TWI410650B - 轉接板 - Google Patents
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Description
本發明係關於一種轉接板。
一般印刷電路板在完成佈線後或將電子零件組裝後,為確定每條線路均可正常導通,通常必須予以測試,或將各電子元件固定於印刷電路板後,進行訊號測試。IC晶片亦需要對其各個引腳進行測試,以確定其每個引腳是否能正常工作。
圖1為習知之一種測試用轉接板,其包括一輸入連接器10及一輸出模塊20,該輸入連接器10為一24Pin DSUB(針線纜頭)連接器,該輸出模塊20包括兩組訊號輸出端CN1及CN2,該兩組訊號輸出端CN1及CN2均包括12個訊號輸出端子,該DSUB連接器之每一引腳分別作為一訊號輸入端子對應連接一訊號輸出端子。在對印刷電路板進行測試時,通常將其線路藉由一連接器連接至該24Pin DSUB連接器,並對該印刷電路板輸入一測試訊號,之後逐一檢測24個訊號輸出端子之訊號即可得知被測印刷電路板之線路是否可以正常導通。
如果該轉接板中某段連接線斷損或某個訊號輸出端子因外力等因素失效時,則需要對該轉接板進行維修或者更換轉接板並重新配線,如是既浪費成本又浪費時間。
鑒於以上內容,有必要提供一種可方便地將失效訊號輸出端子之訊號轉移到其他正常工作之訊號輸出端子之轉接板,以正確量測每條線路或每個引腳是否正常輸出訊號。
一種轉接板,包括複數訊號輸入端子、複數與該等訊號輸入端子一一對應相連之訊號輸出端子、複數跳線連接器及一備用訊號輸出端子,其中每一訊號輸入端子均對應與一跳線連接器之第一端相連,該等跳線連接器之第二端均與該備用訊號輸出端子相連。
相較習知技術,前述轉接板可以在當其某段連接線斷損或某個訊號輸出端子因外力等因素失效時,將跳線連接器之兩端連接起來,從而將失效訊號輸出端子之訊號轉接到備用訊號輸出端子。該轉接板在習知之轉接板上僅需增加跳線連接器和備用訊號輸出端子即可,成本低,且可節省時間與成本。
100‧‧‧輸入連接器
200‧‧‧輸出模塊
OUT1-OUT24‧‧‧訊號輸出端子
JP1-JP24‧‧‧跳線連接器
RO1-RO6‧‧‧備用訊號輸出端子
圖1係習知之一種測試用轉接板之結構示意圖。
圖2係本發明轉接板之較佳實施方式之結構示意圖。
圖3係圖2中上層板之內部線路圖。
圖4係圖2中下層板之內部線路圖。
請一併參閱圖2至圖4,本發明轉接板之較佳實施方式包括一輸入連接器100、一輸出模塊200及24個跳線連接器JP1-JP24,該輸入連接器100包括24個訊號輸入端子IN1-IN24,該輸入連接器100可
以為一24Pin DSUB連接器,也可以為其他類型連接器,該輸出模塊200包括24個訊號輸出端子OUT1-OUT24及6個備用訊號輸出端子RO1-RO6,該24個訊號輸出端子OUT1-OUT24分為兩組訊號輸出端CN1及CN2,其中該兩組訊號輸出端CN1及CN2均包括12個訊號輸出端子,該6個備用訊號輸出端子RO1-RO6分為兩組備用訊號輸出端RCN1及RCN2,其中該兩組備用訊號輸出端RCN1及RCN2均包括3個備用訊號輸出端子。本實施方式僅以含24個訊號輸入端子IN1-IN24為例進行說明,其他含有不同數量訊號輸入端子之轉接板可按本實施方式進行設計。
圖3及圖4為圖2之內部線路圖。該轉接板包含上下兩層板,其中圖3為上層板之內部線路圖,圖4為下層板之內部線路圖。
上層板中,該24個訊號輸入端子IN1-IN24以一對一之方式藉由連接線連接至該24個訊號輸出端子OUT1-OUT24。
下層板中,該24個跳線連接器JP1-JP24之一端分別對應與該24個訊號輸入端子IN1-IN24相連,第一、第二、第三及第四跳線連接器JP1-JP4之另一端均與第一備用訊號輸出端子RO1相連,第五、第六、第七及第八跳線連接器JP5-JP8之另一端均與第二備用訊號輸出端子RO2相連,依次類推,即每四個跳線連接器之另一端對應與一備用訊號輸出端子相連。
測試時,若發現該轉接板之訊號輸入端子IN1與訊號輸出端子OUT1之間之連接線有斷損或者該訊號輸出端子OUT1有損壞,用戶可直接將跳線連接器JP1之兩端連接起來,使得訊號輸入端子IN1
與備用訊號輸出端子RO1相連接,即將由訊號輸出端子OUT1輸出之訊號改由備用訊號輸出端子RO1輸出,使得用戶不用對整個轉接板進行維修或者更換,節省了時間及成本,其他訊號輸端子與訊號輸出端子之間之連接線有斷損或者其他訊號輸出端子有損壞時,以同樣方法處理即可。
其中,前述轉接板之訊號輸入端子、訊號輸出端子、備用訊號輸出端子及跳線連接器之數量均可根據設計者之需要來改變,只要滿足該訊號輸入端子之數量、該訊號輸出端子之數量及該跳線連接器之數量相等即可。比如在前述實施例中,可只採用一個備用訊號輸出端子RO1,將該24個跳線連接器JP1-JP24之第一端均對應與該24個訊號輸入端子相連,該24個跳線連接器JP1-JP24之第二端均與該備用訊號輸出端子RO1相連即可,此時則只有當該轉接板僅有一條連接線斷損或者僅有一個訊號輸出端子失效時,可不需要更換轉接板來完成測試。同時,也可採用24個備用訊號輸出端子RO1-RO24,將該24個跳線連接器JP1-JP24之第一端均對應與該24個訊號輸入端子相連,第二端均對應與該24個備用訊號輸出端子RO1-RO24相連即可,此時則不論該轉接板有多少條連接線斷損或者有多少個訊號輸出端子失效,均可以不用更換轉接板即能完成測試。如果設計者考慮到成本且該轉接板不會同時有多條連接線斷損或多個訊號輸出端子失效,則可採用較少備用訊號輸出端子;相反,則可以使用較多備用訊號輸出端子。
前述轉接板可以在其某段連接線斷損或其某個訊號輸出端子因外力及其他因素失效時,藉由一跳線帽將跳線連接器之兩端連接起
來,即可以將與該失效之訊號輸出端子相連之訊號輸入端子與備用訊號輸出端子相連,從而將失效之訊號輸出端子之訊號轉接到備用訊號輸出端子。本發明轉接板在習知之測試用轉接板上僅需增加跳線連接器及備用訊號輸出端子即可,成本低,且可節省時間及成本。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施例,舉凡熟悉本案技藝之人士,在爰依本發明精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
100‧‧‧輸入連接器
200‧‧‧輸出模塊
OUT1-OUT24‧‧‧訊號輸出端子
JP1-JP24‧‧‧跳線連接器
RO1-RO6‧‧‧備用訊號輸出端子
Claims (4)
- 一種轉接板,包括複數訊號輸入端子及複數與該等訊號輸入端子一一對應相連之訊號輸出端子,其改良在於:其還包括複數跳線連接器及一備用訊號輸出端子,其中每一訊號輸入端子均對應與一跳線連接器之第一端相連,該等跳線連接器之第二端均與該備用訊號輸出端子相連,該轉接板由兩層板構成,該等訊號輸入端子與該等訊號輸出端子之間之連接線佈置於上層板中,該等跳線連接器與該等訊號輸入端子及該備用訊號輸出端子之間之連接線佈置於下層板中。
- 一種轉接板,包括複數訊號輸入端子及複數與該等訊號輸入端子一一對應相連之訊號輸出端子,其改良在於:其還包括複數跳線連接器及複數備用訊號輸出端子,其中每一訊號輸入端子均對應與一跳線連接器之第一端相連,每一備用訊號輸出端子與至少一跳線連接器之第二端相連,該轉接板由兩層板構成,該等訊號輸入端子與该等訊號輸出端子之間之連接線佈置於上層板中,該等跳線連接器與該等訊號輸入端子及該等備用訊號輸出端子之間之連接線佈置於下層板中。
- 如申請專利範圍第2項所述之轉接板,其中該訊號輸入端子為一DSUB連接器之訊號引腳。
- 如申請專利範圍第2項所述之轉接板,其中該跳線連接器之兩端係透過一跳線帽相互連接。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW96142392A TWI410650B (zh) | 2007-11-09 | 2007-11-09 | 轉接板 |
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|---|---|---|---|
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Publications (2)
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| TW200921123A TW200921123A (en) | 2009-05-16 |
| TWI410650B true TWI410650B (zh) | 2013-10-01 |
Family
ID=44727732
Family Applications (1)
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| TW96142392A TWI410650B (zh) | 2007-11-09 | 2007-11-09 | 轉接板 |
Country Status (1)
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Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4471169A (en) * | 1977-12-27 | 1984-09-11 | Stromberg-Carlson Corporation | Arrangement of interactive telephone switching processors and associated port data storage means |
| TW201301B (zh) * | 1991-06-20 | 1993-03-01 | Pfizer | |
| TW200736620A (en) * | 2005-12-29 | 2007-10-01 | Phicom Corp | Substrate of probe card and method for regenerating thereof |
-
2007
- 2007-11-09 TW TW96142392A patent/TWI410650B/zh not_active IP Right Cessation
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| TW200736620A (en) * | 2005-12-29 | 2007-10-01 | Phicom Corp | Substrate of probe card and method for regenerating thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| TW200921123A (en) | 2009-05-16 |
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