TWI289037B - Circuit board clamping mechanism and testing device using the same - Google Patents

Description

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三達編號：TW2484PA • 九、發明說明： . 【發明所屬之技術領域】 • 本發明是有關於—種電路板夾持機構及應用其之測試穿 .置，、墙)是有關於一種以一 L型夹持件穩固夹持一延伸二 反於主電路板上之電路板夾持機構及應用其之測試裝置。 【先前技術】 利。尤ΓΛ品日新月異，帶給人們生活中與工作上許多的便 a電腦’更成為現代人日f生活中不可或缺之— 電腦包括一電腦主趟β ^ ^ ^主枝及—螢幕，電腦主機更包括—主機 =:卡’_示卡（似卡）。顯示卡係插置=接之 電r:機：路板耦接’例如是垂直地插置於主機板之插槽中。 ==運輸過程中受到振動或強烈衝擊時，容易發生主機 廠二始T脱洛或銲接龜裂等現象。因此，—般電腦主機在出 干過-連串的振動或衝擊測試，以確保相 =及主機板於振動過程中或劇烈衝擊後仍可保持正常之電性 衝擊動i衝擊;置係提供—機殼及—振動源或 之說㈣ 時間内提供-強烈振動力量，以下 ▲而：一振動測試裝置及-振動源說明。主機板夾持於機 置於主桟板上。剛開始，振動源施加- ;歲设上，而振動力量經由機殼傳導至主機&，A p Λ 主機板傳導-上— 铖双得V至主枝板，再經由 振動時是否/ 猎此測試相互耗接之顯示卡及主機板在 否仍可保持正f之電性功能。 卡之過然^’、此時振動力量在經由機殼依序傳遞至主機板及顯示 '逐漸削減，故顯示卡實際所接收之振動力量與預設 6 .1289037

三達編號：TW2484PA 因此，大大地影響振動測試結果之正 之振動力量有一段差距 確性，進而可能影塑甚。 八八〜心音裉動測試結果之正 品之品 •有振動測試不準確的品f。此外，不僅顯示卡與主機板 之振動測試亦有相同其他任二個輕接之電路板進行上述 電路板-個準確的振^ °所以’如何提供給任二㈣禺接之 質管制中待解決的重=題_環境，將成為電子產 【發明内容】 有鐘於此’冰日日从 及應用其之測試以。A利用的就=提供—種電路板夹持機構 上之-夾…基板定位主轉板且透過基板 固的夹持延伸電上 =:電路板於基板上之設計，不僅可穩 擊源所提供之振動或衝板，更可精確地料振動源或衝 ^ 〆卸擊力$於延伸電路板上。因此，使得相 二=伸電路板及主電路板在振動或衝擊 此可以精確地被量測，以確保電子產品之品質。 根，本發明之目的，提出—種電路板夾持機構，係用 持一主電路板與一延伸雷 人 ,,π I伸電路板。延伸電路板係與主電路板耦 接’且延伸電路板與主電 ^ ^ 持機構包括-基板及一夾持斜 電路板夹 垃放^ Λ 火持件。主電路板係設置於基板上。夾 、匕—夹持部及-固定部，夹持部係用以夾持延伸電路 反。固定部係、設置於基板上並與㈣㈣接， 係形成一 ；L型結構。 U疋邛 根據本發明之再一目的，提出—種測試裝置，係用以測試 壯L伸電路板在―振動狀態或—衝擊狀態下之電性功能。测試 衣置^括基板、一主電路板、—夾持件、一測試平台及—檢 測單元。主電路板係設置於基板上，主電路板係與延伸電路2 7 1289037

二達編號：TW2484PA 耦接，且主電路板與延伸電路板之間具有一傾斜角度” .夾持部及-固定部。夾持部係心㈣延㈣路板1 •疋部係設置於基板上並與夾持部輕接，夾持部及固定 、L型結構。測試平台係與於基板㈣，用以提供基板 源或-衝擊源。檢測單元係電性連接於延伸電路板及主電路 板，用以檢測延伸電路板在振動或衝擊狀態下的電性功能。 為讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易^ 文特舉-較佳實施例’並配合所附圖式，作詳細說明如下. 【實施方式】 1圖，料㈣依照本實施例之較佳實施例之測 Μ置的方塊圖。測試裝置i⑻用以測試—延伸電路板％ 振動狀態或-衝擊狀態下之電性功能。—測試平台㈣ 測試所需之-振動源或一衝擊源。在本實施例中，測試 係以-振動機提供一振動源至—電路板夾持機構口 明。電路板夹持機構10用以夾持一主 巧彳H乍说 70 ^ P1 ^ ^ 主電路板60及延伸電路板

…讀ν振動力量至主電路板60及延伸電路板7〇。主 電路板6〇係與延伸電路板70耦接。主電路板60可以是一電腦 主機板、一光碟機主機板或一 η _ _ , 丁勁I °扎主機板。延伸電路板70 孔卡、一網路卡或一音效卡。在本實施例中’主電 路板60係以一電月盜本祕士 ^ 你利^ 機板且延伸電路板70係以一視訊卡為例 於 板60與延伸電路板70更電性連接至一檢洌單 元30。檢測單元3f) H 知/別早 η 電路板6 G及延伸電路板7 〇在 振動狀恶下的電# #合匕 &丨— 訊號檢測晶片。再者列：70 τ以疋控螢幕或-電 4〇田再者測試裝置100更包括—控制單元40,控 '早 Μ驅動測試平台2〇及檢測單元30。且控制單元4〇 8 1289037

三達編號：TW2484PA 之電力係由一電源供應器5〇所提供。 ' 凊參照第2圖，其繪示為測試平台之結構示意圖。測試平 •台20係與電路板夹持機構1〇耦接，藉此測試平台⑽可傳導一 振動力量至電路板夾持機構1〇上。電路板夾持機構1〇包括一 基板11，基板11係與測試平台20及主電路板6〇耦接，以傳 導測試平台20提供之振動力量於主電路板6〇上。在本實施例 中，測試平台20係與基板u耦接並設置於基板u之下方。且 主電路板60具有多個螺絲孔，例如四個螺絲孔6〇a分別設置於 |主電路板60之四個角落，而基板丨丨具有數健陣排列之定位 孔11a。電路板夾持機構1〇更以數個螺柱6〇b及螺帽6以分別 螺接螺絲孔60a及對應之定位孔Ua，用以鎖合主電路板⑽於 基板11上。一般主電路板6〇之兩面均設置有數個電晶體或電 子元件，因此以數個具有一定高度之螺柱_架高主電路板 60 ’可以避免《置於鄰近基板之_側的電子元件直接與基板^ 碰撞。另夕卜，基板u設置數個矩陣排列之定位孔ua可滿足不 同尺寸大小之主電路板60，增加了振動測試裝置丄〇〇的使用彈 性。 雖然本實施例以螺柱_及螺帽60c鎖接方式說明主電路 板60及基板丨丨之間的連接關係，但其他之銷接、扣接、鉚接、 套接、卡接或黏接等連接方式，亦可將主電路板6〇固設於基板 11上。 主電路板60並與延伸電路板7〇輕接。在本實施例中，延 伸電路板7G係垂直地插置於主電路板6()之㈣卜且主電路 板6 0之法線N 6 0與延彳φ雷敗知7 π ^1 ，、夂1甲迅路扳70之法線N70之間具有一九十 度之傾斜角度6*。 另外’延伸電路板70更以夹持件13穩固地炎持於基板u 9 1289037

一^達編5虎.TW2484PA 上：^持件13更包括_夹持部…及一固定部既。夹 =以夹持部13a夹持延伸電路板7()之—側， 。夹持部13a及固定部13b係形成一=固 ==之結構。夾持件13更包括一樞軸Be。樞：冓 c為中心相對夾持部13a旋轉。例如，柩軸 …及固定部-相對轉動之方式設置於基…基= 具有數個矩陣排列之定位孔Ua，且固定部別更具有

型固定開口 13 d。者固宗卹彳Q u , 長條 田固疋口H3b以柩軸13c為中心相對夹持部 a轉動至-鎖合位置p時，固定開口 nd對應其中之二定位 孔Ua。使用者以二螺、絲…貫穿固定開口…並鎖合於二定位 a中。藉由基板11具有數個定位孔Ua與固定開σ 13d及 樞軸13c之。又计’使得夾持件13夾持延伸電路才反日夺，固 413b可以轉動之方式尋找出一適當之鎖合位置p並固定於美 板U上。其中’夾持件13之材質可以是-剛性材質，例如^ 銅、不鑛鋼或鐵等’用以良好地傳導振動源所提供之振動力量 至延伸電路板70上。 ,根據以上所述，測試平台20提供一振動源於一基板u上 後’基，11藉由夾持件13直接傳導振動力量於延伸電路板上 使得延伸電路板70 f際接收到的振動力量與預設之振動力 1接近。感測單元30 (如第i圖所示）能夠更準確的量測延伸 電路板70於一振動狀態下之電性功能。 根據以上較佳實施例，雖然本實施例之夹持件係以與可拆 卸之方式設置於基板上為例作說明，然本實施例之夾持件亦可 〃基板體成型或固設於基板上。只要是利用一電路板夾持機 構直接傳導一振動力量於延伸電路板，以達到所提供之振動力 10 1289037

二達編號：TW2484PA $接近於預設之振動力量，用以量測延伸電路板的電性功能之 • 目的’皆不脫離本發明之技術範圍。 本發明上述實施例所揭露之電路板夾持機構及應用其之 振動測试裝置，其利用一基板定位主電路板且透過基板上之一 夾持件直接失持延伸電路板於基板上之設計，不僅可穩固地央 持主電路板及延伸電路板，更可以精破地傳導振動源所提供之 振動力量於延伸電路板上。因此，使得相互耗接之延伸電路板 及主電路板在振動狀況下之電性功能可以精確地被量測，以確 | 保電子產品之品質。 絲上所述，雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上，然其 並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中任何具有通常知、 識者，在不脫離本發明之精神和範圍内，當可作各種之更動與 潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界 定者為準。 .1289037

三達編號：TW2484PA ' 【圖式簡單說明】 第1圖繪示為依照本實施例之較佳實施例之測試裝置的方 - 塊圖；以及 ‘· 第2圖繪示為測試平台之結構示意圖。 【主要元件符號說明】 100 :測試裝置 10 :電路板夾持機構 11 :基板 11 a :定位孔 13 ·失持件 13a :夾持部 13b :固定部 13c :樞轴 13d :固定開口 13e :螺絲 20 :測試平台 30 :檢測單元 40 :控制單元 50 :電源供應器 60 :主電路板 6 0 a :螺絲孔 60b :螺柱 60c :螺帽 70 :延伸電路板 12 1289037

三達編號·. TW2484PA ' N60 ··主電路板之法線 .N70 ··延伸電路板之法線 • P :鎖合位置 * 0 :傾斜角度

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Claims (1)

1289037 三達編號：TW2484PA 十、申請專利範圍： . 1. -種電路板夹持機構，係用以夾持一 伸電路板，該延伸電路板係與該延伸-延 一美 ^料角度，该電路板夾持機構包括： 土 〜電路板係設置於該基板上；以及 一夹持件，包括： 夾持部’係用以夾持該延伸電路板；及 该夾持$及卩，係設置於該基板上並與該夾持部叙接， ► 4夾持錢_定部係、形成_ [型結構。 ，主】申：專利範圍第1項所述之電路板夾持機構，並中， =電路板0上係與該純平行且㈣定料鎖合於該基板 申：專利範圍第1項所述之電路板夾持機構，盆中 δ亥夾持件更包括一樞軸，該樞軸俜設置於j + /、 輕接處，该固疋部係以該枢軸為中心相對該夹持部轉動。 4·如申請專·圍第3項所述之電路板夹持機構，直中 基板更具有複數個定位孔，且該固定部更具有-固定開口， =定部係以該樞軸為中心相對該夾持部轉動至-鎖合位置， 使仔該固定開口對應於其中之-該些定位孔的上方，該電路板 灿入 糸貝牙该固定開口並螺接於該定位孔，用以 鎖合該固定部及該基板。 5.如”專利範圍第i項所述之電路板夾持機構，其中 5亥主電路板係鎖合於該基板上。 6·如”專利_第5項所述之電路板夾持機構，其中 f主電路板具有複數個螺絲孔，且該基板具有複數個定位孔， 该電路板夾持機構更以複數個螺柱分別螺接該些螺絲孔及對應 14 1289037 ~~達編號：TW2484PA 之孩定位孔，用以鎖合該主電路板於該基板上。 ^ 7·如申請專利範圍第1項所述之電路板夾持機構，其中 5亥夾持機構係為一剛性材料。 ^ 8·如申請專利範圍第1項所述之電路板夾持機構，其中 该延伸電路板係插置於該主電路板上。 ^ 9·如申請專利範圍第8項所述之電路板夾持機構，其中 β延伸電路板表面之法線係垂直於該主電路板表面之法線。 10· 一種測試裝置，係用以測試一延伸電路板在一振動狀 #途、或-衝擊狀態下之電性功能，該測試裝置包括： 一基板； " 主電路板，係設置於該基板上，該主電路板係與該延伸 電路板李馬接，且該主電路板與該延伸電路板之間具有一傾斜角 一夾持件，包括： 一夹持部，係用以夾持該延伸電路板；及

一固定部，係設置於該基板上並與該夾持部耦接， 该夾持部及該固定部係形成一[型結構； 一測試平台， 或一衝擊源；以及 一振動源 係與該基板耦接，用以提供該基板 一仏測單元’係電性連接㈣延伸電路板及魅電路 用以檢測該延伸電路板在振動或衝擊狀態下的電性功能。 η平」1 更::請專利範圍第10項所述之測試裝置，：中該测 "式千口更匕括一振動機或一衝擊機。 更包括： 用以顧動 12 ·如申凊專利範圍第π項所述之測試裝置， 一控制單元，係電性連接於該振動機或衝 該振動機或衝擊機；以及 、 15 1289037 達/T扁痛.TW2484PA 一電源供應器，係Φ &、士 .試裝置所需之電力。、接於4控制單心用以提供該測 .—:3.如申請專利範圍第1〇項所述之測 疋部係鎖合於該基板上。 、、置，其中该固 H.如申請專利範圍第 持件更包括一抱轴，該：々置，其中該夾 處，該固定部係以U持部與該固定部搞接 】 二以林軸為中心相對該央持部轉動。 士审.。申4專利範圍第14項所述之測試裝置，1中兮美 >板更具有複數個定位孔，· i /、中该基 定部待以嗲妒 更/、有一固定開口，該固 兮门林車由為中心相對該夾持部轉動至-鎖合位置，計 该固定開口對應於其中貞口位置使传 置更以一螺呼一二3亥些弟一疋位孔的上方，該測試裝 更乂虫累、、、糸貝牙该固定開口並螺接於 合該固定部及該基板。 疋位孔用以鎖 如申請專利範圍第1〇項所述之 電路板係鎖合於該基板上。 衣置/、中4主 電路二二？專利範圍第16項所述之測試裝置，其中該主 具有稷數個螺絲孔，且該基板具有複數㈣位孔，該延 板夹持機構更以複數個螺柱分接該些螺絲孔及對應 Μ疋立孔，用以鎖合該主電路板於該基板上。 其中該夾 18·如申請專利範圍第1〇項所述 持機構係為一剛性材料。 、]八4置 其中該延 19·如申請專利範圍第10項所述之測試裝置 伸電路板係插置於該主電路板上。 20·如申凊專利範圍第丨〇項所述之測試裝置，其中該延 伸電路板表面之法線係垂直於該主電路板表面之法線。 16