TWI450089B - 主機板多硬碟埠測試系統及方法 - Google Patents

Description

主機板多硬碟埠測試系統及方法

本發明涉及一種主機板多硬碟埠測試系統及方法。

主機板在裝配完成後，需經過全面的功能測試，其中包括對主機板上各種埠的測試。目前主機板上一般都有多個SATA/SAS（SATA：Serial Advanced Technology Attachment，串列高級技術附件，SAS：Serial Attached SCSI，串列連接SCSI介面）硬碟埠，經過PCI-E（PCI Express）擴展卡擴展後更是達數十個埠，而網路儲存裝置的硬碟埠更多。測試這些埠的一般做法是測試人員將所有硬碟埠都接上硬碟進行功能測試。如果每個硬碟埠都用硬碟作為測試設備的話，一是由於硬碟的價格一般較高，二是硬碟作為測試設備體積大不便於維護，三是損耗大，四是硬碟容易受到震動而影響測試效果。同時，測試人員如果對埠進行逐個測試，則需每測試完一個埠後又重新插拔硬碟，並且還要重新啟動測試程式，在大規模生產應用時會造成成本和時間的浪費。

鑒於上述內容，有必要提供一種主機板多硬碟埠測試系統及方法。

所述主機板多硬碟埠測試系統，該系統用於測試待測主機板的多個硬碟埠，所述待測主機板的多個硬碟埠與一個測試裝置的多個硬碟埠相連接，該測試裝置還包括MUX（Multiplexer，多工器）晶片、儲存設備及指示裝置，該系統包括：切換通道模組，用於將待測主機板的待測埠號翻譯成MUX晶片對應的通道號，以切換MUX晶片中與該通道號相對應的通道與儲存設備相連，形成一條從待測主機板至儲存設備的資料傳輸路徑；寫校驗資料模組，當儲存設備與MUX晶片連接好後，通過上述資料傳輸路徑，將校驗資料寫入儲存設備；讀校驗資料模組，用於從儲存設備中經由上述資料傳輸路徑，將所述寫入的校驗資料讀出至待測主機板；驗證模組，用於驗證上述寫入及讀出的的校驗資料是否一致；發送模組，用於當寫入和讀出的校驗資料不一致時，通過I/O埠向MUX晶片發送待測埠異常的資訊，該MUX晶片根據該資訊驅動指示裝置顯示待測埠異常的資訊；該發送模組還用於當寫入和讀出的校驗資料一致時，通過I/O埠向MUX晶片發送待測埠正常的資訊，該MUX晶片根據該資訊驅動指示裝置顯示待測埠正常的資訊；擦除資料模組，當所寫入及讀出的校驗資料一致時，擦除儲存設備中寫入的校驗資料。

一種主機板多硬碟埠測試方法，包括以下步驟：（a）從待測主機板的多硬碟埠中選擇一個待測埠，並將其埠號翻譯成測試裝置中MUX晶片對應的通道號；（b）MUX晶片切換與該通道號對應的通道與測試裝置的儲存設備相連，形成一條從待測主機板至儲存設備的資料傳輸路徑；（c）當儲存設備與MUX晶片連接好後，MUX晶片驅動指示裝置顯示該待測埠的埠號；（d）待測主機板經由上述資料傳輸路徑向儲存設備寫入校驗資料並儲存；（e）待測主機板經由上述資料傳輸路徑從儲存設備中讀出校驗資料；（f）當寫入與讀出的校驗資料不一致時，結束測試；（g）當寫入與讀出的校驗資料一致時，擦除寫入儲存設備的校驗資料；（h）當待測主機板還有未測試的硬碟埠時，返回步驟（a），當該待測主機板的所有硬碟埠測試完畢時，通過指示裝置顯示待測主機板測試成功的資訊。

相較於習知技術，本發明可一次自動測試主機板所有的SATA/SAS硬碟埠，不會因硬碟在測試中受到震動而影響測試效果，節約測試的成本和時間。

如圖1所示，係本發明主機板多硬碟埠測試系統較佳實施例的架構圖。該主機板多硬碟埠測試系統10運行於主機1上，主機1中待測主機板11與測試裝置2相連接。所述測試裝置2包括一MUX晶片21、一儲存設備22、一I/O埠25、一I/O埠轉換模組24、一指示裝置23及至少含有一個SATA/SAS埠的SATA/SAS埠組20。所述指示裝置23由MUX晶片21驅動。其中，SATA/SAS埠組20中的每個埠都按排列順序有相應的編號，在圖中以6個埠為例；MUX晶片21的通道數可根據實際需要測試的埠數而定制，且晶片通道按排列順序也有相應的編號。

如圖2所示，係待測主機板與測試裝置硬碟埠的連接方式示意圖。待測主機板11的SATA/SAS埠組12中的所有埠（埠也按順序有相應的編號，圖中以6個埠為例）與該測試裝置2的SATA/SAS埠組20中的埠相連，連接方式為埠號一一對應，例如，待測主機板11的埠A1與測試裝置2的埠B1相連，待測主機板11的埠A2與測試裝置2的埠B2相連，依此類推。所述測試裝置2的SATA/SAS埠組20中的埠與所述MUX晶片21的通道（圖中以6條通道為例）相連，連接方式為埠號與通道號一一對應，如測試裝置2的埠C1與MUX晶片21的通道D1相連，測試裝置2的埠C2與MUX晶片21的通道D2相連，依此類推。MUX晶片21連接至所述儲存設備22。

如圖1和圖2所示，主機板多硬碟埠測試系統10從SATA/SAS埠組12中選擇待測試的埠號，並將該埠號翻譯成MUX晶片21對應的通道號，再將該通道號經待測主機板11的I/O埠13和所述測試裝置2的I/O埠25傳送到I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將所接收到的通道號轉換成所述MUX晶片21的控制信號，如I2C（Inter－Integrated Circuit，兩線式串列匯流排）或SPI（Serial Peripheral Interface，串列外設介面)信號，以切換MUX晶片21的通道與儲存設備22相連接，形成一條從待測主機板11傳送資料到儲存設備22的資料傳輸路徑。

主機板多硬碟埠測試系統10將校驗資料經上述所選擇的埠號及MUX晶片21的通道儲存在儲存設備22中。該儲存設備22相當於一個硬碟用於儲存校驗資料，其可以是SSD（Solid，固態硬碟）或HDD（Hard Disk Drive，硬碟驅動器）。

MUX晶片21的控制信號在切換通道成功後，控制所述的指示裝置23指示當前正在測試的埠號，並根據主機板多硬碟埠測試系統10對校驗資料的驗證結果指示當前正在測試的埠是否正常，還可以控制指示裝置23顯示全部埠都測試完畢的資訊。在本實施例中，該指示裝置23可以是七段LED（Light Emitting Diode，發光二極體）數位管，通過顯示的數值指示正在測試的埠號，例如，顯示數值閃爍則指示當前正在測試的埠異常，顯示數值穩定指示埠正常，再如顯示“∟”或其它非數值記號表示全部埠已測試完畢。

如圖3所示，是本發明主機板多硬碟埠測試系統的功能模組圖。所述主機板多硬碟埠測試系統10包括：切換通道模組101、檢測通道模組102、寫校驗資料模組103、讀校驗資料模組104、驗證模組105、發送模組106、擦除資料模組107。

切換通道模組101用於切換與待測埠相連的MUX晶片21的相應通道與儲存設備22連接。在本實施例中，該切換通道模組101將從SATA/SAS埠組12中所選擇的待測埠號翻譯成MUX晶片21對應的通道號，經由待測主機板11的I/O埠13及測試裝置2的I/O埠25將該通道號傳送到所述I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將該通道號轉換成所述MUX晶片21的控制信號，如I2C或SPI控制信號，以控制MUX晶片21切換該通道與儲存設備22連接。從而形成一條從待測主機板11到儲存設備22的資料傳輸路徑。

檢測通道模組102用於檢測測試裝置2的儲存設備22是否連接好，在本較佳實施例中，若已連接好則主機1會指示多一個可移動磁片，繼續測試；若未連接好，則主機1無任何指示，測試失敗。在其它實施例中，可用其它方式表示該儲存設備22是否與MUX晶片21連接好。當儲存設備22與MUX晶片21連接好後，該MUX晶片21驅動指示裝置23顯示該當前正在測試的埠號。

寫校驗資料模組103用於向儲存設備22發送一寫入命令，所述寫入命令通過上述形成的資料傳輸路徑，也即從SATA/SAS埠組12所選擇的一個待測埠以及對應的測試裝置2的SATA/SAS埠，再經由MUX晶片21切換後的通道，將校驗資料傳送至所述儲存設備22並儲存。

讀校驗資料模組104用於向儲存設備22發送一讀出命令以讀出剛剛寫入儲存設備22的校驗資料，該讀出命令通過上述資料傳輸路徑將校驗資料從儲存設備22中讀出。

驗證模組105通過比對從儲存設備22中讀出的校驗資料與寫入儲存設備22的校驗資料是否一致來驗證待測埠是否正常。

發送模組106用於向MUX晶片21發送當前正在測試的埠正常或異常的資訊。在本實施例中，當驗證模組105驗證寫入與讀出的校驗資料一致時，該發送模組106通過I/O埠13和I/O埠25，傳送當前測試埠正常的資訊至I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將資訊轉換成所述MUX晶片21的控制信號以控制MUX晶片21驅動指示裝置23將當前正在測試的埠號穩定顯示來指示當前測試埠正常。反之，當驗證模組105驗證寫入與讀出的校驗資料不一致時，該發送模組106傳送該當前測試埠異常的資訊至I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將該資訊轉換成所述MUX晶片21的控制信號，以驅動指示裝置23將當前正在測試的埠號閃爍顯示來指示當前測試埠異常。當切換通道模組101已切換過所有的MUX晶片21的通道後，發送模組106通過上述待測主機板11的I/O埠13和測試裝置2的I/O埠25，發送一個結束信號至I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將該結束信號轉換成所述MUX晶片21的控制信號，控制MUX晶片21驅動指示裝置23顯示一個非數值記號如“∟”符號表示全部埠已測試完畢。

擦除資料模組107用於擦除儲存設備22中的校驗資料。當驗證模組105驗證寫入與讀出的校驗資料一致時，即當前測試埠功能正常後，擦除資料模組107發送一刪除命令，擦除儲存設備22中寫入及儲存的校驗資料。

如圖4所示，係本發明主機板多硬碟埠測試方法較佳實施例的流程圖。

步驟S201，切換通道模組101從待測主機板11的SATA/SAS埠組12中選擇一個待測試埠，該切換通道模組101將該待測試埠號翻譯成MUX晶片21對應的通道號，再經由待測主機板11的I/O埠13及測試裝置2的I/O埠25將該通道號傳送到所述I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將該通道號轉換成所述MUX晶片21的控制信號，如I2C或SPI控制信號，以切換該MUX晶片21的通道與儲存設備22連接，形成一條從待測主機板11到儲存設備22傳輸資料的路徑。

步驟S202，檢測通道模組102檢測儲存設備22與MUX晶片21是否連接好。在本實施例中，若已連接好則主機指示多一個可移動磁片，進入步驟S203；若未連接好，則主機無任何指示，進入步驟S208，測試失敗。

步驟S203，MUX晶片21驅動指示裝置23顯示該待測埠的埠號。

步驟S204，寫校驗資料模組103向儲存設備22發送一寫入命令，所述寫入命令通過步驟S201形成的資料傳輸路徑向儲存設備22寫入校驗資料並儲存。

步驟S205，讀校驗資料模組104向儲存設備22發送一讀出命令，所述讀出命令，經由步驟S201形成的傳輸資料的路徑，將剛剛寫入儲存設備22的校驗資料再從該儲存設備22讀出到待測主機板11。

步驟S206，驗證模組105通過比對從儲存設備22中讀出的校驗資料與寫入儲存設備22的校驗資料是否一致來驗證該待測埠是否正常。當驗證模組105驗證寫入與讀出的校驗資料不一致，進入步驟S207；如一致，即當前所測試的埠功能正常後，進入步驟S209。

步驟S207，發送模組106將當前測試埠異常的資訊通過I/O埠13、I/O埠25，發送到I/O埠轉換模組24，I/O埠轉換模組24將該資訊轉換成所述MUX晶片21的控制信號，以驅動指示裝置23將當前正在測試的埠號閃爍顯示來指示當前測試埠異常，並進入步驟S208，表明測試失敗，結束測試。

步驟S209，發送模組106將當前測試埠正常的資訊通過I/O埠13、I/O埠25，發送到I/O埠轉換模組24，I/O埠轉換模組24將該資訊轉換成所述MUX晶片21的控制信號，以驅動指示裝置23將當前正在測試的埠號穩定顯示來指示當前測試埠正常。

步驟S210，擦除資料模組107發送一刪除命令，擦除儲存設備22中寫入及儲存的校驗資料。

步驟S211，若SATA/SAS埠組12中還有未測試的埠，則返回步驟S201，若SATA/SAS埠組12中所有的埠均測試完畢時，進入步驟S212，測試成功，發送模組106將測試完畢的資訊通過I/O埠13和I/O埠25，發送到I/O埠轉換模組24，該I/O埠轉換模組24將該資訊轉換成所述MUX晶片21的控制信號，以驅動指示裝置23指示全部埠已測試完畢的資訊。

在步驟S204中，當不能寫入校驗資料時，退出測試系統，測試失敗。

在步驟S205中，當不能讀出校驗資料時，退出測試系統，測試失敗。

在步驟S210中，當不能擦除校驗資料時，退出測試系統，測試失敗。

最後應說明的是，以上實施方式僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照較佳實施方式對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。

1．．．主機

11．．．待測主機板

12，20．．．SATA/SAS埠組

13，25．．．I/O埠

2．．．測試裝置

21．．．MUX晶片

22．．．儲存設備

23．．．指示裝置

24．．．I/O埠轉換模組

10．．．主機板多硬碟埠測試系統

101．．．切換通道模組

102．．．檢測通道模組

103．．．寫校驗資料模組

104．．．讀校驗資料模組

105．．．驗證模組

106．．．發送模組

107．．．擦除資料模組

圖1係為本發明主機板多硬碟埠測試系統較佳實施例的架構圖。

圖2係為待測主機板與測試裝置硬碟埠的連接方式示意圖。

圖3係為本發明主機板多硬碟埠測試系統的功能模組圖。

圖4係為本發明主機板多硬碟埠測試方法較佳實施例的流程圖。

10．．．主機板多硬碟埠測試系統

101．．．切換通道模組

102．．．檢測通道模組

103．．．寫校驗資料模組

104．．．讀校驗資料模組

105．．．驗證模組

106．．．發送模組

107．．．擦除資料模組

Claims (10)

1. 一種主機板多硬碟埠測試系統，用於測試待測主機板的多個硬碟埠，所述待測主機板的多個硬碟埠與一個測試裝置的多個硬碟埠相連接，該測試裝置還包括MUX晶片、儲存設備及指示裝置，該系統包括：
   切換通道模組，用於將待測主機板的待測埠號翻譯成MUX晶片對應的通道號，以切換MUX晶片中與該通道號相對應的通道與儲存設備相連，形成一條從待測主機板至儲存設備的資料傳輸路徑；
   寫校驗資料模組，當儲存設備與MUX晶片連接好後，通過上述資料傳輸路徑，將校驗資料寫入儲存設備；
   讀校驗資料模組，用於從儲存設備中經由上述資料傳輸路徑，將所述寫入的校驗資料讀出至待測主機板；
   驗證模組，用於驗證上述寫入及讀出的的校驗資料是否一致；
   發送模組，用於當寫入和讀出的校驗資料不一致時，通過I/O埠向MUX晶片發送待測埠異常的資訊，該MUX晶片根據該資訊驅動指示裝置顯示待測埠異常的資訊；
   該發送模組還用於當寫入和讀出的校驗資料一致時，通過I/O埠向MUX晶片發送待測埠正常的資訊，該MUX晶片根據該資訊驅動指示裝置顯示待測埠正常的資訊；及
   擦除資料模組，當所寫入及讀出的校驗資料一致時，擦除儲存設備中寫入的校驗資料。
2. 如申請專利範圍第1項所述的主機板多硬碟埠測試系統，所述MUX晶片在與儲存設備連接好後，該MUX晶片驅動提示裝置顯示當前的待測埠號。
3. 如申請專利範圍第1項所述的主機板多硬碟埠測試系統，所述測試裝置還包括一個I/O埠轉換模組，該I/O埠轉換模組從待測主機板的I/O埠接收翻譯的通道號，並將該通道號轉換成所述MUX晶片的控制信號，MUX晶片根據該控制信號切換通道。
4. 如申請專利範圍第3項所述的主機板多硬碟埠測試系統，所述發送模組還用於，當該待測主機板的硬碟埠均測試完畢時，通過I/O埠向MUX晶片發送測試完畢的資訊，所述I/O埠轉換模組將該資訊轉換成MUX晶片的控制信號，MUX晶片根據該控制信號驅動指示裝置顯示測試完畢的資訊。
5. 如申請專利範圍第1項所述的主機板多硬碟埠測試系統，所述儲存設備是一個固態硬碟或是一個硬碟驅動器。
6. 一種主機板多硬碟埠測試方法，該方法包括以下步驟：
   （a）從待測主機板的多硬碟埠中選擇一個待測埠，並將其埠號翻譯成測試裝置中MUX晶片對應的通道號；
   （b）MUX晶片切換該通道號對應的通道與測試裝置的儲存設備相連，形成一條從待測主機板至儲存設備的資料傳輸路徑；
   （c）當儲存設備與MUX晶片連接好後，MUX晶片驅動指示裝置顯示該待測埠的埠號；
   （d）待測主機板經由上述資料傳輸路徑向儲存設備寫入校驗資料並儲存；
   （e）待測主機板經由上述資料傳輸路徑從儲存設備中讀出校驗資料；
   （f）當寫入與讀出的校驗資料不一致時，結束測試；或者
   （g）當寫入與讀出的校驗資料一致時，擦除寫入儲存設備的校驗資料；
   （h）當待測主機板還有未測試的硬碟埠時，返回步驟（a），或者，當該待測主機板的所有硬碟埠測試完畢時，通過指示裝置顯示待測主機板測試成功的資訊。
7. 如申請專利範圍第6項所述的主機板多硬碟埠測試方法，該方法在步驟（a）之前還包括：
   將待測主機板的多個硬碟埠與測試裝置的多個硬碟埠一一連接。
8. 如申請專利範圍第6項所述的主機板多硬碟埠測試方法，所述步驟（b）包括：
   測試裝置的I/O埠轉換模組從待測主機板的I/O埠接收該翻譯的通道號；
   該I/O埠轉換模組將該通道號轉換成所述MUX晶片的控制信號；
   該MUX晶片根據該控制信號切換該通道號與儲存設備相連。
9. 如申請專利範圍第8項所述的主機板多硬碟埠測試方法，步驟（f）還包括：
   待測主機板發送該待測埠異常的資訊至該I/O埠轉換模組；
   該I/O埠轉換模組將該資訊轉換成MUX晶片的控制信號；
   該MUX晶片根據該控制信號驅動指示裝置顯示異常的待測埠號。
10. 如申請專利範圍第8項所述的主機板多硬碟埠測試方法，所述步驟（g）還包括：
    待測主機板發送待測埠正常的資訊至該I/O埠轉換模組；
    該I/O埠轉換模組將接收的資訊轉換成對MUX晶片的控制信號；
    MUX晶片根據控制信號驅動指示裝置顯示正常的待測埠號。