TWI321595B - Circuit substrate and method for fabricating plating through hole - Google Patents
Circuit substrate and method for fabricating plating through hole Download PDFInfo
- Publication number
- TWI321595B TWI321595B TW95106747A TW95106747A TWI321595B TW I321595 B TWI321595 B TW I321595B TW 95106747 A TW95106747 A TW 95106747A TW 95106747 A TW95106747 A TW 95106747A TW I321595 B TWI321595 B TW I321595B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- hole
- photosensitive
- semiconductor substrate
- insulating material
- substrate
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 32
- 238000007747 plating Methods 0.000 title claims description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 42
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 18
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 6
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 201000004569 Blindness Diseases 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000003351 Melanosis Diseases 0.000 description 1
- 241000282320 Panthera leo Species 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000005363 electrowinning Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000008267 milk Substances 0.000 description 1
- 210000004080 milk Anatomy 0.000 description 1
- 235000013336 milk Nutrition 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000035807 sensation Effects 0.000 description 1
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
l8832twf.doc/g 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種半導體元件及其製程,且特別是 有關於一種線路基板及其鍍通孔(plating ttlr〇ugh h〇le,pTH) 的製造方法。 【先前技術】 覆晶技術由於具有縮小晶片封裝面積及縮短訊號傳 輸路徑等優點,目前已經廣泛應用於晶片封裝領域,例如 晶片尺寸構裝(Chip Scale Package, CSP)、晶片直接貼附封 裝(Direct Chip Attached,DCA)以及多晶片模組封裝 (Multi-Chip Module, MCM)等型態的封裝模組,均可以利用 覆晶技術而達到封裝的目的。 在覆晶封裝製程中,由於晶片與線路基板之熱膨脹係 數的差異甚大,因此晶片外圍的凸塊無法與線路基板上對 應的接點形成良好的接合,使得凸塊可能自線路基板上剝 離。另一方面,隨著積體電路之積集度的增加,由於晶片 與線路基板之間的熱膨脹係數不匹配(mismatch),其所產 生的熱應力(thermal stress)與翹曲(warpage)的現象也日漸 嚴重,其結果將導致晶片與線路基板之間的可靠产 (reliability)下降,並且造成信賴性測試的失敗。 : 上述問題’習知提出了制半導體基材製作線路基板的 程’其中由於半導體基材與晶片的材質接近,因此可^ 效避免熱膨脹係數不匹配所產生的問題。 習知製作此種半導體線路基板時,同樣會先在半導體 18832twf.doc/g 基材'上製作鍍通孔,再於半導體基材的一側陸續沉積多層 線路層與介電層,以完成線路基板的製作。其中,需要注 意的是,由於半導體基材本身具有半導體的特性,因此在 製作鍍通孔時,需要額外在半導體基材與鍍通孔之間形成 一絕緣層。 圖1A至圖1D即繪示習知此種線路基板之鍍通孔的 製作流程。首先,如圖1A與1B所示,提供一半導體基材 110,並且在半導體基材11〇之表面u〇a形成一盲孔122。 接著,如圖1C所示,應用化學氣相沉積法於半導體基材 110之表面110a上以及盲孔122内壁形成一絕緣層124。 