TWI816561B - 檢測裝置、檢測方法及檢測系統 - Google Patents

Abstract

一種檢測裝置，用以檢測一目標晶片，並提供一檢測結果。檢測裝置包括一傳輸介面、一記憶體以及一處理器。傳輸介面耦接目標晶片。記憶體儲存一檢測程式碼。處理器執行檢測程式碼，用以讀取目標晶片的狀態資訊，並產生檢測結果。

Description

檢測裝置、檢測方法及檢測系統

本發明是關於一種檢測裝置，特別是關於一種檢測一目標晶片的狀態資訊的檢測裝置。

一般而言，使用者在開發晶片的應用程式的過程中，需要隨時注意晶片的功耗。當晶片的實際功耗與規格參考值有落差時，使用者通常會認為晶片故障或發生異常。然而，大多數的原因只是出自晶片的系統的錯誤設定，或是晶片所連接的外部實體電路具有缺陷。因此，使用者需要花費很長的測試時間，才能找出真正的問題所在。

本發明之一實施例提供一種檢測裝置，用以檢測一目標晶片，並提供一檢測結果。檢測裝置包括一傳輸介面、一記憶體以及一處理器。傳輸介面耦接目標晶片。記憶體儲存一檢測程式碼。處理器執行檢測程式碼，用以讀取目標晶片的狀態資訊，並產生檢測結果。

本發明之另一實施例提供一種檢測系統，包括一目標晶片、一轉換器以及一檢測裝置。目標晶片具有複數接腳及一暫存電路。轉換器耦接目標晶片。檢測裝置透過轉換器，檢測目標晶片，用以產生一檢測結果，並包括一傳輸介面、一記憶體以及一處理器。傳輸介面耦接轉換器。記憶體儲存一檢測程式碼。處理器執行檢測程式碼，用以讀取目標晶片的狀態資訊，並產生結果。

本發明之另一實施例提供一種檢測方法，包括重置一目標晶片；判斷目標晶片是否進入一待機模式；當目標晶片進入待機模式時，檢測目標晶片，用以產生檢測結果；輸出檢測結果。

本發明之檢測方法可經由本發明之檢測系統來實作，其為可執行特定功能之硬體或韌體，亦可以透過程式碼方式收錄於一紀錄媒體中，並結合特定硬體來實作。當程式碼被電子裝置、處理器、電腦或機器載入且執行時，電子裝置、處理器、電腦或機器變成用以實行本發明之檢測裝置或檢測系統。

為讓本發明之目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出實施例，並配合所附圖式，做詳細之說明。本發明說明書提供不同的實施例來說明本發明不同實施方式的技術特徵。其中，實施例中的各元件之配置係為說明之用，並非用以限制本發明。另外，實施例中圖式標號之部分重覆，係為了簡化說明，並非意指不同實施例之間的關聯性。

第1圖為本發明之檢測系統的示意圖。如圖所示，檢測系統100包括一檢測裝置110、一轉換器120以及一待測電路180。檢測裝置110藉由轉換器120，連接待測電路180，用以週期讀取待測電路180裡的一目標晶片130的狀態資訊，並產生一檢測結果ST。因此，使用者藉由觀察檢測結果ST，便可快速地得知待測電路180的設定是否錯誤。

在一可能實施例中，檢測裝置110更具有電流檢測功能。在此例中，檢測裝置110將所有可能影響目標晶片130功耗的因素都標註在檢測結果ST中。舉例而言，當目標晶片130的某一接腳處於一浮動位準、或是某一接腳的電位狀態不同於該接腳所連接的外部實體電路的電位狀態或是目標晶片130的某項功能被開啟時，目標晶片130的功耗都會受到影響。因此，檢測裝置110在檢測結果ST中，凸顯可能影響目標晶片130功耗的因素。使用者根據檢測結果ST，調整目標晶片130的內部設定(關閉造成功耗的功能)或是調整目標晶片130所連接的外部實體電路的架構。在本實施例中，待測電路180包括目標晶片130及目標晶片130所連接的外部實體電路。在完成調整後，便可排除所有可能影響目標晶片130功耗的原因。接著，使用者重新啟動目標晶片130。此時，目標晶片130的功耗應該小於或等於一預設值。當目標晶片130的功耗未小於或等於一預設值時，表示目標晶片130運作異常。因此，使用者可快速地找出異常目標晶片。

在一些實施例中，檢測裝置110可能先令目標晶片130進入一待機模式(power-down mode)，再找出可能造成目標晶片130耗電的原因，並將耗電原因標註於檢測結果ST中。在此例中，使用者根據檢測結果ST，進行一調整操作，如調整目標晶片130的內部設定或是目標晶片130所連接的外部實體電路的架構。在完成調整後，使用者可能令目標晶片130進入一待機模式(power-down mode)，並測量目標晶片130的功耗。由於使用者已事先排除所有影響目標晶片130功耗的因素，故在測量目標晶片130的功耗時，使用者可得到較準確的測量結果。

在一可能實施例中，檢測裝置110包括一記憶體111以及一處理器112。記憶體111儲存一檢測程式碼113。本發明並不限定記憶體111的種類。在一可能實施例中，記憶體111係為一非揮發記憶體。處理器112讀取記憶體111，用以執行檢測程式碼113，並產生一檢測結果ST。在一可能實施例中，處理器112根據檢測程式碼113，產生一命令訊息SCM，用以讀取目標晶片130的狀態資訊。

在其它實施例中，處理器112透過命令訊息SCM，命令目標晶片130進入一待機模式。當目標晶片130未進入待機模式時，處理器112週期性地偵測目標晶片130是否進入待機模式。在目標晶片130進入待機模式後，處理器112讀取目標晶片130的內部暫存電路，用以得知目標晶片130的所有接腳的定義，並根據目標晶片130的接腳定義，檢測部分特定接腳的位準，用以產生檢測結果ST。在另一可能實施例中，處理器112根據目標晶片130的內部暫存電路所儲存的資訊，找到可能影響目標晶片130功耗的接腳編號，並得知目標晶片130的某些影響功耗的功能是否關閉。處理器112藉由檢測結果ST，提醒使用者注意目標晶片130的部分接腳以及目標晶片130的內部設定。在一些實施例中，檢測結果ST呈現目標晶片130的每一接腳的腳位資訊及目標晶片130的編號。

在一些實施例中，檢測裝置110更包括一顯示裝置114，用以呈現檢測結果ST。本發明並不限定顯示裝置114如何呈現檢測結果ST。在一可能實施例中，顯示裝置114係以一文字方式呈現檢測結果ST。在另一可能實施例中，顯示裝置114係以一視覺化方式呈現檢測結果ST。舉例而言，顯示裝置114可能呈現目標晶片130的外觀。

在本實施例中，顯示裝置114整合於檢測裝置110中，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，顯示裝置114可能獨立於檢測裝置110之外。在一些實施例中，處理器112更耦接一列印裝置(未顯示)，如印表機。在此例中，處理器112可能將檢測結果ST作為一報表，並透過列印裝置，列印檢測結果ST。

在其它實施例中，檢測裝置110更包括一傳輸介面115。傳輸介面115耦接轉換器120，用以輸出處理器112所產生的命令訊息SCM或是接收轉換器120產生的轉換訊息ST2。本發明並不限定傳輸介面115的種類。在一可能實施例中，傳輸介面115係為一串列介面，如USB介面。

本發明並不限定檢測裝置110的種類。在一可能實施例中，檢測裝置110係為一個人電腦(PC)或是一筆記型電腦(NB)。在此例中，檢測程式碼113係為運行在個人電腦或筆記型電腦上的檢測應用程式。當檢測應用程式被開啟時，檢測裝置110便透過轉換器120，檢測目標晶片130。

轉換器120耦接於檢測裝置110與待測電路180之間，用以將檢測裝置110發出的命令訊息SCM轉換成目標晶片130能辨識的訊息，如轉換訊息ST1，再將目標晶片130發出的回覆訊息SRO轉換成檢測裝置110能辨識的訊息，如轉換訊息ST2。本發明並不限定轉換器120的種類。在一可能實施例中，轉換器120係為一在線模擬器(in circuit emulator；ICE)。

在一些實施例中，轉換器120具有傳輸介面121及122。傳輸介面121用以接收來自檢測裝置110的命令訊息SCM，或是輸出轉換訊息ST2予檢測裝置110。在此例中，傳輸介面121的種類相同於傳輸介面151的種類，如均為USB介面。另外，傳輸介面122用以接收來自目標晶片130的回覆訊息SRO，或是輸出轉換訊息ST1予目標晶片130。在一可能實施例中，傳輸介面122係為一除錯介面，如一串行線除錯(Serial Wire Debug；SWD)介面或是一聯合檢測工作群組(Joint Test Action Group；JTAG)標準介面。

目標晶片130具有接腳131~162以及一暫存電路170。本發明並不限定目標晶片130的接腳數量。在其它實施例中，目標晶片130具有更多或更少的接腳。暫存電路170用以儲存接腳131~162的腳位資訊。在一可能實施例中，目標晶片130更包括一中央處理器(未顯示)。中央處理器根據暫存電路170所儲存的資訊，對接腳131~162的功能進行定義。

舉例而言，接腳131~162之第一部分接腳被配置成通用輸入輸出(General Purpose Input Output；GPIO)的輸入模式(input mode)，接腳131~162之第二部分接腳被配置成開汲輸出模式(open-drain output mode)，接腳131~162之第三部分接腳被配置成推輓輸出模式(push-pull output mode)的接腳，接腳131~162之第四部分接腳被配置成近似雙向模式(quasi-bidirectional mode)的接腳。因此，檢測裝置110根據暫存電路170所儲存的資訊，便可得知接腳131~162的功能。

在另一可能實施例中，目標晶片130的特定功能(如一上電復位 (power-on reset；POR)功能、或是一低壓偵測(brown-out detector；BOD)功能)是否被開啟的資訊也儲存於暫存電路170中。在其它實施例中，目標晶片130具有類比相關功能，如類比數位轉換器(ADC)、類比比較器(ACMP)、類比放大器(OPA)。在此例中，暫存電路170所儲存的資訊也可表示相對應的類比功能是否開啟。

在一可能實施例中，暫存電路170包括資訊171~173。資訊171用以表示目標晶片130是否已進入待機模式。舉例而言，當目標晶片130未進入待機模式時，資訊171可能具有一第一數值。當目標晶片130進入待機模式後，資訊171具有一第二數值。因此，檢測裝置110根據資訊171，便可得知目標晶片130是否已進入待機模式。

資訊172記錄接腳131~162的腳位資訊。當檢測裝置110讀取資訊172後，便可得知接腳131~162的操作模式。處理器112偵測操作於特定模式的接腳的位準。在一些實施例中，特定模式係指GPIO的輸入模式、開汲輸出模式、推輓輸出模式或是近似雙向模式。

以接腳131為例，假設接腳131操作於GPIO的輸入模式或是開汲輸出模式。在此例中，處理器112判斷接腳131的位準是否為一浮動位準(floating level)。在一可能實施例中，當接腳131所連接的外部實體電路未提供電壓予接腳131時，接腳131的位準為一浮動位準。當接腳131的位準為浮動位準時，表示接腳131的電位異常。由於接腳131的位準異常時，易造成目標晶片130的電流異常，故處理器112在檢測結果ST中，凸顯接腳131的接腳編號。在另一可能實施例中，當接腳131操作於GPIO的推輓輸出模式或是近似雙向模式時，處理器112判斷接腳131的位準是否符合一預設位準。當接腳131的位準不符合一預設位準，表示接腳131的輸入(或輸出)位準(如高位準)不同於相對應的外部實體電路的輸出(或輸入)位準(如低位準)。因此，處理器112在檢測結果ST中，凸顯接腳131的接腳編號。

資訊173用以表示目標晶片130的特定功能(如POR功能及BOD功能)是否開啟。處理器112根據資訊173，便可得知目標晶片130的一特定功能是否開啟。在其它實施例中，資訊173更表示目標晶片130的一類比功能是否開啟，如類比數位轉換器、類比比較器、類比放大器。

第2圖為本發明之檢測結果的示意圖。在一可能實施例中，檢測結果200可能呈現於第1圖的顯示裝置114中。在此例中，檢測結果200包括目標晶片130的外觀以及每一接腳的狀態資訊。如圖所示，接腳1~4操作於GPIO的輸入模式，故以朝向目標晶片130的箭頭表示接腳1~4的操作模式。接腳5、6、11、12、29-32操作於GPIO的近似雙向模式，故以雙向箭頭表示接腳5、6、11、12、29-32的操作模式。接腳13-16操作於GPIO的開汲輸出模式，故以一水平線段再加一圓點表示接腳13-16的操作模式。接腳17-22操作於GPIO的推輓輸出模式，故接腳17-22的箭頭方向朝外。由於目標晶片130的每一接腳的操作模式係以圖案方式(如箭頭)表示，故使用者立即得知目標晶片130的每一接腳的操作模式。在一些實施例中，檢測結果200更呈現目標晶片130的編號MCU1234。

在一可能實施例中，當處理器112執行檢測程式碼113時，處理器112產生命令訊息SCM。轉換器120轉換命令訊息SCM，用以產生轉換訊息ST1，並將轉換訊息ST1提供予目標晶片130。目標晶片130根據轉換訊息ST1，讀取暫存電路170，用以產生回覆訊息SRO。轉換器120轉換回覆訊息SRO，用以產生轉換訊息ST2，並將轉換訊息ST2提供予處理器112。處理器112根據轉換訊息ST2，產生檢測結果200，並將檢測結果200呈現於顯示裝置114中。

在本實施例中，透過圖形化檢測結果200，使用者可立即判斷出目標晶片130的各接腳的狀態資訊。在其它實施例中，沒有標示箭頭的接腳可能作為電源接腳，用以接收外部電壓，或是輸出電壓予外部裝置。

另外，檢測結果200除了標示出各接腳的狀態資訊，在一些實施例中，檢測結果200更凸顯(highlight)可能造成目標晶片130耗電的接腳的接腳編號。舉例而言，接腳1~4的操作模式均為GPIO的輸入模式，但接腳1及2的字型不同於接腳3及4的字型，這表示接腳1及2的位準為一浮動位準。由於操作於GPIO的輸入模式的接腳(如接腳1及2)若為浮動位準，則很容易造成目標晶片130耗電。因此，使用者根據檢測結果200所凸顯的接腳1及2，特別注意對應接腳1及2的外部實體電路的設計。舉例而言，使用者可能判斷接腳1是否連接到一上拉電阻或一下拉電阻。

在另一可能實施例中，接腳13~16的操作模式均為GPIO的開汲輸出模式，但接腳15及16的字型不同於接腳13及14的字型，這表示接腳15及16的位準為一浮動位準。因此，使用者根據檢測結果200所凸顯的接腳15及16，特別注意相對應的外部實體電路的設計。舉例而言，使用者可能判斷外部實體電路是否具有一上接電阻耦接至接腳15。

在其它實施例中，接腳17~22的操作模式均為GPIO的推輓輸出模式，但接腳17及18的字型不同於接腳19-22的字型，這表示接腳17及18的位準不同於外部實體電路的位準。舉例而言，接腳17及18可能輸出一高位準，但相對應的外部實體電路卻下拉接腳17及18的位準，使得接腳17及18的位準不等於高位準。由於接腳17及18的輸出位準不同於外部實體電路的輸入位準時，很容易造成漏電(leakage)問題。因此，使用者根據檢測結果200所凸顯的接腳編號(如接腳17及18)，特別注意相對應外部實體電路的設計。

在另一實施例中，接腳29~32的操作模式均為GPIO的近似雙向模式，但接腳29及30的字型不同於接腳31及32的字型，這表示接腳29及30的位準不同於外部實體電路的位準。舉例而言，接腳29及30可能輸出一高位準，但在相對應的外部實體電路上卻量測到低位準。由於接腳29及30的位準狀態不同於外部實體電路的位準狀態時，很容易造成漏電問題。因此，使用者根據檢測結果200所凸顯的接腳編號(如接腳29及30)，特別注意相對應外部實體電路的設計。

