[go: up one dir, main page]

TWI321595B - Circuit substrate and method for fabricating plating through hole - Google Patents

Circuit substrate and method for fabricating plating through hole Download PDF

Info

Publication number
TWI321595B
TWI321595B TW95106747A TW95106747A TWI321595B TW I321595 B TWI321595 B TW I321595B TW 95106747 A TW95106747 A TW 95106747A TW 95106747 A TW95106747 A TW 95106747A TW I321595 B TWI321595 B TW I321595B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
hole
photosensitive
semiconductor substrate
insulating material
substrate
Prior art date
Application number
TW95106747A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200734477A (en
Inventor
Min Lung Huang
Original Assignee
Advanced Semiconductor Eng
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Semiconductor Eng filed Critical Advanced Semiconductor Eng
Priority to TW95106747A priority Critical patent/TWI321595B/zh
Publication of TW200734477A publication Critical patent/TW200734477A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI321595B publication Critical patent/TWI321595B/zh

Links

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Description

l8832twf.doc/g 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種半導體元件及其製程,且特別是 有關於一種線路基板及其鍍通孔(plating ttlr〇ugh h〇le,pTH) 的製造方法。 【先前技術】 覆晶技術由於具有縮小晶片封裝面積及縮短訊號傳 輸路徑等優點,目前已經廣泛應用於晶片封裝領域,例如 晶片尺寸構裝(Chip Scale Package, CSP)、晶片直接貼附封 裝(Direct Chip Attached,DCA)以及多晶片模組封裝 (Multi-Chip Module, MCM)等型態的封裝模組,均可以利用 覆晶技術而達到封裝的目的。 在覆晶封裝製程中,由於晶片與線路基板之熱膨脹係 數的差異甚大,因此晶片外圍的凸塊無法與線路基板上對 應的接點形成良好的接合,使得凸塊可能自線路基板上剝 離。另一方面,隨著積體電路之積集度的增加,由於晶片 與線路基板之間的熱膨脹係數不匹配(mismatch),其所產 生的熱應力(thermal stress)與翹曲(warpage)的現象也日漸 嚴重,其結果將導致晶片與線路基板之間的可靠产 (reliability)下降,並且造成信賴性測試的失敗。 : 上述問題’習知提出了制半導體基材製作線路基板的 程’其中由於半導體基材與晶片的材質接近,因此可^ 效避免熱膨脹係數不匹配所產生的問題。 習知製作此種半導體線路基板時,同樣會先在半導體 18832twf.doc/g 基材'上製作鍍通孔,再於半導體基材的一側陸續沉積多層 線路層與介電層,以完成線路基板的製作。其中,需要注 意的是,由於半導體基材本身具有半導體的特性,因此在 製作鍍通孔時,需要額外在半導體基材與鍍通孔之間形成 一絕緣層。 圖1A至圖1D即繪示習知此種線路基板之鍍通孔的 製作流程。首先,如圖1A與1B所示,提供一半導體基材 110,並且在半導體基材11〇之表面u〇a形成一盲孔122。 接著,如圖1C所示,應用化學氣相沉積法於半導體基材 110之表面110a上以及盲孔122内壁形成一絕緣層124。 然後,如圖1D所示,應用填孔電鍍(viaflllingplating) 的技術在盲孔122内填充導電材料,以形成導電柱 (conductive post) 126。如此,即完成鍍通孔120的製作。 然而,在上述習知的鑛通孔製程中,由於是使用化學 氣相沉積法來製作絕緣層,故存在製程成本昂貴以及製程 效率低落等問題。因此,如何改良習知此種鐘通孔的製程, 以進一步降低製程成本與提高製程效率,乃是此種半導體 線路基板在實際應用與量產上的重要關鍵。 【發明内容】 有鑑於此,本發明之目的之一便是提供一種較為簡 易、快速’且成本較低的鍍通孔的製作方法。 曰 此外,本發明之另一目的是提供一種線路基板,其铲 通孔是採用上述方法製作而成,因此相對具有較低廉之萝 作成本以及較高之生產效率。 ^ 1321595 18832twf.doc/g
為達上述或疋其他目的’本發明提出一種鍛通孔的製 作方法,其包栝下列步驟。首先’提供一半導體基材’其 中半導體基材具有相對之一第一表面與一第二表面。然 後,於第一表面形成一盲孔。接著,於第一表面塗佈一感 光性絕緣材料,並使感光性絕緣材料填入盲孔。接下來’ 對感光性絕緣材料進行微影製程(Photolithography Process),以移除盲孔内的部份感光性絕緣材料,並在第 —表面上以及盲孔的内壁上形成一絕緣層。之後,在盲孔 内形成一導電枉’以完成鍍通孔之製作。 在本發明之一實施例中,在移除盲孔内的部份感光性 &緣材料之後’並在形成導電柱之前,更包括對剩餘的感 光性絕緣材料進行固化,以形成絕緣層。 在本發明之-實施例中,形成導電柱的方法包括下列 步驟。首先,在、絕緣層上形成一電鍍種子層。然後
種,上,且圖案化罩幕暴露出盲: =主:之後,移除圖案化罩幕,並移除盲孔以‘ 在本發明之一實施例中 是濺鍍。 形成電錢㈣層的方法例如 是先在電賴子層上全面形成1阻H幕的方法例如 進行微影製程,以形賴案化罩幕。θ ’著再對光阻層 本發明再提ώ-種線路騎 ,、匕栝一+導體基材、 8 I8832twf.doc/g -導電柱以及-絕緣層。導電她置於半導縣材内,而 絕緣層配置於導餘與半導縣材之間,以使導電枉斑半 導體基材電性隔絕,其中絕緣層的材料為—感紐的絕緣 好姐。 在本發明之一實施例中,感光性的絕緣材料例如是有 機材料。 在本發明之一實施例中,半導體基材例如是石夕基板。 一本發明是在半導體基材表面上以及盲孔中塗佈一烕 光性絕緣材料以形成-絕緣詹,取代了習知之應用化學氣 相沉積法於半導絲材表面上以及盲孔⑽成—絕緣層的 方法。相較於習知技術,本發明除了可降低線路基板之製 作成本外,亦可使線路基板之製作更有效率。 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說 明如下。 【貫施方式】 I圖2A至圖2J繪示為本發明較佳實施例之一種鍍通孔 的製作流程圖。首先,如圖2A所示,提供一半導體基材 210,其中半導體基材21〇具有相對之一第一表面 210a 與 一第=表面210b。舉例來說,半導體基材21〇例如是矽基 =然後’如圖2B所示,於第一表面2i〇a形成一盲孔222, 中盲孔222之形成方式例如是機械鑽孔(Mechanical DriUing)或是雷射燒银(Laser Ablating)。 接著,如圖2C所示,於第一表面21〇a塗佈一感光性 18832twf.doc/g 絕緣射料224,並使感光性絕緣材料224填入盲孔222。如 =後續形成於盲孔222中之導紐226(請參考圖2h)即 # 21() °在本實施例中,感光性的絕 、.彖材料224例如是有機材料。接下來,如圖2〇至圖邛所 二對感光性絕緣材料224進行微影製程,以移除盲孔姐 内的部份感光性絕緣材料224,並在第一表面施以及盲 形成—絕緣層224,。下文將對上述之微影 2考圖2D ’在本實施财之微影製糊如是藉由 對塗佈於第一表面2咖以及填入盲孔奶中之感 =絶緣材料224進行曝光。接著,將光罩25〇上之圖案 ,P於感光性絕緣材料224上(如圖2E所示)。上述之感 緣材料224例如是,型感光材料,其可藉由光化學 ='來=未曝光部分之感光性絕緣材料22知溶於驗性溶 m保《絲分之感紐絕緣材料島。在 'I' 2?4 ' °目;22中未被曝光的部分感光性絕緣材料 a ρ可被移除’而未被移除之部分感紐絕 例如可經由固化以形成絕緣層故,(如圖2F所示)。告献’ 感光性絕緣材料224亦可以是正型感光㈣,田^ 先bi=r光部分之感光性絕緣材料,而保 分之感光性絕緣材料。未被移除 絕緣材料224同樣可經由固化以形成絕緣層224, 承上所述’在盲孔222的内壁上形成絕緣層似,之 1321595 18832twf.doc/g 後’接著本實施例會在盲孔222内形成導電柱η6(請 圖2J) ’以完成鑛通孔之製作。導電柱之製作方法例二 括下列步驟:首先’如圖2G獅,錢緣層似,上开^ -電鑛種子層230,其中在絕緣層224,上形成電 ^
230的目的是利於後續電鑛製程之進行,而形成^錢種^ 層230的方法例如是應用濺鍍。在絕緣層224,上形成電 種子層230之後,接著如圖2H所示,提供一圖案化罩^ 240於電鍵種子層230上,且圖案化罩幕24〇暴露出盲孔 222内的電鍍種子層230,以利填孔電鍍之技術在盲孔222 中填充導電材料。在本實關巾,勤是先在電鑛種子層 230上全面形成-光阻層(未繪示),接著再對光阻層進^ 微影製程’以形成圖案化罩幕24〇 ’其中微影製程包括類 似前述之曝光和顯影等步辦。 、
本實施例在電鍍種子層230上形成圖案化罩幕24〇之 後,接著便可藉由填孔電鍍之技術在盲孔222内的電鍍種 子層230上電鍍形成導電柱226(如圖21所示),其中配置 於導電柱226與半導體基材間之絕緣層224,即可使導電柱 226與半導體基材210電性隔絕。接著,如圖2J所示,移 除圖案化罩幕240,並應用蝕刻技術來移除盲孔222以外 的電鍍種子層230與導電柱226’以完成鍍通孔22〇之製 作。當然,在完成上述鍍通孔22〇之製作後,可以依線路 基板之設計再對半導體基材210進行研磨製程,使得位於 半導體基材210中之導電柱226其兩端部均暴露出(如圖 2K所示),以進行後續製程。 1321595 18832twf.doc/g 圖3即繪示為本發明一實施例之線路基板與晶片以及 電路板接合的示;H㈣3可知,本實施狀線路基板 200主要包括上述之半導體基材、一導電柱以及一 絕緣層224’。由上文可知,由於導電柱226配置於半導體 基材210内,且絕緣層224,配置於導電柱226與半導體基 材210之間。因此,導電柱226與半導體基材21〇電性隔 絕。此外’導電柱226可與半導體基材21〇上之疊合層 電性連接,其中疊合層228例如是依序由多個圖案化曰線路 層228a與多個介電層雇交互疊合而成。圖案化線路層 228a的材質例如可以是鈦/銅合金或鈦/銅/鈦合金。 請再參考圖3,本實施例之線路基板200適於與一晶 片300接合,並使晶片3〇〇透過線路基板2⑻電性連接至 外部電路n面,本實刻之線祕板雇亦可在銲 球塾260上形成多個銲球262,並藉由銲球262連接線路 基板200與外部之電路板4〇化線路基板2〇〇與電路板4⑻ 接合後,晶片30〇即可透過線路基板200而與電路板4〇〇 電性連接。 、示上所述,本發明是在半導體基材表面上以及盲孔中 塗佈一感光性絕緣材料,並藉由微影製程以於半導體基材 ,面上及盲孔内壁上形成—絕緣層接著再以電鑛製程於 目孔⑽成-導電柱,以完成鑛通孔之製作。上述 孔的製作妓相較於習知可具有較低之製作成本以及=古 =於此種類型之半導體線路基板在實; 12 丄 18832twf,doc/g 一雖=本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以 =本發明,任何熟習此技藝者,在不賴本發明之精神 1°把圍内’當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護 摩巳圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1A至圖1D繪示為習知之鍍通孔的製作流程圖。 =至圖2K纟會示為本發明較佳實闕之一種鍍通 孔的製作流程圖。
以及電 圖3繪示為本發明一實施例之線路基板與晶片 路板接合的示意圖。 【主要元件符號說明】 110 :半導體基材 110a :表面 120 :鍍通孔 122 :盲孔
124 :絕緣層 126 :導電柱 210 :半導體基材 210a :第一表面 210b :第上表面 220 :鍍通孔 222 :盲孔 224、224a、224b :感光性絕緣材料 224’ :絕緣層 1321595 18832twf.doc/g 226 :導電柱 228 :疊合層 228a .圖案化線路層 228b :介電層 230 :電鍍種子層 240 :圖案化罩幕 250 :光罩 260 :銲球墊 262 :銲球 14

Claims (1)

18S32twf.doc/g 十、'申請專利範圍:… 1提:種1 通孔的製作方法,包括. ^ h供一半導體基材, · 第一表面與一第二♦面.’、中該半導體基材具有相對之/ 於該第一表面形成 於該第一表面塗你— 絕緣材料填入該盲孔.感光性絕緣材料,並使該感光性 對遠感光性絕绫好輕 的部份該感光性絕緣材料進=影製程,以移除該盲孔内 的内壁上形成_絕緣層在該第—表面上以及該盲孔 在該盲孔内形成—導電柱。 其中在移Lit:::! ^項所述之鍍通孔的製作方法, 在形成該導‘柱之r、部份該感紐絕緣材料之後,並且 進行固化,以形成^絕^括對剩餘的該感光性絕緣材料 f該絕緣層上形成—電鍍種子層; 提供一圖案化罩幕於兮雷 幕暴露出該盲孔内的該電鍍種子、f曰上,且該圖案化罩 的該電鑛種子層上電鍍形成該導電柱; 移除該圖案化軍幕;以及 〒电狂 移除該盲孔以外的該電鍍種子層。 4.如申請專利範㈣3項所^鍍通孔的製作方法, 丄 JZr 丄 18832twf.doc/g 其中形成該電鍍種 5·如申請專以=包括雜。, 其中案化罩幕的方法=之鏟通孔的製作方法’ 對該光全面形成-光阻層;以及 6-種線程’™案化罩幕。 一半導體基材; -柱配置於該半導體基材内;以及 使該^電置於該導電柱與該半導體基材之間,以 科為-感光性的=娜隔絕’其中該絕緣層的材 先二==::r之線路基板,該感 導體==圍第6項所述之線路基板,其中該半
TW95106747A 2006-03-01 2006-03-01 Circuit substrate and method for fabricating plating through hole TWI321595B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW95106747A TWI321595B (en) 2006-03-01 2006-03-01 Circuit substrate and method for fabricating plating through hole

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW95106747A TWI321595B (en) 2006-03-01 2006-03-01 Circuit substrate and method for fabricating plating through hole

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200734477A TW200734477A (en) 2007-09-16
TWI321595B true TWI321595B (en) 2010-03-11

Family

ID=45073855

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW95106747A TWI321595B (en) 2006-03-01 2006-03-01 Circuit substrate and method for fabricating plating through hole

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI321595B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI620253B (zh) * 2016-04-26 2018-04-01 Method for manufacturing conductive substrate

Also Published As

Publication number Publication date
TW200734477A (en) 2007-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100530608C (zh) 防湿结构和微电子封装及其制造方法
CN101809735B (zh) 具有通过镀敷形成的接线柱的互连元件
TWI823387B (zh) 一種多器件分次嵌埋封裝基板及其製造方法
TWI463573B (zh) 半導體裝置及使用犧牲載體形成該裝置之方法
TW201405735A (zh) 柵格扇出晶圓級封裝和製造柵格扇出晶圓級封裝的方法
TWI286454B (en) Electrical connector structure of circuit board and method for fabricating the same
JP2005506678A (ja) 集積型ヒートシンク及びビルドアップ層を有する超小型電子パッケージ
CN113130420B (zh) 一种嵌埋封装结构及其制造方法
CN112054006A (zh) 半导体设备封装及其制造方法
KR20080053241A (ko) 멀티―칩 패키지 구조 및 그 제조 방법
TW201431039A (zh) 具有圍繞矽穿封裝孔(TPV)的末端部分之開口的晶粒封裝及使用該晶粒封裝之層疊封裝(PoP)
US9324580B2 (en) Process for fabricating a circuit substrate
US9583365B2 (en) Method of forming interconnects for three dimensional integrated circuit
CN109545691B (zh) 一种超薄扇出型封装结构的制造方法
CN110581120A (zh) 板级扇出封装基板的细线路结构及其制备方法
TWI221667B (en) Substrate and process for fabricating the same
US8258009B2 (en) Circuit substrate and manufacturing method thereof and package structure and manufacturing method thereof
JP4887170B2 (ja) 半導体装置の製造方法
TWI321595B (en) Circuit substrate and method for fabricating plating through hole
CN104167369A (zh) 芯片封装结构的制作方法
CN223181138U (zh) 半导体衬底的无源器件及半导体器件
KR101920434B1 (ko) 인쇄회로기판 및 그 제조방법
CN101959374A (zh) 一种多层印制电路板的制造方法
CN107516638A (zh) 一种扇出型封装方法
CN107611112A (zh) 一种扇出型封装器件

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees