TWI884001B - 可活動式探針裝置 - Google Patents

Abstract

一種可活動式探針裝置包含一固定座、一尺規、一活動座以及一探針。尺規設置於固定座並包含沿直線排列的多個刻度。活動座可活動地設置於固定座。探針固定於活動座。

Description

可活動式探針裝置

本發明係關於一種可活動式探針裝置，特別係關於一種包含尺規的可活動式探針裝置。

為了確認伺服器特定空間中的靜電放電(ESD)輻射之強度，通常會使用ESD輻射場強計來進行量測。於傳統的ESD輻射場強計中，係將圓尺規設置於固定座上，並將探針設置在透過旋鈕調整位置的移動平台上。

然，圓尺規的設計使得ESD輻射場強計整體的尺寸較大，而無法在較狹小的空間中進行量測，或是容易與其他結構干涉。因此，會使得ESD輻射場強計的測量範圍和效率受到限制。

本發明在於提供一種可活動式探針裝置，包含刻度沿直線排列的尺規以減小可活動式探針裝置的整體尺寸，進而改善可活動式探針裝置的測量範圍和效率。

本發明一實施例所揭露之可活動式探針裝置包含一固定座、一尺規、一活動座以及一探針。尺規設置於固定座並包含沿直線排列的多個刻度。活動座可活動地設置於固定座。探針固定於活動座。

根據上述實施例所揭露之可活動式探針裝置，由於尺規包含沿直線排列的刻度，因此可活動式探針裝置的整體尺寸得以減小。如此一來，可活動式探針裝置便能在較狹小的空間中進行量測，且不容易與其他結構干涉，進而使得可活動式探針裝置的測量範圍和效率得到改善。

10:可活動式探針裝置

100:固定座

110:第一座體

111:凹槽

120:第二座體

121:第一限位面

200:尺規

250:緊固件

300:活動座

301:第二限位面

310:滑塊

311:組裝板部

3110:凹槽

3111:限位槽

3112:側表面

312:安裝凸部

3120:指示凸部

313:支撐凸部

314:套筒部

320:蓋體

330:夾持槽

350:限位件

370:定位組件

371:螺絲

372:墊片

400:探針

M1,M2:活動方向

A:排列方向

圖1為根據本發明一實施例的可活動式探針裝置的立體圖。

圖2為圖1中的可活動式探針裝置的立體分解圖。

圖3為圖1中的可活動式探針裝置於另一視角的立體分解圖。

圖4為圖1中的可活動式探針裝置的上視圖。

圖5為圖4中的可活動式探針裝置的局部放大圖。

圖6為沿圖4中的割面線6-6繪製的剖面示意圖。

圖7至圖10為呈現活動座相對固定座活動的上視圖。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之實施例之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何本領域中具通常知識者了解本發明之實施例之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何本領域中具通常知識者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。

請參閱圖1至圖3，圖1為根據本發明一實施例的 可活動式探針裝置的立體圖。圖2為圖1中的可活動式探針裝置的立體分解圖。圖3為圖1中的可活動式探針裝置於另一視角的立體分解圖。

於本實施例中，可活動式探針裝置10例如為靜電放電(ESD)輻射場強計，並包含一固定座100、一尺規200、二緊固件250、一活動座300、一限位件350、一定位組件370以及一探針400。

於本實施例中，固定座100包含一第一座體110及一第二座體120。第二座體120設置於第一座體110的一側。第一座體110包含二凹槽111。第二座體120包含一第一限位面121。

尺規200設置於第一座體110。二緊固件250例如為磁鐵，並分別設置於二凹槽111中。二緊固件250例如吸附於伺服器機殼，以將可活動式探針裝置10固定於伺服器機殼。於其他實施例中，緊固件250及凹槽111的數量亦可皆為單個。此外，於再其他實施例中，可活動式探針裝置亦可無須包含緊固件250，且固定座亦可無須包含凹槽111；在這樣的實施例中，可改成透過外部元件將可活動式探針裝置固定於伺服器機殼。