在一些實施例中，檢測結果200可能以不同顏色的接腳編號，凸顯可能發生電流異常的接腳編號。舉例而言，由於接腳1、2、15、16、17、18、29及30可能造成異常電流，故接腳1、2、15、16、17、18、29及30的編號以第一顏色(如橘色)呈現。在此例中，由於接腳3-14、19-28、31及32並不會造成目標晶片130的電流異常，故以第二顏色(如黑色)呈現。

在一些實施例中，當使用者移動游標，令游標指向一特定接腳時，顯示裝置可能呈現一提醒視窗，告知使用者該特定接腳的特性。第3圖為本發明之提醒視窗的示意圖。當使用者將游標指向接腳2時，顯示裝置呈現一提醒視窗300。提醒視窗300可能顯示接腳2的名稱、相關的暫存器的設定值以及對應的時脈頻率與來源等等。

在本實施例中，提醒視窗300提供資訊310、320及330。資訊310可能表示接腳2的相對應功能模組暫存器的設定。資訊320可能表示GPIO設定暫存器的設定。資訊330可能表示接腳2的狀態。在其它實施例中，資訊330的顏色可能不同於資訊310及320，讓使用者更容易注意到接腳2與外部電路的連接關係。

第4圖為本發明之提醒視窗的另一示意圖。在本實施例中，提醒視窗400與檢測結果200同時呈現。提醒視窗400列出目標晶片130的操作狀態，目前的輸出電壓為3.3V、目前所檢測的目標晶片130的編號(如MCU1234)、以及目標晶片130的操作狀態，如是否進入待機模式。在其它實施例中，提醒視窗400可能列出特定接腳的編號(即可能影響目標晶片130功耗的接腳)，如具有浮動位準的接腳1、2、15、16，以及可能發生漏電問題的接腳17、18、29、30。

第5圖為本發明之提醒視窗的另一示意圖。當使用者將游標指向目標晶片130的編號MCU1234時，顯示裝置呈現一提醒視窗500。在此例中，使用者根據提醒視窗500提供的訊息，得知目標晶片130所開啟的功能。在其它實施例中，提醒視窗500僅呈現可能造成目標晶片130額外耗電的功能，如POR功能。

在一些實施例中，當一檢測裝置(如第1圖的110)發現目標晶片130的一特定功能(造成目標晶片130額外耗電的功能)被開啟時，檢測裝置在檢測結果200中凸顯目標晶片130的編號MCU1234，如令編號MCU1234的字型(或顏色)不同於接腳編號5~8的字型(或顏色)。因此，使用者根據目標晶片130的字型(或顏色)，便可得知影響目標晶片130功耗的功能是否未關閉。在此例中，如果使用者將游標指向目標晶片130的編號MCU1234時，顯示裝置呈現提醒視窗500，用以通知使用者目標晶片130的哪項功能未關閉。

本發明並不限定提醒視窗500所呈現的訊息。在一可能實施例中，提醒視窗500至少呈現目標晶片130所開啟的功能。使用者根據提醒視窗500的訊息，關閉可能造成目標晶片130耗電的特定功能，如POR功能或BOD功能。在另一可能實施例中，提醒視窗500更呈現目標晶片130的部分接腳編號。在此例中，提醒視窗500所呈現的接腳編號係對應可能造成目標晶片130額外耗電的接腳(如1、2、15-18、29、30)。因此，使用者根據提醒視窗500所呈現的接腳編號，檢測相對應的外部實體電路是否設置有上拉或下拉電阻，以避免相對應的接腳的位準為一浮動位準，或是檢測外部實體電路是否影響目標晶片130輸出的電位。

由於提醒視窗500呈現了所有可能增加目標晶片130額外耗電的功能及接腳編號，故使用者可根據提醒視窗500，關掉所有影響目標晶片130功耗的功能，並檢查目標晶片130所耦接的外部實體電路，確保目標晶片130的功耗不會受到外部影響。

在一些實施例中，檢測裝置可能先命令目標晶片130進入一待機模式。在目標晶片130進入待機模式後，檢測裝置再偵測目標晶片130內部的暫存電路，用以判斷目標晶片130的各接腳的定義，再標示出特定接腳編號(如1、2、15-18、29、30)於檢測結果200中。檢測裝置也透過檢測結果200，告知目標晶片130的部分功能已開啟。使用者可能關閉目標晶片130的部分功能，再重新連接目標晶片130與外部實體電路，並測量目標晶片130的功耗。在此例中，由於目標晶片130的特定功能已關閉，並且外部實體電路已被檢查(是否具有上拉或下拉電阻、是否具有漏電流問題)，故當目標晶片130操作於待機模式時，目標晶片130的功耗應低於一預設值。當目標晶片130的功耗不符合預設值時，表示目標晶片130確實異常。然而，當目標晶片130的功耗符合預設值時，表示目標晶片130正常。因此，藉由提醒視窗500可加快使用者檢測目標晶片130的時間，並提高檢測的準確度，降低誤判的機率。

第6圖為本發明之檢測方法的流程示意圖。本發明之檢測方法係用以檢測一目標晶片，得知目標晶片的每一接腳的定義以及目標晶片所開啟的功能。在一可能實施例中，檢測方法所產生的檢測結果標註出目標晶片的特定接腳及目標晶片所開啟的特定功能。被標註出的特定接腳係指在位準異常時，易造成耗電的接腳。舉例而言，易造成耗電的接腳係指操作於GPIO的輸入模式以及操作於GPIO的開汲輸出模式，且位準等於一浮動位準的接腳。另外，操作於GPIO的推輓輸出模式以及操作於GPIO的近似雙向模式，且位準不同於相對應的外部實體電路的位準的接腳也會造成目標晶片的電流異常。在其它實施例中，檢測結果所標註的特定功能係指，目標晶片於待機模式時，易造成額外耗電的功能，如POR功能、BOD功能、類比功能…等。

本發明之檢測方法可以透過程式碼存在。當程式碼被機器載入且執行時，機器變成用以實行本發明之檢測裝置。首先，將檢測裝置與一轉換器連接在一起，並開啟檢測裝置的檢測程式碼(步驟S611)。在一可能實施例中，轉換器可能是一在線模擬器(ICE)。

接著，藉由轉換器連接一待測電路(步驟S612)。在一可能實施例中，轉換器負責檢測裝置與待測電路之間的通訊。在另一可能實施例中，在連接待測電路後，檢測裝置執行檢測程式碼，用以讀取待測電路上的一目標晶片的狀態資訊。在其它實施例中，在讀取目標晶片的狀態資訊前，檢測裝置先命令目標晶片執行一重置操作。

判斷目標晶片是否進入一待機模式(步驟S613)。在一可能實施例中，檢測裝置確認目標晶片裡的一中央處理器是否進入一睡眠模式。在中央處理器進入睡眠模式後，檢測裝置確認目標晶片是否開啟一待機功能。在一可能實施例中，檢測裝置可能讀取目標晶片內部的一暫存電路所儲存的第一資訊，得知目標晶片是否開啟待機功能。當目標晶片未開啟待機功能時，表示目標晶片尚未進入一待機模式，故回到步驟步驟S613，週期讀取目標晶片的狀態。

當目標晶片開啟待機功能時，表示目標晶片進入待機模式，故開始進行設定檢測(步驟S614)。在一可能實施例中，步驟S614係檢測目標晶片的每一接腳的定義，用以產生一檢測結果。在此例中，步驟S614可能讀取目標晶片內部的一暫存電路所儲存的第二資訊，用以得知目標晶片的每一接腳的定義。在另一可能實施例中，步驟S614更偵測目標晶片的特定功能是否開啟。在此例中，步驟S614根據目標晶片內部的一暫存電路所儲存的第二資訊，得知目標晶片的哪些功能被開啟。

輸出檢測結果(步驟S615)。在一可能實施例中，檢測結果係輸出予一顯示裝置。在此例中，檢測結果可能以圖形化或是文字化方式呈現在顯示裝置上。在另一可能實施例中，藉由一列印工具(如印表機)，列印出檢測結果。同樣地，檢測結果可能以圖形化或是文字化方式呈現於一報表中。

在一些實施例中，檢測結果凸顯至少一特定接腳的接腳編號。在此例中，被凸顯的接腳編號係指該特定接腳的操作狀態屬於GPIO的一輸入模式或是一開汲輸出模式，且該特定接腳的位準為一浮動位準。在另一可能實施例中，被凸顯的接腳編號係指該特定接腳的操作狀態屬於GPIO的一推輓輸出模式或是一近似雙向模式，且該特定接腳的位準不同於相對應的外部實體電路的位準。在此例中，當顯示裝置呈現檢測結果時，如果使用者將一游標指向特定接腳的接腳編號時，顯示裝置更呈現一第一提醒視窗，提醒使用者特定接腳可能造成耗電。使用者根據第一提醒視窗所標註的特定接腳的接腳編號，檢測相對應的外部實體電路(外部實體電路將會連接目標晶片)，如檢測外部實體電路是否具有上拉或下拉電阻或是檢測外部實體電路是否具有漏電問題。當外部實體電路具有上拉或下拉電阻時，便可避免外部實體電路連接目標晶片時，造成目標晶片的特定接腳的位準為一浮動位準。

在另一可能實施例中，當目標晶片的POR功能及BOD功能之至少一者被開啟時，在檢測結果中，凸顯目標晶片的編號。在此例中，當顯示裝置呈現檢測結果時，如果使用者將游標指向目標晶片的編號時，顯示裝置更呈現一第二提醒視窗，提醒使用者關閉目標晶片的部分功能，以避免額外的耗電。當使用者關閉目標晶片的部分功能後，使用者可能將目標晶片連接一外部實體電路，並操作目標晶片於一待機模式。由於目標晶片的耗電功能已關閉，故目標晶片的功耗應符合一預設值。當目標晶片的功耗不符合一預設值時，表示目標晶片異常。因此，使用者可藉由量測目標晶片的功耗，準確地得知目標晶片是否異常。

本發明之檢測方法，或特定型態或其部份，可以以程式碼的型態存在。程式碼可儲存於實體媒體，如軟碟、光碟片、硬碟、或是任何其他機器可讀取(如電腦可讀取)儲存媒體，亦或不限於外在形式之電腦程式產品，其中，當程式碼被機器，如電腦載入且執行時，此機器變成用以參與本發明之檢測裝置。程式碼也可透過一些傳送媒體，如電線或電纜、光纖、或是任何傳輸型態進行傳送，其中，當程式碼被機器，如電腦接收、載入且執行時，此機器變成用以參與本發明之檢測裝置。當在一般用途處理單元實作時，程式碼結合處理單元提供一操作類似於應用特定邏輯電路之獨特裝置。

除非另作定義，在此所有詞彙(包含技術與科學詞彙)均屬本發明所屬技術領域中具有通常知識者之一般理解。此外，除非明白表示，詞彙於一般字典中之定義應解釋為與其相關技術領域之文章中意義一致，而不應解釋為理想狀態或過分正式之語態。雖然“第一”、“第二”等術語可用於描述各種元件，但這些元件不應受這些術語的限制。這些術語只是用以區分一個元件和另一個元件。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾。舉例來說，本發明實施例所述之系統、裝置或是方法可以硬體、軟體或硬體以及軟體的組合的實體實施例加以實現。因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100:檢測系統 110:檢測裝置 120:轉換器 130:目標晶片 111:記憶體 112:處理器 113:檢測程式碼 114:顯示裝置 115、121、122:傳輸介面 131~162:接腳 170:暫存電路 171~173、310、320、330:資訊 180:待測電路 ST、200:檢測結果 SCM:命令訊息 ST1、ST2:轉換訊息 SRO:回覆訊息 300、400、500:提醒視窗 S611~S615:步驟

