TWI379991B - - Google Patents

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1379991 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種發光裝置，特別是指一種用於高 溫物件之表面觀測的投光裝置。 【先前技術】 以

隨著工業技術的進步’業界對於各式工件的品質要求 也越來越嚴苛，而在加工技術不斷進步的同時，能足夠精 確的掌握工件品質，才能有效減少廢品與廢料的產生 真正的提昇工業技術。 以軋延工件的表面品質來說，目前量測軋延工件表面 。口質的方式大致可以區分為兩大類，一種為接觸量測，另 一種則為非接觸量測，常見的接觸量測莫過於利用探針接 觸掃描軋延工件的表面後，進而得知該軋延工件的表面品 質是否滿足要求；而非接觸量測則是利用光學元件間接觀 測軋延工件的表面以獲知軋延工件的表面品質。 由於接觸量測的量測方式一來過於耗費時間（需以即 細微的探針接觸相對極巨大的 延工件的高溫產生磨耗，為了 現有廠商大多已改用如攝影 工件），一來探針也會因札 加快作業速度與降低成本； 機、相機、電荷耦合元件 (Charge-coupie(1 Device，CCD).··等光學元件間接觀測軋延工 件’以加快作業速度並降低成本。 但疋，軋延的工作溫度高，使得軋延工件的表面多呈 紅熱狀態’造成光學元件不易觀測軋延工件的表面情況. 再加上所有物質在高於絕對零度時皆會發出人類肉眼所不 可見的紅外光，更谷易於光學元件觀測軋延工件表面時產 生觀測誤差’因此，-般多採用$敏度較高的光學元件以 觀測軋延X件表面’克服軋延I件因表面紅熱狀態不易觀 測’及因高溫所散發紅外光影響觀測準確度的問題可是 ，靈敏度愈高的光學元件價格也愈#，無疑是變相增加了 廠商的設備成本，如何減少設備成本又能正確獲得軋延工 件的表面缺陷’已成為相關業者亟欲克服的問題。 【發明内容】 因此，本發明之目的，即在提供一種可將光線均句投 射於-高溢物件之表面上的用於高溫物件之表面觀測的投 光裝置。 於是，本發明用於高溫物件之表面觀測的投光裝置， 包含-發光單元’及一光學處理單元。該發光單元可產生 均勾投射於該高溫物件之表面的平行光，並沿該平行光的 投射方向定義有一光軸。 光學處理單元包括一位於該光軸上以接收該發光源 之平订光並產生聚焦之折射光的第一陣列透鏡及一位於 該光轴上以接收經該第一陣列透鏡聚焦之折射光並產生交 互重叠之二次折射光的第二陣列透鏡，其令，該第一陣列 透鏡與第：陣料鏡的透光面積與陣職距皆㈣，且該 第二陣列透鏡與第-陣列透鏡間形成有__第_間距，該第 一間距是等於陣列焦距除，其中，^大於】的實數。 本發明之功效是利用透光面積與陣列焦距皆相同的第 一陣列透鏡與第二陣列透鏡，同時配合料者的間距限制 」j於1倍的任一陣列焦距内，使該發光單元所投射出的 ·' >亍光’盈該第一、二陣列透鏡的折射後能均勻地投射於該 同/皿物件之表面’抵消物件表面因高溫所產生的顏色變化 與紅外線，提高觀測高溫物件之表面的準確度。 【實施方式】 有關本發明之前述及其他技術内容、特點與功效，在 x下配0參考圖式之三個較佳實施例的詳細說明中，將可 〉月楚的呈現。 在本發明被詳細描述之前，要注意的是，在以下的說 明内谷中，類似的元件是以相同的編號來表示。 >閱圖1，本發明用於高溫物件之表面觀測的投光裝置 1是可將光線均勻投射於-高溫物件1GG之表面上，該投光 裝置1之第一肖佳實施例包含一可產生均句投射於該高溫 物件100表面之平行光10的發光單元U，及一用以處理該 發光單元11所投射出之平行光1〇的光學處理單元12。 該發光單元U包括—反射罩ln，及—位於該反射罩 "1中的發光源112 ’其中’該反射| lu的斷面概呈拋物 線形’且形成有—開σ 113 ’而該發光源112所發出的光線 經該斷面概呈抛物線形之反射罩lu的導引形成平行光1〇 而自該開口 113射出，且該發光源112沿該平行光1〇投射 =向定義有-光軸L。於本較佳實施例中該發光源ιι2是一 问強度放電燈泡（High Intensity Discharge, HID)。 參閱圖1、2，言亥光學處理單元12包括一位於該光轴l 上以接收該發光單元n之平行光1()並產生㈣、之折射光 1379991 1〇的第一陣列透鏡121，及一位於該光轴L·上以接收經該 第一陣列透鏡121聚焦之折射光10，並產生交互重疊之二 次折射光ίο，，的第二陣列透鏡122，其中，該第―陣列透鏡 121的透光面積與陣列焦距，與第二陣列透鏡122的透光面 積與陣列焦距相同，且該第—、二陣列透鏡121、122皆具 有多數面積與排列方式相同的透鏡120，每一透鏡12〇皆呈 矩形且每一透鏡12〇的長度L|與寬度I?皆介於3公釐至9 公釐間，每一透鏡120的長度與寬度L2比則是介於i至 1.4間，由於該第一、二陣列透鏡121、n2之透鏡12〇的 大小與排列方式均相同，因此，冑2中僅以第—陣列透鏡 121作說明。 在此需要特別說明的是，平行光1〇經該第一陣列透鏡 121的所述透鏡12〇時會聚焦形成折射光1〇,，折射光w，經 該所述透鏡120的焦點後隨即發散，此時，折射光ι〇，的光 路徑改變如同倒影實像，亦即接近絲L之較高亮度的折 射光10’朝光轴L的外側投射，而遠綠L之較低亮度的折 射光10’朝光軸L的内側投射；所述折射光1()，在二倍陣列 焦距後開始互相重疊最後投射於高溫物件100的表面上， 但是’僅利用第-列透鏡121所述折射光1〇，在高溫物件 100所此產生的光重疊效果較差，因此，利用透光面積與陣 列焦距皆與第-陣列透鏡121相同的第：陣列透鏡122，縮 短折射光K)，的焦距’以提高二次折射光1〇，，於高溫物件 100上的重疊度，進而形成亮度均勻的亮區。由前述可知高 溫物件100上的亮區是由各透鏡12〇 @亮區重疊拼凑成， 1379991 因此透鏡120的尺寸過小或長寬比例過大，將造成折射光 10’與二次折射光10，’的外偏幅度不夠，導致光區亮度均勻 化不足。發明人經由多次的實驗得知，當每一透鏡的 長度Μ與寬度L2皆介於3公釐至9公釐間，且每一透鏡 120的長度L,與寬度l2比則是介於！至i 4間時二次折 射光1〇”於高溫物件1〇〇上的重疊效最好，亮區的亮度也最 為均勻。 於本較佳實施例中每一透鏡12〇的長度L & 5 〇公羞 ，而每-透鏡m的寬度L4 3·8公釐，每一透鏡12〇的 長度L,與寬度l2比則是i 3，且該第一、二陣列透鏡⑵ 、122的陣列焦距皆為58公爱，當然，每—透鏡⑶的長 度L,與寬度視實際需求作調整只要該第一陣列透鏡 ，、第一陣列透鏡122的透光面積與陣列焦距皆相同且 每一透鏡120的長度L,與寬度L2比則是介於i至i 4間即 、成4同力效並不應為本較佳實施例的揭露所囿限。 ^第一陣列透鏡i 22與第一陣列透鏡^間形成有一 第間距D,，該第—陣列透鏡121與該發光源⑴間則形 成有”於10公釐至110公釐之間的第二間距D2，而該第 陣列透鏡122與該高溫物件刚間則形成有一介於觸〇 a i至1300公髮之間的有效投射距離&，其中該第一間 距D,是等於陣列焦距除以n，其中，N為大於^的實數。 在此需要另外說明的是，由於該第—間距^等於陣列 了距除以N ’且N為大於1的實數，令該第二陣列透鏡122 疋位於1倍的陣列焦距内，使得折射光1G，是以聚光型式投 1379991 2第二陣列透鏡122上，造成第二陣列透鏡i22之所述 =⑽的亮區在高溫物件100上的重疊與整併效果佳； :第二陣列如22是位於1倍的陣列焦距外，使得折射 光是以發散型式投射於第二陣列透鏡122上造成第二 陣列透鏡122之所述透鏡12〇的亮區在高溫物件刚上的 重疊與整併效果差。

於本較佳實施例中N等於3 _7，而第一間距仏等於 公羞、第二間距D2等於85公羞，而該有效投射距離 等於1093公釐’當然，該第一、二間距a、a及有效投 射距離D3可視實際需求作調整，只要該第-間距Dl是等於 陣列焦距除以N’其中’N為大於！的實數，亦即該第一間 距〇1是小於丨倍的任—陣聽㈣，即可達成相同的功效 ，並不應為本較佳實施例的揭露所囿限。

—參閱圖1及附件丨’本發明利用透光面積與陣列焦距相 同的第一、二陣列透鏡121、122，並令該第一 '二陣列透 鏡121、122 _第一間距Di是小於i倍的任一陣列焦距内 ，使該發光單it 11所投射出的平行光1G經該第一、二陣 列透鏡121、122的折射後相互交疊成為二次折射光1〇，，， 進而如附件1所示地均勻地投射於該高溫物件之表面 ，形成一呈矩形的亮區有效抵消高溫物件100之表面因高 溫所產生的顏色變化與紅外線，亦避免光線過份集中而形 成明顯的明暗區分，以提高觀測高溫物件100之表面的準 確度。在此需要特別說明的是，為凸顯亮區的型態，發明 人疋利用綠色透光片加遮罩再擷取而得到附件丨，因此，附 1379991 件1中的亮區是呈現綠色。

參閱圖3與附件1 ’發明人更進—步針對附件1中呈綠 色的亮區進行色階分析，獲得如圖3巾χ所指之綠色Y

所指之紅色，及ζ所指之藍色的色階變化，其中，圖3中 Υ所指之紅色及Ζ所指之藍色的變化緩和，唯X所指之綠 色的色階中間處較為飽和，推估原因，為發明人是利用綠 色透光片遮罩以凸顯附件丨之亮區，所以圖3中X所指之 綠色的色階中心處較γ所指之紅色，及ζ所指之藍色的色 Ρ皆更為飽和，亦即附件i中亮區之所以呈現綠色的主因。

參閱圖4本發明用於面溫物件之表面觀測的投光裝置 1之第二較佳實施例，大致上是與該第—較佳實施例相同， 包含一可產生均勻投射於該高溫物件100表面之平行光 的發光單元11 ’及一用以處理該發光單元u所投射出之 行光w的光學處理單元12，其中，不相同之處在於：該光 學處理單元12更包括—位於該光軸L上且可接收經該第二 陣列透鏡122聚焦之二次折射光1G’’的凹透鏡123。於本較 佳實施例中該凹透鏡123的焦距是25〇公釐，並與該 陣列透鏡122間隔30公釐. 、 在發光源112與該高溫物件1〇〇間的距離與該第一較 佳實施例相同的情況下’利用該凹透鏡123可將經該第二 陣列透鏡122聚焦之二次折射光1G，，加以放大，有效增加發 光單元11均勻地投射於該高溫物件1〇〇之表面上的面積， 增加所能觀測高溫物件100之表面的面積，進而提高掌握 高溫物件100之表面品質的能力。 >閱圖5，本發明用於南溫物件之表面觀測的投光裝置 1之第三較佳實施例，大致上是與該第一較佳實施例相同， 匕3 "T產生均勻投射於該南溫物件表面之平行光1〇的發 光單元11，及一用以處理該發光單元u所投射出之平行光 1_〇的光學處理單it 12’其中，不相同之處在於：該發光單 凡11的反射罩111斷面是概呈橢圓形，並更包括一介於該 第—陣列透鏡121與該發光源112間的平行光化元件114, 斷面概呈橢圓形的反射罩ln能對發光源112所發出的光 產生聚焦效果，聚焦的光經由該平行光化元件114的平行 光化作用可產生平行光i 〇，以達成如該第—較佳實施例相 同之效果。於本較佳實施例中，該平行光化元件114是一 焦點與該反射罩111之焦點重疊的凸透鏡。 ”’示上所述，本發明用於兩溫物件之表面觀測的投光裝 置1利用透光面積與陣列焦距相同的第一、二陣列透鏡121 、122，配合該第一間距Di進而將該第二陣列透鏡122設置 於陣列焦距内，使該發光單元U所投射出的平行光1〇經該 第一、二陣列透鏡121、122的折射後能相互交疊成二次折 射光10’’ ’進而均勻地投射於該高溫物件1〇〇之表面，抵消 高溫物件100之表面因高溫所產生的顏色變化與紅外線， 提高觀測高溫物件100之表面的準確度。故確實能達成本 發明之目的。 惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不 能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利 範圍及發明說明内容所作之簡單的等效變化與修飾皆仍 1379991 屬本發明專利涵蓋之範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1是一示意圖，說明本發明用於高溫物件之表面觀 測的投光裝置之第一較佳實施例的態樣； 圖2是一正視圖，說明該第一較佳實施例第一陣列透 鏡的規格， 圖3是一分析圖，輔助說明附件丨中亮區的色階變化 情形； 圖4是一示意圖，說明本發明用於高溫物件之表面 測的投光裝置之第二較佳實施例的態樣；及 圖5是一不意圖，說明本發明用於高溫物件之表 測的投光裝置之第三較佳實施例的態樣。 1379991 【主要元件符號說明】 1…… ……投光裝置 l2•…· •…寬度 10·.··· •…平行光 12 …·光學處理單元 10,… •…折射光 120… …·透鏡 10，， …·二次折射光 121… …·第一陣列透鏡 100… 南物件 122… •…第二陣列透鏡 11…… •…發光單元 123… •…凹透鏡 111··· •…反射罩 D,…· …·第一間距 112·· •…發光源 d2…… …第二間距 113··· .…開口 d3… 有政又射距離 114 ··· …·平行光化元件 X....... •…綠色的色階 T ...... •…止击山 V....... 众认众 ilfcb L· 无罕由 1 ?工巴的巴1¾ L,…· …·長度 Z....... …·藍色的色階

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Claims (1)

1379991 第098105969號專利_請案補充、修正後無财之說明書替換頁 修正曰期：101年丨〇月为 七、申請專利範圍： 1 · 一種用於高溫物件之表面觀測的投光裝置，可將光線均 勻投射於一咼溫物件之表面上，該投光裝置包含： 一發光單元，可產生均勻投射於該高溫物件之表面 的平行光，並沿該平行光的投射方向定義有一光軸； 一光學處理單元，包括一位於該光軸上以接收該發 光源之平行光並產生聚焦之折射光的第一陣列透鏡，及 —位於該光軸上以接收經該第一陣列透鏡聚焦之折射光 並產生交互重疊之二次折射光的第二陣列透鏡，其中， 該第一陣列透鏡與第二陣列透鏡的透光面積與陣列焦距 皆相同，且該第二陣列透鏡與第一陣列透鏡間形成有一 第一間距，該第一間距是等於陣列焦距除以N，其中， N為大於i的實數，而且該第一、二陣列透鏡皆具有多 數面積與排列方式相同的透鏡，每一透鏡皆呈矩形且每 一透鏡的長度與寬度皆介於3公釐至9公釐間，而每一 透鏡長寬比則是介於1至1 4間。 依據申請專利範圍第丨項所述之用於高溫物件之表面觀 測的投光裝置，其中，N是介於1至6之間。

依據申請專利範圍第1或2項所述之用於高溫物件之表 面觀測的投光裝置，其中，該光學處理單元更包括一位 於該光軸上且可接收經該第二陣列透鏡透射之二次折射 4.依據申請專利範圍第丨項所述之用於高溫物件之表面觀 測的投光裝置，其中，該發光單元包括一反射罩，及— 13 1379991 第098105969號專利申請案補充、修正後無劃線之說明書替換頁 修正曰期：ιοί年10月fa - 位於該反射罩中的發光源，其中，該反射罩的斷面概呈 拋物線形，且形成有一面向該第一陣列透鏡的開口，而 該發光源是一高強度放電燈泡。 I 5·依據申請專利範圍第1項所述之用於高溫物件之表面觀 測的投光裝置’其中，該發光單元包括一反射罩、一位 於該反射罩中的發光源，及一位於該光軸上且介於該第 一陣列透鏡與該發光源間的平行光化元件，其中，' = 射罩的斷面概呈橢圓形，且形成有一面向該第 ^ 鏡的開口，該平行光化元件的焦點與該反射罩 · 疊，而該發光源是一高強度放電燈泡。 “、、·，’重 14