JP2002319130A

JP2002319130A - 光記録再生装置

Info

Publication number: JP2002319130A
Application number: JP2001125897A
Authority: JP
Inventors: Yasuhiro Ueki; 泰弘植木; Takeshi Aizawa; 武相澤; Shuji Hakojima; 修二箱嶋
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 2001-04-24
Filing date: 2001-04-24
Publication date: 2002-10-31

Abstract

(57)【要約】【課題】従来は記録パルス条件の決定方法を適応的に
可変するようにしていないため、新規な光ディスクに対
して簡易的な記録パルス条件の決定方法を採用した場合
は、最適な記録パルス条件が決定できない。【解決手段】光ディスク１には、データ記録再生領域
とは異なる第１の領域に記録パルスの位置情報を特定し
た記録パルス標準条件が予め記録され、第２の領域には
過去にデータを記録した時に使用した記録パルスの位置
情報を示す記録パルス条件が、記録再生装置の装置固有
情報と共に記録再生される。記録パルス条件復調器６は
第２の領域から再生された装置固有情報の中に、自装置
の装置固有情報があるときには、同じ装置の記録パルス
条件を設定する。自装置の装置固有情報に関連した装置
固有情報の記録再生装置により記録が行われた光ディス
ク１に対しては、第２の領域からの記録パルス条件を一
部利用した簡易的な学習を適応的に行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光記録再生装置に係
り、特に書き込み可能な光ディスクの所定領域に予め記
録されている記録パルス標準条件を読み出して、記録再
生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生を
する光記録再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】大容量のデータが書換え可能な光ディス
クの例としてＤＶＤＲＡＭ規格がある。この規格では、
相変化記録膜を用いた直径１２ｃｍの光ディスク片面
に、マークエッジ記録方式で４．７ＧＢのデータが記録
可能であり、既に実用化されている。また、この光ディ
スクより高密度な光ディスクを実用化するために、相変
化光ディスクの高密度記録で問題となるマーク間の熱干
渉によるマークエッジ位置のずれを小さくできる光記録
再生装置が提案されている（特許第２６７９５９６
号）。

【０００３】この従来の光記録再生装置では、光ディス
ク上にデータをアモルファスのマークとしてマークエッ
ジ記録する場合に、レーザ光をマルチパルスと呼ばれる
複数のパルス列で構成して記録する。高密度記録では、
記録するマークサイズ及びスペース（マーク間）の距離
が小さいため、マークを形成するために加えたレーザ光
の熱が自己マークのみならずスペースを伝わって前後の
マークにまで到達し、自己マークおよび前後のマーク形
状に歪みが発生する。

【０００４】これを回避するために、マークを形成する
ためのマルチパルスの先頭パルス位置を、自己マーク長
と前スペース長の関係で、かつ、マークを形成するため
のマルチパルスの最終パルス位置を、自己マーク長と後
スペース長の関係で変化させることによって、マーク間
の熱干渉分を予め補正して記録する。この記録パルス位
置の制御は、一般に記録補償とよばれている。記録パル
ス条件（記録補償のパラメータ）にはマークスペースの
組合せ毎に異なる値があり、例えば、長さが３Ｔ（ただ
し、Ｔはクロックの周期；以下同じ）のマーク３Ｔｍと
４Ｔのマーク４Ｔｍと５Ｔ以上のマーク５Ｔｍ以上と、
長さが３Ｔのスペース３Ｔｓと４Ｔのスペース４Ｔｓと
５Ｔ以上のスペース５Ｔｓ以上との間には、図９
（Ａ）、（Ｂ）に示すような関係がある。これらの各値
マークとスペースの位置関係は図１０に示される。

【０００５】実際の光記録再生装置を実現するために
は、記録補償を行うための記録パルス条件を、装置また
は光ディスクに記憶しておく必要がある。特性の異な
る、すなわち記録パルス条件が異なる複数の光ディスク
を使用可能とするためには、この値を光ディスク上に予
め記録しておき、使用するときに装置で読み出して設定
すればよい。

【０００６】しかし、光ディスクの記録再生装置を量産
した時、使用部品の特性ばらつきや、環境変化などで、
個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。例
えば、記録に関係のあるレーザ駆動手段とレーザを搭載
した光ヘッドは、レーザ特性のばらつきを主要因とし
て、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、パル
ス幅が変わる。また、個々の装置で常に同じ発光波形が
得られるとは限らない。同様に光ディスク自体も量産時
に、ある程度の特性ばらつきが発生し、同一の発光波形
で記録しても個々のディスクで常に同じマーク形状が得
られるとは限らない。

【０００７】従って、標準的な特性を有する基準ディス
クを用いて、標準的な特性を有する基準装置で決定され
た記録パルス標準条件を、特性のばらついた量産したデ
ィスクと装置でそのまま使用すると、組合せによっては
適正な記録再生が行われず、品質不良が発生する。更
に、十分な品質管理の下で製造された特性ばらつきの小
さいディスクであれば問題は少ないが、ディスク上に予
め記録してある記録パルス標準条件が、ディスク性能と
大きくずれている場合は、装置がディスクから読み出し
た記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディス
クでは特性を発揮することができない。

【０００８】そこで、書き込み可能な光ディスクから、
マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、そ
れぞれについて標準的な特性を有する基準ディスクを用
いて、標準的な特性を有する基準装置で決定された記録
パルス標準条件を読み出し、この記録パルス標準条件で
試し書きを行って得たジッタ測定結果と、更に記録パル
ス標準条件を一律又は個別的に変化させて記録再生して
得たジッタ測定結果とに基づいて、最適な記録パルス条
件を求めるようにした光記録再生装置が従来より知られ
ている（特開２０００−２００４１８号公報）。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記の従来
の光記録再生装置では、光ディスクから読み出した記録
パルス標準条件にあるすべてのマーク長とスペース長の
組合せに対する位置情報を用いて光ディスク上に第１の
試し書きを行って、それを再生して第１のジッタを検出
し、同様に上記の位置情報に一律に所定量の変化を加え
た位置情報を用いて光ディスク上に第２の試し書きを行
って、それを再生して第２のジッタを検出し、それら第
１及び第２のジッタのうち少ない方のジッタの試し書き
に用いた位置情報を選択して記録パルス条件を決定する
などの方法を記録の都度行うため、データの実際の記録
開始までに時間がかかる。このことは、光ディスクを記
録再生装置に装填して直ちに記録を開始したいなどの記
録開始タイミングが重要な場合に特に問題となる。

【００１０】また、上記の従来の光記録再生装置では、
光ディスクから読み出した記録パルス標準条件にあるす
べてのマーク長とスペース長の組合せの中から幾つかの
組合せに対する位置情報を用いて上記の試し書きと再生
によるジッタ測定とを繰り返して記録条件を決定するこ
とも開示されており、その場合はすべての組合せに対す
る位置情報を用いて上記の試し書きと再生によるジッタ
測定とを繰り返して記録条件を決定する上記の場合に比
べて記録開始までの時間は短縮することはできる。

【００１１】しかし、どのような場合にこのような記録
パルス条件の決定方法を採用するかの記載はないため、
例えば光記録再生装置にとって初めてデータを記録する
新規な光ディスクに対して後者の簡易的な記録パルス条
件の決定方法を採用した場合は、記録パルス条件決定ま
での時間はある程度短縮できても最適な記録パルス条件
が決定できない。

