[go: up one dir, main page]

TWI784221B - 輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件 - Google Patents

輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件 Download PDF

Info

Publication number
TWI784221B
TWI784221B TW108145915A TW108145915A TWI784221B TW I784221 B TWI784221 B TW I784221B TW 108145915 A TW108145915 A TW 108145915A TW 108145915 A TW108145915 A TW 108145915A TW I784221 B TWI784221 B TW I784221B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
tire
radial direction
outer peripheral
contact
measuring
Prior art date
Application number
TW108145915A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202043069A (zh
Inventor
吾川二郎
津村拓実
西原義和
上田達也
Original Assignee
日商三菱重工機械系統股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商三菱重工機械系統股份有限公司 filed Critical 日商三菱重工機械系統股份有限公司
Publication of TW202043069A publication Critical patent/TW202043069A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI784221B publication Critical patent/TWI784221B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G01M17/021—Tyre supporting devices, e.g. chucks
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60C—VEHICLE TYRES; TYRE INFLATION; TYRE CHANGING; CONNECTING VALVES TO INFLATABLE ELASTIC BODIES IN GENERAL; DEVICES OR ARRANGEMENTS RELATED TO TYRES
    • B60C19/00—Tyre parts or constructions not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/041—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/0078—Testing material properties on manufactured objects
    • G01N33/0083—Vehicle parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Tires In General (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

輪胎的電阻測量裝置(1)，具備內周側測量件(50S)與外周側測量件(50A)。內周側測量件(50S)，配置在輪胎(T)的內周側，可接觸於輪胎(T)的內周部。外周側測量件(50A)，配置在輪胎(T)的外周側，對於輪胎(T)於輪胎(T)的徑方向(Dr)相對移動，藉此可接觸於輪胎(T)的胎面部。外周側測量件(50A)，於輪胎(T)的寬方向延伸，可因應寬方向之胎面部的凹凸形狀來在徑方向(Dr)追隨變形。外周側測量件(50A)，至少在與胎面部接觸的面具有導電性。

Description

輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件
本發明，是關於輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件。
一般來說，在汽車等之車輛，當車體帶電的情況，是設計成將其電荷透過輪胎來釋放到地面。 於是，為了確保可穩定地將電荷釋放到地面，在輪胎的加硫成形等之工程結束之後，到出貨為止的期間，有著進行檢查輪胎之內周部與胎面部之間電阻的檢査工程的情況。在檢查輪胎的電阻時，是使內周側測量件接觸於輪胎的內周部，使外周側測量件接觸於胎面部。
例如，在日本專利第5943810號公報揭示出，可接觸於輪胎之胎面部的外周側測量件，是在輪胎的寬方向，可從胎面部的中央部遍及胎肩部配合輪胎形狀來彎曲變形的構造。在該構造中，外周側測量件，是由遍及縱框架的端部與橫框架的端部之間的線狀之導電體所成。於輪胎的外周面，在輪胎的寬方向之一部分，使由電阻較低之材質所成的低電阻部露出。在日本專利第5943810號公報，是如此般使由線狀之導電體所成的外周側測量件接觸於輪胎的外周面，藉此使外周側測量件接觸於低電阻部。
[發明所欲解決之問題]
在上述日本專利第5943810號公報這種進行電阻之測量的檢査工程，輪胎沒有安裝在輪圈，多是在沒有填充空氣之輪胎單體的狀態下檢查輪胎。這種以輪胎單體來檢査的情況，輪胎之胎面部的一部分，有著朝向輪胎之徑方向內側凹陷來形成凹部的情況。但是，日本專利第5943810號公報所揭示的外周側測量件之導電體，無法進入該凹部。因此，若低電阻部配置在輪胎之胎面部之凹陷的部分的話，外周側測量件的導電體接觸不到低電阻部，有著無法正確測量輪胎之電阻的可能性。
本發明，其目的在於提供可提升輪胎之電阻測量之可靠性的輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件。 [解決問題之技術手段]
根據本發明的第一態樣，輪胎的電阻測量裝置，具備內周側測量件與外周側測量件。前述內周側測量件，配置在輪胎的內周側，可接觸於前述輪胎的內周部。前述外周側測量件，配置於前述輪胎的外周側，對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動，藉此可接觸於前述輪胎的胎面部。前述外周側測量件，於前述輪胎的寬方向延伸，可因應前述寬方向之前述胎面部的凹凸形狀來在前述徑方向追隨變形。前述外周側測量件，至少在前述變形部之與前述胎面部接觸的面具有導電性。 根據這種構造，外周側測量件，可因應輪胎之寬方向之胎面部的凹凸形狀來在徑方向追隨變形。藉此，若在輪胎之寬方向的一部分，外周面往輪胎的徑方向內側凹陷的話，外周側測量件，會進入至往徑方向內側凹陷的部分。如此一來，即使是在輪胎之往徑方向內側凹陷的部分，亦可使具有導電性的外周側測量件之接觸面接觸於輪胎的外周面。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部，來提升輪胎之電阻測量的可靠性。
