1328688 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種檢測系統及其所用之檢測板，特 別疋拓一種供檢測空板（Bare Board)或插件（p〇pulated)之電 路板所用的導接模組。 【先前技術】 一般組裝電路板之生產流程主要有表面黏著、波焊及 檢測等製程，其中檢測製程（Functi〇n Test Pr〇cess)包括内線 路檢測（In-Circuit Tester;簡稱ICT) '製造缺陷分析 (Manufacture Defect Analyzer;簡稱 MDA)與功能檢測 (Functional Test;簡稱FT)，其主要是檢測電路板在製程中 是否不良、檢測零件及設計功能等，在此檢測過程中，往 往需要大量的人力與時間，因此業界無不希望能縮短檢測 時間或簡化檢測流程來提昇檢測的效率。 參閱圖1，一主機板9具有一電路板91及一供一電子 元件（圖未示）電性連接的電連接器92，該電連接器92具有 谷至90及複數導電端子92丨。為了方便檢測起見，目前 是將一導接模組93置於在電連接器92的容室9〇内，由於 導接模組93具有與各導電端子921導接的複數導孔9〇1， 因此檢測人員只需使用一檢測儀器8之探測棒81來--對 導接模組93之導孔901作檢測，即可得知主機板9是否有 開路/短路或元件損壞。 參閱圖1、圖2及圖3，檢測用的導接模組93具有— 上表面932(如圖2)及一下表面931(如圖3)，下表面931佈 5 1328688 設有複數金屬接點920,用於對應導接電連接器92之導電 端子921，上表面932則佈設有複數檢測點93〇，用以供檢 測儀？§ 8之探測棒8ι--探測電連接器92的各導電端子 921導通與否。 但是目前使用的導接模組93具有下述缺點： 1. 如圖2所示，由於上表面932的每個檢測點93〇外 觀都相同，檢測人員難以迅速找出需要作檢測的檢測點93〇 〇 2. —些可供調整信號的檢測點，由於是隱藏在眾多的 檢測點930裡，必須仰賴檢測人員的經驗或以對照查表來 找出可供調整信號的檢測點，十分麻煩。 3. 由於檢測點930是在接觸緊固裝置（一般為鐵蓋） 的表面也有金屬鍍膜，容易在緊固裝置施加壓力時令其露 出裸銅而形成短路。 【發明内容】 有鑒於電子元件的功能多有一定的信號類別，例如可 依據傳遞信號之不同區分為電壓、位址、f料及控制的信 號類別，如果能將各檢測點分別標示出其類別，將有助於 檢測人員迅速找出需要作檢測的檢測點。 因此，本發明之一目的，即在提供一種讓檢測人員能 夠迅速找出檢測點的供檢測電路板的導接模組。 本發明之另一目的，即在提供一種讓檢測人員能夠迅 速找出檢修點的供檢測電路板的導接模組。 於是，本發明供檢測電路板的導接模組包含一板體及 6 1328688 複數個貫穿該板體之導接部，該板體具有-第—表面及一 第二表面，且各該導接部具有導通的一第—接點及一第二 接點H點係形成於該第—表面1二接點係形成: 該第一表面並與該電路板之導電路徑電性 於：該導接模組的各該第—接點可由外觀區別出 屬信號類別。
本發明供檢測電路板的導接模組的原理，是藉由依據 不同信號類別而給予各接點不同之標示，如此一來，無論 是在檢測或是檢修階段’都可以讓檢測或檢修人員能夠迅 速地找到檢測點或檢修點。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效，在 以下配合參考圖式之二個較佳實施例的詳細說明中，將可 清楚的呈現。
參閱圖4,本發明的導接模組i的第一較佳實施例係供 一主機板3作檢測，主機板3具有—電路板31及―供一電 子疋件（如.中央處理器）電性連接的電連接器32，亦即，待 測的主機板3係-設置有至少—電連接器32的電路板31。 電連接胃32是供-例如以基地格拇陣歹^ 咖An*ay)封裝的電子元件與電路板31之導電路徑彼此電 性連接，且電連接器32具有一 機構322的複數導電端子321， (圖未示）固持在電連接器32的一容室3〇内 固定機構322及埋設在固定 導接模組1是藉由緊固裝置 包含一板體10及 參閱圖4、圖5及圖6，導接模組j 7 1328688 複數個貫穿板體Π)之導㈣u，且板體1G具有一朝上的 第-表面m(如圖5)及-朝向電連接器32置放的第二表面 120(如圖6) ’各導接部u係一位於導孔内的金屬鍍膜或— 金屬導線，且金屬鍍膜用於導通形成於第一表面11〇的一第 —接點in及形成於第二表面12〇的一第二接點ιΐ2，第二 接點112並與電路板31之導電路徑電性連接。 參閱圖4及圖5，檢測人員係使用一檢測儀器2之探針 來對第一表面110之任一第一接點ln作檢測，且各第一接 點111可由外觀區別出所屬信號類別，例如可以是電源、位 址、資料或控制其中任一種信號類別，藉此可偵知電路板 3 1之導電路徑是否有短路/開路或其他損壞情況。 以一種LGA封裝的中央處理器（intel 775-land LGA Package socket)為例’其信號依其功能類別可區分為電源 (VCC，VTT，GTLREF，VCCA，VCC-IOPLL，GND)、位址 (ADDRESS)、資料（DATA)及控制（CTRL)等幾組訊號，因此 ，可將導接模組1位於第一表面110歸屬不同信號類別的各 第一接點111 (即檢測點）分別給予不同之標示。 如圖5所示，以不同形狀、文字、顏色或隔線之標示 說明如下： 1· :表明該檢測點之信號為GND信號。 2· + :表明該檢測點之信號為VCC，VTT信號，由 於VCC，VTT信號眾多，在VTT信號集中區域以 隔線劃分，並以文字” T”標示以方便區分。 3 ·_ :表明該檢測點之信號為Control信號。 8 1328688 4.春.表明該檢測點之信號為DATA或ADDRESS作 號，且在DATA信號集中區域以文字，，D”標示， 在ADDRESS信號集中區域以文字’’a”標示，並 各有隔線劃分。 參閱圖5，導接模組1更於第一表面11〇對應中央區 域規劃一重點檢測區15，且重點檢測區15具有複數檢測點 113,例如在第一表面no之中央區域將可供調整信號的檢 測點113，如VID[7:0]，BSEL[2:0]信號，之外觀設計成具有 特殊造型的外框，並將其設置在預設的位置，如此一來，檢 測人員只要將導接模組i安裝在電連接器32即可檢測 VID[7:0]，BSEL[2:0]信號’同時也可以對個別的vid[7:0]， BSEL[2:0]以開路/短路（〇pen/sh〇rt)的方式作設置調整，由於 是將可供調整信號的檢測點113都獨立出來並置放在明顯處 ，因此可容易找到，如表1所示。
Def a iult CPU CLK: 200ΗΗτ ! BSEL2 BSEL1 丨BSELO ! ' _ -0i ' 1 ! 0! '!一 ： 1.. ... 1 ! ! 1 1 Defa iult Vcore: i ! ! VR10：1. 175v VR11:1.24375v VID7 6 5 4 3! 2 1 VIDO —· 0 0 1 1 10 1 1
表1 需說明的是’對應中央處理器之固定鐵蓋區域的檢測 點113可以是於第一表面11〇表層沒有金屬鍍膜的導孔，因 此長期使用時可避免短路（sh〇rt)的問題發生β 參閱圖5及圖6’導接模組1又額外在其中央區域預留 9 1328688
十四個導孔供一具有十四接腳的電連接器（圖未示）分別將 BCLK[l：〇], RESET#, PWRGOOD, VCC, VCCA, VTT VTTPWRGD，VCCPLL，GTLREF[l:〇], MCHGTLREF 等最為 重要的k號在電連接器導出，不但能讓檢測人員迅速找出 最為常用/重要的信號，透過電連接器，也可直接通過纜線 連接外部檢測卡/檢測儀器來對此電連接器作檢測。 再參閱圖4,檢測人員檢測時，只需將導接模組丨放在 電連接器32容室30内，再使用檢測儀器2的探針來接觸 各第一接點111或檢測點1丨3即可。 參閱圖7,本發明供檢測電路板的導接模組於第二實施 例中，是使用一種用於内線路檢測（In_circuit Tester)之電路 測試系統6來測試一空板（未插件）之電路板31，，所用的導 接模組1概與第一實施例相同，因此不再贅述其構造及原 理。 電路測試系統6包括一控制主機611、一顯示裝置612 、一輸入裝置613、一檢測電路621及一檢測針床（Bed 〇f Nails)622。 參閱圖5及圖7,導接模組i的第一面11〇係朝向具有 複數彈性探針623的檢測針床622，且各第一接點及/ 或測試點113係對應與各彈性探針623導接，且導接模組^ 更由一緊固裝置（圖未示）將其固定於電路板31，上。 測試時，控制主機611係接受輸入裝置613之命令，藉 由控制檢測電路621開關的啟閉（〇N/〇FF)來對第—接點1 η 及/或測試點113 —一作測試以執行對於電路板3ι，的開路 10 (open)、短路（short)及元件（component)之檢測，最後產生— 報表顯示在顯示裝置612，讓檢測人員可依據檢測結果得知 電路板31’之導電路徑是否有問題以方便後續的檢修。 歸納上述，本發明供檢測電路板的導接模組1、丨，具有 下述優點： 1 ·將每個檢測點可 <外觀出所屬信號類別，例如 可以是電源、位址、資料或控制其中任一種信號類別，分 別以不同形狀、文字、顏色或隔線來標示，檢測或維修人 員就可以迅速找出需要作檢測的檢測點。 2.將一些可供調整信號的檢測點集中放置到重點檢測 區，檢測人員無須經驗或以對照查表來查找，就可以容易 地針對重點檢測區的檢測點來作調整。 3·由於一般導接模組的檢測點是在接觸緊固裝置（一 般為鐵蓋）的表面也有金屬鍍膜，可將該等檢測點改為在表 層沒有金屬鍍膜的導孔，因此當緊固裝置施加壓力時也不 會露出裸銅而形成短路。 4.由於維修人員就可以迅速找出需要作檢測的檢測點 ，因此可以節省檢測人員在測試或維修時量測各信號所需 的大量時間。 准以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不 能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請^利 範圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍 屬本發明專利涵蓋之範圍内。 【圖式簡單說明】