【００１２】更に、上記の従来の光記録再生装置では、
記録の都度上記の試し書きと再生を繰り返すので、上記
の試し書きの領域の記録膜の劣化が早く、光ディスクの
寿命が短いという問題がある。

【００１３】本発明は以上の点に鑑みなされたもので、
記録に先立ち平均的な記録開始時間を短縮し得ると共
に、常に最適な記録条件を決定し得る光記録再生装置を
提供することを目的とする。

【００１４】また、本発明の他の目的は、書き込み可能
な光記録媒体に対して記録条件を決定するための記録再
生回数を極力少なくして光記録媒体の長寿命化を実現し
得る光記録再生装置を提供することにある。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、書き込み可能な光記録媒体に記録されるマ
ーク長とスペース長の可能な複数の組合せのそれぞれに
ついて、標準的な記録パルスの位置情報又は標準的な記
録パワーを特定した記録標準条件が予め記録されている
光記録媒体から記録標準条件を再生し、選択した学習方
法に従い記録標準条件を修正し、最適な記録パルスの位
置情報又は最適な記録パワーを示す記録条件を適応的に
求める記録学習手段と、記録学習手段により求めた記録
条件を、装置の装置固有情報と共に光記録媒体のデータ
記録再生領域とは異なる情報領域に記録する記録手段
と、光記録媒体のローディング時に、光記録媒体の情報
領域を再生し、記録条件と装置固有情報とを取得する取
得手段と、取得手段による取得結果に応じて、記録学習
手段の記録学習方法を変更する記録学習変更手段とを有
する構成としたものである。

【００１６】この発明では、記録条件の学習結果を光記
録媒体に記録しておき、自己記録のときは、データを記
録しようとする光記録媒体からローディング時に再生し
た記録条件をそのまま使用したり、自装置の装置固有情
報に関連した装置固有情報の記録再生装置により記録が
行われた光記録媒体に対しては、記録されている上記の
関連した装置の記録条件を一部利用した簡易的な学習を
適応的に行うことができる。

【００１７】また、上記の目的を達成するため、本発明の
上記の記録学習変更手段は、記録学習手段の記録学習結
果である記録条件と装置固有情報とから、自己記録であ
るか又は認識可能な他の装置か又は認識できない装置で
あるか又は情報領域が未記録であるかを判定し、その判
定結果に応じて記録学習方法を変更する手段であること
を特徴とする。

【００１８】また、上記の目的を達成するため、本発明の
上記の記録学習変更手段は、記録学習手段の記録学習結
果である記録条件と装置固有情報とから、再生された装
置固有情報が自装置の装置固有情報に近似しているほど
学習工程を簡略化した学習を行うように記録学習方法を
変更する手段であることを特徴とする。

【００１９】また、本発明は上記の目的を達成するため、
書き込み可能な光記録媒体に記録されるマーク長とスペ
ース長の可能な複数の組合せのそれぞれについて、標準
的な特性を有する基準記録媒体を用いて、標準的な特性
を有する基準装置で決定された記録パルスの位置情報又
は記録パワーを特定した記録標準条件が予め記録された
第１の領域と、過去にデータを記録した時に使用した記
録パルスの位置情報又は記録パワーを示す記録条件が、
データ記録時に使用した記録再生装置の装置固有情報と
共に記録再生される予め定めた第２の領域を、データ記
録再生領域とは異なる領域以外に有する光記録媒体か
ら、記録標準条件と記録条件及び装置固有情報とをそれ
ぞれ再生する再生手段と、再生手段により光記録媒体の
第２の領域から再生された装置固有情報の中に、光記録
媒体に対してデータを記録しようとする自装置の装置固
有情報があるかどうか比較し、同じ装置固有情報がある
ときには、再生手段により光記録媒体の第２の領域から
再生された同じ装置の記録条件を設定し、同じ装置固有
情報がないときには、第１の領域から再生された記録パ
ルス標準条件、及び第２の領域から再生された自装置の
装置固有情報に最も関連する装置固有情報の記録条件の
うち一方の条件による記録パルス又は記録パワー、又は
両方の条件を混合した条件による記録パルス又は記録パ
ワーを、自装置の装置固有情報に最も関連する装置固有
情報に応じた数のパターンのそれぞれについて変更して
記録再生し、各再生信号のジッタ測定値又はエラーレー
トが許容値以下となる最適な記録パルス又は記録パワー
が得られる記録条件を選択して設定する学習を行う学習
手段と、学習手段によって求めた記録条件を自装置の装
置固有情報と共に、光記録媒体の第２の領域に記録する
記録手段とを有する構成としたものである。

【００２０】ここで、上記の学習手段は、再生手段によ
り光記録媒体の第２の領域から再生された装置固有情報
の中に、光記録媒体に対してデータを記録しようとする
自装置と同じ装置固有情報がなく、かつ、第２の領域か
ら複数の装置の各記録条件が再生されるときには、第１
の領域から再生された記録標準条件と第２の領域から再
生される各記録条件との記録パターン毎の多数決判定結
果に応じて、最も少ない記録パターンのそれぞれについ
てのみ記録パルス又は記録パワーを変更して記録再生
し、各再生信号のジッタ測定値又はエラーレートが許容
値以下となる最適な記録パルス又は記録パワーが得られ
る記録条件を選択して設定するようにしてもよい。

【００２１】また、上記の学習手段は、光記録媒体の第
２の領域から再生された装置固有情報が認識できないと
きには、光記録媒体の第１の領域から再生された記録標
準条件による記録パルス又は記録パワーを、隣接するス
ペース長と自己マーク長の予め定めたすべての組合せの
それぞれについて、条件を順次変更して記録と再生を繰
り返し、得られた再生信号のジッタ又はエラーレートが
許容値以下となるように記録標準条件から補正した値を
記録条件として設定するフル学習を行い、第２の領域か
ら再生された装置固有情報の中に、自装置と同じメーカ
の同一装置の情報があるときには第１の簡易学習を行
い、自装置と同じメーカの異なる装置の情報があるとき
には組合せの数に対応した記録パルス又は記録パワーの
記録再生回数が第１の簡易学習よりも多く、かつ、フル
学習よりも少ない第２の簡易学習を行い、自装置と関連
するメーカの装置の情報があるときには組合せの数に対
応した記録パルスの記録再生回数が第２の簡易学習より
も多く、かつ、フル学習よりも少ない第３の簡易学習を
行うことを特徴とする。

【００２２】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面と共に説明する。図１は本発明になる光記録再生
装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図におい
て、書き込み可能な相変化型の光ディスク１は、モータ
２により所定方向に高速回転されると共に、光ヘッド３
により記録されているデータが読み取られ、またデータ
が書き込まれる。この実施の形態では、光ディスク１に
は上記のデータの記録再生領域以外に、更に記録パルス
条件管理領域ＤＩＺ（Disc Identification Zone）を設
けている。

【００２３】この記録パルス条件管理領域ＤＩＺは、図
２に示すように、記録パルス標準条件記録領域ＤＩＺＲ
（Disc Identification Zone for Read）と、記録パル
ス条件記録再生領域ＤＩＺＷ（Disc Identification Zo
ne for Write）とからなる。このＤＩＺＲ領域は再生専
用であり、ここには、光ディスク１を出荷する時点でデ
ィスクメーカの識別情報（ＩＤ）や記録消去、再生時の
レーザーパワーの推奨値や記録パルスの標準の推奨値
（記録パルス標準条件）等が予め記録されている。

【００２４】また、ＤＩＺＷ領域は記録再生領域であ
り、ここは、装置メーカのＩＤ、光記録再生装置自体の
ＩＤ（装置ＩＤ）とシリアル番号、光記録再生装置のバ
ージョン情報等の固有な情報と共に、光記録再生装置が
光ディスク１に一度記録を行った時点での記録、消去、
再生時のレーザーパワーの推奨値や記録パルス等の最適
な記録条件を記録する領域である。なお、このＤＩＺＷ
領域には、後述するように一例として１６台分の情報が
記録可能である。

【００２５】一方、データの記録再生領域に対する記録
再生方法は従来と同様であるが、本実施の形態では以下
の記録方式でデータの記録を行うものとする。すなわ
ち、光ディスク１にデータを書き込む場合にマルチパル
スによるマークエッジ記録方式を用い、データをマーク
とスペースの長さ情報としてディスクに書き込む。ま
た、マークの長さが、３Ｔから１４Ｔ（Ｔはクロック１
周期）、スペースの長さが、３Ｔから１４Ｔの整数値の
組合せである変調方式を使うものとする。

【００２６】更に、本実施の形態では、前述したマーク
３Ｔｍ、４Ｔｍ、５Ｔｍ以上と、スペース３Ｔｓ、４Ｔ
ｓ、５Ｔｓ以上の組合せにおいて、マークとスペースの
境界部分で、マーク形状の歪みやマーク間熱干渉が発生
すると仮定する。この場合、マークを形成するためのマ
ルチパルスの先頭パルス位置を、自己マーク長と前スペ
ース長の関係で示すマーク前端パルス条件は、図９
（Ａ）に示すように３×３の９通りあり、マークを形成
するためのマルチパルスの末尾パルス位置を、自己マー
ク長と後スペース長の関係で示すマーク後端パルス条件
も図９（Ｂ）に示すように３×３の９通りの組合せがあ
り、それぞれ異なる値の条件を設定することができ、合
計１８の条件の設定値を持つ。

【００２７】図９（Ａ）において、例えば、「５Ｔｓ３
Ｔｍ」は、５Ｔ以上のスペースとそれに続く３Ｔのマー
クとの境界におけるマーク前端パルスの条件を示す。ま
た、図９（Ｂ）において、例えば、「３Ｔｍ５Ｔｓ」
は、３Ｔのマークとそれに続く５Ｔ以上のスペースとの
境界におけるマーク後端パルスの条件を示す。

【００２８】また、図１０において、Ｔｓが先でＴｍが
後の関係は、光ディスクに記録したい記録パターンの先
端エッジと、実際にレーザを駆動するための連続した記
録パルスの先頭パルスとの位置関係を示し、Ｔｍが先で
Ｔｓが後の関係は、光ディスクに記録したい記録パター
ンの終端エッジと、実際にレーザを駆動するための連続
した記録パルスの末尾パルスとの位置関係を示す。すな
わち、図１０は、これらの値について、光ディスク上の
マーク、スぺースと記録パルスとの関係を示している。

【００２９】特性の基準となる代表ディスクと、基準と
なる代表記録再生装置を用いて図９に示す１８個の記録
パルス条件を決定する。このようにして決定された記録
パルス条件は、記録パルス標準条件として、光ディスク
上の特定領域（図２のＤＩＺＲ）に予め記録しておくも
のとする。なお、記録パルス標準条件には他の項目もあ
り、例えば、記録パルスの先頭パルスの幅、中間パルス
の幅、最終パルスの幅、最終パルスの後ろに付ける冷却
パルスの幅などがある。本実施の形態では、記録するマ
ークとスペースの組合せパターンによって適応的に値が
変わるパルス条件を対象として説明する。

【００３０】次に、本実施の形態の動作について、図３
のフローチャート等を併せ参照して説明する。本実施の
形態では、光ディスク１が記録再生装置にローディング
された時点で、その光ディスク１がその装置にとって新
規なディスクであるか、既に記録したことがあるディス
クかを検出する。その検出方法としては、光ディスク１
に記録されている固有の個体情報（ディスクＩＤ等）が
記録されている例えばＢＣＡ（バーストカッティングエ
リア）を再生することにより個体情報を再生し、新たな
光ディスクを記録するたびに、この個体情報を装置のＥ
ＥＲＯＭに記憶しておき、光ディスクが装置にローディ
ングされた時点で、光ディスクのＢＣＡ（バーストカッ
ティングエリア）から再生した固体情報と同じものが、
ＥＥＰＲＯＭから読み出した個体情報の中にあるかどう
か比較することで検出することが考えられる。

【００３１】しかし、この検出方法でもよいが、この実
施の形態では光ディスク１には、図２に示したようにＤ
ＩＺ（Disc Identification Zone）領域があり、このＤ
ＩＺ領域を利用して同装置で一度記録して、最適条件を
ＤＩＺＷ領域に記録しておくようにしているので、ＤＩ
ＺＷ領域を再生することで光ディスク１が新規な光ディ
スクか記録したことがある光ディスクであるかを判断す
るようにしている。そして、本実施の形態では、次に記
録する場合には、このＤＩＺＷ領域の記録条件を再生
し、この条件に基づいて記録することにより、記録学習
の工程を省いて、起動処理や記録前の準備時間を短縮化
するようにしたものである。

【００３２】すなわち、光ディスク１への所望の情報デ
ータの記録に先立ち、まず、光ディスク１がローディン
グされた時点または記録を行う準備段階において、ＤＩ
ＺＲ領域を再生する（図３のステップＳ１）。なお、Ｄ
ＩＺＲ領域を再生するのはこのステップ位置が必須では
ない。このＤＩＺＲ領域は記録学習を行う場合に必要な
領域である。

【００３３】このために、光ヘッド３が回転する光ディ
スク１のＤＩＺＲ領域にスポットを移動させ、予め記録
されている記録パルス標準条件のトラックを走査する。
この時の光ヘッド３による光ディスク１のＤＩＺＲ領域
からの再生信号は、イコライザ２値化回路４で２値化信
号に変換された後、ＰＬＬ回路５に供給される。ＰＬＬ
回路５は、２値化信号のエッジを検出して、これに同期
した再生クロックを生成し、２値化信号を再生クロック
に同期化したデータに変換して記録パルス条件復調器６
に供給すると共に、再生クロックのエッジと２値化信号
のエッジの時間ずれ量を位相誤差パルスとしてジッタ測
定回路７に出力する。なお、この時点ではジッタ測定回
路７によるジッタ測定は行わないか、測定しても使用し
ない。

【００３４】続いて、光ディスク１が新規な光ディスク
か記録したことがある光ディスクであるかを判断するた
めに、光ヘッド３により光ディスク１のＤＩＺＷ領域の
データが再生される（図３のステップＳ２）。光ヘッド
３による光ディスク１のＤＩＺＷ領域からの再生信号
は、イコライザ２値化回路４で２値化信号に変換された
後、ＰＬＬ回路５で再生クロックに同期化したデータに
変換されて記録パルス条件復調器６に供給され、ここで
ＤＩＺＲ領域にデータが存在するか否かにより、光ディ
スク１が今まで記録したことのない新規な光ディスク
か、過去に記録したことがある光ディスクであるかを判
断する（図３のステップＳ３）。

【００３５】ＤＩＺＷ領域は、図２に示したように、１
６個の同様な内容を記録再生する記録領域からなり、こ
の光ディスク１に対して最初にデータを記録した装置の
固有情報は１番目の領域に記録され、２番目にデータを
記録した装置の固有情報は、前記の１番目の領域の記録
情報を２番目の領域に移動してから１番目の領域に記録
する。これを順次行うことにより、最大で１６台分の装
置の各固有情報をＤＩＺＷ領域に記録しておくことがで
きる。

【００３６】従って、ステップＳ３で光ディスク１が新
規な光ディスクか記録したことがある光ディスクである
かを判断するために、記録パルス条件復調器６は、ＤＩ
ＺＷ領域に記録されているすべての固有情報の中に、自
分の装置の固有情報（装置ＩＤなど）があるかを検出す
る。ここで、ＤＩＺＷ領域にデータが存在しない場合、
又はＤＩＺＷ領域自体が存在しない場合は、今までに一
度も記録が行われていない新規な光ディスクであると判
断して、本実施の形態による後述する簡易学習は行わ
ず、フル学習を行う（図３のステップＳ１３）。

【００３７】このフル学習は、前述した公報記載の方法
と同じ方法で、すべての記録パルス標準条件を使用して
最適な記録パルス条件を求める。このフル学習について
詳細に説明するに、まず、第１段階として記録パルス条
件復調器６は、光ディスク１のＤＩＺＲ領域から再生し
て記憶している記録パルス標準条件を記録パルス条件補
正回路１０に供給する。この記録パルス標準条件は、例
えば図４（Ｂ）、（Ｅ）に示される。図４（Ｂ）には、
マーク前端パルス条件としてマーク先端におけるすべて
の組合せに対するデフォルト値が設定されており、同図
（Ｅ）には、マーク後端パルス条件としてマーク終端に
おけるすべての組合せに対するデフォルト値が設定され
ている。図４（Ａ）〜（Ｆ）の中に示されている数値の
単位はｎｓであり、記録クロック周期Ｔを１７ｎｓとす
る。

【００３８】続いて、フル学習の第２段階として、上記
の記録パルス標準条件で光ディスク１にデータの試し書
きが行われる。このために、まず、光ヘッド３のレーザ
スポットを光ディスク１の書き込み可能なトラックに移
動させると共に、記録パルス条件補正回路１０は、パタ
ーン発生装置１１内のランダムパターン発生器１１ａか
らランダム信号を発生させる。このランダム信号は記録
補償回路１２に入力され、ここで記録パルス条件補正回
路１０からの記録パルス標準条件に基づいてマルチパル
スデータに変換される。

【００３９】例えば、ランダム信号に６Ｔｓ４Ｔｍ（６
Ｔスペースに続く４Ｔマーク）の信号が含まれていた場
合、４Ｔマークに対する記録パルスの先頭エッジは、図
４（Ｂ）に示した記録パルス標準条件に従い＋４ｎｓ時
間軸方向にシフトされる。また、ランダム信号１６に４
Ｔｍ６Ｔｓ（４Ｔマークに続く６Ｔマーク）の信号が含
まれていた場合、４Ｔマークに対する記録パルスの末尾
パルスのエッジは、図６（Ｅ）に示した記録パルス標準
条件に従い、−２５ｎｓ時間軸方向にシフトされる。

【００４０】このように、記録補償回路１２で先端パル
スと末尾パルスがシフトされたマルチパルスデータは、
レーザ駆動装置１３に供給されて、光ヘッド３内のレー
ザダイオードを駆動するための電流に変換されて光ヘッ
ド３に供給される。光ヘッド３は、書き込み可能なトラ
ック上にマルチパルスデータの記録を行う。

【００４１】次に、フル学習の第３段階として、光ディ
スク１に試し書きしたランダムデータを光ヘッド３によ
り再生し、その再生信号のジッタを測定する。このた
め、光ディスク１のマルチパルスデータ記録トラックを
光ヘッド３で再生し、その再生信号をイコライザ２値化
回路４に供給して２値化信号を得た後、２値化信号から
ＰＬＬ回路５で再生クロックを生成し、再生クロックと
２値化信号の位相誤差パルスがジッタ測定回路７へ出力
される。

【００４２】このジッタ測定回路７の測定動作について
図５の波形図と共に詳細に説明する。いま、パターン発
生装置１１から図５（Ａ）に示す記録パターン（ここで
はランダム信号）が出力され、レーザ駆動装置１３から
同図（Ｂ）に示す記録パルスが出力され、この結果、光
ディスク１上に同図（Ｃ）に示すような記録マークが形
成され、更にその光ディスク１を再生する光ヘッド３か
ら同図（Ｄ）に示す波形の再生信号が得られたものとす
る。この場合、イコライザ２値化回路４から出力される
２値化信号は図５（Ｅ）に示され、ＰＬＬ回路５から同
図（Ｆ）に示す再生クロックが得られる。

【００４３】ここで、図５（Ａ）に示す記録パターンが
４Ｔｍパルスの先端エッジに対応する位置では、２値化
信号の先端エッジが、再生クロックのエッジに対し、進
んでいる場合（図５（Ｇ））、同期している場合（図５
（Ｈ））、及び遅れている場合（同図（Ｉ））が示され
ている。進んでいる場合は、進んでいる点を中心にジッ
タ分布があり、同期している場合は、同期している点を
中心にジッタ分布があり、遅れている場合は、遅れてい
る点を中心にジッタ分布がある。このようなジッタ分布
を時間軸上で集め、重ね合わせたものが、図５（Ｇ）、
（Ｈ）、（Ｉ）の右端に示されている。

【００４４】同期している場合（図５（Ｈ））が多けれ
ば、重ね合わされたジッタ分布の広がり幅は狭い。進ん
でいる場合（図５（Ｇ））や、遅れている場合（図５
（Ｉ））が含まれると、重ね合わされたジッタ分布の広
がり幅は広くなる。このようにして、一定時間毎に、マ
ーク前端ジッタに対するジッタ分布を集め、重ね合わせ
た結果が第１のジッタ測定信号（マーク前端ジッタ電圧
Ｖｆ（０））として出力される。また、マーク後端ジッ
タに対するジッタ分布を集め、重ね合わせた結果が第２
のジッタ測定信号（マーク後端ジッタ電圧Ｖｒ（０））
として出力される。これら第１及び第２のジッタ測定信
号は、ジッタの程度を表し、測定結果として記録再生制
御器８に供給されて記憶される。記録再生制御器８にジ
ッタ電圧の記憶が終ると、続いてフル学習の第４段階の
処理が行われる。

【００４５】第４段階では、記録パルス条件復調器６か
ら送られてくる記録パルス標準条件を一律に変化（すな
わち、時間シフト）させて光ディスク１にデータを試し
書きする。図６（Ｂ）、（Ｅ）に記録パルス標準条件が
示されている。図６（Ａ）は、マーク前端パルスの記録
パルス標準条件の値に一律に１を加えた補正値を、ま
た、図６（Ｄ）は、マーク後端パルスの記録パルス標準
条件の値に一律に−１を加えた補正値を示す。同様に、
図６（Ｃ）は、マーク前端パルスの記録パルス標準条件
の値に一律に−１を加えた補正値を示し、図６（Ｆ）
は、マーク後端パルスの記録パルス条件の値に一律に１
を加えた補正値を示している。図６（Ａ）から（Ｆ）の
具体的な数値の一例は、図４（Ａ）から（Ｆ）にそれぞ
れ示される。

【００４６】フル学習の第４段階では、図６（Ａ）、
（Ｄ）の補正値を用いて試し書きするものとすると、一
律変化器９ａが補正値として、マーク前端パルス条件に
対して＋１を、マーク後端パルス条件に対して−１を出
力する。記録パルス条件補正回路１０は、記録パルス条
件復調器６から出力される記録パルス標準条件に上記の
補正値を加えて記録パルス条件設定値を出力する。以
下、第２段階と同様にして、ランダム信号を光ディスク
１に記録する。

【００４７】フル学習の第５段階では、第４段階で記録
されたランダムデータを再生し、再生信号のジッタを測
定する。第３段階と同様にして、マーク前端ジッタ電圧
Ｖｆ（＋１）とマーク後端ジッタ電圧Ｖｒ（−１）を記
録再生制御器８に記憶する。以下、第４段階と第５段階
の処理を、補正値を変えながら繰り返し行い、ジッタ電
圧を収集する。例えば、図７に示すように、マーク前端
パルス条件とマーク後端パルス条件の補正値は、対とな
って、（＋１、−１）、（＋２、−２）、（−１、＋
１）、（−２、＋２）と変化する。（＋１、−１）と変
化させた例が図６（Ａ）、（Ｄ）に示され、さらにその
具体的数値が図４（Ａ）、（Ｄ）に示されている。変化
量＋１は、＋１ナノセカンドの変化を表している。この
ように補正値で記録パルス標準条件を一律変化させ、図
７（Ａ）、（Ｂ）にプロットされた点が、記録再生制御
器８に記憶される。

【００４８】図７（Ａ）、（Ｂ）は、上述のように補正
値を一律変化させて得られたジッタ電圧Ｖｆ、Ｖｒの測
定結果の２つの例を示し、ジッタ電圧が許容値以下また
は最も低い場合のマーク前端パルス条件とマーク後端パ
ルス条件の対を採用する。使用している光ディスクの特
性と、予め書き込まれている記録パルス標準条件と、記
録再生装置の特性が適合していれば、図７（Ａ）のよう
に補正値が０のときに、マーク前端におけるジッタ電圧
Ｖｆとマーク後端におけるジッタ電圧Ｖｒの両方が最小
または許容値より小さくなる。

【００４９】一方、使用している光ディスクの特性と、
予め書き込まれている記録パルス標準条件と、記録再生
装置の特性が適合していない場合は、図７（Ｂ）に示す
ように、マーク後端のジッタ電圧は、補正値が０の場合
は許容値を上回り、補正値が０でないときにジッタが最
小または許容値以下となる。

【００５０】そこで、フル学習では、各条件で試し書き
して得られたマーク前端ジッタとマーク後端ジッタの組
合せのうち、前端と後端ジッタの大きい方が最小値また
は許容値以下となる組合せを装置の最適記録条件として
用いる。

【００５１】フル学習の第６段階では、上記の第４、第
５段階で収集されたジッタ電圧により、以後記録再生装
置で使用する記録パルス条件設定値を決定する。図１の
記録再生制御器８において、各補正値に対するマーク前
端ジッタ電圧とマーク後端ジッタ電圧のセットの中か
ら、前端と後端ジッタ電圧の大きい方が許容値以下とな
る補正値を選択し、以後の記録再生装置の記録条件とし
て用いる。

【００５２】このように、図３のステップＳ１３のフル
学習では、光ディスク１のＤＩＺＲ領域から再生した記
録パルス標準条件のうち、前スペース長と自己マーク長
の組合せによって定められた複数のマーク前端パルス条
件すべてと、自己マーク長と後スペース長の組合せによ
って定められた複数のマーク後端パルス条件すべてを、
それぞれ一律に一定量時間シフトして、記録再生信号の
ジッタが許容値以下となるように記録パルス標準条件か
ら補正した値を、記録パルス条件補正回路１０が記録補
償回路１２及び記録パルス条件発生器１１ｃに記録再生
装置の記録パルス条件として設定する。

【００５３】この記録パルス条件（フル学習結果）は、
現在、記録再生装置にローディングされている光ディス
ク１を記録する際に利用できるように、記録パルス条件
復調器６から記録パルス条件補正回路１０を介して入力
された装置メーカのＩＤ、装置のＩＤ、シリアル番号、
装置のバージョン情報等の装置固有の情報と共に記録パ
ルス条件発生器１１ｃから出力され、記録補償回路１２
及びレーザ駆動装置１３を通して光ヘッド３により光デ
ィスク１のＤＩＺＷ領域に装置メーカのＩＤ、装置のＩ
Ｄ、シリアル番号、装置のバージョン情報等の装置固有
の情報と共に記録される（図３のステップＳ１４）。

【００５４】一方、図３のステップＳ３で、記録パルス
条件復調器６により、光ディスク１のＤＩＺＷ領域に記
録されているすべての固有情報の中に、自分の装置の固
有情報（装置ＩＤなど）があると判定されたときには、
ＤＩＺＷ領域から再生された、装置メーカのＩＤ、装置
のＩＤ、シリアル番号、装置のバージョン情報等の装置
に固有な情報の中に、この記録再生装置の固有情報と同
一のものがあるかどうか判定する（図３のステップＳ
４）。

【００５５】固有情報のすべてが同一のものがあるとき
には既にこの装置により光ディスク１に対する後述の記
録学習は終了していると判断し、学習を行わない。つま
り、学習無し処理をする（図３のステップＳ５）。これ
により、装置はＤＩＺＷ領域から再生されたその装置の
記録パルス条件に基づいて記録パルスを生成して光ディ
スク１に対して記録を行う。

【００５６】次に、ＤＩＺＷ領域から再生された固有情
報の中に、この記録再生装置の固有情報とすべて同一の
ものがないときは、記録パルス条件復調器６は、上記再
生装置固有情報のうち装置メーカのＩＤと装置のＩＤは
この装置と同一で、シリアル番号が異なる情報があるか
どうか判定する（図３のステップＳ６）。再生装置固有
情報のうち装置メーカのＩＤと装置のＩＤはこの装置と
同一で、シリアル番号が異なる情報がある場合は、光デ
ィスク１のＤＩＺＷ領域に記録されている上記の固有情
報を参考にでき、記録パルス条件の傾向としては、同じ
傾向にあると判断して、記録パルス条件復調器６は、現
在のＤＩＺＷ領域のデータまたはＤＩＺＲ領域のデータ
に基づき、第１の簡易学習を行わせる（図３のステップ
Ｓ７）。なお、同装置のシリアル番号が異なる装置が複
数ある場合、複数の装置データを平均して平均値を基準
の値として第１の簡易学習を行うようにしてもよい。

【００５７】次に、この第１の簡易学習について詳細に
説明する。第１の簡易学習は、後述する第２及び第３の
簡易学習よりも簡単な簡易学習で、１８個の記録パルス
条件のうち、５Ｔｓ５Ｔｍと５Ｔｍ５Ｔｓの２つの記録
パルス条件は、記録パルス標準条件をそのまま使用し、
残りの１６個の記録パルス条件は、それぞれに対応した
図８に示す１２種類の記録パターンのいくつかと、他の
条件からの演算によって補間して求める。

【００５８】例えば、マーク前端パルス条件が５Ｔｓ３
Ｔｍである場合、図８（Ｅ）に示す記録パターンを用い
て決定する。図９において、マーク前端パルス条件が３
Ｔｓ３Ｔｍである場合、図８（Ｏ）に示す記録パターン
を用いて決定する。しかし、マーク前端パルス条件が４
Ｔｓ３Ｔｍである場合を決定するためには、図８（Ｋ）
に示す記録パターンを用いて決定するのではなく、求め
た５Ｔｓ３Ｔｍの補正値と、標準条件の５Ｔｓ３Ｔｍの
値と、求めた３Ｔｓ３Ｔｍの補正値と、標準条件の３Ｔ
ｓ３Ｔｍの値と、標準条件の４Ｔｓ３Ｔｍの値の関係か
ら、４Ｔｓ３Ｔｍの補正値を補間などの計算で求める。
この４Ｔｓ３Ｔｍの補正値を決定する動作は電気的な計
算演算であるので、図８（Ｏ）に示す記録パターンを実
際に記録再生する場合に比較して、所要時間がはるかに
小さい。

【００５９】すなわち、ステップＳ７の第１の簡易学習
では、全記録パルス条件を対応した各記録パターンの記
録再生によって決定するのではなく、一部の条件は、他
の条件から演算によって補間する。このために、図１の
光ディスクの記録再生装置において、記録パルス標準条
件のうち、選択された前スペース長と自己マーク長の組
合せによって定められた複数のマーク前端パルス条件各
々と、選択された自己マーク長と後スペース長の組合せ
によって定められた複数のマーク後端パルス条件各々に
対応した記録パターンを記録し、その再生信号のジッタ
が許容値以下となるように各標準条件をそれぞれ別々に
補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として補正
した値を、記録パルス条件補正回路１０が記録補償回路
１２及び記録パルス条件発生器１１ｃに記録再生装置の
記録パルス条件として設定する。

【００６０】この記録パルス条件（第１の簡易学習結
果）は、現在、記録再生装置にローディングされている
光ディスク１を記録する際に利用できるように、記録パ
ルス条件復調器６から記録パルス条件補正回路１０を介
して入力された装置メーカのＩＤ、装置のＩＤ、シリア
ル番号、装置のバージョン情報等の装置固有の情報と共
に記録パルス条件発生器１１ｃから出力され、記録補償
回路１２及びレーザ駆動装置１３を通して光ヘッド３に
より光ディスク１のＤＩＺＷ領域に装置メーカのＩＤ、
装置のＩＤ、シリアル番号、装置のバージョン情報等の
装置固有の情報と共に記録される（図３のステップＳ１
４）。

【００６１】記録再生制御器８において、選択されなか
った記録パルス条件は、選択された記録パルス条件の補
正値から補間によって求めた値を記録再生装置の記録パ
ルス条件として設定し、データの記録再生をする。これ
によって、すべての記録パルス条件を設定し終わるまで
の時間がフル学習や後述する第２及び第３の簡易学習時
よりも短縮できる。なお、記録パルス条件のうち５Ｔｓ
５Ｔｍと５Ｔｍ５Ｔｓは、光ディスクから読み出した記
録パルス標準条件をそのまま使用した例を示したが、こ
れに限るものではなく、例えば、６Ｔｍ６Ｔｓの繰り返
し信号を記録してアシンメトリまたはデューティを検出
する方法等で補正を行ってから記録条件設定方法を適用
してもよい。また、マーク長の合計とスぺース長の合計
が同じで、かつ、マークとスペースを２個ずつ含み、少
なくとも１つの決定すべき属性のエッジを含むパターン
であれば、ジッタ検出が可能である。

【００６２】再び図３に戻って説明するに、記録パルス
条件復調器６は、ステップＳ６で上記再生装置固有情報
のうち装置メーカのＩＤと装置のＩＤの一方又は両方が
この装置と同一でないと判定したときには、次に、装置
メーカのＩＤは同一で、装置メーカの装置のＩＤが異な
るかどうか判定する（図３のステップＳ８）。装置メー
カのＩＤは同一で、装置メーカの装置のＩＤが異なる場
合は、光ディスク１に現在記録されているデータがある
程度は参考にできるが、記録パルス条件の傾向が異なる
と判断して、現在のＤＩＺＷ領域の再生データ、更には
ＤＩＺＲ領域のデータも基にして、第２の簡易学習を行
う（図３のステップＳ９）。

【００６３】第２の簡易学習は、第１の簡易学習よりも
やや複雑であるが、後述する第３の簡易学習よりも簡単
な学習で、１８個の記録パルス条件のうち、５Ｔｓ５Ｔ
ｍと５Ｔｍ５Ｔｓの２つの記録パルス条件は、記録パル
ス標準条件をそのまま使用し、残りの１６個の記録パル
ス条件は、それぞれに対応した図８に示す１２種類の記
録パターンを使用して求める。

【００６４】例えば、自己マーク長４Ｔｍで前マーク長
５Ｔｓ以上のマーク前端パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍを決定
するため、図８（Ａ）に示す８Ｔｍ、６Ｔｓ、４Ｔｍ、
６Ｔｓの繰り返し信号である記録パターンを使用する。
すべての記録パターンは、マーク長の合計とスペース長
の合計が同じで、かつ、マークとスペースを２個ずつ含
み、決定すべき１つのエッジを変化させ、他の３つのエ
ッジは固定して使用する。

【００６５】まず、第２の簡易学習の第１段階では、記
録パルス条件復調器６は、光ディスク１のＤＩＺＲ領域
から再生して記憶している記録パルス標準条件を記録パ
ルス条件補正回路１０に供給する。続いて、第２段階で
は、例えば記録パルス条件５Ｔｓ４Ｔｍを決定する場合
は、所定パターン発生器１１ｂから出力される図８
（Ａ）に示す所定記録パターンを光ディスク１に試し書
きする。すなわち、記録パルス条件補正回路１０５Ｔｓ
４Ｔｍの記録パルス標準条件をそのまま記録パルス条件
設定値として記録補償回路１２に供給し、ここで上記の
所定記録パターンをマルチパルスデータに変換させ、そ
のマルチパルスデータをレーザ駆動装置１３によりレー
ザを駆動するための電流に変換して光ヘッド３に供給
し、光ヘッド３により光ディスク１上の書き込み可能な
トラックに記録する。

【００６６】続いて、第２の簡易学習の第３段階とし
て、試し書きした上記の所定記録パターンを再生し、再
生信号のジッタをジッタ測定回路７で測定する。このジ
ッタ測定方法は、フル学習のときと同様にして行われ
る。ただし、ここではマーク前端パルス条件及びマーク
後端パルス条件のうち一方の条件のみ、まず求める。従
って、マーク前端パルス条件のみ求める場合は、ジッタ
測定回路７で測定したマーク前端ジッタ電圧Ｖｆ（０）
が記録再生制御器８に供給されて記憶される。

【００６７】続く第２の簡易学習の第４段階では、変化
装置９にある個別変化器９ｂから、マーク前端パルス条
件５Ｔｓ４Ｔｍのデフォルト値に対する補正値として、
例えば＋１を出力する。記録パルス条件補正回路１０
は、記録パルス標準条件に含まれる５Ｔｓ４Ｔｍのデフ
ォルト値に補正値＋１を加えた値を、記録パルス条件設
定値として記録補償回路１２へ出力する。以下、第２段
階と同様に、図８（Ａ）の所定記録パターンを光ディス
ク１に記録する。

【００６８】続く第２の簡易学習の第５段階では、第４
段階で記録された所定記録パターンを再生し、再生信号
のジッタを第３段階と同様の方法で測定してマーク前端
ジッタ電圧Ｖｆ（１）を得て、これを記録再生制御器８
に記憶する。以下、第４段階と第５段階と同様の処理を
補正値を変えながら繰り返し行い、ジッタ電圧を収集す
る。

【００６９】このようにして行われた、複数回の試し書
きおよびその読み取りの結果から、記録再生制御器８
は、各補正値に対するマーク前端ジッタ電圧が許容値以
下または最小となる補正値を選択して記録パルス条件補
正回路１０に供給する。これにより、記録パルス条件補
正回路１０は、以後の記録再生装置のマーク前端パルス
条件５Ｔｓ４Ｔｍの値として用いる。

【００７０】次に、マーク後端パルス条件４Ｔｍ５Ｔｓ
を決定するために図８（Ｂ）に示す所定の記録パターン
を使用して、上記と同様にして試し書きとジッタ測定と
を所定回数繰り返し、得られた複数のマーク後端ジッタ
電圧Ｖｒのうち、許容値以下または最小となるマーク後
端ジッタ電圧Ｖｒが得られるときの補正値を記録再生制
御器８で選択し、記録パルス条件補正回路１０はその選
択補正値を、以後の記録再生装置のマーク後端パルス条
件４Ｔｍ５Ｔｓの値として用いる。

【００７１】このように、第２の簡易学習では、光ディ
スク１のＤＩＺＲ領域から読み出された記録パルス標準
条件のうち、前スペース長と自己マーク長の組合せによ
って定められた複数のマーク前端パルス条件各々と、自
己マーク長と後スペース長の組合せによって定められた
複数のマーク後端パルス条件各々とに対応した図８の各
記録パターンを記録し、その再生信号のジッタが許容値
以下となるように各標準条件をそれぞれ別々に補正した
値を記録再生装置の記録パルス条件として補正した値
を、記録パルス条件補正回路１０が記録補償回路１２及
び記録パルス条件発生器１１ｃに記録再生装置の記録パ
ルス条件として設定する。

【００７２】この記録パルス条件（第２の簡易学習結
果）は、現在、記録再生装置にローディングされている
光ディスク１を記録する際に利用できるように、記録パ
ルス条件復調器６から記録パルス条件補正回路１０を介
して入力された装置メーカのＩＤ、装置のＩＤ、シリア
ル番号、装置のバージョン情報等の装置固有の情報と共
に記録パルス条件発生器１１ｃから出力され、記録補償
回路１２及びレーザ駆動装置１３を通して光ヘッド３に
より光ディスク１のＤＩＺＷ領域に装置メーカのＩＤ、
装置のＩＤ、シリアル番号、装置のバージョン情報等の
装置固有の情報と共に記録される（図３のステップＳ１
４）。

【００７３】再び図３に戻って説明するに、記録パルス
条件復調器６は、ステップＳ８で再生装置固有情報のう
ち装置メーカのＩＤは同一ではないと判定されたときに
は、装置メーカが異なるが、その装置メーカのＩＤが、
この光記録再生装置と互換性を維持できるような関連す
る装置メーカのＩＤであるかどうか判定する（図３のス
テップＳ１０）。関連する装置メーカのＩＤであると判
定されたときは、関連するメーカ間での互換性情報を基
に、簡略化可能な部分を簡略化して第３の簡易学習を行
う（図３のステップＳ１１）。

【００７４】第３の簡易学習は、第２の簡易学習よりも
やや複雑であるが、前述したフル学習よりも簡単な学習
で、例えば、現在のＤＩＺＷ領域のデータまたはＤＩＺ
Ｒ領域のデータも基にして、フル学習と同じ項目を、パ
ルス条件の変動範囲を狭くして行うなどの簡易処理であ
る。従って、この第３の簡易学習は前記フル学習の説明
から容易に類推できるので、詳細な説明は省略する。第
３の簡易学習の学習結果である記録パルス条件は、記録
パルス条件補正回路１０から記録補償回路１２及び記録
パルス条件設定器１１ｃに設定されると共に、光ディス
ク１のＤＩＺＷ領域にこの装置の固有の情報と共に記録
される（図３のステップＳ１４）。

【００７５】次に、ステップＳ１０で関連する装置メー
カのＩＤでないと判定された場合、またＤＩＺＷ領域に
データは存在するが判読できない場合（図３のステップ
Ｓ１２）は、光ディスク１のＤＩＺＲ領域の内容を再生
し、この値に基づいて前述したフル学習を行う（図３の
ステップＳ１３）。そして、フル学習の学習結果である
記録パルス条件は、前記第１乃至第３の簡易学習の学習
結果である記録パルス条件と同様に、記録補償回路１２
及び記録パルス条件発生器１１ｃに設定されると同時
に、光ディスク１のＤＩＺＷ領域に装置固有の情報と共
に記録される（図３のステップＳ１４）。

【００７６】このようにして、本実施の形態によれば、
記録パルス標準条件をＤＩＺＲ領域に予め記録してお
き、かつ、光ディスク１に対して記録を行った光記録再
生装置の固有の情報を記録パルス条件と共にＤＩＺＷ領
域に記録しておき、光ディスク１に対して記録を行うに
際し、光ディスク１のＤＩＺＷ領域から読み出した最大
１６台分の装置固有情報の中から、自分の装置の固有情
報と同じものがあるかを検出し、ある場合には学習をせ
ずＤＩＺＷ領域から再生した記録パルス条件をそのまま
使用し、同一のものがない場合は、ＤＩＺＷ領域から読
み出した装置固有情報の中で最も関連する装置のデータ
を参照して簡易学習を行うようにしたため、記録パルス
条件決定のための記録再生項目をできるだけ少なくして
最適な記録パルス条件を従来に比べて大幅に短時間で決
定することができる。

【００７７】なお、上記の第１及び第２の簡易学習とフ
ル学習自体は前述した特許公開公報に各実施の形態とし
て記載されているが、本実施の形態は、これらの学習を
光ディスク１の過去の履歴に応じて適応的に切り替えて
選択実行するものであるので、常に最適な記録パルス条
件を短時間で決定することができる。

【００７８】また、上記の第１乃至第３の簡易学習時に
は、光ディスク１のＤＩＺＷ領域の記録パルス条件とＤ
ＩＺＲ領域の記録パルス標準条件の２つのデータは、ど
ちらか一方のみを基にしてもかまわないし、片方の値を
基準にもう片方の値に基づいて調整する等で、両方の値
を混合してもかまわない。

【００７９】更に、上記の第１乃至第３の簡易学習の簡
易化する項目内容については、上記の実施の形態に限定
されるものではなく、ＤＩＺＷ領域が未記録又は未判読
の場合に行うフル学習に対して、識別可能な装置で多少
なりとも簡易化するものはどのような項目であっても本
発明の範囲であることはいうまでもない。

【００８０】なお、本発明は上記の実施の形態に限定さ
れるものではなく、例えば、自分の装置のデータがＤＩ
ＺＷ領域にある場合においても、最低の範囲の学習を行
ってもよい。また、記録学習として記録パルス幅を変更
して最適な記録パルス幅を決定するように説明したが、
記録のパワーの学習という意味で、記録パワー、消去パ
ワー、再生パワー等の値を、例えば、アシンメトリが５
０％になるようにしてもよい。

【００８１】また、再生時のジッタが最小になるように
したり、再生時のエラーレートが最小になるようにした
りする学習を前の段階及び又は後の段階で行ってもよ
い。図１１は上記の再生信号のエラーレートと補正値
（オフセット量）の関係の一例を示す。この場合、長さ
４Ｔのマークに続いて長さ５Ｔのスペースを記録する場
合のエラーレートを示しており、エラーレートが許容値
（例えば、０．００１）以下となる補正値を選択して、
その補正値に対応した記録パルスを記録パルス条件とし
て設定する。