根據本發明的第二態樣，輪胎的電阻測量裝置，在使第一態樣的前述外周側測量件，對於前述輪胎來在前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，是在前述輪胎之寬方向中間部進入至比前述輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部亦可。 藉此，在輪胎之寬方向中間部使變形部進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部。
根據本發明的第三態樣，輪胎的電阻測量裝置，亦可進一步具備支撐構件，其具有比第一態樣的前述外周側測量件還高的剛性，且對於前述外周側測量件在前述輪胎的徑方向外側於前述寬方向延伸，來支撐前述外周側測量件。 藉此，使外周側測量件接觸於輪胎的胎面部，在因應寬方向之胎面部的凹凸形狀而於徑方向變形時，支撐構件將外周側測量件強力地支撐在徑方向外側。藉此，可使外周側測量件進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。
根據本發明的第四態樣，輪胎的電阻測量裝置，第一態樣的前述外周側測量件亦可具備從動位移部與按壓部。前述從動位移部，在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況，是因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來往前述徑方向外側位移。前述按壓部，將前述從動位移部往前述輪胎的徑方向內側按壓。 藉此，若對於輪胎於徑方向相對移動藉此使從動位移部接觸於輪胎之胎面部的話，從動位移部，會因應輪胎之胎面部的凹凸形狀被往徑方向外側推入地位移。從動位移部，是藉由按壓部而被往輪胎的徑方向內側按壓，故進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部。
根據本發明的第五態樣，輪胎的電阻測量裝置，是使第四態樣的前述從動位移部，成為於前述寬方向延伸，且具有可撓性及導電性的帶狀構件亦可。 藉此，由往輪胎的寬方向延伸且具有可撓性及導電性的帶狀構件所成的從動位移部，進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部。
根據本發明的第六態樣，輪胎的電阻測量裝置，是使第四態樣的前述從動位移部，成為在前述寬方向空出間隔來複數設置，且設置成可各自於前述徑方向進退的進退構件亦可。 藉此，構成從動位移部的各個進退構件，若對於輪胎於徑方向相對移動藉此接觸於輪胎之胎面部的話，會因應輪胎之胎面部的凹凸形狀被往徑方向外側推入地位移。複數個進退構件，是藉由按壓部而被往輪胎的徑方向內側按壓，故進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部。
根據本發明的第七態樣，輪胎的電阻測量裝置，是使第四態樣的前述按壓部，形成為在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，可因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來朝向前述徑方向外側彈性變形地壓縮。 藉此，按壓部，朝向徑方向外側彈性變形地壓縮，而發揮出朝向徑方向內側的按壓力，故因應輪胎之胎面部的凹凸形狀而被往徑方向外側推入地位移的從動位移部，是藉由按壓部的按壓力而被往輪胎的徑方向內側按壓。藉此，可使從動位移部，進入至比輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。
根據本發明的第八態樣，是使第一態樣的前述外周側測量件，在對於前述輪胎於前述輪胎之徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來朝向前述徑方向外側彈性變形，並具有導電性亦可。 藉此，外周側測量件可彈性變形且具有導電性，故輪胎之寬方向的一部分往輪胎的徑方向內側凹陷的話，會進入至往徑方向內側凹陷的部分。如此一來，外周側測量件，遍及輪胎之寬方向全體來接觸於輪胎的外周面。於是，即使是低電阻部位於輪胎之往徑方向內側凹陷之部分的情況，亦可使外周側測量件接觸於低電阻部，來檢查輪胎的電阻。且，由於外周側測量件具有導電性，故與只有接觸面具有導電性的情況相較之下，可有效率地進行外周側測量件的製造等。
根據本發明的第九態樣，電阻測量件，於輪胎的寬方向延伸，在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎的情況時，可因應前述寬方向之前述輪胎的凹凸形狀來在前述輪胎的徑方向追隨變形，且至少在與前述輪胎接觸的面，具有導電性。 若將這種電阻測量件，適用於第一至第八態樣之任一種輪胎的電阻測量裝置的外周側測量件與內周側測量件之至少一方的話，在使電阻測量件接觸於輪胎時，可使電阻測量件因應輪胎的凹凸形狀來在輪胎的徑方向追隨變形。因此，即使存在凹凸形狀，亦可對於例如露出於胎面部的低電阻部、露出於胎緣部的導通部，使電阻測量件接觸。於是，可提升輪胎之電阻測量的可靠性。 [發明之效果]
根據上述之輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件，可提升輪胎之電阻測量的可靠性。
(第一實施形態)
圖1，是表示本發明之第一實施形態之電阻測量裝置之概略構造的構造圖。 如圖1所示般，該第一實施形態的電阻測量裝置1，配置於加硫完畢之輪胎T的檢査線(未圖示)。電阻測量裝置1，具備輥式輸送帶2與測量件單元6。
輥式輸送帶2，搬運輪胎T。輥式輸送帶2，是在搬運方向複數配列地具備可自轉的複數個輥3。複數個輥3，是在輥式輸送帶2的寬方向(以下，僅稱為寬方向)的兩側分離設置。該輥式輸送帶2，是將輪胎T以其側胎壁4朝向上下方向的狀態來搬運。 又，在圖1，省略從正面觀看之與測量件單元6重疊之位置的輥3之圖示。
輥式輸送帶2，設置於架台9上。架台9，豎立設置於地板8上。架台9，具備：複數個腳部10、橫樑11、昇降機構12。
複數個腳部10，分別往上下方向延伸。橫樑11，分別設在腳部10的上部及下部。橫樑11，於水平方向延伸，安裝成遍及相鄰的腳部10之間。
昇降機構12，使測量件單元6昇降。在本實施形態，昇降機構12，是示例出安裝於上側之橫樑11的情況。昇降機構12，具備：基座部13、上部支撐板14、下部支撐板15、導引棒16、導引部17、支撐臂20、流體壓缸21。
基座部13，於上下方向延伸。基座部13，在其上下方向的中央部還稍微上側透過未圖示的支架來固定於橫樑11。
上部支撐板14，設在基座部13的上端。上部支撐板14，於水平方向延伸。 下部支撐板15，設在基座部13的下端。下部支撐板15，與上部支撐板14相對向。
導引棒16，設在上部支撐板14與下部支撐板15之間。導引棒16，設有2根。各導引棒16，於上下方向延伸，且設置成互相平行。該等導引棒16，分別配置在基座部13之寬方向的兩外側。
導引部17，昇降自如地安裝於導引棒16。導引部17，具備兩個導引筒18、框架部19。兩個導引筒18的各個，被導引棒16插通。框架部19，將該等之導引筒18的上端部彼此予以連接。
支撐臂20，形成於框架部19，朝向上方延伸。支撐臂20的上端，固定於測量件單元6的下面。
流體壓缸21，是使上述測量件單元6昇降的驅動源。流體壓缸21，具備外管22與內桿23。外管22，於上下方向延伸，且固定於下部支撐板15。內桿23，於外管22的上方延伸。內桿23的上端，固定於測量件單元6的下面。
這種流體壓缸21，是藉由往外管22之缸室(未圖示)內供給及排出壓縮流體所產生的差壓來使內桿23於上下方向進退。亦即，使流體壓缸21的內桿23往縮短方向位移，藉此使測量件單元6透過導引部17而沿著導引棒16往下方移動。藉此，測量件單元6，往從輥式輸送帶2分離的下方向移動。且，使流體壓缸21的內桿23往伸長方向位移，藉此使測量件單元6透過導引部17而沿著導引棒16往上方移動。藉此，測量件單元6，往上方亦即接近輥式輸送帶2的方向移動。
測量件單元6，測量輪胎T的電阻。測量件單元6，具備：基座板29、框體31、導引棒30、第一滑動部32、第二滑動部33、測量件用流體壓缸34、外周側測量件(電阻測量件)50A、內周側測量件50S。
基座板29，固定於內桿23的上端部。框體31，安裝於基座板29。框體31，支撐導引棒30。導引棒30，於輥式輸送帶2的搬運方向延伸。第一滑動部32與第二滑動部33，可滑動地安裝於導引棒30。
測量件用流體壓缸34，是使第一滑動部32及第二滑動部33相對移動的驅動源。測量件用流體壓缸34，安裝於第一滑動部32及第二滑動部33。測量件用流體壓缸34，具備外管36與內桿35。內桿35，對於外管36設置成可出入。該內桿35的端部，固定於第一滑動部32。外管36，固定於第二滑動部33。在本實施形態，內桿35突出之側的外管36之端部，固定於第二滑動部33。
圖2，是表示上述電阻測量裝置之主要部的部分剖面圖。圖3，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件、內周側測量件之配置的俯視圖。 如圖2所示般，外周側測量件50A，例如在輪胎T的圓周方向(以下僅稱為圓周方向)空出既定的間隔並排配置兩個。又，以下的說明中所謂的「徑方向」，代表著被測量輪胎亦即輪胎T的徑方向。
如圖3所示般，外周側測量件50A，在輪胎T的電阻測量時，配置於輪胎T之胎面部(外周部)70的徑方向外側(外周側)。內周側測量件50S，在圓周方向，配置在該等兩個外周側測量件50A之間，且配置在比該等兩個外周側測量件50A還靠徑方向內側(內周側)。內周側測量件50S，在輪胎T的電阻測量時，配置在比輪胎T的胎緣部(內周部)71還靠徑方向內側(內周側)。
外周側測量件50A，透過第一支撐配件42固定於第一滑動部32。外周側測量件50A，透過絕緣構件(未圖示)而與第一支撐配件42電性絕緣。針對外周側測量件50A的詳細構造待留後述。
內周側測量件50S，透過第二支撐配件47安裝於第二滑動部33。第二支撐配件47，從第二滑動部33的上端部朝向與第一滑動部32相反之側的略下方傾斜地延伸。內周側測量件50S，從第二支撐配件47的上面朝向上方延伸。該實施形態的內周側測量件50S，對於第二支撐配件47的上面於垂直的方向延伸。該內周側測量件50S，亦與外周側測量件50A同樣地，透過絕緣構件i而與第二支撐配件47電性絕緣。
外周側測量件50A及內周側測量件50S，是藉由流體壓缸21的驅動，而往上下方向昇降驅動。外周側測量件50A及內周側測量件50S，在輪胎T的電阻測量時，成為可從在寬方向分離的上述輥式輸送帶2之間，朝向上方突出。
外周側測量件50A及內周側測量件50S，藉由測量件用流體壓缸34的驅動而可往互相接近及分離的方向移動。
外周側測量件50A，對於輪胎T於徑方向相對移動，藉此抵接於形成在輪胎T之外周部的胎面部70。內周側測量件50S，對於輪胎T於徑方向相對移動，藉此抵接於形成在輪胎T之內周部的胎緣部71。
在本實施形態，將測量件用流體壓缸34往壓縮方向驅動，藉此沿著導引棒30，使第一滑動部32及第二滑動部33往接近的方向相對位移。如上述般使外周側測量件50A與內周側測量件50S往彼此接近的方向位移，藉此可藉由外周側測量件50A與內周側測量件50S來夾住輪胎T。另一方面，若將測量件用流體壓缸34往伸長方向驅動的話，會沿著導引棒30，使第一滑動部32及第二滑動部33往分離的方向相對位移。如上述般使外周側測量件50A與內周側測量件50S往分離的方向位移，藉此可使外周側測量件50A與內周側測量件50S從輪胎T離開。
在本實施形態所示例的測量件用流體壓缸34，內桿35及外管36是一起沿著導引棒30以可位移的浮動狀態來被支撐。例如，若將測量件用流體壓缸34往壓縮方向驅動的話，首先，外周側測量件50A及內周側測量件50S之任一方會抵接於輪胎T而停止。之後，若持續將測量件用流體壓缸34往壓縮方向驅動的話，是只有外周側測量件50A及內周側測量件50S之另一方往接近輪胎T的方向相對移動。
且，例如，若將測量件用流體壓缸34往伸長方向驅動的話，首先，外周側測量件50A及內周側測量件50S之任一方會抵接於框體31而停止。之後，若持續將測量件用流體壓缸34往伸長方向驅動的話，是只有外周側測量件50A及內周側測量件50S之另一方往從輪胎T分開的方向移動。
如上述般使測量件用流體壓缸34的支撐構造成為浮動狀態，藉此即使輪胎T的搬運位置有些許錯開，亦可適當地藉由外周側測量件50A及內周側測量件50S來夾住輪胎T。
圖4，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件的側視圖。圖5，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件的圖，為圖4的A-A箭頭視角的剖面圖。 如圖4、圖5所示般，外周側測量件50A，具備支撐構件51與變形部52。又，以下的說明中，將輪胎T的徑方向稱為「徑方向Dr」，將徑方向Dr的外側稱為「外側Dro」，將徑方向Dr的內側稱為「內側Dri」。此外，將輪胎T的寬方向稱為「寬方向Dw」。
支撐構件51，固定於第一支撐配件42。具體來說，支撐構件51，在輪胎T的電阻測量時，以往輪胎T之寬方向Dw延伸的方式，固定於第一支撐配件42。支撐構件51，支撐變形部52。支撐構件51，例如具有基部51a與一對側壁部51b。
基部51a，形成為往輪胎T的圓周方向與寬方向Dw擴張的板狀。一對側壁部51b，從基部51a之寬方向Dw兩側的緣部，朝向輪胎T之徑方向Dr的內側Dri延伸。支撐構件51，具備該等基部51a與一對側壁部51b，藉此從輪胎T的寬方向Dw觀看時呈U字狀剖面。支撐構件51，例如由金屬、樹脂、纖維強化材料等所成，具有比後述之變形部52還高的剛性。
變形部52，具備彈性變形體(按壓部)53與導電部(從動位移部)54。 如圖5所示般，彈性變形體53，收容在上述形成為U字狀剖面之支撐構件51的內側。彈性變形體53，具有：朝向徑方向Dr之外側Dro的基面53a、從基面53a往徑方向Dr的內側Dri延伸的兩個側面53b、朝向徑方向Dr之內側Dri的前端面53c。
基面53a，抵接於基部51a。兩個側面53b，各自抵接於一對側壁部51b。前端面53c，比一對側壁部51b還往徑方向Dr的內側Dri側突出。
如圖4、圖5所示般，彈性變形體53，於輪胎T的寬方向Dw延伸。彈性變形體53，可因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形。彈性變形體53，例如以橡膠、海綿等之可容易彈性變形的材料所形成。又，在輪胎T之胎面部70所形成的溝所致之凹凸，並不包含於上述凹凸形狀。
使外周側測量件50A對於輪胎T於輪胎T之徑方向Dr的內側Dri相對移動，藉此使變形部52按壓輪胎T的胎面部70。此時，彈性變形體53，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形(彈性變形)。
該彈性變形體53之壓縮變形的大小，對應於胎面部70的凹凸形狀，比起凹凸形狀的凹部，在凸部的壓縮變形較大。壓縮變形的彈性變形體53，會因其彈性，而將導電部54朝向輪胎T之徑方向Dr的內側Dri彈推。
導電部54，安裝於彈性變形體53的前端面53c。換言之，導電部54，在變形部52之中，設在與輪胎T之胎面部70接觸的接觸面。該導電部54(帶狀構件54t)具有導電性。導電部54，於輪胎T的寬方向Dw延伸。導電部54具有可撓性，其可追隨因應胎面部70之凹凸形狀的彈性變形體53之前端面53c的變形。在本實施形態所示例的導電部54，是由市售的導電性膠帶等所成的帶狀構件54t。作為該帶狀構件54t，例如可使用由銅、銀、鋁等之具有導電性(換言之，電阻極低)的材料所形成者。
如圖4所示般，導電部54的兩端部，對於支撐構件51藉由小螺絲52k等來固定。導電部54，在對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動藉此接觸於輪胎T之胎面部70的情況，是被夾在胎面部70與前端面53c之間，追隨彈性變形體53之前端面53c的變形而變形。亦即，導電部54，是配合輪胎T之胎面部70的凹凸形狀來變形。
圖6，是表示將上述電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 如圖6所示般，填充空氣或氮氣等之流體來使用的輪胎T，在上述流體尚未充填的狀態下，有著輪胎T之寬方向Dw之胎面部70(外周部)的一部分往徑方向Dr的內側Dri凹陷的情況。在本實施形態，例如，在輪胎T的胎面部70，是示例出在輪胎T之寬方向Dw中間部，形成有比輪胎T的最大外徑部75還往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73(Dent)的情況。
根據上述的外周側測量件50A，變形部52，對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動，而被按壓於輪胎T的胎面部70。此時，在輪胎T的寬方向Dw(換言之，是輪胎T的軸方向)，接觸於從胎面部70的中央部C遍及至胎肩部S的範圍。
更具體來說，變形部52的彈性變形體53及導電部54，被按壓於胎面部70，藉此在寬方向Dw配合輪胎T之胎面部70的凹凸形狀來變形。此時，彈性變形體53，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形。壓縮變形的彈性變形體53，會因其彈性，而朝向徑方向Dr的內側Dri發揮出按壓力P，來彈推導電部54。藉此，導電部54，會密接於輪胎T的最大外徑部75，且進入至形成在輪胎T之寬方向Dw中間部的凹部73，而與凹部73的胎面密接。又，上述的肩部S，代表著在車輛行進之際與地面接觸的胎面部70之中，在寬方向Dw之端部附近的部分。
如圖3所示般，內周側測量件50S，具有在按壓胎緣部71時不會變形之充分的剛性，且具有導電性。本實施形態的內周側測量件50S，是由棒狀的構件所形成。內周側測量件50S，從基部朝向端部，以配置在漸變輪胎T之軸中心側的方式稍微傾斜。藉此，在輪胎T之寬度尺寸比內周側測量件50S的長度尺寸還短的情況等，內周側測量件50S，不會接觸至與測量對象之胎緣部71在寬方向Dw相反之側的胎緣部71。
在外周側測量件50A與內周側測量件50S，透過配線W1、W2而連接有電阻測量器(測量部)60。 電阻測量器60，例如，在外周側測量件50A及內周側測量件50S間流通既定的測量電流，並測量此時的端子間電壓，藉此測出外周側測量件50A及內周側測量件50S之間的電阻。
根據上述的第一實施形態，外周側測量件50A，於輪胎T的寬方向Dw延伸，可因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形。導電部54，設置在變形部52之至少與輪胎T之胎面部70接觸的面，且具有導電性。根據這種構造，即使輪胎T之寬方向Dw的一部分往輪胎T之徑方向Dr的內側Dri凹陷，亦可使變形部52及導電部54進入至往徑方向Dr的內側Dri凹陷的凹部73。因此，即使輪胎T的低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之凹部73的情況，亦可使導電部54接觸於低電阻部100，可正確地測量輪胎T的電阻。
在上述的第一實施形態，外周側測量件50A接觸於輪胎T之胎面部70的情況時，變形部52，進入至輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73。因此，即使是低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之凹部73的情況，亦可使導電部54接觸於低電阻部100。
在上述的第一實施形態，電阻測量裝置1、外周側測量件50A，進一步具備支撐構件51，其具有比變形部52還高的剛性。藉此，使變形部52接觸於輪胎T的胎面部70，在因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀而於徑方向Dr變形時，支撐構件51會在徑方向Dr的外側Dro牢固地支撐變形部52。藉此，可使變形部52更穩定地進入至比輪胎T之最大外徑部75還往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73。
在上述的第一實施形態，變形部52具備導電部54與彈性變形體53。若導電部54接觸於輪胎T之胎面部70的話，導電部54，會因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而被往徑方向Dr的外側Dro推入地位移。導電部54，是被彈性變形體53給按壓至輪胎T之徑方向Dr的內側Dri，故會進入至凹部73。因此，即使是低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之凹部73的情況，亦可使導電部54接觸於低電阻部100。
在上述的第一實施形態，導電部54於寬方向Dw延伸，且由具有可撓性及導電性的帶狀構件54t所成。藉此，導電部54，進入至比輪胎T之最大外徑部75還往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73。帶狀構件54t，具有導電性，故作為導電部54發揮功能。因此，即使是低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之部分的情況，亦可使導電部54接觸於低電阻部100。
在上述的第一實施形態，彈性變形體53，朝向徑方向Dr之外側Dro彈性變形而壓縮，藉由其彈性，而發揮出朝向徑方向Dr之內側Dri的按壓力P。藉此，導電部54，被該按壓力P朝向輪胎T之徑方向Dr的內側Dri彈推。因此，可使導電部54進入至比輪胎T之最大外徑部75還往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73。
(第一實施形態的變形例) 圖7，是表示將本實施形態之變形例之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 在第一實施形態，作為導電部54，雖使用帶狀構件54t，但並不限於此。 如圖7所示之第一實施形態的變形例那般，外周側測量件(電阻測量件)50B的導電部54B，使用由具有導電性的金屬等之材料所成的線圈彈簧54c亦可。該線圈彈簧54c，與上述的帶狀構件54t同樣地，安裝在彈性變形體53的前端面53c。換言之，線圈彈簧54c，設在變形部52B之與胎面部70接觸的面。
根據上述的外周側測量件50B，變形部52B，與第一實施形態的變形部52同樣地，對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動，在輪胎T的寬方向Dw，接觸於從胎面部70的中央部C遍及至肩部S的範圍。
更具體來說，變形部52B的線圈彈簧54c(導電部54B)及彈性變形體53，被按壓於胎面部70，藉此在寬方向Dw配合輪胎T之胎面部70的凹凸形狀來變形。此時，彈性變形體53，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形。壓縮變形的彈性變形體53，會因其彈性，而朝向徑方向Dr的內側Dri以按壓力P來彈推線圈彈簧54c。藉此，線圈彈簧54c，會接觸於輪胎T的最大外徑部75，並進入至形成在輪胎T之寬方向Dw中間部的凹部73，而接觸於凹部73的胎面。在此，線圈彈簧54c之中，配置在徑方向Dr之內側Dri的部分，是遍及輪胎T的寬方向Dw全域，來接觸於輪胎T的胎面部70。
(第二實施形態) 接著，基於圖式來說明本發明的第二實施形態。該第二實施形態，相對於第一實施形態，僅為電阻測量件不同。於是，在第二實施形態的說明中，援用圖1而對與第一實施形態相同的部分附上相同符號並在說明時省略重複的說明。也就是說，針對與在第一實施形態所說明的構造共通之電阻測量裝置1的整體構造，省略其說明。
圖8，是表示將該第二實施形態之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 如圖1所示般，該第二實施形態之電阻測量裝置1的測量件單元6，具有外周側測量件(電阻測量件)50C及內周側測量件50S。 如圖8所示般，外周側測量件50C，具備支撐構件51與變形部52C。
變形部52C，具備彈性變形體(按壓部)55與從動位移部56。 從動位移部56，是在變形部52C之中，設在輪胎T之徑方向Dr之內側Dri的位置。換言之，從動位移部56，是在變形部52C之中，設在可與胎面部70接觸的位置。從動位移部56，具備複數個導電銷(進退構件)56p與保持構件56h。
複數個導電銷(進退構件)56p，是在輪胎T的寬方向Dw空出間隔來配置。複數個導電銷56p，分別於輪胎T的徑方向Dr延伸。各導電銷56p，例如可由銅、銀、鋁等之具有導電性的材料來形成。
保持構件56h，是將複數個導電銷56p保持成可在輪胎T之徑方向Dr進退自如的狀態。在該第二實施形態所示例的保持構件56h，是將複數個導電銷56p支撐成可往徑方向Dr滑動。保持構件56h，具有導電性，且與複數個導電銷56p電性連接。上述的複數個導電銷56p，透過該保持構件56h而電性連接於電阻測量器60(參照圖3)。
保持構件56h，固定於支撐構件51。保持構件56h，在圖8所示之正面觀看時，是於寬方向Dw延伸。該保持構件56h，亦與支撐構件51同樣地，具有比彈性變形體55還高的剛性。又，保持構件56h的剛性，與支撐構件51的剛性同等亦可。
各導電銷56p，是藉由使外周側測量件50C對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動而與輪胎T的胎面部70接觸。該等複數個導電銷56p，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀，而各自往徑方向Dr的外側Dro位移。具體來說，複數根導電銷56p的前端，是被胎面部70按壓而從動，來因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀進行位移。
彈性變形體55，與第一實施形態的彈性變形體53同樣地被支撐構件51支撐。彈性變形體55，例如可由橡膠、海綿等來形成。
於彈性變形體55，抵接有複數個導電銷56p的基端。彈性變形體55，若因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而使複數個導電銷56p於徑方向Dr位移的話，會朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形(彈性變形)。壓縮變形的彈性變形體55，會因其彈性，而將複數根導電銷56p以按壓力P按壓往輪胎T之徑方向Dr的內側Dri。
根據上述的外周側測量件50C，對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動，藉此使從動位移部56的複數個導電銷56p，接觸於輪胎T的胎面部70。複數個導電銷56p，配合寬方向Dw之輪胎T之胎面部70的凹凸形狀，往徑方向Dr的外側Dro位移，藉此使彈性變形體55變形。如此一來，彈性變形體55，朝向徑方向Dr的內側Dri發揮按壓力P，使複數個導電銷56p朝向徑方向Dr的內側Dri按壓。藉此，從動位移部56，會接觸於輪胎T的最大外徑部75，並進入至形成在輪胎T之寬方向Dw中間部的凹部73，而接觸於凹部73的胎面。此時，從動位移部56之中，配置在徑方向Dr之內側Dri的部分(複數個導電銷56p的前端)，是遍及輪胎T的寬方向Dw全域，來接觸於輪胎T的胎面部70。
根據上述的第二實施形態，變形部52C，於輪胎T的寬方向Dw延伸，可因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形。從動位移部56，設置在變形部52C之至少與胎面部70接觸的面，且具有導電性。藉由這種構造，即使低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之部分的情況，亦可使從動位移部56接觸於低電阻部100，可正確地測量輪胎T的電阻。
在上述的第二實施形態，從動位移部56，在寬方向Dw空出間隔來複數設置，各自具備可於徑方向Dr進退地設置的導電銷56p。藉由這種構造，使外周側測量件50C對於輪胎T於徑方向Dr相對移動而與輪胎T的胎面部70接觸。藉由該對胎面部70的接觸，構成從動位移部56的導電銷56p的各個，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而被往徑方向Dr的外側Dro推入地位移。複數個導電銷56p，是被彈性變形體55給按壓至輪胎T之徑方向Dr的內側Dri，故會進入至凹部73。因此，即使是低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷之部分的情況，亦可使導電部54接觸於低電阻部100。
(第二實施形態的變形例) 在第二實施形態，作為彈性變形體55，雖使用橡膠或海綿等，但並不限於此。作為彈性變形體55，亦可使用將複數個導電銷56p予以個別地按壓至輪胎T之徑方向Dr之內側Dri的線圈彈簧或板簧等之彈簧構件(未圖示)。使用這種彈簧構件的彈性變形體55，是因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形(彈性變形)。壓縮變形的彈性變形體55，是以其彈性來將複數個導電銷56p朝向徑方向Dr的內側Dri彈推。
取代第二實施形態的彈性變形體55，而採用將複數個導電銷56p朝向輪胎T之徑方向Dr的內側Dri按壓的致動器(未圖示)亦可。該情況時，因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀往徑方向Dr之外側Dro位移的複數個導電銷56p，是藉由致動器而被朝向徑方向Dr的內側Dri按壓即可。
(第三實施形態) 接著，基於圖式來說明本發明的第三實施形態。該第三實施形態，相對於第二實施形態，僅為電阻測量件不同。因此，在第三實施形態的說明中，援用圖1而對與第二實施形態相同的部分附上相同符號並省略重複說明。也就是說，以與第二實施形態的不同點為中心來進行說明，針對與在第一實施形態及第二實施形態說明過的構造共通的構造，省略其說明。
圖9，是表示將該第三實施形態之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 如圖1所示般，輪胎T之電阻測量裝置1的測量件單元6，具有外周側測量件(電阻測量件)50E及內周側測量件50S。 如圖9所示般，外周側測量件50E，具備支撐構件51與變形部52E。
變形部52E，與上述第一實施形態的彈性變形體53同樣地被支撐構件51支撐。變形部52E，於輪胎T的寬方向Dw延伸，可因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀來在徑方向Dr變形。變形部52E，例如由橡膠、海綿等所形成。變形部52E，在對於輪胎T於輪胎T的徑方向Dr相對移動藉此接觸於輪胎T之胎面部70的情況，是因應輪胎T之胎面部70的凹凸形狀而朝向徑方向Dr的外側Dro壓縮變形。壓縮變形的變形部52E，會以其彈性，來朝向徑方向Dr之內側Dri發揮按壓力P。該變形部52E，混入有由具有導電性的金屬或碳黑等之材料所成的粒子等，而具有導電性。亦即，變形部52E，其全體兼用於導電部54E。該導電部54E，電性連接於電阻測量器60(參照圖3)。
根據上述的第三實施形態，外周側測量件50E的變形部52E，於輪胎T的寬方向Dw延伸，可因應寬方向Dw之胎面部70的凹凸形狀來在徑方向Dr變形。藉此，變形部52E，可進入至往徑方向Dr之內側Dri凹陷的凹部73。因此，即使低電阻部100位於輪胎T之往徑方向Dr之內側Dri凹陷的部分的情況，亦可使變形部52E(導電部54E)接觸於低電阻部100，可正確地測量輪胎T的電阻。且，由於變形部52E之彈性變形的部分兼用於導電部54E，故可有效率地進行外周側測量件50E的製造等。
(其他實施形態) 本發明，並不限定於上述的實施形態，在不超脫本發明之主旨的範圍，可變更設計。 例如，在上述的各實施形態及各變形例，外周側測量件50A、50B、50C、50E的上端部配置在比輪胎T的中央部C的高度方向還稍微高的位置。但是，外周側測量件50A、50B、50C、50E之上端部的高度，並不限於該高度。例如，外周側測量件50A、50B、50C、50E的上端部，是在作為被檢査對象來預設的複數種類的輪胎T的中央部C之中，配置在高度位置最高的中央部C以上的高度位置即可。
在上述的各實施形態及各變形例，是說明將外周側測量件50A、50B、50C、50E於圓周方向並排兩個來配置的例子。但是，外周側測量件50A、50B、50C、50E，亦可僅配置一個。在上述的各實施形態及各變形例，是針對僅配置一個內周側測量件50S的情況來說明。但是，內周側測量件50S，亦可於圓周方向複數並排設置。 在上述的各實施形態及各變形例，雖針對將內周側測量件50S予以傾斜配置的情況來說明，但亦可配置成往鉛直上方延伸，或是因應必要來改變傾斜角度。
在上述的實施形態，是針對藉由昇降機構12來使測量件單元6於上下方向位移的情況來說明，但使測量件單元6位移的方向並不限於上下方向，只要是因應輪胎T搬運時之姿勢的方向即可。
圖10，是表示本發明之實施形態之變形例之內周側測量件的圖。 在上述的實施形態，是針對內周側測量件50S與外周側測量件50A、50B、50C、50E之中，只有外周側測量件50A、50B、50C、50E可因應輪胎T的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形的情況來說明。 但是，如圖10所示之變形例的內周側測量件50S那般，亦可構成為與上述的外周側測量件50A、50B、50C、50E相同的構造，亦即可因應輪胎T的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形。
如圖10所示般，該變形例的內周側測量件50S，對於輪胎T於徑方向Dr的外側Dro相對移動，藉此抵接於形成在輪胎T之內周部的胎緣部71。該內周側測量件50S，具備支撐構件51S與變形部52S。變形部52S，具備彈性變形體53S與導電部54S。支撐構件51S，是與上述之各實施形態的支撐構件51之任一者相同地構成。變形部52S，是與上述之各實施形態的變形部52、52B、52C、52E之任一者相同地構成。
如上述般，實施形態之變形例的內周側測量件50S，可因應胎緣部71的凹凸形狀來在徑方向Dr追隨變形，且在至少與胎緣部71接觸的面具有導電性。因此，可對於露出於胎緣部71的導通部100S，使內周側測量件50S的導電部54S穩定地接觸。 [產業上的可利用性]
根據上述之輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件，可提升輪胎之電阻測量的可靠性。
1:電阻測量裝置 2:輥式輸送帶 3:輥 4:側胎壁 6:測量件單元 8:地板 9:架台 10:腳部 11:橫樑 12:昇降機構 13:基座部 14:上部支撐板 15:下部支撐板 16:導引棒 17:導引部 18:導引筒 19:框架部 20:支撐臂 21:流體壓缸 22:外管 23:內桿 29:基座板 30:導引棒 31:框體 32:第一滑動部 33:第二滑動部 34:測量件用流體壓缸 35:內桿 36:外管 42:第一支撐配件 47:第二支撐配件 50A,50B,50C,50E:外周側測量件(電阻測量件) 50S:內周側測量件 51:支撐構件 51a:基部 51b:側壁部 52,52B,52C,52E:變形部 52k:小螺絲 53,55:彈性變形體(按壓部) 53a:基面 53b:側面 53c:前端面 54,54B:導電部(從動位移部) 54E:導電部 54c:線圈彈簧 54t:帶狀構件 56:從動位移部 56h:保持構件 56p:導電銷(進退構件) 60:電阻測量器 70:胎面部 71:胎緣部 73:凹部 75:最大外徑部 100:低電阻部 C:中央部 Dr:徑方向 Dri:內側 Dro:外側 Dw:寬方向 P:按壓力 S:胎肩部 T:輪胎 W1:配線 W2:配線 i:絕緣構件
[圖1]，是表示本發明之第一實施形態之電阻測量裝置之概略構造的構造圖。 [圖2]，是表示上述電阻測量裝置之主要部的部分剖面圖。 [圖3]，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件、內周側測量件之配置的俯視圖。 [圖4]，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件的側視圖。 [圖5]，是表示上述電阻測量裝置之外周側測量件的圖，為圖4的A-A箭頭視角的剖面圖。 [圖6]，是表示將上述電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之外周面之狀態的剖面圖。 [圖7]，是表示將本發明之第一實施形態之變形例之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 [圖8]，是表示將本發明之第二實施形態之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 [圖9]，是表示將本發明之第三實施形態之電阻測量裝置之外周側測量件按壓於輪胎之胎面部之狀態的剖面圖。 [圖10]，是表示本發明之實施形態之變形例之內周側測量件的圖。
1:電阻測量裝置
2:輥式輸送帶
3:輥
4:側胎壁
6:測量件單元
8:地板
9:架台
10:腳部
11:橫樑
12:昇降機構
13:基座部
14:上部支撐板
15:下部支撐板
16:導引棒
17:導引部
18:導引筒
19:框架部
20:支撐臂
21:流體壓缸
22:外管
23:內桿
29:基座板
30:導引棒
31:框體
32:第一滑動部
33:第二滑動部
34:測量件用流體壓缸
35:內桿
36:外管
47:第二支撐配件
50A,50B,50C,50E:外周側測量件(電阻測量件)
50S:內周側測量件
T:輪胎

Claims (8)

  1. 一種輪胎的電阻測量裝置，具備：內周側測量件，其配置在輪胎的內周側，可接觸於前述輪胎的內周部；以及外周側測量件，其配置於前述輪胎的外周側，對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動，藉此可接觸於前述輪胎的胎面部，前述外周側測量件，於前述輪胎的寬方向延伸，可因應前述寬方向之前述胎面部的凹凸形狀來在前述徑方向追隨變形，且至少在與前述胎面部接觸的面具有導電性，前述外周側測量件，在對於前述輪胎來在前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，是在前述輪胎之寬方向中間部進入至比前述輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。
  2. 如請求項1所述之輪胎的電阻測量裝置，其進一步具備：支撐構件，其具有比前述外周側測量件還高的剛性，且對於前述外周側測量件在前述輪胎的徑方向外側於前述寬方向延伸，來支撐前述外周側測量件。
  3. 如請求項1所述之輪胎的電阻測量裝置，其中，前述外周側測量件，具備：從動位移部，其在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況，是因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來往前述徑方向外側位移；以及 按壓部，將前述從動位移部往前述輪胎的徑方向內側按壓。
  4. 如請求項3所述之輪胎的電阻測量裝置，其中，前述從動位移部，是於前述寬方向延伸，且具有可撓性及導電性的帶狀構件。
  5. 如請求項3所述之輪胎的電阻測量裝置，其中，前述從動位移部，是在前述寬方向空出間隔來複數設置，且設置成可各自於前述徑方向進退的進退構件。
  6. 如請求項3所述之輪胎的電阻測量裝置，其中，前述按壓部，形成為在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，可因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來朝向前述徑方向外側彈性變形地壓縮。
  7. 如請求項1所述之輪胎的電阻測量裝置，其中，前述外周側測量件，在對於前述輪胎於前述輪胎之徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，因應前述輪胎之胎面部的凹凸形狀來朝向前述徑方向外側彈性變形，且具有導電性。
  8. 一種電阻測量件，於輪胎的寬方向延伸，在對於前述輪胎於前述輪胎的徑方向相對移動藉此接觸於前述輪胎的情況時，可因應前述寬方向之前述輪胎的凹凸形狀來在前述輪胎的徑方向追隨變形，且至少在與前述輪胎接觸的面具有導電性，在對於前述輪胎來在前述輪胎的徑方向相對移動藉此 接觸於前述輪胎之胎面部的情況時，是在前述輪胎之寬方向中間部進入至比前述輪胎之最大外徑部還往徑方向內側凹陷的凹部。
TW108145915A 2019-05-20 2019-12-16 輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件 TWI784221B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
WOPCT/JP2019/019890 2019-05-20
PCT/JP2019/019890 WO2020234959A1 (ja) 2019-05-20 2019-05-20 タイヤの電気抵抗測定装置、電気抵抗測定子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202043069A TW202043069A (zh) 2020-12-01
TWI784221B true TWI784221B (zh) 2022-11-21

Family

ID=73459230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW108145915A TWI784221B (zh) 2019-05-20 2019-12-16 輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20220229002A1 (zh)
JP (1) JP7202458B2 (zh)
TW (1) TWI784221B (zh)
WO (1) WO2020234959A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113366295B (zh) * 2018-12-13 2024-06-18 倍耐力轮胎股份公司 用于检查车辆车轮用轮胎的电导率的方法和装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201541072A (zh) * 2014-04-22 2015-11-01 三菱重工機械科技股份有限公司 輪胎之電阻測定裝置