第1圖為本發明之檢測系統的示意圖。 第2圖為本發明之檢測結果的示意圖。 第3圖為本發明之提醒視窗的示意圖。 第4圖為本發明之提醒視窗的另一示意圖。 第5圖為本發明之提醒視窗的另一示意圖。 第6圖為本發明之檢測方法的流程示意圖。

100:檢測系統

110:檢測裝置

120:轉換器

130:目標晶片

111:記憶體

112:處理器

113:檢測程式碼

114:顯示裝置

115、121、122:傳輸介面

131~162:接腳

170:暫存電路

171~173:資訊

180:待測電路

ST:檢測結果

SCM:命令訊息

ST1、ST2:轉換訊息

SRO:回覆訊息

Claims (10)

1. 一種檢測裝置，用以檢測一目標晶片，並提供一檢測結果，該檢測裝置包括：一傳輸介面，耦接該目標晶片；一記憶體，儲存一檢測程式碼；以及一處理器，執行該檢測程式碼，用以讀取該目標晶片的狀態資訊，並產生該檢測結果；其中該處理器命令該目標晶片進入一待機模式，在該目標晶片進入該待機模式後，該處理器讀取該目標晶片的狀態資訊。
2. 如請求項1之檢測裝置，其中該處理器讀取該目標晶片的一暫存電路所儲存的一第一資訊，用以判斷該目標晶片是否進入該待機模式，當該目標晶片進入該待機模式時，該處理器讀取該暫存電路所儲存的一第二資訊，用以讀取該目標晶片的每一接腳的腳位資訊。
3. 如請求項2之檢測裝置，其中當該目標晶片未進入該待機模式時，該處理器週期性讀取該暫存電路所儲存的該第一資訊，直到該目標晶片進入該待機模式。
4. 如請求項2之檢測裝置，更包括：一顯示裝置，呈現該檢測結果，其中該檢測結果呈現該目標晶片的每一接腳的腳位資訊及該目標晶片的編號。
5. 如請求項4之檢測裝置，其中該處理器根據該暫存電路所儲存的該第二資訊，判斷該目標晶片的每一接腳是否操作於一特定模式，當該目標晶片的一特定接腳操作於一特定模式時，該 處理器根據該特定接腳的位準，決定是否在該檢測結果中，凸顯該特定接腳。
6. 如請求項5之檢測裝置，其中：當該特定接腳操作於一通用輸入輸出的一輸入模式或是一開汲輸出模式，且該特定接腳為一浮動位準時，該處理器在該檢測結果中，凸顯該特定接腳；以及當該特定接腳操作於該通用輸入輸出的一推輓輸出模式或是一近似雙向模式，且該特定接腳的位準不符合一預設值時，該處理器在該檢測結果中，凸顯該特定接腳。
7. 一種檢測方法，包括：重置一目標晶片；命令該目標晶片進入一待機模式；判斷該目標晶片是否進入一待機模式；當該目標晶片進入該待機模式時，檢測該目標晶片，用以產生一檢測結果；以及輸出該檢測結果。
8. 如請求項7之檢測方法，其中當一顯示裝置的一游標指向該特定接腳的接腳編號時，該顯示裝置更呈現一提醒視窗。
9. 如請求項7之檢測方法，其中檢測該目標晶片的步驟更包括：判斷該目標晶片的一上電復位功能及一低壓偵測功能之至少一者是否開啟；以及當該上電復位功能及該低壓偵測功能之至少一者開啟時，在該檢測結果中，凸顯該目標晶片的編號。
10. 一種檢測系統，包括：一目標晶片，具有複數接腳及一暫存電路；一轉換器，耦接該目標晶片；以及一檢測裝置，透過該轉換器，檢測該目標晶片，用以產生一檢測結果，並包括：一傳輸介面，耦接該轉換器；一記憶體，儲存一檢測程式碼；以及一處理器，執行該檢測程式碼，用以讀取該目標晶片的狀態資訊，並產生該檢測結果；其中該處理器命令該目標晶片進入一待機模式，在該目標晶片進入該待機模式後，該處理器讀取該目標晶片的狀態資訊。

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