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TWI322940B - Method for manufacturing heat dissipation module - Google Patents

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TWI322940B
TWI322940B TW93124344A TW93124344A TWI322940B TW I322940 B TWI322940 B TW I322940B TW 93124344 A TW93124344 A TW 93124344A TW 93124344 A TW93124344 A TW 93124344A TW I322940 B TWI322940 B TW I322940B
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TW
Taiwan
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layer
porous
heat
heating element
porous film
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Application number
TW93124344A
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English (en)
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TW200606620A (en
Inventor
Shih Chieh Yen
Kuo Lung Lin
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority to TW93124344A priority Critical patent/TWI322940B/zh
Publication of TW200606620A publication Critical patent/TW200606620A/zh
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Description

1322940 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及一種散熱模組及其製備方法,尤其涉及一種發熱元件 與散熱器間有熱介面材料之散熱模組及其製備方法。 【先前技術】 現辦又’半導ΙΙϋ件如GPU等發熱元件之習知散熱方法主要係使 用空氣對流之冷卻方式,其中具有散熱鰭片之散熱器使用最為廣泛。 最初,散熱器與發熱元件之接觸方式多以散熱鰭片基底與發熱元 件直接接觸。1997年4月30日公告之公告號為CN2253493Y之中國大 陸專利揭示-種散熱裝置,其主要由具有風扇之散髓片製成,利用 散熱鰭片之導熱性將熱量由發熱元件帶離,並借由風扇形成空氣對 流,將熱量由散熱鰭片傳導至週邊空氣中,以提高散熱效率。 隨著半導體器件集成工藝之快速發展,半導體器件之集成化程度 越來越高,器件體積變得越來越,】、、産生之熱量愈來愈多,對散熱之 要求亦越來越高。由於散熱H之賴則基底與賴元件細介面不 平整,一般相互接觸面積不到2%,未有一個理想之接觸介面,從根本 上影響發熱元件向散熱錯片傳遞熱量之效果。2〇〇2年12月25日公告 之公告號為CN1097220C之中國大陸專利即提供一種散熱體組合件,二 散熱籍片基底與發熱元件之間增加—層熱介面材料以增加介面之接觸 程度,以減少接觸間隙所形成之熱阻。 常見熱介面材料包括導熱勝、導熱脂及相變材料,隨著散熱過程 對熱介面材料熱阻要求之提升,常見熱介面材料已 公開於趣年9月17日之第6,451,422號美國專利揭示目 變材料及熱料填充物之齡面材料,通縣加金屬粉末、硼氮化人 物等具有較佳導熱性能之填充物,進—步降健介面材料熱阻,提& 導熱性能。然而此類熱介面材料於使用過程中可能出現 = ㈣於散鋪片基底與發熱元件之接觸介面之㈣現間隙,= 觸熱阻增加,導致導熱性能惡化,溢出之熱介面材料還可能引起電路 6 板或其他電路故障。 因此有必要^供一種散熱籍片基底與發熱元件之間接觸熱阻穩 定、散熱安全之散熱模組。 ...... 【發明内容】 為^決先别技術散熱裝置之散熱鰭片基底與發熱元件之間接觸熱 阻不穩定、散熱不安全之問題’本發明之目的在於提供—種散執 基底與發熱元件之間接驗關定、賴安全之散減組。本發明曰之 另一目的在於提供所述散熱模組之製備方法。 為實現本發明之第—目的,本發明提供—種散難組,其包括: •發…、元件’散熱裝置,該散熱裝置包括—基底及自該基底延伸之 複數個散細;位於所紐鱗置基底與發熱元件之間之熱介面材 料及多孔m其巾,所述纽薄齡㈣述熱介研料卵,且於 所述多孔薄膜孔洞中長有碳奈米管。 、 為實現本發.第二目的’本發縣誠組之製備包細下步驟: 1) 於所述發熱元件之接觸介面巾部塗覆—層熱介面材料; 2) 以長有碳奈米管之多孔_覆蓋於所述熱介面養觸,從而將所 述發熱元件之接觸介面完全覆蓋; 3) 將所述散熱裝置通過扣具與發熱元件姊接,使齡面材料及多孔 薄膜被緊壓於所述散熱裝置基底與發熱元件之間。 