニタ 受光信号に基づき光源 L Dの出射光量が所望の値となるように制御する （いわゆ る A P C (Automatic Power Control) 制御を行う）。
ここで、 記録媒体 1には、 図 2 ( a ) に示すように、 所定の領域 （例えば、 最 内周部） に P C A (Power Calibration Area=試し書き領域） 2 1が設けられて おり、 本来の記録を開始する前にこの領域に試し書きを行い最適な記録パワーを 求め、 実際の記録時にはこの求めた記録パワーで記録を行う O P C (Optimum Power Control)制御を行う。また、図 2 ( b )に示すように、一度の試し書きは、 例えば、 記録情報単位である 1 E C Cブロックを用いて行われ （この 1 E C Cブ ロックは 1 6セクタからなる）、 1セクタ毎記録パワーを変ィ匕させながら試し書き を行う。
すると、 この試し書きを行った領域の再生信号 S rfは、 図 2 ( c ) に示すよう になるので、 O P C検出部 1 1は、再生信号 Srfの各セクタの最大値 I pk、最小 値 Ibt、 平均値（DC値） I dcを検出する。 図 3は再生信号 Srfのアイダイァグ ラムの一例である。 コントローラ 8では、 試し書きを行った領域の再生を行って これらの値を検出し、 これらの値から所定の演算を行レヽ最適な記録パヮーを算出 する。 この算出動作の詳細については後述する。
テスト信号生成部 12は、 試し書きを行う際に試し書きデータ （テストパター ン） を生成する。 この試し書きデータはエンコーダ 9に供給され、 試し書きの際 にはこれを選択出力して LD駆動部 10に供給する。
コントローラ 8は、 前述した機能、 後述する処理制御の他、 ホストコンビユー タ （図示せず） との記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行い装置全体の制 御を行う。
ここで、 記録媒体 1として例えば DVD— RW等の相変化型記録媒体 （書換え 型記録媒体)を想定した場合の光源 LDの発光波形例を図 4に例示する。図 4 ( a ) は記録クロック WCK、 図 4 (b) は記録データ Wdata、 図 4 (c) は記録データ Wdataのマーク長が各々 3 T (1) 〜14T (10) の時の光波形を示している。 照射パワーは各々ボトムパワー Pb、ィレースパワー P e、ライトパワー Pw (3 T〜l 4Tで各々 Pw3〜Pwl 4とする） となるように設定される。 また、 図 示例では、 4Tと 5T、 6Τと 7Τ、 8Τと 9T、 10Tと 11Τ、 が各々同一 パルス数となる 2 Τストラテジ方式とされている。 通常、 各マーク長毎のライト — Pw3〜Pwl 4は等しぃパヮー？ （= ? 3 = ? 4='"=? 14) としている力 s、 記録媒体 1の種類や記録波形などによってはマーク長により記録 パワーに対するマークの理想長からのずれ Δの特性が異なることもある （記録速 度が異なれば記録特性も変化するので同一記録媒体でも記録速度によってはこの ような傾向を示すものもある）。図 5はこのような特性の関係を示す図であり、② は 3 Tマーク長の特性、 ①はその他のマーク長の特性を示している。 このような 記録媒体に対してはPw3 = Pwex(op1:)、 P w 4 = P w 5 =— = P w 14 = P (opt)となるように記録パワーを設定すると全てのマーク長が精度よく形成でき る。
このような条件下に、 マイクロコンピュータ構成のコントローラ 8により実行 される記録媒体 1に好適な記録方法の処理制御例を図 6に示すフローチヤ一トを 参照して説明する。.図 6は記録動作に関連する処理制御のうち、 試し書き処理に 伴レ、最適記録パヮー P w (opt)及ぴ P wex (opt)を算出するアルゴリズムを示すフ ローチャートである。 このような最適記録パワーの算出は情報の記録開始の準備 として行われ、最適記録パワー Pw (opt)を算出する第 1の試し書き工程又は第 1 の試し書き手段と、 最適記録パワー Pwex (opt)を算出する第 2の試し書き工程又 は第 2の試し書き手段とで成り立つ。
まず、 第 1の試し書き工程 （第 1の試し書き手段） において、 当該第 1の試し 書き工程で使用する第 1のテストパターンを生成する（ステップ S 1)。第 1のテ ストパターンは記録情報のうちで本実施の形態における特定のパターンである最 小マーク長 =3 Tマーク長を除いたデータパターンで構成されたものであり、 所 定の変調規則は満たしているものとする。 第 1の試し書き工程ではこの第 1テス トパターンが記録データ Wdataとしてエンコーダ 9より供給する。 ·
次に、 セクタ毎に記録パワー Pw (=Pw4 = Pw5=〜 = Pwl 4) を変化 させながらこの第 1のテストパターンを試し書き領域に記録する （第 1の試し書 き…ステップ S 2)。