CN109716096A (zh) * 2016-09-20 2019-05-03 株式会社神户制钢所 轮胎的滚动阻力评价装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5943810B2 (ja) * 1981-09-16 1984-10-24 ウシオ電機株式会社 ウエハ−上のアモルファスシリコンもしくは多結晶シリコンをエピタキシアル成長させる方法
US4422035A (en) * 1981-12-11 1983-12-20 Extrude Hone Corporation Capacitance measurement probe
JPH0921827A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Sony Corp 抵抗測定装置
JP4150108B2 (ja) * 1998-06-24 2008-09-17 住友ゴム工業株式会社 タイヤ電気抵抗測定器
ITTO20010389A1 (it) 2001-04-20 2002-10-20 Bridgestone Firestone Tech Impianto e metodo per la produzione di pmeumatici con controllo in linea della conducibilita' elettrica.
JP2006038760A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Toshiba Corp 表面抵抗率計測用プローブ及び表面抵抗率の計測方法
JP2006118983A (ja) 2004-10-21 2006-05-11 Sharp Corp 太陽電池セルの測定治具
JP4585307B2 (ja) * 2004-12-24 2010-11-24 住友ゴム工業株式会社 自動二輪車用タイヤの製造方法
JP2006317380A (ja) * 2005-05-16 2006-11-24 Bridgestone Corp タイヤ用電気抵抗測定装置及びその方法
JP5083512B2 (ja) 2007-03-29 2012-11-28 横浜ゴム株式会社 タイヤの電気抵抗測定方法及びその装置
JP5943810B2 (ja) 2012-10-31 2016-07-05 三菱重工マシナリーテクノロジー株式会社 タイヤの電気抵抗測定装置
JP5946424B2 (ja) * 2013-05-01 2016-07-06 株式会社神戸製鋼所 タイヤ試験機
WO2016003435A1 (en) * 2014-06-30 2016-01-07 Compagnie Generale Des Etablissements Michelin Variable-width sipe for tire tread and tire
JP6600549B2 (ja) 2015-12-15 2019-10-30 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 電気抵抗測定装置及び電気抵抗測定方法
JP6768441B2 (ja) * 2016-10-11 2020-10-14 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 空気入りタイヤ
JP7081999B2 (ja) * 2018-06-29 2022-06-07 Ｔｏｙｏ Ｔｉｒｅ株式会社 空気入りタイヤ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201541072A (zh) * 2014-04-22 2015-11-01 三菱重工機械科技股份有限公司 輪胎之電阻測定裝置
CN109716096A (zh) * 2016-09-20 2019-05-03 株式会社神户制钢所 轮胎的滚动阻力评价装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2020234959A1 (zh) 2020-11-26
TW202043069A (zh) 2020-12-01
US20220229002A1 (en) 2022-07-21
JP7202458B2 (ja) 2023-01-11
WO2020234959A1 (ja) 2020-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5943810B2 (ja) タイヤの電気抵抗測定装置
TWI784221B (zh) 輪胎的電阻測量裝置、電阻測量件
TWI642922B (zh) 輪胎特性值量測裝置及輪胎特性值量測系統
ITTO20010389A1 (it) Impianto e metodo per la produzione di pmeumatici con controllo in linea della conducibilita' elettrica.
MXPA02003823A (es) Aparato probador de llantas de alto voltaje.
US11105604B2 (en) Method and apparatus of measuring axial clearance of ball screw device, and methods of manufacturing ball screw device, vehicle, and mechanical device
TWI470200B (zh) 輪胎檢測裝置
US11733268B2 (en) Probe pin inspection mechanism and inspection apparatus
CN113167756B (zh) 用于检查用于车辆车轮的轮胎的电导率的方法和设备
JP7310430B2 (ja) 探傷装置
TWI530675B (zh) 輪胎之電阻測定裝置
TW201825900A (zh) 檢測裝置
JP7278688B2 (ja) タイヤの電気抵抗測定装置
JP2021109409A (ja) 未加硫のゴム部材の接合装置および方法
CN219852862U (zh) 防爆片焊接装置
CN213985948U (zh) 产品寿命自动检测装置
KR101975386B1 (ko) 관성 이동체를 구비한 제품용 검사 장치 및 이를 이용한 관성 이동체를 구비한 제품의 검사 방법
CN108955533A (zh) 组装机用的高度检查装置及组装机
JP2017043466A (ja) エレベータのギャップ寸法調整装置、及び調整方法
JP2017116299A (ja) ゴム部材の測定装置および測定方法
JP6372289B2 (ja) ビード部材の搬送方法および装置
CN217465776U (zh) 电池外壳尺寸检测设备
JP2005308602A (ja) 板厚測定装置
US20230148100A1 (en) Fixtures for testing elasticity of drug delivery members and related methods
CN121067719A (zh) 轻触式传感器