為進一步實現本發明之第二 之製備包括以下步驟: 目的,所述長有碳奈米管之多孔薄膜 1)通過電解輯-金屬則進行陽極纽,使其職—多孔氧化層及 一未氧化層; 2) 將所述多孔氧化層與未氧化層分離; 3) 於所述多孔氧化層孔洞中填充凝膠; 4) 去除所述多孔氧化層底部之障壁層,形成一填充凝膠之多孔薄膜; 5) 於所述多孔薄膜一側附著一層金屬催化劑; 6) 去除所述多孔薄膜孔洞中填充之凝膠; 7) 於所述多孔薄膜孔洞中生長碳奈米管; 8)去除所述多孔薄膜一侧附著之金屬催化劑。 Μΐϊϊΐί前ί術’本發明所提供之散熱模組,其基底與發熱元件 j通,熱::面材料及多孔薄膜連接,所述熱介面材料被密封於所述 發熱元件形成之賴空間内,從而有效降低熱介面 禮―,P方止熱介面材料溢出’使基底與發熱元件之間接觸熱阻 太4^散熱安全。所述多孔細之制中生長具有優異導熱性 此之碳奈^,使基底與發熱元件之難觸熱_著降低。 【實施方式】 下面將結合附圖對本發明作進一步詳細說明。 一請參閱第-圖’本發3月提供之散熱模組包括:發熱元件1〇 ;包括 一基底51及自該基底51延伸之複數個散熱鰭片52之散熱裝置5〇;位 於所述基底51與發熱元件1〇之間之熱介面材料%及多孔薄膜;其 中’所述多孔薄膜20設置於所述熱介面材料3〇觸,且於所述多孔 薄膜20之孔洞23中長有碳奈米管28。 ,所述發熱元件10於包括中央處理器(cpu)、功率電晶體視頻圖 形陣列晶片(VGA)、射齡片等電子n件,本實施例巾所述發熱元件1〇 為中央處理器(CPU)。 所述散熱裝置50包括風冷式散熱器、水冷式散熱器、孰管散埶器 等’本實施例中所述散熱裝置50為風冷式散熱器,其基底、51及散熱 鯖片52可為-體成型之銘制散熱韓片,亦可為銅基底與射出成型之銘 制散熱鰭Μ職壓、雜、軟焊、硬焊、擴健合、滾軋、雷射焊 接、塑性變形、金屬粉末燒結等技術接合或通過中間物如導熱膠、導 熱脂等方式連接。 所述熱介面材料30包括導熱膠、導熱脂、相變材料或填充有如金 屬粉末、碳奈米管等高導熱物質之上述材料。 、 請參閱第一圖及第二圖,本發明散熱模組之製備包括以下步驟: 1) 於所述發熱元件10之接觸介面中部塗覆一層熱介面材料3〇 ; 2) 以長有碳奈米管之多孔薄膜2〇覆蓋於所述熱介面材料3〇周圍,從 而將所述發熱元件10之接觸介面完全覆蓋; 3)將所述散熱裝置50通過扣具(圖未示)與發熱元件ίο相扣接,使熱 介面材料30及多孔薄膜20被緊壓於所述基底51與發熱元件10之 間。 ‘、’、 本發明散熱模組之製備方法中,所述長有碳奈米管之多孔薄膜2〇 之製備包括以下步驟: 1) 請參閱第三圖,於15°C±rc,濃度為0.4mol/L之草酸中,以鋁片為 陽極進行陽極處理,室溫下通以電流密度為72mA/cm2之電流3小時, 形成具有多個孔洞23之氧化鋁膜22及鋁基片21,所述氧化鋁膜22厚 度為200"m,所述孔洞23之孔徑為lOOrnn ; 2) 請參閱第四圖,採用氣化汞或鹽酸使鋁基片21與氧化鋁膜22分離, 形成獨立之氧化鋁膜22,所述氧化鋁膜22之孔洞23—端封閉,該封 閉端為障壁層25 ; 3) 請參閱第五圖’以凝膠26填充氧化鋁膜22之孔洞23 ; 4) 請參閱第六圖,通過硫酸或磷酸對氧化鋁膜22底部之障壁層四腐 蝕,將障壁層25去除,形成由凝膠26填充之多孔薄膜2〇 ; 5) 請參閲第七圖,於多孔薄膜2〇底部,即原障壁層25一側鍍上一層金 屬催化劑27,從而使多孔薄膜2〇之孔洞23—端由金屬催化劑27封 閉,所述金屬催化劑27可選用鐵、鈷 '鎳或其合金,其厚度範圍為 1〜99nm ; 6) 請參閱第八圖’將於多孔薄膜2〇之孔洞23中填充之凝膠26去除; 7) 請參閱第九圖,通過化學氣相沈積法於一端鍍有金屬催化劑27之孔 洞23中生長碳奈米管28,本實施例中,所述化學氣相沈積過程所採 用碳源氣為乙炔,金屬催化劑27為鐵,碳奈米管28生長溫度為65〇 °C〜700°C ; 8) 凊參閱第十圖,將多孔薄膜2〇附著之一層金屬催化劑27通過干蝕刻 或濕飯刻去除。 相對於先如技術,本發明所提供之散熱模組,其基底51與發熱元 件10之間通過熱介面材料3〇及多孔薄膜2〇連接,所述熱介面材料3〇被 岔封於所述基底51、多孔薄膜2〇及發熱元件1〇形成之密閉空間内,從 1322940 而有效降低熱介面材獅之揮發,防止熱介面材料3〇溢出,使 與發熱之間接聰阻敎,並確保散熱安全。所述 之孔洞23巾生長具有賴導難能之碳奈歸28 執 件10之間接觸熱阻顯著降低。 炫Ux热兀 & =上所述,本發明確已符合刺翻之要件,碰法提出專 •月。惟’以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,自不能以 1申請專利細。舉凡熟悉本案技#之人士援依本發明之( 之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下中請專利範圍内。 所作 【圖式簡單說明】 第一圖本發明之散熱模組示意圖。 第二圖沿第—財Π-ΙΙ線剖視圖。 長有碳奈米f之多孔_形成過程。 【主要TL件符號說明】 10 21 23 26 28 50 52 多孔薄膜 氧化鋁膜 障壁層 金屬催化劑 熱介面材料 基底 20 22 25 27 30 51 發熱元件 鋁基片 孔洞 凝膠 碳奈米管 散熱裝置 散熱續片
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Claims (1)

1322940
十、申請專利範園: 1. 一種散熱模組製備方法,該方法包括: 於發熱元件之接觸介面中部塗覆一層熱介面材料; 以長有碳奈米管之多孔薄膜覆蓋於所述熱介面材料周圍,從而將所述發 熱元件之接觸介面完全覆蓋; 將散熱裝置通過扣具與所述發熱元件相扣接,將所述熱介面材料及所述 多孔薄膜緊壓於所述散熱裝i基底與所述發熱元件之間。 2. 如申請專機圍第丨柄述之散雜組製備方法,其中, 備方法包括: 專、 通過電解液對-金屬膜片進行陽極處理,使其形成一多孔氧化層及一未 氧化層; 將所述多孔氧化層與未氧化層分離; 於所述多孔乳化層孔洞中填充凝膠; 去除所述多孔氧化層底部之障壁層,形成一填充凝膠之多孔薄膜; 於所述多孔薄膜一側附著一層金屬催化劑; 去除所述多孔薄膜孔洞中填充之凝牌. 於所述多孔薄膜孔洞中生長碳奈米管;以及 去除所述多孔薄媒-側附著之金屬摧化劑。 3. 如申請專摘述缝絲轉備 硫酸、草酸及磷酸^ 岍述电斛及包括 4. 如=湖_输峨__,其巾,麟金屬膜片包 w雜㈣物,其巾,所述金屬催化 1322940 _ 啊年7月/7日修(更}正替換頁 十一、圖式: 12
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8492003B2 (en) 2010-11-24 2013-07-23 Industrial Technology Research Institute Heat sinking element and method of treating a heat sinking element

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8492003B2 (en) 2010-11-24 2013-07-23 Industrial Technology Research Institute Heat sinking element and method of treating a heat sinking element

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