然後,如圖1D所示,應用填孔電鍍(viaflllingplating) 的技術在盲孔122内填充導電材料,以形成導電柱 (conductive post) 126。如此,即完成鍍通孔120的製作。 然而,在上述習知的鑛通孔製程中,由於是使用化學 氣相沉積法來製作絕緣層,故存在製程成本昂貴以及製程 效率低落等問題。因此,如何改良習知此種鐘通孔的製程, 以進一步降低製程成本與提高製程效率,乃是此種半導體 線路基板在實際應用與量產上的重要關鍵。 【發明内容】 有鑑於此,本發明之目的之一便是提供一種較為簡 易、快速’且成本較低的鍍通孔的製作方法。 曰 此外,本發明之另一目的是提供一種線路基板,其铲 通孔是採用上述方法製作而成,因此相對具有較低廉之萝 作成本以及較高之生產效率。 ^ 1321595 18832twf.doc/g
為達上述或疋其他目的’本發明提出一種鍛通孔的製 作方法,其包栝下列步驟。首先’提供一半導體基材’其 中半導體基材具有相對之一第一表面與一第二表面。然 後,於第一表面形成一盲孔。接著,於第一表面塗佈一感 光性絕緣材料,並使感光性絕緣材料填入盲孔。接下來’ 對感光性絕緣材料進行微影製程(Photolithography Process),以移除盲孔内的部份感光性絕緣材料,並在第 —表面上以及盲孔的内壁上形成一絕緣層。之後,在盲孔 内形成一導電枉’以完成鍍通孔之製作。 在本發明之一實施例中,在移除盲孔内的部份感光性 &緣材料之後’並在形成導電柱之前,更包括對剩餘的感 光性絕緣材料進行固化,以形成絕緣層。 在本發明之-實施例中,形成導電柱的方法包括下列 步驟。首先,在、絕緣層上形成一電鍍種子層。然後
種,上,且圖案化罩幕暴露出盲: =主:之後,移除圖案化罩幕,並移除盲孔以‘ 在本發明之一實施例中 是濺鍍。 形成電錢㈣層的方法例如 是先在電賴子層上全面形成1阻H幕的方法例如 進行微影製程,以形賴案化罩幕。θ ’著再對光阻層 本發明再提ώ-種線路騎 ,、匕栝一+導體基材、 8 I8832twf.doc/g -導電柱以及-絕緣層。導電她置於半導縣材内,而 絕緣層配置於導餘與半導縣材之間,以使導電枉斑半 導體基材電性隔絕,其中絕緣層的材料為—感紐的絕緣 好姐。 在本發明之一實施例中,感光性的絕緣材料例如是有 機材料。 在本發明之一實施例中,半導體基材例如是石夕基板。 一本發明是在半導體基材表面上以及盲孔中塗佈一烕 光性絕緣材料以形成-絕緣詹,取代了習知之應用化學氣 相沉積法於半導絲材表面上以及盲孔⑽成—絕緣層的 方法。相較於習知技術,本發明除了可降低線路基板之製 作成本外,亦可使線路基板之製作更有效率。 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下。 【貫施方式】 I圖2A至圖2J繪示為本發明較佳實施例之一種鍍通孔 的製作流程圖。首先,如圖2A所示,提供一半導體基材 210,其中半導體基材21〇具有相對之一第一表面 210a 與 一第=表面210b。舉例來說,半導體基材21〇例如是矽基 =然後’如圖2B所示,於第一表面2i〇a形成一盲孔222, 中盲孔222之形成方式例如是機械鑽孔(Mechanical DriUing)或是雷射燒银(Laser Ablating)。 接著,如圖2C所示,於第一表面21〇a塗佈一感光性 18832twf.doc/g 絕緣射料224,並使感光性絕緣材料224填入盲孔222。如 =後續形成於盲孔222中之導紐226(請參考圖2h)即 # 21() °在本實施例中,感光性的絕 、.彖材料224例如是有機材料。接下來,如圖2〇至圖邛所 二對感光性絕緣材料224進行微影製程,以移除盲孔姐 内的部份感光性絕緣材料224,並在第一表面施以及盲 形成—絕緣層224,。下文將對上述之微影 2考圖2D ’在本實施财之微影製糊如是藉由 對塗佈於第一表面2咖以及填入盲孔奶中之感 =絶緣材料224進行曝光。接著,將光罩25〇上之圖案 ,P於感光性絕緣材料224上(如圖2E所示)。上述之感 緣材料224例如是,型感光材料,其可藉由光化學 ='來=未曝光部分之感光性絕緣材料22知溶於驗性溶 m保《絲分之感紐絕緣材料島。在 'I' 2?4 ' °目;22中未被曝光的部分感光性絕緣材料 a ρ可被移除’而未被移除之部分感紐絕 例如可經由固化以形成絕緣層故,(如圖2F所示)。告献’ 感光性絕緣材料224亦可以是正型感光㈣,田^ 先bi=r光部分之感光性絕緣材料,而保 分之感光性絕緣材料。未被移除 絕緣材料224同樣可經由固化以形成絕緣層224, 承上所述’在盲孔222的内壁上形成絕緣層似,之 1321595 18832twf.doc/g 後’接著本實施例會在盲孔222内形成導電柱η6(請 圖2J) ’以完成鑛通孔之製作。導電柱之製作方法例二 括下列步驟:首先’如圖2G獅,錢緣層似,上开^ -電鑛種子層230,其中在絕緣層224,上形成電 ^
230的目的是利於後續電鑛製程之進行,而形成^錢種^ 層230的方法例如是應用濺鍍。在絕緣層224,上形成電 種子層230之後,接著如圖2H所示,提供一圖案化罩^ 240於電鍵種子層230上,且圖案化罩幕24〇暴露出盲孔 222内的電鍍種子層230,以利填孔電鍍之技術在盲孔222 中填充導電材料。在本實關巾,勤是先在電鑛種子層 230上全面形成-光阻層(未繪示),接著再對光阻層進^ 微影製程’以形成圖案化罩幕24〇 ’其中微影製程包括類 似前述之曝光和顯影等步辦。 、
本實施例在電鍍種子層230上形成圖案化罩幕24〇之 後,接著便可藉由填孔電鍍之技術在盲孔222内的電鍍種 子層230上電鍍形成導電柱226(如圖21所示),其中配置 於導電柱226與半導體基材間之絕緣層224,即可使導電柱 226與半導體基材210電性隔絕。接著,如圖2J所示,移 除圖案化罩幕240,並應用蝕刻技術來移除盲孔222以外 的電鍍種子層230與導電柱226’以完成鍍通孔22〇之製 作。當然,在完成上述鍍通孔22〇之製作後,可以依線路 基板之設計再對半導體基材210進行研磨製程,使得位於 半導體基材210中之導電柱226其兩端部均暴露出(如圖 2K所示),以進行後續製程。 1321595 18832twf.doc/g 圖3即繪示為本發明一實施例之線路基板與晶片以及 電路板接合的示;H㈣3可知,本實施狀線路基板 200主要包括上述之半導體基材、一導電柱以及一 絕緣層224’。由上文可知,由於導電柱226配置於半導體 基材210内,且絕緣層224,配置於導電柱226與半導體基 材210之間。因此,導電柱226與半導體基材21〇電性隔 絕。此外’導電柱226可與半導體基材21〇上之疊合層 電性連接,其中疊合層228例如是依序由多個圖案化曰線路 層228a與多個介電層雇交互疊合而成。圖案化線路層 228a的材質例如可以是鈦/銅合金或鈦/銅/鈦合金。 請再參考圖3,本實施例之線路基板200適於與一晶 片300接合,並使晶片3〇〇透過線路基板2⑻電性連接至 外部電路n面,本實刻之線祕板雇亦可在銲 球塾260上形成多個銲球262,並藉由銲球262連接線路 基板200與外部之電路板4〇化線路基板2〇〇與電路板4⑻ 接合後,晶片30〇即可透過線路基板200而與電路板4〇〇 電性連接。 、示上所述,本發明是在半導體基材表面上以及盲孔中 塗佈一感光性絕緣材料,並藉由微影製程以於半導體基材 ,面上及盲孔内壁上形成—絕緣層接著再以電鑛製程於 目孔⑽成-導電柱,以完成鑛通孔之製作。上述 孔的製作妓相較於習知可具有較低之製作成本以及=古 =於此種類型之半導體線路基板在實; 12 丄 18832twf,doc/g 一雖=本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 =本發明,任何熟習此技藝者,在不賴本發明之精神 1°把圍内’當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 摩巳圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1A至圖1D繪示為習知之鍍通孔的製作流程圖。 =至圖2K纟會示為本發明較佳實闕之一種鍍通 孔的製作流程圖。
以及電 圖3繪示為本發明一實施例之線路基板與晶片 路板接合的示意圖。 【主要元件符號說明】 110 :半導體基材 110a :表面 120 :鍍通孔 122 :盲孔
124 :絕緣層 126 :導電柱 210 :半導體基材 210a :第一表面 210b :第上表面 220 :鍍通孔 222 :盲孔 224、224a、224b :感光性絕緣材料 224’ :絕緣層 1321595 18832twf.doc/g 226 :導電柱 228 :疊合層 228a .圖案化線路層 228b :介電層 230 :電鍍種子層 240 :圖案化罩幕 250 :光罩 260 :銲球墊 262 :銲球 14
Claims (1)
18S32twf.doc/g 十、'申請專利範圍:… 1提:種1 通孔的製作方法,包括. ^ h供一半導體基材, · 第一表面與一第二♦面.’、中該半導體基材具有相對之/ 於該第一表面形成 於該第一表面塗你— 絕緣材料填入該盲孔.感光性絕緣材料,並使該感光性 對遠感光性絕绫好輕 的部份該感光性絕緣材料進=影製程,以移除該盲孔内 的内壁上形成_絕緣層在該第—表面上以及該盲孔 在該盲孔内形成—導電柱。 其中在移Lit:::! ^項所述之鍍通孔的製作方法, 在形成該導‘柱之r、部份該感紐絕緣材料之後,並且 進行固化,以形成^絕^括對剩餘的該感光性絕緣材料 f該絕緣層上形成—電鍍種子層; 提供一圖案化罩幕於兮雷 幕暴露出該盲孔内的該電鍍種子、f曰上,且該圖案化罩 的該電鑛種子層上電鍍形成該導電柱; 移除該圖案化軍幕;以及 〒电狂 移除該盲孔以外的該電鍍種子層。 4.如申請專利範㈣3項所^鍍通孔的製作方法, 丄 JZr 丄 18832twf.doc/g 其中形成該電鍍種 5·如申請專以=包括雜。, 其中案化罩幕的方法=之鏟通孔的製作方法’ 對該光全面形成-光阻層;以及 6-種線程’™案化罩幕。 一半導體基材; -柱配置於該半導體基材内;以及 使該^電置於該導電柱與該半導體基材之間,以 科為-感光性的=娜隔絕’其中該絕緣層的材 先二==::r之線路基板,該感 導體==圍第6項所述之線路基板,其中該半
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW95106747A TWI321595B (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | Circuit substrate and method for fabricating plating through hole |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW95106747A TWI321595B (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | Circuit substrate and method for fabricating plating through hole |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW200734477A TW200734477A (en) | 2007-09-16 |