【００８２】更に、上記の実施の形態では、メーカや装
置やシリアル番号の違いによって記録学習の内容を変更
しているが、ＤＩＺＲ領域のデータとＤＩＺＷ領域のデ
ータとの比較結果を単独で、又は上記の実施の形態の自
己装置との固有情報との比較結果とを併せて記録パルス
の学習を行うようにしてもよい。例えば、１８個の記録
パターンに対してＤＩＺＷ領域に一つのデータのみしか
なく、それがＤＩＺＲ領域の記録標準パルス条件のデー
タと１／２について一致しているときには、残りの一致
していない記録パターンにのみ前述した学習を行うよう
にしてもよい。

【００８３】また、例えば、ＤＩＺＷ領域に記録されて
いるシリアル番号だけが自己装置とそれぞれ異なる２台
の装置の記録パルス条件が記録されている場合、それぞ
れ例えば９個の記録パターンに対してデータが一致して
いる場合は、残りの一致していない記録パターンについ
て第１の簡易学習を行うようにしてもよい。また、例え
ば、ＤＩＺＷ領域に記録されている自己装置と関連メー
カのそれぞれ異なる２台の装置の記録パルス条件が記録
されており、かつ、互いにそれらが大きく異なる場合
は、シリアル番号やメーカ名からより信頼できそうな方
の記録パルス条件を選択して（重み付けを行う）、その
値を基に第３の簡易学習あるいはフル学習を行うように
してもよい。

【００８４】また、例えば１８個の記録パターンの値に
対して、ＤＩＺＷ領域に例えば３台の記録パルス条件が
記録されており、かつ、それらの値が殆ど同じ場合は、
ＤＩＺＲ領域に予め記録されている記録パルス標準条件
と大きく異なる場合でも、ＤＩＺＷ領域の記録パルス条
件を用いて簡易学習を行うようにしてもよい。

【００８５】また、上記の実施の形態で学習無しやフル
学習といっているのは、最適な記録パルス条件を決定す
ることであって、自己装置で記録する（自己記録）際に
も、記録する前に記録パワーや消去パワーを再度学習
し、ＤＩＺＷ領域に記録しても構わない。また、学習す
るときに、測定する内容としては、ジッタ及びエラーレ
ートを説明しているが、長いＴに対して、短いＴの非対
称性であるアシンメトリが、記録パワーが大きくなると
アシンメトリが大きくなるので、平均的には記録パルス
条件を変更しても同様な結果になることを利用して、最
適記録パルス条件又は最適記録パワーを決定してもよ
い。更に、再生信号の振幅がパワーが大きくなると大き
くなるので、平均的には記録パルス条件を変更しても同
様な結果になることを利用して、最適記録パルス条件又
は最適パワーを決定しても構わない。

【００８６】更に、記録したときの環境条件（温度、湿
度、電源電圧、時間経過）を記録しておき、現在の状態
と比較することによって、異なる場合に、記録学習の内
容を変更してもかまわない。また、本発明が記録再生し
ようとする記録媒体は、相変化や光磁気等の光ディスク
に限定されるものではなく、形状はカード型などでもよ
く、光記録媒体全般に適用可能である。

【００８７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
自己記録のときは、データを記録しようとする光記録媒
体からローディング時に再生した記録条件をそのまま使
用することにより、記録条件の設定のための学習を不要
にし、また、自装置の装置固有情報に関連した装置固有
情報の記録再生装置により記録が行われた光記録媒体に
対しては、記録されている上記の関連した装置の記録条
件を一部利用した簡易的な学習を適応的に行うようにし
たため、書き込み可能な光記録媒体及び光記録再生装置
の特性ばらつきの影響を低減し、平均的な記録学習時間
を短縮できると共に常に最適な記録条件を決定できる。

【００８８】このため、光ディスクビデオレコーダ等
で、ディスクを入れて直ちに記録を行う必要がある場合
等の記録のタイミングが重要な場合に、記録開始までの
時間を短縮できるので製品の商品価値向上に効果があ
る。

【００８９】また、本発明によれば、書き込み可能な光
記録媒体に対して記録条件を決定するための記録再生回
数を極力少なくできるので、光記録媒体の長寿命化を実
現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明装置の一実施の形態のブロック図であ
る。

【図２】本発明の動作説明用フローチャートである。

【図３】本発明により記録再生しようとする光ディスク
上の記録パルス条件管理領域の説明図である。

【図４】一律時間シフトについて具体的数値を示した図
である。

【図５】ジッタ測定回路の動作説明用信号波形図であ
る。

【図６】第１の簡易学習における一律時間シフトの図で
ある。

【図７】ジッタ測定結果を示す特性図である。

【図８】第２の簡易学習における記録パターン波形図で
ある。

【図９】記録パルス条件を示す図である。

【図１０】記録パルス条件の説明図である。

【図１１】再生信号のエラーレートと補正値（オフセッ
ト量）殿関係の一例を示す図である。

【符号の説明】

１光ディスク２モータ３光ヘッド４イコライザ２値化手段５ＰＬＬ回路６記録パルス条件復調器７ジッタ測定回路８記録再生制御器９変化装置１０記録パルス条件補正回路１１パターン発生装置１１ａランダムパターン発生器１１ｂ所定パターン発生器１１ｃ記録パルス条件発生器１２記録補償回路１３レーザ駆動装置ＤＩＺＲ記録パルス標準条件記録領域ＤＩＺＷ記録パルス条件記録領域

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者箱嶋修二神奈川県横浜市神奈川区守屋町３丁目12番地日本ビクター株式会社内Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 CC04 CC18 DD03 EE01 HH01 JJ12

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】書き込み可能な光記録媒体に記録される
マーク長とスペース長の可能な複数の組合せのそれぞれ
について、標準的な記録パルスの位置情報又は標準的な
記録パワーを特定した記録標準条件が予め記録されてい
る光記録媒体から前記記録標準条件を再生し、選択した
学習方法に従い該記録標準条件を修正し、最適な記録パ
ルスの位置情報又は最適な記録パワーを示す記録条件を
適応的に求める記録学習手段と、前記記録学習手段により求めた前記記録条件を、装置の
装置固有情報と共に前記光記録媒体のデータ記録再生領
域とは異なる情報領域に記録する記録手段と、前記光記録媒体のローディング時に、前記光記録媒体の
前記情報領域を再生し、前記記録条件と前記装置固有情
報とを取得する取得手段と、前記取得手段による取得結果に応じて、前記記録学習手
段の記録学習方法を変更する記録学習変更手段とを有す
ることを特徴とする光記録再生装置。
【請求項２】前記記録学習変更手段は、前記記録学習
手段の記録学習結果である前記記録条件と前記装置固有
情報とから、自己記録であるか又は認識可能な他の装置
か又は認識できない装置であるか又は前記情報領域が未
記録であるかを判定し、その判定結果に応じて記録学習
方法を変更する手段であることを特徴とする請求項１記
載の光記録再生装置。
【請求項３】前記記録学習変更手段は、前記記録学習
手段の記録学習結果である前記記録条件と前記装置固有
情報とから、前記再生された装置固有情報が前記自装置
の装置固有情報に近似しているほど学習工程を簡略化し
た学習を行うように前記記録学習方法を変更する手段で
あることを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置。