活動座300例如沿活動方向M1、M2可活動地設置於第一座體110。詳細來說，於本實施例中，活動座300包含一滑塊310及一蓋體320。滑塊310例如包含一組裝板部311、一安裝凸部312、一支撐凸部313及一套筒部314。組裝板部311沿活動方向M1、M2可滑動地設置於第一座體110。安裝凸部312凸 出於組裝板部311遠離第一座體110的一側。支撐凸部313凸出於安裝凸部312的一側，並設置於第二座體120。套筒部314設置於支撐凸部313遠離安裝凸部312的一側。蓋體320固定於安裝凸部312遠離組裝板部311的一側，並與安裝凸部312共同形成一夾持槽330。

此外，組裝板部311包含一凹槽3110及一限位槽3111。凹槽3110及限位槽3111位於組裝板部311靠近第一座體110的一側。限位件350凸出於第一座體110靠近滑塊310的一側，並位於限位槽3111中。限位槽3111的一側表面3112位於限位件350的一側。此外，限位件350例如為螺絲。

活動座300更包含一第二限位面301。第二限位面301由組裝板部311及安裝凸部312共同形成。第二限位面301介於限位槽3111的側表面3112及第一限位面121之間。

於本實施例中，供緊固件250設置的凹槽111位於固定座100遠離活動座300的一側。也就是說，緊固件250設置於固定座100遠離活動座300的一側。

請參閱圖4及圖5，圖4為圖1中的可活動式探針裝置的上視圖。圖5為圖4中的可活動式探針裝置的局部放大圖。

於本實施例中，尺規200包含沿直線排列的多個刻度201。進一步來說，這些刻度201的一排列方向A例如平行於活動座300相對固定座100的活動方向M1、M2。因此，能更有效地利用固定座100上的空間，而進一步減小可活動式探針裝置 10的整體尺寸。然，於其他實施例中，若對於減小可活動式探針裝置的整體尺寸之要求較低，刻度的排列方向亦可與活動座的活動方向不平行。

此外，安裝凸部312例如包含一指示凸部3120。指示凸部3120設置於這些刻度201上方。於圖5中，指示凸部3120例如位於標記為15的刻度201上方。

請參閱圖3及圖6，圖6為沿圖4中的割面線6-6繪製的剖面示意圖。

定位組件370包含一螺絲371及一墊片372。墊片372設置於凹槽3110中，並凸出於組裝板部311靠近第一座體110的一側。螺絲371螺鎖於墊片372，而使得墊片372抵靠於第一座體110。如此一來，便能固定活動座300相對固定座100的位置。螺絲371例如可為手轉螺絲以方便操作。需注意的是，當需要調整活動座300相對固定座100的位置時，只要轉動螺絲371便能釋放墊片372抵靠於第一座體110的狀態，而使得活動座300能相對固定座100活動。

探針400穿設於夾持槽330，而受蓋體320及安裝凸部312夾持，進而使探針400更穩固地設置於活動座300。此外，探針400受支撐凸部313支撐並穿設於套筒部314。於其他實施例中，活動座亦可無須包含蓋體320，而令探針直接承靠於安裝凸部。

以下，將說明活動座300相對固定座100的活動方 式。請參閱圖7至圖10，圖7至圖10為呈現活動座相對固定座活動的上視圖。

首先，如圖7及圖8所示，活動座300相對固定座100沿活動方向M1活動，而使得指示凸部3120位於標記為30的刻度201上方。此時，第一限位面121及第二限位面301彼此抵靠，而使得活動座300受第二座體120限位。如此一來，便能防止活動座300從固定座100脫落。

接著，如圖9及圖10所示，活動座300相對固定座100沿活動方向M2活動，而使得指示凸部3120位於標記為0的刻度201上方。活動方向M2相反於圖7中的活動方向M1。此時，限位件350會靠近限位槽3111的側表面3112。應理解的是，若活動座300進一步沿活動方向M2活動，則限位件350會抵靠於限位件350，而使得活動座300受限位件350限位。如此一來，便能防止活動座300從固定座100脫落。

在本實施例中，本發明之伺服器係可用於人工智慧(Artificial Intelligence，簡稱AI)運算、邊緣運算(edge computing)，亦可當作5G伺服器、雲端伺服器或車聯網伺服器使用。

根據上述實施例所揭露之可活動式探針裝置，由於尺規包含沿直線排列的刻度，因此可活動式探針裝置的整體尺寸得以減小。如此一來，可活動式探針裝置便能在較狹小的空間中進行量測，且不容易與其他結構干涉，進而使得可活動式探針裝置的測量範圍和效率得到改善。舉例來說，由於可活動式探針裝 置的整體尺寸減小，因此可活動式探針裝置不僅能於不同尺寸的伺服器機殼中進行量測，也能於伺服器機殼各種形狀的區域中進行量測。

此外，根據本發明的可活動式探針裝置在使用時，僅需根據直線排列的刻度調整好活動座相對固定座的位置，再利用緊固件將可活動式探針裝置例如固定至伺服器機殼，便可進行靜電放電輻射之量測。因此，省去了每次量測時皆須歸零的繁瑣流程，且操作起來方便簡單，這節省了調整可活動式探針裝置的時間，進而提高量測效率及精準度。

雖然本發明以前述之諸項實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習相像技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

10:可活動式探針裝置

100:固定座

200:尺規

300:活動座

370:定位組件

400:探針

Claims (9)

1. 一種可活動式探針裝置，包含：一固定座；一尺規，設置於該固定座並包含沿直線排列的多個刻度；一活動座，可活動地設置於該固定座，其中該活動座包含一滑塊及一蓋體，該蓋體固定於該滑塊的一側，該蓋體與該滑塊共同形成一夾持槽；以及一探針，固定於該活動座，該探針穿設於該夾持槽，而受該蓋體及該滑塊夾持。
2. 如請求項1所述之可活動式探針裝置，其中該些刻度的一排列方向平行於該活動座相對該固定座的一活動方向。
3. 如請求項1所述之可活動式探針裝置，其中該活動座的該滑塊包含一組裝板部、一安裝凸部、一支撐凸部及一套筒部，該組裝板部可滑動地設置於該固定座，該安裝凸部凸出於該組裝板部遠離該固定座的一側，該支撐凸部凸出於該安裝凸部的一側，該套筒部設置於該支撐凸部遠離該安裝凸部的一側，該蓋體固定於該安裝凸部遠離該組裝板部的一側，並與該安裝凸部共同形成該夾持槽，該探針受該支撐凸部支撐並穿設於該套筒部。
4. 如請求項1所述之可活動式探針裝置，更包含一限位件，該限位件凸出於該固定座靠近該活動座的一側，該活動座包含一限位槽，該限位件位於該限位槽中，該限位槽的一側表面位於該限位件的一側，該限位槽的該側表面用以抵靠於該限位件，而使得該活動座受該限位件限位。
5. 如請求項4所述之可活動式探針裝置，其中該固定座包含一第一座體及一第二座體，該第二座體設置於該第一座體的一側，該尺規設置於該第一座體，該活動座可活動的設置於該第一座體，該限位件位於該第一座體，該第二座體包含一第一限位面，該活動座更包含一第二限位面，該第二限位面介於該限位槽的該側表面及該第一限位面之間，該第一限位面及該第二限位面用以彼此抵靠，而使得該活動座受該第二座體限位。
6. 如請求項1所述之可活動式探針裝置，更包含一定位組件，該定位組件包含一螺絲及一墊片，該墊片凸出於該活動座靠近該固定座的一側，該螺絲螺鎖於該墊片而使得該墊片抵靠於該固定座。
7. 如請求項1所述之可活動式探針裝置，更包含至少一緊固件，該至少一緊固件設置於該固定座遠離該活動座的一側。
8. 如請求項7所述之可活動式探針裝置，其中該至少一緊固件為磁鐵。
9. 如請求項8所述之可活動式探針裝置，其中該固定座包含至少一凹槽，至少一凹槽位於該固定座遠離該活動座的一側，該至少一緊固件設置於該至少一凹槽中。

Images