ステップ S 3では、 ステップ S 2で試し書きした領域を再生し、 再生信号 Srf が最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワー Pw (opt)とし て算出する。
' この再生信号の品質を評価するには以下のような例が適用できる。
第 1には、図 3を参照して説明したように、各セクタにおける再生信号 Srfの 最大値 Ipk、 最小値 Ibt、 平均値 （DC値） Idcを検出する。 そして、 各セクタ 毎に、
β= ((Ipk— Idc)— (Idc- Ibt)) / ( I pk- I bt) …… ·· (1) なる演算を行いァシンメトリ i3を算出する。
通常、 最も良好な再生信号が得られ ¾のは jS = 0の時であり、 最も 0に近いセ クタを記録したパワーを最適記録パワー Pw (opt)として算出すればょレ、。或いは、 記録パワー Pwとァシンメトリ ] 3との近似式を算出し、 ；8 = 0となる記録パワー を算出するようにしてもよい。
この時、 3 Tマーク長を含んだデータパターンで試し書きを行うと、. 3Tマー ク長の最適記録パワーが他のマークと異なることにより、 他のマークの最適記録 パワーで記録した領域の再生信号 Srfは例えば図 7に示すようになる。即ち、 3 Tマーク長を除く平均値 I dcAと、 3 Tマーク （例えば、 3 T繰返しパターン） の平均値 I dc 3とは異なるため、検出される平均値 I dcは 3 Tマークを除く平均 値 I dcAとは誤差を生じ、 この結果、 ァシンメトリ 3も誤った値が算出されるた め誤った最適記録パワーが算出されてしまう。 この点、 本実施の形態では、 第 1 の試し書き工程においては 3 Tマーク長を除くデータパターンとしているので、 このような問題は生じず、 正確に最適記録パワーを算出できる。
第 2には、 再生信号の変調度 mの記録パワーに対する変化率 γを指標とする方 法である。前述と同様に各セクタにおける再生信号 S rfの最大値 I pk、最小値 I btを検出する。 そして、
m= ( Ipk— Ibt) / Ipk (2)
に従い変調度 mを算出する。
次に、 算出された変調度 mとそのときの記録パワー Pwとから、 変調度 mの記 録パワーに対する変化率 γを
y = (dm/d P ) - (Pw/m) (3)
に従い算出する。 そして、 変化率 0が所定値 となる記録パワー P tを求め、 これに所定の係数 kを掛けたものを最適記録パワー Pwとして決定する。 これら の所定値 及び係数 kは記録媒体 1の種類や記録装置毎に予め定められた値を 用いる。
より詳細な算出方法を以下に説明する。 まず、 試し書き領域を再生して検出し た変調度 mと記録パヮー P wとの複数のデータから、
m=a · Pw2 + b · Pw+ c (a, b， cは定数） …… （4)
なる 2次近似式を算出する。 近似方法としては多項式近似などの一般的な近似方 法を用いればよく、 2次以上の近似式が測定値とよく一致する。
そして、 前述の （3) 式より、 dmZd Pw= 2 a · Pw+bであるから、
P = {-b (γ _ 1)土 SQRT[b 2 (y -l) 2-4 a (y - 2) c y]}/2 a (7
- 2) (5) なる （5)式が得られる。 これらの演算を行い、 （5)式の正の解 Pw +を算出す ることで最適記録パワー P w (opt)を算出する。
また、 これらの方法を組み合わせたものであってもよく、 さらにはジッタ検出 部を設け、 最小のジッタとなる記録パヮーを算出するようにしてもよい。
次に、 ステップ S 4〜S 6の第 2の試し書き工程 （第 2の試し書き手段） を行 5 o
ステップ S 4では、 第 2の試し書き工程で使用する第 2のテストパターンを生 成する。 第 2のテストパターンは全てのマーク長を含んだデータパターン、 つま り、 通常のデータ （例えば、 任意のデータや固定データをコントローラ 8から供 給したデータ） をエンコーダ 9で変調した記録データ Wdataでよい。
ステップ S 5では、 記録パワー P w (= P w 4 = P 5 =-= P l 4 ) はス テツプ S 3で算出した最適記録パヮー P w (opt)に設定するとともに、セクタ毎に 第 2の記録パワー Pwex (= P w 3 ) を変化させながら、第 2のテストパターンを 試し書き領域に記録する。 この際、 例えば、 記録媒体 1が書換え可能な媒体であ ればこの試し書き領域はステップ S 2の第 1の試し書き領域に上書きしてもよく、 或いは、 一度消去した後に第 2の試し書きを行ってもよレ、。 また、 一度に使用で きる試し書き領域（例えば、 1 E C Cブロック）の前半部分に第 1の試し書きを、 後半部分に第 2の試し書きを行うものであってもよい。
ステップ S 6では、 ステップ S 5で試し書きした領域を再生し、 再生信号 S rf が最も良好に得られるセクタを記録したパヮーを第 2の最適記録パヮー P wex (opt)として算出する。
再生信号の品質を評価するには、 ステップ S 3の場合と同様に、 各セクタにお ける再生信号 Srfの最大値 I pk、 最小値 I bi：、 平均値 （D C値） I dcを検出し、 ( 1 ) 式によりァシンメトリ i3を算出する。 そして、 ァシンメトリ） 3が最も 0に 近いセクタを記録したパワーを梟適記録パワー Pwex(opt)として算出すればよい。 或いは、 記録パワー Pwex とァシンメトリ との近似式を算出し、 ）3 = 0となる 記録パワーを算出するようにしてもよい。
第 2の試し書きにおいては、 3 Tマーク長以外のマークの記録パワーは既に第 1の試し書き工程により最適化されているので、 3 Tマーク長を除く平均値 I dc Aは = 0となる値となっている。 ステップ S 5では 3 Tマーク長の記録パワー Pwexを変ィ匕させながら記録しているので、 3 Tマーク長の平均値 Idc 3が変化 していく。 よって、 Idc3が、 Ipk— I dc3= I dc3— Ibtとなる値になるセク タがァシンメトリ 3— 0となり、 そのセクタで記録した記録パワー Pwexが最適 値 Pwex(opt)と算出できる。
このようにして、 最適記録パワー Pw(opt)及ぴ Pwex opt)を各々算出すること により、 試し書き工程を終了する。 通常の情報記録時には、 このようにして算出 された最適記録パワー Pw(opt)及ぴ Pwex(opt)に基づき記録をすることにより、 全てのマーク長が精度よく形成でき、 精度のよレ、記録が行える。
ところで、 第 2の試し書き工程で用い得る第 2のテストパターン例の別の実施 の形態を図 8に示す。 即ち、 特定パターンである 3 Tパターンの繰返しによる第 1データ列 （3 T繰返しパターン =3 TP) と、 3 Tパターンを除いた第 2デー タ列 （第 1テストパターン =TP 1) とを、 交互に繰り返したパターンとする例 である。 すると、 その領域を再生した再生信号 Srf及び平均値 Idcは図 8 (b) に示すようになり、 3 Tマークの平均値 I dc 3を平均値 I dcAと分離して容易に 検出することができ、 精度よくァシンメトリ が算出できるため、 最適記録パヮ 一の算出精度も向上する。 或いは、 平均値 IdcAと Idc 3とが一致するセクタが 全パターンを含んだァシンメ トリ /3 = 0となるので、 これより最適記録パワー P wex(opt)を算出するようにしてもよい。
第.1テストパターン TP 1と 3 T繰返しパターン 3 TPは試し書きする際、 セ クタに同期して所定の周期で繰返すようにするので、 再生時にもセクタに同期し て平均値を検出するようにすれば、 平均値 I dcAと · I dc 3とを容易に検出するこ とができる。 なお、 第 1テストパターン TP 1と 3T繰返しパターン 3 TPとの 繰返し周期は再生信号の平均値検出帯域を考慮して設定するようにすればよい。 また、 ステップ S 3において変調度 mの変化率 γにより最適記録パワーを算出 する場合は、 3 Τマークが最適パワーと異なった値で記録しても、 変調度 m及び その変化率 γにはほとんど影響しないため、 第 1テストパターン TP 1は全ての マーク長を含んだデータパターン、 つまり、 通常のデータとし、 Pw3も記録パ ヮー P wで変化させながら試し書きすればよい。
さらに、 前述の説明では記録媒体 1は相変化型記録媒体を想定して説明をした I 他の記録媒体であっても 3 Tマーク長とその他のマーク長とで記録パワーを 違えて記録を行う記録方法においては、 本実施の形態のような O P C方法を好適 に適用できる。
次に、 マーク長によって複数の記録パワーレベルで記録を行う記録方法に関す る本実施の形態の適用例について、 図 9に示すフローチャートを参照して説明す る。 例えば、 3Tマーク長記録パワー Pw3と 4Tマーク長記録パワー Pw4と その他のマーク長記録パワー Pw (=Pw5 = Pw6=〜=Pwl 4) との 3群 を異なったパワーで記録する:^、 各々の記録パワーの最適値を上述と同様にし て箅出する場合への適用例である。
ステップ S 11では、 第 1の試し書き工程で使用する第 1のテストパターンを 生成する。 第 1のテストパターンは記録情報のうちで 3 Tマーク長及び 4 Tマー ク長を除いたデータパターンで構成されたものであり、 所定の変調規則は満たし ているものとする。 '第 1の試し書き工程ではこの第 1テストパターンが記録デー タ Wdataとしてエンコーダ 9より供給する。
ステップ S 12では、 セクタ毎に記録パワー Pw (=Pw5 = Pw6=---=P w 14) を変化させながらこの第 1テストパターンを試し書き領域に記録する。 ステップ S 13では、 ステップ S 12で試し書きした領域を再生し、 再生信号 S rf が最も良好に得られるセクタを記録したパヮ一を最適記録パヮー P w (opt) として算出する。この再生信号の品質の評価については上述した例が適用できる。 ステップ S 14では第 2の試し書き工程で使用する第 2のテストパターンを生 成する。 第 2のテストパターンは 3 Tマーク長を除いたデータパターンで構成さ れたものであり、 所定の変調規則は満たしているものとする。
ステップ S 15では、 記録パワー Pw (=Pw5 = Pw6=---=Pwl 4) は ステップ S 13で算出した記録パワー Pw (opt)に設定し、セクタ毎に記録パワー Pw4を変化させながらこの第 2のテストパターンを試し書き領域に記録する。 ステップ S 16では、 ステップ S 15で試し書きした領域を再生し、 再生信号 S rf が最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パヮー P w 4 (opt)として算出する。この再生信号の品質を評価するにはステップ S 6と同様に すればよい。 また、 図 8に示した場合と同様にして第 2のテストパターンとして は、 第 1のテストパターンと 4 T繰返しパターンとを交互に繰り返すようにして あよい。
ステップ S 17では、 第 3の試し書き工程で使用する第 3のテストパターンを 生成する。 第3のテストパターンは全てのマーク長を含んだデータパターン、 つ まり通常のデータ'（例えば、 任意のデータや固定データをコントローラから供給 したデータ） をエンコーダ 9で変調した記録データ Wdataでよい。
ステップ S 18では、 記録パワー Pw (=Pw5 = Pw6=…- Pwl 4) は ステップ S 13で算出した最適記録パワー Pw(opt)に、記録パワー Pw4はステ ップ S 16で算出した最適記録パワー Pw 4 (opt)に設定し、セクタ毎に記録パヮ 一 Pw 3を変化させながらこの第 3テストパターンを試し書き領域に記録する。 ステップ S 19では、 ステップ S 18で試し書きした領域を再生し、 ステップ S 16と同様にして再生信号 Srf が最も良好に得られるセクタを記録したパヮ 一を最適記録パワー Pw 3 (opt)として算出する。
即ち、 記録情報のマーク長によって N (N : 2以上の自然数） =3の群に区分 し、 各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、 記録媒体 1の所定 の試し書き領域に対して、 第 M (M： 1〜Nの自然数） 群の記録パワーを段階的 に可変しながら所定の第 Mのテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデー タの再生信号から第 M群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備 えるものであり、第 3群が記録情報のうちの最小マーク長 = 3 Tマーク長であり、 第 2群が記録情報のうちの次に短いマーク長 =4 Tマーク長であり、 第 1群が記 録情報のうちのその他のマーク長とした例である。
このようにして最適記録パヮー P w 3 (opt)、 P w 4 (opt)及ぴ P w (opt)を算出 することにより、 試し書き工程を終了する。 通常の情報記録時には、 このように して求めた最適記録パワーで記録をすると全てのマーク長が精度よく形成でき、 精度のよい記録が行える。
なお、 第 3テストパターンを 4 Tマーク長を除いたデータパターンで構成し、 第 2の試し書きと第 3の試し書きとを連続して行い、 その後、 これらの 2つの試 し書き領域を再生して最適記録パワー Pw 4 (opt)と Pw 3 (opt)とを算出するよ うにしてもよレヽ。 即ち、 ステップ Sll， S I 2， S I 3， S I 4, S I 5， S I 7, S I 8， S I 7, S I 9の順で処理を行う。 このようにすれば記録と再生処 理の切換え工程（目的の試し書き領域へのァクセス時間など）を省略できるので、 試し書き工程時間を短縮することができる。
次に、 マーク長によつて複数の記録パワーレベルで記録を行う記録方法に関す る別の実施の形態について、 図 10に示すフローチャートを参照して説明する。 本実施の形態では、 マーク長によって 3つの群に区分し各々の群の記録パワーの 最適値を算出する方法について述べる。 より具体的には、 第 1群は偶数マーク長 (4, 6， 8, 10, 14T) とし、 その記録パワーを PwA (=P 4 = Pw 6=···) とする。 第 2群は 3 Tマーク長を除く奇数マーク長 （5， 7, 9, 11 T) とし、 その記録パワーを PwB (=Pw5 = Pw7=---) とする。 第 3群は 3 Tマーク長とし、 その記録パワーを PwC (=Pw3) とする。 これらの記録 パワー PwA， PwB, PwCを各々変化させながら第 1〜第 3の試し書きを行 い各々の最適値を算出する。
ステップ S 21では、 第 1テストパターンを生成する。 この第 1テストパター ンは第 1群のマーク長からなるデータパターンで構成される。
ステップ S 22では、 セクタ毎に記録パワー PwAを変化させながらこの第 1 テストパターンを試し書き領域に記録する。
ステップ S 23では、 ステップ S 22で試し書きした領域を再生し、 再生信号 S rf が最も良好に得られるセクタを記録したパヮ一を最適記録パヮー P w A (opt)として算出する。この再生信号の品質を評価するには上述した例を適用でき る。
ステップ S 24では、 第 2テストパターンを生成する。 この第 2テストパター ンは第 2群のマーク長からなるデータパターン、 或いは、 第 1群及び第 2群のマ ーク長からなるデータパターンで構成される。
ステップ S 25では、 セクタ毎に記録パワー PwBを変化させながらこの第 2 テストパターンを試し書き領域に記録する。 第 2テストパターンが第 1群のマ" ク長を含むものであるときはステップ S 23で算出した最適記録パワー PwA (opt)を設定しておく。
ステップ S 26では、 ステップ S 25で試し書きした領域を再生し、 再生信号 S rf が最も良好に得られるセクタを記録したパヮ一を最適記録パヮー P w B (opt)として算出する。この再生信号の品質を評価するには上述した例を適用でき る。
ステップ S 2 7では、 第 3テストパターンを生成する。 この第 3テストパター ンは全てのマーク長を含んだデータパターンで構成される。
ステップ S 2 8では、 第 1群の記録パワー P wAをステップ S 2 3で算出した 最適記録パワー P wA (opt)に、第 2群の記録パワー P wBをステップ S 2 6で算 出した最適記録パヮー P w B (opt)に設定し、セクタ毎に記録パヮー P w Cを変化 させながらこの第 3テストパターンを試し書き領域に記録する。
ステップ S 2 9では、 ステップ S 2 8で試し書きした領域を再生し、 ステップ S 6の場合と同様にして再生信号 Srf が最も良好に得られるセクタを記録した パワーを最適記録パワー P w C (opt)として算出する。
即ち、 記録情報のマーク長によって N (N : 2以上の自然数） = 3の群に区分 し、 各々の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、 記録媒体 1の所定 の試し書き領域に対して、 第 M (M： 1〜Nの自然数） 群の記録パワーを段階的 に可変しながら所定の第 Mのテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデー タの再生信号から第 M群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備 えるものであり、第 3群が記録情報のうちの最小マーク長- 3 Tマーク長であり、 第 2群が第 3群 = 3 Tマーク長を除き基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、 第 1群が基準周期に対して偶数倍のマーク長とした例である。
このようにして最適記録パヮー P w A (opt)、 P w B (opt)及び P w C (opt)を算 出することにより、 試し書き工程を終了する。 通常の情報記録時には、 このよう にして求めた各々の最適記録パワーに基づき記録すると全てのマーク長が精度よ く形成でき、 精度のよい記録が行える。
なお、 これらの例では記録パワーを異ならせる特定のパターンを所定のマーク 長 （例えば、 最小の 3 Tマーク長） として説明したが、 この特定のパターンとし ては、記録データ Wdataのデータパターンの組合せ （記録情報列の直前或いは直 後又はこれらの双方と記録マーク長とに応じたパターン） によるものとしても同 様にして適用できる。 例えば、 直前スペース長が 6 T以上の記録マーク長が 3 T の記録パワーを他のマーク長と異なる記録パワーとし、 図 6で説明した実施の形 態を適用して試し書きを行い各々の最適記録パワーを算出するようにすればよい。

Claims

請求の範囲
1 . 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マー クを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、 照射する記録パワーを段階的に可変し ながら所定の第 1のテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデータの再生 信号から第 1の最適記録パワーを算出する第 1の試し書き工程と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パヮ一を段階的に可変 し、 その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第 1の最適記 録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第 2のテストデータ を試し書きし、 記録した試し書きデータの再生信号から tirt己特定のパターンの最 適記録パヮーである第 2の最適記録パヮーを算出する第 2の試し書き工程と、 を 備え、
算出されたこれらの第 1及び第 2の最適記録パワーを照射する記録情報に基づ き情報の記録 行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
2. 所定の前記第 1のテストデータは、 前記記録情報のうち前記特定のパタ ーンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項 1記載の情報記録方法。
3 . 所定の前記第 2のテストデータは、 前記特定のパターンを繰返した第 1 データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第 2データ列とを繰 返したデータ列であることを特徴とする請求項 2記載の情報記録方法。
4. 前記第 1の試し書き工程における前記第 1の最適記録パワーは、 第 1の 試し書きを行つた領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、 前記第 2の試し書き工程における前記第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書 きを行った領域の再生信号のァシンメトリ力 ら算出する、
ことを特徴とする請求項 1記載の情報記録方法。
5 . 前記第 1の試し書き工程における前記第 1の最適記録パワーは、 第 1の 試し書きを行った領域の再生信号のァシンメトリから算出し、
前記第 2の試し書き工程における前記第 2の最適記録パワーは、 第 2の試し書 きを行った領域の再生信号のァシンメトリカ ら算出する、 ことを特徴とする請求項 2記載の情報記録方法。
6 . 媚己第 2の試し書き工程における前記第 2の最適記録パワーは、 第 2の 試し書きを行つた試し書き領域内の第 1データ列の再生信号の平均値と第 2デー タ列の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項 3記載の情報記録方法。
7. 前記特定のパターンは、 前記記録情報のうちの最小マーク長であること を特徴とする請求項 1記載の情報記録方法。
8. 前記特定のパターンは、 記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双方 と記録マーク長とに応じたパターンであることを特徴とする請求項 1記載の情報 記録方法。
9. 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マー クを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法にぉレ、て、
前記記録情報のマーク長によって N (N： 2以上の自然数）の群に区分し、各々 の群の記録パワーの最適値を算出するものであって、 前記記録媒体の所定の試し 書き領域に対して、 第 M (M : 1〜Nの自然数） 群の記録パワーを段階的に可変 しながら所定の第 Mのテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデータの再 生信号から第 M群の最適記録パワーを算出する試し書き工程を各群毎に備え、 これらの各群毎に算出された最適記録パワーに基づき情報の記録を行うように したことを特徴とする情報記録方法。
1 0. N= 3であり、 第 3群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、 第 2群が前記記録情報のうちの次に短いマーク長であり、 第 1群が前記記録情報 のうちのその他のマーク長であることを特徴とする請求項 9記載の情報記録方法。
1 1 . N= 3であり、 第 3群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、 第 2群が第 3群を除き前記記録情報の基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、 第 1群が前記記録情報の基準周期に対して偶数倍のマーク長であることを特徴と する請求項 9記載の情報記録方法。
1 2 . 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マ 一クを形成することにより情報の記録を行う情報記離置にぉレヽて、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、 照射する記録パワーを段階的に可変し ながら所定の第 1のテストデータを試し書きし、 記録した試し書きデータの再生 信号から第 1の最適記録パワーを算出する第 1の試し書き手段と、
前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変 し、 その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第 1の最適記 録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第 2のテストデータ を試し書きし、 記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最 適記録パワーである第 2の最適記録パワーを算出する第 2の試し書き手段と、 を備え、 ·
算出されたこれらの第 1及び第 2の最適記録パワーを照射する記録情報に基づ き情報の記録を行うことを特徴とする情報記録装置。
1 3 . 所定の前記第 1のテストデータは、 前記記録情報のうち前記特定のパ ターンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項 1 2記載の情報記録装置。
1 4. 所定の前記第 2のテストデータは、 前記特定のパターンを繰返した第 1データ列と前記記録情報のうち前記特定のパターンを除いた第 2データ列とを 繰返したデータ列であることを特徴とする請求項 1 3記載の情報記録装置。
1 5. 前記第 1の試し書き手段は、 前記第 1の最適記録パワーを第 1の試し 書きを行つた領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
觸己第 2の試し書き手段は、 前記第 2の最適記録パワーを第 2の試し書きを行 つた領域の再生信号のァシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項 1 2記載の情報記録装置。
1 6 . 前記第 1の試し書き手段は、 前記第 1の最適記録パワーを第 1の試し 書きを行った領域の再生信号のァシンメトリ力 ら算出し、
前記第 2の試し書き手段は、 前記第 2の最適記録パワーを第 2の試し書きを行 つた領域の再生信号のァシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項 1 3記載の情報記録装置。
1 7. 前記第 2の試し書き手段は、 前記第 2の最適記録パヮーを第 2の試し 書きを行った試し書き領域内の第 1データ列の再生信号の平均値と第 2データ列 の再生信号の平均値とから算出する、
ことを特徴とする請求項 1 4記載の情報記録装置。
1 8 . 前記特定のパターンは、 前記記録情報のうちの最小マーク長であるこ とを特徴とする請求項 1 2記載の情報記^ ¾置。
1 9 . 前記特定のパターンは、 記録情報列の直前或いは直後又はこれらの双 方と記録マーク長とに応じたパターンであることを特徴とする請求項 1 2記載の
2 0. 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マ →を形成することにより情報の記録を行う情報記 置において、
tfilS記録媒体の所定の試し書き領域に対して、 照射する記録パワーを段階的に 可変しながら所定のテストデータを試し書きをする試し書き手段と、
編己記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パヮーを算出する最適記 録パワー算出手段と、
lift己テストデータを生成するテストデータ生成手段と、
ttfl己記録情報のマーク長によって N (N： 2以上の自然数） の群に区分し、 第 M (M： 1〜Nの自然数） 群の記録パワーを段階的に可変しながら所定の第 Mの テストデータを試し書きし、 記録した試し書きデータの再生信号から第 M群の最 適記録パワーを算出するように、 各々の群に対する前記テストデータの生成、 照 射する記録パワー設定及び最適記録パワー算出を制御する試し書き制御手段と、 を備えることを特徴とする情報記雜置。
2 1 . N= 3であり、 第 3群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、 第 2群が前記記録情報のうちの次に短いマーク長であり、 第 1群が前記記録情報 のうちのその他のマーク長であることを特徴とする請求項 2 0記載の情報記^ g 置。
2 2. N= 3であり、 第 3群が前記記録情報のうちの最小マーク長であり、 第 2群が第 3群を除き前記記録情報の基準周期に対して奇数倍のマーク長であり、 第 1群が前記記録情報の基準周期に対して偶数倍のマーク長であることを特徴と する請求項 2 0記載の情報記録装置。
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