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TWI351745B - Semiconductor package and heat slug thereof - Google Patents

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TWI351745B
TWI351745B TW096144460A TW96144460A TWI351745B TW I351745 B TWI351745 B TW I351745B TW 096144460 A TW096144460 A TW 096144460A TW 96144460 A TW96144460 A TW 96144460A TW I351745 B TWI351745 B TW I351745B
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TW
Taiwan
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strip
package structure
semiconductor package
convex portion
shaped convex
Prior art date
Application number
TW096144460A
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English (en)
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TW200924125A (en
Inventor
jun cheng Liu
Pinhong Chiu
Original Assignee
Advanced Semiconductor Eng
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Publication date
Application filed by Advanced Semiconductor Eng filed Critical Advanced Semiconductor Eng
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Publication of TW200924125A publication Critical patent/TW200924125A/zh
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    • H10W90/736

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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

丄川/45 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於-種半導體封裝構造,更特別有關於— =半導體封裝構造’其散熱片之環形條狀凸部環繞晶片承 【先前技術】 積體電路封裝的型式很多,舉例來說,以_連接的型 有薄小外接腳封裝_η贿丨“ )、四方扁平封裝((^以1?1討1^心牦6,(^1>)等封裝, 屬導線架支擇封裝結構’藉著兩面或四邊的引卿和電 板^連接。球格陣列(baU grid a叫,BGA)封裝是藉 路㈣接,因此針衫型式,其散熱模式 $不盡相同,目前業界之因應方式係裝設 置於封襄結構令,以提高散熱效率。 政…裝 參考第1圖,習知半導體封裝構造1〇主要 架⑴一晶片⑴一散熱片13及一封缪體14。該晶= :藉由黏膠15而固定於該導線架u之晶片承座20上,並 藉由銲線(圖未示)電性連接至該導線架u之引腳16。 熱片Π係直接貼設於該晶片承座2〇之下表面22,用以將 該晶片〗2所產生的熱傳導至外界。^而,該晶片承座 與該散熱片13之間常因接觸表面不平整而存有空隙24。 由於空隙24狭小使得該封膠體14無法填充於空隙24,因 此當該半㈣封裝構造1G進行可靠度相m载時,今 空隙24會造成該晶片承座22與該散熱片U之間發生界面 01286-TW/ASE2033, 5
S 1351745 脫層(Delamination),如第2圖所示。 舉例來說,習知四方扁平封裝(QFp)之封裝構造1〇經潮 破感度等級 3 (攝氏 260°C)(inoisture sensitivity level 3, MSL 3)之測試時,該散熱片13與該晶片承座22之間就會 出現較大的間隙。在此情況下,該間隙24使該導線架U 與散熱片13未能良好接合,進而阻礙該晶片12產生之熱 2傳導至該散熱片13,破壞四方扁平封裝(QFp)之封裝構 以10之散熱功能。更甚纟’過大的間隙不僅會使封裝結構 無法達到預期散熱效果,還可能導致整個封裝結構遭到損 因此,便有需要提供一種半導體封裝構造及其散熱片, 能夠解決前述的缺點。 【發明内容】 本發明之-目的在於提供—種半導體封裝構造,其散熱 片之環形條狀凸部可藉由環婊曰 稭由裱繞曰曰片承座而阻止該晶片承座 與該散熱片之間空隙向外延伸。. 一曰為達上述目的,本發明提供-種半導體封裝構造,包含 曰曰片 導線架、—散熱片及-封膠體。該導線架包含 曰日片承座’其承載該晶片。兮斗也u / 曰月该散熱片係貼設於該晶片承 座上,並包含一本體及一環 衣办條狀凸部。該本體具有一表 面’其中該表面接觸續a ti$Tr 接觸該曰曰片承座。該環形條狀四部係配置 於該本體之表面上,並環妞 Sy 該日日片承座。該封膠體係用以 包覆該導線架之部分、晶片及散熱片。 雖然該晶片承座與該散轨# 散…月之間可能會因接觸表面不 01286-TW/ASE2033 6 1351745 平整而存有空隙,但是本發明之散熱片之環形條狀凸部可 藉由環繞該晶片承座而阻止該空隙向外延伸,進而阻止該 b曰片承座與該散熱片之間發生界面脫層(Delaminati〇n)。 為了讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明 顯’下文將配合所附圖示,作詳細說明如下。 【實施方式】 參考第3a及3b圖,其顯示本發明之一實施例之半導體 • 封裝構造100。該半導體封裝構造100包含一晶片110、一 導線架120、一散熱片150及一封膠體16〇。該導線架12〇 包含四個支撐肋條122及一晶片承座124,該支撐肋條122 連接於晶片承座124之角落,且該晶片承座124用以承載 該晶片110。該晶片11〇係藉由黏膠112而固定於該導線架 iZO之晶片承座124之上表面126,並藉由銲線(圖未示)電 性連接至該導線架120之引腳128。該散熱片15〇係貼設 於該晶片承座124之下表面130,用以將該晶片11〇所產 鲁 生的熱傳導至外界。該散熱片150包含一本體152及一環 形條狀凸部154 »該本體152具有一上表面156及一下表 面158,其中該本體152之上表面156接觸該晶片承座124 之下表面130,且該本體152之下表面158係相對於該本 體1 52之上表面1 56。該環形條狀凸部丨54係配置於該本 體152之上表面156,並環繞該晶片承座124。較佳地,該 環开> 條狀凸部1 54鄰近於該晶片承座124。該封膠體1 60 係用以包覆該導線架120、晶片no及散熱片i5〇,並裸露 出該導線架120之部分引腳128及該散熱片150之下表面 01286-TW/ASE2033 7 158。 1351745 雖然該晶片承座124與該散熱片15〇之間可能 表面不平整而存有空隙,作a太 泉仁疋本發明之散熱片150之環形 條狀凸部154可藉由環繞該晶片承座m而阻止該空二 外延伸,、進而阻止該晶片承座124與該散熱片i5Q之間發 生界面脫層(Delamination)。 參考第4&及41)圖,該環形條狀凸部154係配置於該本
體152之上表面156。在本實施例中,該環形條狀凸部154 係可為-矩形條狀凸部,諸如正方形或長方形條狀凸部。 在另實⑯例中’該環形條狀凸部154亦可為圓形條狀凸 部或橢圓形條狀凸部。該環形條狀凸吾"54之剖面係可 矩形。 再參考第4b圖,在本實施例中,該環形條狀凸部ΐ54 與該本體152係可為不同材質,且該環形條狀凸部154係 藉由黏膠(圖未示)固定於該本體152上。該環形條狀凸部 154係可為金屬氧化物所製,且該本冑152係可為金屬所 製。由於金屬氧化物與封膠冑16〇之間的接合性大於該晶 片承座124(金屬所製)與封膠體16〇之間的接合性,因= 更有i地阻止該空隙向外延伸。舉例而言’該環形條狀四 部154為氧化銅所製,且該本體152為銅金屬所製。或者, 該環形條狀凸部154為氧化铭所製,且該本體152為紹金 屬所製。參考第5 ®,在另—實施例中,該環形條狀凸部 154’與該本體152係可為同一材質,並一體成形被製造。 舉例而言,該環形條狀凸部154,與該本體152皆為銅金屬 01286-TW/ASE2033 8 1351745 或鋁金屬所製。該環形條狀凸部154,係可藉由衝壓或鍛 製程而被製造。 雖然本發明已以前述實施例揭示,然其並非用以限定本 發明,任何本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不 脫離本發明之精神和範圍内,當可作各種之更動與修改。 因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者 為準。 【圖式簡單說明】 第1圖為先前技術之半導體封裝構造之剖面示意圖,其 顯示晶片承座20與該散熱片13之間存有空隙24。 第2圖為先前技術之該半導體封裝構造之剖面示音 圖’其顯示該空隙24造成該晶片承座22與該散熱片13之 間發生界面脫層片。 第3a及3b圖為本發明之一實施例之半導體封裝構造之 平面及剖面示意圖。 第4a及4b圖為本發明之一實施例之散熱片之平面及别 面示意圖。 第5圖為本發明之另一實施例之散熱片之剖面示章、圖。 【主要元件符號說明】 10 半導體封裝構造 .12 晶片 14 封膠體 11 導線架 13 散熱片 15 黏膠 01286-TW/ASE2033 9 1351745 16 引腳 20 晶片承座 22 下表面 24 空隙 100 半導體封裝構造 110 晶片 112 黏膠 120 導線架 122 支撐肋條 124 晶片承座 126 上表面 128 引腳 130 下表面 150 散熱片 152 本體 154 環形條狀凸部 1545 環形條狀凸部 156 上表面 158 下表面 160 封膠體 01286-TW/ASE2033 - 10

Claims (1)

1351745 1( 〇·於畢I修正替換頁 ⑽ ti. 24 、申請專利範圍: 種半導體封裝構造,包含: 一晶片; -導線架,包含—晶片承座,其具有—上表面及一下 表面,其中該晶>1係設置於該晶片承座的上表面上; 一散熱片’貼設於該晶片承座上,並包含: 本體’具有一表面,其中 的下表面;以及 該表面接觸該晶片承座 一環形條狀凸部,配置於該本體之表面上,並環繞 =片承座’其中該環形條狀凸部的頂料高於該晶 片承座的下表面;以及 一封膠體,用以包覆該導線架之部分、晶片及散熱片。 2 '依申請專利範圍第1 们…" 千導體封裝構造,其中該環形 條狀凸°卩為一矩形條狀凸部。 3、 依申請專利範圍第2項之半導體封裝構造 條狀凸部為正方形或長方形條狀凸部。 4、 依申請專利範圍第!項之半導體封裝構造 條狀凸部為圓形條狀凸部或圓形條狀凸= 5、 依t請專利H圍第!項之半導趙封裝構造 條狀凸部之剖面為矩形。 其中該矩形 其中該環形 其中該環形 6、依申請專利範圍第丨項 條狀凸部與該本想係為同亡材導:封並裝構造,其中該環形 何買,並一體成形被製造。 0I286-TW/ASE2033 11 W45 依申清專利範圍第6項之半導體封裝構造,其中該環形 條狀凸部與該本體皆為銅金屬或鋁金屬所製。 δ依申清專利範圍第7項之半導體封裝構造,其中該環形 條狀凸部係可藉由衝壓或鍛造製程而被製造。 9、依申請專利範圍第i項之半導體封裝搆造,其中該環形 條狀凸邛與忒本體係為不同材質,且該環形條狀凸部係 固定於該本體上。 0依中4專利ϋ第9項之半導體封裝構造,其中該環 形條狀凸邛為金屬氧化物所製,且該本體為金屬所製。 1依申睛專利範圍第10項之半導體封裝構造,其中該 環形條狀凸部為氧化鋼所製,且該本料銅金屬所製。 U依申凊專利範圍第10項之半導體封裝構造,其中該 環七條狀凸部為氧化|g所製,且該本體為紹金厲所製。 3依中清專利範圍第!項之半導體封裝構造,其中該環 形條狀凸部鄰近於該晶片承座。 01286-TW/ASE2033 12
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