| TWI321595B true TWI321595B (en) | 2010-03-11 |
Family
ID=45073855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW95106747A TWI321595B (en) | 2006-03-01 | 2006-03-01 | Circuit substrate and method for fabricating plating through hole |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWI321595B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI620253B (zh) * | 2016-04-26 | 2018-04-01 | Method for manufacturing conductive substrate |
-
2006
- 2006-03-01 TW TW95106747A patent/TWI321595B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200734477A (en) | 2007-09-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN100530608C (zh) | 防湿结构和微电子封装及其制造方法 | |
| CN101809735B (zh) | 具有通过镀敷形成的接线柱的互连元件 | |
| TWI823387B (zh) | 一種多器件分次嵌埋封裝基板及其製造方法 | |
| TWI463573B (zh) | 半導體裝置及使用犧牲載體形成該裝置之方法 | |
| TW201405735A (zh) | 柵格扇出晶圓級封裝和製造柵格扇出晶圓級封裝的方法 | |
| TWI286454B (en) | Electrical connector structure of circuit board and method for fabricating the same | |
| JP2005506678A (ja) | 集積型ヒートシンク及びビルドアップ層を有する超小型電子パッケージ | |
| CN113130420B (zh) | 一种嵌埋封装结构及其制造方法 | |
| CN112054006A (zh) | 半导体设备封装及其制造方法 | |
| KR20080053241A (ko) | 멀티―칩 패키지 구조 및 그 제조 방법 | |
| TW201431039A (zh) | 具有圍繞矽穿封裝孔(TPV)的末端部分之開口的晶粒封裝及使用該晶粒封裝之層疊封裝(PoP) | |
| US9324580B2 (en) | Process for fabricating a circuit substrate | |
| US9583365B2 (en) | Method of forming interconnects for three dimensional integrated circuit | |
| CN109545691B (zh) | 一种超薄扇出型封装结构的制造方法 | |
| CN110581120A (zh) | 板级扇出封装基板的细线路结构及其制备方法 | |
| TWI221667B (en) | Substrate and process for fabricating the same | |
| US8258009B2 (en) | Circuit substrate and manufacturing method thereof and package structure and manufacturing method thereof | |
| JP4887170B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| TWI321595B (en) | Circuit substrate and method for fabricating plating through hole | |
| CN104167369A (zh) | 芯片封装结构的制作方法 | |
| CN223181138U (zh) | 半导体衬底的无源器件及半导体器件 | |
| KR101920434B1 (ko) | 인쇄회로기판 및 그 제조방법 | |
| CN101959374A (zh) | 一种多层印制电路板的制造方法 | |
| CN107516638A (zh) | 一种扇出型封装方法 | |
| CN107611112A (zh) | 一种扇出型封装器件 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |